JP2000151093A - Method for removing semiconductor package - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体パッケージの
取り外し装置および取り外し方法に関し、とくにボール
・グリッド・アレイ及びチップ・サイズ・パッケージの
取り外しに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and a method for removing a semiconductor package, and more particularly to a method for removing a ball grid array and a chip size package.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のボール・グリッド・アレイ及びチ
ップ・サイズ・パッケージ(以下、BGA/CSPと略
称する)タイプの半導体パッケージの取り外し装置およ
び取り外し方法を、図6及び図7を参照して説明する。2. Description of the Related Art A conventional device and method for removing a ball grid array and a chip size package (hereinafter abbreviated as BGA / CSP) type semiconductor package will be described with reference to FIGS. I do.
【0003】従来のBGA/CSPタイプの半導体パッ
ケージの取り外し装置および取り外し方法は、図6に示
す様に、プリント配線基板3にはんだ付け実装されたB
GA/CSP2の上面からのノズルヒータ7による加
熱、及びプリント配線基板3の裏面からのボトムヒータ
8による加熱により、BGA/CSP2及びプリント配
線基板3を介してBGA/CSP2とプリント配線基板
3との間の間隙に存在するはんだ接合部群4に熱を伝
え、はんだ接合部群4を溶融させた上で、吸着ツール6
によりBGA/CSP2をプリント配線基板3上から取
り外すものであった。As shown in FIG. 6, a conventional BGA / CSP type semiconductor package removal apparatus and removal method employs a BGA / CSP type semiconductor package which is mounted on a printed circuit board 3 by soldering.
The heating between the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3 via the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3 by the heating by the nozzle heater 7 from the upper surface of the GA / CSP 2 and the heating by the bottom heater 8 from the back surface of the printed wiring board 3 Heat is transmitted to the solder joint group 4 existing in the gap, and the solder joint group 4 is melted.
As a result, the BGA / CSP 2 is removed from the printed wiring board 3.
【0004】この従来のBGA/CSPタイプの半導体
パッケージの取り外し装置及び取り外し方法では、BG
A/CSP2及びプリント配線基板3を介して、はんだ
接合部群4をはんだの融点以上の温度に加熱するため、
BGA/CSP2及びプリント配線基板3、さらにはB
GA/CSP2の近隣に実装された他の部品が、過度の
加熱にさらされることになる。その結果として、取り外
し対象であるBGA/CSP2及びその近隣の実装部品
の熱破壊、さらにはプリント配線基板3の反り、ねじれ
等の熱損傷を誘発するという欠点があった。In the conventional BGA / CSP type semiconductor package removing apparatus and removing method, the BG
In order to heat the solder joint group 4 to a temperature equal to or higher than the melting point of the solder via the A / CSP 2 and the printed wiring board 3,
BGA / CSP2 and printed wiring board 3, and B
Other components mounted in the vicinity of GA / CSP2 will be exposed to excessive heating. As a result, there is a drawback that the BGA / CSP 2 to be removed and the mounted components near the BGA / CSP 2 are thermally damaged, and further, the printed wiring board 3 is thermally damaged such as warpage or twisting.
【0005】この問題を解決する手段としては、BGA
/CSP2と近隣実装部品との実装間隔をノズルヒータ
17の熱影響を受けない位置まで拡げたり、図7に示す
様にバックアップピン16を介し、プリント配線基板3
を反り防止治具9にねじ付きスペーサ10で、強固に固
定することによって加熱時の反り、ねじれを抑制する方
策が講じられていた。As a means for solving this problem, BGA
The mounting interval between the / CSP2 and the neighboring mounting parts can be increased to a position not affected by the heat of the nozzle heater 17, or as shown in FIG.
Is firmly fixed to the warp preventing jig 9 with a threaded spacer 10 to prevent warping and twisting during heating.
【0006】また、従来のBGA/CSPタイプの半導
体パッケージの取り外し装置および取り外し方法におい
ては、BGA/CSPをプリント配線基板上から取り外
した後のプリント配線基板上のBGA/CSP実装パッ
ド上に、接合に用いられたはんだが乱れた状態で残存し
ている。実装パッド上にBGA/CSPを品質良く再度
実装するには、実装パッド上の残存はんだの余剰分を除
去し、実装パッド上のはんだを平坦化しておく必要があ
る。Further, in the conventional apparatus and method for removing a BGA / CSP type semiconductor package, the BGA / CSP is removed from the printed wiring board by bonding to the BGA / CSP mounting pads on the printed wiring board. The solder used for the test remains in a disordered state. In order to mount the BGA / CSP again on the mounting pad with good quality, it is necessary to remove the surplus of the residual solder on the mounting pad and flatten the solder on the mounting pad.
【0007】従来残存はんだの余剰分の除去、及び実装
パッド上のはんだの平坦化の方法としては、銅撚線にあ
らかじめフラックスを塗布しておき、これを実装パッド
上の余剰はんだ部分に当て、その上からはんだコテで加
熱してはんだを溶融させ、毛細管現象により銅撚線に溶
融はんだを吸い上げる方法が一般的に用いられていた。[0007] Conventionally, as a method of removing the surplus of the residual solder and flattening the solder on the mounting pad, a flux is applied to the copper stranded wire in advance, and the flux is applied to an excess solder portion on the mounting pad. A method in which the solder is melted by heating with a soldering iron from above, and the molten solder is sucked into the stranded copper wire by capillary action has been generally used.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】上述した図6に示す従
来の半導体パッケージの取り外し方法においては、BG
A/CSP2と近隣実装部品との実装間隔をノズルヒー
タ7の熱影響を受けない位置まで拡げなければならぬか
ら、プリント配線基板3における部品実装禁止領域を増
大させる結果となり、したがって実装密度向上の阻害要
因となり、電子機器の小型化に寄与できないという欠点
があり、また図7に示す方法においては、BGA/CS
P2の実装位置、プリント配線基板3の形状に応じた専
用治具の作成が必要となり、専用治具へのプリント配線
基板3の取り付け、取り外し等煩雑な段取りが生じると
いう欠点がある。In the conventional method of removing a semiconductor package shown in FIG.
Since the mounting interval between the A / CSP 2 and the nearby mounting component must be increased to a position not affected by the heat of the nozzle heater 7, the component mounting prohibited area on the printed wiring board 3 is increased, and therefore, an increase in mounting density is hindered. There is a drawback that it cannot contribute to the miniaturization of the electronic device, and the method shown in FIG.
It is necessary to create a dedicated jig according to the mounting position of P2 and the shape of the printed wiring board 3, and there is a disadvantage that complicated setup such as attachment and detachment of the printed wiring board 3 to and from the dedicated jig occurs.
【0009】また、上述した従来の残存はんだの余剰分
の除去、及び実装パッド上のはんだの平坦化の方法で
は、はんだコテのコテ先の温度管理、加熱時間管理が煩
雑となるほか、また作業として熟練を要し、BGA/C
SPが実装される微細な実装パッドでは過度の加熱によ
る実装パッドの剥がれ、配線パターン損傷などの弊害を
生じるなどの欠点がある。Further, in the above-mentioned conventional methods of removing the surplus of the residual solder and flattening the solder on the mounting pads, the temperature control and the heating time control of the soldering iron tip of the soldering iron become complicated, and the work is difficult. Requires skill, BGA / C
The fine mounting pad on which the SP is mounted has disadvantages such as peeling of the mounting pad due to excessive heating and adverse effects such as damage to the wiring pattern.
【0010】本発明の目的は、プリント配線基板におけ
る部品実装禁止領域を増大させることなく、実装密度を
向上させて電子機器の小型化に寄与し、かつBGA/C
SPの実装位置や、プリント配線基板の形状に応じた専
用治具の作成を必要とせず、したがって専用治具へのプ
リント配線基板の取り付け、取り外し等煩雑な段取りが
生じることのない、BGA/CSPタイプ半導体パッケ
ージの取り外し装置および取り外し方法を提供すること
にある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to increase the mounting density without increasing the area where parts are prohibited from being mounted on a printed wiring board, thereby contributing to the miniaturization of electronic equipment, and to achieve BGA / C
A BGA / CSP that does not require the creation of a dedicated jig according to the mounting position of the SP or the shape of the printed wiring board, and thus does not require complicated setup such as attaching and detaching the printed wiring board to and from the dedicated jig. An object of the present invention is to provide an apparatus and a method for removing a type semiconductor package.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の 半導体パッケ
ージの取り外し装置は、半導体パッケージの下面と、半
導体パッケージが実装されたプリント配線基板との間の
はんだ接合部群を除去し、さらに除去後パッケージを移
動させる半導体パッケージの取り外し装置であって、半
導体パッケージの下面とプリント配線基板との間の隙間
に挿入されて、はんだ接合部群の一部分と接触して接合
部群の一部分を加熱して溶融させ、かつ隙間に沿って移
動可能なはんだ加熱部と、隙間においてはんだ接合部群
の溶融した部分に進入して、溶融部分を吸着除去するは
んだ除去部と、はんだの溶融および吸着除去が行われる
間、半導体パッケージを保持し、はんだが除去された
後、半導体パッケージをプリント配線基板から移動させ
るパッケージ保持手段とを有している。According to the present invention, there is provided an apparatus for removing a semiconductor package, which removes a group of solder joints between a lower surface of the semiconductor package and a printed wiring board on which the semiconductor package is mounted. A semiconductor package removal device, which is inserted into a gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board and contacts a part of the solder joint group to heat and melt a part of the joint group. And a solder heating section movable along the gap, a solder removing section that enters a melted portion of the solder joint group in the gap and adsorbs and removes the melted portion, and melts and adsorbs and removes the solder. Holding means for holding the semiconductor package for a while and removing the solder from the printed wiring board after the solder is removed And
【0012】はんだ加熱部は、隙間に挿入可能な寸法・
形状に形成され、かつ加熱部に接続された発熱部と、は
んだ加熱部を隙間に沿ってプリント配線基板に平行に、
かつはんだ接合部に対向して移動させる駆動源とが設け
られる。はんだ除去部は、金属の細線を編み組して、隙
間に挿入可能な寸法・形状のエンドレスの帯状に形成さ
れる。はんだ除去部を形成する金属の細線は、銅線が好
適であり、また、はんだ除去部を形成する金属の細線
に、溶融はんだに対する毛細管現象を助長するためのフ
ラックスが施される。さらに、はんだ除去部が、表面に
溶融はんだに対する濡れ性のよい金属のめっき層を有す
る金属板で形成されてもよい。The solder heating part has dimensions and dimensions that can be inserted into the gap.
The heating part, which is formed into a shape and connected to the heating part, and the solder heating part, parallel to the printed wiring board along the gap,
And a drive source for moving the solder joint so as to face the solder joint. The desoldering part is formed by braiding a thin metal wire into an endless strip having dimensions and shapes that can be inserted into the gap. The thin metal wire forming the desoldered portion is preferably a copper wire, and the thin metal wire forming the desoldered portion is subjected to a flux for promoting a capillary phenomenon with respect to the molten solder. Further, the solder removing portion may be formed of a metal plate having a metal plating layer having good wettability to molten solder on the surface.
【0013】本発明の 半導体パッケージの取り外し装
置は、上述のように、はんだ接合部のみに直接接触させ
てはんだを溶融する加熱部と、溶融したはんだを除去す
る除去部とを設けたため、プリント配線基板上に既に実
装されている他の部品及びプリント配線基板自体に熱損
傷を与えずに、BGA/CSPを取り外すことができ、
さらにまた、加熱部によって溶融されたはんだを、加熱
部と同一装置内に配置されたはんだ除去部によって、直
接実装パッドに接触することなく、接合に用いられてい
たはんだの余剰分を吸い取ることによって、実装パッド
上のはんだの平坦化が可能となるから、実装パッドに機
械的、熱的負荷を与えることなく、かつBGA/CSP
の取り外しと同時に同一装置によって、連続した工程で
行うことができる。[0013] As described above, the semiconductor package removing apparatus of the present invention is provided with the heating section for melting the solder by directly contacting only the solder joint and the removing section for removing the molten solder. The BGA / CSP can be removed without causing thermal damage to other components already mounted on the board and the printed wiring board itself,
Furthermore, the solder melted by the heating unit is sucked out by a solder removing unit arranged in the same device as the heating unit, without directly contacting the mounting pad, by extracting an excess amount of the solder used for the bonding. Since the solder on the mounting pad can be flattened, no BGA / CSP is applied without applying a mechanical or thermal load to the mounting pad.
Can be performed in a continuous process by the same device at the same time as the removal of the device.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明の半導体パッ
ケージの取り外し装置の第1の実施の形態の構成を示す
主要部分の斜視略図である。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view of a main part showing a configuration of a first embodiment of a semiconductor package removing device according to the present invention.
【0015】図1において、半導体パッケージBGA/
CSP2がはんだ接合部群4によってプリント配線基板
3にはんだ付け実装されている。はんだ接合部群4は、
BGA/CSP2の下面とプリント配線基板3の上面と
の間の隙間Sにマトリクス状に形成されている。この隙
間Sの寸法は、一般に端子間隔が1.27ミリピッチB
GAの場合では0.5ミリ未満、端子間隔が0.8ミリ
ピッチCSPの場合では0.3ミリ未満程度である。In FIG. 1, a semiconductor package BGA /
The CSP 2 is soldered and mounted on the printed wiring board 3 by the solder joint group 4. Solder joint group 4
The matrix is formed in a gap S between the lower surface of the BGA / CSP 2 and the upper surface of the printed wiring board 3. The size of the gap S is generally such that the terminal interval is 1.27 mm pitch B
In the case of the GA, the distance is less than 0.5 mm, and in the case of the CSP having the terminal spacing of 0.8 mm, the distance is less than about 0.3 mm.
【0016】加熱部1は、細長い線状の導体から形成さ
れ、後述する駆動源Aに設けられた発熱部から、プリン
ト配線基板3に対して垂直にかつ半導体パッケージBG
A/CSP2の幅より広い間隔に保持された2本の垂直
部分1aと、先端部分をつなぐ水平部分1bとで形成さ
れている。水平部分1bの形状は、上述した隙間Sに挿
入できる形状、寸法を有しており、かつBGA/CSP
2とプリント配線基板3との隙間Sに施されたはんだ接
合部群4と接触して溶融可能な温度、すなわちはんだの
融点以上に発熱部により加熱されている。The heating section 1 is formed of a long and thin linear conductor, and is vertically connected to the printed wiring board 3 and from a semiconductor package BG from a heating section provided in a driving source A to be described later.
It is formed by two vertical portions 1a held at a wider interval than the width of the A / CSP 2 and a horizontal portion 1b connecting the front end portions. The shape of the horizontal portion 1b has a shape and dimensions that allow it to be inserted into the gap S described above, and the BGA / CSP
It is heated by the heat generating portion to a temperature at which it can come into contact with the solder joint portion group 4 provided in the gap S between the substrate 2 and the printed wiring board 3 and melt, that is, the melting point of the solder or more.
【0017】図3は、加熱部1周辺の詳細を示す進行方
向に直角な方向からみた側面図である。加熱部1は駆動
源A13に設けられた発熱部12により、250℃から
300℃の範囲で加熱されている。加熱部1及び発熱部
12は駆動源Aにより矢印方向の移動し、はんだ接合部
群4の溶融を行う。FIG. 3 is a side view showing the details of the vicinity of the heating unit 1 viewed from a direction perpendicular to the traveling direction. The heating unit 1 is heated in a range of 250 ° C. to 300 ° C. by a heating unit 12 provided in a driving source A13. The heating unit 1 and the heating unit 12 are moved in the direction of the arrow by the driving source A to melt the solder joint group 4.
【0018】加熱部1は、駆動源Aにより、BGA/C
SP2とプリント配線基板3との隙間Sを、はんだ接合
部群4に対向して、BGA/CSP2及びプリント配線
基板3に平行に移動する。加熱部1は、BGA/CSP
2とプリント配線基板3が成す隙間Sを、駆動源Aによ
り発熱部12とともに移動しながら、BGA/CSP2
とプリント配線基板3との間に形成された隙間Sに、マ
トリクス状に存在しているはんだ接合部群4を1列づつ
溶融する。The heating unit 1 is driven by a driving source A to generate a BGA / C
The gap S between the SP 2 and the printed wiring board 3 is moved parallel to the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3 so as to face the solder joint group 4. Heating unit 1 is BGA / CSP
2 and the printed wiring board 3, the BGA / CSP 2
In the gap S formed between the semiconductor device and the printed wiring board 3, the solder joints 4 existing in a matrix are melted one by one.
【0019】はんだ除去部5は、加熱部1の進行方向後
方に設けられ、金属細線を編み組したものであり、かつ
BGA/CSP2とプリント配線基板3が成す隙間Sに
挿入できる形状、寸法を有している。このはんだ除去部
5の金属細線は、溶融はんだの毛細管現象がより得られ
やすい銅であることが好ましい。さらには、溶融はんだ
の毛細管現象を助長する上で、あらかじめフラックスが
塗布あるいは含浸させてあることが好ましい。はんだ除
去部5は加熱部1と同様に、駆動源B(不図示)により
BGA/CSP2とプリント配線基板3が成す隙間S
を、はんだ接合部群4に対向し、かつBGA/CSP2
及びプリント配線基板3と平行に移動する。はんだ除去
部5は、BGA/CSP2とプリント配線基板3が成す
隙間Sを駆動源B(不図示)により移動しながら、BG
A/CSP2とプリント配線基板3が成す隙間Sに、マ
トリクス状に存在し加熱部1により溶融されたはんだ接
合部群4のはんだを、溶融はんだの毛細管現象を利用し
て1列づつ吸引し、はんだ接合部群4を吸収しつつ、プ
リント配線基板3上のBGA/CSP実装用パッドを平
坦化する。The solder removing section 5 is provided behind the heating section 1 in the traveling direction, is formed by braiding a thin metal wire, and has a shape and dimensions that can be inserted into the gap S formed by the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3. Have. It is preferable that the thin metal wire of the solder removing section 5 is copper, in which the capillary phenomenon of the molten solder is more easily obtained. Further, it is preferable that the flux is applied or impregnated in advance in order to promote the capillary phenomenon of the molten solder. Similarly to the heating unit 1, the solder removing unit 5 is provided with a gap S formed between the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3 by a driving source B (not shown).
To the solder joint group 4 and BGA / CSP2
And moves in parallel with the printed wiring board 3. The solder removing section 5 moves the gap S formed between the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3 by the driving source B (not shown) while moving the gap S.
The solder of the solder joints 4 existing in a matrix and melted by the heating unit 1 is sucked one by one into the gap S formed by the A / CSP 2 and the printed wiring board 3 by utilizing the capillary phenomenon of the molten solder. The pads for mounting the BGA / CSP on the printed wiring board 3 are planarized while absorbing the solder joint group 4.
【0020】図4は、はんだ除去部5の周辺の詳細を示
す進行方向から見た側面図である。はんだ除去部5は、
帯状でエンドレスに形成され、1列のはんだ接合部群の
はんだ吸い取りが完了した時点で、エンドレスの左右を
ガイドする保持部14と、加熱吸引部7内に設けられた
駆動源C15とにより、エンドレスの形状を保持しつつ
矢印方向に回転して、はんだを吸い取った部分を加熱吸
引部7内に移動させる。加熱吸引部7内においては、は
んだ除去部5のはんだを吸い取った部分を、はんだの融
点以上の温度で加熱し、はんだを再溶融させ、強制吸引
機構(不図示)により溶融はんだを強制吸引して、はん
だ除去部5を清浄にする。FIG. 4 is a side view showing the details of the periphery of the solder removing section 5 viewed from the traveling direction. The solder removing section 5
At the time when the solder absorption of a row of solder joints is completed, the holding unit 14 that guides the left and right of the endless, and the driving source C15 provided in the heating suction unit 7 endlessly form the belt. Is rotated in the direction of the arrow while maintaining the above shape, and the portion that has absorbed the solder is moved into the heating and suction unit 7. In the heating and suction unit 7, the portion of the solder removing unit 5 from which the solder has been sucked is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the solder to re-melt the solder and forcibly suck the molten solder by a forcible suction mechanism (not shown). Then, the solder removing section 5 is cleaned.
【0021】吸着ツール6は、BGA/CSP2のモー
ルド部を吸着し、前述の加熱部1によるはんだ接合部群
4の溶融中と、はんだ除去部5によるはんだ接合部群4
の分離、吸い取り中に、BGA/CSP2をプリント配
線基板3に対し常に水平かつ初期の隙間Sの寸法を維持
しながら保持する。吸着ツール6は、全てのはんだ接合
部の分離が完了した時点で、駆動源D(不図示)により
上昇し、BGA/CSP2をプリント配線基板3から取
り外す。The suction tool 6 suctions the mold part of the BGA / CSP 2 and melts the solder joint part group 4 by the heating part 1 and the solder joint part group 4 by the solder removal part 5.
The BGA / CSP 2 is always kept horizontal and at the same time as the initial gap S with respect to the printed wiring board 3 during the separation and the suction. When the separation of all the solder joints is completed, the suction tool 6 is raised by the driving source D (not shown), and removes the BGA / CSP 2 from the printed wiring board 3.
【0022】図5は、はんだ除去部5の第2の実施の形
態を示す図1と同様の図である。はんだ除去部5aは、
BGA/CSP2とプリント配線基板3が成す隙間Sに
挿入できる形状、寸法を有する細長い金属のシートで形
成され、表面にはソルダビリティに優れた金属、例えば
Au,Ag,Snなどのメッキが施されている。本実施
例においては、加熱部1により溶融されたはんだ接合部
群4を、はんだ除去部5a表面への、はんだの濡れ拡が
りを利用して、余剰はんだの除去、実装パッド上のはん
だの平坦化を行うものである。その他の構成及び動作
は、第1の実施の形態と同一である。FIG. 5 is a view similar to FIG. 1 showing a second embodiment of the solder removing section 5. The solder removing part 5a
It is formed of an elongated metal sheet having a shape and dimensions that can be inserted into the gap S formed by the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3, and its surface is plated with a metal having excellent solderability, for example, Au, Ag, Sn or the like. ing. In the present embodiment, the solder joint group 4 melted by the heating unit 1 is used to remove excess solder and flatten the solder on the mounting pad by using the spread of the solder on the surface of the solder removing unit 5a. Is what you do. Other configurations and operations are the same as those of the first embodiment.
【0023】次に図2を参照して、本実施の形態の動作
を説明する。図2(a)において、加熱部1をBGA/
CSP2とプリント配線基板3との間の隙間Sに挿入
し、隙間Sに存在するはんだ接合部群4を溶融可能な温
度に加熱する。具体的には250℃から300℃の範囲
に加熱される。吸着ツール6は、上述のBGA/CSP
2とプリント配線基板3との成す隙間Sの寸法を、初期
寸法より狭く、あるいは広くなることがないように、B
GA/CSP2を定位置にて吸着保持する。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG. In FIG. 2A, the heating unit 1 is a BGA /
It is inserted into the gap S between the CSP 2 and the printed wiring board 3, and the solder joint group 4 existing in the gap S is heated to a temperature at which it can be melted. Specifically, heating is performed in a range of 250 ° C. to 300 ° C. The suction tool 6 uses the above-mentioned BGA / CSP
The size of the gap S formed between the printed wiring board 2 and the printed wiring board 3 is set to
GA / CSP2 is suction-held at a fixed position.
【0024】つぎに、図2(b)において、加熱部1は
駆動源A(不図示)により矢印方向に移動し、BGA/
CSP2とプリント配線基板3とが成す隙間Sに存在す
る第1列目のはんだ接合部群4aに接触して熱を伝達す
ることにより、第1列目のはんだ接合部群4aの溶融を
開始する。加熱部1は第1列目のはんだ接合部群4aを
完全に溶融させるため、駆動源A(不図示)の制御によ
り、あらかじめ設定された一定保持時間の間、あらかじ
め設定された第1列目のはんだ接合部群4aの中心位置
にて停止する。Next, in FIG. 2B, the heating unit 1 is moved in the direction of the arrow by the driving source A (not shown),
The first row of solder joints 4a in the first row starts melting by contacting and transferring heat to the first row of solder joints 4a present in the gap S formed by the CSP 2 and the printed wiring board 3. . The heating unit 1 controls the driving source A (not shown) to completely melt the solder joint group 4a in the first row, and sets the first row of solder joints 4a in the preset first row for a predetermined holding time. At the center position of the solder joint group 4a.
【0025】つぎに、図2(c)において、加熱部1は
上述のあらかじめ設定された一定保持時間を経過した
後、駆動源A(不図示)により、隙間Sに沿って矢印方
向への移動を開始する。はんだ除去部5は駆動源B(不
図示)により矢印方向に移動し、隙間Sにある溶融状態
の第1列目のはんだ接合部群4aに接触し、毛細管現象
によって溶融はんだの吸い取りを開始する。この場合、
はんだ除去部5が駆動源Bにより移動を開始する時点
は、上述の加熱部1が駆動源Aの制御により、一定時間
の停止が解除され、再び移動を開始した時点以降であ
る。Next, in FIG. 2C, the heating unit 1 is moved in the direction of the arrow along the gap S by the driving source A (not shown) after the above-mentioned predetermined holding time has elapsed. To start. The solder removing unit 5 is moved in the direction of the arrow by the driving source B (not shown), comes into contact with the first row of solder joints 4a in the molten state in the gap S, and starts sucking the molten solder by capillary action. . in this case,
The point at which the solder removing unit 5 starts moving by the driving source B is after the point at which the stop of the heating unit 1 for a predetermined time is released by the control of the driving source A, and the heating unit 1 starts moving again.
【0026】つぎに、図2(d)において、はんだ除去
部5は、溶融状態の第1列目のはんだ接合部群4aの吸
い取りをより確実に行うために、駆動源B(不図示)の
制御により、あらかじめ設定された第1列目のはんだ接
合部群4aの中心位置まで移動した後、あらかじめ設定
された一定保持時間の間停止する。加熱部1は、駆動源
A(不図示)の制御により、あらかじめ設定された第1
列目のはんだ接合部群4aと第2列目のはんだ接合部群
4bの中間位置まで移動した後、あらかじめ設定された
一定保持時間の間停止する。この場合、加熱部1の停止
保持時間は、最大限で上述のはんだ除去部5が駆動源B
(不図示)の制御により停止保持を解除、再度移動を開
始するまでの間である。Next, in FIG. 2 (d), the solder removing section 5 is provided with a drive source B (not shown) in order to more reliably absorb the first row of solder joints 4a in the molten state. After moving to the center position of the solder joint portion group 4a in the first row set in advance by the control, it stops for a predetermined fixed holding time. The heating unit 1 is controlled by a driving source A (not shown) to set a first preset
After moving to the intermediate position between the solder joint group 4a in the row and the solder joint group 4b in the second row, it stops for a predetermined holding time. In this case, the stop holding time of the heating unit 1 is at the maximum, and
This is a period until the stop holding is released by the control (not shown) and the movement is started again.
【0027】つぎに、図2(e)において、はんだ除去
部5は停止保持時間において、溶融状態にある第1列目
のはんだ接合部群4aのはんだの吸い取り及びプリント
配線基板3上のBGA/CSP2実装パッドのはんだ平
坦化を完了し、駆動源B(不図示)の制御により、あら
かじめ設定された第1列目のはんだ接合部群4aと第2
列目のはんだ接合部群4bの中間位置まで平行移動した
後、あらかじめ設定された一定保持時間の間移動を停止
する。はんだ除去部5は、平行方向への移動停止後、駆
動源C(不図示)により第1列目のはんだ接合部4aの
はんだを吸い取った部分を加熱吸引部7内に移動させ
る。加熱吸引部7内においては、はんだ除去部5のはん
だを吸い取った部分を、はんだの融点以上の温度で加熱
し、はんだを再溶融させ、強制吸引機構(不図示)によ
り溶融はんだを強制吸引して、はんだ除去部5を清浄に
する。この動作により、はんだ除去部5のはんだ接合部
群に接する部分は常に清浄に保たれる。加熱部1は駆動
源Aの制御により再び矢印方向への移動を開始し、隙間
Sに存在する第2列目のはんだ接合部群4bに接し、溶
融を開始する。Next, in FIG. 2 (e), the solder removing section 5 removes the solder of the solder joint section group 4 a of the first row in the molten state and removes the BGA / BGA on the printed wiring board 3 during the stop holding time. After the solder flattening of the CSP2 mounting pad is completed, the solder joint portion group 4a in the first row and the second solder joint portion group 4a set in advance are controlled by the drive source B (not shown).
After the parallel movement to the intermediate position of the solder joint group 4b in the row, the movement is stopped for a predetermined fixed holding time. After stopping the movement in the parallel direction, the solder removing unit 5 moves the portion of the first row of the solder joints 4 a that has absorbed the solder by the driving source C (not shown) into the heating and suction unit 7. In the heating and suction unit 7, the portion of the solder removing unit 5 from which the solder has been sucked is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the solder to re-melt the solder and forcibly suck the molten solder by a forcible suction mechanism (not shown). Then, the solder removing section 5 is cleaned. By this operation, the portion of the solder removing section 5 which is in contact with the solder joint section group is always kept clean. The heating unit 1 starts moving in the direction of the arrow again under the control of the driving source A, comes into contact with the solder joint group 4b in the second row existing in the gap S, and starts melting.
【0028】以降、上述した図2(b)から図2(e)
までの動作を、第n列目のはんだ接合部群4nまで繰り
返すことにより、BGA/CSP2とプリント配線基板
3の成す隙間Sに存在する全てのはんだ接合部群4の溶
融・分離・吸い取り及びプリント配線基板3上のBGA
/CSP2実装パッドのはんだ平坦化が完了する(図2
(f)参照)。Hereinafter, FIG. 2 (b) to FIG.
Are repeated until the solder joints 4n in the n-th column are melted / separated / absorbed and printed for all solder joints 4 present in the gap S formed by the BGA / CSP 2 and the printed wiring board 3. BGA on the wiring board 3
/ CSP2 solder pad flattening is completed (Fig. 2
(F)).
【0029】図2(f)において、はんだ除去部5が、
BGA/CSP2とプリント配線基板3との成す隙間S
に存在する第n列目のはんだ接合部群4nの溶融はんだ
の吸い取りを完了し、駆動源B(不図示)により移動し
た後、吸着ツール6が駆動源D(不図示)の制御によ
り、矢印方向にあらかじめ設定された距離だけ、BGA
/CSP2を吸着したままの状態で上昇する。これによ
り本発明の方法によるプリント配線基板3からのBGA
/CSP2の取り外しを完了する。In FIG. 2F, the solder removing section 5
Gap S formed between BGA / CSP 2 and printed wiring board 3
After the suction of the molten solder of the solder joint portion group 4n in the n-th row existing in the above-mentioned is completed and moved by the drive source B (not shown), the suction tool 6 is controlled by the drive source D (not shown) to move the arrow. BGA for a preset distance in the direction
/ CSP2 rises while being adsorbed. Thereby, the BGA from the printed wiring board 3 according to the method of the present invention is
The removal of / CSP2 is completed.
【0030】[0030]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体パ
ッケージ下面とプリント配線基板との隙間において、は
んだ接合部のみに直接接触させてはんだを溶融する加熱
部と、溶融したはんだを除去する除去部とを設け、これ
らを交互に移動してはんだ接合部群を溶融、除去するよ
うにしたため、第一の効果として、プリント配線基板上
に既に実装されている他の部品及びプリント配線基板自
体に熱損傷を与えずに、BGA/CSPを取り外すこと
ができるという効果があり、したがって他の部品やプリ
ント配線基板自体への熱損傷を防止する施策を講じる必
要がなくなる。具体的には、プリント配線基板上にBG
A/CSPが実装される周囲及びその裏面にBGA/C
SP取り外し時の熱損傷を考慮した部品実装禁止領域を
設ける必要が無くなり、プリント配線基板の実装密度向
上を実現でき、その結果として電子機器の小型化に寄与
できる。また、BGA/CSP取り外し時の加熱による
プリント配線基板の反りやパターン損傷などを抑制でき
るという効果がある。As described above, according to the present invention, in the gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board, the heating section for directly contacting only the solder joint and melting the solder, and the removing section for removing the molten solder are provided. Parts, and these are alternately moved to melt and remove the solder joint group.As a first effect, the other parts already mounted on the printed wiring board and the printed wiring board itself are used. There is an effect that the BGA / CSP can be removed without causing thermal damage, so that it is not necessary to take measures to prevent thermal damage to other components or the printed wiring board itself. Specifically, BG is printed on a printed circuit board.
BGA / C on the periphery where A / CSP is mounted and on the back
It is not necessary to provide a component mounting prohibited area in consideration of thermal damage at the time of removing the SP, and it is possible to improve the mounting density of the printed wiring board, thereby contributing to downsizing of the electronic device. Further, there is an effect that warpage or pattern damage of the printed wiring board due to heating when the BGA / CSP is removed can be suppressed.
【0031】第二の効果は、プリント配線基板上にBG
A/CSPがはんだ付けされていた実装パッド上の平坦
化を、実装パッドに機械的、熱的負荷を与えることな
く、パッド剥がれや配線パターン損傷などを生じさせ
ず、かつBGA/CSPの取り外しと同一装置によっ
て、連続した工程で同時に行うことができるという点で
ある。その理由は、加熱部にて溶融させたはんだを、加
熱部と同一装置内に配置されたはんだ除去部によって、
直接実装パッドに接触することなく、接合に用いられて
いたはんだの余剰分を吸い取ることによって、実装パッ
ド上のはんだの平坦化が可能となるからである。The second effect is that BG is printed on the printed circuit board.
The planarization on the mounting pad where the A / CSP was soldered can be performed without applying mechanical or thermal load to the mounting pad, without causing pad peeling or damage to the wiring pattern, and removing the BGA / CSP. The point is that it can be performed simultaneously in a continuous process by the same apparatus. The reason is that the solder melted in the heating unit, by the solder removal unit arranged in the same device as the heating unit,
This is because the solder on the mounting pad can be flattened by sucking an excess amount of the solder used for bonding without directly contacting the mounting pad.
【図1】本発明の半導体パッケージの取り外し装置の第
1の実施の形態の構成を示す主要部分の斜視略図であ
る。FIG. 1 is a schematic perspective view of a main part showing a configuration of a first embodiment of a semiconductor package removing device of the present invention.
【図2】本発明の半導体パッケージの取り外し方法を説
明する側面の略図である。FIG. 2 is a schematic side view illustrating a method of removing a semiconductor package according to the present invention.
【図3】本発明の半導体パッケージの取り外し装置の構
成部分の詳細を示す側面の略図である。FIG. 3 is a schematic side view showing details of components of a semiconductor package removing device of the present invention.
【図4】本発明の半導体パッケージの取り外し装置の構
成部分の詳細を示す図3と直角の方向の側面の略図であ
る。FIG. 4 is a schematic side view taken in a direction perpendicular to FIG. 3 showing details of components of the semiconductor package removal apparatus of the present invention.
【図5】本発明の半導体パッケージの取り外し装置の第
2の実施の形態の構成を示す主要部分の斜視略図であ
る。FIG. 5 is a schematic perspective view of a main part showing a configuration of a second embodiment of a semiconductor package removing device of the present invention.
【図6】従来の半導体パッケージの取り外し装置および
取り外し方法をしめす部分断面略図である。FIG. 6 is a schematic partial cross-sectional view showing a conventional semiconductor package removing apparatus and method.
【図7】従来の半導体パッケージの別の取り外し装置お
よび取り外し方法を示す部分断面略図である。FIG. 7 is a schematic partial sectional view showing another conventional semiconductor package removing apparatus and method.
【符号の説明】 1 加熱部 1a 垂直部分 1b 水平部分 2 BGA/CSP 3 プリント配線基板 4 はんだ接合部群 4a 第1列目のはんだ接合部群 4b 第2列目のはんだ接合部群 4n 第n列目のはんだ接合部群 5、5a はんだ除去部 6 吸着ツール 7 加熱吸引部 8 ボトムヒータ 9 反り防止治具 10 ねじ付きスペーサ 11 裏面加熱口 12 発熱部 13 駆動源A 14 保持部 15 駆動源C 16 バックアップピン 17 ノズルヒータ S 隙間[Description of Signs] 1 Heating section 1a Vertical section 1b Horizontal section 2 BGA / CSP 3 Printed wiring board 4 Solder joint section group 4a First row solder joint section group 4b Second row solder joint section group 4n nth Solder joint part group 5 in the row 5, 5a Solder removal part 6 Suction tool 7 Heat suction part 8 Bottom heater 9 Warp prevention jig 10 Threaded spacer 11 Backside heating port 12 Heating part 13 Drive source A 14 Holder 15 Drive source C 16 Backup pin 17 Nozzle heater S Clearance
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【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成11年10月6日(1999.10.
6)[Submission Date] October 6, 1999 (1999.10.
6)
【手続補正1】[Procedure amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】発明の名称[Correction target item name] Name of invention
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【発明の名称】 半導体パッケージの取り外し方法Patent application title: Method of removing semiconductor package
【手続補正2】[Procedure amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【特許請求の範囲】[Claims]
【請求項1】 半導体パッケージの下面と、該半導体パ
ッケージが実装されたプリント配線基板との間のはんだ
接合部群を除去し、さらに除去後前記パッケージを移動
させる半導体パッケージの取り外し方法であって、 前記半導体パッケージをパッケージ保持手段によって保
持し、 前記半導体パッケージの下面と前記プリント配線基板と
の間の隙間に、マトリクス状に配列された前記はんだ接
合部群と接触して該接合部群の一部分を加熱して溶融さ
せるためのはんだ加熱部を挿入し、 前記はんだ加熱部を前記隙間に沿って移動して、前記は
んだ接合部群の第1列目に接触して該第1列目の溶融を
開始し、前記はんだ加熱部を一定時間、前記はんだ接合
部群の第1列目に保持して該第1列目を完全に溶融し、 前記はんだ加熱部が、前記一定時間経過後移動を開始し
たのち、金属の細線を帯状に編み組してエンドレスに形
成されたはんだ除去部の一部が、前記第1列目の溶融し
たはんだを毛細管現象によって吸着除去するために、前
記隙間において前記溶融した部分に進入して該溶融部分
の吸着除去を開始し、 前記はんだ除去部が、前記第1列目の前記溶融したはん
だ接合部群の位置まで移動した後、一定時間停止して前
記溶融した部分を吸着除去し、 前記はんだ加熱部が、前記はんだ接合部群の第1列目と
第2列目との間まで移動して、少なくとも前記はんだ除
去部が前記一定時間の停止を解除して再度移動を開始す
るまでの間停止し、 前記はんだ除去部が、前記溶融した部分の吸着除去及び
前記プリント配線基板上の実装パッドを平坦化した後、
前記はんだ接合部群の第1列目と第2列目との間まで移
動して一定時間停止し、 さらに前記はんだ除去部は、前記溶融したはんだを吸着
した部分を加熱吸引部内に移動させ、 前記加熱吸引部は、前記はんだ除去部の前記吸着したは
んだを加熱してはんだを再溶融させ、強制吸引機構によ
り溶融はんだを強制吸引して前記はんだ除去部を清浄に
し、 さらに前記各工程を繰り返して第n列目の前記はんだ接
合部群の溶融はんだを吸い取った後、前記はんだ加熱部
と前記はんだ除去部とを前記半導体パッケージの外に移
動し、 前記パッケージ保持手段によって、前記半導体パッケー
ジを前記プリント配線基板から取り外す、半導体パッケ
ージの取り外し方法。 1. A method of removing a semiconductor package, comprising removing a group of solder joints between a lower surface of a semiconductor package and a printed wiring board on which the semiconductor package is mounted, and moving the package after the removal. The semiconductor package is held by package holding means, and a part of the joint group is brought into contact with the solder joint group arranged in a matrix in a gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board. A solder heating unit for heating and melting is inserted, and the solder heating unit is moved along the gap to make contact with the first row of the solder joint group and melt the first row. Starting, holding the solder heating section in the first row of the solder joint section group for a certain period of time and completely melting the first row; After the start of the movement after the elapse, a part of the endlessly formed solder removing portion formed by braiding a thin metal wire into a band shape, in order to adsorb and remove the molten solder in the first row by capillary action, After entering the melted portion in the gap to start adsorption and removal of the melted portion, the solder removing portion is stopped for a predetermined time after moving to the position of the melted solder joint portion group in the first row. Then, the melted portion is sucked and removed, and the solder heating section moves to between the first row and the second row of the solder joint section group, and at least the solder removing section moves for a predetermined time. After the stop is released and stopped until the movement is started again, after the solder removing section flattens the mounting pad on the printed wiring board by suction removal of the melted portion,
Moved to a position between the first row and the second row of the solder joint section group and stopped for a certain period of time, and further, the solder removing section moves the portion where the molten solder is adsorbed into the heat suction section, The heating suction unit heats the solder adsorbed in the solder removing unit to re-melt the solder, forcibly sucks the molten solder by a forced suction mechanism to clean the solder removing unit, and further repeats each of the steps. After sucking the molten solder of the solder joint portion group in the n-th row, the solder heating portion and the solder removing portion are moved out of the semiconductor package, and the semiconductor package is moved by the package holding means. How to remove a semiconductor package from a printed circuit board.
【手続補正3】[Procedure amendment 3]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0001[Correction target item name] 0001
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体パッケージの
取り外し方法に関し、とくにボール・グリッド・アレイ
及びチップ・サイズ・パッケージの取り外しに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for removing a semiconductor package, and more particularly to a method for removing a ball grid array and a chip size package.
【手続補正4】[Procedure amendment 4]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0010[Correction target item name] 0010
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0010】本発明の目的は、プリント配線基板におけ
る部品実装禁止領域を増大させることなく、実装密度を
向上させて電子機器の小型化に寄与し、かつBGA/C
SPの実装位置や、プリント配線基板の形状に応じた専
用治具の作成を必要とせず、したがって専用治具へのプ
リント配線基板の取り付け、取り外し等煩雑な段取りが
生じることのない、BGA/CSPタイプ半導体パッケ
ージの取り外し方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to increase the mounting density without increasing the area where parts are prohibited from being mounted on a printed wiring board, thereby contributing to the miniaturization of electronic equipment, and to achieve BGA / C
A BGA / CSP that does not require the creation of a dedicated jig according to the mounting position of the SP or the shape of the printed wiring board, and thus does not require complicated setup such as attaching and detaching the printed wiring board to and from the dedicated jig. An object of the present invention is to provide a method for removing a type semiconductor package.
【手続補正5】[Procedure amendment 5]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0011[Correction target item name] 0011
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の 半導体パッケ
ージの取り外し方法は、半導体パッケージの下面と、半
導体パッケージが実装されたプリント配線基板との間の
はんだ接合部群を除去し、さらに除去後パッケージを移
動させる半導体パッケージの取り外し方法であって、半
導体パッケージをパッケージ保持手段によって保持し、
半導体パッケージの下面とプリント配線基板との間の隙
間に、マトリクス状に配列されたはんだ接合部群と接触
して接合部群の一部分を加熱して溶融させるためのはん
だ加熱部を挿入し、はんだ加熱部を隙間に沿って移動し
て、はんだ接合部群の第1列目に接触して第1列目の溶
融を開始し、はんだ加熱部を一定時間、はんだ接合部群
の第1列目に保持して第1列目を完全に溶融し、はんだ
加熱部が、一定時間経過後移動を開始したのち、金属の
細線を帯状に編み組してエンドレスに形成されたはんだ
除去部の一部が、第1列目の溶融したはんだを毛細管現
象によって吸着除去するために、隙間において溶融した
部分に進入して溶融部分の吸着除去を開始し、はんだ除
去部が、第1列目の溶融したはんだ接合部群の位置まで
移動した後、一定時間停止して溶融した部分を吸着除去
し、はんだ加熱部が、はんだ接合部群の第1列目と第2
列目との間まで移動して、少なくともはんだ除去部が一
定時間の停止を解除して再度移動を開始するまでの間停
止し、はんだ除去部が、溶融した部分の吸着除去及びプ
リント配線基板上の実装パッドを平坦化した後、前記は
んだ接合部群の第1列目と第2列目との間まで移動して
一定時間停止し、さらにはんだ除去部は、溶融したはん
だを吸着した部分を加熱吸引部内に移動させ、加熱吸引
部は、はんだ除去部の吸着したはんだを加熱してはんだ
を再溶融させ、強制吸引機構により溶融はんだを強制吸
引してはんだ除去部を清浄にし、さらに各工程を繰り返
して第n列目のはんだ接合部群の溶融はんだを吸い取っ
た後、はんだ加熱部とはんだ除去部とを半導体パッケー
ジの外に移動し、パッケージ保持手段によって、半導体
パッケージをプリント配線基板から取り外す工程を含ん
でいる。 Means for Solving the Problems] Removal method of a semiconductor package of the present invention, the lower surface of the semiconductor package, half
Between the printed circuit board on which the conductor package is mounted
Remove the solder joints and remove the package after removal.
A method of removing a semiconductor package to be moved,
Holding the conductor package by package holding means,
The gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board
Contact between solder joints arranged in matrix between
To heat and melt a part of the joint group
Insert the heating section and move the soldering section along the gap.
And contact the first row of the solder joint group to melt the first row.
Starts melting and sets the solder joints for a certain period of time
In the first row, completely melt the first row,
After the heating unit starts moving after a certain period of time,
Endlessly formed braid of thin wires in a band shape
A part of the removal part removes the molten solder in the first row by a capillary tube.
Melted in the gap to be adsorbed and removed by the elephant
Enters the area to start adsorption and removal of the molten part,
To the position of the molten solder joint group in the first row
After moving, stop for a certain period of time and adsorb and remove the melted part
The solder heating section is connected to the first row and the second row of the solder joint section group.
Move to between the rows and make sure that at least
Stop until the fixed time is released and movement starts again
And the solder removal section removes and removes the melted portion by suction.
After flattening the mounting pads on the lint wiring board,
Between the first row and the second row of the
Stop for a certain time, and then remove the solder
Move the sucked part into the heating and suction part, and heat and suck
The part heats the solder adsorbed by the solder removal part and
Is re-melted, and the molten solder is forcibly sucked by the forced suction mechanism.
To clean the desoldered area and repeat each process.
To remove the molten solder in the solder joints in the nth row
After that, connect the solder heating part and the solder removal part to the semiconductor package.
Move out of the package,
Including the step of removing the package from the printed wiring board
In.
【手続補正6】[Procedure amendment 6]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0012[Correction target item name] 0012
【補正方法】削除[Correction method] Deleted
【手続補正7】[Procedure amendment 7]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0013[Correction target item name] 0013
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0013】本発明の 半導体パッケージの取り外し方
法は、上述のように、加熱部をはんだ接合部のみに直接
接触させてはんだを溶融し、溶融したはんだを除去する
除去部によって、プリント配線基板上に既に実装されて
いる他の部品及びプリント配線基板自体に熱損傷を与え
ずに、BGA/CSPを取り外すことができ、さらにま
た、加熱部によって溶融されたはんだを、加熱部と同一
装置内に配置されたはんだ除去部によって、直接実装パ
ッドに接触することなく、接合に用いられていたはんだ
の余剰分を吸い取ることによって、実装パッド上のはん
だの平坦化が可能となるから、実装パッドに機械的、熱
的負荷を与えることなく、かつBGA/CSPの取り外
しと同時に同一装置によって、連続した工程で行うこと
ができる。[0013] Removing the semiconductor package of the present invention
Law, as described above, the heating unit in direct contact with only the solder joint to melt the solder, molten by the removal unit for removing the solder, other components and printed that have already been mounted on the printed circuit board The BGA / CSP can be removed without causing thermal damage to the wiring board itself, and the solder melted by the heating unit is directly removed by the solder removal unit arranged in the same device as the heating unit. By absorbing excess solder used for bonding without contacting the solder, it is possible to flatten the solder on the mounting pad, so that no mechanical or thermal load is applied to the mounting pad, and It can be performed in a continuous process by the same device at the same time as the removal of the BGA / CSP.
【手続補正8】[Procedure amendment 8]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0014[Correction target item name] 0014
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明の半導体パッ
ケージの取り外し方法に用いる装置の第1の実施の形態
の構成を示す主要部分の斜視略図である。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view of a main part showing a configuration of a first embodiment of an apparatus used for a method of removing a semiconductor package according to the present invention.
【手続補正9】[Procedure amendment 9]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0030[Correction target item name] 0030
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【0030】[0030]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体パ
ッケージ下面とプリント配線基板との隙間において、は
んだ接合部のみに直接接触させてはんだを溶融する加熱
部と、溶融したはんだを除去する除去部とを、交互に移
動してはんだ接合部群を溶融、除去するようにしたた
め、第一の効果として、プリント配線基板上に既に実装
されている他の部品及びプリント配線基板自体に熱損傷
を与えずに、BGA/CSPを取り外すことができると
いう効果があり、したがって他の部品やプリント配線基
板自体への熱損傷を防止する施策を講じる必要がなくな
る。具体的には、プリント配線基板上にBGA/CSP
が実装される周囲及びその裏面にBGA/CSP取り外
し時の熱損傷を考慮した部品実装禁止領域を設ける必要
が無くなり、プリント配線基板の実装密度向上を実現で
き、その結果として電子機器の小型化に寄与できる。ま
た、BGA/CSP取り外し時の加熱によるプリント配
線基板の反りやパターン損傷などを抑制できるという効
果がある。As described above, according to the present invention, in the gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board, the heating section for directly contacting only the solder joint and melting the solder, and the removing section for removing the molten solder are provided. As a first effect, thermal damage is caused to other components already mounted on the printed wiring board and the printed wiring board itself because the parts are alternately moved to melt and remove the solder joint group. There is an effect that the BGA / CSP can be removed without giving it, so that it is not necessary to take measures to prevent thermal damage to other components and the printed wiring board itself. Specifically, BGA / CSP on the printed wiring board
There is no need to provide a component mounting prohibition area in the vicinity of and on the back surface where thermal damage when removing a BGA / CSP is taken into consideration, and it is possible to improve the mounting density of printed wiring boards, and as a result, to reduce the size of electronic devices. Can contribute. Further, there is an effect that warpage or pattern damage of the printed wiring board due to heating when the BGA / CSP is removed can be suppressed.
【手続補正10】[Procedure amendment 10]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】図面の簡単な説明[Correction target item name] Brief description of drawings
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の半導体パッケージの取り外し方法に使
用する装置の、第1の実施の形態の構成を示す主要部分
の斜視略図である。FIG. 1 illustrates a method for removing a semiconductor package according to the present invention.
1 is a schematic perspective view of a main part of an apparatus to be used , showing a configuration of a first embodiment.
【図2】本発明の半導体パッケージの取り外し方法を説
明する側面の略図である。FIG. 2 is a schematic side view illustrating a method of removing a semiconductor package according to the present invention.
【図3】本発明の半導体パッケージの取り外し方法に使
用する装置の、構成部分の詳細を示す側面の略図であ
る。FIG. 3 illustrates a method for removing a semiconductor package according to the present invention;
Of you use apparatus, a schematic representation of a side showing details of components.
【図4】本発明の半導体パッケージの取り外し方法に使
用する装置の、構成部分の詳細を示す図3と直角の方向
の側面の略図である。FIG. 4 illustrates a method for removing a semiconductor package according to the present invention.
FIG. 4 is a schematic side view of the device used, taken in a direction perpendicular to FIG. 3, showing details of the components;
【図5】本発明の半導体パッケージの取り外し方法に使
用する装置の、第2の実施の形態の構成を示す主要部分
の斜視略図である。FIG. 5 illustrates a method for removing a semiconductor package according to the present invention;
Of use for apparatus, a schematic perspective view of the main part showing a configuration of a second embodiment.
【図6】従来の半導体パッケージの取り外し装置および
取り外し方法をしめす部分断面略図である。FIG. 6 is a schematic partial cross-sectional view showing a conventional semiconductor package removing apparatus and method.
【図7】従来の半導体パッケージの別の取り外し装置お
よび取り外し方法を示す部分断面略図である。FIG. 7 is a schematic partial sectional view showing another conventional semiconductor package removing apparatus and method.
【手続補正11】[Procedure amendment 11]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】符号の説明[Correction target item name] Explanation of sign
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【符号の説明】 1 加熱部 1a 垂直部分 1b 水平部分 2 BGA/CSP 3 プリント配線基板 4 はんだ接合部群 4a 第1列目のはんだ接合部群 4b 第2列目のはんだ接合部群 4n 第n列目のはんだ接合部群 5、5a はんだ除去部 6 吸着ツール 7 加熱吸引部 8 ボトムヒータ 9 反り防止治具 10 ねじ付きスペーサ 11 裏面加熱口 12 発熱部 13 駆動源A 14 保持部 15 駆動源C 16 バックアップピン 17 ノズルヒータ S 隙間[Description of Signs] 1 Heating section 1a Vertical section 1b Horizontal section 2 BGA / CSP 3 Printed wiring board 4 Solder joint section group 4a First row solder joint section group 4b Second row solder joint section group 4n nth th column of solder joints group 5,5a desoldering unit 6 suction tool 7 heated suction unit 8 bottom heater 9 warp preventing jig 10 threaded spacers 11 backside pressurized hot inlet 12 heating unit 13 driving source a 14 holding portion 15 drive source C 16 Backup pin 17 Nozzle heater S Clearance
Claims (7)
ッケージが実装されたプリント配線基板との間のはんだ
接合部群を除去し、さらに除去後前記パッケージを移動
させる半導体パッケージの取り外し装置であって、 前記半導体パッケージの下面と前記プリント配線基板と
の間の隙間に挿入されて、前記はんだ接合部群の一部分
と接触して該接合部群の一部分を加熱して溶融させ、か
つ前記隙間に沿って移動可能なはんだ加熱部と、 前記隙間において、はんだ接合部群の前記溶融した部分
に進入して、該溶融部分を吸着除去するはんだ除去部
と、 前記はんだの溶融および吸着除去が行われる間、前記半
導体パッケージを保持し、はんだが除去された後前記半
導体パッケージをプリント配線基板から移動させるパッ
ケージ保持手段とを有する、半導体パッケージの取り外
し装置。1. A semiconductor package removal apparatus for removing a group of solder joints between a lower surface of a semiconductor package and a printed wiring board on which the semiconductor package is mounted, and further moving the package after the removal. It is inserted into a gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board, contacts a part of the solder joint group, heats and melts a part of the joint group, and along the gap. A movable solder heating unit, a solder removing unit that enters the molten portion of the solder joint group in the gap, and adsorbs and removes the molten portion, while the melting and adsorption removal of the solder are performed, Package holding means for holding the semiconductor package and moving the semiconductor package from a printed wiring board after the solder is removed. , Semiconductor package removal equipment.
能な寸法・形状に形成され、かつ該加熱部に接続された
発熱部と、前記はんだ加熱部を前記隙間に沿って前記プ
リント配線基板に平行に、かつ前記はんだ接合部に対向
して移動させる駆動源とを有する、請求項1に記載の半
導体パッケージの取り外し装置。2. The printed wiring board according to claim 2, wherein the solder heating section is formed in a size and a shape that can be inserted into the gap, and a heating section connected to the heating section and the solder heating section are arranged along the gap. 2. The apparatus for removing a semiconductor package according to claim 1, further comprising: a driving source configured to move the semiconductor package in parallel with the solder joint portion.
組して、前記隙間に挿入可能な寸法・形状のエンドレス
の帯状に形成される、請求項1に記載の半導体パッケー
ジの取り外し装置。3. The semiconductor package removing apparatus according to claim 1, wherein the solder removing section is formed by braiding a thin metal wire into an endless strip having a size and shape insertable into the gap.
が、銅線である、請求項3に記載の半導体パッケージの
取り外し装置。4. The semiconductor package removing device according to claim 3, wherein the thin metal wire forming the solder removing portion is a copper wire.
に、溶融はんだに対する毛細管現象を助長するためのフ
ラックスが施される、請求項3または4に記載の半導体
パッケージの取り外し装置。5. The semiconductor package removing apparatus according to claim 3, wherein a flux for promoting a capillary phenomenon with respect to the molten solder is applied to the thin metal wire forming the solder removing portion.
に対する濡れ性のよい金属のめっき層を有する金属板で
形成される、請求項1に記載の半導体パッケージの取り
外し装置。6. The semiconductor package removing apparatus according to claim 1, wherein the solder removing section is formed of a metal plate having a metal plating layer having a good wettability to molten solder on a surface thereof.
ッケージが実装されたプリント配線基板との間のはんだ
接合部群を除去し、さらに除去後前記パッケージを移動
させる半導体パッケージの取り外し方法であって、 前記半導体パッケージをパッケージ保持手段によって保
持し、 前記半導体パッケージの下面と前記プリント配線基板と
の間の隙間に、マトリクス状に配列された前記はんだ接
合部群と接触して該接合部群の一部分を加熱して溶融さ
せるためのはんだ加熱部を挿入し、 前記はんだ加熱部を前記隙間に沿って移動して、前記は
んだ接合部群の第1列目に接触して該第1列目の溶融を
開始し、前記はんだ加熱部を一定時間、前記はんだ接合
部群の第1列目に保持して該第1列目を完全に溶融し、 前記はんだ加熱部が、前記一定時間経過後移動を開始し
たのち、金属の細線を帯状に編み組してエンドレスに形
成されたはんだ除去部の一部が、前記第1列目の溶融し
たはんだを毛細管現象によって吸着除去するために、前
記隙間において前記溶融した部分に進入して該溶融部分
の吸着除去を開始し、 前記はんだ除去部が、前記第1列目の前記溶融したはん
だ接合部群の位置まで移動した後、一定時間停止して前
記溶融した部分を吸着除去し、 前記はんだ加熱部が、前記はんだ接合部群の第1列目と
第2列目との間まで移動して、少なくとも前記はんだ除
去部が前記一定時間の停止を解除して再度移動を開始す
るまでの間停止し、 前記はんだ除去部が、前記溶融した部分の吸着除去及び
前記プリント配線基板上の実装パッドを平坦化した後、
前記はんだ接合部群の第1列目と第2列目との間まで移
動して一定時間停止し、 さらに前記はんだ除去部は、前記溶融したはんだを吸着
した部分を加熱吸引部内に移動させ、 前記加熱吸引部は、前記はんだ除去部の前記吸着したは
んだを加熱してはんだを再溶融させ、強制吸引機構によ
り溶融はんだを強制吸引して前記はんだ除去部を清浄に
し、 さらに前記各工程を繰り返して第n列目の前記はんだ接
合部群の溶融はんだを吸い取った後、前記はんだ加熱部
と前記はんだ除去部とを前記半導体パッケージの外に移
動し、 前記パッケージ保持手段によって、前記半導体パッケー
ジを前記プリント配線基板から取り外す、半導体パッケ
ージの取り外し方法。7. A method of removing a semiconductor package, comprising removing a group of solder joints between a lower surface of a semiconductor package and a printed wiring board on which the semiconductor package is mounted, and moving the package after the removal. The semiconductor package is held by package holding means, and a part of the joint group is brought into contact with the solder joint group arranged in a matrix in a gap between the lower surface of the semiconductor package and the printed wiring board. A solder heating unit for heating and melting is inserted, and the solder heating unit is moved along the gap to make contact with the first row of the solder joint group and melt the first row. Starting, holding the solder heating section in the first row of the solder joint section group for a certain period of time and completely melting the first row; After the start of the movement after the elapse, a part of the endlessly formed solder removing portion formed by braiding a thin metal wire into a band shape, in order to adsorb and remove the molten solder in the first row by capillary action, After entering the melted portion in the gap to start adsorption and removal of the melted portion, the solder removing portion is stopped for a predetermined time after moving to the position of the melted solder joint portion group in the first row. Then, the melted portion is sucked and removed, and the solder heating section moves to between the first row and the second row of the solder joint section group, and at least the solder removing section moves for a predetermined time. After the stop is released and stopped until the movement is started again, after the solder removing section flattens the mounting pad on the printed wiring board by suction removal of the melted portion,
Moved to a position between the first row and the second row of the solder joint section group and stopped for a certain period of time, and further, the solder removing section moves the portion where the molten solder is adsorbed into the heat suction section, The heating suction unit heats the solder adsorbed in the solder removing unit to re-melt the solder, forcibly sucks the molten solder by a forced suction mechanism to clean the solder removing unit, and further repeats each of the steps. After sucking the molten solder of the solder joint portion group in the n-th row, the solder heating portion and the solder removing portion are moved out of the semiconductor package, and the semiconductor package is moved by the package holding means. How to remove a semiconductor package from a printed circuit board.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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