Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

DE2208778C3 - Selbsttätige Isolationsprüfeinrichtung - Google Patents

Selbsttätige Isolationsprüfeinrichtung

Info

Publication number
DE2208778C3
DE2208778C3 DE2208778A DE2208778A DE2208778C3 DE 2208778 C3 DE2208778 C3 DE 2208778C3 DE 2208778 A DE2208778 A DE 2208778A DE 2208778 A DE2208778 A DE 2208778A DE 2208778 C3 DE2208778 C3 DE 2208778C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
test
output signal
circuit
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2208778A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2208778B2 (de
DE2208778A1 (de
Inventor
Sumio Chofu Tokio Namikawa
Hitoshi Nagoya Aichi Terase
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyokuto Boeki Kaisha Ltd
Original Assignee
Kyokuto Boeki Kaisha Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyokuto Boeki Kaisha Ltd filed Critical Kyokuto Boeki Kaisha Ltd
Publication of DE2208778A1 publication Critical patent/DE2208778A1/de
Publication of DE2208778B2 publication Critical patent/DE2208778B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2208778C3 publication Critical patent/DE2208778C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/14Circuits therefor, e.g. for generating test voltages, sensing circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Description

3 4
d"s Ausgangssignals des ersten lntegriilors, durch Wechselstrumes vorgesehen, so daß der Mittelwert
einen ersten Dill'erenzverstiirkei /in Ermittlung der des Stromes / aus dem gleichgerichteten Strom er-
Dillcienz I/ /wischen Jen Λ.^gn,,^;,,,.;.],.„ :Ls mitlelt wird. Hin Abtast- und Hultekruis v.ur Speicne-
erslen Inlqmifors und des ersten Abiasi-Wl Halte- rung des Mittelwellen KI. der wiiba-nd des IcUItMl
kreises, duidi einen zweiten OoppelweggL-idiridiier 5 Ablast/.)klus angelegten Spannung lsi vorgesehen,
zur Gleicliiichl.ing einer über dem Prüfling angelee hin weiterer Ablast- und Hnltekreis zur Speicherung
ten Wechselspannung, durch dnen zweiten Integra- des Mittelu.rtes/, des wahrend des vorhcrgegange-
tor /tu Integration des Ausp.ngssiunals des zweii.n neu Abiust/>klus c'-.-n P.jflinji durchllossenen Stro-
Gleichrichters, durch einen zweiten Ablast- und nies ist ebenfalls vorgesehen. Außerdem ΪΜ cm DiI-
Haliek.eis zum Speichern des Ausgangssignals des 10 lerenzversiarker zur Verarbeitung des Mittelwerl-
zweilen Integrators, durch einen zweiiui DÜIerenz- simials I I und des Miltelwerlsignals Vl. das bei
verstärker zur Ermittlung der Dilicrenz ι V /wiselv.-r, dem jeweils nachfolgenden Ablast/)klus gemessen den Ausgleichssignalen d-s zweiten Integrators und wird, vorgesehen, der ein der Differenz \V /wischen des /.weilen Abtast- und lh··Preises, durch eine beiden Signalen enlspu-diendes Ausgangssignal ab-Dividierschaltung zum Dividieren des Ausgangs- .5 gibt. Ein anderer Difierenz\erslärker verarbeiiel die signals des ersten Difrerenzverstärkers durch das Aus- Mittelwertsignaie /1 und ein Mitlelwertsignal/2 des gangssigna! des zweiten Diiierenzv.-rstärkers. durch während des jeweils nachfolgenden Abtastzyklus ^t einen dritten Abtast- und Halbkreis zum Speichern durch den Prüfling fließenden Stromes und gibt ein Hl des Ausgangssignais der Djvidiersciialiung bis zum der Differenz I/ zwischen beiden Signaien entspregjgl , nächsten Abtastzvklus, durch eine Detektorschaltung, ζ · eilendes Ausuangssignal ab. Zur Ermittlung des Wer-Iff: die erfaßt, venn das Ausgangssignal de«, zweiten tes i/ ) V ist eine Dividierschaltung vorgesehen, wull Difierenzverslärkc-rs einen vorbestimmten Wert f V bei dieser Wert die charakteristischen Isolationsf|, erreicht, durch ein bei jedem «leichzeitigen Empfang eigenschalten des jeweiligen Prüflings angibt. Ein Ip eines Abtastsignals von der Detektorschaltung und weiterer Abtast- und Haltekreis ist zur Speicherung «!' eines mit der Frequenz des Wechselstromes" bzv.. 25 des Wertes.M W vorgesehen, der immer gerade e| ; der -spannung synchronisierten Zeitgebersignals lei- dann erhalten wird, wenn die Differenz I V einen j$|i fend werdendes UND-Glied, und durch eine I'm- vorbestimmten Wert erreicht, so daß immer dann f||i formerschaltung zur Umwandlung des Wechselstro- der gespeicherte Wert 1/ W an eine An/cigeein-ΙΪ? mes bzw. der -spannung in einen Gleichstrom bzw. richtung gegeben wird. Außerdem ist ein Zeitgeber- ||-i ^spannung, wobei die erste und zwei·? Abtast- uid 30 kreis zur Steuerung der Arbeitsweise dLser Schall-1I1 Halteschaltung, der erste und zweite DifFerenzver- kreise während jedes einzelnen Abtust/.}klus vorge- |g' stärker, die Detektorschaltung und das UND-Glied sehen, so da» die Isolationseigenschaften eines Prül- If), ' so geschaltet sind, daß der vorbestimmte Wert f V lings selbsttätig mit hoher Geschwindigkeit ermittelt IH beliebig einstellbar ist. werden können.
|'f/ Mit'der ernndungsgemäßen Prüfeinrichtung kann 35 Die Erfindung v.ird an Hand eines in der Zeich-
!|| automatisch, und zerstörungsfrei die Durchschlag- nun« dargestellten Ausfuhrungsbeispiels näher er-
; '4 spannung einer elektrischen Anordnung gemessen läutert. Im einzelnen zeigt
1^1 werden, die einen der wichtigsten Faktoren zur Ab- Fig. 1 schematisch einen Stromlaufplan der erfin-
Ip: Schätzung der Isolationsgüte oder des Abnutzung- dunaseemäßen i'rüfeinrichtung.
ΐψ grades eines Isolationsmaterials einer elektrischen 40 F"i g. 2 eine graphische Darstellung der Prüfergeb-
f|| Anlage darstellt. Mit der Prüfeinrichtung können nisse. svie sie von einem Koordinatenschreiber als
f-'f- auch örtliche Entladungen in dem Isolationsmaterial Anzeigeeinheil dargestellt werden, und
|ij einer elektrischen Anlage ^messen werden, wenn Fig. 3 ein Blockschaltbild der wesentlichen elek-
f ?, die angelegte Spannung ansteigt, oder aber es kann trischen Schaltkreise der erfindungsgemäßen Prüf-
W die Anzahl der Lufteinschlußstellen gemessen wer- 45 einrichtung.
Ip den, in denen eine Entladung stattfindet, wenn an In Fig. 1 ist eine Spannungsqudle 1 üblicher fej dem Isoialionsmaterial einer elektrischen Anlage die Frequenz, ein automatischer Spannungsregler 2, ein ψ angelegte Spannung plötzlich ansteigt. Prüfübertrager 3, ein zu prüfender Prüfling 4, ein ψ. Bei der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung wird Widerstand 5 zur Erfassung der durch den Prüfling f g? r'as Verhältnis der an einem zu prüfenden Isolations- 50 fließenden Stromes, ein Nebenschlußkondensator 6. prüfung angelegten Wechselspannung und dem durch ein Meßübertrager 7, eine Drosselspule 8 zum Sper- ψ diesen Prüf'ing infolge der angelegten Spannung die- ren der harmonischen oder des Rauschens der Span- ; ßenden Wechselstrom, wobei der Stromfluß sich mit nungsquelle, eine Rechenschaltung 9 zur Ermittlung der Größe der in Lufteinschlüs^en stattfindenden des Wertes I/ 1 K, der gemäß der Erfindung ausge-. i?.. Entladungen ändert, durch einen schnel'en Rechen- 55 bildet ist, eine Anzeigeeinrichtung 10, ein Schaltvorgang bestimmt, so daß die Änderung des Strom- kreis 11 zur Erfassung anormaler Koronaimpulse flusses infolge einer angelegten ansteigenden Span- und ein Abschaltschaltkreis 33 zum Abbrechen des nung kontinuierlich mit hoher Genauigkeit erfaßt Prüfvorganges, wenn ein anormaler Koronaimpuls werden kann, wodurch die erforderliche Prüfzeit festgestellt wird, dargestellt. Die Rechenschaltung 9 vermindert und die Anzahl der erforderlichen Be- 60 und die Detektorschaltung 11 zur Feststellung anordienungspersonen herabgesetzt werden kann. maler Koronaimpulse sind in Fig. 3 näher darge-
Zu diesem Zweck ist ein Gleichrichter- und Inte- stellt.
gratorkreis zur Gleichrichtung der über dem Prüf- In Fig. 2 ist eine // I K-Spannungs-Kurve darling angelegten Wechselspannung vorgesehen, so daß gestellt, wie sie von einem X-y-Koordinatenschreiber der Mittelwert der angelegten Spannung aus der 65 als Anzeigeeinrichtung aufgezeichnet wird. Aus diegleichgerichteten Spannung erhalten wird. Ein wei- ser Kurve können die folgenden Informationen über ierer Gleichrichter- und iniegraiufkreis ist zur die isulaiäonseigenschaftcn eines Prüfünp erhalten Gleichrichtung eines durch den Prüfling fließenden werden.
Im Bereich einer angelegten Spannung unterhalb der ersten, einen plötzlichen Stromanstieg zeigenden Spannung P(,, in dem AlIA V konstant ist, wird eine örtliche Entladung nur erwartungsgemäß hervorgerufen. In diesem Bereich kann die elektrostatische Kapazität Cx des Prüflings aus dem Wert (AIIAV)0 wie folgt abgeschätzt werden:
ten Spannung K kann aus dem folgenden Ausdruck ermitcell werden:
Al =
(Inkrcmenl/f//JK),,i,. (4)
1 / Δ I
2.7/ \AV
O.
0)
10
wobei / die Frequenz der Spannungsquelle ist.
Wird eine Entladung in einem Lufteinschluß oder einer Fehlstelle hervorgerufen, dessen Koronaschwellspannung gegenüber den anderen Fehlstellen des Isolationsprüflings am niedrigsten ist, wird der Wert. 111AV zum erstenmal geändert. Die angelegte Spannung, bei der dieses auftritt, wird als die erste, einen plötzlichen Stromanstieg zeigende Spannung (^) bih D W IA V bi di
g g p
bezeichnet. Der Wert. I IiA V bei dieser
i 1(/1)
Spannung P,, wird als {Al;A K)1 bezeichnet. Das folgende Verhältnis mi wird sich in Abhängigkeit der Anzahl von Fehlstellen des Prüflings ändern, wobei eine Entladung in den Fehlstellen in Abhängigkeit der angelegten Spannung stattfinden wird.
(.(/AfK)1
(AIIAV)n
(2)
Der größere Wert des Verhältnisses m, gibt die größere Anzahl solcher Fehlstellen an. Der Wert (I/ I V)1 ist konstant, bis sich der Grad der Fehlstellen-Entladungen ändert. Da die Koronacntladungcfi nacheinander in Gruppen von Fehlstellen mit unterschiedlichen Koronaschwcllspannungcn mit wachsender angelegter Spannung hervorgerufen werden, steigt der Werl All I V schrittweise an, wie dieses in Fig. 2 gezeigt ist. Die Differenz zwischen (.1//.IK)1 und (1// W)., in Fig. 2 hängt ab von der Anzahl der Fehlstellen "des Prüflings mil einer Koronaschwellspannung von V1.,.
Wie in Fig. 2 gezeigt, wird die Spannung, bei der der Werl Λ IlA V besonders stark ansteigt, mit P/2 bezeichnet. Der Wert von AUA V an diesem Punkt wird mit (All AV)P h, bezeichnet. Das folgende Verhältnis m,2 gibt den "Grad des örtlichen Kurzschlusscs an, der durch die wachsende Fehlstellcncntladung bedingt is!
(AIIAV)P1.,
UI/AV)11
(3)
55
Der größere Wert dieses Verhältnisses mln bedeutet dabei einen größeren örtlichen Kurzschluß.
Eine Messung des bei der angelegten Spannung K fließenden Koronii&tromes kann aus einem Flächcnbcrcich ermittelt werden, der von einem Teil der Kurve A HAV und einer horizontalen Geraden, die durrh den Punkt (A Il I K)0 der Ordinate der in Fig. 2 dargestellten Kurve und einer vertikale! Gcfiulen durch den K-Ptinkt der Abszisse hindiirchgctil, umfaßt wird.
Besonders der Ktmimistrom I/ hei einer angclcg-Auf dicsL Weise können viele zur Abschätzung der Isolationscigcnschaften eines Prüfling? erforderlichen Informationen gewonnen werden.
In Fig. 3 ist ein Spannungsteilcrwiderstand 12, Doppelwcggleichrichter 13 und 17 zur Gleichrichtung der erfaßten Spannung und des erfaßten Stromes und Integratoren 14 und 18 zur Ermittlung des Mittelwertes der erfaßten und gleichgerichteten Spannungen und Ströme dargestellt. Zur Speicherung der Mittelwerte der Spannungen und Ströme sind Abtast- und Haltckreise 15 und 19 vorgesehen. Zur Erfassung der Werte.)/ und AV sind Differenzverstärker 16 und 20 vorgesehen. Ein Dividierschaltkreis 27 ermitlelt den Wert .1//.I K. Mit einem weiteren Abtasl- und Haltekrcis 28 werden die Werte Al (K abgetastet und gespeichert. Eine Vergleichs- und Detektorschaltung 21 für den Wert .1 K und eine Vorgabcschaltung 22 für den Wert IK sind ebenfalls vorgesehen. Außerdem weist die Schaltung einen Rücksetzschaltcr 23. ein ODER-Glied 32, eine Spannungsquclle 24 hohen Pegels und ein UND-Glied 25 auf. Das UND-Glied 25 überträgt ein Abtastsignal an den Abtast- und Haltekrcis 28 und an die Abtast- und Haltckreise 15 und 19 über ein Verzögerungs glied 26, wenn das UND-Glied 25 gleichzeitig ein Abtastsignal von einem Zeitgeberkreis 30, der mit der Frequenz der Spannungsquelle synchronisiert ist, und ein Abtastsignal vom ODER-Glied 32 erhält, das von einem Ablastsignal der für den Wert. 1 K vorgesehenen Vergleichs- und Detektorschaltung 21 oder durch ein Rückselzsignai erzeugt wird. Das Verzögerungsglied 26 ist vorgesehen, damit die Abtast- und Hallckrcise 15 und 19 den nächsten Abtaslzyklus erst dann beginnen, wenn die Abtastung des Werte M AV von dem Abtast- und Haltekrcis 28 beendet ist. Ein Wcchselsirom-GIeichstrom-Umformerkreis 29 zur Anzeige der an dem Prüfling angelegten Spannung ist ebenfalls vorgesehen. Ein Schaltkreis 11 erfaßt zu große Eingangssignale, nämlich anormale Koronaimpulse.
Ein einen A'-K-Koordinatenschreiber 31 als Anzeigeeinrichtung benutzendes Ausführungsbeispiel der Erfindung wird in Verbindung mit Fig. 3 erläutert,
Wird die am Prüfling angelegte Spannung konstant gehalten, so wird die von dem Meßübertrager 7 (vgl. Fig. 1) erfaßte Spannung durch den Doppelwegglcichrichtcr 17 gleichgerichtet. Wird angenommen, daß die Zeit, wahrend der der Mittelwert der erfaßten Spannung bestimmt wird, T1 beträgt (z. B. 40 Millisekunden), so wird die erfaßte Spannung in dem Integrator 18 während der Zeil T1 integriert. Als Ergebnis wird von dem Integrator 18 der Mittelwert der während der Zeil T1 erfaßten Spannung abgegeben. Wird angenommen, daß die Rcchcnzcit der Abtast- und Haltckrcise 15, 19, 28 und der Dividicrschaltung 27 T1 beträgt (z. B. 10 Millisekunden), so wird der erhaltene Mittelwert der erfaßten Spannung während der Zeit T2 gespeichert. Dieser Wert wird gelöscht während einer folgenden Zeitdauer von T11
(ζ. Β, 10 Millisekunden). In den Integrator 18 wird der während der Zeitdauern 'T1, T2 und T3 ausgeführte Vorgang wie vorstehend erv/ähnt wiederholt. Die Abtastsignalc werden an* die Abtast- und Haltekreise 15, 19 und 28 während der Zeitdauer T2 gegeben. Gelangt daher von der Schaltung 24 eine Spannunc hohen Pegels an einem der Eingänge des ODER-Gliedes 32 über den Rücksctzschaller 23 während einer der Zeitdauern (T, ! T2 ( T.() (40 \ 10 \ 10 ms), so wird mindestens ein A.btastsignal am Ausgang des UND-Gliedes 25 erhalten, wodurch der erhaltene Mittelwert der erfaßten Spannung in dem Abtast- und Haltekreis 19 gespeichert wird. Andererseits wird der über den Meßwiderstand 5 erfaßte Strom auf einen geeigneten Pegel »5 über den Spannungsteilerwiderstand 12 herabgesetzt und über den Doppelweggleichrichter 13 gleichgerichtet. Der gleichgerichtete Strom wird im Integrator 14 während einer Zeitdauer T1 integriert. Auf die«c Weise wird der Mittelwert des erfaßten Stro-• mcs erhalten. Der erhaltene Mittelwert des erfaßten Stromes wird während der folgenden Zeitdauer von 7"., gespeichert und während der dann folgenden Zeitdäucr von 7\, gelöscht. Auch im Integrator 14 wird der während der Zeildauern T1, T2 und T1 durchgc- »5 führte Vorgang, wie bereits erwähnt, wiederholt. Wie im Falle des Mittelwertes der erfaßten Spannung wird auch der Mittelwert des erfaßten Stromes in dem Ablast- und Haltckreis 15 über den Rücksclzscbalter 23 während der Zeitdauer T2 gespeichert.
Wird die über den Prüfling angelegte Spannung dann vergrößert, so werden als Ausgangssignalc der DifTerenzvcrstärker 20 und 16 in aufeinanderfolgenden Zeitdauern Ί'., Werte I V und M erhalten, und von der Dividierschaltung 27 wird der Rcchmvorgang zur Ermittlung der Werte I // f V durchgeführt. Erreicht der Wert W einen vorbestimmten Weil 1 V, wie er in dem Vorgabekreis 22 eingestellt wurde, so wird von der Vergleichs- und Detektorschaltung 21 ein Abtastsignal erzeugt, das das ODER-Glied 32 und das UND-Glied 25 zur Abgabe eines Ausgangssignals veranlaßt. Dieses Ausgangssignal ermöglich', daß das augenblickliche Ausgangssignal AlIAV der Dividicrschaltung 27 in dem Abtast- und Haltekreis 28 gespeichert wird, und veranlaßt gleichzeitig, diß die Mittelwerte dir augenblicklichen Spannungen und Ströme erneut in den Ablast- und Haltekreisen 15 und 19 gespeichert werden. Dadurch erhalten die beiden Eingänge der Differenzverstärker 16 und 20 die gleichen Signale, so daß die Ausgangssignale der Differenzverstärker 16 und 20 Null werden. Der gespeicherte Wert AHAV bleibt in dem Abtast- und Hallekrcis 28 so lange gespeichert, bis die am Prüfling angelegte Spannung so weit vergrößert wird, daß das Ausgangssignal IV des DilTcrcnzverstärkers 20 erneut den vorbestimmten Wert I V erreicht, wie er durch den Vorgabekreis 22 vorgegeben wird, wodurch ein neuer Wert Ml,I V erhallen wird. Auf diese Weise können bei beliebiger Vergrößerung der am Prüfling angelegten Spannung die entsprechenden Werte Mi W nacheinander erhalten werden. Diese als Ausgangssignale des Abtast- und Haltekreiscs 28 erhaltenen Werte I // I V werden an den ^-Eingang des A'-'r'-K.oordinatenschrcibers 31 gegeben. Ist z. B. bei dem hier gewählten Ausführungsbeisp-el der vorbestimmte Wert I V, wie er in dem Vorgabekreis 22 eingestellt wird, H)OmV bei einem Vollausschlag von K)V, so werden 100 Rechenoperationen durchgeführt. Ist die für eine Rechenoperation zur Ermittlung des Wertes All W erforderliche Zeit 60 MiIIi-Sekunden, so ist der gesamte Prüfvorgang bereits nach ft Sekunden beendet. Damit ist sofort cinzu sehen, daß die erfindungsgemäße Prüfvorrichtung eine Prüfu g mit sehr viel größerer Geschwindigkeit und mil einer sehr viel größeren Genauigkeit als mit den herkömmlichen Methoden durchführen kann. Das Ausgangssignal des Meßübertragers 7 wird mit Hilfe der Wcchscl-Spannungs-Glcichspannungs-Umformcrschaltung 29 in eine Gleichspannung umgeformt und dann an den A"-Eingang des A'-V-Koordinatenschrcibcrs 31 gegeben, um die am Prüfling anliegende Spannung anzuzeigen. Der Überlastungen anzeigende Detektorkreis 11 dient dazu, Überlastun-'gen infolge der Erzeugung von anormalen Koronaimpulsen anzuzeigen und betätigt einen Abschalter 33, um eine Zerstörung des Prüflings infolge einer Überlastung zu verhindern, wodurch der Prüfvorgang abgebrochen wird.
Bd der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung kann jeder optimale Wert I V 7Mx Prüfung eines Prüflings vorgegeben werden, wobei diese Vorgabe von der Art des Prüflings abhängt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen 309^81/437

Claims (4)

  1. Pnlenüinsprüclie:
    von (Jem Prüfling alnreiiiH und den Prüfvorgang unterbricht.
    1, Sclbstiülige Prüfeinrichtung zur Prüfung der elektrischen Isolation eines Prüflings mit mindestens einem ersten Dopp-'lweggleichriehlcr zum CileichiieliUMi des durch den Prüfling infolge einer an diesen angelegten Wechselspannung fließenden Wechselstromes, der zur Erfassung der MeBuei Ie herangezogen wird, gekennzeichnet d u r c h einui ersten das Ausgangssignal des ersten Gleichrichter.', integrierenden Inlegrator (14), durch einen erslen Abtast- und Haltekreis (iSj zum Speichern des Ausgahgssignuls des erslen Integrators, durch einen ersten Dilfcrciizvcrstürker (Ift) zur Ermittlung der Differenz I/ zwischen den Au.nangssignalen des ersten Integrators und des ersten Ablast- und Hallekreises, durch einen zweiten Duppilwegi>leiehrichter(l7) zur üleichrichtung der über dem Prüfling angelegten Wechselspannung, durch einen zweiten Integrator (18) zur Integration des Auvgangssignals des zweUen Gleichrichters, durch einen /weiten Abtast- und Haltekreis (19) zum Speichern des Ausgangssignals des zweiten Integrators, durch einen zweiten Differenzverstärker (20) zur Ermittlung der Differenz f V zwischen den Ausgangssignalen des zweiten Integrators und des zweiten Abtast- und Haltekreises, durch eine Dividierscbaltung (27) zum Dividieren des Ausgangssignals des ersten Differenzverstärkers, durch das Ausgangssignal des zweiten Differenzverstärkers. durch einen dritten Abtasl- und Haltekreis (28) zum Speichern des Ausgmgssignals der Dividierschaltung bis zum nächsten Abtastzyklus, durch eine Detektorschaltung (21), die erfaßt, wenn das Au-gangssignal des' zweiten Differenzverstärkers einen vorbestimmten Wert IV erreicht, durch ein bei je'L'in gleichzeitigen Empfang eines Abtastsignals von der Detektorschaltung und eines mit der Frequenz des Wechselstroms bzw. der -spannung svnchronisierlen Zeitgebersignals leitend werdendes UND-Glied (25) und durch eine Umformerschaltung (29) zur Umwandlung des Wechselstromes bzw. der -spannung in einen Gleichstrom bzw. -spannung, wobei die erste und zweite Abtast- und Halteschaltung, der erste und zweite Differenzverstärker, die Detektorschaltung und das UND-Glied so geschaltet sind, daß der vorbestimmte Wert W beliebig einstellbar ist.
  2. 2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1. gekennzeichnet durch ein·.· Anzeigeeinrichtung zur Anzeige des Ausgangssignals der dritten Ablast- und Halteschaltung.
  3. 3, Prüfeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigeeinrichtung (31) ein A'-y-K.oordinatenschreiber ist, dessen 7-Είη-gang das Ausgangssignal der dritten Abtast- und Halteschaltung (28) und dessen ^-Eingang das Ausgangssignal der'Umformerschaltung (29) zugeführt sind.
  4. 4. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Abschalter (33) %'orgesehen ist, der die Belastung des Prüflings (4) überwacht und bei Überschreiten eines bestimmten Werts die Spannungsquellc (1) Die Erfindung bezieht sich auf eine selbsttätige Prüfeinrichtung zur Prüfung der elektrischen Isola-
    ίο tion ;ines Prüflings mit mindestens einem ersten Doppclw.'ggleiehriüHer zum Gleichrichten des durch den Prüfling infolge einer an diesen angelegten Wechselspannung fließenden Wechselstromes, der zur Erfassung der Meßwerte herangezogen wird.
    Aus der deutschen Auslegeschrilt 1116 320 ist eine mit Wechsnistrom arbeitende Prüfeinrichtung zur Erfassung des z. ß. in Isolationsteilen fließenden Ableitstromes bekannt. Bei dieser bekannten Prüfeinrichtung wird zur Erlassung allein der oLmschen
    Komponente des Ableitstromes, der auf Grund einer an den Prüfling gelegten Wechselspannung fließt, eine gesteuerte Gleichrichterschaltung benutzt, die durch Steuerung mit eindr frequenz- und phasengleidien Hilfswechselspannung die Wirkkomponente
    »5 des Ableitstromes verfügbar macht. Der Abluftstrom wird dabei über einen Meßwiderstand gefüha, dessen Spannungsabfall als Ausgangssignal dient, das angezeigt, aufgezeichnet oder aber zur Betätigung einer Sortiervorrichtung bzw. einer Gut-Schlecht-Steuerung benutzt wird.
    Bei anderen herkömmlichen, mit Wechselstrom, arbeitenden Prüfverfahren werden die angelegte Spannung und der durch den Prüfling fließende Strom mit einem Volt- und einem Amperemeter gemessen. Eine Bedienungsperson träm die abgelesenen Werte de OIt- und des Amperemeters auf einem Papier al·. Kurve ein, so daß sich dort eine Stromspannungs-, nämlich /K-Kurve ergibt. Aus dieser Kurve werden die erste und zweite Spannung Pn und Pj., herausgelesen, bei denen sich die Stromanstiegsgeschwindigkeit J/ iV plötzlich und in großem Maße ändert. Die Durchschlagspannung des Prüflings kann durch Multiplikation von P1 mu einer Konstanten ermittelt werden, die von der Art des Prüflings abhängt. Das Stromanstiegsverhähnis kann durch Kurvenzeichnung abgeschätzt werden. Dieses Stromanstiegsverhältnis wird zur Bestimmung des Gehaltes an Lulteinschlüssen des Prüflings benutzt. Wie sich aus dem Vorstehenden ergibt, erfoTlern die herkömmlichen Verfahren das Ablesen von Spannungs- und Stromwerten von einem VoIt- und Amperemeter und außerdem eine relativ lange Zeit zur Aufzeichnung der Kurven. Außerdem machen diese Verfahren mindestens zwei Bedienungspersonen erfordeilich. Werden ^iese Verfahren zur Prüfung einer Isolation mit einem kleinen Gehalt an Lufteinschlüssen benutzt, so neigen diese infolge de sehr kleinen Änderungen des Wertes if; IV zu Meßfehlern.
    βο Aufgabe der Erfindung ist es, eine neue Prüfeinrichtung zu schaffen, mit der derartige Messungen ohne großen Personal- oder meßtechnischen Aufwand schnell und genau durchzuführen sind.
    Bei einer selbsttätigen Prüfeinrichtung der genannten Art ist diese Aufgabe gemäß der Erfindung gelöst durch einen ersten das Ausgangssignal des ersten Gleichrichters integrierenden Integrator, durch einen ersten Abtast- und Haltckreis zum Speichern
DE2208778A 1971-03-16 1972-02-24 Selbsttätige Isolationsprüfeinrichtung Expired DE2208778C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP46014512A JPS514791B1 (de) 1971-03-16 1971-03-16

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2208778A1 DE2208778A1 (de) 1972-09-28
DE2208778B2 DE2208778B2 (de) 1973-05-30
DE2208778C3 true DE2208778C3 (de) 1974-01-03

Family

ID=11863116

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2208778A Expired DE2208778C3 (de) 1971-03-16 1972-02-24 Selbsttätige Isolationsprüfeinrichtung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3737769A (de)
JP (1) JPS514791B1 (de)
DE (1) DE2208778C3 (de)
GB (1) GB1384780A (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1562853A (en) * 1976-10-30 1980-03-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Corona discharge detection apparatus
WO1983002162A1 (en) * 1981-12-14 1983-06-23 Reynolds, Peter, H. Insulation analyzer apparatus and method of use
JPH0654560U (ja) * 1992-12-28 1994-07-26 廣幸 四條 蓋の止着具
JPH0661752U (ja) * 1993-02-05 1994-08-30 廣幸 四條 蓋の止着具
US6483335B1 (en) 2000-07-12 2002-11-19 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Simple chip identification
US12038467B2 (en) * 2022-02-07 2024-07-16 General Electric Company Noise tolerant electrical discharge detection

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2837714A (en) * 1954-03-31 1958-06-03 Hill George Leslie Method of testing electrical insulation
US3199023A (en) * 1959-11-27 1965-08-03 Gen Electric Method and apparatus for nondestructively testing electrical insulation by sensing levels of ionization occurring in the insulation
GB991198A (en) * 1962-12-07 1965-05-05 Ass Elect Ind Improvements in and relating to apparatus for detecting the location of an electric line fault
GB1192640A (en) * 1967-09-22 1970-05-20 English Electric Co Ltd Improvements in Distance Relays

Also Published As

Publication number Publication date
JPS514791B1 (de) 1976-02-14
GB1384780A (en) 1975-02-19
DE2208778B2 (de) 1973-05-30
DE2208778A1 (de) 1972-09-28
US3737769A (en) 1973-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102015000987A1 (de) Magnetfelddetektionsvorrichtung
DE3915563C1 (de)
DE19917268A1 (de) Verfahren zum Überprüfen eines elektromagnetischen Durchflußmessers und elektromagnetische Durchflußmesseranordnung
DE3148640C2 (de)
DE2626976A1 (de) Annaeherungssensor
DE112016004054T5 (de) Verbessertes Netztransformator-Energiewirkungsgrad-Mess-Prüf-Verfahren, - Vorrichtung und Speichermedium
DE2208778C3 (de) Selbsttätige Isolationsprüfeinrichtung
EP0068503B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Werkstoffprüfung nach dem Wirbelstromprinzip
DE69828877T2 (de) Testsystem für integrierte schaltkreise mit wenigstens einem quasi-autonomen testinstrument
EP0497994A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Überwachung von ionen- oder redoxpotential-sensitiven Messketten
DE2545325B2 (de) Schaltungsanordnung zur Messung des Isolationswiderstandes erdfreier Starkstromschaltungen
DE2338628A1 (de) Anordnung zum steuern einer alarmausloesung
DE2701857C2 (de)
CH607045A5 (en) Diode test appts. with oscillator
DE102015210426A1 (de) Anordnung und Verfahren zum Erfassen eines Stroms mittels eines induktiven Stromsensors
DE68924053T2 (de) LSSD-Abfragepfad zur Berechnung der Wechselstrom-Chipsleistung.
DE60025357T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur detektion langsamer und kleiner änderungen elektrischer signale unter berücksichtigung des vorzeichens der änderungen
DE4221057C2 (de) Verfahren zum Erfassen des Verbrauchs elektrischer Energie
DE2855482C3 (de) Verfahren zur Auswertung des Diagonalsignals einer Widerstandsbrücke und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE3120522C2 (de) Verfahren zur Bestimmung von Werkstoffeigenschaften
EP0199979B1 (de) Messverfahren zur Bestimmung des Schleifen- oder Innenwiderstandes eines Wechselstromnetzes und Vorrichtung zur Anwendung des Verfahrens
DE3030740A1 (de) Anordnung zum ueberwachen und/oder steuern der ausgangsleistung eines induktionsmotors
DE3207370C2 (de)
DE2705624A1 (de) Messgeraet
DE898773C (de) Einrichtung zur Pruefung von Kurzschlusslaeufern fuer Asynchronmotoren auf Gussfehler im Laeuferkaefig

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee