DE3331610C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine dielektrische keramische
Zusammensetzung für den Hochfrequenzbereich.
Dielektrische keramische Zusammensetzungen werden in großem
Umfang für dielektrische Resonatoren, dielektrische MIC-
Substrate usw. im Hochfrequenzbereich, einschließlich des
Mikrowellen- und/oder Millimeterwellen-Bereichs verwendet.
Als dielektrisches keramisches Material sind für diesen Zweck
eine Vielzahl von Materialien bekannt, beispielsweise jene,
die dem ZrO₂-SnO₂-TiO₂-Typ, Ba₂Ti₉O₂₀(Ba, Sr) (Zr, Ti)O₃-Typ
oder BaO · ZnO · Ta₂O₅-Typ (vgl. "J. Am. Chem. Soc." 81 [1959], 820-823 und
US-PS 34 64 785) angehören.
Obgleich diese Materialien im Mikrowellenenergiebereich bei
einer Frequenz von etwa 10 GHz hervorragende Eigenschaften
besitzen, eine Dielektrizitätskonstante (e r) von 20 bis 40,
ein Q von 2000 bis 6000 und einen Temperaturkoeffizienten der
der Resonanzfrequenz (τ f ) von etwa 0 ppm/°C aufweisen, ist es
aufgrund der Verwendung höherer Frequenzen in jüngerer Zeit
erwünscht, ein keramisches Material zur Verfügung zu haben,
das einen höheren Q-Wert besitzt.
Beispielsweise sind Materialien, die dem Ba(Zn, Ta)O₃-Typ angehören,
in der veröffentlichten japanischen Patentanmeldung
78-35 454 im einzelnen beschrieben. Nach dieser Druckschrift
weist eine dielektrische keramische Scheibe mit einem
Durchmesser von 5 mm und einer Dicke von 2 mm, die durch
Sintern der Scheibe bei 1360 bis 1460°C an der Luft erhalten
worden ist, eine dielektrische Konstante (ε r), die anhand
der Resonanzfrequenz (etwa 11 GHz) und der Abmessungen bestimmt
wurde, einen entladenen Q, der anhand der Bandreflektionsmethode
gemessen wurde, sowie einen Temperaturkoeffizienten
(τ f ) der Resonanzfrequenz, der im Bereich zwischen
-30°C und +70°C gemessen wurde, von 25 bis 30 bzw. 3520 bis
3730 bzw. 5 bis 20 auf.
Die Kristallstruktur von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ wird in F. Gallasso
und J. Pyle "Ordering in compounds of the a(B′0,33Ta0,67)O₃-Typ",
Inorganic Chemistry, Band 2, Nr. 3, Seiten 482 bis 484 (1963)
beschrieben. Das Material ist eine Verbindung mit einer
Elementarzelle mit Perowskit-Struktur von ABO₃. Zn und Ta sind
jeweils an der B-Ionenposition in regelmäßiger Anordnung so angeordnet,
daß eine hexagonale Kristallgitterüberstruktur gebildet wird.
In Fig. 1 ist die Kristallgitterüberstruktur des Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃
dargestellt, die derjenigen von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ ähnlich ist,
die in der vorstehend erwähnten Veröffentlichung beschrieben
ist. In Fig. 1 sind Zn(1) und Ta(2) an den B-Ionenstellen angeordnet,
wobei ein Verhältnis von 1 : 2 vorliegt. Weiterhin
stellen in dieser Figur die Bezugsziffern 3 und 4 Ba bzw. O
dar.
Auf der anderen Seite kann nach "Microwave Dielectric Materials
and their Applications", dem Jahresbericht der Studiengruppe
für die praktische Anwendung von BaTiO₃-Material, Band 30,
xxx-164-1036, 11. September 1981, die geordnete Struktur von
Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ stark von den Sinterbedingungen abhängen.
Nach diesem Bericht kann eine geordnete Anordnung von Zn und
Ta nicht erreicht werden, wenn bei 1350°C 2 h lang gesintert
wird, so daß eine Verbesserung des Q-Werts nicht erreicht werden
kann. Wenn bei der gleichen Temperatur 120 h gesintert
wird, wird eine geordnete Anordnung mit einem Q-Wert von
14 000 erreicht. Wenn weiterhin das Material bei 1650°C 2 h
lang gesintert wird, beträgt sein Q-Wert 10 000 bis 11 000.
Dies stimmt mit den Daten der Fig. 2 überein, die die Abhängigkeit
eines Röntgenstrahlenbeugungsbildes der Kristallgitterüberstruktur
von der Sinterzeit wiedergibt.
Im ersten Fall, also wenn die Sintertemperatur 1350°C beträgt,
ist es notwendig, die Temperatur einen sehr langen Zeitraum
von 120 h aufrecht zu erhalten, um eine geordnete Anordnung
von Zn und Ta zu erhalten, was ein beträchtliches Hindernis
für die Produktivität darstellt und zu einer Erhöhung der Herstellungskosten
führt. Aus diesem Grunde ist diese Möglichkeit
im industriellen Maßstab nicht anwendbar.
In dem Fall, in dem das Material bei einer höheren Temperatur
gesintert wird, ist es möglich, eine geordnete Anordnung von
Zn und Ta in einer relativ kurzen Zeit zu erhalten. Da jedoch
bei derart hohen Temperaturen eine Verdampfung von Zn auftritt,
ist es nicht möglich, ein dichtes keramisches Material zu erhalten.
Das heißt, die Dichte wird herabgesetzt, beispielsweise
von 7,7 g/cm³ auf 6,5 g/cm³. Das gebildete keramische
Material weist deshalb in feuchter Umgebung keine ausreichende
Zuverlässigkeit auf. Weiterhin muß der Sinterofen in besonderer
Weise aufgebaut sein, um derart hohen Temperaturen standzuhalten,
wobei eine große Energiemenge zur Aufrechterhaltung der hohen
Temperatur gebraucht wird.
Die Erfinder haben aufgrund von Forschungsarbeiten eine dielektrische
keramische Zusammensetzung für den Hochfrequenzbereich
gefunden, welche Zusammensetzung aus BaCO₃, ZrO₂, ZnO und Ta₂O₅
besteht und durch die Formeln Ba(Tr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2 wiedergegeben
wird, worin 0,02 ≦ x ≦ 0,13, 0,28 ≦ y ≦ 0,33 und
0,59 ≦ z ≦ 0,65 sowie x + y + z = 1 ist.
Bei dieser keramischen Zusammensetzung werden die Ausgangsmaterialien
gemischt, und das gebildete Gemisch wird calciniert.
Danach wird das calcinierte geformt und die
Formlinge werden etwa 4 h gesintert, um keramische Proben zu
erhalten.
Die Dielektrizitätskonstante (ε), Q bei einer Frequenz von
11 GHz und der Temperaturkoeffizient (τ f ) der Resonanzfrequenz
jeder Probe wurde gemessen, wobei die Ergebnisse in Tabelle 1
wiedergegeben sind.
Der Temperaturkoeffizient (τ f ) der Resonanzfrequenz wurde in
einem Temperaturbereich zwischen +25°C und +85°C gemessen.
Die Beziehung zwischen dem Temperaturkoeffizienten (τ f ) der
Resonanzfrequenz und der Temperaturabweichung der Dielektrizitätskonstante
können durch folgende Formel wiedergegeben
werden:
τ f = -1/2 τε - a
τε:Temperaturabweichung der Dielektrizitätskonstanteα:Linearer Ausdehnungskoeffizient der keramischen Probe
Auf der anderen Seite wurde eine Probe, die die herkömmliche
Zusammensetzung Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ aufweist, in ähnlicher Weise
hergestellt, und es wurden davon die entsprechenden elektrischen
Werte gemessen. Die Ergebnisse sind in der Tabelle 2
wiedergegeben. Bei dieser Zusammensetzung war jedoch die
Reproduzierbarkeit der dichten keramischen Materialien gering,
wobei ein beträchtlicher Anteil dieser keramischen Materialien
nicht ausreichend gesintert war.
Das herkömmliche keramische Material mit einer Zusammensetzung
Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃, das die in der Tabelle 2 angegebenen Werte
besitzt, stellt im Hinblick auf den Q-Wert eines der besten
keramischen Materialien des Ba(ZnTa)O₃-Typs dar. Ein Vergleich
dieses keramischen Materials mit der Zusammensetzung
Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ mit den höchsten Q-Werten der Zusammensetzungen
der Tabelle 1 (10 300) zeigt, daß die erfindungsgemäßen Zusammensetzungen
Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/x-3y/2 um 50% bessere
Q-Werte aufweisen.
Fig. 3 zeigt die Bereiche von ZrO₂, ZnO und TaO5/2 der einzelnen
Zusammensetzungen der keramischen Zusammensetzungen, deren Probennummern
denen der Tabelle 1 entsprechen.
Fig. 4 zeigt die dielektrischen Eigenschaften einer festen
Lösung von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ und BaZrO₃, die hergestellt worden
ist, um die Wirkung von ZrO₂ in dem keramischen Material zu
verdeutlichen. Wie Fig. 4 zu entnehmen, erhöht sich der Q-Wert
deutlich, wenn der Mol-%-Gehalt von BaZrO₃ innerhalb des Bereichs
von 0,02 bis 0,13 liegt.
Fig. 5(a) und 5(b) geben das Röntgenstrahlungsbeugungsbild
von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ bzw. Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃ wieder.
In Fig. 5(a) stellt das Maximum 1 bis 17,7° die Beugungslinie
der (100)-Ebene der hexagonalen Kristallgitterüberstruktur.
dar und zeigt die Bildung einer Kristallgitterüberstruktur. Andererseits
zeigt das Beugungsbild von Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O3
in Fig. 5(b) ein Verschwinden der Beugungslinie aufgrund der in
Fig. 5(a) gezeigten hexagonalen Überstruktur, wobei lediglich
die Perowskit-Struktur gebildet ist.
In Fig. 5(a) beziehen sich die Nummern 1 und 3 auf eine (100)-
Ebene und eine (002)-Ebene eines hexagonalen Kristalls, die
jeweils die Bildung einer Kristallgitterüberstruktur zeigen,
während 2 und 4 einer (100)-Ebene und einer (110)-Ebene jeweils
einer kubischen Elementarzelle entsprechen.
In Fig. 5(b) stellen die Bezugsziffern 1 und 2 eine (100)-Ebene
bzw. eine (110)-Ebene einer kubischen Elementarzelle dar.
Die Fig. 6(a) und 6(b) stellen Zeichnungen von SEM-Figuren
dar, die das mikrostrukturelle Kornwachstum von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃
und Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃ jeweils nach 4stündigem Sintern
bei 1500°C wiedergeben. Aus den Fig. 6(a) und 6(b) ist klar
ersichtlich, daß die Geschwindigkeit des Kristallwachstums
erheblich durch den Zusatz von BaZrO₃ gesteigert wird.
Fig. 7(a) und 7(b) stellen K α ₁- und K α ₂-Beugungslinien
der kubischen (321)-Ebenen von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ bzw.
Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃ dar.
Ein Vergleich von Fig. 7(a) mit Fig. 7(b) zeigt klar, daß
K α ₁ und K α ₂ bei der Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃-
Zusammensetzung deutlich voneinander getrennt sind, wobei das Zr sich
verkürzend auf die Sinterzeit auswirkt, selbst wenn gleiche Sinterbedingungen
vorliegen.
In Fig. 7(a) stellen die Bezugsziffern 1 und 2 die K a ₁-Linie
bzw. K α ₂-Linie einer (321)-Ebene eines kubischen Kristalls dar,
und in Fig. 7(b) die Bezugsziffern 1 und 2 die K a ₁′-Linie bzw.
K α ₂-Linie der (320)-Ebene eines kubischen Kristalls.
Die Kristallstruktur der Zusammensetzung Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2
stellt damit ein einfaches kubisches Kristallgitter von Perowskit-
Typ dar, wobei es von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ durch die Kristallgitterüberstruktur
unterschieden werden kann.
Da weiterhin die Zusammensetzung Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2
einen höheren Q-Wert aufweist, wenn das Material bei 1450°C 4 h
gesintert wird, ist es nicht erforderlich, sehr lange, beispielsweise
120 h zu sintern, wie es bei Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ der
Fall ist, wenn ein hoher Q-Wert erreicht werden soll. Der Temperaturkoeffizient
(τ f ) der Resonanzfrequenz der Zusammensetzung
Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2 beträgt jedoch -1 bis +16 ppm/°C,
wobei die Kontrolle bei etwa 0 ppm/°C insbesondere auf der positiven
Seite beträchtlich ist, jedoch auf der negativen Seite
manchmal schwierig sein kann.
Die Erfinder haben Forschungsarbeiten durchgeführt, um diese
Probleme zu lösen, wobei sich herausstellte, daß eine Verbesserung
der Sinterbedingungen und eine Erhöhung des Kristallisationsgrades
erreicht werden kann, wenn eine neue keramische Zusammensetzung
verwendet wird, die eine komplexe Perowskit-
Struktur besitzt.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine dielektrische
keramische Zusammensetzung für den Hochfrequenzbereich anzugeben,
mit der eine hohe Dielektrizität und ein hoher Q-Wert
im Hochfrequenzbereich erhalten werden kann und dessen Temperatur-
Koeffizient der Resonanzfrequenz mit einem Mittelwert von 0 ppm/°C
gewählt werden kann, ohne daß eine hohe Sintertemperatur und/oder
lange Sinterzeit angewendet wird.
Die erfindungsgemäße Aufgabe wird mit einer keramischen
Zusammensetzung aus BaO, ZnO und Ta₂O₅ durch den kennzeichnenden
Teil des Patentanspruches 1 gelöst.
Vorzugsweise enthält die keramische Zusammensetzung weiterhin
0,8 bis 10 Mol-% wenigstens eines Lanthanidenoxids mit der
Formel Me₂O₃.
In Fig. 1 ist die Kristallstruktur von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃
wiedergegeben.
Fig. 2 zeigt die Strukturänderungen in Abhängigkeit von der
Sintertemperatur von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃.
Fig. 3 gibt die ternären Zusammensetzungsbereiche von ZrO₂,
ZnO und TaO5/2 einer erfindungsgemäßen Zusammensetzung wieder.
Fig. 4 gibt die elektrischen Eigenschaften einer festen Lösung
einer Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃-BaZrO₃-Gruppe wieder.
Fig. 5(a) und 5(b) stellen Röntgenbeugungsbilder von
Ba(Zr1/3Ta2/3)O₃ bzw. Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃ dar.
Fig. 6(a) und 6(b) stellen Zeichnungen dar, die das Kristallwachstum
von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃ und Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃
wiedergeben.
Fig. 7(a) und 7(b) stellen Beugungslinien von K α ₁ und K α ₂
der (321)-Ebene der kubischen Kristalle von Ba(Zn1/3Ta2/3)O₃
und Ba(Zr0,04Zn0,32Ta0,64)O₃ dar.
Die Bereiche von x, y und z in der Formel Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3-y/2
bestimmen die Eigenschaften des keramischen Materials. Der
Q-Wert wird niedrig, wenn x kleiner als 0,02 ist, während der
Temperatur-Koeffizient der Resonanzfrequenz auf der positiven
Seite groß wird, wenn x 0,13 übersteigt. Das Sintern des
keramischen Materials wird schwierig, wenn y kleiner als
0,28 oder größer als 0,33 ist. Das Sintern wird schwierig,
wenn z kleiner als 0,59 oder größer als 0,65 ist.
Falls Zn in Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2 durch Ni
und/oder Co substituiert wird, wird der Temperaturkoeffizient der Resonanzfrequenz
auf der negativen Seite zu groß, wenn das Ausmaß der
Substitution 70 Atom-% übersteigt. Der Anteil sollte daher
höchstens 70 Atom-% betragen.
Was die Menge des Lanthandioxids betrifft, das der keramischen
Zusammensetzung zugegeben wird, so hat die Zugabe keine Auswirkung
auf eine Verbesserung des Q-Werts, wenn die Menge
weniger als 0,1 Mol-% beträgt, wobei sowohl die Dielektrizität
wie der Q-Wert herabgesetzt werden, wenn er größer als 10,0
Mol-% ist.
Die Erfindung wird anhand der nachstehenden Beispiele im
einzelnen Beschrieben.
BaCO₃, ZrO₂, ZnO, Ta₂O₅, NiO und Co₂O₃ hoher Reinheit (99,8
bis 99,9%) werden hergestellt. Von ihnen werden solche Mengen
abgewogen, daß das keramische Material eine Zusammensetzung
aufweist, wie sie in Tabelle 3 angegeben ist. Die abgewogenen
Mengen werden zusammen mit einem Achatstein und reinem Wasser
in eine Kugelmühle gegeben, deren Innenwand mit einer Gummischicht
bedeckt ist, wobei sie 2 h naß vermischt werden. Das
gebildete Gemisch wird dehydratisiert, getrocknet und dann
nominell bei 1200°C 2 h lang calciniert. Danach wird das calcinierte
Gemisch zusammen mit dem Achatstein, reinem Wasser und
einem organischen Bindemittel in eine Kugelmühle gegeben und
2 h naß zerkleinert. Das zerkleinerte Gemisch wird getrocknet
und durch einen Filter mit einer lichten Maschenweite von 0,297 mm gegeben,
um seine Teilchengröße
einzustellen. Das erhaltene Pulver wurde zu kreisförmigen
Scheiben geformt, die jeweils einen Durchmesser von 12 mm
und eine Dicke von 6 mm besitzen, und zwar unter einem Druck
von 196,13 N/mm². Die Scheiben wurden dann 4 h bei 1450°C gesintert,
um die keramischen Proben zu bilden.
Die Dielektrizitätskonstante (ε), Q bei einer Frequenz von
11 GHz und der Temperaturkoeffizient (τ f ) der Resonanzfrequenz
jeder keramischen Probe wurde mit der dielektrischen
Resonatormethode gemessen, wobei die Ergebnisse in Tabelle 3
dargestellt sind. In der Tabelle 3 sind die Vergleichsproben
mit einem Sternchen (*) versehen.
Der Temperaturkoeffizient (τ f ) der Resonanzfrequenz wird nach
folgenden Gleichungen bestimmt, wobei f₂₅ und f₈₅ die Resonanzfrequenz
bei 25°C bzw. 85°C darstellen:
Die Beziehung zwischen τ f , der Temperaturänderung τε der
Dielektrizität (ε) und der lineare Ausdehnungskoeffizient
des Materials (α) kann durch τ f =- 1/2 τε - α wiedergegeben
werden. Deshalb kann τε bestimmt werden, wenn beispielsweise
α gemessen wird.
In der Tabelle 3 stellen die Proben Nr. 1, 10, 18, 26, 34, 41
und 48 jeweils Zusammensetzungen dar, bei denen Zn nicht zum
Teil durch Ni und/oder Co ersetzt ist.
Die Proben Nr. 5, 9, 14, 22 und 33 stellen Zusammensetzungen
dar, bei denen ein Teil des Zn durch Ni und/oder Co substituiert
ist, wobei die Substitution mehr als 70 Atom-% beträgt.
Bei diesen Proben besteht die Neigung, daß der Temperaturkoeffizient
der Resonanzfrequenz auf der negativen Seite groß
wird.
Die x-, y- und z-Werte von (Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2
jeder der
Proben Nr. 56 bis 64 liegen außerhalb der ordnungsgemäßen Bereiche,
weshalb sie schwierig zu sintern sind. Von den Proben
56 bis 61 sind in der Tabelle keine Daten angegeben, da es
unmöglich war, von ihnen gutgesinterte keramische Proben zu
erhalten, so daß ihre Eigenschaften nicht gemessen werden
konnten.
Wie vorstehend beschrieben, ist bei der Zusammensetzung
Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2, bei der Zn durch Ni und/oder Co
ersetzt ist, sowohl die Dielektrizität wie Q des gebildeten
keramischen Materials groß, wobei der Temperaturkoeffizient
der Resonanzfrequenz selektiv entweder auf der positiven
oder der negativen Seite von 0 ppm/°C erhalten werden kann.
Insbesondere bei der Substitution eines Teils von Zn durch
Ni und/oder Co wird es möglich, den Temperaturkoeffizient
der Resonanzfrequenz auf der negativen Seite zu kontrollieren.
BaCO₃, ZrO₂, ZnO, Ta₂O₅ · NiO, Co₂O₃, La₂O₃, CeO₂, Sm₂O₃,
Dy₂O₃, Ho₂O₃ und Pr₂O₃ hoher Reinheit (99,8 bis 99,9%)
wurden hergestellt. Sie wurden so abgewogen, daß ein keramisches
Material mit einer Zusammensetzung nach der Tabelle 4
erhalten wurde, wobei die abgewogenen Mengen davon in der
gleichen Weise wie im Beispiel1 behandelt wurden, wodurch
keramische Proben entstanden. Die Dielektrizitätskonstante
(ε), Q bei einer Frequenz von 11 GHz und der Temperaturkoeffizient
(τ f ) der Resonanzfrequenz wurden wie im Beispiel
1 gemessen, wobei die Ergebnisse in der Tabelle 4
wiedergegeben sind, in der Sternchen (*) Vergleichsbeispiele
kennzeichnen.
In der Tabelle 4 weisen die Proben 1, 49, 52 und 55 eine Zusammensetzung
auf, bei der Zn nicht teilweise durch Ni und/oder
Co substituiert ist.
Die Probe 8 besitzt eine Zusammensetzung, bei der ein Teil
des Zn durch Ni und/oder Co substituiert ist, wobei das Ausmaß
der Substitution mehr als 70 Atom-% beträgt. Diese Probe
neigt dazu, daß die Resonanzfrequenz (τ f ) auf der negativen
Seite groß wird.
Jede der Proben 1, 2, 3, 10, 16, 17, 23, 29, 30, 36, 42, 43,
49, 52 und 55 enthält kein Lanthanidenoxid (Me₂O₃).
Jede der Proben 9, 15, 22, 28, 35, 41 und 48 enthält 10 Mol-%
oder mehr Me₂O₃ und weist eine niedrige Dielektrizitätskonstante
sowie ein niedriges Q auf.
Jede der Proben 39 bis 57 besitzt eine Zusammensetzung
Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2, wobei x, y, und z außerhalb der
erfindungsgemäßen Bereiche liegen. Es war unmöglich, diese
Proben zu sintern, oder ihre Eigenschaften waren von geringer
Qualität.
Für die Beispiele 49, 50, 52 und 53 sind keine Daten angegeben.
Bei diesen Beispielen war es unmöglich, gut gesintertes
keramisches Material zu erhalten, d. h. es war unmöglich
ihre Eigenschaften zu messen.
Bei dieser Ausführungsform umfaßt Me₂O₃, d. h. ein Lanthanidoxid,
La₂O₃, CeO₂, Sm₂O₃, Dy₂O₃, Ho₂O₃ und Pr₂O₃. Es wurde
jedoch festgestellt, daß, wenn Me₂O₃ ein anderes Lanthanidenoxid
als eines der vorstehend erwähnten Oxide ist, die gleichen
Ergebnisse erhalten werden können, wie sie vorstehend
beschrieben sind.
Wie im einzelnen beschrieben, wird bei der Zusammensetzung,
die durch Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2, in der Zn durch Ni
und/oder Co substituiert ist, und die weiterhin ein Lanthanidenoxid
enthält, eine dielektrische keramische Zusammensetzung
für den Hochfrequenzbereich erhalten, die eine hohe dielektrische
Konstante besitzt und einen hohen Q-Wert aufgrund der Zugabe
von Lanthanidenoxid aufweist. Wenn die für die Substitution
verwendete Menge von Ni und/oder Co in geeigneter Weise
ausgewählt wird, kann der Temperaturkoeffizient bei Resonanzfrequenz
selektiv entweder auf der positiven oder der negativen
Seite von 0 ppm/°C gewählt werden.
Die erfindungsgemäße dielektrische Zusammensetzung
kann daher in wirksamer Weise bei einem dielektrischen
Resonator, einem dielektrischen Regulierstab sowie einem dielektrischen
Substrat für MIC usw. verwendet werden.
Weiterhin ist festgestellt worden, daß die Zusammensetzung,
die durch (Ba1-x Sr x ) (Zr x Zn y Ta₂)O7/2-x/2-3x/2 oder
Ba(Sn x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2 wiedergegeben wird, eine Wirkung
entfaltet, die der der erfindungsgemäßen Zusammensetzung
analog ist.
Claims (2)
1. Dielektrische keramische Zusammensetzung aus BaO,
ZnO und Ta₂O₅, dadurch gekennzeichnet, daß sie zusätzlich
ZrO₂ enthält und die Formel
Ba(Zr x Zn y Ta z )O7/2-x/2-3y/2besitzt, worin 0,02 ≦ x ≦ 0,13, 0,28 ≦ y ≦ 0,33 und
0,59 ≦ z ≦ 0,65 sowie x + y + z = 1 und daß höchstens
70 Atom-% Zn durch Ni und/oder Co substituiert sind.
2. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sie außerdem 0,1 bis 10,0 Mol-% wenigstens
eines Lanthanidenoxids mit der Formel Me₂O₃ enthält.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57155655A JPS5945962A (ja) | 1982-09-06 | 1982-09-06 | 高周波用誘電体磁器組成物 |
JP58020367A JPS59146978A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | 高周波用誘電体磁器組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3331610A1 DE3331610A1 (de) | 1984-03-08 |
DE3331610C2 true DE3331610C2 (de) | 1987-11-05 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3331610A Granted DE3331610A1 (de) | 1982-09-06 | 1983-09-01 | Dielektrische keramische zusammensetzung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4485180A (de) |
DE (1) | DE3331610A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3633876A1 (de) * | 1985-10-09 | 1987-04-09 | Murata Manufacturing Co | Dielektrische keramische zusammensetzung fuer hohe frequenzen |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3382208D1 (de) * | 1982-12-15 | 1991-04-18 | Nec Corp | Monolithisches vielschichtkeramiksubstrat mit mindestens einer dielektrischen schicht aus einem material mit perovskit-struktur. |
US4600967A (en) * | 1984-08-20 | 1986-07-15 | At&T Technologies, Inc. | Ceramic compositions and devices |
JPH0669904B2 (ja) * | 1985-07-29 | 1994-09-07 | ソニー株式会社 | 誘電体磁器 |
GB2184432B (en) * | 1985-10-18 | 1989-10-18 | Sumitomo Metal Mining Co | Dielectric ceramic |
JPH068209B2 (ja) * | 1988-05-11 | 1994-02-02 | 株式会社村田製作所 | 高周波用誘電体磁器組成物 |
JPH0721970B2 (ja) * | 1988-12-22 | 1995-03-08 | 住友金属鉱山株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
US6072207A (en) * | 1991-02-25 | 2000-06-06 | Symetrix Corporation | Process for fabricating layered superlattice materials and making electronic devices including same |
FR2674243B1 (fr) * | 1991-03-18 | 1994-02-25 | Tekelec Airtonic | Composition ceramique pour resonateur dielectrique et procede de fabrication de cette composition. |
US6133050A (en) * | 1992-10-23 | 2000-10-17 | Symetrix Corporation | UV radiation process for making electronic devices having low-leakage-current and low-polarization fatigue |
US6117806A (en) * | 1996-10-25 | 2000-09-12 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Dielectric material, a method for producing the same and a dielectric resonator device comprising same |
JP3640342B2 (ja) * | 2000-05-22 | 2005-04-20 | Tdk株式会社 | 誘電体組成物の設計方法 |
JP4596004B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-12-08 | 株式会社村田製作所 | 高周波用誘電体磁器組成物、誘電体共振器、誘電体フィルタ、誘電体デュプレクサ、及び通信機装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3464785A (en) * | 1965-12-14 | 1969-09-02 | United Aircraft Corp | Process for producing ordered complex perovskite-type crystals with high dielectric constants |
JPS5948484B2 (ja) * | 1976-09-14 | 1984-11-27 | 松下電器産業株式会社 | 誘電体共振器 |
US4121941A (en) * | 1977-11-10 | 1978-10-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Low microwave loss ceramics and method of manufacturing the same |
JPS5951088B2 (ja) * | 1978-11-16 | 1984-12-12 | 松下電器産業株式会社 | 誘電体磁器材料 |
JPH05335454A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-12-17 | Fuji Electric Co Ltd | 電子機器の冷却装置 |
-
1983
- 1983-08-30 US US06/527,762 patent/US4485180A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-09-01 DE DE3331610A patent/DE3331610A1/de active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3633876A1 (de) * | 1985-10-09 | 1987-04-09 | Murata Manufacturing Co | Dielektrische keramische zusammensetzung fuer hohe frequenzen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4485180A (en) | 1984-11-27 |
DE3331610A1 (de) | 1984-03-08 |
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