EP0025397A1 - Illuminating means for producing a light beam having adjustable light intensity distribution and image transfer system comprising such a means - Google Patents
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- EP0025397A1 EP0025397A1 EP80401270A EP80401270A EP0025397A1 EP 0025397 A1 EP0025397 A1 EP 0025397A1 EP 80401270 A EP80401270 A EP 80401270A EP 80401270 A EP80401270 A EP 80401270A EP 0025397 A1 EP0025397 A1 EP 0025397A1
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Definitions
- the present invention relates to an illuminating device intended to provide a quasi-coherent illumination beam having a spatial distribution of intensity adjustable at will.
- a laser beam generally has a Gaussian intensity distribution with circular symmetry along the section due to the fact that only the fundamental mode resonates in the cavity.
- the beam coming from the laser is widened and made divergent. It retains its Gaussian distribution, so that the center of the object is lit more intensely than the edges.
- good uniformity of illumination in the plane is required. picture.
- the thinnest lines have a width of the order of micron.
- the line width dispersion must be less than 10%, which implies variations in light intensity less than 3%.
- the present invention makes it possible to obtain uniform illumination within less than 5%, without loss of energy, and with simple optical elements.
- the device according to the invention makes it possible to adjust the intensity distribution, within certain limits, to obtain non-uniform illuminations, but corresponding to the best illumination of the image plane, as a function of the defects of the optical projection system.
- the illuminating device comprises means allowing the separation of the initial beam into four parts, in two radial directions perpendicular to each other, means allowing the recombination of the four parts culminating in a predetermined plane (P) partial of the four beams and the means for averaging the the interferences between the four parts so that the average intensity in the plane P is equal to the sum of the average intensities of the four parts.
- P predetermined plane
- a laser beam can be used in an illuminating device such as that, shown by way of example in FIG. 2.
- the beam F delivered by the laser 1 and having the intensity distribution. Represented in FIG. 1, is widened by an expander formed by lenses L 1 and L 2 . It is made divergent by a lens L 3 and condensed by a condenser 3 so as to illuminate an object 4.
- the intensity distribution in the plane of the object remains Gaussian, so that the edges of the object are less illuminated than the center. However, depending on the applications, it is desired to obtain a predetermined intensity distribution, adapted to the application.
- FIG. 3 It is a projection device comprising in particular a lens 9 forming the image of the object 4 in a plane 12. To obtain good image quality in all the field of the objective, it is necessary a good uniformity of illumination of the image plane.
- FIG. 4 shows, in two cases, the intensity distributions obtained in the image plane.
- the distribution in the object plane, represented in FIG. 4a is uniform.
- the illumination in the image plane shown in FIG. 4b is non-uniform, more intense in the center and gradually decreasing towards the edge of the lens field. This is due to the light losses in the different lenses which form the objective 9 and which are generally larger at the edges than in the center, because of the spherical shape of the lenses. Consequently, to have uniform illumination in the image plane, as shown in FIG. 4c, less intense in the center than at the edges.
- the maximum deviation between the intensity at the edge and in the center should be 5% to 10%.
- FIG. 5 schematically illustrates the method used according to the invention for obtaining an illumination of the type of that of FIG. 4c.
- the invention also makes it possible to obtain other forms of lighting close to uniform lighting.
- the original beam F has in any radial direction such that x, a Gaussian intensity distribution shown in FIG. 5a.
- the invention provides for separating this beam into two half-beams along an axial plane perpendicular to the x axis, then shifting the two beams obtained by the same quantity a, in the opposite direction.
- the two half-beams are superimposed, as shown in FIG. 5b, and a resulting beam is obtained, the intensity distribution of which is represented in FIG. 3c, provided that the two half-beams are added in intensity, and not in phase. and in amplitude, which can be obtained for example, by rotating the polarization of one of the half-beams by 90 °.
- the intensity distribution is well defined: weaker in the center, it gradually increases from I 0 to 103% I 0 towards the edge along the x and y axes and from I 0 to 106% I 0 towards the edge along the diagonals. Such a beam therefore provides an illumination close to the ideal illumination, shown in FIG. 4c.
- FIG. 6 represents an optical assembly ensuring the separation-recombination of a laser beam in two orthogonal directions, for the realization of the invention.
- the laser beam F delivered by the laser 1 is widened by an expander 2.
- the separation along an x axis is ensured by a Fresnel biprism 5 suitably oriented and centered with respect to the beam F.
- the beam F is thus separated into two half bundles F 1 and F 2 .
- the beams F 1 and F 2 are reflected respectively by two mirrors M x1 and M x2 , so as to make them almost parallel to the axis z.
- the mirrors M y1 and P y2 are placed so that the respective impact points A, B, C, D of the beams F 12 , F 11 ' F 21' F 22 are seen at the same inclination x relative to the z axis, in the recombination plane P of the beams. It is in this plane that the first lens L 1 of the device can be placed of illumination of FIG. 2. To preserve the overall collimating properties of the two lenses L 1 and L 2 of FIG. 2, the angle x must be very small.
- the operation of the first separator constituted by the biprism 5 and the mirrors M x1 and M x2 can be explained from the detailed view of FIG. 7.
- the beams obtained F 1 and F 21 have respectively, along the axes x 1 and x 2 perpendicular to their direction of propagation, intensity distributions in the form of a semi-Gaussian, as illustrated in FIG. 5.
- FIG. 8 shows the path of the beams F 11 ' F 12' F 21 ' F 22 at the outlet of the second separator, formed for biprism 6 and the mirrors M y1 and My 2 .
- the four points A, B, C, D form a square with side 2b in an x, y plane perpendicular to the z axis centered on the z axis.
- the rays of the beams F 11 ' F 21' F 12 ' F 22 coming from the central radius of the initial beam F form the same angle x with the axis Z.
- These four beams form in the plane P an interference system because the four sources are consistent with each other because of the coherence of the laser.
- a first electro-optical crystal K is introduced into the path of one of the beams F 11 and F 12 , polarized by an electric field parallel to the direction of polarization common to these two beams and whose value varies in the time, one can introduce an additional phase shift variable in time and one can make so that the average value of cos ⁇ on a duration T low compared to the duration envisaged so that the illumination is null.
- the calculation shows that the average value of the resulting intensity is equal to the sum of the intensities of each of the two beams.
- F 21 and F 22 on the other hand add in intensity; because of their perpendicular polarizations, one obtained, not exactly a suppression of the interferences, but an averaging in time, over a sufficiently short duration compared to the duration of illumination or observation so that the illumination can be considered homogeneous, for example as to its effects on the printing of a photosensitive resin.
- the half-wave plate L and the electro-optical crystals K 1 and K 2 are shown in FIG. 6, as well as the directions of polarization of the beams, symbolized by arrows.
- the beam F is polarized parallel to the y axis.
- the half-wave plate L is placed on the path of the beam L in an xy plane. Its neutral lines are oriented at 45 ° from the x, y axes, so that, at the exit of the blade, the polarization of the beam F 2 is parallel to the x axis.
- the crystal K 1 is placed on the path of the beam F 12 and it is controlled by a field E l parallel to the polarization of this beam, therefore to the y axis.
- phase shift ⁇ 1 which can for example be equal to
- the crystal K 2 is placed on the path of the beam F 22 and it is controlled by a field E 2 parallel to the polarization of this beam, therefore to the x axis. It generates a phase shift ⁇ 2 , which can be of the form where ⁇ 0 has any fixed value.
- FIG. 9 shows the same optical arrangement for separation-recombination of the beam, only the means making it possible to average the interference being different.
- the beam F being always polarized along the y axis, a phase shifter is introduced into the path of the beam F 2 constituted by an electro-optical crystal K polarized by an electric field E parallel to y, introducing a phase shift ⁇ between the beams F 1 and F 2 of the form
- the polarization directions of the two beams remain unchanged.
- a half-wave plate L 1 is introduced on the path of the beam F 12 and a half-wave plate L 2 is introduced on the path of the beam F22 , so that the polarizations of these two beams become parallel to the x axis.
- the two fringe systems are eliminated.
- This method is less expensive than the previous one because it uses only one electro-optical phase shifter instead of two.
- Another possible method for eliminating the effect due to interference consists in placing on the path of the beams, a rotating diffusing element which generates time-varying, spatially random phase shifts.
- This method will be advantageously used if, instead of making the two separators separately with, for each separator, a biprism and two mirrors, one. performs the separations-recombinations respectively by means of a prism with circular symmetry, having a conical shape and a truncated-conical mirror. This is the generalization of the process which has just been described. At the exit of the conical prism the beam is transformed into an annular beam and recombined by the conical mirror. Such means are illustrated in Figure 11 which will be described later.
- the use of a birefringent plate is no longer possible unless interposing a polarizer on the path of the beam, which causes a loss of energy of 50 %.
- One can place on the path of the four beams four electro-optical phase shifters creating respective phase shifts, for example of the form: where T is weak compared to the duration of illumination.
- FIGS. 10a and 10b the separation and the recombination are illustrated in FIGS. 10a and 10b.
- the section of the beam F is shown in FIG. 10a.
- the device according to the invention breaks this beam into four sectors, then performs translations of type ( ⁇ a, ⁇ a).
- the beam F 11 hatched in the figure is translated according to the vector T (+ a, + a).
- the four superimposed beams are inscribed in a square with side 2a centered on the axis z.
- An illuminating device comprising means for uniformizing the beam is applicable in particular to a photorepeater.
- FIG. 11 represents a photorepeater of the type described in French patent application no. 76.37.327 and published under no. 2 406 236.
- the beam thus having the desired intensity distribution is returned by a second mirror R 2 to a shutter 14 controlled so that the amount of energy received by the layer of photosensitive resin intended to be impressed corresponds to the best possible sunshine.
- the control means described in the first cited request are mainly constituted by an integrator 15, an energy quantity selector 17 and a comparator device 16 triggering the opening and closing of the shutter 14. They are then placed on the path of the beam of the means 200 intended to produce a quasi-point source of dimensions such that no disturbing interference patterns occur.
- the divergent beam 100 from the means 200 illuminates via a condenser 3 the object 4 carried by a holder 8 and whose image is formed by the objective 9 carried by a objective 10 provided with automatic focusing means 11 on the substrate 12 covered with a photosensitive resin and carried by a movable table 13.
- the illumination obtained thanks to the conical prism C and to the frusto-conical mirror T allows, as has been shown above, to obtain a good quality of image at the level of the photosensitive resin.
Landscapes
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Abstract
L'invention concerne un dispositif illuminateur comprenant une source laser fournissant un faisceau cohérent à distribution d'intensité gaussienne et des moyens de séparation (5,6) du faisceau initial en quatre parties (F11-F22) selon deux directions orthogonales (x, y), des moyens de recombinaison (Mx1 - My2) des quatre parties aboutissant à leur superposition partielle dans un plan prédéterminé (P) et des moyens de moyennage (L, K1, K2) des interférences produites dans le plan (P) par les quatre parties. Application notamment à la photorépétition directe.The invention relates to an illuminating device comprising a laser source providing a coherent beam with Gaussian intensity distribution and means for separating (5,6) the initial beam into four parts (F11-F22) in two orthogonal directions (x, y ), means of recombination (Mx1 - My2) of the four parts leading to their partial superposition in a predetermined plane (P) and means of averaging (L, K1, K2) of the interference produced in the plane (P) by the four parts. Application in particular to direct photo-repetition.
Description
La présente invention concerne un dispositif illuminateur destiné à fournir un faisceau d'éclairement quasi-cohérent ayant une distribution spatiale d'intensité ajustable à volonté.The present invention relates to an illuminating device intended to provide a quasi-coherent illumination beam having a spatial distribution of intensity adjustable at will.
Un faisceau laser présente généralement une distribution d'intensité gaussienne à symétrie circulaire suivant la section due au fait que seul le mode fondamental résonne dans la cavité. Dans un dispositif illuminateur destiné à l'éclairement d'un objet, par exemple dans un système de projection de motifs, le faisceau issu du laser est élargi et rendu divergent. Il conserve sa distribution gaussienne, si bien que le centre de l'objet est éclairé plus intensément que les bords. Or, pour obtenir une bonne qualité d'image et également des largeurs de traits identiques dans tout le champ de l'objectif de projection, notamment lorsque les motifs sont projetés sur une résine photosensible, il faut une bonne uniformité d'éclairement dans le plan image. Ainsi, dans le cas de la réalisation de circuits intégrés par photorépétition directe, qui passe par la formation d'une superposition de niveaux dans un substrat semi-conducteur, avec masquages successifs, les traits les plus fins ont une largeur de l'ordre du micron. La dispersion de largeur de trait doit être inférieur à 10 %, ce qui implique des variations d'intensité d'éclairement inférieures à 3 %.A laser beam generally has a Gaussian intensity distribution with circular symmetry along the section due to the fact that only the fundamental mode resonates in the cavity. In an illuminating device intended for the illumination of an object, for example in a pattern projection system, the beam coming from the laser is widened and made divergent. It retains its Gaussian distribution, so that the center of the object is lit more intensely than the edges. However, to obtain good image quality and also identical line widths throughout the field of the projection objective, in particular when the patterns are projected onto a photosensitive resin, good uniformity of illumination in the plane is required. picture. Thus, in the case of the production of integrated circuits by direct photo-repetition, which involves the formation of a superposition of levels in a semiconductor substrate, with successive masks, the thinnest lines have a width of the order of micron. The line width dispersion must be less than 10%, which implies variations in light intensity less than 3%.
Différentes méthodes ont été proposées pour rendre un éclairement uniforme : la méthode la plus simple consiste à élargir suffisamment le faisceau pour n'utiliser que les rayons du centre. Cette méthode, pour être efficace, a un rendement énergétique de l'ordre de 1 %, ce qui supprime une grande partie de l'intérêt de l'utilisation d'un laser. D'autres méthodes faisant appel généralement à la dispersion ou à l'absorption du faisceau ont également un très faible rendement lumineux. Certaines méthodes ne présentent toutefois pas cet inconvénient. On peut utiliser un hologramme numérique traçé par ordinateur et approximant par une fonction binaire la transformation complexe donnant une répartition spatiale uniforme à partir d'une répartition gaussienne. Cette méthode est complexe et coûteuse à mettre en oeuvre. On peut aussi tenir compte du fait que la répartition gaussienne est due au fait que le laser est monomode, et utiliser pour le laser des miroirs de rayon de courbure plus élevé, ce qui permet à d'autres modes de résonner. On obtient une répartition d'intensité avec un maximum moins accusé, mais on ne peut pas uniformiser suffisamment l'éclairement par ce moyen.Various methods have been proposed for making uniform illumination: the simplest method consists in broadening the beam sufficiently to use only the center spokes. This method, to be effective, has an energy yield of the order of 1%, which removes much of the advantage of using a laser. Other methods generally using beam scattering or absorption also have very low light output. However, some methods do not have this drawback. We can use a digital hologram plotted by computer and approximating by a binary function the complex transformation giving a uniform spatial distribution from a Gaussian distribution. This method is complex and costly to implement. We can also take into account the fact that the Gaussian distribution is due to the fact that the laser is single-mode, and use for the laser mirrors of higher radius of curvature, which allows other modes to resonate. An intensity distribution is obtained with a less pronounced maximum, but the lighting cannot be standardized sufficiently by this means.
La présente invention permet d'obtenir un éclairement uniforme à moins de 5 % près, sans perte d'énergie, et' ayec des éléments optiques simples. De plus, le dispositif selon l'invention permet d'ajuster la distribution d'intensité, dans certaines limites, pour obtenir des éclairements non uniformes, mais correspondant au meilleur éclairement du plan image, en fonction des défauts du système optique de projection.The present invention makes it possible to obtain uniform illumination within less than 5%, without loss of energy, and with simple optical elements. In addition, the device according to the invention makes it possible to adjust the intensity distribution, within certain limits, to obtain non-uniform illuminations, but corresponding to the best illumination of the image plane, as a function of the defects of the optical projection system.
Selon l'invention, le dispositif illuminateur com- rend des moyens permettant la séparation du faisceau initial en quatre parties, selon deux directions radiales perpendiculaires entre elles, des moyens permettant la recombinaison des quatre parties aboutissant dans un plan prédéterminé (P) à une superposition partielle des quatre faisceaux et des moyens permettant de moyenner les les interférences entre les quatre parties de façon que l'intensité moyenne dans le plan P soit égale à la somme des intensités moyennes des quatre parties.According to the invention, the illuminating device comprises means allowing the separation of the initial beam into four parts, in two radial directions perpendicular to each other, means allowing the recombination of the four parts culminating in a predetermined plane (P) partial of the four beams and the means for averaging the the interferences between the four parts so that the average intensity in the plane P is equal to the sum of the average intensities of the four parts.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront clairement à l'aide de la description ci-après et des figures annexées parmi lesquelles :
- - la figure 1 montre la répartition d'intensité d'un faisceau laser ;
- - la figure 2 représente schématiquement un dispositif illuminateur ;
- - la figure 3 représente schématiquement un dispositif de projection de motifs ;
- - la figure 4 illustre les répartitions d'intensité dans les plans objet et image ;
- - la figure 5 illustre schématiquement la méthode utilisée selon l'invention ;
- - la figure 6 représente un mode de réalisation de l'invention ;
- - les figures 7 et 8 sont des vues partielles détaillées ;
- - la figure 9 représente une variante de réalisation de l'invention ;
- - la figure 10 montre le résultat obtenu par le dispositif de la figure 6 ou de la figure 9 :
- - la figure 11 représente une application de l'invention ;
La figure 1 montre la répartition d'intensité d'un faisceau laser monomode. Un tel faisceau se caractérise essentiellement par sa très faible divergence (de l'ordre du milliradian) et une répartition d'intensité gaussienne suivant la section du faisceau. Ainsi, les rayons proches du centre du faisceau sont intenses, l'intensité sur l'axe central ayant-une valeur I0; tandis que les rayons des bords du faisceau sont de faible intensité. Les bords du faisceau peuvent être définis par leur distance radiale W, visible sur la figure 1a que l'on appelera rayon du faisceau telle que l'intensité soit égale à 0. La figure 1b montre que la distribution est a symétrie circulaire suivant la section du faisceau, constituée par le plan (x, y).
- - Figure 1 shows the intensity distribution of a laser beam;
- - Figure 2 schematically shows an illuminating device;
- - Figure 3 schematically shows a pattern projection device;
- - Figure 4 illustrates the intensity distributions in the object and image planes;
- - Figure 5 schematically illustrates the method used according to the invention;
- - Figure 6 shows an embodiment of the invention;
- - Figures 7 and 8 are detailed partial views;
- - Figure 9 shows an alternative embodiment of the invention;
- - Figure 10 shows the result obtained by the device of Figure 6 or Figure 9:
- - Figure 11 shows an application of the invention;
Figure 1 shows the intensity distribution of a single mode laser beam. Such a beam is essentially characterized by its very small divergence (of the order of a milliradian) and a distribution of Gaussian intensity according to the section of the beam. Thus, the rays close to the center of the beam are intense, the intensity on the central axis having a value I 0 ; while the rays of the edges of the beam are of weak intensity. The edges of the beam can be defined by their radial distance W, visible in FIG. 1a which will be called beam radius such that the intensity is equal to 0 . Figure 1b shows that the distribution is circularly symmetrical along the section of the beam, formed by the plane (x, y).
Un faisceau laser peut être utilisé dans un dispositif illuminateur tel que celui, représenté à titre d'exemple sur la figure 2. Le faisceau F délivré par le laser 1 et ayant la distribution d'intensité.représentée sur la figure 1, est élargi par un expandeur formé de lentilles L1 et L2. Il est rendu divergent par une lentille L3 et condensé par un condenseur 3 de façon à éclairer un objét 4. La distribution d'intensité dans le plan de l'objet reste gaussienne, si bien que les bords de l'objet sont moins éclairés que le centre. Or, suivant les applications, on désire obtenir une répartition d'intensité prédéterminée, adaptée à l'application.A laser beam can be used in an illuminating device such as that, shown by way of example in FIG. 2. The beam F delivered by the laser 1 and having the intensity distribution. Represented in FIG. 1, is widened by an expander formed by lenses L 1 and L 2 . It is made divergent by a lens L 3 and condensed by a
L'une des applications possibles est représentée sur la figure 3. Il s'agit d'un dispositif de projection comprenant notamment un objectif 9 formant l'image de l'objet 4 dans un plan 12. Pour obtenir une bonne qualité d'image dans tout le champ de l'objectif, il faut une bonne uniformité d'éclairement du plan image.One of the possible applications is represented in FIG. 3. It is a projection device comprising in particular a
La figure 4 montre, dans deux cas, les répartitions d'intensité obtenues dans le plan image. Dans le premier cas, la répartition dans le plan objet, représentée en figure 4a, est uniforme. On constate alors généralement que l'éclairement dans le plan image représenté en figure 4b, est non uniforme, plus intense au centre et diminuant progressivement vers le bord du champ de l'objectif. Ceci est dû aux pertes lumineuses dans les différentes lentilles qui forment l'objectif 9 et qui sont en général plus grandes sur les bords qu'au centre, à cause de la forme sphérique des lentilles. En conséquence, pour avoir dans le plan image un éclairement uniforme, tel que représenté en figure 4c, moins intense au centre que sur les bords. Typiquement, l'écart maximum
La figure 5 illustre schématiquement la méthode utilisée selon l'invention pour obtenir un éclairement du type de celui de la figure 4c. On verra par la suite ique l'invention permet en outre d'obtenir d'autres formes d'éclairement voisines de l'éclairement uniforme.FIG. 5 schematically illustrates the method used according to the invention for obtaining an illumination of the type of that of FIG. 4c. We will see below that the invention also makes it possible to obtain other forms of lighting close to uniform lighting.
Le faisceau d'origine F a dans toute direction radiale telle que x, une distribution d'intensité gaussienne représentée en figure 5a. L'invention prévoit de séparer ce faisceau en deux demi-faisceaux selon un plan axial perpendiculaire à l'axe x, puis de décaler les deux faisceaux obtenus d'une même quantité a, en sens inverse. Les deux demi-faisceaux se superposent, comme représenté en figure 5b, et on obtient un faisceau résultant dont la répartition d'intensité est représentée en figure 3c, à condition que les deux demi-faisceaux s'ajoutent en intensités, et non en phase et en amplitude, ce qui peut être obtenu par exemple, en faisant tourner la polarisation de l'un des demi-faisceaux de 90°. On constate que l'on aboutit à une répartition quasi-uniforme suivant la direction x. Les calculs montrent que, pour a = 0,555 W, l'écart maximum d'intensité est de 3 %. Par contre, la répartition reste gaussienne suivant l'axe radial y perpendiculaire à x. Il est possible d'effectuer la même séparation-recombinaison suivant l'axe y, avec la même valeur pour le décalage. En supposant que l'on a fait en sorte que, dans la direction y également, les faisceaux s'ajoutent en intensité (la suite de la description montrera comment cela est possible), on montre que la forme du faisceau approche un carré, ce qui est souvent avantageux car les champs d'éclairement utiles des objets sont souvent carrés, d'où un gain en rendement lumineux. D'autre part, la répartition d'intensité est bien définie : plus faible au centre, elle augmente progressivement de I0 à 103 % I0 vers le bord suivant les axes x et y et de I0 à 106 % I0 vers le bord suivant les diagonales. Un tel faisceau fournit donc un éclairement proche de l'éclairement idéal, représenté sur la figure 4c.The original beam F has in any radial direction such that x, a Gaussian intensity distribution shown in FIG. 5a. The invention provides for separating this beam into two half-beams along an axial plane perpendicular to the x axis, then shifting the two beams obtained by the same quantity a, in the opposite direction. The two half-beams are superimposed, as shown in FIG. 5b, and a resulting beam is obtained, the intensity distribution of which is represented in FIG. 3c, provided that the two half-beams are added in intensity, and not in phase. and in amplitude, which can be obtained for example, by rotating the polarization of one of the half-beams by 90 °. We note that we end up with a quasi-uniform distribution along the direction x. The calculations show that, for a = 0.555 W, the maximum intensity difference is 3%. On the other hand, the distribution remains Gaussian along the radial axis y perpendicular to x. It is possible to perform the same separation-recombination along the y axis, with the same value for the offset. Assuming that we have made the beams add in intensity in the y direction as well (the rest of the description will show how this is possible), we show that the shape of the beam approaches a square, which is often advantageous because the useful lighting fields of objects are often square, hence a gain in light output. On the other hand, the intensity distribution is well defined: weaker in the center, it gradually increases from I 0 to 103% I 0 towards the edge along the x and y axes and from I 0 to 106% I 0 towards the edge along the diagonals. Such a beam therefore provides an illumination close to the ideal illumination, shown in FIG. 4c.
La figure 6 représente un montage optique assurant la séparation-recombinaison d'un faisceau laser selon deux directions orthogonales, pour la réalisation de l'invention. Le faisceau laser F délivré par le laser 1 est élargi par un expandeur 2. La séparation suivant un axe x est assurée par un biprisme de Fresnel 5 convenablement orienté et centré par rapport au faisceau F. Le faisceau F est ainsi séparé en deux demi-faisceaux F1 et F2. Pour alléger la figure, on a représenté seulement les rayons résultant du rayon central du faisceau F, qui forme l'axe optique z du système. Les faisceaux F1 et F2 sont réfléchis respectivement par deux miroirs Mx1 et Mx2, de façon à les rendre quasi-parallèles à l'axe z. Ils traverses alors un deuxième biprisme de Fresnel 6, orienté de façon orthogonale au biprisme 5 et qui assure la séparation de chaque faisceau F1 et F2 suivant l'axe y perpendiculaire à x, formant respectivement les faisceaux F11 et F12' F21 et F22. Les faisceaux F11 et F21 sont réfléchis par un miroir My1 et les faisceaux F12 et F22 sont réfléchis par un miroir My2, de façon à les rendre à nouveau quasi-parallèles à l'axe z. Les miroirs My1 et Py2 sont placés de façon que les points d'impact respectifs A, B, C, D des faisceaux F12, F11' F21' F22 soient vus sous une même inclinaison x par rapport à l'axe z, dans le plan de recombinaison P des faisceaux. C'est dans ce plan que pourra être placée la première lentille L1 du dispositif d'éclairement de la figure 2. Pour conserver les propriétés collimatrices d'ensemble des deux lentilles L1 et L2 de la figure 2, il faut que l'angle x soit très faible.FIG. 6 represents an optical assembly ensuring the separation-recombination of a laser beam in two orthogonal directions, for the realization of the invention. The laser beam F delivered by the laser 1 is widened by an
Le fonctionnement du premier séparateur constitué par le biprisme 5 et les miroirs Mx1 et Mx2 peut être expliqué à partir de la vue détaillée de la figure 7. Les faisceaux obtenus F1 et F21 ont respectivement, selon les axes x1 et x2 perpendiculaires à leur direction de propagation, des répartitions d'intensité en forme de demi- gaussienne, telles qu'illustrée sur la figure 5.The operation of the first separator constituted by the
La figure 8 montre le trajet des faisceaux F11' F12' F21' F22 à la sortie du deuxième séparateur, constitué pour le biprisme 6 et les miroirs My1 et My2. Les quatre points A, B, C, D forment un carré de côté 2b dans un plan x, y perpendiculaire à l'axe z centré sur l'axe z. Les rayons des faisceaux F11' F21' F12' F22 issus du rayon central du faisceau initial F forment le même angle x avec l'axe Z. Ces quatre faisceaux forment dans le plan P un système d'interférences car les quatre sources sont cohérentes entre elles à cause de la cohérence du laser. Comme les quatre faisceaux ne sont pas parallèles à l'axe optique, on observe des franges orthogonales selon les axes xp et yp du plan P, formant une grille régulière. En agissant sur la polarisation des faisceaux, on peut faire en sorte que l'un des deux systèmes de franges soit supprimé. Par exemple, si l'on interpose une lame demi-onde L sur le trajet de faisceau F21 le faisceau F étant déjà polarisé linéairement, on peut faire en sorte que les faisceaux F22 et F21 d'une part et F11 et F12 d'autre part soient polarisés respectivement selon des directions P2 et P1 perpendiculares entre elles, et donc n'interfèrent plus. Toutefois, ces faisceaux interfèrent entre eux et forment deux systèmes de franges de même direction, indépendants et qui se superposent. Pour ces deux systèmes, il faut connaître les lois de répartition de phase des quatre faisceaux, d'après les lois de phase de différents éléments optiques traversés : la lame demi-onde et les deux biprismes, la réflexion sur les miroirs ne modifiant pas les répartitions de phase, et également, la modification observée dans le plan P due à l'inclinaison x des faisceaux, qui dépend de la valeur de l'angle a, de b et de la distance h entre le plan P et le carré ABCD. On peut alors calculer les déphasages respectifs des quatre faisceaux. Si l'on introduit sur le trajet de l'un des faisceaux F11 et F12 un premier cristal électro-optique K, polarisé par un champ électrique parallèle à la direction de polarisation commune à ces deux faisceaux et dont la valeur varie dans le temps, on peut introduire un déphasage supplémentaire variable dans le temps et on peut faire en sorte que la valeur moyenne de cos ϕ sur une durée T faible devant la durée prévue pour que l'illumination soit nulle. Le calcul montre alors que la valeur moyenne de l'intensité résultante est égale à la somme des intensités de chacun des deux faisceaux. De même, on peut introduire sur le trajet de l'un des deux faisceaux F21 et F22 un deuxième cristal électro-optique K2 polarisé par un champ électrique parallèle à la direction de polarisation commune à ces deux faisceaux et dont la valeur varie dans le temps, on peut faire le même raisonnement et montrer que, quand on consi- dère la valeur moyenne, les deux faisceaux F21 et F22 s'ajoutent en intensité et non en amplitude et phase. Comme les faisceaux F11 et F12 d'une part, F 21 et F 22 d'autre part s'ajoutent en intensité; du fait de leurs- polarisations perpendiculaires, on a obtenu, non pas exactement une suppression des interférences, mais un moyennage dans le temps, sur une durée suffisamment faible par rapport à la durée d'éclairement ou d'observation pour que l'éclairement puisse être considéré comme homogène, par exemple quant à ses effets sur l'impression d'une résine photosensible.FIG. 8 shows the path of the beams F 11 ' F 12' F 21 ' F 22 at the outlet of the second separator, formed for
La lame demi-onde L et les cristaux électro-optiques K1 et K2 sont représentés sur la figure 6, ainsi que les directions de polarisation des faisceaux, symbolisées par des flèches. Le faisceau F est polarisé parallèlement à l'axe y. La lame demi-onde L est placée sur le trajet du faisceau L dans un plan xy. Ses lignes neutres sont orientées à 45° des axes x, y, si bien que, à la sortie de la lame, la polarisation du faisceau F2 est parallèle à l'axe x. Le cristal K1 est placé sur le trajet du faisceau F12 et il est commandé par un champ El parallèle à la polarisation de ce faisceau, donc à l'axe y. Il génère un déphasage φ1, qui peut être par exemple égal à
On obtient le même résultat de moyennage des interférences en intervertissant les deux moyens utilisés: lame demi-onde et déphaseurs. La figure 9 représente le, même montage optique de séparation-recombinaison du faisceau, seuls les moyens permettant de moyenner les interférences étant différents. Le faisceau F étant toujours polarisé selon l'axe y, on introduit sur le trajet du faisceau F2 un déphaseur constitué par un cristal électro-optique K polarisé par un champ électrique E parallèle à y, introduisant un déphasage φ entre les faisceaux F1 et F2 de la forme
Une lame demi-onde L1 est introduite sur le trajet du faisceau F12 et une lame demi-onde L2 est introduite sur le trajet du faisceau F22, de façon que les polarisations de ces deux faisceaux deviennent parallèles à l'axe x. Ainsi, dans le plan P, les deux systèmes de franges sont supprimés. Cette méthode est moins onéreuse que la précédente car elle n'utilise qu'un déphaseur électro-optique au lieu de deux.A half-wave plate L 1 is introduced on the path of the beam F 12 and a half-wave plate L 2 is introduced on the path of the beam F22 , so that the polarizations of these two beams become parallel to the x axis. Thus, in plane P, the two fringe systems are eliminated. This method is less expensive than the previous one because it uses only one electro-optical phase shifter instead of two.
Une autre méthode possible pour supprimer l'effet dû aux interférences consiste à placer sur le trajet des faisceaux, un élément diffuseur tournant qui génère des déphasages variables dans le temps, spatialement aléatoire. Cette méthode sera avantageusement utilisés si, au lieu de réaliser séparément les deux séparateurs avec, pour chaque séparateur, un biprisme et deux miroirs, on. réalise les séparations-recombinaisons respectivement au moyen d'un prisme à symétrie circulaire, ayant une forme conique et d'un miroir tronc-conique. Il s'agit de la généralisation du procédé qui vient d'être décrit. A la sortie du prisme conique le faisceau est transformé en un faisceau annulaire et recombiné par le miroir conique. De tels moyens sont illustrés par la figure 11 qui sera décrite ultérieurement.Another possible method for eliminating the effect due to interference consists in placing on the path of the beams, a rotating diffusing element which generates time-varying, spatially random phase shifts. This method will be advantageously used if, instead of making the two separators separately with, for each separator, a biprism and two mirrors, one. performs the separations-recombinations respectively by means of a prism with circular symmetry, having a conical shape and a truncated-conical mirror. This is the generalization of the process which has just been described. At the exit of the conical prism the beam is transformed into an annular beam and recombined by the conical mirror. Such means are illustrated in Figure 11 which will be described later.
Dans le cas où le faisceau laser n'est pas polarisé linéairement, l'utilisation d'une lame biréfringente n'est plus possible à moins d'interposer un polariseur sur le trajet du faisceau, ce qui occasionne une perte d'énergie de 50 %. On peut placer sur le trajet des quatre faisceaux quatre déphaseurs électro-optiques créant des déphasages respectifs, par exemple de la forme :
Quels que soient les moyens utilisés d'une part pour assurer la séparation-recombinaison de quatre faisceaux, d'autre part pour supprimer l'effet des interférences entre les quatre faisceaux, la séparation et la recombinaison sont illustrées sur les figures 10a et 10b. La section du faisceau F est représentée sur la figure 10a. Le dispositif selon l'invention décompose ce faisceau en quatre secteurs, puis réalise des translations de type (±a, ±a). Ainsi, le faisceau F11, hachuré sur la figure est translaté selon le vecteur T (+a, +a). Dans le plan P, représenté sur la figure 10b, les quatre faisceaux superposés s'inscrivent dans un carré de côté 2a centrés sur l'axe z.Whatever the means used on the one hand to ensure the separation-recombination of four beams, on the other hand to remove the effect of interference between the four beams, the separation and the recombination are illustrated in FIGS. 10a and 10b. The section of the beam F is shown in FIG. 10a. The device according to the invention breaks this beam into four sectors, then performs translations of type (± a, ± a). Thus, the beam F 11 , hatched in the figure is translated according to the vector T (+ a, + a). In the plane P, represented in FIG. 10b, the four superimposed beams are inscribed in a square with side 2a centered on the axis z.
La valeur de a est déterminée par la distance h. Si le plan P passe par le point de rencontre 0 des quatre rayons issus du rayon central du faisceau F, il n'y a aucune superposition, a = 0 : le faisceau F se reconstitue. Plus la distance h augmente, plus la superposition est importante. Il a été dit précédemment que, lorsque a est de l'ordre de 0,5 W, on obtient une répartition d'intensité sensiblement uniforme. Pour des valeurs de a inférieures, la répartition d'intensité est en forme de "selle de cheval", c'est-à-dire que le faisceau est intense sur les bords et au centre, et moins intense sur des lieux intermédiaires. Pour des valeurs de a supérieurs, la répartition est en forme de cuvette : plus intense sur les bords qu'au centre.The value of a is determined by the distance h. If the plane P passes through the
Un dispositif illuminateur comprenant des moyens d'uniformisation du faisceau est applicable notamment à un photorépéteur.An illuminating device comprising means for uniformizing the beam is applicable in particular to a photorepeater.
La figure 11 représente un photorépéteur du type de celui décrit dans la demande de brevet français n° 76.37.327 et publiée sous le n° 2 406 236. Derrière le laser 1, par exemple un laser Krypton de puissance 1,5 W, sont disposés l'expandeur de faisceau 2, un premier miroir de renvoi R1 et les moyens d'uniformisation, constitués par un prisme conique C, un élément T en forme de tronçon de cone à parois réfléchissantes et un diffuseur tournant D. Le faisceau ayant ainsi la distribution d'intensité désirée est renvoyé par un deuxième miroir R2 vers un obturateur 14 commandé de façon à ce que la quantité d'énergie reçue par la couche de résine photosensible destinée à être impressionnée corresponde à la meilleure insolation possible. Les moyens de commande décrit dans la première demande citée, sont principalement constitués par un intégrateur 15, un sélecteur de quantité d'énergie 17 et un dispositif comparateur 16 déclenchant l'ouverture et la fermeture de l'obturateur 14. Sont disposés ensuite sur le trajet du faisceau des moyens 200 destinés à produire une source quasi-ponctuelle de dimensions telles qu'il ne se produise pas de figures d'interférences gênantes.FIG. 11 represents a photorepeater of the type described in French patent application no. 76.37.327 and published under no. 2 406 236. Behind the laser 1, for example a Krypton laser of power 1.5 W, are arranged the
Le faisceau divergent 100 issu des moyens 200 éclaire via un condenseur 3 l'objet 4 porté par un porte-objet 8 et dont l'image est formée par l'objectif 9 porté par un objectif 10 muni de moyens de focalisation automatique 11 sur le substrat 12 recouvert d'une résine photosensible et porté par une table mobile 13. L'éclairement obtenu grâce au prisme conique C et au miroir tronc-conique T permet, comme il a été montré plus haut, d'obtenir une bonne qualité d'image au niveau de la résine photosensible.The
Claims (9)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7922587 | 1979-09-10 | ||
FR7922587A FR2465241A1 (en) | 1979-09-10 | 1979-09-10 | ILLUMINATOR DEVICE FOR PROVIDING AN ADJUSTABLE INTENSITY DISTRIBUTION ILLUMINATION BEAM AND PATTERN TRANSFER SYSTEM COMPRISING SUCH A DEVICE |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EP0025397A1 true EP0025397A1 (en) | 1981-03-18 |
EP0025397B1 EP0025397B1 (en) | 1983-06-22 |
Family
ID=9229522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EP80401270A Expired EP0025397B1 (en) | 1979-09-10 | 1980-09-05 | Illuminating means for producing a light beam having adjustable light intensity distribution and image transfer system comprising such a means |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4370026A (en) |
EP (1) | EP0025397B1 (en) |
JP (1) | JPS5685724A (en) |
DE (1) | DE3063902D1 (en) |
FR (1) | FR2465241A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0091106A1 (en) * | 1982-04-02 | 1983-10-12 | Karl SÀ¼ss KG Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie - GmbH & Co. | Process for eliminating undesired appearances of diffraction and/or interference, as well as process and apparatus for aligning |
DE4132068A1 (en) * | 1991-09-26 | 1993-04-22 | Raith Gmbh | Optimised lithography for integrated optics - uses rotationally symmetrical write=beam with variable diameter and outwardly increasing intensity |
Families Citing this family (49)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5879216A (en) * | 1981-11-06 | 1983-05-13 | Hitachi Ltd | Two beam scanning optical system |
US4491383A (en) * | 1982-09-20 | 1985-01-01 | Centro Ricerche Fiat S.P.A. | Device for modifying and uniforming the distribution of the intensity of a power laser beam |
JPS59165002A (en) * | 1983-03-11 | 1984-09-18 | Canon Inc | Optical element and scanning optical system using it |
US4523809A (en) * | 1983-08-04 | 1985-06-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method and apparatus for generating a structured light beam array |
JPS6052873A (en) * | 1983-09-01 | 1985-03-26 | Canon Inc | Light beam recorder |
US4793694A (en) * | 1986-04-23 | 1988-12-27 | Quantronix Corporation | Method and apparatus for laser beam homogenization |
US4911711A (en) * | 1986-12-05 | 1990-03-27 | Taunton Technologies, Inc. | Sculpture apparatus for correcting curvature of the cornea |
US4842277A (en) * | 1987-05-20 | 1989-06-27 | Lacroix Eugene F | Multi-purpose baton |
JPH0734069B2 (en) * | 1987-07-08 | 1995-04-12 | 富士写真フイルム株式会社 | Phase-locked semiconductor laser optical system |
US4912614A (en) * | 1987-12-23 | 1990-03-27 | North American Philips Corporation | Light valve projection system with non imaging optics for illumination |
US4976520A (en) * | 1988-09-09 | 1990-12-11 | Grumman Aerospace Corporation | Common path multichannel optical processor |
JP2732498B2 (en) * | 1988-11-24 | 1998-03-30 | 株式会社日立製作所 | Reduction projection type exposure method and apparatus |
US5253110A (en) * | 1988-12-22 | 1993-10-12 | Nikon Corporation | Illumination optical arrangement |
US5153773A (en) * | 1989-06-08 | 1992-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination device including amplitude-division and beam movements |
BR9007619A (en) * | 1989-08-21 | 1992-07-07 | Carl R Amos | APPLIANCE FOR HANDLING ELECTROMAGNETIC PHENOMENA |
US5638211A (en) | 1990-08-21 | 1997-06-10 | Nikon Corporation | Method and apparatus for increasing the resolution power of projection lithography exposure system |
US7656504B1 (en) | 1990-08-21 | 2010-02-02 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus with luminous flux distribution |
US5719704A (en) * | 1991-09-11 | 1998-02-17 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
US6252647B1 (en) | 1990-11-15 | 2001-06-26 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
US6897942B2 (en) * | 1990-11-15 | 2005-05-24 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
US6885433B2 (en) * | 1990-11-15 | 2005-04-26 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
US6967710B2 (en) | 1990-11-15 | 2005-11-22 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
US6710855B2 (en) | 1990-11-15 | 2004-03-23 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
US5592328A (en) * | 1991-04-19 | 1997-01-07 | Edge Scientific Instrument Company Llc | Illumination system and method for a high definition light microscope |
JP3267414B2 (en) * | 1993-11-11 | 2002-03-18 | キヤノン株式会社 | Scanning exposure apparatus and device manufacturing method using the scanning exposure apparatus |
JPH07226559A (en) * | 1994-02-09 | 1995-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Laser irradiation equipment |
US5557475A (en) * | 1994-07-12 | 1996-09-17 | Coherent, Inc. | Optical system for improving the symmetry of the beam emitted from a broad area laser diode |
US5699191A (en) * | 1996-10-24 | 1997-12-16 | Xerox Corporation | Narrow-pitch beam homogenizer |
DE69931690T2 (en) * | 1998-04-08 | 2007-06-14 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus |
US6930754B1 (en) * | 1998-06-30 | 2005-08-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Multiple exposure method |
DE19829612A1 (en) * | 1998-07-02 | 2000-01-05 | Zeiss Carl Fa | Microlithography lighting system with depolarizer |
US6137631A (en) * | 1999-03-12 | 2000-10-24 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Illumination system and method for spatial modulators |
US6542304B2 (en) * | 1999-05-17 | 2003-04-01 | Toolz, Ltd. | Laser beam device with apertured reflective element |
JP2001023918A (en) * | 1999-07-08 | 2001-01-26 | Nec Corp | Semiconductor thin-film forming apparatus |
TW587199B (en) | 1999-09-29 | 2004-05-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic method and apparatus |
US6462883B1 (en) * | 2000-08-23 | 2002-10-08 | Apollo Instruments Inc. | Optical coupling systems |
US6556352B2 (en) * | 2000-08-23 | 2003-04-29 | Apollo Instruments Inc. | Optical coupling system |
WO2004025704A2 (en) * | 2002-09-12 | 2004-03-25 | Visotek, Inc. | Contact lens package and storage case, holder, and system and method of making and using |
EP1612849B1 (en) * | 2003-04-09 | 2012-05-30 | Nikon Corporation | Exposure method and apparatus, and device manufacturing method |
TWI569308B (en) | 2003-10-28 | 2017-02-01 | 尼康股份有限公司 | Optical illumination device, exposure device, exposure method and device manufacturing method |
TWI385414B (en) | 2003-11-20 | 2013-02-11 | 尼康股份有限公司 | Optical illuminating apparatus, illuminating method, exposure apparatus, exposure method and device fabricating method |
EP1716457B9 (en) * | 2004-01-16 | 2012-04-04 | Carl Zeiss SMT GmbH | Projection system with a polarization-modulating element having a variable thickness profile |
US20070019179A1 (en) * | 2004-01-16 | 2007-01-25 | Damian Fiolka | Polarization-modulating optical element |
US8270077B2 (en) * | 2004-01-16 | 2012-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Polarization-modulating optical element |
TWI366219B (en) | 2004-02-06 | 2012-06-11 | Nikon Corp | Polarization changing device, optical illumination apparatus, light-exposure apparatus and light-exposure method |
US20050205534A1 (en) * | 2004-03-18 | 2005-09-22 | Scott Caldwell | Single and dual lensed optical waveguide for uniform welding |
TWI423301B (en) * | 2005-01-21 | 2014-01-11 | 尼康股份有限公司 | Illumination optical device, exposure device, exposure method and fabricating method of device |
US8330938B2 (en) * | 2009-02-27 | 2012-12-11 | Corning Incorporated | Solid-state array for lithography illumination |
CN107290861A (en) * | 2017-08-01 | 2017-10-24 | 沈阳雷卓激光医疗器械有限公司 | Laser beam homogenization device and method |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3584948A (en) * | 1968-06-24 | 1971-06-15 | Bell Telephone Labor Inc | Apparatus and method for producing multiple images |
FR2132043A1 (en) * | 1971-04-06 | 1972-11-17 | Ibm | |
FR2177475A1 (en) * | 1972-03-03 | 1973-11-09 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | |
FR2312048A1 (en) * | 1975-05-19 | 1976-12-17 | Optical Associates Inc | ENERGY SOURCE EXPOSURE APPARATUS SUPPLYING A LAMP EMITTING RAY AND CONTROL DETECTOR OF THE ENERGY SOURCE, ESPECIALLY FOR PHOTORESERVE OPERATIONS |
US4023904A (en) * | 1974-07-01 | 1977-05-17 | Tamarack Scientific Co. Inc. | Optical microcircuit printing process |
DE2608176A1 (en) * | 1976-02-27 | 1977-09-01 | Inst Zemnogo Magnetizma Ionosf | Uniform illumination of object for microscopy etc. - using coherent light split by lens raster to set of parallel beams |
FR2406236A1 (en) * | 1976-12-10 | 1979-05-11 | Thomson Csf | OPTICAL DEVICE WITH COHERENT SOURCE FOR THE QUICK TRANSFER OF PATTERNS ON SUBSTRATES, APPLIED TO THE REALIZATION OF COMPONENTS AND MICROSTRUCTURE CIRCUITS |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1549613A (en) * | 1975-12-23 | 1979-08-08 | Plessey Co Ltd | Optical system for producing an area of light of even dispersion of illumination |
US4109304A (en) * | 1976-02-23 | 1978-08-22 | Khvalovsky Vladimir Vasilievic | Device for coherent lighting of objects |
CA1090056A (en) * | 1976-06-04 | 1980-11-25 | Pierre C.E. Goffinet | Textile treating compositions |
JPS5945123B2 (en) * | 1977-07-08 | 1984-11-05 | 富士写真光機株式会社 | Linear illumination method |
-
1979
- 1979-09-10 FR FR7922587A patent/FR2465241A1/en active Granted
-
1980
- 1980-09-05 DE DE8080401270T patent/DE3063902D1/en not_active Expired
- 1980-09-05 EP EP80401270A patent/EP0025397B1/en not_active Expired
- 1980-09-08 US US06/184,817 patent/US4370026A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-09-10 JP JP12475680A patent/JPS5685724A/en active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3584948A (en) * | 1968-06-24 | 1971-06-15 | Bell Telephone Labor Inc | Apparatus and method for producing multiple images |
FR2132043A1 (en) * | 1971-04-06 | 1972-11-17 | Ibm | |
FR2177475A1 (en) * | 1972-03-03 | 1973-11-09 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | |
US4023904A (en) * | 1974-07-01 | 1977-05-17 | Tamarack Scientific Co. Inc. | Optical microcircuit printing process |
FR2312048A1 (en) * | 1975-05-19 | 1976-12-17 | Optical Associates Inc | ENERGY SOURCE EXPOSURE APPARATUS SUPPLYING A LAMP EMITTING RAY AND CONTROL DETECTOR OF THE ENERGY SOURCE, ESPECIALLY FOR PHOTORESERVE OPERATIONS |
DE2608176A1 (en) * | 1976-02-27 | 1977-09-01 | Inst Zemnogo Magnetizma Ionosf | Uniform illumination of object for microscopy etc. - using coherent light split by lens raster to set of parallel beams |
FR2406236A1 (en) * | 1976-12-10 | 1979-05-11 | Thomson Csf | OPTICAL DEVICE WITH COHERENT SOURCE FOR THE QUICK TRANSFER OF PATTERNS ON SUBSTRATES, APPLIED TO THE REALIZATION OF COMPONENTS AND MICROSTRUCTURE CIRCUITS |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0091106A1 (en) * | 1982-04-02 | 1983-10-12 | Karl SÀ¼ss KG Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie - GmbH & Co. | Process for eliminating undesired appearances of diffraction and/or interference, as well as process and apparatus for aligning |
DE4132068A1 (en) * | 1991-09-26 | 1993-04-22 | Raith Gmbh | Optimised lithography for integrated optics - uses rotationally symmetrical write=beam with variable diameter and outwardly increasing intensity |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4370026A (en) | 1983-01-25 |
EP0025397B1 (en) | 1983-06-22 |
FR2465241B1 (en) | 1983-08-05 |
DE3063902D1 (en) | 1983-07-28 |
FR2465241A1 (en) | 1981-03-20 |
JPS5685724A (en) | 1981-07-13 |
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