DE4301546A1 - Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von Werkstücken - Google Patents
Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von WerkstückenInfo
- Publication number
- DE4301546A1 DE4301546A1 DE19934301546 DE4301546A DE4301546A1 DE 4301546 A1 DE4301546 A1 DE 4301546A1 DE 19934301546 DE19934301546 DE 19934301546 DE 4301546 A DE4301546 A DE 4301546A DE 4301546 A1 DE4301546 A1 DE 4301546A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- video camera
- line pattern
- line
- video
- workpiece surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title abstract description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000002969 artificial stone Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Prüfen von Ober
flächen von Werkstücken nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
In der Serienfertigung unterliegen gefertige Produkte oftmals
einer visuell durch eine Person vorgenommenen Endkontrolle, und zwar
insbesondere dann, wenn mit Prüfgeräten und Meßinstrumenten keine auto
matische Kontrolle möglich ist, um Ausschußteile auszusondern, die gege
benenfalls durch eine Nachbehandlung einer Verwertung wieder zugeführt
werden können. Dies ist beispielsweise bei der Oberflächeninspektion von
gemusterten Natur- oder Kunststeinplatten der Fall, bei denen Ausbrüche
beispielsweise nicht kleiner als 0,5 mm × 0,5 mm zu erfassen sind, deren
Kontur von der Musterung nicht grundsätzlich unterscheidbar und im Kon
trast nicht ausreichend ist, um eine Erfassung durch eine Auflichtbe
leuchtung zu gewährleisten, weil die Intensität des Vordergrundes bzw.
der Grauwert des Hintergrundes stärker schwankt als die Differenz des
Grauwertes zwischen Vorder- und Hintergrund.
In vielen Produktionslinien könnte aber eine Ausschußreduzie
rung stattfinden, wenn eine direkte Kontrolle nach den einzelnen Produk
tionsschritten stattfinden würde. Bei manueller Inspektion durch eine
Person scheitert dies jedoch häufig bereits am personellen Aufwand.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Einrichtung nach dem Ober
begriff des Anspruchs 1 zu schaffen, durch die eine Oberflächenprüfung
auf Vertiefungen trotz Kontrastarmut ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird entsprechend dem kennzeichnenden Teil des
Anspruchs 1 gelöst.
Hierbei kann ein Bildverarbeitungssystem verwendet werden, wie
es in der Patentanmeldung P 41 25 112.1 beschrieben ist. Dieses umfaßt
ein Eingangsinterface für eine Videobilder liefernde Videokamera, wobei
das Interface einen Digitalisierer aufweist, dessen Ausgangsdaten über
entsprechende mindestens zwei parallele Datenkanäle jeweils einer Reihe
von über einen Hostcomputer angesteuerten Ausführungsprozessoren (insbe
sondere Transputer) eines Bildprozessors zuführbar sind, wobei die An
zahl der Ausführungsprozessoren, die in einer Anzahl von wenigstens eins
in jeder Reihe vorgesehen sind, entsprechend dem Bedarf der Rechenlei
stung gewählt ist und der Digitalisierer ebenso wie die Ausführungspro
zessoren einen Primär- und einen Sekundärspeicher umfassen. In jedem
Ausführungsprozessor können Daten vom Primär- in den Sekundärspeicher
und umgekehrt bewegt werden, insbesondere speichern Bildverarbeitungs
funktionen, die auf zwei Bilder beispielsweise wie die Bildsubtraktion
wirken, die Bilder im Primär- und Sekundärspeicher ab, wobei das Ergeb
nis wahlweise im Primär- oder Sekundärspeicher abgelegt wird. Hierbei
können der Digitalisierer und der Hostcomputer ihren eigenen Transputer
aufweisen.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind der nachfolgenden
Beschreibung und den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines in den beigefügten
Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch und perspektivisch eine Einrichtung
zum Prüfen der Oberflächengüte von Steinplatten.
Fig. 2 zeigt schematisch den Strahlenverlauf bei der Einrich
tung von Fig. 1.
Fig. 3 zeigt schematisch ein auf eine Steinplatte projiziertes
Linienmuster.
Fig. 4a und 4b zeigen schematisch den Strahlenverlauf bei ei
nem Ausbruch.
Fig. 5 zeigt diagrammartig eine Erläuterung zum Betrachtungs
fenster der jeweiligen Videokamera.
Fig. 6a und 6b zeigen schematisch ein Ausführungsbeispiel der
Bildverarbeitung für die Einrichtung von Fig. 1.
Gemäß Fig. 1 werden auf ihre Oberflächengüte zu untersuchende,
eine Musterung 1, beispielsweise eine Marmorierung aufweisende Natur-
oder Kunststeinplatten 2, bei denen Ausbrüche 3 beispielsweise nicht
kleiner als 0,5 mm × 0,5 mm zu erfassen sind, deren Kontur von der Mu
sterung nicht grundsätzlich unterscheidbar und im Kontrast nicht aus
reichend ist, um eine Erfassung durch eine Auflichtbeleuchtung zu ge
währleisten, mittels eines Transportbandes 4 durch eine Einrichtung zum
Prüfen der Oberflächengüte geführt, die über dem Transportband 4 in ei
ner Kabine 5 angeordnet ist. Die Kabine 5 ist mit einem Ein- und einem
Austrittsschlitz 6 für das Transportband 4 und die Steinplatten 2 ver
sehen, so daß Fremdlichteinflüsse praktisch unterbunden werden können.
Die Einrichtung zum Prüfen der Oberflächengüte umfaßt eine An
ordnung von sechs Videokameras 7, die oberhalb des Transportbandes 4 an
einer Halterung 8 angeordnet jeweils ein Oberflächensegment in einer
Richtung quer zur Transportrichtung der Steinplatten 2 einsehen, so daß
insgesamt die vollständige Breite der Steinplatten 2 lückenlos erfaßt
wird, wobei sich die Gesichtsfelder der einzelnen Videokameras 7 etwas
überlappen können.
Ferner ist entsprechend der Breite der zu prüfenden Oberfläche
mindestens ein (im dargestellten Ausführungsbeispiel zwei) Linienprojek
tor 9 innerhalb der Kabine 5 vorgesehen, der ein schwarzweißes Linienmu
ster 10 auf die zu prüfende Oberfläche der jeweiligen Steinplatte 2 pro
jiziert. Die in Transportrichtung der Steinplatten 2 verlaufenden, dunk
len Streifen des Linienmusters 10 heben sich im Kontrast von der Muste
rung 1 der Steinplatte 2 ab.
Die Liniendicke der schwarzen Linien des Linienmusters 10 ist
dabei kleiner als die Ausdehnung eines minimal zu entdeckenden Ausbruchs
in der zu prüfenden Oberfläche. Bei einem minimal zu entdeckenden Aus
bruch von 0,5 mm × 0,5 mm beträgt sie beispielsweise 0,25 mm. Bei einer
Ausdehnung der Steinoberfläche von 300 mm quer zur Transportrichtung der
Steinplatten 2 sind dann 600 Linien erforderlich, die hier von zwei
Linienprojektoren 9 erzeugt werden. Die Videokameras 7 sind mit ihrer Ach
se in einem bestimmten Winkel zur Oberflächennormalen der Steinplatten 2
derart geneigt, daß sie das Linienmuster 10 von der Seite her sehen.
Bei seitlicher Betrachtung des Linienmusters 10 aus einer
Richtung im wesentlichen senkrecht zur Linienrichtung erscheinen Ausbrü
che als Störungen im geradlinigen Verlauf der Linien. Die Abweichung vom
geradlinigen Verlauf ist abhängig von der Tiefe h des Ausbruchs und dem
Betrachtungswinkel alpha zur Senkrechten auf die zu betrachtende Ober
fläche. Die Verschiebung d der Linie kann abgeschätzt werden durch
d = h tg(alpha),
vgl. Fig. 4a. Bedingt durch Abschottungseffekte ist der Betrachtungswin
kel jedoch begrenzt. In einem einfachen Rechteckmodell für den Ausbruch
11 ergibt sich als Maximalwinkel alphamax
tg alphamax = s/(2h),
wobei s die Ausdehnung des Ausbruchs 11 in Blickrichtung ist. Die maxi
mal detektierbare Verschiebung einer Linie des Linienmusters 10 ist so
mit durch die Ausdehnung des Ausbruchs 11 gegeben und beträgt bei diesem
Modell
dmax = s/2.
Dies erfordert bei einer Ausdehnung des Ausbruchs von 0,5 mm in Blick
richtung eine Bildpunkt(Pixel)auflösung von mindestens 0,1 mm, damit
sich im Bild eine Verschiebung von mindestens zwei Pixel ergibt.
Bei einer Standardvideokamera mit einer Auflösung von ca.
500 × 500 Bildpunkten ergibt dies ein Gesichtsfeld von 50 mm × 50 mm. Inner
halb dieses Gesichtsfeldes ist auch eine hinreichende Tiefenschärfe für
den Bildausschnitt gewährleistet. Durch die schräge Betrachtungsweise
ergibt sich ein unterschiedlicher Abstand von Videokamera 7 und Betrach
tungsebene für den oberen und unteren Bildrand. Er beträgt
d = dmax-dmin
mit
dmax = SQRT (d2 + d l sin(alpha) + l2/4)
und
dmin = SQRT (d2 - d l sin(alpha) + l2/4),
dmin = SQRT (d2 - d l sin(alpha) + l2/4),
wobei d der mittlere Kameraabstand zur Betrachtungsebene und l die Aus
dehnung des Betrachtungsfensters ist, vgl. Fig. 5.
Bei einem Verhältnis von Betrachtungsfenstergröße l zum mitt
leren Kameraabstand d von 0,25 und einem Blickwinkel alpha von 30° er
gibt sich eine Differenz von ca. 8% im Kameraabstand vom oberen und un
teren Bildrand.
Zur Gesamterfassung einer Oberfläche der Steinplatte 2 mit ei
ner Ausdehnung von 300 mm × 300 mm bedarf es bei diesem Ausführungsbei
spiel 36 Bildeinzügen. Diese Bilder sind beispielsweise in einer vorge
gebenen Taktzeit von 1 s zu bearbeiten.
Die Videokameras 7 sind mit einer Shuttervorrichtung ausge
stattet, um einen Bildeinzug bei bewegter Steinplatte 2 zu ermöglichen,
so daß jeweils ein Streifen von 50 mm × 300 mm der Steinplattenoberflä
che quer zur Förderrichtung erfaßt wird, wobei für eine Steinplatte 2
von jeder Videokamera 6 sechsmal ein Bildeinzug zur kompletten Erfassung
vorgenommen wird. Bei einer Taktzeit von 1 s und einer Bildeinzugszeit
von 40 ms verbleiben pro Bildeinzug ca. 100 ms Bearbeitungszeit. Aus
diesem Grund wird die Auswertung der Kamerabilder zeitlich parallel vor
genommen.
Die sechs Videokameras 7 sind hierzu mit einem Bildverarbei
tungsrechner verbunden, der zwei jeweils mit einem Primär- und einem Se
kundärspeicher versehene Digitalisierer 12 mit je einem integrierten
Multiplexer zum Anschluß von mindestens drei Videokameras 7 umfaßt. Die
Digitalisierer 12 sind jeweils über einen Videobus 13 und einen Daten
kommunikationskanal 14 mit jeweils einer Reihe von Ausführungsprozesso
ren 15 (insbesondere Transputer) verbunden. Die Ausführungsprozessoren 15
arbeiten unabhängig voneinander und erlauben eine parallele Verarbei
tung von sechs zu einem bestimmten Zeitpunkt eingezogenen Kamerabildern
der sechs Videokameras 7 über entsprechende Programm- und Datenspeicher.
In jedem Ausführungsprozessor 15 können hierzu Daten von einem Primär-
in einen Sekundärspeicher und umgekehrt bewegt werden, insbesondere
speichern Bildverarbeitungsfunktionen, die auf zwei Bilder etwa wie die
Bildsubtraktion wirken, die Bilder im Primär- und Sekundärspeicher ab,
wobei das Ergebnis wahlweise im Primär- oder Sekundärspeicher abgelegt
wird. Den ausführbaren Programmcode erhalten die Ausführungsprozessoren
15 beim Start des Systems über den Kommunikationskanal 14.
Nach dem ersten Bildeinzug werden die Bilder der drei zu einem
Digitalisierer 12 gehörenden Videokameras 7 zu den ersten drei Ausfüh
rungsprozessoren 15 übermittelt und der Bildeinzug des nächsten Segments
kann beginnen. Nach erfolgtem zweiten Bildeinzug werden die drei Bilder
in Folge über den Videobus 13 zu den nächsten drei Ausführungsprozesso
ren 15 gesandt. Die Abarbeitung der drei ersten Bilder wird dadurch
nicht gestört, da zur Verwaltung des Videobusses 13 die Ausführungspro
zessoren 15 nicht benötigt werden. Dies wird fortgesetzt, bis alle Bild
segmente erfaßt und jeweils einem Ausführungsprozessor 15 zugeführt wor
den sind. Jeder Ausführungsprozessor 15 hat somit eine Abarbeitungszeit
von ca. 600 ms. Die Anzahl der Ausführungsprozessoren 15 ist entspre
chend der Zahl der Bildsegmente einer Steinplatte 2 zu wählen.
Nach erfolgter Analyse eines Bildes sendet jeder Ausführungs
prozessor 15 das Ergebnis über den Kommunikationskanal 14 zu einem Zen
tralprozessor 16. Dieser sammelt alle Teilergebnisse und erzeugt daraus
das Gesamtprüfungsergebnis für die jeweilige Steinplatte 2. Über eine
entsprechende, zu einer digitalen Ausgangsschnittstelle 17 führende, di
gitale Steuerleitung kann eine Weiche 18 stromab von der Einrichtung zum
Prüfen der Oberflächengüte angesteuert werden, wodurch fehlerhafte
Steinplatten 2 aussortiert werden.
Gemäß Fig. 6b erfassen sechs Lichtschranken 19 den Eintritt
einer Steinplatte 2 bzw. eines relevanten Ausschnitts hiervon in den
Blickbereich der Videokameras 7. über eine digitale Eingangsschnittstel
le 20 wird der Zentralprozessor 16 von diesem Ereignis in Kenntnis ge
setzt. Er veranlaßt den Bildeinzug durch den Digitalisierer 12 und den
Versand der Bilder über den Videobus 13 an die zuständigen Ausführungs
prozessoren 15.
Claims (6)
1. Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von insbesondere
kontinuierlich geförderten und insbesondere gemusterten
Werkstücken (2) mit einer wenigstens eine Videokamera
(7) aufweisenden Vorrichtung zum Erfassen zumindest
eines Teils der Werkstückoberfläche und einer Be
leuchtungsvorrichtung, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung
wenigstens einen Linienprojektor (8) zum Erzeugen eines
Linienmusters (10) auf der zu prüfenden Oberfläche um
faßt, wobei die Liniendicke des Linienmusters (10) und
deren Abstand kleiner als eine minimal zu entdeckende
Oberflächenvertiefung (11) ist und die wenigstens eine
Videokamera (7) das Linienmuster (10) von der Seite her
betrachtet, wobei ferner die wenigstens eine Video
kamera (7) an einen Digitalisierer (12) angeschlossen
ist, der seinerseits über einen Videobus (13) und einen
Datenkommunikationskanal (14) mit einer Anzahl von
bildauswertenden Ausführungsprozessoren (15) verbunden
ist, wobei die Ausführungsprozessoren (15) über einen
Auswerteprozessor (16) zur Auswertung der von den
Ausführungsprozessoren (15) gelieferten Ergebnisse
steuerbar sind.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Breite und der Ab
stand der Linien des Linienmusters etwa gleich der
Hälfte der Ausdehnung der minimal zu entdeckenden
Oberflächenvertiefung ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß mehrere
Videokameras (7) quer zur Transportrichtung der
Werkstücke (2) angeordnet sind.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine Kabine (5) zum Schutz gegen Fremdlichteinflüsse
vorgesehen ist, in der wenigstens ein Linienprojektor
(8) und wenigstens eine Videokamera (7) angeordnet sind.
5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß ein
vom Auswerteprozessor digitales Ausgangssignal,
vorzugsweise zur Schaltung einer Weiche (18),
vorgesehen ist.
6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Videokameras (5) mit jeweils einer Shuttereinrichtung
versehen sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934301546 DE4301546C2 (de) | 1993-01-21 | 1993-01-21 | Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von Werkstücken |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934301546 DE4301546C2 (de) | 1993-01-21 | 1993-01-21 | Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von Werkstücken |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4301546A1 true DE4301546A1 (de) | 1994-07-28 |
DE4301546C2 DE4301546C2 (de) | 2002-08-08 |
Family
ID=6478638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934301546 Expired - Fee Related DE4301546C2 (de) | 1993-01-21 | 1993-01-21 | Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von Werkstücken |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4301546C2 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19730414A1 (de) * | 1997-07-16 | 1999-01-21 | Opel Adam Ag | Verfahren und Vorrichtung zur vorausschauenden Fahrbahnbeurteilung |
DE102004037555A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-02-23 | Erlus Aktiengesellschaft | Einrichtung und Verfahren zur berührungslosen und/oder zerstörungsfreien Prüfung einer photokatalytischen Oberflächenbeschichtung |
DE102005024594A1 (de) * | 2005-05-25 | 2006-11-30 | Vmt Bildverarbeitungssysteme Gmbh | Verfahren und Anordnung zum automatischen Erfassen, Vermessen oder Prüfen von Barcodeprofilen oder Blindenschrift |
FR2963093A1 (fr) * | 2010-07-26 | 2012-01-27 | Vit | Installation d'inspection optique 3d de circuits electroniques |
IT201700040298A1 (it) * | 2017-04-11 | 2018-10-11 | Stylgraph Srl | Macchinario per la movimentazione di superfici da scansionare |
CN109444157A (zh) * | 2018-12-25 | 2019-03-08 | 苏州凡目视觉科技有限公司 | 一种划痕检测装置与方法 |
IT202000001816A1 (it) * | 2020-01-30 | 2021-07-30 | Maema S R L Unipersonale | Apparato e metodo per la rilevazione di immagini multiple di lastre piane |
DE102024103011A1 (de) | 2024-02-02 | 2024-12-19 | Hess Group Gmbh | Vorrichtung zur Oberflächenanalyse von Steinen und System zum Herstellen von Steinen |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI3827246T3 (fi) | 2018-07-24 | 2024-06-20 | Glasstech Inc | Järjestelmä ja menetelmä pinnan mittaamiseksi muotoilluissa lasilevyissä |
US11867630B1 (en) | 2022-08-09 | 2024-01-09 | Glasstech, Inc. | Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1224030B (it) * | 1988-12-23 | 1990-09-26 | Fiat Ricerche | Metodo e dispositivo per il rilievo e la classivicazione della raggrinzatura di trattamenti superficiali |
JPH0739999B2 (ja) * | 1991-01-24 | 1995-05-01 | 肇産業株式会社 | 欠陥検出方法 |
DE4125112A1 (de) * | 1991-07-30 | 1993-02-04 | Rheinmetall Gmbh | Bildverarbeitungssystem |
-
1993
- 1993-01-21 DE DE19934301546 patent/DE4301546C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19730414A1 (de) * | 1997-07-16 | 1999-01-21 | Opel Adam Ag | Verfahren und Vorrichtung zur vorausschauenden Fahrbahnbeurteilung |
DE102004037555A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-02-23 | Erlus Aktiengesellschaft | Einrichtung und Verfahren zur berührungslosen und/oder zerstörungsfreien Prüfung einer photokatalytischen Oberflächenbeschichtung |
DE102004037555B4 (de) * | 2004-08-03 | 2012-09-06 | Erlus Aktiengesellschaft | Verfahren zur berührungslosen und/oder zerstörungsfreien Prüfung einer photokatalytischen Oberflächenbeschichtung |
DE102005024594A1 (de) * | 2005-05-25 | 2006-11-30 | Vmt Bildverarbeitungssysteme Gmbh | Verfahren und Anordnung zum automatischen Erfassen, Vermessen oder Prüfen von Barcodeprofilen oder Blindenschrift |
FR2963093A1 (fr) * | 2010-07-26 | 2012-01-27 | Vit | Installation d'inspection optique 3d de circuits electroniques |
EP2413095A1 (de) * | 2010-07-26 | 2012-02-01 | Vit | Optische 3D-Inspektionsanlage von elektronischen Schaltkreisen |
US9170207B2 (en) | 2010-07-26 | 2015-10-27 | Vit | 3D inspection using cameras and projectors with multiple-line patterns |
IT201700040298A1 (it) * | 2017-04-11 | 2018-10-11 | Stylgraph Srl | Macchinario per la movimentazione di superfici da scansionare |
CN109444157A (zh) * | 2018-12-25 | 2019-03-08 | 苏州凡目视觉科技有限公司 | 一种划痕检测装置与方法 |
IT202000001816A1 (it) * | 2020-01-30 | 2021-07-30 | Maema S R L Unipersonale | Apparato e metodo per la rilevazione di immagini multiple di lastre piane |
EP3859318A1 (de) | 2020-01-30 | 2021-08-04 | Maema S.R.L. Unipersonale | Vorrichtung und verfahren zur erfassung mehrerer bilder flacher platten |
DE102024103011A1 (de) | 2024-02-02 | 2024-12-19 | Hess Group Gmbh | Vorrichtung zur Oberflächenanalyse von Steinen und System zum Herstellen von Steinen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4301546C2 (de) | 2002-08-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0836093B1 (de) | Verfahren und Anordnung zur optischen Schweissnahtprüfung | |
DE68923653T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Seitenwände von Flaschen. | |
DE69912577T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur optischen inspektion | |
DE69704485T2 (de) | Sichtsystem | |
DE69412281T2 (de) | Ausrichtsysteme | |
DE112013002321B4 (de) | Bildverarbeitungsvorrichtung, Verfahren zum Steuern derselben, Programm und Prüfsystem | |
EP1742041B1 (de) | Kostengünstige multi-sensorielle Oberflächeninspektion | |
DE69218812T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion des Endes eines Objektes auf Defekte | |
DE2937335C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Prüfung von Gegenständen | |
DE3718151C2 (de) | ||
DE112011100269T5 (de) | Leiterplattenprüfvorrichtung | |
EP2910934B1 (de) | Vorrichtung zur Inspektion eines mit einer beschichteten Oberfläche versehenen Materials und entsprechendes Verfahren | |
DE19726094A1 (de) | Verfahren zur Bildverarbeitung | |
DE2256736B2 (de) | Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche | |
DE3012559A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung von produkten | |
EP0085868A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen optischen Beschaffenheitsprüfung | |
DE4301546C2 (de) | Einrichtung zum Prüfen von Oberflächen von Werkstücken | |
DE102006058057B3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Erfassung einer Struktur | |
DE3021448A1 (de) | Verfahren und anordnung zur erfassung raeumlicher abweichungen von einer glatten ebene an oberflaechen von gegenstaenden | |
EP0708325A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Gegenständen, insbesondere von Flaschen | |
EP1718926A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur bestimmung von raumkoordinaten eines objekts | |
EP2876422B1 (de) | Pruefvorrichtung fuer elektro-optische Leiterplatten | |
DE2822269C2 (de) | Verfahren zur automatischen Ausrichtung von zwei aufeinander einzujustierenden Objekten | |
DE102017009153B4 (de) | Anordnung und Verfahren zur Inspektion von bewegten plattenförmigen Objekten | |
DE68912900T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Inspektion von Schichten. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: RHEINMETALL INDUSTRIE GMBH, 40882 RATINGEN, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: RHEINMETALL INDUSTRIE AG, 40882 RATINGEN, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: RHEINMETALL W & M GMBH, 29345 UNTERLUESS, DE |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8181 | Inventor (new situation) |
Free format text: REUSCHENBACH, MATTHIAS, DR.RER.NAT., 40764 LANGENFELD, DE HUBRICHT, GERHARD, DR.RER.NAT., 58135 HAGEN, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ISRA VISION SYSTEMS AG, 64297 DARMSTADT, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |