JP2000232149A - Placing and positioning mechanism for semiconductor wafer container - Google Patents
Placing and positioning mechanism for semiconductor wafer containerInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ収納
容器の載置位置決め機構に関し、特に長期間に渡って半
導体ウエハ収納容器の位置決めを高精度で行うことがで
きる載置位置決め機構に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting and positioning mechanism for a semiconductor wafer storage container, and more particularly to a mounting and positioning mechanism capable of positioning a semiconductor wafer storage container with high accuracy for a long period of time.
【0002】[0002]
【従来の技術】CVD装置、スパッタ装置、露光装置、エ
ッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロ
ーダやアンローダに半導体ウエハ収納容器を正確に載置
するために、位置決め機構が配設されている。図9は従
来技術に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構
の概略構成図である。同図9に示すように、載置位置決
め機構は、半導体ウエハ収納容器10の底面に配設され
た逆V字型形状の被位置決め溝11と、ローダやアンロ
ーダの載置位置に配設された位置決めピン12とで構築
されている。図示しないが、半導体ウエハ収納容器10
の内部には、半導体ウエハ処理装置に搬送する未処理状
態の複数枚の半導体ウエハが、又は半導体ウエハ処理装
置から搬送された処理済み状態の複数枚の半導体ウエハ
が収納されている。2. Description of the Related Art A positioning mechanism is provided for accurately placing a semiconductor wafer container on a loader or unloader of a semiconductor wafer processing apparatus such as a CVD apparatus, a sputtering apparatus, an exposure apparatus, an etching apparatus, and a cleaning apparatus. I have. FIG. 9 is a schematic configuration diagram of a mounting / positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to the related art. As shown in FIG. 9, the mounting positioning mechanism is provided at an inverted V-shaped positioning groove 11 provided on the bottom surface of the semiconductor wafer container 10 and at a mounting position of a loader or unloader. It is constructed with the positioning pins 12. Although not shown, the semiconductor wafer storage container 10
A plurality of unprocessed semiconductor wafers transported to the semiconductor wafer processing apparatus or a plurality of processed semiconductor wafers transported from the semiconductor wafer processing apparatus are accommodated in the inside.
【0003】図10(A)乃至図10(C)は載置位置
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。まず、図10(A)に示すように、半導
体ウエハ処理装置のローダ又はアンローダの載置位置に
おいて、位置決めピン12上に半導体ウエハ収納容器1
0の被位置決め溝11が対応する位置まで、ロボットア
ームやオペレータにより半導体ウエハ収納容器10を搬
送する。この時点においては、位置決めピン12と被位
置決め溝11との間は大まかな位置合わせでよい。FIGS. 10 (A) to 10 (C) are work process diagrams showing step by step the positioning operation procedure in the mounting and positioning mechanism. First, as shown in FIG. 10A, the semiconductor wafer container 1 is placed on the positioning pins 12 at the position where the loader or unloader of the semiconductor wafer processing apparatus is placed.
The semiconductor wafer storage container 10 is transported by a robot arm or an operator to a position corresponding to the zero positioning groove 11. At this point, rough positioning may be performed between the positioning pin 12 and the positioning groove 11.
【0004】引き続き、図10(B)に示すように、半
導体ウエハ収納容器10を位置決めピン12に向けて下
方に降下させることにより、被位置決め溝11の傾斜内
壁と位置決めピン12の先端とが当接する。さらに、半
導体ウエハ収納容器10を降下させることにより、位置
決めピン12にガイドされ、位置決めピン12の先端を
被位置決め溝11の内壁がスライドして行く。図10
(C)に示すように、位置決めピン12の先端中央と被
位置決め溝11の頂点とが一致した時点で半導体ウエハ
収納容器10の載置位置が決定され、位置決め作業を完
了させることができる。Subsequently, as shown in FIG. 10B, the semiconductor wafer container 10 is lowered toward the positioning pins 12 so that the inclined inner wall of the positioning groove 11 and the tip of the positioning pins 12 contact each other. Touch Further, by lowering the semiconductor wafer storage container 10, it is guided by the positioning pins 12, and the inner wall of the positioning groove 11 slides at the tip of the positioning pins 12. FIG.
As shown in (C), when the center of the tip of the positioning pin 12 and the apex of the positioning groove 11 coincide with each other, the mounting position of the semiconductor wafer storage container 10 is determined, and the positioning operation can be completed.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
半導体ウエハ収納容器10の載置位置決め機構において
は、以下の点について配慮がなされていなかった。 (1)図10(B)及び図10(C)に示すように、被
位置決め溝11と位置決めピン12との間は位置決め作
業毎に接触や擦れを繰り返し生じる。このため、被位置
決め溝11や位置決めピン12には長期間に渡る使用で
磨耗による形状変化が発生し、位置決め精度を低下させ
てしまうという問題点があった。However, the following points have not been taken into consideration in the mounting and positioning mechanism of the semiconductor wafer container 10 described above. (1) As shown in FIGS. 10 (B) and 10 (C), contact and rubbing are repeatedly generated between the positioning groove 11 and the positioning pin 12 for each positioning operation. For this reason, there has been a problem in that the positioning groove 11 and the positioning pin 12 undergo a shape change due to wear over a long period of use, resulting in a decrease in positioning accuracy.
【0006】(2)被位置決め溝11と位置決めピン1
2との間の接触や擦れによってパーティクルを発生させ
てしまう。このため、クリーンルーム内のパーティクル
量を増大させてしまうので、製造上の歩留まりを低下さ
せてしまうという問題点があった。(2) Positioning groove 11 and positioning pin 1
Particles are generated due to contact or rubbing between them. For this reason, the amount of particles in the clean room is increased, and there is a problem in that the production yield is reduced.
【0007】(3)図10(B)に示す接触時に、半導
体ウエハ収納容器10の降下速度や位置合わせの不具合
によっては被位置決め溝11、位置決めピン12のそれ
ぞれに衝撃が加わる可能性がある。特に、半導体ウエハ
収納容器10の搬送がオペレータの手作業で行われる場
合には、搬送状態を一定にすることは極めて難しく、衝
撃が加わる可能性が高い。衝撃が加わった場合には被位
置決め溝11、位置決めピン12のそれぞれに形状変化
や破損が生じ、位置決め精度を低下させてしまうという
問題点があった。(3) At the time of the contact shown in FIG. 10B, there is a possibility that an impact is applied to each of the positioning groove 11 and the positioning pin 12 depending on the descent speed of the semiconductor wafer container 10 and a defect in the alignment. In particular, when the transfer of the semiconductor wafer storage container 10 is performed manually by an operator, it is extremely difficult to make the transfer state constant, and there is a high possibility that an impact will be applied. When an impact is applied, the positioning groove 11 and the positioning pin 12 each have a change in shape or breakage, resulting in a problem that positioning accuracy is reduced.
【0008】(4)さらに、衝撃は半導体ウエハ収納容
器10の全体に加わり、半導体ウエハ収納容器10の内
部とその内部に収納された半導体ウエハとの間で擦れが
生じ、パーティクルを発生させてしまうので、製造上の
歩留まりを低下させてしまうという問題点があった。(4) Further, the impact is applied to the entire semiconductor wafer storage container 10, and rubbing occurs between the inside of the semiconductor wafer storage container 10 and the semiconductor wafer stored therein, thereby generating particles. Therefore, there is a problem that the production yield is reduced.
【0009】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものである。従って、本発明の目的は、半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め精度を長期間に渡って向上させ
ることができる載置位置決め機構を提供することであ
る。さらに、本発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決めに起因するパーティクルの発生を防止する
ことができ、製造上の歩留まりを向上させることができ
る載置位置決め機構を提供することである。さらに、本
発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに
起因する衝撃を緩和することができ、半導体ウエハ収納
容器内部においてパーティクルの発生を防止することが
でき、製造上の歩留まりを向上させることができる載置
位置決め機構を提供することである。The present invention has been made to solve the above problems. SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a mounting and positioning mechanism capable of improving the mounting and positioning accuracy of a semiconductor wafer storage container over a long period of time. It is a further object of the present invention to provide a mounting and positioning mechanism capable of preventing generation of particles due to mounting and positioning of a semiconductor wafer storage container and improving a manufacturing yield. Further, an object of the present invention is to reduce the impact caused by the positioning of the semiconductor wafer storage container, to prevent the generation of particles inside the semiconductor wafer storage container, and to improve the manufacturing yield. It is an object of the present invention to provide a mounting positioning mechanism that can perform the positioning.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明の第1の特徴は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納容器底面
の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当接する回
転自在な回転体と、この回転体を支持する支持体と、を
備えたことである。半導体ウエハ収納容器底面の被位置
決め溝は、回転体との大まかな位置決めを容易に行うこ
とができる広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行
われた後にはスムーズに正確な位置決めを行えるように
回転体でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成さ
れる、ことが好ましい。回転体は支持体の上部先端又は
側部に配設される、ことが好ましい。支持体には1個又
は複数個の回転体が回転自在に支持されることが実用的
である。支持体は、例えばCVD装置、スパッタ装置、露
光装置、エッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処
理装置のローダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器
の載置位置に配設される。このように構成される半導体
ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、回転体
が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝の内壁に当
接すると、回転体は速やかに回転し、この回転体の回転
によって半導体ウエハ収納容器を正確な位置決めの位置
までガイドすることができる。従って、位置決めでの被
位置決め溝の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗によ
る内壁面の形状変化を減少させることができるので、長
期間に渡って精度の高い位置決めを行うことができる。
勿論、回転体は回転しながら被位置決め溝の内壁に接触
するので、回転体自身の擦れや磨耗による形状変化はほ
とんど生じることがない。さらに、被位置決め溝の内壁
の擦れに起因するパーティクルの発生量を減少させるこ
とができるので、パーティクル量の少ない環境を構築す
ることができ、製造上の歩留まりを向上させることがで
きる。In order to solve the above-mentioned problems, a first feature of the present invention is that a positioning groove on a bottom surface of a semiconductor wafer storage container and a positioning groove on the bottom surface of the semiconductor wafer storage container are provided. A rotatable rotator abutting on the inner wall of the positioning groove and a support for supporting the rotator are provided. The positioning groove on the bottom surface of the semiconductor wafer storage container has a wide opening that can easily perform rough positioning with the rotating body, and performs smooth and accurate positioning after rough positioning is performed. It is preferably formed in a V-shaped cross section having an inner wall guided by a rotating body. Preferably, the rotator is disposed at the top tip or side of the support. It is practical that one or a plurality of rotating bodies are rotatably supported on the support. The support is provided at a mounting position of a semiconductor wafer container of a loader or an unloader of a semiconductor wafer processing apparatus such as a CVD apparatus, a sputtering apparatus, an exposure apparatus, an etching apparatus, and a cleaning apparatus. In the semiconductor wafer container mounting / positioning mechanism configured as described above, when the rotating body comes into contact with the inner wall of the positioning groove on the bottom surface of the semiconductor wafer container, the rotating body quickly rotates, and the rotating body rotates. Accordingly, the semiconductor wafer storage container can be guided to a position for accurate positioning. Therefore, wear due to friction of the inner wall of the positioning groove at the time of positioning and change in the shape of the inner wall surface due to the wear can be reduced, so that highly accurate positioning can be performed over a long period of time.
Of course, since the rotating body contacts the inner wall of the positioning groove while rotating, there is almost no change in shape due to rubbing or abrasion of the rotating body itself. Furthermore, since the amount of particles generated due to the rubbing of the inner wall of the positioning groove can be reduced, an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0011】この発明の第2の特徴は、半導体ウエハ収
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する接触体と、この接触体を支持し少なくとも上下方
向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体と、
を備えたことである。弾性体にはコイルスプリングを実
用的に使用することができる。コイルスプリングは上下
方向及び水平方向に弾力性を有する。このように構成さ
れる半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構において
は、接触体が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝
の内壁に当接するとこの時の衝撃を弾性体により吸収さ
せることができる。衝撃が吸収された後には接触体によ
り半導体ウエハ収納容器は正確な位置決めの位置までガ
イドされる。従って、被位置決め溝の内壁面の衝撃によ
る形状変化や損傷並びに接触体そのものの形状変化や損
傷を減少させることができるので、長期間に渡って精度
の高い位置決めを行うことができる。さらに、被位置決
め溝の内壁と接触体との衝撃を弾性体により吸収させた
ことにより、半導体ウエハ収納容器の内部とその内部に
収納された半導体ウエハとの擦れによるパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。According to a second feature of the present invention, in the mounting / positioning mechanism for a semiconductor wafer storage container, a positioning groove on the bottom surface of the semiconductor wafer storage container, a contact member abutting on the inner wall of the positioning groove, and An elastic body that supports and has elasticity in at least a vertical direction or at least a horizontal direction,
It is to have. A coil spring can be practically used for the elastic body. The coil spring has elasticity in the vertical and horizontal directions. In the semiconductor wafer storage container mounting / positioning mechanism configured as described above, when the contact body comes into contact with the inner wall of the positioning groove on the bottom surface of the semiconductor wafer storage container, the impact at this time can be absorbed by the elastic body. After the shock is absorbed, the semiconductor wafer container is guided by the contact body to a position for accurate positioning. Therefore, it is possible to reduce the shape change and damage due to the impact on the inner wall surface of the groove to be positioned and the shape change and damage of the contact body itself, so that highly accurate positioning can be performed for a long period of time. Furthermore, the impact between the inner wall of the groove to be positioned and the contact body is absorbed by the elastic body, thereby reducing the amount of particles generated due to friction between the inside of the semiconductor wafer storage container and the semiconductor wafer stored therein. Therefore, an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0012】この発明の第3の特徴は、半導体ウエハ収
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する回転自在な回転体と、この回転体を支持し少なく
とも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する
弾性体と、を備えたことである。このように構成される
半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、
この発明の第1の特徴の載置位置決め機構、この発明の
第2の特徴の載置位置決め機構のそれぞれで得られる効
果を組み合わせた効果を得ることができる。According to a third feature of the present invention, in the mounting / positioning mechanism for a semiconductor wafer storage container, a positioning groove on a bottom surface of the semiconductor wafer storage container, a rotatable rotating body abutting on the inner wall of the positioning groove, And an elastic body that supports the rotating body and has elasticity in at least the vertical direction or at least the horizontal direction. In the mounting and positioning mechanism of the semiconductor wafer container configured as described above,
The effects obtained by combining the effects obtained by the placing and positioning mechanism according to the first aspect of the present invention and the placing and positioning mechanism according to the second aspect of the present invention can be obtained.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、本発
明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1
(A)は本発明の第1の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の概略構成図(図2に示す
abcd切断面で切った部分に相当する断面構成図)、
図1(B)は載置位置決め機構の要部拡大構成図、図2
は半導体ウエハ収納容器の斜視図である。本発明の第1
の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ
収納容器1の底面の被位置決め溝2と、この被位置決め
溝2の内壁に当接する回転自在な回転体3Aと、この回
転体3Aを支持する支持体3Bと、を備えて構築され
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG.
(A) is a schematic configuration diagram (a cross-sectional configuration diagram corresponding to a portion cut along the abcd cutting surface illustrated in FIG. 2) of the mounting and positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container according to the first embodiment of the present invention;
FIG. 1B is an enlarged configuration diagram of a main part of the mounting and positioning mechanism, and FIG.
FIG. 3 is a perspective view of a semiconductor wafer storage container. First of the present invention
The mounting and positioning mechanism according to the first embodiment supports the positioning groove 2 on the bottom surface of the semiconductor wafer container 1, a rotatable rotator 3A abutting on the inner wall of the positioning groove 2, and supports the rotator 3A. And a supporting member 3B.
【0014】半導体ウエハ収納容器1には、その内部の
構成を省略してあるが、半導体ウエハ処理装置に供給す
る未処理状態の複数枚の半導体ウエハが、又半導体ウエ
ハ処理装置から供給された処理済み状態の複数枚の半導
体ウエハが収納されている。この個数に限定されない
が、第1の実施の形態において被位置決め溝2は、図1
(A)及び図2に示すように、半導体ウエハ収納容器1
の底面の3箇所に、被位置決め溝21、22、23とし
て、合計3個配設されている。被位置決め溝2は、回転
体3Aとの大まかな位置決めを容易に行うことができる
広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行われた後に
はスムーズに正確な位置決めを行えるように回転体3A
でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成される。
第1の実施の形態において被位置決め溝2は断面V字型
の溝で形成される。なお、角錐形状の穴、円錐形状の穴
のいずれかで被位置決め溝2を形成してもよい。Although the internal configuration of the semiconductor wafer container 1 is omitted, a plurality of unprocessed semiconductor wafers to be supplied to the semiconductor wafer processing apparatus are processed by the processing apparatus supplied from the semiconductor wafer processing apparatus. A plurality of completed semiconductor wafers are stored. Although not limited to this number, in the first embodiment, the positioning groove 2 is
(A) and as shown in FIG. 2, the semiconductor wafer storage container 1
In three places on the bottom surface of the substrate, a total of three grooves 21, 22 and 23 are provided. The positioning groove 2 has a wide opening that can easily perform rough positioning with the rotating body 3A, and performs smooth and accurate positioning after rough positioning is performed.
It is formed in a V-shaped cross section having an inner wall guided by.
In the first embodiment, the positioning groove 2 is formed by a groove having a V-shaped cross section. Note that the positioning groove 2 may be formed by either a pyramidal hole or a conical hole.
【0015】回転体3Aは、被位置決め溝2の内壁との
接触によって回転するように、支持体3Bの上部に回転
自在に取り付けられている。回転体3Aには、ローラ、
ボールのいずれかを実用的に使用することができる。The rotator 3A is rotatably mounted on an upper portion of the support 3B so as to rotate by contact with the inner wall of the groove 2 to be positioned. A roller,
Any of the balls can be used practically.
【0016】支持体3Bは、半導体ウエハ収納容器1の
正確な位置決めを行うべき載置位置4に配設されてい
る。載置位置4とは、例えば半導体ウエハ処理装置、さ
らに詳細にはCVD装置、スパッタ装置、露光装置、エッ
チング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロー
ダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器1を載置する
位置である。支持体3Bは、第1の実施の形態において
ピン形状で形成されており、半導体ウエハ収納容器1の
被位置決め溝2の配設個数に対応して第1の実施の形態
においては支持体3B1、3B2及び3B3の合計3本
配設されている。なお、回転体3Aは、3本の支持体3
B1、3B2、3B3のそれぞれに各々回転体3A1、
3A2、3A3として配設され、合計3個配設されてい
る。The support 3B is disposed at a mounting position 4 where accurate positioning of the semiconductor wafer container 1 is to be performed. The mounting position 4 is, for example, a semiconductor wafer processing apparatus, and more specifically, a semiconductor wafer storage container 1 of a loader or unloader of a semiconductor wafer processing apparatus such as a CVD apparatus, a sputtering apparatus, an exposure apparatus, an etching apparatus, and a cleaning apparatus. It is a position to do. The support 3B is formed in the shape of a pin in the first embodiment, and corresponds to the number of the positioning grooves 2 of the semiconductor wafer container 1 in the first embodiment. 3B2 and 3B3 are provided in total. The rotating body 3A includes three support bodies 3
B1, 3B2, 3B3, respectively, the rotating body 3A1,
3A2 and 3A3 are provided, and a total of three are provided.
【0017】図3(A)乃至図3(C)は本発明の第1
の実施の形態に係る載置位置決め機構における位置決め
作業手順を段階的に示す作業工程図である。まず、図3
(A)に示すように、半導体ウエハ処理装置のローダ又
はアンローダの載置位置4において、回転体3A(及び
支持体3B)上に半導体ウエハ収納容器1の被位置決め
溝2が対応する位置まで、ロボットアームやオペレータ
により半導体ウエハ収納容器1を搬送する。この時点に
おいては、回転体3Aと被位置決め溝2との間は大まか
な位置合わせでよい。FIGS. 3A to 3C show a first embodiment of the present invention.
It is an operation | work process figure which shows the positioning operation procedure in the mounting positioning mechanism which concerns on embodiment of this invention step by step. First, FIG.
As shown in (A), at the mounting position 4 of the loader or unloader of the semiconductor wafer processing apparatus, up to a position where the positioning groove 2 of the semiconductor wafer storage container 1 corresponds on the rotating body 3A (and the support 3B). The semiconductor wafer storage container 1 is transported by a robot arm or an operator. At this point, rough alignment between the rotating body 3A and the positioning groove 2 is sufficient.
【0018】引き続き、図3(B)に示すように、半導
体ウエハ収納容器1を回転体3Aに向けて下方に降下さ
せることにより、被位置決め溝2の傾斜内壁と回転体3
Aとが当接する。さらに、半導体ウエハ収納容器1を降
下させる又は自重により下げることにより、回転体3A
が速やかに回転を始め、回転体3Aは回転しながら半導
体ウエハ収納容器1を正確な位置合わせの位置までガイ
ドする。図3(C)に示すように、回転体3Aの回転中
心軸と被位置決め溝2の頂点とが一致した時点で半導体
ウエハ収納容器1の載置位置が決定され、位置決め作業
を完了させることができる。Subsequently, as shown in FIG. 3B, the semiconductor wafer storage container 1 is lowered downward toward the rotating body 3A, so that the inclined inner wall of the positioning groove 2 and the rotating body 3 are rotated.
A contacts. Further, by lowering or lowering the semiconductor wafer container 1 by its own weight, the rotating body 3A
Starts rotating quickly, and the rotating body 3A guides the semiconductor wafer container 1 to a position for accurate alignment while rotating. As shown in FIG. 3 (C), when the rotation center axis of the rotating body 3A coincides with the apex of the positioning groove 2, the mounting position of the semiconductor wafer storage container 1 is determined, and the positioning operation can be completed. it can.
【0019】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aが半導
体ウエハ収納容器1底面の被位置決め溝2の内壁に当接
すると回転体3Aは速やかに回転し、回転体3Aは回転
しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置決めの位
置までガイドすることができる。従って、位置決めでの
被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗
による内壁面の形状変化を減少させることができるの
で、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うことがで
きる。さらに、回転体3Aは回転しながら被位置決め溝
2の内壁と接触しているので、回転体3A自身の擦れや
磨耗による形状変化はほとんど生じることがない。さら
に、被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティク
ルの発生量を減少させることができるので、パーティク
ル量の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留
まりを向上させることができる。In the mounting / positioning mechanism of the semiconductor wafer container 1 thus configured, when the rotating member 3A comes into contact with the inner wall of the positioning groove 2 on the bottom surface of the semiconductor wafer container 1, the rotating member 3A rotates quickly. Then, the rotating body 3A can guide the semiconductor wafer container 1 to an accurate positioning position while rotating. Therefore, wear due to friction of the inner wall of the positioning groove 2 during positioning and a change in the shape of the inner wall surface due to the wear can be reduced, so that highly accurate positioning can be performed over a long period of time. Further, since the rotating body 3A is in contact with the inner wall of the positioning groove 2 while rotating, there is almost no change in shape due to rubbing or abrasion of the rotating body 3A itself. Furthermore, since the amount of particles generated due to the rubbing of the inner wall of the positioning groove 2 can be reduced, an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0020】(第2の実施の形態)図4は本発明の第2
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第2の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Aa及び3Abと、この回転体
3Aa及び3Abを上部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第2の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第1の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、1個の支持体3Bに複数個の回転体
3Aa及び3Abを配設した点が異なる。(Second Embodiment) FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention.
It is a principal part enlarged block diagram of the mounting positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container concerning embodiment. The mounting and positioning mechanism according to the second embodiment of the present invention includes a positioning groove 2 (see FIGS. 1A and 1B) on the bottom surface of a semiconductor wafer container 1.
reference. ), A plurality of rotatable rotators 3Aa and 3Ab abutting on the inner wall of the positioning groove 2, and a support 3B for supporting the rotators 3Aa and 3Ab at the upper part. The structure of the mounting and positioning mechanism according to the second embodiment is different from the structure of the mounting and positioning mechanism according to the first embodiment in that a plurality of rotating bodies 3Aa and 3Ab are provided on one support 3B. The difference is in the arrangement.
【0021】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aa又は
3Abのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
a又は3Abは速やかに回転し、回転体3Aa又は3A
bは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Aa、3Abはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Aa、3Abのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。In the mounting / positioning mechanism of the semiconductor wafer container 1 configured as described above, when one of the rotating bodies 3Aa or 3Ab comes into contact with the inner wall of the positioning groove 2 on the bottom surface of the semiconductor wafer container 1. Rotating body 3A in contact
a or 3Ab rotates quickly, and the rotating body 3Aa or 3A
b can guide the semiconductor wafer container 1 to an accurate positioning position while rotating. Therefore, wear due to friction of the inner wall of the positioning groove 2 during positioning and a change in the shape of the inner wall surface due to the wear can be reduced, so that highly accurate positioning can be performed over a long period of time. Furthermore, since all of the rotating bodies 3Aa and 3Ab are in contact with the inner wall of the positioning groove 2 while rotating, the shapes of the rotating bodies 3Aa and 3Ab are hardly changed by rubbing or abrasion of the rotating bodies 3Aa and 3Ab. further,
Since the amount of particles generated due to the rubbing of the inner wall of the positioning groove 2 can be reduced, an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0022】(第3の実施の形態)図5は本発明の第3
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第3の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転体
3Ac及び3Adを側部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第3の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第2の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、支持体3Bの側部に複数個の回転体
3Ac及び3Adを配設した点が異なる。(Third Embodiment) FIG. 5 shows a third embodiment of the present invention.
It is a principal part enlarged block diagram of the mounting positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container concerning embodiment. The mounting and positioning mechanism according to the third embodiment of the present invention includes a positioning groove 2 (FIGS. 1A and 1B) on the bottom surface of a semiconductor wafer container 1.
reference. ), A plurality of rotatable rotating bodies 3Ac and 3Ad abutting on the inner wall of the positioning groove 2, and a supporting body 3B that supports the rotating bodies 3Ac and 3Ad on the side. The structure of the mounting and positioning mechanism according to the third embodiment is different from the structure of the mounting and positioning mechanism according to the second embodiment in that a plurality of rotating bodies 3Ac and 3Ad are provided on the side of the support 3B. The difference is in the arrangement.
【0023】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Ac又は
3Adのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
c又は3Adは速やかに回転し、回転体3Ac又は3A
dは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Ac、3Adはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Ac、3Adのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。In the mounting / positioning mechanism for the semiconductor wafer container 1 thus configured, when one of the rotating bodies 3Ac or 3Ad comes into contact with the inner wall of the positioning groove 2 on the bottom surface of the semiconductor wafer container 1, the contact is made. Rotating body 3A in contact
c or 3Ad rotates quickly, and the rotating body 3Ac or 3A
d can guide the semiconductor wafer container 1 to an accurate positioning position while rotating. Therefore, wear due to friction of the inner wall of the positioning groove 2 during positioning and a change in the shape of the inner wall surface due to the wear can be reduced, so that highly accurate positioning can be performed over a long period of time. Further, since the rotating bodies 3Ac and 3Ad are in contact with the inner wall of the positioning groove 2 while rotating, the shapes of the rotating bodies 3Ac and 3Ad hardly change due to rubbing or abrasion of the rotating bodies 3Ac and 3Ad, respectively. further,
Since the amount of particles generated due to the rubbing of the inner wall of the positioning groove 2 can be reduced, an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0024】(第4の実施の形態)図6は本発明の第4
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第4の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する接触
体3Cと、この接触体3Cを支持し少なくとも上下方向
又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D
と、を備えて構築される。(Fourth Embodiment) FIG. 6 shows a fourth embodiment of the present invention.
It is a principal part enlarged block diagram of the mounting positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container concerning embodiment. The mounting and positioning mechanism according to the fourth embodiment of the present invention includes a positioning groove 2 (FIGS. 1A and 1B) on the bottom surface of a semiconductor wafer container 1.
reference. ), A contact body 3C abutting on the inner wall of the positioning groove 2, and an elastic body 3D supporting the contact body 3C and having elasticity in at least a vertical direction or at least a horizontal direction.
And is constructed with.
【0025】接触体3Cの被位置決め溝2に当接する上
側先端部分は第4の実施の形態において球形状で形成さ
れており、被位置決め溝2の内壁のどの位置に接触体3
Cが当接してもスムースな当接が行えるようになってい
る。The upper end portion of the contact body 3C which contacts the groove 2 to be positioned is formed in a spherical shape in the fourth embodiment, and at any position on the inner wall of the groove 2 to be positioned,
Even if C contacts, smooth contact can be performed.
【0026】弾性体3Dの一端側は接触体3Cの下側底
面に連接され、弾性体3Dの他端側は載置位置4に連接
されている。弾性体3Dは接触体3Cが被位置決め溝2
の内壁に当接した時に発生する衝撃を軽減させる機能を
有する。第4の実施の形態において、弾性体3Dには、
上下方向及び水平方向を含む多方向に弾力性を有する
(多方向に衝撃を逃がすことができる)コイルスプリン
グが使用される。One end of the elastic body 3D is connected to the lower bottom surface of the contact body 3C, and the other end of the elastic body 3D is connected to the mounting position 4. The elastic body 3D is formed by the contact body 3C and the positioning groove 2.
It has a function to reduce the impact generated when it comes into contact with the inner wall of the vehicle. In the fourth embodiment, the elastic body 3D includes
A coil spring having elasticity in many directions including a vertical direction and a horizontal direction (capable of releasing an impact in multiple directions) is used.
【0027】第4の実施の形態に係る載置位置決め機構
における位置決め作業手順は前述の第1の実施の形態に
係る位置決め作業手順と実質的に同様であるので、ここ
での説明は省略する。The positioning operation procedure in the mounting and positioning mechanism according to the fourth embodiment is substantially the same as the positioning operation procedure according to the above-described first embodiment, and a description thereof will be omitted.
【0028】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、接触体3Cが半導
体ウエハ収納容器1の底面の被位置決め溝2の内壁に当
接するとこの時の衝撃を弾性体3Dにより吸収させるこ
とができる。特に、オペレータにより搬送台車に半導体
ウエハ収納容器1を載せて移送し、この移送された半導
体ウエハ収納容器1をオペレータが手持ちで載置位置4
に搬送する場合には、ロボットアームによる搬送に比べ
て高精度な位置合わせを行うことは難しく、被位置決め
溝2の内壁と接触体3Cとの当接の際に衝撃を発生させ
やすいが、この衝撃は弾性体3Dにより有効に軽減させ
ることができる。衝撃が吸収された後には接触体3Cに
より正確な位置決めの位置まで半導体ウエハ収納容器1
はガイドされる。従って、被位置決め溝2の内壁面の衝
撃による形状変化や損傷並びに接触体3Cそのものの形
状変化や損傷を減少させることができるので、長期間に
渡って精度の高い位置決めを行うことができる。さら
に、被位置決め溝2の内壁と接触体3Cとの衝撃を弾性
体3Dにより吸収させたことにより、半導体ウエハ収納
容器1の内部とその内部に収納された半導体ウエハ(図
示しない。)との擦れによるパーティクルの発生量を減
少させることができるので、パーティクル量の少ない環
境を構築することができ、製造上の歩留まりを向上させ
ることができる。In the mounting / positioning mechanism of the semiconductor wafer container 1 thus configured, when the contact body 3C comes into contact with the inner wall of the positioning groove 2 on the bottom surface of the semiconductor wafer container 1, the impact at this time is elastically applied. It can be absorbed by the body 3D. In particular, the operator places the semiconductor wafer storage container 1 on a carrier and transfers the semiconductor wafer storage container 1 to the mounting position 4 by the operator.
However, it is difficult to perform high-precision positioning compared with the transfer by the robot arm, and it is easy to generate an impact when the inner wall of the groove 2 to be positioned contacts the contact body 3C. The impact can be effectively reduced by the elastic body 3D. After the shock is absorbed, the semiconductor wafer container 1 is moved to a position for accurate positioning by the contact body 3C.
Is guided. Therefore, a change in shape or damage due to an impact on the inner wall surface of the positioning groove 2 and a change in shape or damage of the contact body 3C itself can be reduced, so that highly accurate positioning can be performed over a long period of time. Further, the impact between the inner wall of the positioning groove 2 and the contact body 3C is absorbed by the elastic body 3D, so that the inside of the semiconductor wafer storage container 1 and the semiconductor wafer (not shown) stored therein are rubbed. Can reduce the amount of generated particles, so that an environment with a small amount of particles can be constructed, and the production yield can be improved.
【0029】(第5の実施の形態)図7は本発明の第5
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第5の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第1の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第5の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する回転体3Aと、この回転体3Aを回転自在に支
持しかつ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に
可動自在に支持する支持体3Ba及び3Bbと、支持体
3Baに一端側が連接され他端側が載置位置4に連接さ
れ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性
を有する弾性体3Dと、を備えて構築される。支持体3
Baは回転体3Aの下部においてこの回転体3Aを回転
自在に支持し、支持体3Bbは回転体3Aの側部におい
てこの回転体3Aを回転自在に支持する。(Fifth Embodiment) FIG. 7 shows a fifth embodiment of the present invention.
It is a principal part enlarged block diagram of the mounting positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container concerning embodiment. The mounting and positioning mechanism according to the fifth embodiment of the present invention is constructed by combining the mounting and positioning mechanism according to the first embodiment and the mounting and positioning mechanism according to the fourth embodiment. . That is,
The mounting and positioning mechanism according to the fifth embodiment includes a positioning groove 2 (see FIGS. 1A and 1B) on the bottom surface of a semiconductor wafer container 1 and an inner wall of the positioning groove 2. , A support 3Ba and 3Bb rotatably supporting the rotary 3A and movably supporting at least vertically or at least horizontally, and one end connected to the support 3Ba and the other end An elastic body 3D connected to the mounting position 4 and having elasticity in at least a vertical direction or at least a horizontal direction. Support 3
Ba rotatably supports the rotator 3A below the rotator 3A, and the support 3Bb rotatably supports the rotator 3A on the side of the rotator 3A.
【0030】このように構成される第5の実施の形態に
係る載置位置決め機構においては、第1の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。In the thus configured mounting and positioning mechanism according to the fifth embodiment, the effect obtained by the mounting and positioning mechanism according to the first embodiment and the mounting and positioning mechanism according to the fourth embodiment are described. An effect obtained by combining the effect obtained by the positioning mechanism can be obtained.
【0031】(第6の実施の形態)図8は本発明の第6
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第6の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第3の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第6の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転
体3Ac、3Adのそれぞれを各々回転自在に支持しか
つ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に支持す
る支持体3Ba〜3Bdと、少なくとも上下方向又は少
なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D1及び3
D2と、接触体3Cと、を備えて構築される。(Sixth Embodiment) FIG. 8 shows a sixth embodiment of the present invention.
It is a principal part enlarged block diagram of the mounting positioning mechanism of the semiconductor wafer storage container concerning embodiment. The mounting and positioning mechanism according to the sixth embodiment of the present invention is constructed by combining the mounting and positioning mechanism according to the third embodiment and the mounting and positioning mechanism according to the fourth embodiment. . That is,
The mounting and positioning mechanism according to the sixth embodiment includes a positioning groove 2 (see FIGS. 1A and 1B) on the bottom surface of a semiconductor wafer container 1 and an inner wall of the positioning groove 2. A plurality of rotators 3Ac and 3Ad that abut against each other; a plurality of supports 3Ba to 3Bd that rotatably support each of the rotators 3Ac and 3Ad, respectively, and that support at least the vertical direction or at least the horizontal direction; Elastic bodies 3D1 and 3 having elasticity at least in the horizontal direction
D2 and a contact body 3C.
【0032】回転体3Acを支持する支持体3Baに一
端側が連接された弾性体3D1の他端側、回転体3Ad
を支持する支持体3bcに一端側が連接された弾性体3
D2の他端側はいずれも載置位置4に連接される。位置
合わせに際して、被位置決め溝2の内壁には接触体3C
よりも先に回転体3Ac、3Adのいずれか一方が当接
するように設定されており、接触体3C自体は載置位置
4に固定状態で取り付けられている。The other end of the elastic body 3D1, one end of which is connected to the support 3Ba supporting the rotator 3Ac, the rotator 3Ad
Elastic body 3 having one end connected to a support 3bc that supports
The other end of D2 is connected to the mounting position 4. At the time of positioning, a contact body 3C is provided on the inner wall of the positioning groove 2.
Any one of the rotating bodies 3Ac and 3Ad is set to come in contact with the contact body 3C earlier than the rotating body 3Ac, and the contact body 3C itself is fixed to the mounting position 4 in a fixed state.
【0033】このように構成される第6の実施の形態に
係る載置位置決め機構においては、第3の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。In the mounting / positioning mechanism according to the sixth embodiment configured as described above, the effects obtained by the mounting / positioning mechanism according to the third embodiment and the mounting / positioning mechanism according to the fourth embodiment are described. An effect obtained by combining the effect obtained by the positioning mechanism can be obtained.
【0034】[0034]
【発明の効果】本発明は、半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め精度を長期間に渡って向上させることができる
載置位置決め機構を提供することができる。さらに、本
発明は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに起因す
るパーティクルの発生を防止することができ、製造上の
歩留まりを向上させることができる載置位置決め機構を
提供することができる。さらに、本発明は、半導体ウエ
ハ収納容器の載置位置決めに起因する衝撃を緩和するこ
とができ、半導体ウエハ収納容器内部においてパーティ
クルの発生を防止することができ、製造上の歩留まりを
向上させることができる載置位置決め機構を提供するこ
とができる。According to the present invention, it is possible to provide a mounting / positioning mechanism capable of improving the mounting / positioning accuracy of a semiconductor wafer storage container over a long period of time. Further, the present invention can provide a mounting / positioning mechanism capable of preventing the generation of particles due to the mounting / positioning of the semiconductor wafer storage container and improving the production yield. Further, according to the present invention, it is possible to reduce the impact caused by the positioning of the semiconductor wafer storage container, to prevent the generation of particles inside the semiconductor wafer storage container, and to improve the manufacturing yield. Thus, it is possible to provide a mounting positioning mechanism that can be used.
【図1】(A)は本発明の第1の実施の形態に係る半導
体ウエハ収納容器の載置位置決め機構の概略構成図、
(B)は本発明の第1の実施の形態に係る載置位置決め
機構の要部拡大構成図である。FIG. 1A is a schematic configuration diagram of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a first embodiment of the present invention;
FIG. 2B is an enlarged configuration diagram of a main part of the placing and positioning mechanism according to the first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of the semiconductor wafer container according to the first embodiment of the present invention.
【図3】(A)乃至(C)は本発明の第1の実施の形態
に係る載置位置決め機構における位置決め作業手順を段
階的に示す作業工程図である。FIGS. 3A to 3C are work process diagrams showing step by step the positioning work procedure in the mounting and positioning mechanism according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。FIG. 4 is an enlarged configuration diagram of a main part of a mounting / positioning mechanism of a semiconductor wafer container according to a second embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第3の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。FIG. 5 is an enlarged configuration diagram of a main part of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a third embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第4の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。FIG. 6 is an enlarged configuration diagram of a main part of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a fourth embodiment of the present invention.
【図7】本発明の第5の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。FIG. 7 is an enlarged configuration diagram of a main part of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a fifth embodiment of the present invention.
【図8】本発明の第6の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。FIG. 8 is an enlarged configuration diagram of a main part of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a sixth embodiment of the present invention.
【図9】従来技術に係る半導体ウエハ収納容器の載置位
置決め機構の概略構成図である。FIG. 9 is a schematic configuration diagram of a mounting and positioning mechanism of a semiconductor wafer storage container according to a conventional technique.
【図10】(A)乃至(C)は従来技術に係る載置位置
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。10 (A) to 10 (C) are work process diagrams showing step by step a positioning work procedure in a placing and positioning mechanism according to a conventional technique.
1 半導体ウエハ収納容器 2,21〜23 被位置決め溝 3A,3A1〜3A3,3Aa〜3Ad 回転体 3B,3Ba〜3Bd 支持体 3C 接触体 3D,3D1,3D2 弾性体 4 載置位置 REFERENCE SIGNS LIST 1 semiconductor wafer storage container 2, 21 to 23 positioning groove 3A, 3A1 to 3A3, 3Aa to 3Ad rotating body 3B, 3Ba to 3Bd support 3C contact 3D, 3D1, 3D2 elastic body 4 mounting position
Claims (3)
溝と、 前記被位置決め溝内壁に当接する回転自在な回転体と、 前記回転体を支持する支持体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。1. A semiconductor comprising: a positioning groove on a bottom surface of a semiconductor wafer storage container; a rotatable rotator abutting on an inner wall of the positioning groove; and a supporter supporting the rotator. A mounting and positioning mechanism for the wafer storage container.
溝と、 前記被位置決め溝の内壁に当接する接触体と、 前記接触体を支持し少なくとも上下方向又は少なくとも
水平方向に弾力性を有する弾性体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。2. A positioning groove on a bottom surface of a semiconductor wafer storage container, a contact body contacting an inner wall of the positioning groove, and an elastic body supporting the contact body and having elasticity in at least a vertical direction or at least a horizontal direction. A mounting and positioning mechanism for a semiconductor wafer storage container, comprising:
溝と、 前記被位置決め溝内壁に当接する回転自在な回転体と、 前記回転体を支持し少なくとも上下方向又は少なくとも
水平方向に弾力性を有する弾性体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。3. A groove to be positioned on the bottom surface of the semiconductor wafer container, a rotatable rotator abutting on an inner wall of the groove to be positioned, and an elasticity supporting the rotator and having elasticity in at least a vertical direction or at least a horizontal direction. A mounting mechanism for a semiconductor wafer storage container, comprising: a body;
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051108 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20060120 |