Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

DE2346248C3 - Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können - Google Patents

Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können

Info

Publication number
DE2346248C3
DE2346248C3 DE2346248A DE2346248A DE2346248C3 DE 2346248 C3 DE2346248 C3 DE 2346248C3 DE 2346248 A DE2346248 A DE 2346248A DE 2346248 A DE2346248 A DE 2346248A DE 2346248 C3 DE2346248 C3 DE 2346248C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
capacitor
noise
current
measured
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2346248A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2346248B2 (de
DE2346248A1 (de
Inventor
Gottlob 8400 Regensburg Heinrich
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE2346248A priority Critical patent/DE2346248C3/de
Publication of DE2346248A1 publication Critical patent/DE2346248A1/de
Publication of DE2346248B2 publication Critical patent/DE2346248B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2346248C3 publication Critical patent/DE2346248C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/18Subjecting similar articles in turn to test, e.g. go/no-go tests in mass production
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/64Testing of capacitors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung von Kondensatoren mit kleinen Rissen oder Engstellen mit Stromkontraktionen in den Belägen, die mit den üblichen elektrischen Messungen zunächst nicht zu registrieren sind, die aber nach langer Zeit zu Ausfällen führen können.
Derartige Kondensatoren konnten bisher nur an Hand von Dauerversuchen erkannt werden. Die üblicherweise durchgeführten Prüfungen an Kondensatoren wie Stoßentladen, Spannungsprüfung, Kapazitäts-, Verlustfaktor- und Isolationsmessungen erfassen derartige Kondensatoren nicht mit Sicherheit, da sie zur Registrierung von kleinsten Fehlern zu unempfindlich sind. Wie Untersuchungen gezeigt haben, können Ausfälle nach langer Zeit z. B. dadurch auftreten, daß bei der Fertigung des Kondensators durch geringste Risse und sonstige Fehlstellen in den Metallisierungen, welche bei Störungen während eines der Wickel- bzw. Aufspulvorgänge bei der Kondensatorherstellung oder während des Schoopens entstehen können, ausgelöst werden. Zum Zeitpunkt der Prüfung können diese Risse noch elektrisch leitend überbrückt oder in den Ausmaßen klein sein, so daß sie mit den obengenannten Prüfungsmethoden nicht erfaßt werden- Während des Betriebes bilden sich dann U1 U. im Bereich dieser Risse Oxydschichten, die zur Isolation von Belagsteilen gegeneinander und damit zum Ausfall von Belagsteilen bzw. zu unzulässig höhen Stromdichten im verbleibenden Belagsteii und damit zum Wachsen der Fehlstelle
T.
Hierin bedeuten Ci, α, β Konstante, Af = Bandbreite, T= absolute Temperatur in "K, F — Frequenz, bei der die Störspannung gemessen wird, / = Strom in der Störstelle, der wiederum abhängig von T sein kann. Diese Gleichung ist gültig für diese Art Rauschen bis etwa 107Hz, wobei das Rauschen jedoch ab 104 bis 106Hz vom allgemeinen thermische ι Rauschen überdeckt wird. Für die Werte der Exponenten α und β ergab sich je nach Schichtmaterial
und
0,7 < α < 1,5 0,3 < β < 1.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung des Verfahrens, bei der die an den Kondensatoren angelegte Spannung von der zu messenden Rauschspannung bereits frequenzmäßig sauber getrennt werden kann, andererseits aber der Aufwand hierfür noch nicht groß ist, ist gegeben, wenn an den Kondensator eine 50-Hz-WechseIspannung angelegt und das Stromrauschen im Bereich von 1 kHz bis ca. 100 kHz gemessen wird. Wegen der o.a.
Gleichung sollte die Meßfrequenz möglichst niedrig liegen, da dann der Abstand Stromrauschspannung-Spannung des thermischen Rauschens groß ist. Eine saubere Trennung von der 50-Hz-Wechselspannung und eine noch gute Unterscheidung von der thermisehen Rauschspannung ist gegeben, wenn an den Kondensator eine 50-HzWechselspannung angelegt und das Stromrauschen mit einer Frequenz Von 5 bis 10 kHz mit einer Bandbreite Von etwa 1000Hz gemessen wird.
Eine einfache Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens gemäß der Erfindung ist dadurch gegeben, daß der zu messende Kondensator in Serie mit einem Meßwiderstand an eine 50-Hz-SpannungsquelIe
angeschlossen wird, daß parallel zu der Serienschaltung aus dem zu messenden Kondensator und dem Meßwiderstand auf der Seite des Spannungseinganges ein Kondensator mit einer relativ zu der des zu messenden Kondensators großen Kapazität liegt und daß am Meßwiderstand die Rauschspannung abgegriffen und auf einen Verstärker gegeben und über einen Hochpaß einem Meßgerät zugeführt wird. Hierbei soll der Wechselstromwiderstand des parallelgeschalteten Kondensators gegenüber dem des Meßwiderstandes klein sein. Diese Anordnung ergibt eine ausreichende Trennung des zu messenden Stromrauschens einerseits von der am Kondensator anliegenden Wechselspannung von 50 Hz und andererseits vom thermischen Rauschen, da das Stromrauschen erst bei viel höheren Frequenzen, nämlich über IO4 Hz, in die Größenordnung des thermischen Rauschens kommt (s. obengenannte Gleichung).
Die Erfindung wird nun an Hand einer in der Zeichnung dargestellten Schaltung näher erläutert. Eine 50-Hz-Wechselspannung 8 wird überdnen Tiefpaß mit einer Grenzfrequenz von 100 Hz einer Reihenschaltung aus dem zu messenden Kondensator Cx und einem Meßwiderstand R\ zugeführt, zu welcher ein Kondensator Ci parallel liegt. Am Meßwiderstand R\ wird die Rauschspannung abgegriffen und über einen Hochpaß 2 mit einer Grenzfrequenz von I kHz über einen Verstärker 3 mit einem Verstärkungsfaktor 100 und einen weiteren Hochpaß 4 mit der Grenzfrequenz 1 kHz einem Meßgerät 5 zugeführt.
In dieser Schaltung läßt sich die Empfindlichkeit der Messung durch die Höhe der am Kondensator C\ anliegenden Wechselspannung einstellen. Der Tiefpaß 1 weist eine Grenzfrequenz von 100 Hz auf. Für R\ wurden 600 0hm gewählt, für Q 1,1 μΡ, so daß die 50-Hz-Spannung praktisch nur an Q und C\ abiällt, während die Rauschspannungen praktisch nur am Widerstand R\ abfallen, da \/a>G klein ist gegen 600 Ohm. Der Hochpaß 4 weist im genannten Beispiel eine Grenzfrequenz von 1 kHz und einen Scheinwiderstand von 600 Ohm auf, der Verstärker 3 ist ein rauscharmer breitbandiger ßC-Verstärker, Bandbreite IkHz- 500 kHz, Eingangswiderstand und Ausgangswiderstand je 600 Ohm. Der Hochpaß 5 weist eine Grenzfreqaanz ca. 1 kHz, einen Scheinwiderstand von 600 Ohm mit einem Pol bei 50 Hz, d.~/. eine Abschwächung dieser Frequenz um 80 db, auf. Ak Meßgerät für die Rauschspannung dient ein Frequenzanalysator 6, an dem zur Registrierung ein X- V-Schreiber 7 angeschlossen ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Ermittlung von Kondensatoren mit kleinen Rissen oder Engstellen mit Stromkontraktionen in den Belägen, die mit den üblichen elektrischen Messungen zunächst nicht zu registrieren sind, die aber nach langer Zeit zu Ausfällen führen können, dadurch gekennzeichnet, daß das Stromrauschen des Kondensators gemessen und der Kondensator beim Überschreiten eines Grenzwertes für das Stromrauschen verworfen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an den Kondensator eine 50-Hz-Wechselspannung angelegt und das Stromrauschen mit einer unteren Grenzfrequenz von 1 kHz gemessen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an den Kondensator eine 50-Hz-WechselspaDnung angelegt und das Stromrauschen mit einer Frequenz von etwa 2 bis iO kHz mit einer Bandbreite von etwa 1000 Hz gemessen wird.
4. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der zu messende Kondensator (Cx) in Serie mit einem Meßwiderstand (R\) an eine 50-Hz-Spannungsquel!e angeschlossen wird, daß parallel zu dieser Serienschaltung aus dem zu messenden Kondensator (Cx) und dem Meßwiderstand (R1) auf der Seite des Spannungseingangs ein Kondensator ,'Ci) liegt und daß am Meßwiderstand (R1) die Rauschspannunp abgeg~:ffen und über einen Verstärker und einen Hochpaß einem Meßgerät zugeführt wird.
und schließlich zum Abbrennen der Kondensatorbeläge führen können.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht bei einem Kondensator der eingangs beschriebenen Art darin, die genannten Fehler eines derartigen Kondensators bereits im Zuge der Prüfung vor Auslieferung des Kondensators zu erkennen und zu beseitigen.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß das Stromrauschen des Kondensators
ίο gemessen und der Kondensator beim Überschreiten eines Grenzwertes für das Stromrauschen verworfen wird.
Unter »Stromrauschen« werden unregelmäßige, nichtperiodische Stromschwankungen mit einem Frequenzspektrum, das über der Frequenz des eingespeisten Stroms liegt, verstanden. Ein derartiges Stromrauschen, auch als »Turbulenzrauschen« bezeichnet, ist bereits in verschiedenen Literaturstellen, z. B. von H. Pfeifer, »Elektronisches Rauschen«, Teil 1, Verlag Mayer, Aachen, beschrieben und wurde beispielsweise bei schlecht kontaktierten Metallübergängen und bei dünnen metallischen Filmen beobachtet. Man erklärt sich dieses Rauschen damit, daß der Ladungstransport statistischen Schwankungen unterworfen ist. Diese Störspannung ist eine Funktion der Temperatur, der Frequenz, des Frequenzbereiches und des über die Störungsstelle fließenden Stromes. Aus der Literatur ergibt sich für den Mittelwert dieser Störungen (uslor) folgende Formel:
DE2346248A 1973-09-13 1973-09-13 Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können Expired DE2346248C3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2346248A DE2346248C3 (de) 1973-09-13 1973-09-13 Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2346248A DE2346248C3 (de) 1973-09-13 1973-09-13 Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2346248A1 DE2346248A1 (de) 1975-03-27
DE2346248B2 DE2346248B2 (de) 1978-03-02
DE2346248C3 true DE2346248C3 (de) 1978-10-19

Family

ID=5892511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2346248A Expired DE2346248C3 (de) 1973-09-13 1973-09-13 Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2346248C3 (de)

Also Published As

Publication number Publication date
DE2346248B2 (de) 1978-03-02
DE2346248A1 (de) 1975-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2814064C3 (de) Verfahren und Einrichtung zum Prüfen von abgeschlossenen Behältern auf Dichtigkeit
DE102018110575A1 (de) Systeme und Verfahren zur Bestimmung des Zustands eines Gassensors
RU2700368C1 (ru) Способ определения технического состояния цифрового трансформатора по параметрам частичных разрядов в изоляции
DE102017116613B3 (de) Verfahren und Prüfvorrichtung zur Messung von Teilentladungsimpulsen eines geschirmten Kabels
DE2604673A1 (de) Feuerdetektor
EP1411349A1 (de) Feuchtigkeitsfühler mit kapazitivem Feuchte-Messelement und Verfahren zur Erfassung der Luftfeuchtigkeit
EP0019884B1 (de) Schaltungsanordnung zur Überwachung der Betriebseigenschaften eines funkenstreckenlosen Überspannungsableiters
DE2346248C3 (de) Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können
DE2406001C3 (de) Intermodulations-Verzerrungsanalysator für einen Nachrichtenübertragungskanal
DE2356440A1 (de) Einrichtung zur erfassung der zuendspannung
DE3118522C2 (de)
DE2701857A1 (de) Messbruecke fuer vorrichtung zur werkstoffpruefung
DE1766637A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Messung von Koronaausloesungs- und Koronaloeschungsspannungen
DE102019132071A1 (de) Vorrichtung zum Überwachen eines Versorgungsnetzes
DE3404192C2 (de)
DE4137758A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur polaritaetspruefung von elektrolytkondensatoren
EP1411350A1 (de) Feuchtefühler mit kapazitivem Feuchte-Messelement und Verfahren zur Erfassung der Luftfeuchtigkeit
DE102018106493A1 (de) Schutzschaltung für oszilloskopmesskanal
DE2420120A1 (de) Messvorrichtung
WO2019120789A1 (de) Sensoranordnung zur erfassung von partikeln eines messgases in einem messgasraum und verfahren zur erfassung von partikeln eines messgases in einem messgasraum
DE2634590A1 (de) Verfahren zur kontinuierlichen funktionsueberwachung von kernstrahlungsmesskanaelen
DE102015210602B4 (de) Messvorrichtung
DE102022104312A1 (de) Kompensierte Leitfähigkeitsbestimmung
SU1190295A1 (ru) Способ поверки высоковольтных делителей напр жени и устройство дл его осуществлени
DE2343569A1 (de) Frequenz-analysator

Legal Events

Date Code Title Description
EF Willingness to grant licences
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee