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JP2000262476A - 眼検査用立体顕微鏡における照明装置及びその方法 - Google Patents

眼検査用立体顕微鏡における照明装置及びその方法

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JP2000262476A
JP2000262476A JP11069289A JP6928999A JP2000262476A JP 2000262476 A JP2000262476 A JP 2000262476A JP 11069289 A JP11069289 A JP 11069289A JP 6928999 A JP6928999 A JP 6928999A JP 2000262476 A JP2000262476 A JP 2000262476A
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コシュミーデル インゴ
Ruter Egon
ルーテル イーゴン
Vuoiku Klaus-Dietmar
ヴォイク クラウス−ディトマール
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 患者の眼に様々な幾何学模様を可変的に照射
できる細隙灯、視覚試験機器などの眼科用機器又はそれ
ら機器の複合体 【解決手段】光の透過、反射あるいは放射に関して電子
制御可能な、反射光又は透過光照射型、又は自己発光型
のチップ素子によりスリット光を形成する

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【従来の技術】眼検査用顕微鏡(例えば細隙灯顕微鏡)
では眼内及び眼面における照射フィールド、照射光色及
び照射強度の変更用として照明調整装置が使用されてい
る。眼の透明媒質による視覚断面像の形成には、通例で
は拡散広域照射、直径変更可能な円形照射フィールド及
び厳密に定めた光のスリットが利用されている。照射面
幾何学模様の変更には、従来では例えば有孔型、スリッ
ト型遮光装置、フィルターガラス、試験用特殊形状物な
ど専ら機械的/光学的素子が用いられてきた。典型的な
眼検査用顕微鏡の資料としては、カール・ツァイス社の
製品説明書No. 311214−7560.145があ
る。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】これ迄に知られている
方法及び装置についてはすべて欠陥がある。機械構成系
の調整には多大なコストをかけないと不可能な状態であ
る。スリット幅が非常に細い場合では、スリット縁の平
行性を保つのは困難である。構成部品の熱膨張及び搬送
時の振動で機械に狂いの生じる場合がある。また、計測
目的への調整に際し再現性が制限される。操作素子の配
置が機械構成上予めほぼ決まっており、人間工学的観点
から最適化を計ることは必ずしも可能でない。スリット
型及び有孔型遮光装置の種類がそれぞれ固定化している
ため、照射面幾何学模様の多様性にも限度がある。
【0003】特に試験用模様構成物の表現可能性には非
常に大きな制限がある。照射面幾何学模様の変更に機械
的に調整可能な構成ユニット(伝動装置、調整素子、遮
光装置)を使用するため、照明装置の所要場所がそれに
相応して大きくなる。
【0004】
【課題を解決するための手段】WO 96/04581
記載の装置ではDMD(視力検査器投射鏡)が使用され
ている。以上の状況を踏まえ、本発明では患者の眼への
照明を簡易化することを課題としている。本発明は、眼
科用観察装置の使用との関連で捉えた眼の照明用投射装
置及びその方法に関するものである。本発明では従来の
ように照射面を機械的/光学的構成素子によって変える
のではなく、様々な照射面幾何学模様をつくり出すこと
のできる特殊な光学的/電子チップ構成体を活用するこ
とを基本原則としている。その場合、調整及び変更は電
子工学装置によって行われる。この方法によれば従来型
眼科用照明装置の上記欠陥、問題点が解消し、種々様々
な適用領域において再現可能な照射面幾何学模様をコン
スタントに提供することができる。特に、寸分違わず平
行な測定用投射スリット像、フィールド面の構成及び患
者の眼内、眼面への投射用発光性試験物体の構成が可能
である。また、装置全体の所要空間が縮小しているし、
電子工学的手段の利用により調整及び変更が容易になっ
ている。
【0005】この方法では一般に次の別法が適している
: 1. 透過光利用の方法によるLCD(液晶表示ディスプ
レイ)投影 2. 反射光利用の方法によるLCD投影 3. DLP投影 4. 例えばエレクトロルミネセンス構成単位のような発
光性チップ素子の利用 上記方法に対応する基本的配置構成はそれぞれ図1〜4
に示してある。部分図a)〜d)は様々な照射面模様を表
したものである。
【0006】使用のチップ素子は投影技術分野からの既
知のものであるが、眼検査用照明装置の製造においては
別な配置形態で使用されている。装置使用のための前提
条件は、いずれの場合でも非常に高レベルな解像度(画
素)と十分にメリハリのあるコントラストである。これ
らの前提条件は、例えばDMD(テキサス・インストゥ
ルメンツ社)及びD−ILA(JVC社)技術に基づく
構成要素によって叶えられる。
【0007】
【発明の実施の形態】図1に 透過光利用の方法による
LCDを示す。光源2が照明レンズ3及び偏光子4を通
してLCDチップ8.1、例えばSonyLXC016ALを隈無く
均一に照らしつける。装置内に組み込まれて、あるいは
外部にあってPC調整の可能な送信素子1により、調整
ユニット9を経由してチップに通じている照射幾何学模
様を装置使用者の意図通りに変更することができる。そ
の場合、例えば照射面直径aや眼に投影されるスリット
幅b及びスリット配置角度c、あるいはまた形態d自体
も必要に応じて調整することができる。
【0008】d)では図に見るように、スリットを二つ
の座標にしたり、あるいはまたその投影模様を例えば格
子型にすることができる。LCDチップ(ディスプレ
ー)8.1は図に示された投影レンズ(ここでは対物レ
ンズ5及び転向プリズム6)により、検査対象である眼
7の中又は表面に投射される。
【0009】照明の明度は光源2明度の変更によって制
御される。光路内にフィルター10を設置して特殊な色
を生み出すことができる。患者を光線障害から護るのも
図中10として表されたフィルターの役目である。照明
装置は、全体が軸Aの周りを回転できるように観察装置
13、14、15と共に回転軸受11に取り付けられて
いる。但し、観察装置13、14、15は照明装置とは
独立して軸Aの周りを回転することができる。
【0010】観察装置13、14、15は支持アーム1
2に固定されている。それは図に示されているように、
例えば鏡胴14及び視覚観察用接眼レンズ15付きの立
体顕微鏡13であったり、モニター付きのビデオカメラ
装置あるいはそれらの組み合わせ(顕微鏡本体に視覚観
察、記録を同時に行うのに適した光線分離器を付けたも
の)の場合もある。
【0011】支持アームへの接続箇所として中間にイン
ターフェース17が設けてある。適当なコンタクトレン
ズ16(又はアダプターレンズ=公知の方法の場合)を
使用することにより、任意に照射したり、あるいは発光
性の試験物体を眼の網膜上に非常に好都合に投影するこ
とが可能であり、それを眼の検査に利用できる。同じ効
果は投影レンズ5に変化を加えることにより、即ち、 a) LCDチップ(ディスプレー)8.1が無限大で結
像するようにレンズ5を移動させるか、又は b) レンズ5を複数の個別コンポーネントから構成し、
それら個々のコンポーネントを光路から一時的に離して
LCDチップ(ディスプレー)8.1を無限大で結像さ
せることによって達成することができる。
【0012】図2は 反射光利用の方法によるLCD投
影を示す。光源2が照明レンズ3、偏光子4及び特殊型
光線分割器21を通してLCDチップ(ディスプレー)
8.2を隈無く均一に照らしつける。原理 :JVC社の
ビデオ97年3月発行版参照 ここではLCDチップ8.2は反射光の中に設置され
る。その場合、照明光が側面から投射され、まずLCD
チップ8.2に到達し、次に特殊光線分割器21を通っ
て眼7の方向に導かれる。
【0013】装置内に組み込まれて、あるいは外部にあ
ってPC調整の可能な送信素子1により、調整ユニット
9を経由してチップに通じている照射幾何学模様を装置
使用者の意図通りに変更することができる。その場合、
例えば照射面直径aや眼に投影されるスリット幅b及び
スリット配置角度c、あるいはまた形態d自体も必要に
応じて調整することができる。d)では図に見るよう
に、スリットを二つの座標にしたり、あるいはまたその
投影模様を例えば格子型にすることができる。LCDチ
ップ(ディスプレー)8.2は図に示された投影レンズ
(ここでは対物レンズ5及び転向プリズム6)により、
検査対象である眼の中又は表面に投射される。照明の明
度は光源2明度の変更によって制御される。光路内にフ
ィルター10を設置して特殊な色を生み出すことができ
る。
【0014】患者を光線障害から護るのも図中10とし
て表されたフィルターの役目である。吸光体22は不必
要な光の成分を吸収し、好ましくない反射障害を防止す
る。照明装置は、全体が軸Aの周りを回転できるように
観察装置13、14、15と共に回転軸受11に取り付
けられている。但し、観察装置13、14、15は照明
装置とは独立して軸Aの周りを回転することができる。
【0015】観察装置13、14、15は支持アーム1
2に固定されている。それは図に示されているように、
例えば鏡胴14及び視覚観察用接眼レンズ15付きの立
体顕微鏡13であったり、モニター付きのビデオカメラ
装置あるいはそれらの組み合わせ(顕微鏡本体に視覚観
察、記録を同時に行うのに適した光線分離器を付けたも
の)の場合もある。支持アームへの接続箇所として中間
にインターフェース17が設けてある。
【0016】適当なコンタクトレンズ16(又はアダプ
ターレンズ=公知の方法の場合)を使用することによ
り、任意に照射した、あるいは発光性の試験物体を眼の
網膜上に非常に好都合に投影することが可能であり、そ
れを眼の検査に利用できる。同じ効果は投影レンズに変
化を加えることにより、即ち、 a) LCDチップ(ディスプレー)8.2が無限大で結
像するようにレンズ5を移動させるか、又は b) レンズ5を複数の個別コンポーネントから構成し、
それら個々のコンポーネントを光路から一時的に離して
LCDチップ(ディスプレー)8.2を無限大で結像さ
せることによって達成することができる。
【0017】図3は 反射光利用の方法によるDLP投
影を示す。光源2及び照明レンズ3が、図2のLCDチ
ップ8.2の代わりに設置されたDMDチップ8.3(テ
キサス・インストゥルメンツ社製品 :DLP 007[1
996年製])を隈無く均一に照らしつける。装置内に
組み込まれて、あるいは外部にあってPC調整の可能な
送信素子1により、調整ユニット9を経由してチップに
通じている照射幾何学模様を装置使用者の意図通りに変
更することができる。その場合、例えば照射面直径aや
眼に投影されるスリット幅b及びスリット配置角度c、
あるいはまた形態d自体も必要に応じて調整することが
できる。
【0018】d)では図に見るように、スリットを二つ
の座標にしたり、あるいはまたその投影模様を例えば格
子型にすることができる。DMDチップ(ディスプレ
ー)8.3は図に示された投影レンズ(ここでは対物レ
ンズ5及び転向プリズム6)により、検査対象である眼
7の中又は表面に投射される。照明の明度は光源2明度
の変更によって制御される。光路内にフィルター10を
設置して特殊な色を生み出すことができる。
【0019】患者を光線障害から護るのも図中10とし
て表されたフィルターの役目である。吸光体22は不必
要な光の成分を吸収し、好ましくない反射障害を防止す
る。照明装置は、全体が軸Aの周りを回転できるように
観察装置13、14、15と共に回転軸受11に取り付
けられている。但し、観察装置13、14、15は照明
装置とは独立して軸Aの周りを回転することができる。
【0020】観察装置13、14、15は支持アーム1
2に固定されている。それは図に示されているように、
例えば鏡胴14及び視覚観察用接眼レンズ15付きの立
体顕微鏡13であったり、モニター付きのビデオカメラ
装置あるいはそれらの組み合わせ(顕微鏡本体に視覚観
察、記録を同時に行うのに適した光線分離器を付けたも
の)の場合もある。支持アームへの接続箇所として中間
にインターフェース17が設けてある。
【0021】適当なコンタクトレンズ16(又はアダプ
ターレンズ=公知の方法の場合)を使用することによ
り、任意に照射した、あるいは発光性の試験物体を眼の
網膜上に非常に好都合に投影することが可能であり、そ
れを眼の検査に利用できる。同じ効果は投影レンズ5に
変化を加えることにより、即ち、 a) DMDチップ(ディスプレー)8.3が無限大で結
像するようにレンズ5を移動させるか、又は b) レンズ5を複数の個別コンポーネントから構成し、
それら個々のコンポーネントを光路から一時的に離して
DMDチップ(ディスプレー)8.3を無限大で結像さ
せることによって達成することができる。
【0022】図4 は 発光性チップ素子(エレクトロル
ミネセンス・ミニチュアスクリーン)を示す。発光性チ
ップ素子8.4は投影レンズ5及び6を透過する投射光
の光路内に設置されている。装置内に組み込まれて、あ
るいは外部にあってPC調整の可能な送信素子1によ
り、調整ユニット9を経由してチップ8.4に通じてい
る照射幾何学模様を装置使用者の意図通りに変更するこ
とができる。その場合、例えば照射面直径aや眼に投影
されるスリット幅b及びスリット配置角度c、あるいは
また形態d自体も必要に応じて調整することができる。
【0023】d)では図に見るように、スリットを二つ
の座標にしたり、あるいはまたその投影模様を例えば格
子型にすることができる。チップ素子(ディスプレー)
8.4は図に示された投影レンズ(ここでは対物レンズ
5及び転向プリズム6)により、検査対象である眼7の
中又は表面に投射される。照明の明度はディスプレー
8.4自体の明度変更によって制御される。構成素子
8.4の調整によって、及び/又は光路内へのフィルタ
ー10の付加的設置によって特殊な色を生み出すことが
できる。
【0024】患者を光線障害から護るのも図中10とし
て表されたフィルターの役目である。照明装置は、全体
が軸Aの周りを回転できるように観察装置13、14、
15と共に回転軸受11に取り付けられている。但し、
観察装置13、14、15は照明装置とは独立して軸A
の周りを回転することができる。
【0025】観察装置13、14、15は支持アーム1
2に固定されている。それは図に示されているように、
例えば鏡胴14及び視覚観察用接眼レンズ15付きの立
体顕微鏡13であったり、モニター付きのビデオカメラ
装置あるいはそれらの組み合わせ(顕微鏡本体に視覚観
察、記録を同時に行うのに適した光線分離器を付けたも
の)の場合もある。支持アームへの接続箇所として中間
にインターフェース17が設けてある。
【0026】適当なコンタクトレンズ16(又はアダプ
ターレンズ=公知の方法の場合)を使用することによ
り、任意に照射した、あるいは発光性の試験物体を眼7
の網膜上に非常に好都合に投影することが可能であり、
それを眼の検査に利用できる。同じ効果は投影レンズ5
に変化を加えることにより、即ち、 a) チップ素子(ディスプレー)8.4が無限大で結像
するようにレンズ5を移動させるか、又は b) レンズ5を複数の個別コンポーネントから構成し、
それら個々のコンポーネントを光路から一時的に離して
チップ素子(ディスプレー)8.4を無限大で結像させ
ることによって達成することができる。
【0027】本発明を有利な形に構成することによって
細隙灯の使用可能性が拡大し、眼検査及び視覚試験のた
めの全く新しい眼科用複合装置が生まれることになる。
眼検査の場合でも視覚試験の場合でも予備的プログラミ
ングによって照射経路を効果的に変更させることが可能
である。それは例えば既述のスリット回転や視覚模様、
分光特性の変化をもたらすことによって達成される。
【0028】選択経路は例えばPCで調整することがで
きるし、インターフェースを通じて装置本体、インプッ
ト構成部及び操作盤に転送することも可能である。眼面
又は眼内に生成された照射像を照射経路と共にビデオカ
メラで記録することが可能である。照射経路の調整記録
は比較、測定目的のためにインターフェース18を通じ
てPCに保存することができる。データストックの際に
は、プログラミングにより調整された照射光経路及び被
照射患者眼についても識別用として分類符号を少なくと
も一つは同時保存する。それは、後に患者自身の眼に改
めて当該経路を照射する場合とか結果比較の場合に必要
になるからである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 透過光利用の方法によるLCDを示す。
【図2】反射光利用の方法によるLCD投影を示す。
【図3】反射光利用の方法によるDLP投影を示す。
【図4】発光性チップ素子(エレクトロルミネセンス・
ミニチュアスクリーン)を示す。
【符号の説明】
1 送信素子 2 光源 3 照明レンズ 4 偏向子 5 対物レンズ 6 転向プリズム 7 眼 8 LCDチップ 9 調整ユニット 10 フィルター 11 回転軸受け 12 支持アーム 13 立体顕微鏡 14 鏡胴 15 接眼レンズ 16 コンタクトレンズ 17 インターフェース 18 PC-インターフェース 21 光線分割器 22 吸光体
フロントページの続き (72)発明者 イーゴン ルーテル ドイツ国 D−07751 コスペダ イム ウンタードルフ 13 (72)発明者 クラウス−ディトマール ヴォイク ドイツ国 D−07745 イエナ ダマシュ ケベック 5 Fターム(参考) 2H052 AC00 AC09 AC16

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光の透過、反射あるいは放射に関して電
    子制御可能な、反射光又は透過光照射型、又は自己発光
    型のチップ素子によりスリット光を形成する、患者の眼
    検査用スリット光照射式眼科用機器
  2. 【請求項2】 光の透過、反射あるいは放射に関して電
    子制御可能な、反射光又は透過光照射型、又は自己発光
    型のチップ素子により患者の眼に様々な幾何学模様を可
    変的に照射するための眼科用機器
  3. 【請求項3】 光の透過、反射あるいは放射に関して電
    子制御可能な、反射光又は透過光照射型、又は自己発光
    型のチップ素子により任意の試験物体を網膜上に投影す
    る視覚試験機器
  4. 【請求項4】 光の透過、反射あるいは放射に関して電
    子制御可能な、反射光又は透過光照射型、又は自己発光
    型のチップ素子により患者の眼に照射する眼科用複合型
    分析/視覚試験機器
  5. 【請求項5】 透過光中に少なくとも一つ設置したLC
    D素子を通して患者の眼への照射を行う、請求項1〜4
    のうちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  6. 【請求項6】 反射光中に少なくとも一つ設置したLC
    D素子を通して患者の眼への照射を行う、請求項1〜4
    のうちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  7. 【請求項7】 反射光中に少なくとも一つ設置したDM
    D素子を通して患者の眼への照射を行う、請求項1〜4
    のうちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  8. 【請求項8】 患者の眼への照射を例えばエレクトロル
    ミネセンス・チップ素子など少なくとも一つの自己発光
    型チップ構成要素によって行う、請求項1〜4のうちの
    少なくとも一つに記載の眼科用機器
  9. 【請求項9】 幾何学模様、位置設定、強度、分光組成
    などの照射機能選択のためのインプットユニットが操作
    用として備えられている、請求項1〜8のうちの少なく
    とも一つに記載の眼科用機器
  10. 【請求項10】 インプットを接続のPCを通じて行
    う、請求項9に記載の眼科用機器
  11. 【請求項11】 インプットを無線リモートコントロー
    ル装置を通じて行う、請求項9に記載の眼科用機器
  12. 【請求項12】 インプットを音声作動装置を通じて行
    う、請求項9に記載の眼科用機器
  13. 【請求項13】 患者の被照射眼の観察及び/又は像記録
    のための装置が備えられている、請求項1〜12のうち
    の少なくとも一つに記載の眼科用機器
  14. 【請求項14】 観察用及び/又は像加工機能併有型像記
    録用装置、又は患者の眼表面又は眼内の照射部位測定用
    装置が備えられている、請求項1〜13のうちの少なく
    とも一つに記載の眼科用機器
  15. 【請求項15】 患者の眼への照射に回転及び/又は転向
    可能な照射ユニットが備えられている、請求項1〜14
    のうちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  16. 【請求項16】 回転及び/又は転向可能な観察及び/又
    は記録ユニットが備えられている、請求項1〜15のう
    ちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  17. 【請求項17】 観察及び/又は記録機器の選択的又は複
    合的連結のための接合部を有する、請求項1〜16のう
    ちの少なくとも一つに記載の眼科用機器
  18. 【請求項18】 変更、調整可能な照射光路の生成を誘
    導、完成させることを特徴とする、前記請求項の少なく
    とも一つに記載の眼科用機器の操作方法
  19. 【請求項19】 照射経過と平行して、眼表面又は眼内
    に形成された照射像を記録することを特徴とする、請求
    項18に記載の方法
  20. 【請求項20】 照射経路の調整記録を比較目的のため
    に保存することを特徴とする、請求項19に記載の方法
  21. 【請求項21】 データストックの際に、調整された照
    射光経路及び被照射患者眼についても識別用として分類
    符号を少なくとも一つは同時保存することを特徴とす
    る、請求項20に記載の方法
  22. 【請求項22】 調整された照射経路に関するオンライ
    ンの又は収録済みの画像情報を画像の加工目的又は測定
    目的に保存することを特徴とする、請求項18〜21に
    記載の方法
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004236843A (ja) * 2003-02-06 2004-08-26 Konan Medical Inc 眼科用撮影装置
JP2005169098A (ja) * 2003-12-05 2005-06-30 Imedos Gmbh 万能形眼科検査装置及び眼科検査方法
JP2007034301A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Leica Microsystems (Schweiz) Ag レーザ光源を有する手術用スリットランプを有する顕微鏡
JP2014519914A (ja) * 2011-06-02 2014-08-21 アヴェドロ・インコーポレーテッド 時間ベースの光活性剤の送達又は光活性マーカの存在をモニターするシステム及び方法
JP2016174758A (ja) * 2015-03-20 2016-10-06 株式会社トプコン 細隙灯顕微鏡
EP3048950A4 (en) * 2013-09-26 2017-06-14 Topcon Medical Laser Systems, Inc. Micro-display based slit lamp illumination system
US10028657B2 (en) 2015-05-22 2018-07-24 Avedro, Inc. Systems and methods for monitoring cross-linking activity for corneal treatments
JP2019037881A (ja) * 2018-12-14 2019-03-14 株式会社トプコン 眼科撮影装置、およびその制御方法
US10258809B2 (en) 2015-04-24 2019-04-16 Avedro, Inc. Systems and methods for photoactivating a photosensitizer applied to an eye
US10350111B2 (en) 2014-10-27 2019-07-16 Avedro, Inc. Systems and methods for cross-linking treatments of an eye
JP2020022854A (ja) * 2019-11-14 2020-02-13 株式会社トプコン 眼科撮影装置、およびその制御方法
US11116663B2 (en) 2018-01-19 2021-09-14 Iridex Corporation System and method for a patient-invisible laser treatment alignment pattern in ophthalmic photomedicine
US11207410B2 (en) 2015-07-21 2021-12-28 Avedro, Inc. Systems and methods for treatments of an eye with a photosensitizer

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6185918A (ja) * 1984-10-03 1986-05-01 キヤノン株式会社 眼検査用視標装置
JPS62186840A (ja) * 1986-02-14 1987-08-15 キヤノン株式会社 スリツト投影装置
JPS6411526A (en) * 1987-07-03 1989-01-17 Sharp Kk Sight examination apparatus
JPH0397432A (ja) * 1989-09-12 1991-04-23 Topcon Corp 視野計の固視装置
JPH0420325A (ja) * 1990-05-15 1992-01-23 Nec Corp Mtf測定装置
JPH0654804A (ja) * 1992-08-05 1994-03-01 Canon Inc 視野計
JPH06277186A (ja) * 1993-03-26 1994-10-04 Nikon Corp 眼科観察撮影装置
JPH0810221A (ja) * 1994-06-28 1996-01-16 Canon Inc 眼底視野計
JPH0866362A (ja) * 1994-08-30 1996-03-12 Canon Inc 自覚的屈折力測定装置
WO1997015855A2 (de) * 1995-10-23 1997-05-01 Wolfdietrich Steinhuber Optisches gerät
JPH09173351A (ja) * 1995-12-22 1997-07-08 Nikon Corp 手術用顕微鏡
JPH1024018A (ja) * 1996-07-14 1998-01-27 Topcon Corp 視野測定装置
JPH1085189A (ja) * 1996-09-11 1998-04-07 Nikon Corp 眼科用撮影装置
JPH10328143A (ja) * 1997-06-02 1998-12-15 Nikon Corp スリットランプ
WO2000042901A1 (de) * 1999-01-22 2000-07-27 Haag-Streit Ag Ophthalmologisches gerät mit einem beleuchtungs- und/oder strahlenbehandlungsstrahl, dessen flächige intensitätsverteilung einstellbar ist, sowie anordnung mit diesem gerät zur augenbehandlung

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6185918A (ja) * 1984-10-03 1986-05-01 キヤノン株式会社 眼検査用視標装置
JPS62186840A (ja) * 1986-02-14 1987-08-15 キヤノン株式会社 スリツト投影装置
JPS6411526A (en) * 1987-07-03 1989-01-17 Sharp Kk Sight examination apparatus
JPH0397432A (ja) * 1989-09-12 1991-04-23 Topcon Corp 視野計の固視装置
JPH0420325A (ja) * 1990-05-15 1992-01-23 Nec Corp Mtf測定装置
JPH0654804A (ja) * 1992-08-05 1994-03-01 Canon Inc 視野計
JPH06277186A (ja) * 1993-03-26 1994-10-04 Nikon Corp 眼科観察撮影装置
JPH0810221A (ja) * 1994-06-28 1996-01-16 Canon Inc 眼底視野計
JPH0866362A (ja) * 1994-08-30 1996-03-12 Canon Inc 自覚的屈折力測定装置
WO1997015855A2 (de) * 1995-10-23 1997-05-01 Wolfdietrich Steinhuber Optisches gerät
JPH09173351A (ja) * 1995-12-22 1997-07-08 Nikon Corp 手術用顕微鏡
JPH1024018A (ja) * 1996-07-14 1998-01-27 Topcon Corp 視野測定装置
JPH1085189A (ja) * 1996-09-11 1998-04-07 Nikon Corp 眼科用撮影装置
JPH10328143A (ja) * 1997-06-02 1998-12-15 Nikon Corp スリットランプ
WO2000042901A1 (de) * 1999-01-22 2000-07-27 Haag-Streit Ag Ophthalmologisches gerät mit einem beleuchtungs- und/oder strahlenbehandlungsstrahl, dessen flächige intensitätsverteilung einstellbar ist, sowie anordnung mit diesem gerät zur augenbehandlung

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004236843A (ja) * 2003-02-06 2004-08-26 Konan Medical Inc 眼科用撮影装置
JP2005169098A (ja) * 2003-12-05 2005-06-30 Imedos Gmbh 万能形眼科検査装置及び眼科検査方法
JP2007034301A (ja) * 2005-07-26 2007-02-08 Leica Microsystems (Schweiz) Ag レーザ光源を有する手術用スリットランプを有する顕微鏡
JP2014519914A (ja) * 2011-06-02 2014-08-21 アヴェドロ・インコーポレーテッド 時間ベースの光活性剤の送達又は光活性マーカの存在をモニターするシステム及び方法
US10137239B2 (en) 2011-06-02 2018-11-27 Avedro, Inc. Systems and methods for monitoring time based photo active agent delivery or photo active marker presence
EP3048950A4 (en) * 2013-09-26 2017-06-14 Topcon Medical Laser Systems, Inc. Micro-display based slit lamp illumination system
US10350111B2 (en) 2014-10-27 2019-07-16 Avedro, Inc. Systems and methods for cross-linking treatments of an eye
US11219553B2 (en) 2014-10-27 2022-01-11 Avedro, Inc. Systems and methods for cross-linking treatments of an eye
JP2016174758A (ja) * 2015-03-20 2016-10-06 株式会社トプコン 細隙灯顕微鏡
US10258809B2 (en) 2015-04-24 2019-04-16 Avedro, Inc. Systems and methods for photoactivating a photosensitizer applied to an eye
US12070618B2 (en) 2015-04-24 2024-08-27 Avedro, Inc. Systems and methods for photoactivating a photosensitizer applied to an eye
US11167149B2 (en) 2015-04-24 2021-11-09 Avedro, Inc. Systems and methods for photoactivating a photosensitizer applied to an eye
US10028657B2 (en) 2015-05-22 2018-07-24 Avedro, Inc. Systems and methods for monitoring cross-linking activity for corneal treatments
US11207410B2 (en) 2015-07-21 2021-12-28 Avedro, Inc. Systems and methods for treatments of an eye with a photosensitizer
US11116663B2 (en) 2018-01-19 2021-09-14 Iridex Corporation System and method for a patient-invisible laser treatment alignment pattern in ophthalmic photomedicine
JP2019037881A (ja) * 2018-12-14 2019-03-14 株式会社トプコン 眼科撮影装置、およびその制御方法
JP2020022854A (ja) * 2019-11-14 2020-02-13 株式会社トプコン 眼科撮影装置、およびその制御方法

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