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JP2000150970A - Light emitting device bonding method and equipment - Google Patents

Light emitting device bonding method and equipment

Info

Publication number
JP2000150970A
JP2000150970A JP10328111A JP32811198A JP2000150970A JP 2000150970 A JP2000150970 A JP 2000150970A JP 10328111 A JP10328111 A JP 10328111A JP 32811198 A JP32811198 A JP 32811198A JP 2000150970 A JP2000150970 A JP 2000150970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting element
bonding
chip
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10328111A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyobumi Yamamoto
清文 山本
Hiroshi Maeda
弘 前田
Satoshi Ajino
敏 味埜
Kazuhiro Nishida
和弘 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP10328111A priority Critical patent/JP2000150970A/en
Priority to US09/438,062 priority patent/US6208419B1/en
Priority to EP99308961A priority patent/EP1003212A3/en
Publication of JP2000150970A publication Critical patent/JP2000150970A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable the emission center of a light emitting device to be very accurately positioned at a prescribed point on a board without being affected by variations in the external shape of the light emitting device. SOLUTION: A light emitting device bonding equipment is equipped with a probe 16, which makes the LED chip 14 start emitting light before an LED chip 14 is bonded on a board 12, an imaging means 18, which recognizes the emission center of the LED chip 14 and does image recognition of the external shape reference point coordinates of the LED chip 14 with respect to the recognized emission center, and a light emitting device holding means 20 which positions the LED chip 14 at a bonding position on the board 12, resting on the basis of the external shape reference point coordinates subjected to image recognition.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、発光素子を基板上
の所定の位置にボンディングするための発光素子のボン
ディング方法および装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting device bonding method and apparatus for bonding a light emitting device to a predetermined position on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般的に、画像の読み取り用や出力(記
録)用の光源として、LDまたはLED等を複数個配列
させた発光素子アレイが採用されている。例えば、図1
6に示すように、LEDアレイ1は、基板2上に複数の
LEDチップ(発光素子)3を一方向に向かって等間隔
に配列して構成されている。なお、LEDチップ3は、
銀ペーストを介して基板2上にボンディングされてお
り、各LEDチップ3から金ワイヤ4が導出されてい
る。
2. Description of the Related Art In general, a light emitting element array in which a plurality of LDs or LEDs are arranged is employed as a light source for reading or outputting (recording) an image. For example, FIG.
As shown in FIG. 6, the LED array 1 is configured by arranging a plurality of LED chips (light emitting elements) 3 on a substrate 2 at equal intervals in one direction. In addition, the LED chip 3
The gold wire 4 is led out from each LED chip 3 by being bonded onto the substrate 2 via a silver paste.

【0003】この種のLEDアレイ1では、各LEDチ
ップ3の発光中心間距離が等間隔になるように、各LE
Dチップ3を基板2上に高精度にアライメントする必要
がある。このため、例えば、特開平6−216170号
公報に開示されている自動ダイポンダーが知られてい
る。この従来技術では、半導体素子とこれが接合される
ワークとの間に固体撮像素子を移動させ、上側の固体撮
像素子で半導体素子のマークを撮影する一方、下側の固
体撮像素子でワークのマークを撮影している。次いで、
処理制御部により半導体素子とワークとの相対的な位置
関係が算出された後、この算出結果に基づいて半導体素
子とワークとの相対位置関係を調整してボンディングを
行っている。
In this type of LED array 1, each LE chip is so arranged that the distance between the light emitting centers of the LED chips 3 is equal.
It is necessary to align the D chip 3 on the substrate 2 with high precision. For this reason, for example, an automatic diponder disclosed in JP-A-6-216170 is known. In this conventional technique, a solid-state imaging device is moved between a semiconductor device and a work to which the semiconductor device is joined, and an upper solid-state imaging device captures a mark of a semiconductor device, while a lower solid-state imaging device marks a work mark. I'm shooting. Then
After the relative position relation between the semiconductor element and the work is calculated by the processing control unit, the bonding is performed by adjusting the relative position relation between the semiconductor element and the work based on the calculation result.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、LED
チップでは、通常、その発光中心と外形形状の中心とに
位置ずれが発生している。このため、それぞれに設けら
れたアライメントマークを合せるようにしてLEDチッ
プと基板との位置合わせを行ったとしても、前記LED
チップの発光中心のばらつきには有効に対応することが
できないという問題がある。
SUMMARY OF THE INVENTION However, LEDs
In a chip, a position shift usually occurs between the emission center and the center of the external shape. For this reason, even if the alignment between the LED chip and the substrate is performed by aligning the alignment marks provided respectively,
There is a problem that it is not possible to effectively cope with variations in the light emission center of the chip.

【0005】しかも、LEDチップは、特にその外形形
状にばらつきが大きく、このLEDチップの外形形状の
中心位置を認識する際にずれが生じ易い。これにより、
各LEDチップの発光中心を精度よく位置決めすること
は困難であり、高精度なLEDアレイを構成することが
できないという問題が指摘されている。
[0005] In addition, the LED chip has a large variation particularly in its outer shape, and the LED chip is likely to shift when recognizing the center position of the outer shape. This allows
It is difficult to accurately position the emission center of each LED chip, and it has been pointed out that a high-precision LED array cannot be formed.

【0006】本発明はこの種の問題を解決するものであ
り、発光素子の発光中心のばらつきや外形形状のばらつ
きに影響されることがなく、前記発光素子の発光中心を
基板上に高精度かつ容易に位置決めすることが可能な発
光素子のボンディング方法および装置を提供することを
目的とする。
The present invention is intended to solve this kind of problem, and is not affected by variations in the light emission centers and outer shapes of the light emitting elements. It is an object of the present invention to provide a method and an apparatus for bonding a light emitting element that can be easily positioned.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る発光素子の
ボンディング方法および装置では、先ず、ボンディング
前に発光素子を発光させてこの発光素子の発光中心を認
識し、該認識された発光中心の座標に対する前記発光素
子の外形基準点座標を画像認識する。次いで、画像認識
された外形基準点座標に基づいて発光素子を基板上のボ
ンディング位置に位置決めし、前記発光素子を前記基板
上にボンディングする。
In the method and apparatus for bonding a light emitting element according to the present invention, first, the light emitting element is caused to emit light before bonding to recognize the light emitting center of the light emitting element. Image coordinates of the outer reference point of the light emitting element with respect to the coordinates are recognized. Next, the light emitting element is positioned at a bonding position on the substrate based on the image-recognized outer shape reference point coordinates, and the light emitting element is bonded on the substrate.

【0008】これにより、発光素子毎の発光中心のばら
つきや外形形状のばらつきに影響されることがなく、前
記発光素子の発光中心を基板上の所望の位置に対して高
精度に位置決めすることが可能になる。従って、複数の
発光素子を基板上にボンディングする際、各発光素子の
発光中心間距離を等間隔かつ高精度に位置決めすること
ができ、高品質な発光素子アレイを簡単に製造すること
が可能になる。
[0008] This makes it possible to position the emission center of the light emitting element with respect to a desired position on the substrate with high accuracy without being affected by the variation of the emission center and the variation of the outer shape of each light emitting element. Will be possible. Therefore, when bonding a plurality of light emitting elements on a substrate, the distance between the light emitting centers of each light emitting element can be positioned at equal intervals and with high precision, and a high quality light emitting element array can be easily manufactured. Become.

【0009】ここで、発光素子を発光させる発光手段お
よび発光素子保持手段が、撮像手段の光軸方向に交差す
る方向に進退可能である。従って、固定された撮像手段
を介して発光素子と基板との位置合わせ処理が高精度に
遂行される。
Here, the light emitting means for causing the light emitting element to emit light and the light emitting element holding means can advance and retreat in a direction intersecting the optical axis direction of the imaging means. Therefore, the alignment process between the light emitting element and the substrate is performed with high precision via the fixed imaging means.

【0010】また、発光素子は複数のチップが連接され
ており、1つのチップが発光用チップとして使用される
一方、その他のチップが前記発光素子を保持するための
吸着用チップとして機能する。これにより、発光素子を
保持したまま発光させることが可能となり、前記発光素
子の吸着時に位置ずれが発生することを確実に阻止する
ことができる。
A plurality of chips are connected to the light emitting element. One chip is used as a light emitting chip, and the other chip functions as a suction chip for holding the light emitting element. As a result, it is possible to emit light while holding the light emitting element, and it is possible to reliably prevent the occurrence of misalignment when the light emitting element is attracted.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施形態に係る
発光素子のボンディング方法を実施するためのボンディ
ング装置10の概略斜視説明図であり、図2は、前記ボ
ンディング装置10の側面説明図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a bonding apparatus 10 for carrying out a light emitting element bonding method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view of the bonding apparatus 10. FIG.

【0012】ボンディング装置10は、基板12上に発
光素子であるLEDチップ14をボンディングする前に
このLEDチップ14を発光させる手段であるプローブ
16と、前記LEDチップ14の発光中心を認識し、こ
の認識された発光中心の座標に対する該LEDチップ1
4の外形基準点座標を画像認識するための撮像手段18
と、画像認識された前記外形基準点座標に基づいて、前
記LEDチップ14を前記基板12上のボンディング位
置に位置決めする発光素子保持手段20とを備える。
Before bonding the LED chip 14 as a light emitting element on the substrate 12, the bonding apparatus 10 recognizes a probe 16 as a means for emitting light from the LED chip 14 and a light emission center of the LED chip 14. The LED chip 1 with respect to the coordinates of the recognized light emission center
Imaging means 18 for recognizing the coordinates of the outer shape reference point 4
And light emitting element holding means 20 for positioning the LED chip 14 at a bonding position on the substrate 12 based on the image-recognized coordinates of the external reference point.

【0013】ボンディング装置10を構成する定盤22
の上面24には、移動機構26が設けられる。移動機構
26は、第1モータ28を介して直交座標系のY軸方向
に移動可能な第1移動ステージ30と、第2モータ32
を介して前記第1移動ステージ30に対し直交座標系の
X軸方向に移動可能な第2移動ステージ34とを備え
る。
A platen 22 constituting the bonding apparatus 10
A moving mechanism 26 is provided on the upper surface 24 of the. The moving mechanism 26 includes a first moving stage 30 that can move in the Y-axis direction of a rectangular coordinate system via a first motor 28, and a second motor 32
And a second moving stage 34 that can move in the X-axis direction of the orthogonal coordinate system with respect to the first moving stage 30 via the first moving stage 30.

【0014】第1移動ステージ30は、Y軸方向に延在
して配置される一対のガイドレール36a、36bと、
前記ガイドレール36a、36b間に配置され、Y軸方
向に延在するボールねじ38とを備え、このボールねじ
38の一端側に第1モータ28の出力軸が連結される。
ボールねじ38には、Y軸可動テーブル40に設けられ
た図示しないナット部材が螺合しており、このY軸可動
テーブル40がガイドレール36a、36bに支持され
ている。
The first moving stage 30 has a pair of guide rails 36a and 36b extending in the Y-axis direction.
A ball screw 38 disposed between the guide rails 36a and 36b and extending in the Y-axis direction. An output shaft of the first motor 28 is connected to one end of the ball screw 38.
A nut member (not shown) provided on the Y-axis movable table 40 is screwed to the ball screw 38, and the Y-axis movable table 40 is supported by guide rails 36a and 36b.

【0015】Y軸可動テーブル40は、X軸方向に長尺
に構成されており、このY軸可動テーブル40上には、
第2移動ステージ34を構成する一対のガイドレール4
2a、42bと、このガイドレール42a、42b間に
配置されるボールねじ44とがX軸方向に延在して配置
される。ボールねじ44の一端に第2モータ32の出力
軸が連結されるとともに、このボールねじ44がX軸可
動テーブル46に設けられた図示しないナット部材に螺
合している。
The Y-axis movable table 40 is configured to be long in the X-axis direction.
A pair of guide rails 4 constituting the second moving stage 34
2a and 42b and a ball screw 44 arranged between the guide rails 42a and 42b are arranged to extend in the X-axis direction. The output shaft of the second motor 32 is connected to one end of the ball screw 44, and the ball screw 44 is screwed to a nut member (not shown) provided on the X-axis movable table 46.

【0016】X軸可動テーブル46の上面48には、複
数のLEDチップ14が切り出されたチップウエハ50
を配置するチップ配置台52と、各LEDチップ14毎
に回転位置を補正するためのθステージ54と、基板1
2を吸着保持する基板吸着台56とが設けられる。θス
テージ54は、図示しないアクチュエータを介してZ軸
回りに回転自在な回転テーブル58を備えている。
On the upper surface 48 of the X-axis movable table 46, a chip wafer 50 from which a plurality of LED chips 14 are cut out.
And a θ stage 54 for correcting the rotational position of each LED chip 14,
And a substrate suction table 56 for holding the substrate 2 by suction. stage 54 includes a rotary table 58 that is rotatable around the Z axis via an actuator (not shown).

【0017】定盤22の一端側にコラム60が立設さ
れ、このコラム60には、プローブ16および発光素子
保持手段20をZ軸方向およびX軸方向に進退可能な駆
動手段62が設けられる。駆動手段62は、コラム60
の垂直面に固定されたフレーム64を備え、このフレー
ム64の一端側に第3モータ66が固着され、この第3
モータ66の出力軸にボールねじ68が連結される。ボ
ールねじ68には、X軸テーブル70が装着され、この
X軸テーブル70には、上下方向に向かってフレーム7
2が固定される。
A column 60 is provided upright on one end of the surface plate 22. The column 60 is provided with a driving means 62 capable of moving the probe 16 and the light emitting element holding means 20 in the Z-axis direction and the X-axis direction. The driving means 62 includes a column 60
A third motor 66 is fixed to one end of the frame 64, and the third motor 66 is fixed to the vertical surface of the third motor 66.
A ball screw 68 is connected to the output shaft of the motor 66. An X-axis table 70 is mounted on the ball screw 68. The X-axis table 70
2 is fixed.

【0018】フレーム72の上部に第4モータ74が固
定され、この第4モータ74の出力軸に連結されたボー
ルねじ76が、Z軸方向に延在して昇降台78に係合す
る。昇降台78には、発光素子保持手段20を構成する
コレット部材80が設けられ、このコレット部材80に
は、図示しない負圧発生源が連通している。昇降台78
には、プローブ16が固定されるとともに、このプロー
ブ16の先端側には、Z軸方向に対して傾斜する接触子
82が設けられている。
A fourth motor 74 is fixed to an upper portion of the frame 72, and a ball screw 76 connected to an output shaft of the fourth motor 74 extends in the Z-axis direction and engages with a lift 78. The elevating table 78 is provided with a collet member 80 constituting the light-emitting element holding means 20, and a negative pressure generating source (not shown) communicates with the collet member 80. Lifting table 78
, A probe 16 is fixed, and a contact 82 that is inclined with respect to the Z-axis direction is provided on the distal end side of the probe 16.

【0019】コラム60には、撮像手段18を構成する
アーム84が設けられ、このアーム84の先端にはCC
Dカメラ86、88がそれぞれZ軸方向およびX軸方向
に指向して装着される。CCDカメラ86、88の光軸
上には、二焦点光学系90が設けられている。定盤22
の側部には、CCDカメラ86、88により撮像された
画像が入力され、画像処理を行ってLEDチップ14の
外形基準点L1(後述する)の座標を認識するための画
像処理部100が並設されている。
The column 60 is provided with an arm 84 constituting the image pickup means 18.
D cameras 86 and 88 are mounted so as to be oriented in the Z-axis direction and the X-axis direction, respectively. A bifocal optical system 90 is provided on the optical axes of the CCD cameras 86 and 88. Surface plate 22
An image processing unit 100 for inputting images picked up by the CCD cameras 86 and 88 and performing image processing to recognize the coordinates of an outer shape reference point L1 (described later) of the LED chip 14 is arranged on the side of. Has been established.

【0020】このように構成されるボンディング装置1
0の動作について、図3〜図5に示すフローチャートに
基づいて以下に説明する。
The bonding apparatus 1 configured as described above
The operation of No. 0 will be described below based on the flowcharts shown in FIGS.

【0021】先ず、基板吸着台56上に基板12がセッ
トされる。この基板12は、X軸方向のエッジを図示し
ないステーション基準面に合わせて位置決めされてお
り、基板吸着台56に設けられている図示しない吸着孔
から吸引されることによって、この基板吸着台56上に
吸着保持される。一方、チップ配置台52上には、複数
のLEDチップ14がウエハ状に配置されている。
First, the substrate 12 is set on the substrate suction table 56. The substrate 12 is positioned so that an edge in the X-axis direction is aligned with a station reference plane (not shown), and is sucked from a suction hole (not shown) provided on the substrate suction table 56 so as to be positioned on the substrate suction table 56. Is held by suction. On the other hand, a plurality of LED chips 14 are arranged on the chip placement table 52 in a wafer shape.

【0022】そこで、移動機構26が駆動され、チップ
配置台52が撮像手段18のカメラセンタに対応する位
置、すなわち、チップ取り出し位置に配置される(ステ
ップS1)。移動機構26では、第1モータ28が駆動
されることにより、ボールねじ38の回転作用下にY軸
可動テーブル40がY軸方向に移動するとともに、第2
モータ32の駆動作用下にボールねじ44が回転される
ことによって、X軸可動テーブル46がX軸方向に移動
する。従って、第1および第2モータ28、32が駆動
制御されることにより、チップ配置台52の所定の位置
に配置されているLEDチップ14がチップ取り出し位
置に対応して配置される。
Then, the moving mechanism 26 is driven, and the chip placement table 52 is placed at a position corresponding to the camera center of the image pickup means 18, that is, at a chip take-out position (step S1). In the moving mechanism 26, when the first motor 28 is driven, the Y-axis movable table 40 moves in the Y-axis direction under the rotation of the ball screw 38, and
When the ball screw 44 is rotated by the driving action of the motor 32, the X-axis movable table 46 moves in the X-axis direction. Therefore, by controlling the driving of the first and second motors 28 and 32, the LED chips 14 arranged at predetermined positions on the chip placement table 52 are arranged corresponding to the chip pick-up positions.

【0023】次いで、撮像手段18を構成する、例え
ば、CCDカメラ86を介してチップ配置台52上の所
定のLEDチップ14が撮像される(ステップS2)。
CCDカメラ86で撮像されたLEDチップ14の画像
信号は、画像処理部100に送られて画像処理が施さ
れ、前記LEDチップ14の外形中心が認識されて該L
EDチップ14の補正量(△Xおよび△Y)が演算され
る(ステップS3)。
Next, a predetermined LED chip 14 on the chip placement table 52 is imaged via the CCD camera 86, for example, which constitutes the image pickup means 18 (step S2).
The image signal of the LED chip 14 picked up by the CCD camera 86 is sent to the image processing unit 100 and subjected to image processing.
The correction amount (ΔX and ΔY) of the ED chip 14 is calculated (Step S3).

【0024】この画像信号から得られた補正量が予め設
定されている基準値と比較され(ステップS4)、この
補正量が前記基準値よりも大きいと判断されると、ステ
ップS5に進んで補正量に対応する移動補正が行われ
る。具体的には、第1モータ28を介して補正量△Yの
移動が行われ、第2モータ32を介して補正量△Xの移
動が行われる。
The correction amount obtained from the image signal is compared with a preset reference value (step S4), and if it is determined that the correction amount is larger than the reference value, the flow advances to step S5 to perform correction. A movement correction corresponding to the amount is performed. Specifically, the movement of the correction amount △ Y is performed via the first motor 28, and the movement of the correction amount △ X is performed via the second motor 32.

【0025】一方、ステップS4で補正量が基準値以下
であると判断されると、ステップS6に進んでコレット
部材80によるLEDチップ14の吸着保持が行われ
る。すなわち、駆動手段62を介してコレット部材80
が撮像手段18のカメラセンタ上に配置された後、第4
モータ74の作用下に昇降台78が下降する。そして、
昇降台78に設けられているコレット部材80が、上記
のように位置決めされたLEDチップ14に当接し、図
示しない負圧発生源の作用下にこのコレット部材80に
より前記LEDチップ14が吸着される。さらに、第4
モータ74が前記とは逆方向に回転して昇降台78が上
方に移動することにより、コレット部材80と一体的に
LEDチップ14が上昇する(図6参照)。
On the other hand, if it is determined in step S4 that the correction amount is equal to or less than the reference value, the process proceeds to step S6, where the collet member 80 holds the LED chip 14 by suction. That is, the collet member 80 is
Is placed on the camera center of the imaging means 18 and then the fourth
Under the action of the motor 74, the elevator 78 descends. And
The collet member 80 provided on the lift 78 abuts the LED chip 14 positioned as described above, and the collet member 80 sucks the LED chip 14 under the action of a negative pressure source (not shown). . In addition, the fourth
When the motor 74 rotates in the opposite direction to that described above and the elevator 78 moves upward, the LED chip 14 moves up integrally with the collet member 80 (see FIG. 6).

【0026】そこで、移動機構26の駆動作用下に、θ
ステージ54が撮像手段18のカメラセンタに移動され
た後(ステップS7)、昇降台78と一体的にコレット
部材80が下降する。このため、コレット部材80に吸
着保持されているLEDチップ14は、図7に示すよう
に、θステージ54を構成する回転テーブル58上に移
載される(ステップS8)。コレット部材80は、LE
Dチップ14の吸着を解除した後、昇降台78と一体的
に上昇する一方、撮像手段18を構成するCCDカメラ
86により回転テーブル58上の前記LEDチップ14
が撮像される(ステップS9)。
Then, under the driving action of the moving mechanism 26, θ
After the stage 54 has been moved to the camera center of the imaging means 18 (step S7), the collet member 80 descends integrally with the elevator 78. For this reason, the LED chip 14 sucked and held by the collet member 80 is transferred onto the rotary table 58 constituting the θ stage 54 as shown in FIG. 7 (step S8). The collet member 80 is LE
After the suction of the D chip 14 is released, the LED chip 14 on the turntable 58 is moved upward by the CCD camera 86 constituting the image pickup means 18 while being moved up integrally with the lifting table 78.
Is imaged (step S9).

【0027】LEDチップ14の撮影画像は、画像処理
部100で画像処理され、このLEDチップ14の外形
エッジが認識されて補正量△θが演算される(ステップ
S10)。この補正量△θが予め設定されている基準値
と比較され(ステップS11)、前記補正量△θが前記
基準値よりも大きいと判断されると、ステップS12に
進んで補正量△θに対応して回転テーブル58の回転補
正が行われる。
The captured image of the LED chip 14 is subjected to image processing by the image processing section 100, and the outer edge of the LED chip 14 is recognized, and the correction amount Δθ is calculated (step S10). This correction amount △ θ is compared with a preset reference value (step S11), and if it is determined that the correction amount △ θ is larger than the reference value, the process proceeds to step S12, where the correction amount △ θ corresponds to the correction amount △ θ. Then, the rotation of the turntable 58 is corrected.

【0028】θステージ54での補正が終了した後、駆
動手段62を構成する第3モータ66の駆動作用下にフ
レーム72がX軸方向に移動し、プローブ16が撮像手
段18のカメラセンタに対応して配置される(ステップ
S13)。さらに、第4モータ74の作用下に昇降台7
8が下降し、プローブ16の先端に設けられている接触
子82が回転テーブル58上のLEDチップ14に接触
する(図8参照)。
After the correction by the θ stage 54 is completed, the frame 72 moves in the X-axis direction under the driving action of the third motor 66 constituting the driving means 62, and the probe 16 corresponds to the camera center of the imaging means 18. (Step S13). Further, under the action of the fourth motor 74, the lift 7
8 descends, and the contact 82 provided at the tip of the probe 16 contacts the LED chip 14 on the turntable 58 (see FIG. 8).

【0029】この状態で、図示しない電流電源がONさ
れると、LEDチップ14が発光し(ステップS1
4)、撮像手段18を構成するCCDカメラ86で前記
LEDチップ14の発光中心L0が撮像される(ステッ
プS15および図9参照)。CCDカメラ86の映像信
号は、画像処理部100に送られて発光中心L0の座標
が認識される。次に、図示しない電流電源がOFFされ
た後、画像処理部100では、図10に示すように、認
識された発光中心L0の座標に対するLEDチップ14
の外形基準線S1、S2から外形基準点L1の座標(発
光中心L0との相対座標)が演算される(ステップS1
6)。
In this state, when a current power supply (not shown) is turned on, the LED chip 14 emits light (step S1).
4) The light emission center L0 of the LED chip 14 is imaged by the CCD camera 86 constituting the imaging means 18 (see step S15 and FIG. 9). The video signal from the CCD camera 86 is sent to the image processing unit 100, and the coordinates of the light emission center L0 are recognized. Next, after a current power source (not shown) is turned off, the image processing unit 100, as shown in FIG.
The coordinates (relative coordinates with respect to the light emission center L0) of the outer shape reference point L1 are calculated from the outer shape reference lines S1 and S2 (step S1).
6).

【0030】ここで、駆動手段62を構成する第4モー
タ74が駆動され、昇降台78が上方に変位してプロー
ブ16がLEDチップ14から離脱する。その後、第3
モータ66が駆動されて昇降台78がフレーム72と一
体的に矢印X方向に移動し、コレット部材80が撮像手
段18のカメラセンタに移動する(ステップS17)。
そして、第4モータ74が駆動されて昇降台78が下方
向に移動することにより、コレット部材80が回転テー
ブル58上のLEDチップ14に当接し、図示しない負
圧発生源の作用下に前記LEDチップ14が前記コレッ
ト部材80に吸着される。
At this time, the fourth motor 74 constituting the driving means 62 is driven, the lift 78 is displaced upward, and the probe 16 is separated from the LED chip 14. Then the third
The motor 66 is driven to move the elevating table 78 integrally with the frame 72 in the arrow X direction, and the collet member 80 moves to the camera center of the imaging means 18 (step S17).
Then, the fourth motor 74 is driven to move the elevating table 78 downward, so that the collet member 80 abuts on the LED chip 14 on the rotary table 58, and under the action of a negative pressure generating source (not shown), The tip 14 is attracted to the collet member 80.

【0031】図11に示すように、コレット部材80
は、第4モータ74の作用下に昇降台78と一体的に上
方に移動し、LEDチップ14を吸着保持して回転テー
ブル58上から取り出す(ステップS18)。さらに、
ステップS19に進み、移動機構26の駆動作用下に基
板吸着台56に吸着保持されている基板12上のボンデ
ィング位置が、撮像手段18のカメラセンタに対応する
位置に配置される。
As shown in FIG. 11, the collet member 80
Moves upward together with the lifting table 78 under the action of the fourth motor 74 to suck and hold the LED chip 14 and take it out of the turntable 58 (step S18). further,
Proceeding to step S19, the bonding position on the substrate 12, which is sucked and held by the substrate suction table 56 under the driving action of the moving mechanism 26, is arranged at a position corresponding to the camera center of the imaging means 18.

【0032】次いで、LEDチップ14を吸着したコレ
ット部材80が第4モータ74の作用下に下降し、基板
12と前記LEDチップ14との間隔が100μm程度
になる高さ位置で前記コレット部材80の下降が停止さ
れる(ステップS20および図12参照)。この状態
で、撮像手段18を構成する、例えば、CCDカメラ8
8によりLEDチップ14が撮像される(ステップS2
1)。
Next, the collet member 80 that has attracted the LED chip 14 is lowered under the action of the fourth motor 74, and the collet member 80 is positioned at a height where the distance between the substrate 12 and the LED chip 14 is about 100 μm. The lowering is stopped (see step S20 and FIG. 12). In this state, for example, the CCD camera 8 constituting the imaging unit 18
8 captures an image of the LED chip 14 (step S2).
1).

【0033】このため、LEDチップ14の外形基準線
S1、S2および外形基準点L1が認識され、図13に
示すように、この外形基準点L1から算出される発光中
心L0と、基板12のボンディング位置との位置ずれ量
である補正量(△Xおよび△Y)が演算される(ステッ
プS22およびS23)。そして、ステップS24に進
んで、この補正量が予め設定されている基準値よりも大
きいと判断されると、ステップS25に進み基板12上
のボンディング位置が補正された後、この基板12にL
EDチップ14がボンディングされる(ステップS2
6)。
Therefore, the outer reference lines S1 and S2 and the outer reference point L1 of the LED chip 14 are recognized, and as shown in FIG. 13, the light emission center L0 calculated from the outer reference point L1 and the bonding of the substrate 12 Correction amounts (ΔX and ΔY), which are positional deviation amounts from the position, are calculated (steps S22 and S23). Then, the process proceeds to step S24, and if it is determined that the correction amount is larger than the preset reference value, the process proceeds to step S25, where the bonding position on the substrate 12 is corrected.
The ED chip 14 is bonded (Step S2)
6).

【0034】一方、ステップS24で補正量が基準値以
下であると判断されると、同様にステップS26に進
み、LEDチップ14が基板12上に予め設けられてい
る銀ペースト上にボンディングされる。
On the other hand, if it is determined in step S24 that the correction amount is equal to or smaller than the reference value, the process similarly proceeds to step S26, where the LED chip 14 is bonded onto a silver paste provided on the substrate 12 in advance.

【0035】チップ配置台52上に配置されている次の
LEDチップ14に対しても、上記と同様にステップS
2〜S18までの工程が行われる。そして、ステップS
19では、前回置かれたLEDチップ14との間隔が所
定の値になるように、基板吸着台56が一定ピッチでX
軸方向に移動された後、基板12上の新たなボンディン
グ位置が設定される。さらに、ステップS20以降の工
程が行われることにより、次なるLEDチップ14は、
基板12上に前回置かれたLEDチップ14との発光中
心L0間のピッチが一定になるように位置合わせされた
状態でボンディングされる(図14参照)。
For the next LED chip 14 placed on the chip placement table 52, the same operation as described above is performed at step S.
Steps 2 to S18 are performed. And step S
In step 19, the substrate suction table 56 is moved at a constant pitch so that the distance from the LED chip 14 placed last time becomes a predetermined value.
After being moved in the axial direction, a new bonding position on the substrate 12 is set. Further, by performing the steps after step S20, the next LED chip 14 becomes:
Bonding is performed in a state where the pitch between the light emission center L0 and the LED chip 14 placed last time on the substrate 12 is aligned so as to be constant (see FIG. 14).

【0036】同様にして、所定数のLEDチップ14
が、順次、基板12上に各発光中心L0間のピッチが一
定となるようにしてボンディングされる。次に、基板1
2上に所定数のLEDチップ14がアライメントされた
後、別工程において、例えば、電気オーブンを用いて銀
ペーストを加熱硬化させる。
Similarly, a predetermined number of LED chips 14
Are sequentially bonded on the substrate 12 such that the pitch between the light emission centers L0 is constant. Next, the substrate 1
After the predetermined number of LED chips 14 are aligned on 2, in another process, the silver paste is heated and cured using, for example, an electric oven.

【0037】このように、第1の実施形態では、基板1
2上にボンディングされる前のLEDチップ14が、プ
ローブ16を介して発光されることにより、このLED
チップ14の発光中心L0が認識される。そして、認識
された発光中心L0の座標に対するLEDチップ14の
外形基準点L1の座標が認識(演算)され、この外形基
準点L1の座標に基づいて前記LEDチップ14が、基
板12上のボンディング位置に位置決めされる。
As described above, in the first embodiment, the substrate 1
The LED chip 14 before being bonded onto the LED 2 emits light through the probe 16 so that the LED chip 14 emits light.
The light emission center L0 of the chip 14 is recognized. Then, the coordinates of the outer shape reference point L1 of the LED chip 14 with respect to the recognized coordinates of the emission center L0 are recognized (calculated), and based on the coordinates of the outer shape reference point L1, the LED chip 14 is moved to the bonding position on the substrate 12. Is positioned.

【0038】このため、LEDチップ14の外形形状の
ばらつきや発光中心L0の位置のずれ等に影響されるこ
とがなく、前記LEDチップ14の発光中心L0を基板
12上の所定の位置に確実かつ高精度に位置決めするこ
とができる。これにより、基板12上にそれぞれの発光
中心L0の間隔を一定ピッチで位置決めし、例えば、複
数のLEDチップ14をボンディングした高精度なLE
Dアレイが得られ、このLEDアレイを用いることによ
り、読み取り精度や書き込み精度が大幅に向上するとい
う効果がある。
Therefore, the light emitting center L0 of the LED chip 14 is reliably and securely positioned at a predetermined position on the substrate 12 without being affected by variations in the outer shape of the LED chip 14 and a shift in the position of the light emitting center L0. Positioning can be performed with high accuracy. Thus, the intervals between the light emission centers L0 are positioned at a constant pitch on the substrate 12, and, for example, a high-precision LE in which a plurality of LED chips 14 are bonded.
A D array is obtained, and by using this LED array, there is an effect that reading accuracy and writing accuracy are greatly improved.

【0039】ところで、上記の実施形態では、チップウ
エハ50からLEDチップ14を1つずつ取り出して、
各LEDチップ14を基板12上にボンディングする作
業について説明したが、図15に示すLEDチップ11
0を用いるようにしてもよい。このLEDチップ110
は、3連チップを構成しており、コレット吸着用チップ
112a、112bと、発光用チップ114とを一体的
に備えている。
In the above embodiment, the LED chips 14 are taken out one by one from the chip wafer 50,
Although the operation of bonding each LED chip 14 on the substrate 12 has been described, the LED chip 11 shown in FIG.
0 may be used. This LED chip 110
Constitutes a triple chip, and integrally includes collet suction chips 112a and 112b and a light emitting chip 114.

【0040】LEDチップ110では、1つの発光用チ
ップ114を発光させる一方、他のコレット吸着用チッ
プ112a、112bが発光されることなくコレット部
材80により吸着される。従って、LEDチップ110
を使用することにより、θステージ54でコレット吸着
用チップ112a、112bをコレット部材80等によ
り吸着した状態で、発光用チップ114を発光させるこ
とができる。これにより、コレット部材80でLEDチ
ップ110を吸着する際の位置ずれの発生を確実に阻止
することが可能になるという効果が得られる。
In the LED chip 110, while one light emitting chip 114 emits light, the other collet sucking chips 112a and 112b are sucked by the collet member 80 without emitting light. Therefore, the LED chip 110
Is used, the light emitting chip 114 can emit light in a state where the collet sucking chips 112a and 112b are sucked by the collet member 80 or the like on the θ stage 54. Accordingly, an effect is obtained in that it is possible to reliably prevent the occurrence of displacement when the LED chip 110 is sucked by the collet member 80.

【0041】なお、本実施形態では、発光素子としてL
EDチップ14、110を用いているが、LEDに限ら
ず、発光中心の位置精度を問題とする微小チップアレイ
全てのボンディングに適応可能である。また、LEDチ
ップ110は3連チップ構造を採用しているが、2連チ
ップ構造あるいは4連以上のチップ構造を採用してもよ
い。
In this embodiment, L is used as the light emitting element.
Although the ED chips 14 and 110 are used, the present invention is not limited to the LED, but can be applied to bonding of all the micro chip arrays which have a problem in the positional accuracy of the emission center. Further, the LED chip 110 has a triple chip structure, but may have a double chip structure or a chip structure having four or more chips.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明に係る発光素子のボンディング方
法および装置では、ボンディング前に発光素子を発光さ
せてその発光中心を認識し、この発光中心に対応する前
記発光素子の外形基準点を観察しながらボンディング処
理を施す。このため、外形寸法のばらつき等に影響され
ることがなく、各発光素子の発光中心を基板上の所定の
位置に高精度かつ容易に位置決めすることができる。こ
れにより、簡単な作業および構成で、発光中心間距離を
高精度に設定したアレイを効率的に得ることが可能にな
る。
In the method and apparatus for bonding a light emitting element according to the present invention, the light emitting element is caused to emit light before bonding, the light emission center is recognized, and the outer reference point of the light emitting element corresponding to the light emission center is observed. While performing the bonding process. Therefore, the light emission center of each light emitting element can be easily and accurately positioned at a predetermined position on the substrate without being affected by variations in external dimensions. This makes it possible to efficiently obtain an array in which the distance between the light emission centers is set with high accuracy by a simple operation and configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る発光素子のボンディン
グ方法を実施するためのボンディング装置の概略斜視説
明図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view illustrating a bonding apparatus for performing a light emitting element bonding method according to an embodiment of the present invention.

【図2】前記ボンディング装置の側面説明図である。FIG. 2 is an explanatory side view of the bonding apparatus.

【図3】本発明に係るボンディング方法を説明するフロ
ーチャートの前段部分である。
FIG. 3 is a first part of a flowchart describing a bonding method according to the present invention.

【図4】前記フローチャートの中段部分である。FIG. 4 is a middle part of the flowchart.

【図5】前記フローチャートの後段部分である。FIG. 5 is a latter part of the flowchart.

【図6】チップ載置台上のLEDチップを吸着保持した
状態の正面説明図である。
FIG. 6 is an explanatory front view of a state where the LED chip on the chip mounting table is suction-held.

【図7】回転テーブル上に前記LEDチップを配置する
際の正面説明図である。
FIG. 7 is an explanatory front view when the LED chips are arranged on a turntable.

【図8】前記回転テーブル上の前記LEDチップを発光
させる際の正面説明図である。
FIG. 8 is an explanatory front view when the LED chips on the turntable emit light.

【図9】前記LEDチップの発光状態を示す撮影画面説
明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a photographing screen showing a light emitting state of the LED chip.

【図10】前記発光中心と外形基準点座標との説明図で
ある。
FIG. 10 is an explanatory diagram of the light emission center and the coordinates of an external reference point.

【図11】前記LEDチップをコレット部材で吸着した
状態の正面説明図である。
FIG. 11 is an explanatory front view showing a state where the LED chip is sucked by a collet member.

【図12】前記LEDチップを基板に対して位置決めす
る際の正面説明図である。
FIG. 12 is an explanatory front view when positioning the LED chip with respect to a substrate.

【図13】前記LEDチップと前記基板とを位置合わせ
する際の撮像画面の説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram of an imaging screen when aligning the LED chip and the substrate.

【図14】2個目のLEDチップを基板に位置合わせす
る際の正面説明図である。
FIG. 14 is an explanatory front view when a second LED chip is aligned with a substrate.

【図15】3連チップ構造のLEDチップの斜視説明図
である。
FIG. 15 is an explanatory perspective view of an LED chip having a triple chip structure.

【図16】LEDアレイの斜視説明図である。FIG. 16 is an explanatory perspective view of an LED array.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ボンディング装置 12…基板 14、110…LEDチップ 16…プローブ 18…撮像手段 20…発光素子保持
手段 26…移動機構 30、34…移動ス
テージ 50…チップウエハ 52…チップ配置台 54…θステージ 56…基板吸着台 62…駆動手段 78…昇降台 80…コレット部材 86、88…CCD
カメラ 90…二焦点光学系 100…画像処理部 112a、112b、114…チップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Bonding apparatus 12 ... Substrate 14, 110 ... LED chip 16 ... Probe 18 ... Imaging means 20 ... Light emitting element holding means 26 ... Moving mechanism 30, 34 ... Moving stage 50 ... Chip wafer 52 ... Chip placement table 54 ... Theta stage 56 ... Substrate suction table 62 ... Drive means 78 ... Elevating table 80 ... Collet members 86 and 88 ... CCD
Camera 90: bifocal optical system 100: image processing unit 112a, 112b, 114: chip

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 味埜 敏 神奈川県南足柄市中沼210番地 富士写真 フイルム株式会社内 (72)発明者 西田 和弘 神奈川県南足柄市中沼210番地 富士写真 フイルム株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA37 DA02 DA13 DA91 DB07 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Satoshi Mino 210 Fuji Naka Photo Film Co., Ltd., Fuji Photo Film Co., Ltd. (Reference) 5F041 AA37 DA02 DA13 DA91 DB07

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】発光素子を基板上の所定の位置にボンディ
ングするための発光素子のボンディング方法であって、 ボンディング前の前記発光素子を発光させることによ
り、前記発光素子の発光中心を認識する工程と、 前記認識された発光中心の座標に対する前記発光素子の
外形基準点座標を画像認識する工程と、 画像認識された前記外形基準点座標に基づいて、前記発
光素子を前記基板上のボンディング位置に位置決めする
工程と、 前記発光素子を前記基板上にボンディングする工程と、 を有することを特徴とする発光素子のボンディング方
法。
1. A method of bonding a light emitting element to a predetermined position on a substrate, the method including the step of recognizing a light emitting center of the light emitting element by causing the light emitting element to emit light before bonding. Image-recognizing the coordinates of the outer reference point of the light-emitting element with respect to the coordinates of the recognized light-emitting center; and, based on the recognized outer reference point coordinates of the light-emitting element, moving the light-emitting element to a bonding position on the substrate. A method for bonding a light emitting element, comprising: positioning; and bonding the light emitting element to the substrate.
【請求項2】請求項1記載のボンディング方法におい
て、前記発光素子には、複数のチップが連接されてお
り、 いずれか1つのチップを発光用チップとする一方、その
他のチップを前記発光素子を保持するための吸着用チッ
プとすることを特徴とする発光素子のボンディング方
法。
2. The bonding method according to claim 1, wherein a plurality of chips are connected to the light emitting element, and one of the chips is used as a light emitting chip, and the other chip is used as a light emitting element. A method for bonding a light emitting element, comprising a suction chip for holding.
【請求項3】発光素子を基板上の所定の位置にボンディ
ングするための発光素子のボンディング装置であって、 ボンディング前の前記発光素子を発光させる発光手段
と、 前記発光素子の発光中心を認識し、前記認識された発光
中心の座標に対する前記発光素子の外形基準点座標を画
像認識するための撮像手段と、 画像認識された前記外形基準点座標に基づいて、前記発
光素子を前記基板上のボンディング位置に位置決めする
発光素子保持手段と、 を備えることを特徴とする発光素子のボンディング装
置。
3. A light emitting element bonding apparatus for bonding a light emitting element to a predetermined position on a substrate, comprising: a light emitting means for emitting the light emitting element before bonding; and a light emitting center of the light emitting element. Imaging means for image-recognizing the coordinates of the outer shape reference point of the light emitting element with respect to the coordinates of the recognized light emission center; and bonding the light emitting element on the substrate based on the recognized outer shape reference point coordinates. And a light emitting element holding means for positioning the light emitting element at a position.
【請求項4】請求項3記載のボンディング装置におい
て、前記発光素子を発光させる発光手段および前記発光
素子保持手段を、前記撮像手段の光軸方向に交差する方
向に進退可能な駆動手段を備えることを特徴とする発光
素子のボンディング装置。
4. A bonding apparatus according to claim 3, wherein said light emitting means for causing said light emitting element to emit light and said light emitting element holding means are provided with driving means capable of moving back and forth in a direction intersecting the optical axis direction of said imaging means. A bonding device for a light-emitting element, characterized in that:
【請求項5】請求項3または4記載のボンディング装置
において、前記発光素子には、複数のチップが連接され
ており、 いずれか1つのチップを発光用チップとする一方、その
他のチップを前記発光素子を保持するための吸着用チッ
プとすることを特徴とする発光素子のボンディング装
置。
5. The bonding apparatus according to claim 3, wherein a plurality of chips are connected to the light emitting element, and one of the chips is used as a light emitting chip and the other chip is used as the light emitting chip. A bonding device for a light-emitting element, which is a suction chip for holding the element.
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