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JP2000340635A - Substrate carrying means and mechanism, and pattern exposure system - Google Patents

Substrate carrying means and mechanism, and pattern exposure system

Info

Publication number
JP2000340635A
JP2000340635A JP11149554A JP14955499A JP2000340635A JP 2000340635 A JP2000340635 A JP 2000340635A JP 11149554 A JP11149554 A JP 11149554A JP 14955499 A JP14955499 A JP 14955499A JP 2000340635 A JP2000340635 A JP 2000340635A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
suction
transfer
moving
sucking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11149554A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Matsuda
政昭 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Orc Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Orc Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Orc Manufacturing Co Ltd filed Critical Orc Manufacturing Co Ltd
Priority to JP11149554A priority Critical patent/JP2000340635A/en
Publication of JP2000340635A publication Critical patent/JP2000340635A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make possible independently of the thickness of a substrate and without deforming the substrate the sucking and supporting of the substrate by an abutting pad of a sucking portion provided in a handler, by so protruding its substrate sucking and supporting portion from its horizontal rear surfaces when sucking the substrate as to constitute it as a substrate supporting and carrying means. SOLUTION: An abutting pad 3 of a sucking portion 2 provided in a handler comprises an annular body portion 3b and an annular sucking and supporting portion 3a, and the sucking and supporting portion 3a forms a sucking space 3d in the opposite position to the surface of a substrate. A plurality of sucking holes 3c are formed every predetermined interval along the circumferential direction of the body portion 3b to form the openings of the sucking holes 3c on the side of the sucking space 3d. Further, in the case wherein the sucking and supporting portion 3a sucks and supports the substrate, when it is inserted into a groove portion 2b, it is so protruded from horizontal rear surface 2a, 2c as to constitute it as a substrate supporting and carrying means. As a result, independently of the thickness of the substrate, a substrate carrying means scan such and support the substrate without deforming the substrate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板
や、液晶基板などの所定パターンを露光して形成する基
板の搬送手段および、その基板の搬送機構ならびに露光
装置に係り、特に、基板の厚みに影響されずに確実で迅
速な搬送をすることができる搬送手段および搬送機構な
らびに露光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer means for a substrate formed by exposing a predetermined pattern such as a printed wiring board or a liquid crystal substrate, a transfer mechanism for the substrate, and an exposure apparatus. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a transfer unit, a transfer mechanism, and an exposure apparatus capable of performing reliable and quick transfer without being affected by the above.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来において、プリント配線板、液晶基
板などの基板に所定パターンを露光して形成する場合
は、搬送手段により基板を各作業位置に搬送して各作業
位置で整合作業および露光作業(同一位置あるいは別位
置)などを行っている。図7(a),(d)で示すよう
に、前記搬送手段50の構成は、各作業位置(搬入位置
60、整合位置および露光位置65、搬出位置70)に
沿って配置した移動レール51と、この移動レール51
に沿って移動する移動躯体52と、この移動躯体52に
支持された複数の吸着パット53と、移動躯体52を昇
降移動させる昇降機構54とを備えている。なお、吸着
パット53は、弾性部材であるゴムなどにより下方に向
かって末広がりとなるカップ状に形成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a predetermined pattern is formed on a substrate such as a printed wiring board or a liquid crystal substrate by exposing the substrate, the substrate is transferred to each work position by a transfer means, and alignment work and exposure work are performed at each work position. (Same position or different position). As shown in FIGS. 7 (a) and 7 (d), the configuration of the transporting means 50 includes a moving rail 51 disposed along each working position (the loading position 60, the alignment position and the exposure position 65, and the unloading position 70). , This moving rail 51
, A plurality of suction pads 53 supported by the moving skeleton 52, and an elevating mechanism 54 for moving the moving skeleton 52 up and down. In addition, the suction pad 53 is formed in a cup shape that diverges downwardly by rubber or the like that is an elastic member.

【0003】したがって、搬送手段50を作動させ基板
Wの搬送を露光装置で行う場合は、つぎのような動作を
行う。図7(a),(d)で示すように、搬入位置60
の送りローラ61に基板Wが搬入されると、搬入位置6
0の上方に待機していた移動躯体52が昇降機構54を
介して降下し、基板Wに吸着パット53を当接すると共
に、真空吸着動作を行い、その吸着パット53に基板W
を吸着保持する。
Therefore, when the transfer device 50 is operated to transfer the substrate W by the exposure apparatus, the following operation is performed. As shown in FIGS. 7A and 7D, the carry-in position 60
When the substrate W is carried into the feed roller 61, the carry-in position 6
The movable frame 52 that has been waiting above the moving pad 52 moves down through the elevating mechanism 54 to contact the suction pad 53 with the substrate W and perform a vacuum suction operation.
Is held by suction.

【0004】そして、昇降機構54を介して移動躯体5
2を上昇させ、移動レール51に沿って移動躯体52を
整合露光位置65の上方に移動させる。さらに、昇降機
構54を介して基板Wを保持する移動躯体52を降下さ
せ整合台上に基板Wを載置し、吸着パット53の真空吸
引動作を停止することで基板Wを受け渡している。基板
Wを受け渡した移動躯体52は、昇降機構54を介して
上昇し、搬入位置60に再び移動する。
Then, the moving frame 5 is moved via the lifting mechanism 54.
2 is moved up, and the moving frame 52 is moved above the alignment exposure position 65 along the moving rail 51. Further, the moving body 52 holding the substrate W is lowered via the elevating mechanism 54, the substrate W is placed on the alignment table, and the vacuum suction operation of the suction pad 53 is stopped to transfer the substrate W. The moving frame 52 that has delivered the substrate W rises via the elevating mechanism 54 and moves to the carry-in position 60 again.

【0005】整合露光位置65に搬送された基板Wは、
整合機構68により整合作業が行われ、さらに、光源装
置66、67により紫外線を含む光線を照射することで
露光作業が行われる。そして、露光作業が終了すると、
搬出側に配置された移動躯体52が移動して来て、昇降
機構54を介して降下し、吸着パット53により基板W
を吸着保持して再び昇降機構54を介して上昇し、搬出
位置70に移動する。そして、昇降機構54を介して降
下し基板Wを搬出位置70の搬出ローラ71上に載置す
る動作を行う。このように、常に、作業位置にある基板
Wを移動躯体52が水平移動すると共に昇降移動するこ
とで、受け取りあるいは受け渡しのどちらか一方を行う
ことで搬送作業を行っている。
The substrate W transported to the alignment exposure position 65 is
An aligning operation is performed by the aligning mechanism 68, and an exposure operation is performed by irradiating light beams including ultraviolet rays from the light source devices 66 and 67. And when the exposure work is completed,
The moving frame 52 arranged on the unloading side moves and descends via the elevating mechanism 54, and the substrate W is moved by the suction pad 53.
, And rises again via the elevating mechanism 54 to move to the carry-out position 70. Then, an operation of lowering via the elevating mechanism 54 and placing the substrate W on the unloading roller 71 at the unloading position 70 is performed. In this way, the transfer work is always performed by either receiving or transferring the substrate W at the work position by moving the moving frame 52 horizontally and vertically.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の基板の
搬送手段および搬送機構ならびにそれを使用する露光装
置では、以下のような問題点が存在した。すなわち、従
来の基板の搬送手段では、基板を吸着する吸着パットの
構成が、ゴムなどの弾性部材で末広がりとなるカップ状
(図7(b)参照)に形成されていることから、基板が
薄板である場合は、吸着する際に基板を真空吸着力によ
り変形させてしまう(図7(c)参照)。
However, the following problems exist in the conventional substrate transfer means and transfer mechanism and the exposure apparatus using the same. That is, in the conventional substrate transporting means, the structure of the suction pad for sucking the substrate is formed in a cup shape (see FIG. 7B) which is divergent with an elastic member such as rubber. In the case of, the substrate is deformed by the vacuum attraction force when the substrate is sucked (see FIG. 7C).

【0007】また、基板の変形を防止するため、吸着パ
ットの数を増やして基板を吸着保持するように構成する
ものも提案されているが、吸着パットの数を増やしただ
けでは、基板を均等に吸着することが困難で却って基板
の吸着保持する力を減少させてしまうことになった。
Further, in order to prevent the deformation of the substrate, there has been proposed a configuration in which the number of suction pads is increased to hold the substrate by suction. However, simply increasing the number of suction pads makes the substrate even. Therefore, it is difficult to adsorb the substrate, and on the contrary, the force of adsorbing and holding the substrate is reduced.

【0008】さらに、基板の変形が生じると、その基板
の変形分をあらかじめ予想し、それだけ移動躯体および
吸着パットの昇降する距離を大きくする必要が生じ、基
板の搬送時間を余計に取ることになった。
Further, when the substrate is deformed, it is necessary to predict the amount of deformation of the substrate in advance, and to increase the distance by which the movable frame and the suction pad are moved up and down, which requires extra time for transporting the substrate. Was.

【0009】そして、搬送手段が昇降することで基板を
受け取りあるいは受け渡し(授受)を行うことから、基
板を搬送手段が保持した状態で昇降する際に、基板に対
する空気の抵抗が大きく、基板を落下させる原因になっ
ていた。
[0009] Since the transfer means receives or transfers (transfers) the substrate by moving up and down, when the transfer means moves up and down while holding the substrate, the resistance of air to the substrate is large and the substrate falls. Was causing it.

【0010】また、露光装置に前記の構成の搬送手段あ
るいは搬送機構を使用した場合は、特に、搬入機構の位
置および整合機構の位置での基板の受け渡しの際に搬送
手段から基板が落下する可能性が高く、基板が落下する
と、露光装置の一連の動作を停止させて調整する必要が
生じるために不都合であった。さらに、移動躯体および
吸着パットが昇降移動して基板を作業位置から授受する
搬送機構である場合は、基板の変形をあらかじめ考慮し
て上下動する距離を長く取る必要から、装置が大型化し
てしまう共に、基板の移動時間がかかるため、露光装置
として不都合であった。そして、特に、基板が薄板であ
る場合は、基板を上昇させる場合に、その空気の抵抗に
より基板の端が垂れ下がって次作業に支障を来した。
In the case where the transfer means or the transfer mechanism having the above-described structure is used in the exposure apparatus, the substrate can drop from the transfer means particularly when the substrate is transferred at the position of the carry-in mechanism and the position of the alignment mechanism. This is inconvenient because if the substrate drops, it is necessary to stop and adjust a series of operations of the exposure apparatus. Further, in the case of a transport mechanism in which the moving frame and the suction pad move up and down to transfer the substrate from the working position, it is necessary to take a long distance to move the substrate up and down in consideration of the deformation of the substrate in advance. In both cases, it takes time to move the substrate, which is inconvenient as an exposure apparatus. In particular, when the substrate is a thin plate, when the substrate is lifted, the edge of the substrate hangs down due to the resistance of air, which hinders the next operation.

【0011】本発明は、前述の問題点を解決すべく創案
されたもので、基板の厚みに係わりなく基板を変形せず
に吸着保持でき、また、基板の移動速度を向上させ、か
つ、基板の落下を防止することができる搬送手段および
搬送機構ならびに露光装置を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and can suction-hold a substrate without being deformed irrespective of the thickness of the substrate. It is an object of the present invention to provide a transporting unit, a transporting mechanism, and an exposure apparatus which can prevent the falling of the image.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
め、本発明は、所定パターンを露光して形成する基板を
各作業位置に搬送する移動レールおよびハンドラからな
る搬送手段において、前記移動レールは、前記各作業位
置の上方でそれら各作業位置に亘って配置され、前記ハ
ンドラは、移動レールに沿って移動する移動躯体と、こ
の移動躯体に設けられた保持板と、この保持板に取り付
けられた吸着部とを備え、前記吸着部は、水平下面に形
成された溝部と、この溝部に取り付けられた当接パット
とを備え、前記当接パットは、軸線方向に沿って間隔を
開けて形成した吸引孔を有する胴体部と、この胴体部に
連続して設けられ前記吸引孔の開口が形成される吸引空
間を有する吸着支持部とを備え、前記基板を吸着した際
に、前記吸着支持部が、前記水平下面より突出してその
基板を支持する搬送手段として構成した。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention relates to a conveying means comprising a moving rail for transferring a substrate formed by exposing a predetermined pattern to each work position and a handler, wherein the moving rail is provided. Is disposed above each of the working positions and over the respective working positions, and the handler is provided with a moving skeleton moving along a moving rail, a holding plate provided on the moving skeleton, and a mounting plate mounted on the holding plate. A suction portion, wherein the suction portion includes a groove formed on a horizontal lower surface, and a contact pad attached to the groove, and the contact pad is spaced apart along the axial direction. A body portion having a suction hole formed therein; and a suction support portion provided continuously with the body portion and having a suction space in which an opening of the suction hole is formed, and when the substrate is suctioned, the suction support portion is provided. But it configured as conveying means for supporting the substrate projects from the horizontal lower surface.

【0013】このように構成することで、当接パットの
吸引孔から分散されて吸引空間で均等化した吸引力によ
り基板を吸着保持することができると共に、当接部が水
平下面より突出して基板を吸引保持するため、基板が薄
板の場合であっても変形させずに吸引保持して搬送する
ことができる。
With this configuration, the substrate can be sucked and held by the suction force dispersed in the suction hole of the contact pad and equalized in the suction space. Therefore, even if the substrate is a thin plate, the substrate can be suction-held and transported without being deformed.

【0014】また、前記吸着支持部を環状に形成し、前
記吸着部の水平下面の位置で、前記吸着支持部から内周
側に凸面部を設け、前記凸面部は、前記吸着支持部が基
板を吸着する際に、その基板に当接する位置まで突出し
て形成される構成とした。
Further, the suction support portion is formed in an annular shape, and a convex portion is provided on the inner peripheral side from the suction support portion at a position on the horizontal lower surface of the suction portion. Is formed so as to protrude to a position where the substrate comes into contact with the substrate when the substrate is sucked.

【0015】このように構成することで、特に、基板が
薄板の場合に、吸着支持部の内周側の基板の窪み状の変
形を防止することができる。
[0015] With this configuration, in particular, when the substrate is a thin plate, the depression-like deformation of the substrate on the inner peripheral side of the suction support portion can be prevented.

【0016】また、前記移動躯体と前記保持板との間な
らびに保持板と前記吸着部との間の少なくとも一箇所
に、前記基板の授受における衝撃を緩和する緩衝部を設
けた前記搬送手段としても良い。このように構成する
と、基板の受け渡しおよび受け取り(授受)の際に、基
板を損傷させることを最小限に抑えることができる。
Further, the transfer means may be provided with a buffer for reducing a shock in transferring the substrate at at least one position between the moving frame and the holding plate and between the holding plate and the suction portion. good. With this configuration, it is possible to minimize damage to the substrate when the substrate is transferred and received (transferred).

【0017】さらに、所定パターンを露光して形成する
基板を、各作業位置に搬送するための前記請求項1ない
し3のいずれか一項に記載の搬送手段と、この搬送手段
に前記基板の受け渡しあるいは受け取りの少なくとも一
方を行う授受手段とを備える搬送機構であって、前記授
受手段は、前記各作業位置に配置され、前記基板を載置
する載置板と、この載置板を昇降させる昇降部とを備え
る搬送機構とした。
Further, the transport means according to any one of claims 1 to 3 for transporting a substrate formed by exposing a predetermined pattern to each work position, and transferring the substrate to the transport means. Alternatively, the transfer mechanism includes a transfer unit that performs at least one of receiving, wherein the transfer unit is disposed at each of the work positions, and a mounting plate on which the substrate is mounted, and a lifting / lowering unit that moves the mounting plate up and down. And a transfer mechanism.

【0018】このように構成することで、授受手段の昇
降部を介して載置板に載置した基板を上昇させ、前記ハ
ンドラの吸着部に受け渡し、前記ハンドラを移動レール
に沿って次作業位置の上方に移動させ、次作業位置に配
置した授受手段の昇降部を介して載置板を上昇させ、ハ
ンドラが保持している基板を載置板上に受け取り降下し
て基板の次作業を行う。そのため、搬送手段は水平方向
に基板を移動させ、各作業位置に配置した載置板に基板
を載置した状態で昇降部により昇降させて基板の搬送を
行うことが可能となり、基板を搬送手段に授受する際に
落下することがない。また、基板の搬送速度を向上する
ことが可能となる。
With this configuration, the substrate mounted on the mounting plate is raised via the elevating portion of the transfer means, transferred to the suction portion of the handler, and the handler is moved along the moving rail to the next work position. , And raises the mounting plate via the elevating part of the transfer means arranged at the next work position, receives the substrate held by the handler onto the mounting plate, and lowers it to perform the next work on the substrate . Therefore, the transporting means can move the substrate in the horizontal direction, and can lift and lower the substrate by the elevating unit while the substrate is placed on the mounting plate arranged at each work position, thereby transporting the substrate. It does not fall when giving and receiving. In addition, it is possible to improve the substrate transfer speed.

【0019】さらに、前記載置板は、基板を載置する載
置面に、前記基板が離間する際にその基板と載置面との
減圧による密着を解除するための分離手段を形成した構
成としている。そのため、基板が搬送手段に授受される
際に、基板の受け取りが確実に行われる。
Further, the placing plate has a structure in which a separating means is formed on the placing surface on which the substrate is placed to release the close contact between the substrate and the placing surface due to reduced pressure when the substrate is separated. And Therefore, when the substrate is transferred to and from the transfer means, the substrate is reliably received.

【0020】また、基板を搬入する搬入機構と、前記基
板を位置決めする整合機構と、前記基板を露光する光源
機構と、前記基板を搬出する搬出機構と、前記基板を前
記各機構に搬送する搬送機構とを、前記基板の搬送経路
に沿って備える露光装置において、前記搬送機構は、請
求項4または5に記載の構成を備える露光装置として構
成した。
Also, a loading mechanism for loading the substrate, an alignment mechanism for positioning the substrate, a light source mechanism for exposing the substrate, a loading mechanism for unloading the substrate, and a transport mechanism for transporting the substrate to each mechanism. In an exposure apparatus including a mechanism along a transport path of the substrate, the transport mechanism is configured as an exposure apparatus having the configuration described in claim 4 or 5.

【0021】このように構成することで、露光装置の各
機構に基板を搬送する場合、基板の落下を防止でき、か
つ、露光装置で行われている一連の動作を停止すること
を防止することができる。また、搬送手段は、基板を水
平方向に移動させ、各機構に配置した載置板の昇降移動
により基板を搬送するため、搬送時に基板の変形を起こ
すことがなく、基板の搬送速度を向上させることがで
き、露光装置で処理する基板の処理枚数の向上を図るこ
とができる。
With this configuration, when the substrate is transported to each mechanism of the exposure apparatus, it is possible to prevent the substrate from dropping and to stop a series of operations performed in the exposure apparatus. Can be. In addition, the transfer unit moves the substrate in the horizontal direction, and transfers the substrate by moving the mounting plate arranged in each mechanism up and down, so that the substrate is not deformed during transfer and the transfer speed of the substrate is improved. Thus, the number of substrates to be processed by the exposure apparatus can be improved.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照して説明する。図1は搬送手段を示す斜視図、
図2(a),(b),(c)は搬送手段の緩衝部、吸着
部の縦断面図、吸着部の底面図、図3(a),(b)は
吸着部の応用例を示す断面図および平面図、図4は搬送
機構の全体を示す模式図、図5は露光装置の全体を示す
模式図、図6(a),(b),(c),(d)は搬送機
構の載置板の応用例を示す斜視図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a conveying means,
2 (a), 2 (b) and 2 (c) are longitudinal sections of the buffer section and the suction section of the conveying means, a bottom view of the suction section, and FIGS. 3 (a) and 3 (b) show application examples of the suction section. FIG. 4 is a schematic view showing the entire transport mechanism, FIG. 5 is a schematic view showing the entire exposure apparatus, and FIGS. 6 (a), (b), (c) and (d) are transport mechanisms. FIG. 14 is a perspective view showing an application example of the mounting plate of FIG.

【0023】図1で示すように、搬送手段1は、水平方
向に亘って配置される移動レール7と、この移動レール
7に沿って移動するハンドラ8とから構成される。ハン
ドラ8は、移動躯体6と、この移動躯体6の中央に設け
た緩衝部5と、この緩衝部5に支持される保持板4と、
この保持板4に支持される複数(図面では4個)の吸着
部2とから構成されている。
As shown in FIG. 1, the transport means 1 comprises a moving rail 7 arranged in a horizontal direction and a handler 8 moving along the moving rail 7. The handler 8 includes a moving frame 6, a buffer 5 provided at the center of the moving frame 6, a holding plate 4 supported by the buffer 5,
And a plurality of (four in the drawing) suction portions 2 supported by the holding plate 4.

【0024】図1で示すように、移動レール7は、左右
に平行に配置したシリンダレール7aおよび従動レール
7bとから構成されている。そして、移動レール7に沿
って移動する移動躯体6は、前記左右のシリンダーレー
ル7aおよび従動レール7bに掛け渡されて構成される
移動本体6aと、この移動本体6aの一端に設けられシ
リンダレール7a内を移動する駆動部6aと、移動本体
6aの他端に設けられ従動レール7bに案内されて移動
する摺動部6bとを備えている。
As shown in FIG. 1, the moving rail 7 is composed of a cylinder rail 7a and a driven rail 7b arranged in parallel on the left and right. The moving frame 6 that moves along the moving rail 7 includes a moving body 6a that is bridged between the left and right cylinder rails 7a and the driven rails 7b, and a cylinder rail 7a provided at one end of the moving body 6a. It has a driving unit 6a that moves in the inside, and a sliding unit 6b that is provided at the other end of the moving main body 6a and moves by being guided by a driven rail 7b.

【0025】また、移動躯体6と保持板4を接続する緩
衝部5は、図2(a)で示すように、移動本体6aと保
持板4の保持板本体4bに亘って設けた複数(図面では
4箇所)のシリンダ5aと、このシリンダ5aに並設し
た弾性部材としてのコイルスプリング5bとを備えてい
る。保持板4は、保持板本体4bと、この保持板本体4
bの長手方向に移動自在に調整長孔を介して係合される
取付板4a,4aとから構成されている。なお、取付板
4a,4aの長手方向にも調整長孔が形成され、吸着部
2の配置が自在に設置できるように形成されている。
As shown in FIG. 2A, a plurality of buffer portions 5 connecting the moving frame 6 and the holding plate 4 are provided over the moving body 6a and the holding plate body 4b of the holding plate 4 (see FIG. 2A). (4 places in FIG. 3) and a coil spring 5b as an elastic member provided in parallel with the cylinder 5a. The holding plate 4 includes a holding plate main body 4b and the holding plate main body 4b.
b. The mounting plates 4a, 4a are movably engaged in the longitudinal direction of FIG. Adjustment slots are also formed in the longitudinal direction of the mounting plates 4a, 4a so that the suction section 2 can be freely arranged.

【0026】吸着部2は、図2(b),(c)で示すよ
うに、水平下面に溝部である円環状の溝部2bを形成し
ており、その溝部2bに当接パット3を取り付けてい
る。なお、吸着部2は、金属あるいはプラスチックなど
の硬質部材で形成され、当接パット3は、ゴムあるいは
合成ゴムなどの弾性部材で形成されている。
As shown in FIGS. 2 (b) and 2 (c), the suction portion 2 has an annular groove 2b which is a groove on the horizontal lower surface, and the contact pad 3 is attached to the groove 2b. I have. The suction section 2 is formed of a hard member such as metal or plastic, and the contact pad 3 is formed of an elastic member such as rubber or synthetic rubber.

【0027】当接パット3は、溝部2bに挿入する円環
状の胴体部3bと、この胴体部3bの先端側に括れを介
して形成される円環状の吸着支持部3aとから構成され
ている。そして、吸着支持部3aは、基板表面に対面す
る位置に吸引空間3cを有するように構成されている。
そして、胴体部3bの円周方向(軸線方向)に沿って所
定の間隔毎に吸引孔3cが複数(図面では省略されたも
のも含めて6箇所)形成され、この吸引孔3aの開口を
吸引空間3d側に形成している。さらに、前記吸着支持
部3aは、基板Wを吸着保持する場合、前記溝部2bに
入り込んでも水平下面2a,2cより突出するように
(厚みを有することや、また、突出位置を考慮して)形
成されている。
The contact pad 3 comprises an annular body 3b inserted into the groove 2b, and an annular suction support 3a formed by constricting the distal end of the body 3b. . The suction support 3a has a suction space 3c at a position facing the substrate surface.
Then, a plurality of suction holes 3c (six places including those omitted in the drawing) are formed at predetermined intervals along the circumferential direction (axial direction) of the body portion 3b, and the openings of the suction holes 3a are sucked. It is formed on the space 3d side. Further, when holding the substrate W by suction, the suction support portion 3a is formed so as to protrude from the horizontal lower surfaces 2a and 2c (in consideration of the thickness and the protruding position) even if it enters the groove portion 2b. Have been.

【0028】そのため、吸着部2により基板Wを吸着保
持する場合は、吸着支持部3aが吸引動作の際の変形が
少なく、かつ、吸引開口部3cが円周方向に沿って所定
間隔で形成されおり、吸引空間3dおよび基板Wで囲繞
する空間の空気を均等に吸引するため、吸引動作の集中
がなく、基板を平坦な状態で確実に吸着保持することが
できる。また、水平下面2a,2cが基板Wをガイドす
ることから、基板Wを吸着した際の垂れなどの変形を防
止して水平状態を維持することになる。なお、基板Wの
吸着保持に使用される接続ホース、開閉弁および真空ポ
ンプ等の真空吸引機構は、公知のものが使用できるため
ここでは省略する。
Therefore, when the substrate W is sucked and held by the suction unit 2, the suction support unit 3a is less deformed during the suction operation, and the suction openings 3c are formed at predetermined intervals along the circumferential direction. Since the air in the space surrounded by the suction space 3d and the substrate W is evenly sucked, the suction operation is not concentrated, and the substrate can be surely sucked and held in a flat state. Further, since the horizontal lower surfaces 2a and 2c guide the substrate W, deformation such as dripping when the substrate W is sucked is prevented, and the horizontal state is maintained. Note that the connection hose, the on-off valve, and the vacuum suction mechanism such as the vacuum pump used for holding the substrate W by suction can be any known one, and thus are omitted here.

【0029】また、図2で示す吸着部2の応用例として
図3(a),(b)で吸着部2Aを説明する。なお、吸
着部2と同じ構成は同じ符号を付して説明を省略する。
図3(a),(b)で示すように、吸着部2Aは、その
水平下面2aの位置に凸面部2eを設けている。この凸
面部2eは、吸着支持部3aが基板Wを吸着した際に、
その基板Wに当接してガイドするように構成されてい
る。この凸面部2eが基板Wを吸着したときのガイドと
なることで、特に、基板Wが薄い場合に、その基板Wの
窪み状の変形を防止することができる。
Further, as an application example of the suction unit 2 shown in FIG. 2, the suction unit 2A will be described with reference to FIGS. The same components as those of the suction unit 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
As shown in FIGS. 3A and 3B, the suction portion 2A has a convex surface portion 2e at the position of the horizontal lower surface 2a. When the suction support 3a sucks the substrate W, the convex surface 2e
The substrate W is configured to be in contact with and guided by the substrate W. Since the convex portion 2e serves as a guide when the substrate W is sucked, the depression of the substrate W can be prevented, particularly when the substrate W is thin.

【0030】なお、基板Wが薄い場合で吸着支持部3a
の内周側に基板Wの窪み状の変形が発生すると、その窪
み状の変形が、その基板Wを載置している載置面(特に
ガラス板やマスクなどの基板の分離手段を設けることと
できない載置面)を吸着するためのパットの役割を果し
てしまう。したがって、凸面部2eは、基板Wの窪み状
の変形が発生しないような高さおよび面積を備えていれ
ば、その凸面部2eの構成は特に限定されるものではな
い。例えば,図2(b)で示す水平下面2aに片面粘着
テープを重ねて貼ることで凸面部2e構成しても構わな
い。
When the substrate W is thin, the suction support 3a
When a dent-like deformation of the substrate W occurs on the inner peripheral side of the substrate W, the dent-like deformation is caused by providing a mounting surface on which the substrate W is mounted (in particular, providing a substrate separating means such as a glass plate or a mask). It serves as a pad for adsorbing the mounting surface that cannot be used. Therefore, the configuration of the convex portion 2e is not particularly limited as long as the convex portion 2e has a height and an area that do not cause the dent-like deformation of the substrate W. For example, the convex portion 2e may be formed by laminating a single-sided adhesive tape on the horizontal lower surface 2a shown in FIG. 2B.

【0031】つぎに、搬送機構29の授受手段12につ
いて図4を参照して説明する。なお、搬送手段1は、前
記したものと同じ構成であるため説明を省略する。水平
方向に移動するハンドラ8に、基板Wを昇降移動させて
受け渡す動作、あるいは、ハンドラ8が保持している基
板Wを昇降移動して受け取る動作、および、それら両方
の動作である授受動作を行う授受手段12,22は、基
板Wを載置する載置板10,28と、この載置板10、
28を昇降させる昇降部14,25とから構成されてい
る。
Next, the transfer means 12 of the transport mechanism 29 will be described with reference to FIG. Note that the transport unit 1 has the same configuration as that described above, and a description thereof will be omitted. An operation of moving the substrate W up and down and transferring it to the handler 8 that moves in the horizontal direction, an operation of moving the substrate W held by the handler 8 up and down and receiving the same, and a transfer operation of both operations. The transmitting and receiving means 12 and 22 to be performed include: mounting plates 10 and 28 on which the substrate W is mounted;
The lifting section 14 and the lifting section 25 move up and down.

【0032】前記載置板10は、基板Wを載置すると共
に、移動躯体1に基板Wを受け渡す際に、基板面とその
載置板面との密着度が大きくなることで、載置板10か
ら基板Wを受け渡しにくくなる状態を回避するため、分
離手段として貫通穴13を複数形成している。そして、
昇降部14は、載置板10の下端を支持する支持脚11
と、この支持脚11の下端に設けた移動板15と、この
移動板15に取り付けた移動ブロック17と、この移動
ブロック17を上下動させる送りネジ16と、この送り
ネジ16を駆動ベルト19を介して回転させる駆動モー
タ18とを備えている。
The placement plate 10 places the substrate W thereon and, when transferring the substrate W to the moving frame 1, increases the degree of adhesion between the substrate surface and the placement plate surface, thereby increasing the placement. In order to avoid a situation where it is difficult to transfer the substrate W from the plate 10, a plurality of through holes 13 are formed as separating means. And
The lifting unit 14 supports the lower end of the mounting plate 10
A moving plate 15 provided at the lower end of the support leg 11, a moving block 17 attached to the moving plate 15, a feed screw 16 for moving the moving block 17 up and down, And a drive motor 18 for rotating the motor through the motor.

【0033】なお、昇降部14は、図4で示すように、
基板Wの作業内容が異なることでその構成を異ならせて
も良く、例えば、昇降部25は、載置板28の両側下方
に設けた支持脚27、27と、この支持脚27、27を
移動ブロック26を介して上下に移動させる送りネジ2
4,24と、この送りネジ24,24を回転させる駆動
モータ23,23とを備えている。なお、載置板28
は、四角環状のフレームに形成されている。この載置板
28の位置では基板Wの下方から光照射する作業を行う
ことから、載置板28の直下には昇降部を配置すること
ができない。
As shown in FIG.
The structure of the substrate W may be changed depending on the work content of the substrate W. For example, the elevating unit 25 moves the support legs 27, 27 provided below both sides of the mounting plate 28 and the support legs 27, 27. Feed screw 2 to move up and down via block 26
4, 24, and drive motors 23, 23 for rotating the feed screws 24, 24. The mounting plate 28
Are formed in a square annular frame. Since the work of irradiating light from below the substrate W is performed at the position of the mounting plate 28, the elevating unit cannot be arranged directly below the mounting plate 28.

【0034】つぎに、基板Wを搬送する搬送機構29の
作用を説明する。図4で示すように所定パターンを露光
することで形成される基板Wは、各作業位置で処理さ
れ、それぞれの作業位置間は、水平方向に移動するハン
ドラ8の吸着部2に吸着保持され移動レール7に沿って
搬送される。そして、ハンドラ8の吸着部2に、基板W
の受け渡しあるいは基板Wの受け取りを行う場合は、各
作業位置の載置板10、28が昇降部14、25により
昇降して行われる。
Next, the operation of the transport mechanism 29 for transporting the substrate W will be described. As shown in FIG. 4, a substrate W formed by exposing a predetermined pattern is processed at each work position, and is sucked and held by the suction unit 2 of the handler 8 which moves in the horizontal direction between the work positions. It is transported along the rail 7. Then, the substrate W is placed on the suction section 2 of the handler 8.
Is carried out or the substrates W are received, the mounting plates 10 and 28 at the respective working positions are moved up and down by the elevating units 14 and 25.

【0035】そのため、基板Wを各作業位置に搬送する
ときに、基板Wを上下方向に移動させる場合は、載置板
10,28に載置した状態で行われるため、基板Wの落
下を防止することができる。また、ハンドラ8は、基板
Wを水平方向に移動する動作を行い、昇降しないため、
基板Wの搬送を迅速に行うことが可能となる。
Therefore, when the substrate W is to be moved in the vertical direction when the substrate W is transported to each work position, the substrate W is placed on the mounting plates 10 and 28, so that the substrate W is prevented from dropping. can do. Further, the handler 8 performs an operation of moving the substrate W in the horizontal direction and does not move up and down.
The transfer of the substrate W can be performed quickly.

【0036】つぎに、図5で示すように露光装置Eにつ
いて説明する。なお、前記した搬送手段1および授受手
段12、22からなる搬送機構29は、同じ構成である
ため説明を省略する。露光装置Eは、基板Wの搬入機構
Aと、基板Wの整合機構Bと、基板Wの光源機構Cと、
基板Wの搬出機構Dと、基板を各機構A,B,Dの作業
位置に搬送する搬送機構29とから構成されている。
Next, the exposure apparatus E will be described with reference to FIG. Note that the transport mechanism 29 including the transport unit 1 and the transfer units 12 and 22 has the same configuration, and a description thereof will be omitted. The exposure apparatus E includes a loading mechanism A for the substrate W, an alignment mechanism B for the substrate W, a light source mechanism C for the substrate W,
The transport mechanism 29 includes a transport mechanism D for unloading the substrate W and a transport mechanism 29 for transporting the substrate to the working position of each of the mechanisms A, B and D.

【0037】搬入機構Aは、基板Wを受け取る送りロー
ラ13aと、この送りローラ13aの上端が突出できる
貫通穴13を有する載置板10および載置板10を昇降
させる昇降部14からなる授受手段12と、前記送りロ
ーラ13aの間に移動自在に設けた予備位置決め機構9
とを備えている。
The loading mechanism A includes a feed roller 13a for receiving the substrate W, a mounting plate 10 having a through hole 13 from which the upper end of the feed roller 13a can protrude, and an elevating unit 14 for raising and lowering the mounting plate 10. 12 and a preliminary positioning mechanism 9 movably provided between the feed rollers 13a.
And

【0038】整合機構Bは、固定されている基準上焼枠
21に設けたマスク(図示せず)を整合させる位置合わ
せ機構21Aと、基準上焼枠21に当接離間自在に載置
板としての下焼枠28に設けたマスク(図示せず)と、
基準上焼枠21のマスク(図示せず)の整合状態(位置
決めマーク)を撮像するCCDカメラ37とから構成さ
れている。なお、整合機構Bでの授受手段は、載置板と
しての下焼枠28と、この下焼枠28を昇降する昇降部
25とから構成されている。また、焼枠機構20は、基
準上焼枠21および下焼枠28とから構成されている。
The aligning mechanism B includes a positioning mechanism 21A for aligning a mask (not shown) provided on the fixed reference firing frame 21 and a mounting plate that can freely contact and separate from the reference firing frame 21. A mask (not shown) provided on the underfire frame 28,
It comprises a CCD camera 37 for imaging an alignment state (positioning mark) of a mask (not shown) of the reference upper frame 21. The transfer means in the aligning mechanism B includes a lower firing frame 28 as a mounting plate, and an elevating unit 25 that moves the lower firing frame 28 up and down. In addition, the burning frame mechanism 20 includes a reference upper burning frame 21 and a lower burning frame 28.

【0039】光源機構Cは、紫外線照射ランプ31と、
この紫外線照射ランプ31からの光線を集光して反射す
る楕円反射鏡32と、前記紫外線照射ランプ31および
楕円反射鏡32からの光線を反射する平板反射鏡33
と、この平板反射鏡34からの光線の照度分布を整えて
その光線を透過するフライアイレンズ34と、このフラ
イアイレンズ34からの光線を反射する平板反射鏡35
と、この平板反射鏡35からの光線を平行光として基準
上焼枠21(下焼枠28)側に反射する反射鏡36とか
ら構成されている。なお、この例で示す光源機構Cは、
基板Wの両面を同時に露光するタイプであるため、上下
に各構成(紫外線照射ランプ31〜反射鏡36)が対称
に配置されている。
The light source mechanism C includes an ultraviolet irradiation lamp 31 and
An elliptical reflecting mirror 32 for condensing and reflecting the light beam from the ultraviolet irradiation lamp 31; and a flat plate reflecting mirror 33 for reflecting the light beam from the ultraviolet irradiation lamp 31 and the elliptical reflecting mirror 32.
A fly-eye lens 34 for adjusting the illuminance distribution of the light beam from the flat-plate reflecting mirror 34 and transmitting the light beam; and a flat-plate reflecting mirror 35 for reflecting the light beam from the fly-eye lens 34
And a reflecting mirror 36 that reflects the light from the flat plate reflecting mirror 35 as parallel light toward the reference upper grilling frame 21 (lower grilling frame 28). The light source mechanism C shown in this example is
Since this is a type in which both surfaces of the substrate W are exposed at the same time, the components (the ultraviolet irradiation lamps 31 to the reflecting mirror 36) are arranged symmetrically above and below.

【0040】搬出機構Dは、基板Wを受け取る載置板1
0と、この載置板10を昇降させる昇降部14からなる
授受手段12とから構成されている。なお、搬送手段1
の移動レール7は、搬入機構Aと整合機構B間および、
整合機構Bと搬出機構D間に配置され、ハンドラ8をそ
れぞれの移動レール7に設け、各機構A〜Dの作業状況
に応じてそれそれが作動するように構成されている。な
お、特に、基板Wが薄板の場合は、図3で示す構成の吸
着部2Aの構成とすることが都合が良い。
The unloading mechanism D includes a mounting plate 1 for receiving the substrate W.
0, and a transfer unit 12 including a lifting unit 14 for lifting and lowering the mounting plate 10. In addition, the conveying means 1
Of the moving rail 7 between the loading mechanism A and the aligning mechanism B, and
The handler 8 is disposed between the alignment mechanism B and the unloading mechanism D, and the handler 8 is provided on each of the moving rails 7 so that each of the mechanisms A to D is operated according to the work situation. In particular, when the substrate W is a thin plate, it is convenient to adopt the configuration of the suction unit 2A having the configuration shown in FIG.

【0041】つぎに、露光装置Eの作用を図5を参照し
て説明する。載置板10は、送りローラ13aの上端が
突出する位置まで、はじめは降下しており、その送りロ
ーラ13a上に基板Wが搬入されると、送りローラ13
aが回転して送りローラ13aの所定位置に基板Wを送
り停止する。そして、載置板10が、送りローラ13a
から基板Wを受け取るように昇降部14を介して上昇す
る。その上昇した載置板10の位置で予備位置決め機構
9により載置板10の基板Wの端面が押動され予備位置
決め作業が行われる。
Next, the operation of the exposure apparatus E will be described with reference to FIG. The mounting plate 10 is initially lowered to a position where the upper end of the feed roller 13a projects, and when the substrate W is loaded onto the feed roller 13a, the feed roller 13a
a rotates to feed the substrate W to a predetermined position of the feed roller 13a and stop. Then, the mounting plate 10 is moved by the feed roller 13a.
And rises via the elevating unit 14 so as to receive the substrate W from. The pre-positioning mechanism 9 pushes the end surface of the substrate W of the mounting plate 10 at the position of the mounting plate 10 which has been raised, and the pre-positioning operation is performed.

【0042】予備位置決め作業が終了すると、載置板1
0は昇降部14を介してさらに上昇して基板Wをハンド
ラ8に受け渡す。このとき、基板Wにハンドラ8との接
触ににより衝撃が発生するが、ハンドラ8に設けた緩衝
部5(図2参照)により基板Wに対する衝撃を最小限に
抑えることができる。なお、以後、基板Wの受け渡しお
よび受け取り(授受)を行う場合には、緩衝部5(図2
参照)により衝撃を緩和することが可能となる。
When the preliminary positioning operation is completed, the mounting plate 1
0 further moves up and down via the elevating unit 14 to transfer the substrate W to the handler 8. At this time, an impact is generated due to the contact of the substrate W with the handler 8, but the shock to the substrate W can be minimized by the buffer unit 5 (see FIG. 2) provided in the handler 8. In the following, when transferring and receiving (transferring) the substrate W, the buffer unit 5 (FIG.
) Makes it possible to reduce the impact.

【0043】基板Wを受け取ったハンドラ8は、移動レ
ール7に沿って水平方向に移動し、整合機構Bの下焼枠
28の上部まで移動する。ハンドラ8が停止すると、下
焼枠28が昇降部25により上昇して基板Wをハンドラ
8から受け取り降下する。そして、てハンドラ8が搬入
機構A側に移動すると、再び昇降部25を介して下焼枠
28が上昇し、基準上焼枠21側に当接し、真空吸着機
構(図示せず)を介して両焼枠21、28を真空密着さ
せる。
The handler 8 having received the substrate W moves in the horizontal direction along the moving rail 7 and moves up to the upper part of the lower frame 28 of the alignment mechanism B. When the handler 8 stops, the lower firing frame 28 rises by the elevating unit 25, receives the substrate W from the handler 8, and descends. Then, when the handler 8 moves to the loading mechanism A side, the lower sintering frame 28 rises again via the elevating unit 25, contacts the reference upper sintering frame 21 side, and via the vacuum suction mechanism (not shown). The two firing frames 21 and 28 are brought into close vacuum contact.

【0044】さらに、CCDカメラ37によりマスク
(図示せず)の整合状態を撮像して整合許容範囲外であ
れば、真空密着状態を解除して下焼枠28を降下し、基
準上焼枠21の位置合わせ機構21Aを使用してマスク
(図示せず)の位置をX,Y,θ方向に整合する。再
び、下焼枠28を上昇させ両焼枠21、28を真空密着
させCCDカメラ37により整合状態を確認して整合許
容範囲内であれば、光源機構Cの紫外線照射ランプ31
から紫外線を含む光線を照射し、各反射鏡32,33,
35,36およびフライアイレンズ34を介して基板W
の表裏にマスク(図示せず)を介して露光作業が行われ
る。
Further, the alignment state of the mask (not shown) is imaged by the CCD camera 37, and if the alignment state is outside the allowable alignment range, the vacuum contact state is released and the lower grilling frame 28 is lowered, and the reference upper grilling frame 21 is lowered. The position of a mask (not shown) is aligned in the X, Y, and θ directions using the positioning mechanism 21A. Again, the lower firing frame 28 is raised, the two firing frames 21 and 28 are brought into vacuum contact with each other, the alignment state is checked by the CCD camera 37, and if the alignment is within the allowable alignment range, the ultraviolet irradiation lamp 31 of the light source mechanism C is used.
Irradiates a light beam including ultraviolet rays from each of the reflecting mirrors 32, 33,
Substrate W via 35, 36 and fly-eye lens 34
Exposure is performed via a mask (not shown) on the front and back of the device.

【0045】露光作業を行っているときには、すでに搬
入機構Aではつぎの基板Wの予備位置決め作業を行って
いる。そして、露光作業が終了すると、両焼枠21,2
8の真空密着状態を解除して、下焼枠28を降下させ、
搬出側にあるハンドラ8を移動させて下焼枠28の上方
に到来させる。そして、下焼枠28を上昇させハンドラ
8に基板Wを受け渡し、下焼枠28は降下する。基板W
を受け取ったハンドラ8は、移動レール7に沿って搬出
機構Dの上部に移動する。さらに、授受手段12の載置
板10を昇降部14により上昇させ基板Wを載置板10
上に受け取る。なお、露光済み基板Wが搬送されると、
つぎの基板Wがハンドラ8により搬送され、一連の作業
を連続して行っている。
During the exposure operation, the carry-in mechanism A has already performed the preliminary positioning operation for the next substrate W. Then, when the exposure operation is completed, both the burning frames 21 and
8, release the vacuum contact state, lower the lower grilling frame 28,
The handler 8 on the carry-out side is moved to arrive above the lower firing frame 28. Then, the lower printing frame 28 is raised to transfer the substrate W to the handler 8, and the lower printing frame 28 is lowered. Substrate W
Is transferred to the upper part of the unloading mechanism D along the moving rail 7. Further, the mounting plate 10 of the transfer unit 12 is lifted by the elevating unit 14 to move the substrate W to the mounting plate 10.
Receive on top. When the exposed substrate W is transported,
The next substrate W is transported by the handler 8, and a series of operations are continuously performed.

【0046】なお、搬送機構29および露光装置Eで使
用される載置板10,28には、基板Wとの密着を防止
する分離手段を設けているが、図6で示すように構成し
ても良い。すなわち、図6(a)で示すように、載置板
10Aは、その基板Wの載置面に凹凸面10aを形成し
ている。そのため、基板Wと載置板10Aの間の接触面
積が小さくなり密着を防止することができる。この凹凸
面10aは、全面に設ける必要はなく部分的であっも良
い。
Separating means for preventing close contact with the substrate W is provided on the mounting plates 10 and 28 used in the transport mechanism 29 and the exposure apparatus E, but they are constructed as shown in FIG. Is also good. That is, as shown in FIG. 6A, the mounting plate 10A has an uneven surface 10a on the mounting surface of the substrate W. Therefore, the contact area between the substrate W and the mounting plate 10A is reduced, and the close contact can be prevented. The uneven surface 10a does not need to be provided on the entire surface and may be partial.

【0047】また図6(b)で示すように、載置板10
Bの表面に長凹溝10bを形成することで基板Wとの密
着を防止しても良い。この長凹溝10bは、図示しない
が載置板に長凸部が形成されることでも同じ結果を得る
ことができる。なお、長凸部は片面粘着テープを貼るこ
とで形成することが可能となる。
As shown in FIG. 6B, the mounting plate 10
The close contact with the substrate W may be prevented by forming the long concave groove 10b on the surface of B. Although not shown, the same result can be obtained by forming a long convex portion on the mounting plate. The long convex portion can be formed by attaching a single-sided adhesive tape.

【0048】そして、図6(c)で示すように、載置板
10Cに貫通孔10cを複数設けることでも基板Wとの
密着を防止することができる。なお、図6(d)で示す
ように、載置板10Dに貫通孔10dを形成し、その貫
通孔10dにポンプ10eから空気を流出させる構成と
しても基板Wとの密着を防止することができる。
Further, as shown in FIG. 6C, by providing a plurality of through-holes 10c in the mounting plate 10C, the close contact with the substrate W can be prevented. In addition, as shown in FIG. 6D, even if a through hole 10d is formed in the mounting plate 10D and air is discharged from the pump 10e to the through hole 10d, the close contact with the substrate W can be prevented. .

【0049】なお、前記した各実施の形態で用いられる
吸着部の水平下面に形成された溝部は、円環状に形成し
ているが、四角環状に形成することや、その円環状ある
いは四角環状が2分割以上分割された状態で溝部を形成
しても良い。さらに、当接パットは、溝部に対応させ
て、四角環状に形成したり、あるいは、分割された溝部
に対応した当接パットの状態としても良い。そして、当
接パットの吸着支持部の吸引空間に連通して形成してい
る吸引孔は、2箇所以上形成されていれば良く、好まし
くは均等に配置すれば吸引空間で基板を吸引する吸引力
が均等になり都合が良い。
The groove formed on the horizontal lower surface of the suction portion used in each of the above-described embodiments is formed in an annular shape. However, the groove may be formed in a square shape, or the annular shape or the square shape may be used. The groove may be formed in a state of being divided into two or more. Further, the contact pad may be formed in a square ring shape corresponding to the groove portion, or may be in a state of the contact pad corresponding to the divided groove portion. Then, the suction holes formed in communication with the suction space of the suction support portion of the contact pad may be formed at two or more locations, and preferably, if arranged evenly, a suction force for sucking the substrate in the suction space. Is even and convenient.

【0050】また、授受手段の昇降部は、その構成をシ
リンダ機構や他の構成であっても良く、載置板を昇降で
きるものであれば限定されるものではない。さらに、露
光装置は、整合作業位置および露光作業位置が同じ位置
として図示したが、異なる位置にある場合でも良い。ま
た、露光形式は、片面露光、両面露光、平行光露光、散
乱光露光であっても良い。さらに、整合作業および露光
作業を行う場合は、マスクおよび基板の配置が水平状態
や、垂直状態や、あるいは、傾斜した状態であっても良
い。また、基板の構成は枚葉形式、ロールツウロール形
式であっても良い。
The elevating portion of the transfer means may be a cylinder mechanism or another configuration, and is not limited as long as the mounting plate can be raised and lowered. Further, in the exposure apparatus, the alignment work position and the exposure work position are illustrated as the same position, but may be in different positions. The exposure type may be one-sided exposure, two-sided exposure, parallel light exposure, or scattered light exposure. Further, when performing the alignment work and the exposure work, the arrangement of the mask and the substrate may be in a horizontal state, a vertical state, or an inclined state. The configuration of the substrate may be a single-wafer type or a roll-to-roll type.

【0051】[0051]

【発明の効果】前記した構成の本発明は、以下のように
優れた効果を発揮する。 搬送手段は、基板の当接面に対して凹状の吸引空間
を備える線溝状の吸着支持部により基板を吸着保持して
いるため、基板の当接面に対して吸引力が均等な状態で
吸引動作を行えると共に、吸着支持部が当接部の水平下
面から突出した状態で基板を保持することから、基板が
薄板であっも変形することなく適切に保持することが可
能となる。また、搬送手段は、緩衝部を備えることか
ら、基板を授受する場合に基板に対する衝撃を最小限に
緩和することができる。さらに、基板が薄板の場合は、
吸着支持部の内周側に凸面部を設けることで、基板の窪
み状の変形を確実に防止することができる。
The present invention having the above-described structure exhibits the following excellent effects. Since the transfer means suction-holds the substrate by a linear groove-shaped suction support portion having a concave suction space with respect to the contact surface of the substrate, the suction force is uniform with respect to the contact surface of the substrate. Since the suction operation can be performed and the substrate is held in a state in which the suction support portion protrudes from the horizontal lower surface of the contact portion, even if the substrate is a thin plate, it can be appropriately held without being deformed. Further, since the transporting unit includes the buffer unit, it is possible to minimize the impact on the substrate when transferring the substrate. Furthermore, when the substrate is a thin plate,
By providing the convex surface portion on the inner peripheral side of the suction support portion, it is possible to reliably prevent the substrate from being deformed in a concave shape.

【0052】 搬送機構は、基板を作業位置から搬送
手段に基板を授受する授受手段が、基板を載置板上に載
置した状態で昇降して受け渡しあるいは受け取りの少な
くとも一方を行い、各作業位置間の移動はハンドラが基
板を吸着保持して水平方向に移動している。そのため、
基板を授受の際に落下することがない。また、基板の搬
送速度を向上することが可能となる。また、載置板に基
板との密着を防止する分離手段を備えていることから、
基板が載置板に密着して受け渡せないことがない。
The transfer mechanism transfers the substrate from the work position to the transfer means, and the transfer means moves up and down with the substrate placed on the mounting plate to perform at least one of transfer and reception. In the movement between them, the handler is moving in the horizontal direction while holding the substrate by suction. for that reason,
It does not drop when transferring the substrate. In addition, it is possible to improve the substrate transfer speed. In addition, since the mounting plate is provided with a separating means for preventing close contact with the substrate,
There is no possibility that the substrate cannot be delivered in close contact with the mounting plate.

【0053】 露光装置は、基板を各機構に搬送する
際に、ハンドラが水平方向に移動すると共に、基板を各
機構で処理した後に載置板に載置して授受する授受手段
が昇降する構成としている。そのため、基板の搬送速度
を向上することができまた、基板を落下する原因がない
ことから、露光装置の処理能力の向上を図ることができ
る。
The exposure apparatus has a configuration in which, when a substrate is transported to each mechanism, the handler moves in the horizontal direction, and a transfer unit that places the substrate on the mounting plate and transfers it after processing the substrate by each mechanism is moved up and down. And Therefore, the transfer speed of the substrate can be improved, and since there is no cause for dropping the substrate, the processing capability of the exposure apparatus can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の搬送手段を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a conveying means of the present invention.

【図2】(a),(b),(c)は搬送手段の緩衝部、
吸着部の縦断面図、吸着部の底面図である。
2 (a), 2 (b) and 2 (c) are buffer sections of a transport means,
It is a longitudinal section of a suction part, and a bottom view of a suction part.

【図3】(a),(b)は、本発明の搬送手段の応用例
を示す吸着部の断面図および底面図である。
FIGS. 3A and 3B are a cross-sectional view and a bottom view of a suction unit showing an application example of the conveying means of the present invention.

【図4】本発明の搬送機構の全体を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic view showing the entire transfer mechanism of the present invention.

【図5】本発明の露光装置の全体を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing the entire exposure apparatus of the present invention.

【図6】(a),(b),(c),(d)は搬送機構の
載置板の応用例を示す斜視図である。
FIGS. 6 (a), (b), (c), and (d) are perspective views showing an application example of a mounting plate of a transport mechanism.

【図7】(a)は従来の搬送手段を示す正面図、
(b),(c)は従来の搬送手段の吸着パットの状態を
示す模式図、(d)は、従来の搬送機構を使用する露光
装置を示す模式図である。
FIG. 7A is a front view showing a conventional transport unit,
(B), (c) is a schematic diagram showing a state of a suction pad of a conventional transport unit, and (d) is a schematic diagram showing an exposure apparatus using a conventional transport mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 搬送手段 2 吸着部 2a 水平下面 2b 溝部 2c 水平下面 3 当接パット 3a 吸着支持部 3b 胴体部 3c 吸引孔 3d 吸引空間 4 保持板 5 緩衝部 6 移動躯体 7 移動レール 8 ハンドラ 9 予備位置決め機構 10 載置板 11 支持脚 12 授受手段 13 貫通穴 14 昇降部 15 移動板 16 送りネジ 17 移動ブロック 18 駆動モータ 19 伝達ベルト 20 焼枠機構 21 基準上焼枠 21A 位置合わせ機構 22 授受手段 23 駆動モータ 24 送りネジ 25 昇降部 26 移動ブロック 27 支持脚 28 下焼枠(載置板) 29 搬送機構 A 搬入機構 B 整合機構 C 光源機構 D 搬出機構 E 露光装置 W 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conveying means 2 Suction part 2a Horizontal lower surface 2b Groove part 2c Horizontal lower surface 3 Contact pad 3a Suction support part 3b Body part 3c Suction hole 3d Suction space 4 Holding plate 5 Buffer part 6 Moving frame 7 Moving rail 8 Handler 9 Pre-positioning mechanism 10 Placement plate 11 Support leg 12 Transfer unit 13 Through hole 14 Elevating unit 15 Moving plate 16 Feed screw 17 Moving block 18 Drive motor 19 Transmission belt 20 Burning frame mechanism 21 Reference top firing frame 21A Positioning mechanism 22 Transfer unit 23 Drive motor 24 Feed screw 25 Elevating unit 26 Moving block 27 Support leg 28 Baking frame (mounting plate) 29 Transport mechanism A Loading mechanism B Alignment mechanism C Light source mechanism D Unloading mechanism E Exposure device W Substrate

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定パターンを露光して形成する基板を
各作業位置に搬送する移動レールおよびハンドラからな
る搬送手段において、 前記移動レールは、前記各作業位置の上方でそれら各作
業位置に亘って配置され、前記ハンドラは、移動レール
に沿って移動する移動躯体と、この移動躯体に設けられ
た保持板と、この保持板に取り付けられた吸着部とを備
え、 前記吸着部は、水平下面に形成された溝部と、この溝部
に取り付けられた当接パットとを備え、 前記当接パットは、軸線方向に沿って間隔を開けて形成
した吸引孔を有する胴体部と、この胴体部に連続して設
けられ、前記吸引孔の開口が形成される吸引空間を有す
る吸着支持部とを備え、 前記基板を吸着した際に、前記吸着支持部が、前記水平
下面より突出してその基板を支持することを特徴とする
搬送手段。
1. A transfer means comprising a moving rail and a handler for transferring a substrate formed by exposing a predetermined pattern to each working position, wherein the moving rail extends over each of the working positions above each of the working positions. Disposed, the handler includes a moving frame moving along a moving rail, a holding plate provided on the moving frame, and a suction unit attached to the holding plate, and the suction unit is disposed on a horizontal lower surface. A groove formed and a contact pad attached to the groove, the contact pad being continuous with the body having a suction hole formed at intervals along the axial direction. And a suction support portion having a suction space in which the opening of the suction hole is formed. When the substrate is sucked, the suction support portion projects from the horizontal lower surface and supports the substrate. Conveying means, characterized in that.
【請求項2】 前記吸着支持部を環状に形成し、前記吸
着部の水平下面の位置で、前記吸着支持部から内周側に
凸面部を設け、 前記凸面部は、前記吸着支持部が基板を吸着する際に、
その基板に当接する位置まで突出して形成されることを
特徴とする請求項1に記載の搬送手段。
2. The suction support portion is formed in an annular shape, and a convex portion is provided on the inner peripheral side from the suction support portion at a position on a horizontal lower surface of the suction portion, wherein the suction support portion is a substrate. When adsorbing
2. The transport means according to claim 1, wherein the transport means is formed so as to protrude to a position where it comes into contact with the substrate.
【請求項3】 前記移動躯体と前記保持板との間ならび
に保持板と前記吸着部との間の少なくとも一箇所に、前
記基板の授受における衝撃を緩和する緩衝部を設けたこ
とを特徴とする請求項1または2に記載の搬送手段。
3. A buffer for reducing a shock in transferring the substrate is provided between at least one of the moving frame and the holding plate and between the holding plate and the suction unit. The transporting means according to claim 1.
【請求項4】 所定パターンを露光して形成する基板
を、各作業位置に搬送するための前記請求項1ないし3
のいずれか一項に記載の搬送手段と、この搬送手段に前
記基板の受け渡しあるいは受け取りの少なくとも一方を
行う授受手段とを備える搬送機構であって、 前記授受手段は、前記各作業位置に配置され、前記基板
を載置する載置板と、この載置板を昇降させる昇降部と
を備えることを特徴とする搬送機構。
4. The method according to claim 1, wherein the substrate formed by exposing a predetermined pattern is transported to each work position.
A transfer mechanism comprising: the transfer unit according to any one of the above, and a transfer unit that performs at least one of delivery and reception of the substrate to the transfer unit, wherein the transfer unit is disposed at each of the work positions. A transfer plate, comprising: a mounting plate on which the substrate is mounted; and an elevating unit that moves the mounting plate up and down.
【請求項5】 前記載置板は、基板を載置する載置面
に、前記基板が離間する際にその基板と載置面との減圧
による密着を解除するための分離手段を形成したことを
特徴とする請求項4に記載の搬送機構。
5. The mounting plate according to claim 1, wherein a separating means is formed on the mounting surface on which the substrate is mounted, for releasing the close contact between the substrate and the mounting surface under reduced pressure when the substrate is separated. The transport mechanism according to claim 4, wherein:
【請求項6】 基板を搬入する搬入機構と、前記基板を
位置決めする整合機構と、前記基板を露光する光源機構
と、前記基板を搬出する搬出機構と、前記基板を前記各
機構に搬送する搬送機構とを、前記基板の搬送経路に沿
って備える露光装置において、 前記搬送機構は、請求項4または5に記載の構成を備え
ることを特徴とする露光装置。
6. A loading mechanism for loading a substrate, an alignment mechanism for positioning the substrate, a light source mechanism for exposing the substrate, a loading mechanism for unloading the substrate, and a transport for transporting the substrate to each mechanism. An exposure apparatus comprising a mechanism along a substrate transport path, wherein the transport mechanism has a configuration according to claim 4 or 5.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100730037B1 (en) * 2004-11-30 2007-06-20 가부시키가이샤 다이헨 Substrate conveyance equipment
JP4916593B2 (en) * 2009-03-11 2012-04-11 パナソニック株式会社 Substrate transfer processing system, substrate transfer processing method, and component mounting apparatus and method
CN103399388A (en) * 2013-07-29 2013-11-20 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 Airbag supporting device for optical element
CN112193832A (en) * 2020-09-10 2021-01-08 彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司 Plate taking mechanism for preventing glass substrate from deforming

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