JP2000261724A - Ｘ線装置及び撮影条件設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検体に対しテスト曝射を行うことなく、ま
た、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求め
て設定する。 【解決手段】 Ｘ線制御装置８の撮影条件算出部１０
が、透視時における透視条件（管電圧、管電流、パルス
幅等）から所定の演算式に基づいて撮影条件を算出す
る。演算により撮影条件を算出するようになっているた
め、撮影前に行うテスト曝射を不要とすることができ、
被検体に対する被曝低減を図ることができる。また、そ
の装置が、透視時に連続透視を行う装置であっても、或
いは透視時にパルス透視を行う装置であっても、いずれ
にも対応して撮影条件を求めることができる。言い換え
れば、装置が採用する透視方法に依存することなく撮影
条件を求めることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばＸ線診断装
置やＸ線ＣＴ装置等のＸ線を用いて被写体の撮像を行う
装置に設けて好適なＸ線装置に関し、特に所定の演算に
より透視条件から撮影条件を算出することで、撮影条件
を求めるためのテスト曝射を不要とすると共に、その装
置が採用する透視方法に依存することなく撮影条件を設
定することを可能としたＸ線装置及び撮影条件設定方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、Ｘ線診断装置では、被検体の診断
に最適なＸ線画像を得ることができるように主に管電
圧、管電流及びパルス幅からなる撮影条件を予め設定し
て撮影を行う。この撮影条件の設定方法としては、撮影
前にテスト曝射を行い、このテスト曝射結果に基づいて
撮影条件を設定する方法と、撮影前の透視時に用いた透
視条件の管電圧を用いて撮影条件を設定する方法（Ｆ−
ＡＴＲ）とが知られている。

【０００３】前記テスト曝射により撮影条件を設定する
場合は、実際に被検体の撮影を行う前に、徐々にＸ線量
を多くしながら被検体に対して試験的にＸ線を数発曝射
し（テスト曝射）、このテスト曝射結果に基づいて最適
な撮影条件を求めるようになっている。

【０００４】また、透視時の管電圧を用いて行う撮影条
件の設定は、透視時に、弱いＸ線を連続的に曝射して透
視を行う連続透視機能を有するＸ線診断装置において行
われる。すなわち、このような連続透視機能を有するＸ
線診断装置では、透視時における管電圧の変化と被写体
厚の変化とが１対１に対応するため、透視時の管電圧か
ら撮影時における撮影状態を推定することができる。こ
のため、この透視時の管電圧に対応するように撮影条件
を設定することで、撮影時において最適なＸ線画像を得
ることが可能となる。なお、この場合、撮影条件のうち
パルス幅は、最終的にＡＢＣ機能によりＸ線曝射時に制
御されるため、最大値が設定される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、テスト曝射に
より撮影条件を設定する方法は、撮影条件を設定する際
にテスト曝射を行う必要があるため、診断に必要のない
Ｘ線を被検体に対して曝射することとなり、被検体の被
曝低減の観点から問題がある。

【０００６】また、透視時の管電圧を用いて撮影条件を
設定する方法は、連続透視機能を有するＸ線診断装置に
おいてはじめて可能となる。このため、全ての装置に対
して簡単に適用することはできない（透視の制御方法に
依存する）問題がある。

【０００７】すなわち、連続透視を行う場合は、管電圧
が被検体の増加に対して連続的に変化するため、管電圧
の変化と被検体の厚さの変化とを１：１に対応付けする
ことが可能であり、このために、透視の管電圧のみを条
件にして、撮影の条件を決定することが可能になる。

【０００８】ここで、近年のＸ線診断装置の中には、透
視時において、管電圧を一定にして管電流とパルス幅を
制御するＸ線診断装置や、管電圧、管電流及びパルス幅
の全ての条件を連続的に変化させる制御を行うＸ線診断
装置も存在する。これらＸ線診断装置では、透視時にお
ける管電圧の変化と被写体厚の変化とが１：１に対応し
ていないために（管電圧、管電流、パルス幅が複雑に変
化するために）、透視管電圧に基づいて撮影条件を設定
することはできない。また、パルス幅や管電流のみを条
件にしても同様な理由で、撮影条件を設定することがで
きない。

【０００９】本発明は、上述の課題に鑑みてなされたも
のであり、被検体に対してテスト曝射を行うことなく、
また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を設
定することができるようなＸ線装置及び撮影条件設定方
法の提供を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に係るＸ線装置は
上述の課題を解決するための手段として、被写体に対し
てＸ線を曝射するＸ線発生手段と、前記Ｘ線発生手段か
ら被写体に対してＸ線が曝射されることで形成されたＸ
線像を検出するＸ線検出手段と、透視時には線量の少な
いＸ線を被写体に対して曝射するように前記Ｘ線発生手
段を制御し、撮影時には、前記透視時よりも線量の多い
Ｘ線を被写体に対して曝射するように前記Ｘ線発生手段
を制御する曝射制御手段と、前記透視時において被写体
に曝射されたＸ線のＸ線エネルギーを検出する透視Ｘ線
エネルギー検出手段とを有する。

【００１１】また、これら各手段と共に、前記透視Ｘ線
エネルギー検出手段により検出された透視時のＸ線エネ
ルギーに基づいて、撮影時に必要なＸ線エネルギーを算
出する撮影Ｘ線エネルギー算出手段と、前記撮影Ｘ線エ
ネルギー算出手段により算出された撮影時に必要なＸ線
エネルギーに対応する撮影条件を設定する撮影条件設定
手段と、前記撮影条件設定手段により設定された撮影条
件で被写体の撮影制御を行う撮影制御手段とを有する。

【００１２】また、本発明に係る撮影条件設定方法は、
上述の課題を解決するための手段として、透視時におい
て被写体に曝射されたＸ線のＸ線エネルギーを検出する
ステップと、前記ステップにより検出された透視時のＸ
線エネルギーに基づいて、撮影時に必要なＸ線エネルギ
ーを算出するステップと、前記ステップで算出された撮
影時に必要なＸ線エネルギーに基づいて撮影条件を検出
して設定するステップとを有する。

【００１３】このような本発明に係るＸ線装置及び撮影
条件設定方法は、透視時のＸ線エネルギーに基づいて、
撮影時に必要なＸ線エネルギーを算出し、この算出され
た撮影時に必要なＸ線エネルギーとなるように撮影条件
の設定を行う。

【００１４】これにより、透視時のＸ線エネルギーに基
づいて撮影時の撮影条件を求めることができるため、撮
影前に被写体に対して行うテスト曝射を不要とすること
ができる。また、透視方法が連続透視方法である場合で
も、パルス透視方法である場合でも、その透視時のＸ線
エネルギーに基づいて撮影時の撮影条件を求めることが
できるため、透視の制御方法に依存することなく撮影条
件を設定することができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明のＸ線装置及び撮影
条件設定方法の好ましい実施の形態について図面を参照
しながら詳細に説明する。

【００１６】〔実施の形態の全体的な構成〕本発明に係
るＸ線装置及び撮影条件設定方法は、図１に示すような
Ｘ線診断装置に適用することができる。この本発明の実
施の形態となるＸ線診断装置は、例えばＣの字形状を有
するアームの両端部に、それぞれ相対向するように配置
されたＸ線管とＩ．Ｉ．−ＴＶ系とを有している。

【００１７】具体的には、寝台１に載置された被検体に
対してＸ線を曝射するＸ線管２と、Ｘ線管２から曝射さ
れたＸ線の線質調整用のＸ線フィルタ３と、Ｘ線管２か
らのＸ線がＸ線フィルタ３を介して被検体に曝射される
ことで形成されたＸ線像を光学像に変換するイメージ・
インテンシファイヤ４（Ｉ．Ｉ．）と、Ｉ．Ｉ．４の後
段に設けられたフォトマルチプライヤ５と、Ｉ．Ｉ．４
により光学像に変換されたＸ線像を取り込んで電気的な
画像信号としてテレビジョンモニタ７（ＴＶモニタ）に
供給するテレビジョンカメラ６（ＴＶカメラ）と、当該
Ｘ線装置全体を制御するＸ線制御装置８を有している。

【００１８】Ｘ線制御装置８は、被検体に対して線量の
少ないＸ線を曝射して粗いＸ線像を得る「透視」におけ
る透視条件を設定するＡＢＣ制御部９（ＡＢＣ：自動輝
度調整）と、透視時にＡＢＣ制御部９により設定された
透視条件に基づいて、撮影時における撮影条件を算出し
て設定する撮影条件算出部１０とを有している。

【００１９】〔実施の形態の全体的な動作〕このような
Ｘ線診断装置は、Ｘ線制御装置８により指示された条件
でＸ線管２から透視のためのＸ線曝射が行われる。Ｘ線
管２から曝射されたＸ線は、Ｘ線フィルタ４を介して線
質調整され被検体に曝射される。これにより、Ｘ線像が
形成される。このＸ線像は、Ｉ．Ｉ．４とＴＶカメラ６
により視覚可能な画像に変換されＴＶモニタ７に供給さ
れる。これにより、透視時に曝射された線量の少ないＸ
線により形成された粗いＸ線像がＴＶモニタ７に表示さ
れることとなる。

【００２０】Ｘ線制御装置８のＡＢＣ制御部９は、Ｉ．
Ｉ．４の後段に設けられたフォトマルチプライヤ５から
の信号、又はＴＶカメラ６からの画像信号に基づいて、
ＴＶモニタ７の表示画像の明るさが一定となるように、
透視条件を変更してＸ線管２を再び曝射駆動するフィー
ルドバック制御を行う。これにより、被検体の厚み（被
写体厚）に応じて、ＴＶモニタ７の表示画像の明るさが
常に一定になるように制御されることとなる。

【００２１】〔撮影条件の設定動作〕ここで、Ｘ線制御
装置８には撮影条件算出部１０が設けられているのであ
るが、この撮影条件算出部１０は、前述の「透視」が終
了すると、そのときにＡＢＣ制御部９で設定されていた
透視条件（管電圧、管電流、パルス幅等）、Ｉ．Ｉ．４
の視野サイズを記録すると共に、ＡＢＣ制御部９の自動
輝度調整に用いられたフォトマルチプライヤ５の出力、
又はＴＶカメラ６からの画像信号等を記録する。そし
て、これら各情報に基づいて以下に説明する「透視Ｘ線
エネルギー」、「線量比」、「撮影Ｘ線エネルギー」を
算出し、これら各演算結果に基づいて撮影時の撮影条件
を設定する。

【００２２】（透視Ｘ線エネルギーの算出動作）すなわ
ち、撮影条件算出部１０は「透視」が終了すると、ま
ず、透視時におけるＸ線エネルギーの算出を行う。具体
的には、透視条件と被写体厚を１：１に結び付ける為
に、以下の数式（ａ）に基づいて透視時のＸ線エネルギ
ーを算出する。

【００２３】 透視Ｘ線エネルギー＝１ｍＡｓ当たりのエネルギー関数
（φ：ｋＶ）×透視時の管電流（ｍＡ）×透視時のパル
ス幅（ｍｓｅｃ）×Ｉ．Ｉ．４の入射線量補正パラメー
タ（ｋＶ）×ＡＢＣ補正パラメータ・・・（ａ） この数式（ａ）を用いることで、そのＸ線装置に適用さ
れている透視制御方法が、「連続透視」或いは所定間隔
のパルスにより間欠的に透視を行う「パルス透視」のい
ずれの場合でも透視時の透視Ｘ線エネルギーを算出する
ことができる。なお、「連続透視」の場合は、パルス幅
として装置の制御に応じた固定値を与えればよい。ま
た、ＡＢＣ補正パラメータは、上述のように透視の条件
がシステムの制限を受け上限に達した場合に、ＡＢＣ制
御に使用しているフォトマルチプライア３のデータ又は
ＴＶカメラ１の画像レベル情報を使用して設定されるパ
ラメータである。

【００２４】ここで、１ｍＡｓ当たりのエネルギー関数
φ（ｋＶ）と管電圧（ｋＶ）は、図２に示すように非線
型の関係にある。また、このカーブは、使用する線質調
整用のＸ線フィルタ４の種類や厚さにより異なる。ま
た、Ｘ線フィルタ３により線質制御が可能な装置では、
この関数φをＸ線フィルタ３の線質分用意することで対
応が可能になる。１ｍＡｓ当たりのエネルギー関数φ
（ｋＶ）は、管電圧の関数、又はテーブルとして使用す
ることができる。

【００２５】例えば、エネルギー関数φを管電圧の４次
関数とすると、エネルギー関数φは以下の数式（ｂ）に
より算出される。

【００２６】φ（ｋＶ）＝Ａ×（管電圧)⁴＋Ｂ×（管電
圧)³＋Ｃ×（管電圧)²＋ｄ×管電圧＋ｅ・・・・（ｂ） なお、この数式（ｂ）中、Ａ，Ｂ，Ｃ，ｄ，ｅは、それ
ぞれ４次関数の係数を示す。

【００２７】（線量比の算出動作）次に、撮影条件算出
部１０は、透視時における前記ＡＢＣ制御の際のＩ．
Ｉ．４への入射線量に基づいて、透視Ｘ線エネルギーと
撮影に必要なＸ線エネルギーとの線量比を、以下の数式
（ｃ）を用いて算出する。例えば、透視時における前記
ＡＢＣ制御の際のＩ．Ｉ．４の入射線量をＦＸ（Ｒ／ｍ
ｉｎ）、撮影時の入射線量をＲＸ（Ｒ／ｍｉｎ）とする
と、線量比は、 線量比＝ＲＸ／ＦＸ・・・・（ｃ） となる。

【００２８】（入射線量補正パラメータの推定動作）次
に、撮影条件算出部１０は、Ｉ．Ｉ．４の入射線量補正
パラメータの推定を行う。すなわち、ＡＢＣ制御を行う
と、ＴＶモニタ７の明るさは一定に保つことができる
が、これに対してＩ．Ｉ．４への入射線量は、使用可能
な全ての管電圧の範囲で一定にならない。このため、撮
影条件算出部１０は、Ｉ．Ｉ．４の入射線量補正パラメ
ータを算出し、このパラメータにより、管電圧に応じて
変化するＩ．Ｉ．４の特性を補正する。なお、この入射
線量補正パラメータとしては、予め管電圧に対応する入
射線量補正パラメータを検出してテーブル化し、実際の
推定時にこのテーブルから入射線量補正パラメータを読
み出して用いてもよいし、又は入射線量補正パラメータ
の算出式を数式化し、実際の推定時にこの算出式に基づ
いて入射線量補正パラメータを算出してもよい。いずれ
の場合も、より精度の高いパラメータの推定が可能とな
る。

【００２９】（撮影Ｘ線エネルギーの算出動作）次に、
撮影条件算出部１０は、以上算出或いは推定した「透過
Ｘ線エネルギー」、「線量比」及び「入射線量補正パラ
メータ」を用い、以下の数式（ｄ）に基づいて撮影Ｘ線
エネルギーを算出する。

【００３０】撮影Ｘ線エネルギー＝透過Ｘ線エネルギー
×線量比×入射線量補正パラメータ・・・・（ｄ） （撮影条件の算出動作）次に撮影条件算出部１０は、前
記算出した「撮影Ｘ線エネルギー」に基づいて撮影条件
の算出を行う。

【００３１】撮影条件を管電圧、管電流及びパルス幅か
らなると仮定すると、前記撮影Ｘ線エネルギーは以下の
数式（ｅ）に示すように、 撮影Ｘ線エネルギー＝φ×管電流×パルス幅×入射線量
補正パラメータ・・・（ｅ） となる（φは１ｍＡｓ当たりのエネルギー関数）。

【００３２】撮影条件算出部１０は、この数式（ｅ）に
基づいて撮影条件を決定するのであるが、その際、「管
電流」は、使用できる最大の条件として設定し、また、
「パルス幅」は所定の固定値に設定する。

【００３３】また、「管電圧」は、目標管電圧範囲を例
えば６０ｋＶ〜８０ｋＶとし、このうち最低の管電圧で
ある６０ｋＶより小さくなる場合は、管電流を最大値か
ら徐々に下げていく。そして、管電流が最低値（この例
の場合６０ｋＶ）になった場合は、目標管電圧範囲を例
えば５０ｋＶ〜６０ｋＶに下げ、この中から管電圧を決
定する。これら各条件は、撮影条件制御用データとして
予め登録しておき、実際の撮影条件の算出時に該登録し
た撮影条件制御用データの中から最適なデータを選択す
るようにしてもよい。或いは、ユーザが所望の条件を入
力するようにしてもよい。

【００３４】Ｘ線制御装置８は、このようにして撮影条
件テーブルから検出された撮影条件に基づいてＸ線管２
等を駆動制御して実際の撮影を行う。

【００３５】（撮影条件テーブル）次に、以上は、演算
により撮影条件を算出する例であったが、これは、図３
に示すような撮影条件テーブルを設け、この撮影条件テ
ーブルから該当する撮影条件を読み出して設定するよう
にしてもよい。すなわち、この図３に示す撮影条件テー
ブルには、一例として管電圧毎の「１ｍＡｓ当たりのエ
ネルギー関数φ」、「管電流」、「透視のパルス幅」、
「Ｉ．Ｉ．４の入射線量補正パラメータ」、「撮影のＸ
線エネルギー」が撮影条件として記憶されている。

【００３６】このような撮影条件テーブルが設けられて
いる場合において、例えば透視条件である「管電圧」、
「管電流」及び「パルス幅」が、それぞれ「９５（ｋ
Ｖ）」、「５０（ｍＡ）」、「４（ｍｓｅｃ）」であ
り、この透視条件によるＸ線エネルギーが「１３１４８
３８６００」で、線量比が「６」と算出された場合、
Ｉ．Ｉ．４の管電圧補正パラメータが「１．０」であっ
たとすると、必要な撮影Ｘ線エネルギーは前記数式
（ｄ）により 透視から推定される撮影Ｘ線エネルギー＝７８９０３１
６００ となる。

【００３７】この算出された撮影Ｘ線エネルギーと、図
３に示す撮影条件テーブルとを照らし合わせてみると、
図３中斜線で示すように、前記「７８９０３１６００」
の撮影Ｘ線エネルギーに一番近いＸ線エネルギーとなる
「７６（ｋＶ）」、「６３０（ｍＡ）」、「４（ｍｓｅ
ｃ）」の「管電圧」、「管電流」、「パルス幅」を撮影
条件として求めることができる。Ｘ線制御装置８は、こ
のようにして撮影条件テーブルから検出された撮影条件
に基づいてＸ線管２等を駆動制御して実際の撮影を行
う。

【００３８】〔実施の形態の効果〕以上の説明から明ら
かなように当該実施の形態のＸ線診断装置は、透視時に
おける透視条件から所定の演算式に基づいて撮影条件の
算出を行う。このため、そのＸ線診断装置が、透視時に
連続透視を行う装置であっても、或いは透視時にパルス
透視を行う装置であっても、いずれにも対応して撮影条
件を求めることができる。言い換えれば、Ｘ線診断装置
が採用する透視方法に依存することなく撮影条件を求め
ることができる。

【００３９】また、透視時における透視条件から所定の
演算式に基づいて撮影条件の算出するようになっている
ため、撮影前に行うテスト曝射を不要とすることがで
き、被検体に対する被曝低減を図ることができ、当該Ｘ
線診断装置の安全性の向上を図ることができる。

【００４０】なお、上述の実施の形態は本発明の一例で
ある。このため、本発明はこの実施の形態に限定される
ことはない。例えば、上述の実施の形態の説明では、Ｘ
線検出手段としてＩ．Ｉ．−ＴＶ系を用いることとした
が、これは、入射されたＸ線を光に変換すると共に、こ
の光を電荷に変換してＸ線像に対応する撮像信号を形成
する複数の半導体素子（Ｘ線検出素子）を２次元的に配
列して構成したＸ線平面検出器を用いてもよい。また、
本発明をＸ線診断装置に適用することとしたが、本発明
は、この他、Ｘ線ＣＴ装置等のようにＸ線を用いてＸ線
像を撮像する装置であればどのような装置にも適用可能
である。そして、これら以外であっても、本発明に係る
技術的思想を逸脱しない範囲であれば設計等に応じて種
々の変更が可能であることは勿論である。

【００４１】

【発明の効果】本発明に係るＸ線装置及び撮影条件設定
方法は、透視時のＸ線エネルギーに基づいて撮影時の撮
影条件を求めることができるため、撮影前に被写体に対
して行うテスト曝射を不要とすることができる。また、
透視方法が連続透視方法である場合でも、パルス透視方
法である場合でも、その透視時のＸ線エネルギーに基づ
いて撮影時の撮影条件を求めることができるため、透視
の制御方法に依存することなく撮影条件を設定すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＸ線装置及び撮影条件設定方法を
適用した実施の形態のＸ線診断装置のブロック図であ
る。

【図２】１ｍＡｓ当たりのエネルギー関数φと、管電圧
ｋＶとの関係を示す特性図である。

【図３】前記実施の形態のＸ線診断装置により算出され
た撮影Ｘ線エネルギーに対応して求められる撮影条件を
説明するための図である。

【符号の説明】

１…寝台、２…Ｘ線管、３…Ｘ線フィルタ、４…イメー
ジインテンシファイア（Ｉ．Ｉ．）、５…フォトマルチ
プライア、６…ＴＶカメラ、７…ＴＶモニタ、８…Ｘ線
制御装置、９…ＡＢＣ制御部、１０…撮影条件算出部

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写体に対してＸ線を曝射するＸ線発生
   手段と、 前記Ｘ線発生手段から被写体に対してＸ線が曝射される
   ことで形成されたＸ線像を検出するＸ線検出手段と、 透視時には線量の少ないＸ線を被写体に対して曝射する
   ように前記Ｘ線発生手段を制御し、撮影時には、前記透
   視時よりも線量の多いＸ線を被写体に対して曝射するよ
   うに前記Ｘ線発生手段を制御する曝射制御手段と、 前記透視時において被写体に曝射されたＸ線のＸ線エネ
   ルギーを検出する透視Ｘ線エネルギー検出手段と、 前記透視Ｘ線エネルギー検出手段により検出された透視
   時のＸ線エネルギーに基づいて、撮影時に必要なＸ線エ
   ネルギーを算出する撮影Ｘ線エネルギー算出手段と、 前記撮影Ｘ線エネルギー算出手段により算出された撮影
   時に必要なＸ線エネルギーに対応する撮影条件を設定す
   る撮影条件設定手段と、 前記撮影条件設定手段により設定された撮影条件で被写
   体の撮影制御を行う撮影制御手段とを有することを特徴
   とするＸ線装置。
2. 【請求項２】 前記撮影条件設定手段は、前記撮影条件
   として前記Ｘ線発生手段の、少なくともＸ線発生電圧、
   Ｘ線発生電流、Ｘ線発生手段を駆動する駆動パルスのパ
   ルス幅を設定することを特徴とする請求項１記載のＸ線
   装置。
3. 【請求項３】 透視時におけるＸ線像が一定の輝度を有
   するように、透視時における透視条件を調整する透視条
   件調整手段を有し、 前記撮影Ｘ線エネルギー算出手段は、前記透視条件調整
   手段で調整された透視条件を考慮して撮影時に必要なＸ
   線エネルギーを算出することを特徴とする請求項１又は
   請求項２記載のＸ線装置。
4. 【請求項４】 前記撮影条件設定手段は、前記撮影Ｘ線
   エネルギー算出手段により算出された撮影時に必要なＸ
   線エネルギーから所定の演算式に基づいて撮影条件を算
   出して設定し、或いは撮影時に必要なＸ線エネルギーに
   対応する撮影条件が複数記憶された撮影条件テーブルを
   有し、前記撮影Ｘ線エネルギー算出手段により算出され
   た撮影時に必要なＸ線エネルギーに対応する撮影条件を
   前記撮影条件テーブルから読み出して設定することを特
   徴とする請求項１乃至請求項３のうちいずれか１項記載
   のＸ線装置。
5. 【請求項５】 透視時において被写体に曝射されたＸ線
   のＸ線エネルギーを検出するステップと、 前記ステップにより検出された透視時のＸ線エネルギー
   に基づいて、撮影時に必要なＸ線エネルギーを算出する
   ステップと、 前記ステップで算出された撮影時に必要なＸ線エネルギ
   ーに基づいて撮影条件を検出して設定するステップとを
   有することを特徴とする撮影条件設定方法。