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JP2000183019A - Multistage substrate-processing device - Google Patents

Multistage substrate-processing device

Info

Publication number
JP2000183019A
JP2000183019A JP10362180A JP36218098A JP2000183019A JP 2000183019 A JP2000183019 A JP 2000183019A JP 10362180 A JP10362180 A JP 10362180A JP 36218098 A JP36218098 A JP 36218098A JP 2000183019 A JP2000183019 A JP 2000183019A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
processing unit
processing
wet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10362180A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Yamamoto
悟史 山本
Makoto Kamibayashi
誠 上林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP10362180A priority Critical patent/JP2000183019A/en
Publication of JP2000183019A publication Critical patent/JP2000183019A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing device comprising a plurality of wet-type processing units and dry-type processing units in multi stages for good maintainability. SOLUTION: A substrate-processing device 1 comprises a plurality of wet-type processing units (a cleaning unit 10 and a resist coating unit 30) provided on a first stage, a plurality of dry-type processing units (a dehydration bake unit 20 and a pre-bake unit 40) laminated above the wet-type processing unit, and vertically-moving robots 2a, 51, and 52. The wet-type processing unit comprises a wet-type processing part (a cleaning part 13 and a spin coater part 32). The dry-type processing unit comprises a plurality of dry-type processing parts (heating parts 21 and 41, cooling parts 22 and 42). The vertically-moving robots 2a, 51, and 52 fronsfer a substrate between the wet-type processing unit and the dry-type processing unit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板に対して一連
の処理を行う基板処理装置、特に多段に構成され湿式処
理ユニットと乾式処理ユニットとが入り混じっている多
段基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a series of processing on a substrate, and more particularly to a multi-stage substrate processing apparatus having a multi-stage structure in which a wet processing unit and a dry processing unit are mixed.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置またはプラズマ表示装置用
のガラス基板(FPD基板)や半導体ウエハ等の製造プ
ロセスにおいては、基板の表面にレジスト膜を形成して
露光・現像を行う基板処理装置が必要である。この基板
処理装置の中には、複数の処理ユニットを接続して一貫
した処理を可能にした装置(インラインシステム)があ
り、例えばフォトリソグラフィ工程では、露光機と接続
してレジスト塗布前洗浄からレジスト塗布・露光・現像
までを連続して行えるようにしたコータ/デベロッパ装
置がある。また、露光前のレジスト塗布前洗浄からレジ
スト塗布までの処理を一貫して行わせる装置もある。
2. Description of the Related Art In a process of manufacturing a glass substrate (FPD substrate) or a semiconductor wafer for a liquid crystal display device or a plasma display device, a substrate processing device for forming a resist film on the surface of the substrate and performing exposure and development is required. It is. Among these substrate processing apparatuses, there is an apparatus (in-line system) that connects multiple processing units to enable consistent processing. For example, in the photolithography process, it is connected to an exposure machine to perform cleaning from resist pre-coating to resist coating. There is a coater / developer device which can perform coating, exposure and development continuously. In addition, there is an apparatus that performs processing from cleaning before resist application before exposure to resist application in an integrated manner.

【0003】レジスト塗布前洗浄からレジスト塗布まで
の処理を行う従来の装置を図5(平面図)に示す。この
基板処理装置101では、インデクサー102に運ばれ
てきたカセットCから基板が取り出され、各処理ユニッ
ト110,120,130,140で処理が施されてU
ターンして戻ってきた基板をインデクサー102のカセ
ットCに戻す装置である。この基板処理装置101は、
主として、洗浄ユニット110と、脱水ベークユニット
120と、レジスト塗布ユニット130と、プリベーク
ユニット140とから構成されている。
FIG. 5 (plan view) shows a conventional apparatus for performing processing from cleaning before resist coating to resist coating. In the substrate processing apparatus 101, a substrate is taken out from the cassette C carried to the indexer 102, and is processed by each of the processing units 110, 120, 130, and 140, and is processed.
This is a device for returning a substrate that has turned and returned to the cassette C of the indexer 102. This substrate processing apparatus 101
It mainly includes a cleaning unit 110, a dehydration bake unit 120, a resist coating unit 130, and a pre-bake unit 140.

【0004】洗浄ユニット110は、洗浄液を使用する
湿式の処理ユニットであって、搬入部111、UV照射
部112、洗浄部113、液滴除去部114、及び搬出
部115からなる。この洗浄ユニット110において
は、ローラコンベアによって基板を搬送しつつ、洗浄や
液滴除去等の基板処理を行う。
The cleaning unit 110 is a wet processing unit using a cleaning liquid, and includes a carry-in unit 111, a UV irradiation unit 112, a cleaning unit 113, a droplet removing unit 114, and a carry-out unit 115. In the cleaning unit 110, substrate processing such as cleaning and liquid droplet removal is performed while the substrate is transported by the roller conveyor.

【0005】脱水ベークユニット120は、処理液を使
用しない乾式の処理ユニットであって、加熱室及び密着
強化室が多段に重ねられた加熱部121と、冷却室が多
段に重ねられた冷却部122と、基板を搬送する旋回ロ
ボット120a,120b,120cとから構成されて
いる。
The dehydration bake unit 120 is a dry processing unit that does not use a processing liquid, and includes a heating section 121 in which a heating chamber and an adhesion strengthening chamber are stacked in multiple stages, and a cooling section 122 in which cooling chambers are stacked in multiple stages. And a rotating robot 120a, 120b, 120c for transporting the substrate.

【0006】レジスト塗布ユニット130は、レジスト
(塗布液)を使用する湿式の処理ユニットであって、搬
入部131、スピンコータ部132、レベリング処理部
133、エッジリンス部134、及び搬出部135から
なる。このレジスト塗布ユニット130では、基板を隣
接する処理部へ順送りしてゆくスライダーによって基板
を搬送する。
[0006] The resist coating unit 130 is a wet processing unit using a resist (coating liquid), and includes a carry-in section 131, a spin coater section 132, a leveling processing section 133, an edge rinse section 134, and a carry-out section 135. In the resist coating unit 130, the substrate is transported by a slider that sequentially advances the substrate to an adjacent processing unit.

【0007】プリベークユニット140は、処理液を使
用しない乾式の処理ユニットであって、加熱室及び密着
強化室が多段に重ねられた加熱部141と、冷却室が多
段に重ねられた冷却部142と、基板を搬送する旋回ロ
ボット140a,140bとから構成されている。
The pre-bake unit 140 is a dry processing unit that does not use a processing liquid. The pre-baking unit 140 includes a heating section 141 in which a heating chamber and an adhesion strengthening chamber are stacked in multiple stages, and a cooling section 142 in which cooling chambers are stacked in multiple stages. And rotating robots 140a and 140b for transporting substrates.

【0008】この基板処理装置101では、まず、イン
デクサーロボット102aによって基板を洗浄ユニット
110の搬入部111に搬入させる。そして、基板は、
図5の白抜きの矢印に示すように、洗浄ユニット110
から脱水ベークユニット120へ送られ、脱水ベークユ
ニット120での処理を終えるとコンベア103によっ
てレジスト塗布ユニット130へと運ばれる。レジスト
塗布ユニット130でレジストが塗布された基板は、プ
リベークユニット140において基板上のレジスト膜中
の残留溶剤の蒸発と基板の密着性強化の処理が施され
る。その後、基板は冷却部142からインデクサーロボ
ット102aによりカセットCに戻される。
In the substrate processing apparatus 101, first, the substrate is carried into the carry-in section 111 of the cleaning unit 110 by the indexer robot 102a. And the substrate is
As shown by a white arrow in FIG.
Is transferred to the dehydration bake unit 120, and is conveyed to the resist coating unit 130 by the conveyor 103 when the processing in the dehydration bake unit 120 ends. The substrate on which the resist is applied by the resist coating unit 130 is subjected to a process of evaporating a residual solvent in a resist film on the substrate and enhancing adhesion of the substrate in a prebake unit 140. Thereafter, the substrate is returned from the cooling unit 142 to the cassette C by the indexer robot 102a.

【0009】ここでは、各ユニットを平面的に配置して
いるため、図5に示すような比較的広い占有床面積が必
要な装置となり、メンテナンスのためのスペースを考慮
すると、インデクサー102の幅を超えるものが多くな
る。
In this case, since the units are arranged in a plane, the apparatus requires a relatively large occupied floor area as shown in FIG. 5, and in consideration of a space for maintenance, the width of the indexer 102 is reduced. More than that.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記の装置の占有床面
積を抑えるために、図6(側面図)に示すように、ユニ
ットを多段に重ねることが考えられる。図6に示す基板
処理装置101aは、上記の基板処理装置101と同じ
4つのユニットから構成されるもので、基板処理装置1
01が平面的に基板をUターンさせていたのに対し、行
きのラインを下段に配し帰りのラインを上段に配して基
板をUターンさせる(図6の白抜きの矢印を参照)。す
なわち、基板は、インデクサー102から洗浄ユニット
110及び脱水ベークユニット120での処理を下段で
受け、その後上下動が可能なロボット103aによって
上段にあるレジスト塗布ユニット130に運ばれ、レジ
スト塗布ユニット130及びプリベークユニット140
での処理を受けた後にインデクサーロボット102aに
よってカセットCに戻される。
In order to reduce the floor area occupied by the above-mentioned apparatus, it is conceivable to stack units in multiple stages as shown in FIG. 6 (side view). The substrate processing apparatus 101a shown in FIG. 6 is composed of the same four units as the substrate processing apparatus 101 described above.
01 makes the substrate U-turn in a plane, whereas the outgoing line is arranged in the lower stage and the return line is arranged in the upper stage, and the substrate is U-turned (see the white arrow in FIG. 6). That is, the substrate receives the processing in the cleaning unit 110 and the dehydration baking unit 120 from the indexer 102 in the lower stage, and is then carried to the resist coating unit 130 in the upper stage by the robot 103a that can move up and down, and the resist coating unit 130 and the pre-bake Unit 140
Is returned to the cassette C by the indexer robot 102a.

【0011】この基板処理装置101aのように構成ユ
ニットを多段に重ねると、装置の占有床面積が概ね半減
するというメリットが生まれる。しかしながら、図6に
示すように各ユニットを配した場合には、レジスト(塗
布液)を使用しタンクや配管等のメンテナンス部分の多
いレジスト塗布ユニット(湿式処理ユニット)130が
上段に配されるため、メンテナンス性があまりよくな
い。また、上段の湿式処理ユニットから処理液が漏れた
場合には、その下側に配置されているユニットに影響を
与える恐れが高い。
When the constituent units are stacked in multiple stages as in the substrate processing apparatus 101a, there is an advantage that the floor area occupied by the apparatus is substantially reduced by half. However, when the units are arranged as shown in FIG. 6, a resist coating unit (wet processing unit) 130 using a resist (coating liquid) and having many maintenance parts such as tanks and pipes is arranged in the upper stage. , Maintenance is not so good. Further, when the processing liquid leaks from the upper wet processing unit, there is a high possibility that the processing liquid may affect the unit disposed below the processing liquid.

【0012】本発明の課題は、湿式処理ユニットと乾式
処理ユニットとが入り混じっている基板処理装置を多段
に構成し、且つ湿式処理ユニットのメンテナンス性を確
保することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a multi-stage substrate processing apparatus in which a wet processing unit and a dry processing unit are mixed, and to maintain maintainability of the wet processing unit.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る多段基板
処理装置は、複数の湿式処理ユニットと、複数の乾式処
理ユニットと、複数の基板移載手段とを備えている。各
湿式処理ユニットは、複数の処理部から構成されてお
り、処理液を使用する湿式処理部を含んでいる。各乾式
処理ユニットは、処理液を使用しない複数の乾式処理部
から構成されている。各基板移載手段は、湿式処理ユニ
ットと乾式処理ユニットとの間で基板の移載を行う。こ
の多段基板処理装置では、複数の湿式処理ユニットが全
て1段目に配置され、乾式処理ユニットは湿式処理ユニ
ットの上方に積層されている。
According to a first aspect of the present invention, a multi-stage substrate processing apparatus includes a plurality of wet processing units, a plurality of dry processing units, and a plurality of substrate transfer units. Each wet processing unit includes a plurality of processing units and includes a wet processing unit that uses a processing liquid. Each dry processing unit includes a plurality of dry processing units that do not use a processing liquid. Each substrate transfer means transfers a substrate between the wet processing unit and the dry processing unit. In this multi-stage substrate processing apparatus, the plurality of wet processing units are all arranged in the first stage, and the dry processing units are stacked above the wet processing units.

【0014】本請求項に係る装置は、複数の湿式処理ユ
ニットと複数の乾式処理ユニットとが入り混じっている
装置であり、これらを湿式処理ユニットを下段に乾式処
理ユニットを上段に積層させることで湿式処理ユニット
のメンテナンス性を確保するとともに、多段に構成する
ことによる装置の占有床面積の低減を図っている。そし
て、湿式処理ユニットから乾式処理ユニットに、あるい
は乾式処理ユニットから湿式処理ユニットに基板を移す
ために、これらのユニット間をつなぐ基板移載手段を複
数設けている。
The apparatus according to the present invention is an apparatus in which a plurality of wet processing units and a plurality of dry processing units are mixed, and these are stacked by laminating a wet processing unit on a lower stage and a dry processing unit on an upper stage. The maintainability of the wet processing unit is ensured, and the floor area occupied by the apparatus is reduced by configuring the unit in multiple stages. In order to transfer a substrate from a wet processing unit to a dry processing unit or from a dry processing unit to a wet processing unit, a plurality of substrate transfer means connecting these units are provided.

【0015】このように、本装置では複数の湿式処理ユ
ニットを全て1段目に配し、上方に積層された乾式処理
ユニットとの間の基板の移載を基板移載手段により行わ
せるようにしたため、湿式処理ユニットのメンテナンス
性が確保される。また、上段に湿式処理ユニットを配す
るような場合には処理液の漏れが下にある処理ユニット
に悪影響を与える恐れが高いが、本装置ではこのような
不具合がなくなる。
As described above, in the present apparatus, the plurality of wet processing units are all arranged in the first stage, and the substrate is transferred to and from the dry processing unit stacked above by the substrate transferring means. Therefore, maintainability of the wet processing unit is ensured. In addition, when a wet processing unit is provided in the upper stage, there is a high possibility that the leakage of the processing liquid will adversely affect the lower processing unit, but such a problem is eliminated in the present apparatus.

【0016】請求項2に係る多段基板処理装置は、請求
項1に記載の装置であって、基板移載手段は、湿式処理
ユニットの基板搬出部から基板を取り出し乾式処理ユニ
ットの基板搬入部へと基板を搬送する、あるいは乾式処
理ユニットの基板搬出部から基板を取り出し湿式処理ユ
ニットの基板搬入部へと基板を搬送する。
A multi-stage substrate processing apparatus according to a second aspect is the apparatus according to the first aspect, wherein the substrate transfer means takes out the substrate from the substrate unloading section of the wet processing unit and transfers the substrate to the substrate loading section of the dry processing unit. And the substrate is taken out of the substrate unloading section of the dry processing unit, and the substrate is transferred to the substrate loading section of the wet processing unit.

【0017】本装置は処理ユニットが多段に配される基
板処理装置であるため、下段の湿式処理ユニットと上段
の乾式処理ユニットとの間で基板を移載する際には、基
板を平面的に移動させるだけでは足りない。そこで、本
装置では基板移載手段を設け、これに湿式処理ユニット
の基板搬出部から乾式処理ユニットの基板搬入部への基
板の搬送や乾式処理ユニットの基板搬出部から湿式処理
ユニットの基板搬入部への基板の搬送を行わせている。
これにより、湿式処理ユニットでの基板処理と乾式処理
ユニットでの基板処理が連続的なものとなり、基板処理
の一貫性が確保される。
Since the present apparatus is a substrate processing apparatus in which processing units are arranged in multiple stages, when transferring substrates between the lower wet processing unit and the upper dry processing unit, the substrate is planarly transferred. Just moving them is not enough. Therefore, in this apparatus, a substrate transfer means is provided, in which a substrate is transferred from the substrate unloading section of the wet processing unit to the substrate loading section of the dry processing unit or a substrate loading section of the wet processing unit is loaded from the substrate unloading section of the dry processing unit. The transfer of the substrate to is performed.
Thereby, the substrate processing in the wet processing unit and the substrate processing in the dry processing unit become continuous, and the consistency of the substrate processing is ensured.

【0018】請求項3に係る多段基板処理装置は、請求
項2に記載の装置であって、基板移載手段は上下動ロボ
ットである。上下動ロボットとは、上下移動が可能であ
り、そのハンドを除いて平面的な移動ができないロボッ
トである。また、基板処理が連続する湿式処理ユニット
及び乾式処理ユニットは、上工程の処理ユニットの基板
搬出部と下工程の処理ユニットの基板搬入部とが基板移
載手段を挟んで平面的に連続している。
A multi-stage substrate processing apparatus according to a third aspect is the apparatus according to the second aspect, wherein the substrate transfer means is a vertically moving robot. A vertically moving robot is a robot that can move up and down and cannot move two-dimensionally except for its hand. Further, in the wet processing unit and the dry processing unit in which the substrate processing is continuous, the substrate unloading part of the processing unit in the upper process and the substrate loading part of the processing unit in the lower process are continuously continuous in a plane with the substrate transfer means interposed therebetween. I have.

【0019】本装置は処理ユニットが多段に配される基
板処理装置であるため、下段の湿式処理ユニットと上段
の乾式処理ユニットとの間で基板を移載する際には、基
板を平面的に移動させるだけではなく、基板を上下に移
動させる必要がある。ここでは、基板移載手段として上
下動ロボットを採用し、基板を上下に移動させている。
Since the present apparatus is a substrate processing apparatus in which processing units are arranged in multiple stages, when transferring substrates between the lower wet processing unit and the upper dry processing unit, the substrate is planarly transferred. In addition to moving the substrate, it is necessary to move the substrate up and down. Here, a vertically moving robot is adopted as the substrate transfer means, and the substrate is moved up and down.

【0020】また、この上下動ロボットは、平面的に上
工程の処理ユニットの基板搬出部と下工程の処理ユニッ
トの基板搬入部とをつなぐ部分に位置しているため、上
下動ロボット自体が平面的に移動する必要はなく、基板
を保持するハンドだけを基板搬入部や基板搬出部に出し
入れできるように構成すればよい。これに鑑み、上下動
ロボットは、上下移動が可能であり、そのハンドを除い
て平面的な移動ができないロボットとなっている。
Further, since this vertically moving robot is located in a plane connecting the substrate carrying-out part of the processing unit in the upper process and the substrate carrying-in part of the processing unit in the lower process, the vertically moving robot itself is planar. It is not necessary to move the substrate, and it is sufficient if only the hand holding the substrate can be moved in and out of the substrate loading section and the substrate loading section. In view of this, the vertically moving robot is a robot that can move up and down and cannot move two-dimensionally except for its hand.

【0021】さらに、本装置では、上工程の処理ユニッ
トの基板搬出部と下工程の処理ユニットの基板搬入部と
が平面的に連続しているため、両工程にまたがる一貫し
た基板処理をより連続的なものとすることができる。
Further, in the present apparatus, the substrate unloading section of the upper processing unit and the substrate loading section of the lower processing unit are continuous in a plane, so that a consistent substrate processing over both steps can be performed more continuously. It can be a typical thing.

【0022】請求項4に係る多段基板処理装置は、請求
項1から3のいずれかに記載の装置であって、積層され
る湿式処理ユニットと乾式処理ユニットとは設置面積が
等しい。
A multistage substrate processing apparatus according to a fourth aspect is the apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the wet processing unit and the dry processing unit to be stacked have the same installation area.

【0023】上下に積層される湿式処理ユニットと乾式
処理ユニットとの設置面積が等しいため、多段に配した
ときの構造的な安定性が増し、基板移載手段による両処
理ユニットへのアクセスも容易となる。
Since the installation areas of the wet processing unit and the dry processing unit, which are stacked one above the other, are equal, the structural stability in a multi-stage arrangement is increased, and access to both processing units by the substrate transfer means is easy. Becomes

【0024】請求項5に係る多段基板処理装置は、基板
に処理を行う複数の処理部が多段に配置される多段基板
処理装置であって、第1湿式処理ユニット及び第2湿式
処理ユニットと、第1乾式処理ユニット及び第2乾式処
理ユニットと、基板移載手段とを備えている。第1湿式
処理ユニット及び第2湿式処理ユニットは、それぞれ、
複数の処理部と搬送手段とを有しており、基板に一連の
処理を施す。第1湿式処理ユニット及び第2湿式処理ユ
ニットの複数の処理部には、処理液を使用する湿式処理
部が含まれている。第1湿式処理ユニット及び第2湿式
処理ユニットの搬送手段は、複数の処理部の間で基板を
搬送する。第1乾式処理ユニット及び第2乾式処理ユニ
ットは、それぞれ、複数の乾式処理部と搬送手段とを有
している。第1乾式処理ユニット及び第2乾式処理ユニ
ットの複数の乾式処理部は、処理液を使用しない処理部
である。第1乾式処理ユニット及び第2乾式処理ユニッ
トの搬送手段は、複数の乾式処理部の間で基板を搬送す
る。基板移載手段は、湿式処理ユニットと乾式処理ユニ
ットとの間で基板の移載を行う。この多段基板処理装置
では、第1及び第2湿式処理ユニットを1段目に配置す
る。
A multi-stage substrate processing apparatus according to a fifth aspect is a multi-stage substrate processing apparatus in which a plurality of processing units for processing a substrate are arranged in multiple stages, wherein the first wet processing unit and the second wet processing unit include: The apparatus includes a first dry processing unit and a second dry processing unit, and a substrate transfer unit. The first wet processing unit and the second wet processing unit each include:
It has a plurality of processing units and transport means, and performs a series of processing on the substrate. The plurality of processing units of the first wet processing unit and the second wet processing unit include a wet processing unit using a processing liquid. Transport means of the first wet processing unit and the second wet processing unit transport the substrate between the plurality of processing units. Each of the first dry processing unit and the second dry processing unit has a plurality of dry processing units and a transport unit. The plurality of dry processing units of the first dry processing unit and the second dry processing unit are processing units that do not use a processing liquid. The transport means of the first dry processing unit and the second dry processing unit transports the substrate between the plurality of dry processing units. The substrate transfer means transfers the substrate between the wet processing unit and the dry processing unit. In this multi-stage substrate processing apparatus, the first and second wet processing units are arranged in the first stage.

【0025】本請求項に係る装置は、第1及び第2湿式
処理ユニットと第1及び第2乾式処理ユニットとが混じ
っている装置であり、湿式処理ユニットを下段に乾式処
理ユニットを上段に積層させることで湿式処理ユニット
のメンテナンス性を確保するとともに、多段に構成する
ことによる装置の占有床面積の低減を図っている。そし
て、湿式処理ユニットから乾式処理ユニットに、あるい
は乾式処理ユニットから湿式処理ユニットに基板を移す
ために、これらのユニット間をつなぐ基板移載手段を設
けている。
The apparatus according to the present invention is an apparatus in which the first and second wet processing units and the first and second dry processing units are mixed, and the wet processing unit is stacked on the lower stage and the dry processing unit is stacked on the upper stage. By doing so, the maintainability of the wet processing unit is ensured, and the occupied floor area of the apparatus is reduced by using a multi-stage configuration. In order to transfer a substrate from the wet processing unit to the dry processing unit or from the dry processing unit to the wet processing unit, a substrate transfer unit connecting these units is provided.

【0026】このように、処理部が多段に配置される基
板処理装置において第1及び第2湿式処理ユニットを1
段目に配し、乾式処理ユニットとの間の基板の移載を基
板移載手段により行わせるようにしたため、湿式処理ユ
ニットのメンテナンス性が確保される。また、上段に湿
式処理ユニットを配するような場合には処理液の漏れが
下にある処理ユニットに悪影響を与える恐れが高いが、
本装置ではこのような不具合がなくなる。
As described above, in the substrate processing apparatus in which the processing units are arranged in multiple stages, the first and second wet processing units are connected to one another.
Since it is arranged at the lower stage and the substrate transfer between the dry processing unit and the dry processing unit is performed by the substrate transfer means, the maintainability of the wet processing unit is ensured. In addition, in the case where a wet processing unit is arranged in the upper stage, there is a high possibility that leakage of the processing liquid may adversely affect the processing unit below,
The present apparatus eliminates such a problem.

【0027】請求項6に係る多段基板処理装置は、請求
項5に記載の装置であって、第1湿式処理ユニット及び
第2湿式処理ユニットは、基板の搬送方向に沿って直列
に配置される。第2乾式処理ユニット及び第1乾式処理
ユニットは、第1及び第2湿式処理ユニットの上方に積
層される。基板移載手段は、上下に基板を移動させるこ
とが可能なものである。基板移載手段は、第1湿式処理
ユニットと第2湿式処理ユニットとの間と、第2湿式処
理ユニットの後ろ側とにそれぞれ配置される。、また、
これらの基板移載手段は、第1湿式処理ユニットから第
1乾式処理ユニットに、第1乾式処理ユニットから第2
湿式処理ユニットに、及び第2湿式処理ユニットから第
2乾式処理ユニットに基板を移載する。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a multi-stage substrate processing apparatus according to the fifth aspect, wherein the first wet processing unit and the second wet processing unit are arranged in series along the substrate transport direction. . The second dry processing unit and the first dry processing unit are stacked above the first and second wet processing units. The substrate transfer means can move the substrate up and down. The substrate transfer means is disposed between the first wet processing unit and the second wet processing unit and on the rear side of the second wet processing unit. ,Also,
These substrate transfer means are provided from the first wet processing unit to the first dry processing unit and from the first dry processing unit to the second dry processing unit.
The substrate is transferred to the wet processing unit and from the second wet processing unit to the second dry processing unit.

【0028】ここでは、直列に配置された第1湿式処理
ユニット及び第2湿式処理ユニットの上方に第2乾式処
理ユニット及び第1乾式処理ユニットを積層し、上下に
基板を移動させる基板移載手段を両湿式処理ユニット間
と第2湿式処理ユニットの後方に配置している。そし
て、この装置における被処理基板は、第1湿式処理ユニ
ットでの処理を終えた後に基板移載手段により第1湿式
処理ユニットから第1乾式処理ユニットに運ばれ、第1
乾式処理ユニットでの処理を終えると基板移載手段によ
って第2湿式処理ユニットに運ばれる。さらに基板は、
第2湿式処理ユニットでの処理を終えた後に、基板移載
手段により第2湿式処理ユニットから第2乾式処理ユニ
ットに運ばれる。
Here, the second dry processing unit and the first dry processing unit are stacked above the first wet processing unit and the second wet processing unit arranged in series, and substrate transfer means for moving the substrate up and down. Are disposed between the two wet processing units and behind the second wet processing unit. The substrate to be processed in this apparatus is transported from the first wet processing unit to the first dry processing unit by the substrate transfer means after finishing the processing in the first wet processing unit, and
After the processing in the dry processing unit is completed, the substrate is transferred to the second wet processing unit by the substrate transfer means. In addition, the substrate
After finishing the processing in the second wet processing unit, the substrate is transferred from the second wet processing unit to the second dry processing unit by the substrate transfer means.

【0029】したがって、基板は、まず下段の第1湿式
処理ユニットから上段の第1乾式処理ユニットに移り、
次に上段の第1乾式処理ユニットから下段の第2湿式処
理ユニットに移り、そして下段の第2湿式処理ユニット
から上段の第2乾式処理ユニットに移る。
Accordingly, the substrate is first transferred from the lower first wet processing unit to the upper first dry processing unit.
Next, the process moves from the upper first dry processing unit to the lower second wet processing unit, and moves from the lower second wet processing unit to the upper second dry processing unit.

【0030】このように、ここでは基板の移動軌跡が、
鉛直面に描かれた8の字のような軌跡となる。ここで
は、基板を上下に移動させる基板移載手段によってこの
ような基板の軌跡を描かせることで、第1及び第2湿式
処理ユニットを1段目に配置することが可能となり、こ
れら湿式処理ユニットのメンテナンス性を確保すること
ができている。
Thus, here, the movement locus of the substrate is
The trajectory looks like a figure eight drawn on a vertical plane. Here, it is possible to arrange the first and second wet processing units in the first stage by drawing such a locus of the substrate by the substrate transfer means for moving the substrate up and down. Maintainability is ensured.

【0031】請求項7に係る多段基板処理装置は、請求
項6に記載の装置であって、バッファ部をさらに備えて
いる。バッファ部は、基板移載手段の側方に配置される
もので、基板を待機させることができる。
A multi-stage substrate processing apparatus according to a seventh aspect is the apparatus according to the sixth aspect, further comprising a buffer unit. The buffer unit is disposed on the side of the substrate transfer unit, and can hold the substrate on standby.

【0032】ここでは、各処理ユニットにおける基板処
理の時間に差がある場合等にも、処理ユニット間で基板
を移載する基板移載手段の側方にバッファ部が設けられ
ているため、ここに基板を待機させて時間差を吸収させ
ることが可能である。これにより、装置全体としての基
板処理の効率化を図ることができ、処理時間の短縮も可
能となる。
Here, even when there is a difference in the time of substrate processing in each processing unit, a buffer unit is provided beside the substrate transfer means for transferring substrates between processing units. It is possible to make the substrate stand by and absorb the time difference. As a result, the efficiency of substrate processing as a whole apparatus can be improved, and the processing time can be reduced.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】[第1実施形態] <全体構成>本発明の一実施形態に係る多段の基板処理
装置を図1に示す。この多段基板処理装置1は、複数の
処理ユニットを接続して一貫した処理を可能にした装置
であって、フォトリソグラフィ工程においてレジスト塗
布前洗浄からレジスト塗布までを連続して行えるように
した装置である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First Embodiment <Overall Configuration> FIG. 1 shows a multi-stage substrate processing apparatus according to one embodiment of the present invention. This multi-stage substrate processing apparatus 1 is an apparatus that connects a plurality of processing units to enable consistent processing, and is an apparatus that enables continuous processing from cleaning before resist coating to resist coating in a photolithography process. is there.

【0034】多段基板処理装置1は、図1に示すよう
に、主として、インデクサー2と、洗浄ユニット10
と、脱水ベークユニット20と、レジスト塗布ユニット
30と、プリベークユニット40と、上下動ロボット2
a,51,52とを備えている。また、上下動ロボット
51,52の側方には、図2に示すように、多段に構成
され複数のガラス基板を収容して待機させることができ
るバッファ(バッファ部)61,62,63,64が配
置されている。この多段基板処理装置1はユニカセット
方式であり、インデクサー2に載置されたカセットCか
らガラス基板(以下、基板という。)を取り出して各ユ
ニットへ送り出し、各処理工程を終えた基板を同じカセ
ットCに収納する。カセットCからの取り出し及びカセ
ットCへの収納は、上下動ロボット2aによって行う。
As shown in FIG. 1, the multi-stage substrate processing apparatus 1 mainly includes an indexer 2 and a cleaning unit 10.
, A dehydration bake unit 20, a resist coating unit 30, a pre-bake unit 40, and a vertically moving robot 2
a, 51, and 52. As shown in FIG. 2, buffers (buffer units) 61, 62, 63, and 64, which are configured in multiple stages and accommodate a plurality of glass substrates, can be placed on standby beside the vertically moving robots 51 and 52. Is arranged. The multi-stage substrate processing apparatus 1 is of a uni-cassette type, in which a glass substrate (hereinafter, referred to as a substrate) is taken out from a cassette C placed on an indexer 2 and sent out to each unit, and a substrate after each processing step is placed in the same cassette. Store in C. Removal from the cassette C and storage in the cassette C are performed by the vertically moving robot 2a.

【0035】この多段基板処理装置1では、インデクサ
ー2から基板が搬送される向きに沿って洗浄ユニット1
0とレジスト塗布ユニット30とが直列に配置されてお
り、洗浄ユニット10の上方にはプリベークユニット4
0が、レジスト塗布ユニット30の上方には脱水ベーク
ユニット20が積層されている。なお、各ユニット1
0,20,30,40は、その設置面積が等しく設計さ
れている。そして、上下動ロボット2aはインデクサー
2のカセットCと洗浄ユニット10及びプリベークユニ
ット40との間に、上下動ロボット51は洗浄ユニット
10及びプリベークユニット40とレジスト塗布ユニッ
ト30及び脱水ベークユニット20との間に、上下動ロ
ボット52は、レジスト塗布ユニット30及び脱水ベー
クユニット20のインデクサー2側と反対側に、それぞ
れ配置されている。
In the multi-stage substrate processing apparatus 1, the cleaning unit 1 is moved along the direction in which the substrate is transported from the indexer 2.
0 and a resist coating unit 30 are arranged in series, and a pre-bake unit 4 is provided above the cleaning unit 10.
The dewatering bake unit 20 is stacked above the resist coating unit 30. Each unit 1
0, 20, 30, and 40 are designed to have the same installation area. The vertical robot 2a is between the cassette C of the indexer 2 and the cleaning unit 10 and the pre-bake unit 40, and the vertical robot 51 is between the cleaning unit 10 and the pre-bake unit 40 and the resist coating unit 30 and the dehydration bake unit 20. The vertically moving robot 52 is disposed on the resist coating unit 30 and the dehydration bake unit 20 on the side opposite to the indexer 2 side.

【0036】<各ユニット等の構成>洗浄ユニット10
は、連続枚葉式の湿式の処理ユニットであって、搬入部
11、UV照射部12、洗浄部13、液滴除去部14、
及び搬出部15から構成されている。この洗浄ユニット
10では、ローラコンベアによって基板を搬送しつつ、
各部での処理を行う。洗浄部13では、純水あるいは薬
液(処理液)を用いたブラシ,高圧スプレー等による洗
浄が行われる。各部の下方の空間には、洗浄部13に処
理液を供給するための処理液槽や配管、高圧空気・排気
・排液・排水等の各種配管、制御装置や電気配線等が配
置される。
<Configuration of Each Unit> Cleaning unit 10
Is a continuous single-wafer type wet processing unit, and includes a carry-in unit 11, a UV irradiation unit 12, a cleaning unit 13, a droplet removal unit 14,
And an unloading section 15. In this cleaning unit 10, while transporting the substrate by the roller conveyor,
Perform processing in each part. In the cleaning unit 13, cleaning is performed using a brush, high-pressure spray, or the like using pure water or a chemical solution (treatment liquid). In the space below each part, processing liquid tanks and pipes for supplying a processing liquid to the cleaning unit 13, various pipes for high-pressure air, exhaust, drainage, drainage, and the like, control devices, electric wiring, and the like are arranged.

【0037】脱水ベークユニット20は、処理液等の液
体を使用しない乾式の処理ユニットであって、加熱室及
び密着強化室が多段に重ねられた加熱部21と、冷却室
が多段に重ねられた冷却部22と、基板を搬送する旋回
ロボット23とから構成されている。
The dehydration bake unit 20 is a dry processing unit that does not use a liquid such as a processing liquid, and has a heating section 21 in which a heating chamber and an adhesion strengthening chamber are stacked in multiple stages, and a cooling chamber in multiple stages. It comprises a cooling unit 22 and a turning robot 23 for transporting the substrate.

【0038】レジスト塗布ユニット30は、レジスト
(塗布液)を使用する湿式の処理ユニットであって、搬
入部31、スピンコータ部32、レベリング処理部3
3、エッジリンス部34、及び搬出部35から構成され
ている。このレジスト塗布ユニット30では、基板を隣
接する処理部へ順送りしてゆくスライダーによって基板
を搬送する。
The resist coating unit 30 is a wet processing unit that uses a resist (coating liquid), and includes a loading unit 31, a spin coater unit 32, and a leveling processing unit 3.
3, an edge rinsing section 34, and an unloading section 35. In the resist coating unit 30, the substrate is transported by a slider that sequentially advances the substrate to an adjacent processing unit.

【0039】プリベークユニット40は、処理液等の液
体を使用しない乾式の処理ユニットであって、加熱室及
び密着強化室が多段に重ねられた加熱部41と、冷却室
が多段に重ねられた冷却部42と、基板を搬送する旋回
ロボット43とから構成されている。
The pre-bake unit 40 is a dry processing unit that does not use a liquid such as a processing liquid. The pre-baking unit 40 includes a heating section 41 in which a heating chamber and an adhesion strengthening chamber are stacked in multiple stages, and a cooling section in which cooling chambers are stacked in multiple stages. It is composed of a section 42 and a turning robot 43 for transporting a substrate.

【0040】上下動ロボット51は、上下移動及び旋回
してそのハンドを伸ばすことによって、洗浄ユニット1
0の搬出部15、脱水ベークユニット20の加熱部2
1、レジスト塗布ユニット30の搬出部35、及びプリ
ベークユニット40の加熱部41にアクセス可能なロボ
ットである。
The up-and-down robot 51 moves up and down and turns to extend the hand, and thereby the cleaning unit 1 is moved.
0 carry-out unit 15, heating unit 2 of dehydration bake unit 20
1. A robot capable of accessing the carry-out section 35 of the resist coating unit 30 and the heating section 41 of the pre-bake unit 40.

【0041】上下動ロボット52は、上下移動及び旋回
してそのハンドを伸ばすことによって、脱水ベークユニ
ット20の冷却部22及びレジスト塗布ユニット30の
搬入部31にアクセス可能なロボットである。
The vertically moving robot 52 is a robot that can access the cooling unit 22 of the dehydration bake unit 20 and the carry-in unit 31 of the resist coating unit 30 by moving up and down and turning to extend the hand.

【0042】一方、上下動ロボット2aは、上下移動及
び旋回してそのハンドを伸ばすことによって洗浄ユニッ
ト10の搬入部11及びプリベークユニット40の冷却
部42にアクセス可能であるとともに、インデクサー2
のカセットCの並べられる方向(図2の上下方向)に沿
って上下動ロボット2a自体の平面的な移動が可能であ
り、各カセットCにアクセスすることができる。
On the other hand, the up-down robot 2a can access the carry-in section 11 of the cleaning unit 10 and the cooling section 42 of the pre-bake unit 40 by moving up and down and turning to extend the hand.
The vertical motion robot 2a itself can move in a plane along the direction in which the cassettes C are arranged (vertical direction in FIG. 2), and can access each cassette C.

【0043】<基板処理>次に、多段基板処理装置1に
よる基板の処理について、順に説明する。本装置1で
は、以下に記すように、図1の白抜きの矢印で示すよう
に基板が移動して、各ユニットの処理部において処理を
受ける。すなわち、基板は単にUターンしてインデクサ
ー2のカセットCに帰ってくるのではなく、8の字状に
移動しながら基板処理を受けてカセットCに戻る動きを
する。
<Substrate Processing> Next, substrate processing by the multi-stage substrate processing apparatus 1 will be described in order. In the present apparatus 1, as described below, the substrate moves as indicated by the white arrow in FIG. 1 and undergoes processing in the processing unit of each unit. That is, the substrate does not simply return to the cassette C of the indexer 2 by making a U-turn, but performs a substrate processing and returns to the cassette C while moving in a figure eight shape.

【0044】インデクサー2において上下動ロボット2
aによりカセットCから取り出された基板は、まず、洗
浄ユニット10の搬入部11に運ばれる。ここからUV
照射部12に運ばれた基板は、紫外線の照射を受けて、
その表面の有機汚染物が酸化分解される。続けて基板は
洗浄部13へと運ばれ、ロールブラシによるスクラブ洗
浄及び高圧ジェットスプレーによる純水での洗浄が行わ
れる。この後、基板は、液滴除去部14において、エア
ーナイフにより表面に残留する純水の液滴が飛ばされ
る。
The vertically moving robot 2 in the indexer 2
The substrate taken out of the cassette C by a is first carried to the carry-in section 11 of the cleaning unit 10. UV from here
The substrate carried to the irradiation unit 12 is irradiated with ultraviolet light,
Organic contaminants on the surface are oxidatively decomposed. Subsequently, the substrate is transported to the cleaning unit 13 where scrub cleaning with a roll brush and cleaning with pure water by high-pressure jet spray are performed. Thereafter, in the droplet removing unit 14, the droplet of pure water remaining on the surface of the substrate is blown off by an air knife.

【0045】洗浄ユニット10での処理を終えて搬出部
15に移された基板は、上下動ロボット51によって脱
水ベークユニット20の加熱部21に移される。ここで
は、上下動ロボット51は、搬出部15から基板を取り
出し、基板を保持したまま上昇して、加熱部21の加熱
室に基板を載置する。脱水ベークユニット20の加熱部
21の加熱室においては、基板は、ホットプレートによ
って加熱されて水分が取り除かれる。次に基板は、旋回
ロボット23によって加熱部21の密着強化室に運ばれ
る。密着強化室では、レジスト膜と基板との密着性向上
を目的として、基板に対して加熱を施しつつHMDS
(ヘキサメチルジシラザン)を蒸気状にして塗布する。
この後、基板は、さらに冷却部22の複数の冷却室のい
ずれかに運ばれ、クールプレートによって冷却される。
The substrate transferred to the unloading section 15 after the processing in the cleaning unit 10 is transferred to the heating section 21 of the dehydration bake unit 20 by the vertically moving robot 51. Here, the vertically moving robot 51 takes out the substrate from the unloading section 15, moves up while holding the substrate, and places the substrate in the heating chamber of the heating section 21. In the heating chamber of the heating unit 21 of the dehydration bake unit 20, the substrate is heated by a hot plate to remove moisture. Next, the substrate is carried by the revolving robot 23 to the adhesion strengthening room of the heating unit 21. In the adhesion strengthening chamber, HMDS is applied to the substrate while heating it to improve the adhesion between the resist film and the substrate.
(Hexamethyldisilazane) is applied in a vapor state.
Thereafter, the substrate is further transported to one of the plurality of cooling chambers of the cooling unit 22 and cooled by the cool plate.

【0046】このようにレジスト塗布処理の前処理とし
て脱水ベークが施された基板は、上下動ロボット52に
よってレジスト塗布ユニット30の搬入部31に運ばれ
る。ここでは、上下動ロボット52は、冷却部22の冷
却室から基板を取り出し、基板を保持したまま下降し
て、レジスト塗布ユニット30の搬入部31に基板を載
置する。
The substrate which has been subjected to the dehydration bake as a pretreatment of the resist coating process is carried to the carry-in section 31 of the resist coating unit 30 by the vertically moving robot 52. Here, the vertically moving robot 52 takes out the substrate from the cooling chamber of the cooling unit 22, descends while holding the substrate, and places the substrate on the loading unit 31 of the resist coating unit 30.

【0047】レジスト塗布ユニット30では、まずスラ
イダーによって基板がスピンコータ部32に運ばれ、基
板に対してレジストの塗布が行われる。スピンコータ部
32は、レジスト供給系、スピンモータ、カップ等によ
り構成されており、水平にした基板上にレジストを滴下
し基板を回転させることによって基板上に均一なレジス
ト膜を形成させる。レジスト膜が形成された基板は、レ
ベリング処理部33に運ばれて、レジスト膜のレベリン
グ及び乾燥処理が行われる。この後、基板はエッジリン
ス部34に移され、ここで、基板端面のレジスト膜が剥
がれて発塵してしまうことを防止するために、基板表面
の周辺や端面部分のレジストを溶剤により取り除く処理
が行われる。これらのレジスト塗布に関する各処理を終
えた基板は、スライダーによって搬出部35に運ばれ
る。
In the resist coating unit 30, first, the substrate is carried to the spin coater 32 by the slider, and the resist is coated on the substrate. The spin coater unit 32 includes a resist supply system, a spin motor, a cup, and the like, and forms a uniform resist film on the substrate by dropping the resist on a horizontal substrate and rotating the substrate. The substrate on which the resist film is formed is transported to the leveling processing section 33, where the leveling and drying of the resist film are performed. Thereafter, the substrate is transferred to an edge rinsing section 34. Here, in order to prevent the resist film on the end face of the substrate from being peeled off and generating dust, a process of removing the resist on the periphery and the end face portion of the substrate surface with a solvent. Is performed. The substrate that has been subjected to each of the processes related to the resist coating is carried to the carry-out unit 35 by the slider.

【0048】レジスト塗布ユニット30での処理を終え
て搬出部35に移された基板は、上下動ロボット51に
よってプリベークユニット40の加熱部41に移され
る。ここでは、上下動ロボット51は、搬出部35から
基板を取り出し、基板を保持したまま上昇して、加熱部
41の加熱室に基板を載置する。プリベークユニット4
0の加熱部41では、基板上のレジスト膜中の残留溶剤
の蒸発と基板の密着性強化を目的として、加熱処理が行
われる。その後基板は旋回ロボット43により冷却部4
2に運ばれ、ここで冷却される。
The substrate that has been transferred to the unloading section 35 after the processing in the resist coating unit 30 has been transferred to the heating section 41 of the pre-bake unit 40 by the vertically moving robot 51. Here, the vertically moving robot 51 takes out the substrate from the unloading section 35, moves up while holding the substrate, and places the substrate in the heating chamber of the heating section 41. Pre-bake unit 4
In the 0 heating unit 41, a heating process is performed for the purpose of evaporating the residual solvent in the resist film on the substrate and enhancing the adhesion of the substrate. Thereafter, the substrate is cooled by the rotating robot 43 into the cooling unit 4.
2 where it is cooled.

【0049】プリベークがされた基板は、上下動ロボッ
ト2aによって冷却部42から取り出され、カセットC
に戻される。ここでは、上下動ロボット2aは、冷却部
42から基板を取り出し、基板を保持したまま下降し
て、カセットCに基板を載置する。
The pre-baked substrate is taken out of the cooling section 42 by the vertically moving robot 2a, and the cassette C
Is returned to. Here, the vertically moving robot 2a takes out the substrate from the cooling unit 42, descends while holding the substrate, and places the substrate on the cassette C.

【0050】<装置の特徴> (1)本装置1は、湿式の処理ユニットである洗浄ユニ
ット10及びレジスト塗布ユニット30と乾式の処理ユ
ニットである脱水ベークユニット20及びプリベークユ
ニット40とが混在している装置であり、基板には湿式
処理ユニットでの処理と乾式処理ユニットでの処理が交
互に施される。したがって、従来のUターン型の装置を
単に多段の装置としたのでは、上段に配置される湿式処
理ユニットが出現してしまい、メンテナンス性の悪化や
処理液の漏洩による下段のユニットへの悪影響といった
不具合が発生する(図6参照)。
<Features of Apparatus> (1) In the present apparatus 1, the cleaning unit 10 and the resist coating unit 30 which are wet processing units, and the dehydration bake unit 20 and the pre-bake unit 40 which are dry processing units are mixed. The substrate is subjected to processing in the wet processing unit and processing in the dry processing unit alternately. Therefore, if a conventional U-turn type device is simply replaced with a multi-stage device, a wet processing unit disposed at the upper stage will appear, which will deteriorate maintenance performance and adversely affect the lower unit due to leakage of the processing solution. A trouble occurs (see FIG. 6).

【0051】これに対して本装置1では、上下動ロボッ
ト2a,51,52、特に上下動ロボット51を設置し
て、下段の湿式処理ユニットと上段の乾式処理ユニット
との間で基板の移載を可能にしている。そして、基板を
Uターン型に移動させるのではなく、8の字状に移動さ
せることによって、両湿式処理ユニット(洗浄ユニット
10及びレジスト塗布ユニット30)の両方をメンテナ
ンスのし易い下段に配置している(図1参照)。このよ
うに、湿式処理ユニット10,30を下段に乾式処理ユ
ニット20,40を上段に積層させることで、湿式処理
ユニット10,30のメンテナンス性を確保するととも
に、多段に構成することによる装置1の占有床面積の低
減が達成されている。また、本装置1では、洗浄液やレ
ジスト(処理液)の漏洩による下段のユニットへの悪影
響もなくなる。
On the other hand, in the present apparatus 1, the vertically moving robots 2a, 51 and 52, especially the vertically movable robot 51 are installed, and the substrate is transferred between the lower wet processing unit and the upper dry processing unit. Is possible. Then, instead of moving the substrate in a U-turn shape, by moving the substrate in a figure-eight shape, both wet processing units (the cleaning unit 10 and the resist coating unit 30) are arranged in a lower stage where maintenance is easy. (See FIG. 1). In this way, by laminating the wet processing units 10 and 30 on the lower stage and the dry processing units 20 and 40 on the upper stage, the maintainability of the wet processing units 10 and 30 is ensured, and the apparatus 1 is configured in multiple stages. A reduction in occupied floor space has been achieved. Further, in the present apparatus 1, the lower unit is not adversely affected by the leakage of the cleaning liquid or the resist (processing liquid).

【0052】(2)本装置1では、各ユニット10,2
0,30,40における基板処理の時間に差がある場合
にも、上下動ロボット51,52の側方にバッファ6
1,62,63,64が設けられているため、ここに基
板を待機させて時間差を吸収させることができる。
(2) In the present apparatus 1, each unit 10, 2
Even when there is a difference between the substrate processing times at 0, 30, and 40, the buffer 6 is provided beside the vertically moving robots 51 and 52.
Since 1, 62, 63 and 64 are provided, the substrate can be made to stand by here to absorb the time difference.

【0053】また、洗浄及び脱水ベークを終えた基板に
対してレジスト塗布及びプリベークだけを行いたい場合
に、バッファ63やバッファ64に基板を入れレジスト
塗布ユニット30で塗布処理を施した後に脱水ベークユ
ニット20を使って基板をプリベークさせてバッファ6
3やバッファ64に基板を戻したり、バッファ63やバ
ッファ64に基板を入れレジスト塗布ユニット30及び
プリベークユニット40で基板処理をしてインデクサー
2に基板を搬出したりすることができる。このように、
バッファが設けられているため、いろいろなパターンの
基板処理を行わせることも可能である。
When it is desired to apply only the resist and pre-bake to the substrate that has been washed and dehydrated and baked, the substrate is placed in the buffer 63 or the buffer 64 and the resist coating unit 30 performs the coating process. Prebake the substrate using buffer 20
The substrate can be returned to the buffer 3 or the buffer 64, or the substrate can be put into the buffer 63 or the buffer 64, processed by the resist coating unit 30 and the pre-bake unit 40, and then unloaded to the indexer 2. in this way,
Since the buffer is provided, it is possible to perform various patterns of substrate processing.

【0054】(3)本装置では、各ユニット10,2
0,30,40の設置面積が等しく設計されているた
め、これらを多段に配したときの構造的な安定性が良
く、上下動ロボット2a,51,52による各ユニット
へのアクセスも容易となっている。
(3) In this apparatus, each unit 10, 2
Since the installation areas of 0, 30, and 40 are designed to be equal, the structural stability when these are arranged in multiple stages is good, and the vertical motion robots 2a, 51, and 52 can easily access each unit. ing.

【0055】[第2実施形態]上記第1実施形態ではイ
ンデクサー2に対して平面的に1ラインが配置されてい
るが(図2参照)、図3に示すように、4つのユニット
10,20,30,40等から成るラインをインデクサ
ー2に対して2本並列させるような配置を採ることもで
きる。
[Second Embodiment] In the first embodiment, one line is arranged in a plane with respect to the indexer 2 (see FIG. 2). However, as shown in FIG. , 30, 40, etc., can be arranged such that two lines are arranged in parallel to the indexer 2.

【0056】この場合には、上下に多段にユニットを配
したラインであるため、インデクサー2に対してその幅
に2ラインを収めることができる。また、インデクサー
2を供用して2ラインを配置することによって、デッド
スペースを低減することができる。
In this case, since the lines are formed by arranging the units in multiple stages vertically, two lines can be accommodated in the width of the indexer 2. In addition, the dead space can be reduced by arranging the two lines by using the indexer 2.

【0057】なお、メンテナンス性や基板の途中挿入の
便宜を考慮して、バッファ61,62は、上下動ロボッ
ト51,52の片側にだけ設け、両ライン間には設置し
ていない。
The buffers 61 and 62 are provided only on one side of the vertically moving robots 51 and 52, and are not provided between the two lines, in consideration of the maintainability and the convenience of inserting the board halfway.

【0058】このようにインデクサー2に対して2つの
ラインを配置することにより、一方が処理液の交換や昇
温等のために止まっているときにも他方のラインにおい
て基板処理を続行することができ、装置の冗長性が生ま
れる。
By arranging the two lines with respect to the indexer 2 as described above, even if one of the lines is stopped for exchanging the processing liquid or raising the temperature, the substrate processing can be continued in the other line. And equipment redundancy.

【0059】[第3実施形態]上記第1実施形態の装置
は、フォトリソグラフィ工程においてレジスト塗布前洗
浄からレジスト塗布までを連続して行えるようにした装
置であるが、図4に示すように各ユニットを配置して、
露光機91やタイトラーあるいはエッジ露光機(ここで
は、エッジ露光機)92と接続しレジスト塗布前洗浄か
らレジスト塗布・露光・現像までを連続して行えるコー
タ/デベロッパ装置を構成することもできる。
[Third Embodiment] The apparatus of the first embodiment is an apparatus capable of performing continuously from cleaning before resist application to resist application in a photolithography process. As shown in FIG. Place the unit,
A coater / developer device that can be connected to the exposure machine 91, a titler or an edge exposure machine (here, an edge exposure machine) 92 and can continuously perform cleaning from pre-resist coating to resist coating, exposure, and development can be configured.

【0060】<全体構成>この多段基板処理装置は、イ
ンデクサー2と露光機91との間にラインを2本並列さ
せるような配置を採っており、両ラインの中間に位置す
る受渡部65,66を介して両ライン間で基板を受け渡
すことができるようにしている。本装置は、インデクサ
ー2と、洗浄ユニット10と、脱水ベークユニット20
と、レジスト塗布ユニット30と、プリベークユニット
40と、現像ユニット81と、ポストベークユニット8
2と、上下動ロボット2a,51a,51b,52b
と、旋回ロボット52aとを備えている。また、上下動
ロボット51a,51b,52b及び旋回ロボット52
aの外側には、バッファ61,62,63,64が配置
されている。上下動ロボット51aと上下動ロボット5
1bとの間には受渡部65が、上下動ロボット52bと
旋回ロボット52aとの間には受渡部66がそれぞれ配
置されている。
<Overall Configuration> This multi-stage substrate processing apparatus employs an arrangement in which two lines are arranged in parallel between the indexer 2 and the exposing machine 91, and the transfer sections 65 and 66 located between the two lines. The substrate can be transferred between the two lines via the. The apparatus includes an indexer 2, a cleaning unit 10, a dehydration bake unit 20
, A resist coating unit 30, a pre-baking unit 40, a developing unit 81, and a post-baking unit 8.
2 and a vertically moving robot 2a, 51a, 51b, 52b
And a turning robot 52a. In addition, the vertically moving robots 51a, 51b, 52b and the turning robot 52
Buffers 61, 62, 63, and 64 are arranged outside a. Up and down robot 51a and up and down robot 5
1b, and a delivery unit 66 is arranged between the vertically moving robot 52b and the turning robot 52a.

【0061】この装置では、図4の下側のライン(以
下、第1ラインという。)には、1階(1F)に洗浄ユ
ニット10が、2階にポストベークユニット82が配置
されている。そして、上下動ロボット51aを挟んで露
光機91側にはエッジ露光機92が配置されているが、
このエッジ露光機92には旋回ロボット52aのみがア
クセス可能であり、上下動ロボット51aはアクセスし
ない。また、図4の上側のライン(以下、第2ラインと
いう。)には、インデクサー2から露光機91に向かう
向きに沿って1階にレジスト塗布ユニット30と現像ユ
ニット81とが直列に配置されており、レジスト塗布ユ
ニット30の上方には脱水ベークユニット20が、現像
ユニット81の上方にはプリベークユニット40が積層
されている。
In this apparatus, the cleaning unit 10 is arranged on the first floor (1F) and the post-bake unit 82 is arranged on the second floor in the lower line (hereinafter referred to as the first line) in FIG. An edge exposing machine 92 is arranged on the exposing machine 91 side with the vertically moving robot 51a interposed therebetween.
Only the revolving robot 52a can access the edge exposure machine 92, and the up-and-down moving robot 51a does not. 4, the resist coating unit 30 and the developing unit 81 are arranged in series on the first floor along the direction from the indexer 2 to the exposure device 91. The dewatering bake unit 20 is stacked above the resist coating unit 30, and the prebake unit 40 is stacked above the developing unit 81.

【0062】そして、上下動ロボット2aはインデクサ
ー2のカセットCと両ラインとの間に、上下動ロボット
51aは洗浄ユニット10及びポストベークユニット8
2の後方に、上下動ロボット51bはレジスト塗布ユニ
ット30及び脱水ベークユニット20と現像ユニット8
1及びプリベークユニット40との間に、上下動ロボッ
ト52bは現像ユニット81及びプリベークユニット4
0と露光機91との間に、旋回ロボット52aはエッジ
露光機92と露光機91との間に、それぞれ配置されて
いる。
The vertical robot 2a moves between the cassette C of the indexer 2 and both lines, and the vertical robot 51a moves between the cleaning unit 10 and the post-baking unit 8.
2, the vertical movement robot 51 b includes the resist coating unit 30, the dehydration bake unit 20, and the developing unit 8.
1 and the pre-bake unit 40, the vertically moving robot 52b
The rotating robot 52 a is disposed between the edge exposing device 92 and the exposing device 91, respectively.

【0063】<各ユニット等の構成>洗浄ユニット1
0、脱水ベークユニット20、レジスト塗布ユニット3
0、プリベークユニット40の構成については、上記第
1実施形態のものと同様である。但し、一連の各処理部
の並びについては、図4に白抜きの矢印で示すように基
板が流れる向きに並べられている。
<Configuration of Each Unit and the Like> Cleaning Unit 1
0, dehydration bake unit 20, resist coating unit 3
The configuration of the pre-bake unit 40 is the same as that of the first embodiment. However, the arrangement of the series of processing units is arranged in the direction in which the substrates flow, as indicated by white arrows in FIG.

【0064】現像ユニット81は、現像液を使用する湿
式の処理ユニットであって、露光機91側から順に並べ
られている搬入部、現像部、水洗部、乾燥部、及び搬出
部から構成されている。搬入部から搬出部までは、コン
ベアによって基板を水平方向に搬送する。
The developing unit 81 is a wet processing unit using a developing solution, and includes a carry-in section, a developing section, a washing section, a drying section, and a carry-out section which are arranged in order from the exposure machine 91 side. I have. From the loading unit to the unloading unit, the substrate is transported in a horizontal direction by a conveyor.

【0065】ポストベークユニット82は、処理液等の
液体を使用しない乾式の処理ユニットであって、加熱室
が多段に重ねられた加熱部と、冷却室が多段に重ねられ
た冷却部と、基板を搬送する旋回ロボットとから構成さ
れている。
The post-baking unit 82 is a dry processing unit that does not use a liquid such as a processing liquid. The post-baking unit 82 includes a heating section in which heating chambers are stacked in multiple stages, a cooling section in which cooling chambers are stacked in multiple stages, and a substrate. And a turning robot for transporting the robot.

【0066】上下動ロボット51aは、上下移動及び旋
回してそのハンドを伸ばすことによって、洗浄ユニット
10の搬出部、ポストベークユニット82の加熱部、受
渡部65、及びバッファ61にアクセス可能なロボット
である。
The vertically moving robot 51a is a robot that can access the unloading section of the cleaning unit 10, the heating section of the post-bake unit 82, the transfer section 65, and the buffer 61 by moving up and down and turning to extend the hand. is there.

【0067】上下動ロボット51bは、上下移動及び旋
回してそのハンドを伸ばすことによって、レジスト塗布
ユニット30の搬出部、脱水ベークユニット20の加熱
部、現像ユニット81の搬出部、プリベークユニット4
0の加熱部、受渡部65、及びバッファ62にアクセス
可能なロボットである。
The vertically moving robot 51b is moved up and down and turned to extend its hand, so that the carry-out part of the resist coating unit 30, the heating part of the dehydration bake unit 20, the carry-out part of the developing unit 81, the pre-bake unit 4
0 is a robot that can access the heating unit, the delivery unit 65, and the buffer 62.

【0068】上下動ロボット52bは、上下移動及び旋
回してそのハンドを伸ばすことによって、現像ユニット
81の搬入部、プリベークユニット40の冷却部、露光
機91、受渡部66、及びバッファ63にアクセス可能
なロボットである。
The vertically moving robot 52b moves up and down and turns to extend the hand, thereby accessing the loading section of the developing unit 81, the cooling section of the pre-bake unit 40, the exposure device 91, the delivery section 66, and the buffer 63. Robot.

【0069】旋回ロボット52aは、多少の上下移動、
旋回、及びそのハンドを伸ばすことによって、露光機9
1、エッジ露光機92、受渡部66、及びバッファ64
にアクセス可能なロボットである。
The turning robot 52a moves slightly up and down,
By turning and extending the hand, the exposure machine 9
1. Edge exposure machine 92, delivery unit 66, and buffer 64
A robot that can be accessed.

【0070】上下動ロボット2aは、上下移動及び旋回
してそのハンドを伸ばすことによって、洗浄ユニット1
0の搬入部、ポストベークユニット82の冷却部、レジ
スト塗布ユニット30の搬入部、脱水ベークユニット2
0の冷却部、及び各カセットCにアクセス可能なロボッ
トである。この上下動ロボット2aは、インデクサー2
のカセットCの並べられる方向(図4の上下方向)に沿
って上下動ロボット2a自体の平面的な移動が可能であ
る。
The up-down robot 2a moves up and down and turns to extend the hand, and thereby the cleaning unit 1
0, the cooling section of the post-baking unit 82, the loading section of the resist coating unit 30, the dewatering baking unit 2
0, and a robot that can access each cassette C. The up-and-down robot 2a includes an indexer 2
The vertical robot 2a itself can move in a plane along the direction in which the cassettes C are arranged (vertical direction in FIG. 4).

【0071】<基板処理>次に、図4に示す多段基板処
理装置による基板の処理について、順に説明する。本装
置では、以下に記すように、図4の白抜きの矢印で示す
ようにインデクサー2から丸で囲った数字の順に基板が
移動して、各ユニットの各処理部において処理を受け
る。すなわち、基板は、1階と2階との間の移動、両ラ
イン間の移動を行いながら、基板処理を受けてカセット
Cに戻る動きをする。なお、第1実施形態に記載してい
る各ユニットでの基板処理の内容については説明を省略
し、以下基板の移動を中心に説明する。
<Substrate Processing> Next, processing of a substrate by the multi-stage substrate processing apparatus shown in FIG. 4 will be described in order. In this apparatus, as described below, the substrates move from the indexer 2 in the order of the circled numbers as indicated by the white arrows in FIG. 4 and undergo processing in each processing unit of each unit. That is, the substrate receives the substrate processing and moves back to the cassette C while moving between the first floor and the second floor and between the two lines. The description of the substrate processing in each unit described in the first embodiment will be omitted, and the following description will focus on the movement of the substrate.

【0072】インデクサー2において上下動ロボット2
aによりカセットCから取り出された基板は、まず、第
1ライン1階の洗浄ユニット10の搬入部に運ばれる。
洗浄ユニット10での処理を終えて搬出部に移された基
板は、上下動ロボット51aによって受渡部65に移さ
れた後、ここから上下動ロボット51bによって第2ラ
イン2階の脱水ベークユニット20の加熱部に移され
る。
The vertically moving robot 2 in the indexer 2
The substrate taken out of the cassette C by a is first carried to the carry-in section of the cleaning unit 10 on the first floor of the first line.
The substrate transferred to the unloading section after the processing in the cleaning unit 10 is transferred to the transfer section 65 by the up-down robot 51a, and then moved therefrom by the up-down robot 51b to the dehydration bake unit 20 on the second floor of the second line. Transferred to heating section.

【0073】脱水ベークユニット20において脱水ベー
クが施された基板は、上下動ロボット2aによって、第
2ライン1階のレジスト塗布ユニット30の搬入部に運
ばれる。そして、レジスト塗布ユニット30でレジスト
が塗布された基板は、上下動ロボット51bによって、
第2ライン2階のプリベークユニット40の加熱部に移
される。
The substrate subjected to the dehydration bake in the dehydration bake unit 20 is carried by the vertically moving robot 2a to the loading section of the resist coating unit 30 on the first floor of the second line. The substrate on which the resist has been applied by the resist application unit 30 is moved by the up-down robot 51b.
It is moved to the heating section of the pre-bake unit 40 on the second floor of the second line.

【0074】プリベークユニット40においてプリベー
クされた基板は、上下動ロボット52bによって、露光
機91に運ばれる。ここでは、基板上のレジストに対し
原画上にあるパターンを感光させる処理が施される。こ
こで露光された基板は、露光機91から旋回ロボット5
2aにより取り出され、エッジ露光機92に移されてエ
ッジ露光が行われる。エッジ露光では、基板上のディス
プレイ部を除く基板周辺のレジストを除去すべく露光処
理される。
The substrate pre-baked in the pre-baking unit 40 is carried to the exposure machine 91 by the vertically moving robot 52b. Here, a process of exposing a pattern on the original image to the resist on the substrate is performed. The substrate exposed here is transferred from the exposing machine 91 to the turning robot 5.
It is taken out by 2a and transferred to the edge exposure machine 92 to perform edge exposure. In the edge exposure, an exposure process is performed to remove the resist around the substrate except for the display unit on the substrate.

【0075】エッジ露光を終えた基板は、旋回ロボット
52aによって受渡部66に移され、ここから上下動ロ
ボット52bによって第2ライン1階の現像ユニット8
1の搬入部に移される。現像ユニット81においては、
スプレー現像またはパドル現像が行われ、さらに水洗及
び乾燥が行われる。
The substrate after the edge exposure is transferred to the transfer section 66 by the turning robot 52a, from which the vertical moving robot 52b moves the developing unit 8 on the first floor of the second line.
Transferred to No. 1 loading unit. In the developing unit 81,
Spray development or paddle development is performed, followed by washing with water and drying.

【0076】これらの処理を終えた基板は、現像ユニッ
ト81の搬出部から上下動ロボット51bによって受渡
部65に移される。そして、受渡部65から上下動ロボ
ット51aによって第1ライン2階のポストベークユニ
ット82に移される。ポストベークユニット82では、
基板上のレジスト膜中または表面に残留した現像液やリ
ンス液を蒸発除去し、レジストの硬化及び基板との密着
性強化を目的とした熱処理を行う。具体的には、加熱室
のホットプレートによって基板を加熱し、冷却室のクー
ルプレートによって基板を冷却する。
The substrate after these processes is transferred from the unloading section of the developing unit 81 to the transfer section 65 by the vertically moving robot 51b. Then, the wafer is transferred from the delivery section 65 to the post-bake unit 82 on the second floor of the first line by the vertically moving robot 51a. In the post bake unit 82,
A developing solution or a rinsing solution remaining in or on the surface of the resist film on the substrate is removed by evaporation, and heat treatment is performed for the purpose of curing the resist and strengthening the adhesion to the substrate. Specifically, the substrate is heated by a hot plate in a heating chamber, and the substrate is cooled by a cool plate in a cooling chamber.

【0077】ポストベークを終えた基板は、上下動ロボ
ット2aによって元のカセットCに収容される。
The substrate after the post-baking is housed in the original cassette C by the vertically moving robot 2a.

【0078】<装置の特徴> (1)本装置では、処理液を使用する湿式処理ユニット
(洗浄ユニット10,レジスト塗布ユニット30,現像
ユニット81)を1階に、処理液を使用しない乾式処理
ユニット(脱水ベークユニット20,プリベークユニッ
ト40,ポストベークユニット82)を2階に配置して
いる。そして、上下動ロボット2a,51a,51b,
52bを設置して、1階の湿式処理ユニットと2階の乾
式処理ユニットとの間で基板の移載を可能にしている。
また、受渡部65,66を設けることによって、第1ラ
インと第2ラインとにまたがる一連の基板処理を可能に
している。
<Features of Apparatus> (1) In this apparatus, a wet processing unit (cleaning unit 10, resist coating unit 30, developing unit 81) using a processing liquid is provided on the first floor, and a dry processing unit not using a processing liquid. (Dewatering baking unit 20, pre-baking unit 40, post-baking unit 82) are arranged on the second floor. Then, the vertically moving robots 2a, 51a, 51b,
52b is provided to enable the transfer of substrates between the wet processing unit on the first floor and the dry processing unit on the second floor.
In addition, by providing the transfer units 65 and 66, a series of substrate processing over the first line and the second line is enabled.

【0079】このように装置を構成することで、各湿式
処理ユニットをメンテナンスのし易い下段に配置するこ
とができ、多段に構成することによる装置の占有床面積
の低減が達成されている。
By configuring the apparatus in this manner, each wet processing unit can be arranged at the lower stage where maintenance is easy, and the floor space occupied by the apparatus can be reduced by configuring the apparatus in multiple stages.

【0080】また、受渡部65によって両ラインの中間
でラインをまたいだ基板の移動を可能としているため、
各ユニットの配置の自由度が高まり、基板を無駄に移動
させることなく一連の基板処理を行うことができてい
る。
Further, since the transfer section 65 enables the movement of the substrate across the line between the two lines,
The degree of freedom in the arrangement of each unit is increased, and a series of substrate processing can be performed without moving the substrate unnecessarily.

【0081】(2)本装置では、各ユニットにおける基
板処理の時間に差がある場合にも、バッファ61,6
2,63,64が設けられているため、ここに基板を待
機させて時間差を吸収させることができる。
(2) In the present apparatus, even when there is a difference in the substrate processing time in each unit, the buffers 61 and 6 can be used.
Since 2, 63 and 64 are provided, the substrate can be made to stand by here to absorb the time difference.

【0082】[0082]

【発明の効果】本発明では、複数の湿式処理ユニットを
1段目に配し、上方に積層された乾式処理ユニットとの
間の基板の移載を基板移載手段により行わせるようにし
たため、湿式処理ユニットのメンテナンス性が確保され
る。
According to the present invention, a plurality of wet processing units are arranged at the first stage, and the substrate is transferred between the dry processing units stacked above by the substrate transfer means. Maintainability of the wet processing unit is ensured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る多段基板処理装置の
側面図。
FIG. 1 is a side view of a multi-stage substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】多段基板処理装置の平面図。FIG. 2 is a plan view of the multi-stage substrate processing apparatus.

【図3】第2実施形態の多段基板処理装置の平面図。FIG. 3 is a plan view of a multi-stage substrate processing apparatus according to a second embodiment.

【図4】第3実施形態の多段基板処理装置の平面図。FIG. 4 is a plan view of a multi-stage substrate processing apparatus according to a third embodiment.

【図5】従来の基板処理装置の平面図。FIG. 5 is a plan view of a conventional substrate processing apparatus.

【図6】従来の多段基板処理装置の側面図。FIG. 6 is a side view of a conventional multi-stage substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 多段基板処理装置 2 インデクサー 2a 上下動ロボット(基板移載手段) 10 洗浄ユニット(湿式処理ユニット) 13 洗浄部(湿式処理部) 15 搬出部(基板搬出部) 20 脱水ベークユニット(乾式処理ユニット) 21 加熱部(乾式処理部;基板搬入部) 22 冷却部(乾式処理部;基板搬出部) 30 レジスト塗布ユニット(湿式処理ユニット) 31 搬入部(基板搬入部) 32 スピンコータ部(湿式処理部) 34 エッジリンス部(湿式処理部) 35 搬出部(基板搬出部) 40 プリベークユニット(乾式処理ユニット) 41 加熱部(乾式処理部;基板搬入部) 42 冷却部(乾式処理部;基板搬出部) 51,52 上下動ロボット(基板移載手段) 61,62,63,64 バッファ(バッファ部) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multi-stage substrate processing apparatus 2 Indexer 2a Vertical robot (substrate transfer means) 10 Cleaning unit (wet processing unit) 13 Cleaning unit (wet processing unit) 15 Unloading unit (substrate unloading unit) 20 Dehydration bake unit (dry processing unit) Reference Signs List 21 heating section (dry processing section; substrate loading section) 22 cooling section (dry processing section; substrate loading section) 30 resist coating unit (wet processing unit) 31 loading section (substrate loading section) 32 spin coater section (wet processing section) 34 Edge rinse unit (wet processing unit) 35 Unloading unit (substrate unloading unit) 40 Prebake unit (dry processing unit) 41 Heating unit (dry processing unit; substrate unloading unit) 42 Cooling unit (dry processing unit; substrate unloading unit) 51, 52 Vertically moving robot (substrate transfer means) 61, 62, 63, 64 Buffer (buffer unit)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】処理液を使用する湿式処理部を含む複数の
処理部から成る複数の湿式処理ユニットと、 処理液を使用しない複数の乾式処理部から成る複数の乾
式処理ユニットと、 前記湿式処理ユニットと前記乾式処理ユニットとの間で
基板の移載を行う複数の基板移載手段と、を備え、 前記複数の湿式処理ユニットを1段目に配置し、前記複
数の乾式処理ユニットを前記複数の湿式処理ユニットの
上方に積層した、多段基板処理装置。
1. A plurality of wet processing units including a plurality of processing units including a wet processing unit using a processing liquid; a plurality of dry processing units including a plurality of dry processing units not using a processing liquid; A plurality of substrate transfer means for transferring a substrate between the unit and the dry processing unit, wherein the plurality of wet processing units are arranged in a first stage, and the plurality of dry processing units A multi-stage substrate processing apparatus stacked above a wet processing unit.
【請求項2】前記基板移載手段は、前記湿式処理ユニッ
トの基板搬出部から基板を取り出し前記乾式処理ユニッ
トの基板搬入部へと基板を搬送する、あるいは前記乾式
処理ユニットの基板搬出部から基板を取り出し前記湿式
処理ユニットの基板搬入部へと基板を搬送する、請求項
1に記載の多段基板処理装置。
2. The substrate transfer means according to claim 1, wherein said substrate transfer means takes out the substrate from a substrate carry-out part of said wet processing unit and transports the substrate to a substrate carry-in part of said dry processing unit. The multi-stage substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate is taken out and transferred to a substrate loading section of the wet processing unit.
【請求項3】前記基板移載手段は、上下移動が可能で、
そのハンドを除き平面的移動が不能である上下動ロボッ
トであり、 基板処理が連続する湿式処理ユニット及び乾式処理ユニ
ットは、上工程の処理ユニットの基板搬出部と下工程の
処理ユニットの基板搬入部とが前記基板移載手段を挟ん
で平面的に連続している、請求項2に記載の多段基板処
理装置。
3. The substrate transfer means can be moved up and down.
The robot is a vertically movable robot that cannot move in a plane except for the hand. The wet processing unit and the dry processing unit that perform continuous substrate processing are the substrate unloading part of the upper processing unit and the substrate loading part of the lower processing unit. 3. The multi-stage substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the substrate is planarly continuous with the substrate transfer unit interposed therebetween.
【請求項4】積層される前記湿式処理ユニットと前記乾
式処理ユニットとは設置面積が等しい、請求項1から3
のいずれかに記載の多段基板処理装置。
4. The stacked wet processing unit and dry processing unit have the same installation area.
The multi-stage substrate processing apparatus according to any one of the above.
【請求項5】基板に処理を行う複数の処理部が多段に配
置される多段基板処理装置であって、 処理液を使用する湿式処理部を含む複数の処理部と、前
記複数の処理部の間で基板を搬送する搬送手段とをそれ
ぞれ有し、基板に一連の処理を施す第1及び第2湿式処
理ユニットと、 処理液を使用しない複数の乾式処理部と、前記複数の乾
式処理部の間で基板を搬送する搬送手段とをそれぞれ有
する第1及び第2乾式処理ユニットと、 前記湿式処理ユニットと前記乾式処理ユニットとの間で
基板の移載を行う基板移載手段と、を備え、 前記第1及び第2湿式処理ユニットを1段目に配置し
た、多段基板処理装置。
5. A multi-stage substrate processing apparatus in which a plurality of processing units for performing processing on a substrate are arranged in multiple stages, wherein a plurality of processing units including a wet processing unit using a processing liquid; A first and a second wet processing unit for performing a series of processing on the substrate, a plurality of dry processing units that do not use a processing liquid, and a plurality of dry processing units that do not use a processing liquid. First and second dry processing units each having transport means for transporting a substrate between them, and substrate transfer means for transferring a substrate between the wet processing unit and the dry processing unit. A multi-stage substrate processing apparatus, wherein the first and second wet processing units are arranged in a first stage.
【請求項6】前記第1及び第2湿式処理ユニットは、基
板の搬送方向に沿って直列に配置され、 前記第2及び第1乾式処理ユニットは、前記第1及び第
2湿式処理ユニットの上方に積層され、 前記基板移載手段は、上下に基板を移動させることが可
能なものであり、前記第1湿式処理ユニットと前記第2
湿式処理ユニットとの間と前記第2湿式処理ユニットの
後ろ側とにそれぞれ配置され、第1湿式処理ユニットか
ら第1乾式処理ユニットに、第1乾式処理ユニットから
第2湿式処理ユニットに、及び第2湿式処理ユニットか
ら第2乾式処理ユニットに基板を移載する、請求項5に
記載の多段基板処理装置。
6. The first and second wet processing units are arranged in series along a substrate transport direction, and the second and first dry processing units are located above the first and second wet processing units. The substrate transfer means is capable of moving a substrate up and down, and the first wet processing unit and the second
The first wet processing unit is disposed between the first wet processing unit and the second wet processing unit, and the second wet processing unit is disposed between the first wet processing unit and the second wet processing unit. The multi-stage substrate processing apparatus according to claim 5, wherein the substrate is transferred from the second wet processing unit to the second dry processing unit.
【請求項7】前記基板移載手段の側方に配置され基板を
待機させることのできるバッファ部をさらに備えた、請
求項6に記載の多段基板処理装置。
7. The multi-stage substrate processing apparatus according to claim 6, further comprising a buffer unit arranged beside the substrate transfer unit and capable of holding the substrate on standby.
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