DE3633275A1 - METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT - Google Patents
METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECTInfo
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Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Generieren von Lagesignalen, die Orte repräsentieren, welche die etwa elliptische Querschnittsfläche eines Objektes begrenzen, wobei aus drei Richtungen mit auf die zu erwartende Position des Objektes ausgerichteten optischen Aufnahmegeräten die räumliche Lage der jeweiligen Schattenkanten des Objektes bestimmt wird, wobei die optischen Achsen von zwei der Aufnahmegeräte etwa 90° gegeneinander gedreht sind und die Achse des dritten Aufnahmegerätes um etwa 45° bzw. 135° zu den Achsen der beiden anderen Aufnahmegeräte angeordnet ist und wobei eine Auswerteschaltung vorgesehen ist, die aus den Schattenkantensignalen ein Signal für den mittleren Durchmesser des Objektes bildet.The invention relates to a method for generating of location signals that represent locations that the approximately Limit the elliptical cross-sectional area of an object, where from three directions to the expected position the object aligned optical recording devices spatial position of the respective shadow edges of the object determined being, the optical axes of two of the recording devices are rotated about 90 ° against each other and the axis of the third recording device by about 45 ° or 135 ° to the axes the other two recording devices is arranged and where an evaluation circuit is provided which consists of the shadow edge signals a signal for the average diameter of the Object forms.
Ein derartiges Verfahren, das zur Vermessung von Baumstämmen in einem Sägewerk geeignet ist, ist aus der Druckschrift "Lignotron" der Siemens AG Bestell-Nr. A19100-E872-A180 bekannt. Bei diesem Verfahren wird mit Hilfe von drei Schattenbildkameras zum einen der mittlere Stammdurchmesser erfaßt, zum anderen wird der Krümmungsverlauf längs des Stammes ermittelt. Ausgegangen wird dabei stets von den Schnittpunkten der Schattenkanten, die die Querschnittsfläche des jeweiligen Baumstammes polygonartig umgrenzen. Die Lage dieser Schnittpunkte variiert dabei jedoch ganz erheblich je nach Form und Lage des zu vermessenden Objektes, d. h. des Baumstammes. Wollte man jedoch, um ein gutes Bewertungskriterium für die Stammform zu gewinnen, in einem vorgegebenen Radialnetz die Durchmesserwerte des Stammes ermitteln, wäre dies beim Stand der Technik allenfalls dadurch möglich, daß aus den Schnittpunkten über mathematische relativ komplizierte Beziehungen die allgemeine Gleichung einer vom Polygonzug eingegrenzten Ellipse bestimmt würde und daß mit Hilfe dieser Gleichung die relevanten Koordinatenpunkte errechnet würden.Such a method that is used to measure tree trunks is suitable in a sawmill, is from the publication "Lignotron" from Siemens AG Order no. A19100-E872-A180 known. At This procedure is done with the help of three silhouette cameras on the one hand, the mean trunk diameter is recorded, on the other hand, the course of curvature along the trunk is determined. Went out is always from the intersection of the shadow edges, the cross-sectional area of the respective tree trunk is polygonal delimit. The location of these intersections varies however, quite considerably depending on the shape and location of the item to be measured Object, d. H. of the tree trunk. However, you wanted to order one good evaluation criterion for the stem form to win in a given radial network the diameter values of the trunk would determine this at best in the prior art possible that from the intersections on mathematical relative complicated relationships the general equation of one of the Polygon bounded ellipse would be determined and that with The relevant coordinate points are calculated using this equation would.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der eingangs genannten Art so auszubilden, daß in einem 45° Radialnetz Lagesignale generiert werden können, die das elliptische Objekt eindeutig eingrenzen, ohne daß dazu ein aufwendiges technisches Verfahren erforderlich ist.The object of the invention is a method of the aforementioned Kind in such a way that position signals in a 45 ° radial network can be generated that the elliptical object clearly delimit, without the need for a complex technical Procedure is required.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß als erster, zweiter und dritter Durchmesser die Durchmesser des Objektes in Richtung auf das erste, zweite und dritte Aufnahmegerät ermittelt werden,According to the invention, this object is achieved in that the first, second and third diameters are the diameters the object in the direction of the first, second and third recording device be determined,
- - daß die vorzeichenbehaftete Differenz des halben ersten und des halben zweiten Durchmessers in Form eines eine erste Ovalität des Objektes bezeichnenden Signals gebildet wird, wobei - bei einer angenommenen Ausrichtung des dritten Aufnahmegerätes in einer Richtung von etwa 0° bzw. 180° - das erste der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der objektgemäßen Ellipse in Richtung auf etwa 45° bzw. 225° hinweist und das zweite der beiden möglichen Vorzeichen auf einer Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 135° bzw. 315° hinweist,- That the signed difference of half the first and half of the second diameter in the form of a first Ovality of the signal denoting the object is formed, where - with an assumed orientation of the third recording device in a direction of about 0 ° or 180 ° - that first of the two possible signs of alignment the major axis of the object-oriented ellipse in the direction of about 45 ° or 225 ° and the second of the two possible Sign on an alignment of the major axis of the Ellipse points in the direction of approximately 135 ° or 315 °,
- - daß die vorzeichenbehaftete Differenz des mittleren Durchmessers und des dritten Durchmessers in Form eines eine zweite Ovalität des Objektes bezeichnenden Signals gebildet wird, wobei das erste der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 90° bzw. 270° hinweist und das zweite der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 0° bzw. 180° hinweist,- That the signed difference of the average diameter and the third diameter in the form of a second Ovality of the signal denoting the object is formed, where the first of the two possible signs is an alignment the major axis of the ellipse towards about 90 ° or 270 ° and the second of the two possible Sign of an alignment of the major axis of the ellipse in the direction of about 0 ° or 180 °,
- - daß in einem korrespondierenden 45° Radialnetz gegebene Orte auf einer durch den mittleren Durchmesser vorgegebenen Ortskurve jeweils nach Vorzeichen der ersten und der zweiten Ovalität jeweils um den halben Betrag der jeweiligen Ovalität in radialer Richtung variiert werden und - That given in a corresponding 45 ° radial network on a locus given by the mean diameter according to the sign of the first and the second Ovality by half the amount of the respective ovality can be varied in the radial direction and
- - daß die durch Variation sich ergebenden Ortskoordinaten als Lagesignale einer Verarbeitungseinrichtung zuführbar sind.- That the local coordinates resulting from variation as Position signals can be fed to a processing device.
Dabei wird es durch die Erfindung ermöglicht, aus sechs Schattenkantenschnittpunkten, die ein unregelmäßiges, das Objekt eingrenzendes Polygon darstellen, acht, die Querschnittsfläche des elliptischen Objekts begrenzende, einem vorgegebenen Radialnetz zugeordnete Lagesignale ermittelt werden können. Damit ist auch bei einer Änderung der Form der Querschnittsfläche längs einer Achse, wie dies bei Baumstämmen stets der Fall ist, eine leichte Vergleichbarkeit der jeweils durch das erfindungsgemäße Verfahren generierten Lagesignale ohne aufwendige Operationen in der Verarbeitungseinrichtung möglich.It is made possible by the invention, from six shadow edge intersections, which is an irregular, the object delimit polygon, eight, the cross-sectional area of the elliptical object bounding a predetermined radial network assigned position signals can be determined. So that is even if the shape of the cross-sectional area changes longitudinally one axis, as is always the case with tree trunks, one easy comparability of each by the invention Processes generated position signals without complex operations possible in the processing facility.
Eine erste vorteilhafte Ausbildung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß unter Zugrundelegung der Orte der Schattenkantenschnittpunkte die mittleren Abstände der Seiten desjenigen Vierecks gebildet werden, das von den vom ersten und zweiten Aufnahmegerät ermittelten Schattenkanten gebildet ist, und daß den mittleren Abständen jeweils proportionale Signale als erstes und als zweites Durchmessersignal erzeugt werden. Da der mittlere Durchmesser des Objektes gemäß dem bekannten Stand der Technik (DE-Anm. P 35 42 896.1) relativ genau bestimmbar ist und die Ovalität sich innerhalb einer gegenüber diesem mittleren Durchmesser relativ geringe Bandbreite bewegt, sind Meßfehler, die sich daraus ergeben, daß die mittleren Abstände der jeweils einander gegenüberliegenden Seiten dieses Vierecks nicht ganz genau dem tatsächlichen Durchmesser entsprechen, unbedeutend.This is a first advantageous embodiment of the invention characterized that based on the locations of the shadow edge intersections the mean distances between the sides of one Quadrilaterals are formed by those of the first and second recording device formed shadow edges and that the average distances are proportional Signals generated as the first and as the second diameter signal will. Since the average diameter of the object according to the known prior art (DE-Note P 35 42 896.1) relative is precisely determinable and the ovality within one relatively small bandwidth compared to this average diameter moved, are measurement errors that result from the fact that the mean distances of the opposite one another Sides of this square is not exactly the actual one Correspond to diameter, insignificant.
Eine weitere vorteilhafte Ausbildung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß unter Zugrundelegung eines durch die Schattenkanten bestimmten, das Objekt eingrenzenden Sechsecks der mittlere Abstand derjenigen Seiten des Sechsecks gebildet wird, die durch die vom dritten Aufnahmegerät erfaßten Schattenkanten entstehen, und daß ein diesem mittleren Abstand proportionales Signal als drittes Durchmessersignal erzeugt wird. Da auch dieses Durchmessersignal auf das Ovalitätssignal, in diesem Fall ein die zweite Ovalität bezeichnendes Signal, einwirkt, gilt auch hier dies oben im Zusammenhang mit dem die erste Ovalität bezeichnenden Signal genannte.This is a further advantageous embodiment of the invention characterized in that on the basis of a the shadow edges determined the hexagon delimiting the object the mean distance between those sides of the hexagon is formed is that detected by the third recording device Shadow edges arise, and that a this mean distance proportional signal generated as a third diameter signal becomes. Since this diameter signal also affects the ovality signal, in this case a signal denoting the second ovality, acts, this also applies here in connection with the first signal called ovality.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher erläutert. Dabei zeigtAn embodiment of the invention is in the drawing shown and is explained in more detail below. It shows
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Erfindung, Fig. 1 is a block diagram of the invention,
Fig. 2 eine Skizze zu Ermittlung der ersten und zweiten Durchmesser und Fig. 2 is a sketch for determining the first and second diameters and
Fig. 3 ein Diagramm zur Darstellung der für die elliptische Querschnittsfläche des Objekts repräsentativen Orte. Fig. 3 is a diagram showing the locations representative of the elliptical cross-sectional area of the object.
In der Darstellung gemäß Fig. 1 ist schraffiert die Querschnittsfläche F eines Objekts, in diesem Fall eines Baumstammes, gezeigt, die eine etwa elliptische Form aufweist. Zur Vermessung der Querschnittsfläche sind drei optische Aufnahmegeräte A, B und C vorgesehen, die als Schattenbildkameras ausgebildet sind und mit Leuchtstoffröhren L A , L B und L C zusammenwirken. Dabei sind die Aufnahmegeräte A und B mit ihren durch strichpunktierte Linien angedeuteten optischen Achsen in einem Winkel von 90° gegeneinander versetzt, während die optische Achse des Aufnahmegerätes C, die ebenfalls strichpunktiert angedeutet ist, um 45° zum Aufnahmegerät A und um 135° zum Aufnahmegerät B ausgerichtet ist. Die von den Aufnahmegeräten A, B und C jeweils erfaßten Schattenkanten sind jeweils mit Ziffern 1 und 2 bezeichnet. Die sich ergebenden Schnittpunkte der Schattenkanten sind jeweils sowohl durch die Bezugszeichen A, B und C der Aufnahmegeräte, als auch durch die zugehörigen Ziffern 1 und 2 für die entsprechenden Schattenkanten bezeichnet. Beispielsweise ist der Schnittpunkt der vom Aufnahmegerät A detektierten Schattenkante 1 mit der vom Aufnahmegerät B erfaßten Schattenkante 2 als A 1 B 2 bezeichnet. In the illustration of FIG. 1, the cross-sectional area F is hatched an object, in this case, a tree trunk is shown, which has an approximately elliptical shape. To measure the cross-sectional area, three optical recording devices A, B and C are provided, which are designed as silhouette cameras and interact with fluorescent tubes L A , L B and L C. The recording devices A and B, with their optical axes indicated by dash-dotted lines, are offset from one another at an angle of 90 °, while the optical axis of the recording device C , which is also indicated by dash-dotted lines, is 45 ° to the recording device A and 135 ° to the recording device B is aligned. The shadow edges detected by the recording devices A, B and C are identified by numbers 1 and 2 , respectively. The resulting intersection points of the shadow edges are denoted both by the reference symbols A, B and C of the recording devices and by the associated numbers 1 and 2 for the corresponding shadow edges. For example, the intersection of the detected from the receiving device A shadow edge 1 is denoted by the detected by the host device B shadow edge 2 as A 1 B2.
Bei Verwendung von drei Aufnahmegeräten A, B und C bilden die Schnittpunkte der Schattenkanten um die Querschnittsfläche F des Objekts ein unregelmäßiges Sechseck. Im Ausführungsbeispiel sind die Eckpunkte dieses Sechsecks mit A 2 B 2, B 2 C 1, A 1 C 1, A 1 B 1, B 1 C 2 und A 2 C 2 bezeichnet. Ferner sind in der Darstellung noch Schnittpunkte A 1 B 2 und A 2 B 1 angegeben, auf deren Bedeutung im Zusammenhang mit Fig. 2 noch eingegangen wird.When using three recording devices A, B and C , the intersections of the shadow edges around the cross-sectional area F of the object form an irregular hexagon. In the exemplary embodiment, the corner points of this hexagon are designated A 2 B 2 , B 2 C 1 , A 1 C 1 , A 1 B 1 , B 1 C 2 and A 2 C 2 . In addition, intersection points A 1 B 2 and A 2 B 1 are also shown in the illustration, the meaning of which will be discussed in connection with FIG. 2.
Die Schattenkantensignale der Aufnahmegeräte A, B und C gelangen als Winkelsignale an einen Umsetzer U 1, der unter Zugrundelegung der trigonometrischen Winkelbeziehungen die Koordinaten der Schnittpunkte der Schattenkanten ermittelt und entsprechende elektrische Signale an seinem Ausgang zur Verfügung stellt. Aus den Koordinaten des die Querschnittsfläche F eingrenzenden Sechsecks wird in einem Umsetzer U 2 die Fläche dieses Sechsecks errechnet und ein dementsprechenden Signal f (F A 2B 2, B 2C 1, A 1C 1, A 1B 1, B 1C 2, A 2C 2) ermittelt. Dieses der Fläche des Sechsecks entsprechende Signal gelangt an einen Umsetzer U 3, der eine Wichtung dieser Fläche im Sinne einer Multiplikation mit um einen Faktor phi/120,5 vornimmt und dementsprechend ein die tatsächliche Fläche des Objekts bezeichnendes Signal f (F) generiert. Dabei liegt dem Umsetzvorgang für den Umsetzer U 3 die Erkenntnis zugrunde, daß bei einer Anordnung von drei Aufnahmegeräten und einer Annahme, daß die zu vermessenden Objekten nährungsweise elliptische Querschnittsflächen aufweisen, der obengenannte Faktor unabhängig von der Stärke der Ovalität stets gleich ist.The shadow edge signals of the recording devices A, B and C pass as angle signals to a converter U 1 , which, using the trigonometric angular relationships, determines the coordinates of the intersection points of the shadow edges and provides corresponding electrical signals at its output. From the coordinates of the hexagon delimiting the cross-sectional area F, the area of this hexagon is calculated in a converter U 2 and a corresponding signal f ( F A 2 B 2, B 2 C 1, A 1 C 1, A 1 B 1, B 1 C 2, A 2 C 2 ) determined. This signal corresponding to the area of the hexagon reaches a converter U 3 , which carries out a weighting of this area in the sense of multiplication by a factor phi / 12 0.5 and accordingly generates a signal f (F) which designates the actual area of the object. The conversion process for the converter U 3 is based on the knowledge that with an arrangement of three recording devices and an assumption that the objects to be measured have approximately elliptical cross-sectional areas, the above-mentioned factor is always the same regardless of the strength of the ovality.
Das Ausgangssignal des Umsetzers U 3 wird einem Umsetzer U 4 zugeführt, der aus der Querschnittsfläche F des elliptischen Objekts über die Beziehung F = phi (D M /2)² auf den mittleren Durchmesser D M schließt, der dann in Form eines elektrischen Signals f (D M ) am Ausgangs des Umsetzers U 4 vorliegt.The output signal of the converter U 3 is fed to a converter U 4 which, from the cross-sectional area F of the elliptical object, uses the relationship F = phi ( D M / 2) 2 to infer the mean diameter D M , which is then in the form of an electrical signal f ( D M ) is present at the output of the converter U 4 .
In einem Umsetzer U 5 wird anhand der Schnittpunkte B 2 C 1, A 1 C 1 sowie A 2 C 2 und B 1 C 2 der Mittelpunkt der Strecken B 2 C 1 nach A 1 B 2 und A 2 C 2 nach B 1 C 2 ermittelt und die Differenzstrecke zwischen diesen beiden Mittelpunkten als ein für das Aufnahmegerät C repräsentativer Durchmesser D C (dritter Durchmesser) gewonnen. Ein entsprechendes elektrisches Signal f (D C ) gelangt ebenso wie das dem mittleren Durchmesser D M entsprechende Signal f (D M ) an einem Umsetzer U 10. Bei diesem Umsetzer U 10 wird die Differenz zwischen dem mittleren Durchmesser D M und dem dritten Durchmesser D C gebildet und ein entsprechendes eine zweite Ovalität (auf die erste Ovalität wird im folgenden noch eingegangen) des Objektes bezeichnendes Signal f (O W ) generiert. Die Größe dieser zweiten Ovalität deutet darauf hin, wie stark parallel oder rechtwinklig zur optischen Achse des dritten Aufnahmegerätes C eine Verzerrung von einer Kreisform in eine Ellipsenform vorliegt. Ein positives Vorzeichen der ermittelten Differenz deutet dabei darauf hin, daß die große Achse der Ellipse parallel zur optischen Achse des Aufnahmegerätes C verläuft, ein negatives Vorzeichen deutet darauf hin, daß die große Achse der erfaßten Ellipse senkrecht zur optischen Achse des Aufnahmegerätes C sich erstreckt.In a converter U 5 , based on the intersection points B 2 C 1 , A 1 C 1 and A 2 C 2 and B 1 C 2, the center of the lines B 2 C 1 to A 1 B 2 and A 2 C 2 to B 1 C is 2 determined and the difference between these two center points obtained as a representative of the recording device C diameter D C (third diameter). A corresponding electrical signal f ( D C ), like the signal f ( D M ) corresponding to the mean diameter D M , reaches a converter U 10 . In this converter U 10 , the difference between the mean diameter D M and the third diameter D C is formed and a corresponding signal f ( O W ), which denotes a second ovality (the first ovality will be discussed below), of the object is generated. The size of this second ovality indicates how strongly parallel or perpendicular to the optical axis of the third recording device C there is a distortion from a circular shape to an elliptical shape. A positive sign of the determined difference indicates that the large axis of the ellipse runs parallel to the optical axis of the recording device C , a negative sign indicates that the large axis of the detected ellipse extends perpendicular to the optical axis of the recording device C.
Die Koordinaten der Schnittpunkte A 2 B 2, A 1 B 2, A 1 B 1 und A 2 B 1 werden Umsetzern U 6 und U 7 zugeführt, die aus den Werten dieser Koordinaten einen ersten Durchmesser D A und einen zweiten Durchmesser D B ermitteln, wie dies in der Darstellung gemäß Fig. 2 skizziert ist. Der Durchmesser D A entspricht dabei einem vom Aufnahmegerät A erfaßten ersten Durchmesser des Objekts, während der Durchmesser D B einem vom Aufnahmegerät B erfaßten zweiten Durchmesser entspricht. Zur Ermittlung des ersten Durchmessers D A und des zweiten Durchmessers D B wird jeweils der Mittelpunkt der Strecke A 2 B 2 nach A 1 B 2, A 1 B 2 nach A 1 B 1, A 1 B 1 nach A 2 B 1 und A 2 B 1 nach A 2 B 2 gebildet und die entsprechenden Differenzen zwischen diesen ermittelten Punkten geben unmittelbar die Größe des ersten Durchmesser D A und des zweiten Durchmessers D B an. Da der erste Durchmesser D A und der zweite Durchmesser D B für die weitere Verarbeitung zur Bestimmung einer ersten Ovalität als sogenannter "Schrägovalität" dienen (die obengenannte zweite Ovalität O W kann bei der vorliegenden Anordnung der Aufnahmegeräte A, B und C auch als waagrechte Ovalität bezeichnet werden) und da die Ovalität bei realen Objekten, z. B. Baumstämmen, relativ klein gegenüber dem recht genau gemessenen mittleren Durchmesser D M ist, ist es für die Weiterverarbeitung unbedeutend, daß zwischen dem Wert für den ersten Durchmesser D A und dem Wert des zweiten Durchmessers D C gegenüber dem tatsächlichen Durchmesser des Objekts eine geringfügige Abweichung vorliegt.The coordinates of the intersections A 2 B 2 , A 1 B 2 , A 1 B 1 and A 2 B 1 are fed to converters U 6 and U 7 , which determine a first diameter D A and a second diameter D B from the values of these coordinates , as outlined in the illustration according to FIG. 2. The diameter D A corresponds to a first diameter of the object detected by the recording device A , while the diameter D B corresponds to a second diameter detected by the recording device B. To determine the first diameter D A and the second diameter D B , the center point of the segment A 2 B 2 to A 1 B 2 , A 1 B 2 to A 1 B 1 , A 1 B 1 to A 2 B 1 and A is used 2 B 1 according to A 2 B 2 and the corresponding differences between these determined points directly indicate the size of the first diameter D A and the second diameter D B. Since the first diameter D A and the second diameter D B are used for further processing to determine a first ovality as so-called "oblique ovality" (the above-mentioned second ovality O W can also be used as a horizontal ovality in the present arrangement of the recording devices A, B and C. ) and because the ovality of real objects, e.g. B. tree trunks, is relatively small compared to the very precisely measured average diameter D M , it is insignificant for further processing that between the value for the first diameter D A and the value of the second diameter D C compared to the actual diameter of the object is a slight There is a deviation.
Wenn somit von den Umsetzern U 6 und U 7 ein dem ersten Durchmesser D A entsprechendes elektrisches Signal f (D A ) bzw. f (D B ) ermittelt worden ist, wie dies durch die Skizze gemäß Fig. 2 prinzipiell erläutert wurde und in der Fig. 1 im Schaltbild gezeigt ist, gelangen diese Signale an einen Umsetzer U 8, der die Differenz des halben Durchmessers D B und des halben Durchmessers D A bildet und dieses Differenzergebnis als ein die erste Ovalität des Objektes bezeichnendes Signal f (O S ) an einen Umsetzer U 9 weiterleitet. Diese Ovalität kann deswegen als Schrägovalität bezeichnet werden, weil immer dann, wenn bei der gewählten Anordnung der Aufnahmegeräte A, B und C die Differenzbildung ein positives Vorzeichen ergibt, die große Hauptachse der Ellipse in Richtung der optischen Achse des Aufnahmegerätes A ausgerichtet ist, während immer dann, wenn ein negatives Vorzeichen vorliegt, die Hauptsache der Ellipse in Richtung auf die optische Achse des optischen Aufnahmegerätes B ausgerichtet ist.If the converters U 6 and U 7 have determined an electrical signal f ( D A ) or f ( D B ) corresponding to the first diameter D A , as was explained in principle by the sketch according to FIG. 2 and in which Fig. 1 is shown in the circuit diagram, these signals are applied to a converter U 8, D B and of half the diameter D a is the difference of half the diameter, and this difference result as a first ovality of the object f indicative signal (O S) to forwards a converter U 9 . This ovality can be called oblique ovality, because whenever the chosen arrangement of recording devices A, B and C gives the positive formation, the major major axis of the ellipse is oriented in the direction of the optical axis of recording device A , while always if there is a negative sign, the main thing of the ellipse is oriented in the direction of the optical axis of the optical recording device B.
Die erste und die zweite Ovalität beschreiben vollständig und erschöpfend eine ideale Ellipse, wie sie durch das zu erfassende Objekt näherungsweise gegeben ist. Um die erstrebten Lagesignale für diese Ellipse in einem Radialnetz mit 45° Stufung zu erhalten, werden einem Umsetzer U 9 der mittlere Durchmesser D M , die erste Ovalität O S und die zweite Ovalität O W in Form der entsprechenden Signale f (D M ), f (O S ) und f (O W ) übermittelt. Dabei wird im Umsetzer U 9 ein Umsetzvorgang vorgenommen, wie dieser in der Darstellung gemäß Fig. 3 beschrieben ist.The first and the second ovality completely and exhaustively describe an ideal ellipse, as is approximately given by the object to be detected. In order to obtain the desired position signals for this ellipse in a radial network with a 45 ° gradation, a converter U 9 is given the mean diameter D M , the first ovality O S and the second ovality O W in the form of the corresponding signals f ( D M ), f ( O S ) and f ( O W ) transmitted. A conversion process is carried out in the converter U 9 , as is described in the illustration in FIG. 3.
In der Darstellung gemäß Fig. 3 ist ein Koordinatensystem gezeigt, bei dem eine Achse 0° nach 180° der optischen Achse des Aufnahmegerätes C entspricht und die Achsen 45° nach 225° und 135° nach 315° den optischen Achsen der Aufnahmegeräte A und B entsprechen. Demgemäß liegt ein radiales Koordinatensystem vor, das in 45°-Schritten gerastert ist. Ausgehend vom Zentrum dieses Koordinatensystems wird der mittlere Durchmesser D M als erstes Kriterium für die Abmessung des zu vermessenden Objektes angenommen. Dieses Objekt ist jedoch nicht kreisrund mit einem mittleren Durchmesser D M sondern es weist eine elliptische Form auf, die durch die erste und die zweite Ovalität gekennzeichnet ist. Dementsprechend sind die Schnittpunkte des radialen 45°-Netzes mit einer dem mittleren Durchmesser D M angepaßten Ortskurve folgendermaßen zu variieren.In the representation of FIG. 3 is shown a coordinate system in which an axis of 0 ° to 180 ° corresponds to the optical axis of the recording device C and the axles 45 ° to 225 ° and 135 ° to 315 ° to the optical axes of the receiving devices A and B correspond. Accordingly, there is a radial coordinate system that is rasterized in 45 ° steps. Starting from the center of this coordinate system, the mean diameter D M is assumed as the first criterion for the dimension of the object to be measured. However, this object is not circular with an average diameter D M, but rather has an elliptical shape which is characterized by the first and the second ovality. Accordingly, the intersections of the radial 45 ° network with a locus curve adapted to the mean diameter D M can be varied as follows.
Bei 0°:Abstand des Ellipsenpunktes I vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 + O W /2 Bei 45°:Abstand des Ellipsenpunktes II vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 + O S /2 Bei 90°:Abstand des Ellipsenpunktes III vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 - O W /2 Bei 135°:Abstand des Ellipsenpunktes IV vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 - O S /2 Bei 180°:Abstand des Ellipsenpunktes V vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 + O W /2 Bei 225°:Abstand des Ellipsenpunktes VI vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 + O S /2 Bei 270°:Abstand des Ellipsenpunktes VII vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 - O W /2 Bei 315°:Abstand des Ellipsenpunktes VIII vom Koordinatenursprung entspricht D M /2 - O S /2.At 0 °: Distance of the ellipse point I from the coordinate origin corresponds to D M / 2 + O W / 2 At 45 °: Distance from the ellipse point II from the coordinate origin corresponds to D M / 2 + O S / 2 At 90 °: Distance from the ellipse point III from the coordinate origin corresponds to D M / 2 - O W / 2 at 135 °: distance of the ellipse point IV from the coordinate origin corresponds to D M / 2 - O S / 2 at 180 °: distance from the ellipse point V to the coordinate origin corresponds to D M / 2 + O W / 2 At 225 °: Distance of the ellipse point VI from the coordinate origin corresponds to D M / 2 + O S / 2 At 270 °: Distance of the ellipse point VII from the coordinate origin corresponds to D M / 2 - O W / 2 At 315 °: Distance of the ellipse point VIII from the coordinate origin corresponds to D M / 2 - O S / 2.
Die Koordinatenpunkte sind damit durch Richtung und Entfernung vom Koordinatenursprung definiert, können aber auch durch eine einfache Koordinatentransformation in karthesische Koordinaten umgewandelt werden. Entsprechende Lagesignale werden als elektrische Signale f (I bis VIII) vom Umsetzer U 9 generiert und gelangen an eine nachgeschaltete Verarbeitungseinrichtung VE. The coordinate points are thus defined by the direction and distance from the coordinate origin, but can also be converted into Cartesian coordinates by a simple coordinate transformation. Corresponding position signals are generated as electrical signals f (I to VIII) by the converter U 9 and reach a downstream processing device VE .
Es wäre auch möglich, an Stelle von Schattenbildkameras Lichtvorhänge einzusetzen. Dadurch würden zwar die Meßwertungenauigkeit bezüglich der Durchmessser D A , D B und D C beseitigt, jedoch sind derartige Lichtvorhänge bei gleichem optischen Auflösungsvermögen technisch aufwendiger.It would also be possible to use light curtains instead of silhouette cameras. This would eliminate the measurement inaccuracy with regard to the diameters D A , D B and D C , but such light curtains are technically more complex with the same optical resolution.
Claims (3)
- - daß die vorzeichenbehaftete Differenz des halben ersten (D A ) und des halben zweiten Durchmessers (D B ) in Form eines eine erste Ovalität (O S ) des Objektes bezeichnenden Signals f (O S ) gebildet wird, wobei - bei einer angenommenen Ausrichtung des dritten Aufnahmegerätes (C) in einer Richtung von etwa 0° bzw. 180° - das erste (+) der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der große Achse der objektgemäßen Ellipse in Richtung auf etwa 45° bzw. 225° hinweist und das zweite (-) der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 135° bzw. 315° hinweist,
- - daß die vorzeichenbehaftete Differenz des mittleren Durchmessers (D M ) und des dritten Durchmessers (D C ) in Form eines eine zweite Ovalität (O W ) des Objektes bezeichnenden Signals gebildet wird, wobei das erste (+) der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 0° bzw. 180° hinweist und das zweite (-) der beiden möglichen Vorzeichen auf eine Ausrichtung der großen Achse der Ellipse in Richtung auf etwa 90° bzw. 270° hinweist,
- - daß in einem korrespondierenden 45° Radialnetz gegebene Orte auf einer durch den mittleren Durchmesser (D M ) vorgegebenen Ortskurve jeweils nach Vorzeichen der ersten (O S ) und der zweiten Ovalität (O W ) jeweils um den halben Betrag der jeweiligen Ovalität (O S bzw. O W ) in radialer Richtung variiert werden und
- - daß die durch die Variation sich ergebenden Ortskoordinaten als Lagesignale einer Verarbeitungseinrichtung (VE) zuführbar sind.
- - That the signed difference of half the first ( D A ) and half the second diameter ( D B ) is formed in the form of a signal f (O S ) designating a first ovality ( O S ) of the object, wherein - with an assumed orientation of the third recording device (C) in a direction of approximately 0 ° or 180 ° - the first (+) of the two possible signs indicates an alignment of the major axis of the object-specific ellipse in the direction of approximately 45 ° or 225 ° and the second ( -) of the two possible signs indicates an alignment of the major axis of the ellipse in the direction of approximately 135 ° or 315 °,
- - That the signed difference of the mean diameter ( D M ) and the third diameter ( D C ) is formed in the form of a signal denoting a second ovality ( O W ) of the object, the first (+) of the two possible signs being aligned indicates the major axis of the ellipse in the direction of approximately 0 ° or 180 ° and the second (-) of the two possible signs indicates an orientation of the major axis of the ellipse in the direction of approximately 90 ° or 270 °,
- - That given in a corresponding 45 ° radial network on a given by the average diameter ( D M ) locus according to the sign of the first ( O S ) and the second ovality ( O W ) each by half the amount of the respective ovality ( O S or O W ) can be varied in the radial direction and
- - That the location coordinates resulting from the variation can be fed as position signals to a processing device (VE) .
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863633275 DE3633275A1 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT |
| DE8787113564T DE3768760D1 (en) | 1986-09-30 | 1987-09-16 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT. |
| EP87113564A EP0266525B1 (en) | 1986-09-30 | 1987-09-16 | Process for producing position signals which represent points which confine the nearly elliptic area of the cross-section of an object |
| AT87113564T ATE61876T1 (en) | 1986-09-30 | 1987-09-16 | METHODS OF GENERATION OF POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS DEFINING THE APPROXIMATELY ELLIPTICAL CROSS-SECTIONAL AREA OF AN OBJECT. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863633275 DE3633275A1 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3633275A1 true DE3633275A1 (en) | 1987-10-08 |
Family
ID=6310728
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19863633275 Withdrawn DE3633275A1 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT |
| DE8787113564T Expired - Fee Related DE3768760D1 (en) | 1986-09-30 | 1987-09-16 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT. |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE8787113564T Expired - Fee Related DE3768760D1 (en) | 1986-09-30 | 1987-09-16 | METHOD FOR GENERATING POSITION SIGNALS REPRESENTING LOCATIONS THAT LIMIT THE ELLIPTIC CROSS-SECTIONAL SURFACE OF AN OBJECT. |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0266525B1 (en) |
| AT (1) | ATE61876T1 (en) |
| DE (2) | DE3633275A1 (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5383021A (en) * | 1993-04-19 | 1995-01-17 | Mectron Engineering Company | Optical part inspection system |
| EP0871008A2 (en) * | 1997-04-10 | 1998-10-14 | MICROTEC S.r.l. | Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour |
| DE19916978C1 (en) * | 1999-04-15 | 2001-04-26 | Bock Orthopaed Ind | Body area measurement method |
| US6285034B1 (en) | 1998-11-04 | 2001-09-04 | James L. Hanna | Inspection system for flanged bolts |
| DE102004022637B4 (en) * | 2003-07-11 | 2006-03-30 | Willibald Hawlitschek | Optical method and apparatus for measuring non-concave cross-sectional areas |
| DE102004015785B4 (en) * | 2004-03-25 | 2012-06-06 | Sikora Ag | Method for determining the dimension of a cross-section of a flat cable or a sector conductor |
| EP3399275A1 (en) * | 2017-05-04 | 2018-11-07 | MULTIVAC Sepp Haggenmüller SE & Co. KG | Determining the position and orientation of a conveyed promoted object |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3932376A1 (en) * | 1989-09-28 | 1991-04-11 | Henkel Kgaa | Hair face measuring arrangement for non-circular cross=sections - has rotatable holder for laser light source and light sensitive element arrangement |
| AT400083B (en) * | 1991-09-09 | 1995-09-25 | Microtec G M B H | Method and apparatus for determining cross-sectional values |
| US5481361A (en) * | 1993-05-19 | 1996-01-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of and device for measuring position coordinates |
| IT1270522B (en) * | 1993-05-26 | 1997-05-06 | Microtec Srl | DEVICE FOR THE MEASUREMENT OF THE CROSS SECTION OF A LONGITUDINALLY EXTENDED OBJECT AND EQUIPPED WITH LONGITUDINAL MOVEMENT OF TRANSLATION |
| DE19647613C2 (en) * | 1996-11-18 | 1998-11-12 | Laser Applikationan Gmbh | Method and device for measuring the thickness of non-circular, elongated workpieces which are advanced in the direction of their longitudinal axis and which have any desired and changing angular position |
| FR2835604B1 (en) * | 2002-02-06 | 2004-05-07 | Entpr Fabrice Fourrier | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE VOLUME OF A SOLID BODY, SUCH AS IN PARTICULAR A LOG |
| DE202007002260U1 (en) * | 2007-02-15 | 2008-06-26 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Optoelectronic device |
| DE102008015809A1 (en) | 2008-03-27 | 2009-10-08 | Willibald Hawlitschek | Non-concave cross-sectional area measuring method, involves identifying singular non-differentiable point of function using computational process, and separately calculating segments of area using process |
| DE102008033405A1 (en) | 2008-07-16 | 2010-01-28 | Willibald Hawlitschek | Method for measuring non-concave cross section surfaces of body, involves determining new position of cross section surface and rotation axis or detector of optical measuring device |
| GB2465024B (en) * | 2008-11-08 | 2011-01-12 | Adaptive Automation Ltd | Shadow sensing apparatus |
| PL223633B1 (en) | 2013-04-08 | 2016-10-31 | Int Tobacco Machinery Poland Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Method and a device for detecting the turned segments in a movable shaft in a multi-segment in the machine used in the tobacco industry |
| EP3557183A1 (en) * | 2018-04-17 | 2019-10-23 | Zumbach Electronic Ag | Method and system for measuring a product, in particular a rounded profile |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3806253A (en) * | 1972-12-13 | 1974-04-23 | Weyerhaeuser Co | Sweep measuring scheme |
| AT351282B (en) * | 1975-10-30 | 1979-07-10 | Kletzmaier Karl | DEVICE FOR DETERMINING OR MONITORING THE DIMENSIONS OF ANY MOVING OBJECT |
| DE3219389A1 (en) * | 1982-05-24 | 1983-11-24 | Richter Bruno Gmbh | OPTICAL-ELECTRICAL MEASURING METHOD FOR DETECTING UNROUND CROSS-SECTIONS, IN PARTICULAR STRAND-LIKE OBJECTS, AND DEVICE FOR IMPLEMENTING THE METHOD |
| DE3542896A1 (en) * | 1985-12-04 | 1987-06-11 | Siemens Ag | METHOD FOR GENERATING A SIGNAL REPRESENTING THE CROSS-SECTIONAL SURFACE OF ANY ELLIPTICAL OBJECT |
-
1986
- 1986-09-30 DE DE19863633275 patent/DE3633275A1/en not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-09-16 EP EP87113564A patent/EP0266525B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-16 DE DE8787113564T patent/DE3768760D1/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-09-16 AT AT87113564T patent/ATE61876T1/en active
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5383021A (en) * | 1993-04-19 | 1995-01-17 | Mectron Engineering Company | Optical part inspection system |
| US5568263A (en) * | 1993-04-19 | 1996-10-22 | Mectron Engineering Company | Non-contact inspection system |
| EP0871008A2 (en) * | 1997-04-10 | 1998-10-14 | MICROTEC S.r.l. | Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour |
| EP0871008A3 (en) * | 1997-04-10 | 1999-10-20 | MICROTEC S.r.l. | Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour |
| US6285034B1 (en) | 1998-11-04 | 2001-09-04 | James L. Hanna | Inspection system for flanged bolts |
| DE19916978C1 (en) * | 1999-04-15 | 2001-04-26 | Bock Orthopaed Ind | Body area measurement method |
| DE102004022637B4 (en) * | 2003-07-11 | 2006-03-30 | Willibald Hawlitschek | Optical method and apparatus for measuring non-concave cross-sectional areas |
| DE102004015785B4 (en) * | 2004-03-25 | 2012-06-06 | Sikora Ag | Method for determining the dimension of a cross-section of a flat cable or a sector conductor |
| EP3399275A1 (en) * | 2017-05-04 | 2018-11-07 | MULTIVAC Sepp Haggenmüller SE & Co. KG | Determining the position and orientation of a conveyed promoted object |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0266525B1 (en) | 1991-03-20 |
| ATE61876T1 (en) | 1991-04-15 |
| DE3768760D1 (en) | 1991-04-25 |
| EP0266525A1 (en) | 1988-05-11 |
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