DE20021685U1 - Hochfrequenz-Tastspitze - Google Patents
Hochfrequenz-TastspitzeInfo
- Publication number
- DE20021685U1 DE20021685U1 DE20021685U DE20021685U DE20021685U1 DE 20021685 U1 DE20021685 U1 DE 20021685U1 DE 20021685 U DE20021685 U DE 20021685U DE 20021685 U DE20021685 U DE 20021685U DE 20021685 U1 DE20021685 U1 DE 20021685U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- frequency probe
- probe tip
- measuring
- signal
- ground
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 24
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
POSTFACH 26 02 51 TELEFON: 089/22 18 06 HERRNSTRASSE 15
D-80059 MÜNCHEN TELEFAX: 089/22 26 27 D-80539 MÜNCHEN
8116 ll/mk.
&iacgr;&ogr; ROSENBERGER Hochfrequenztechnik GmbH & Co.
Hauptstrasse 1 „
D-83413 Fridolfing
D-83413 Fridolfing
Die Erfindung betrifft eine Hochfrequenz-Tastspitze, insbesondere für Leiterplatten und/oder HF-Kabel, gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bei sogn. TDR-Messungen (Time Domain Reflectometry measurements) auf gedruckten Schaltungen ergibt sich das Problem, daß unterschiedlichste Kontaktanordnungen zu Meßzwecken mit einer Meßspitze abgegriffen bzw. kontaktiert werden müssen. Um hier nicht für jede Messung eine andere Meßspitze mit entsprechend angepaßtem Abstand zwischen Signalkontakt und Massekontakt verwenden zu müssen, wurde bereits vorgeschlagen, an der Meßspitze eine Spiralmuster von Ausnehmungen vorzusehen, in die jeweils der Massekontakt einsteckbar ist. Auf diese Weise können in einem bestimmten Raster verschiedene Abstände zwischen Signalkontakt und Massekontakt realisiert werden. Das Verändern dieses Abstandes ist jedoch umständlich, da hierfür die Meßspitze mit einem Spezialwerkzeug zerlegt werden muß.
Es wurde ferner eine Meßspitze vorgeschlagen, bei der ein Meßdorn des Massekontaktes verschwenkbar angeordnet ist. Durch ein entsprechendes Verschwenken des Meßdorns können unterschiedliche Abstände zwischen Massekontakt und Signalkontakt realisiert werden. Jedoch ergeben sich Probleme hinsichtlich
der Impedanzanpassung und unerwünschte Reflexionen begrenzen einen Frequenzbereich, in dem eine derartige Meßspitze verwendet werden kann, auf beispielsweise maximal 125 MHz. Es werden jedoch heute Meßspitzen benötigt, die bis in den GHz-Bereich verwendbar sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Hochfrequenz-Tastspitze der o.g. Art zur Verfügung zu stellen, welche eine einfache Handhabung aufweist und gleichzeitig eine gute Funktionssicherheit auch bei hohen Frequenzen im GHz-Bereich sicherstellt.
Diese Aufgabe wird durch eine Hochfrequenz-Tastspitze der o.g. Art mit den in Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmalen gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den jeweils abhängigen Ansprüchen angegeben.
Bei einer Hochfrequenz-Tastspitze der o.g. Art ist es erfindungsgemäß vorgesehen, daß ausgehend von der Meßspitze über einen vorbestimmten Bereich der Hochfrequenz-Tastspitze die Masseleiteranordnung derart ausgebildet ist, daß der Signalleiter zusammen mit dem ihn umgebenden Dielektrikum innerhalb der Masseleiteranordnung verschiebbar ist.
Dies hat den Vorteil, daß der Abstand zwischen Signalkontakt und Massekontakt einfach und schnell stufenlos verstellbar ist, wobei gleichzeitig eine Impedanzanpassung nicht beeinträchtigt wird, so daß die erfindungsgemäße Meßspitze eine hohe Bandbreite bis in den GHz-Bereich aufweist.
Dadurch, daß die Masseleiteranordnung in dem vorbestimmten Bereich kastenförmig ausgebildet ist, verläuft das elektrische Feld zwischen Masseleiteranordnung und Signalleiter in diesem Bereich praktisch nur durch entsprechend abgeflachte Bereich des Dielektrikums, welches den Signalleiter umgibt. Dadurch ist die Impedanz unabhängig von der Stellung des Signalleiters innerhalb der Masseleiteranordnung. Dieser Effekt wird dadurch verstärkt, daß die kastenförmige Masseleiteranordnung im Querschnitt einen kleinen und einen großen Durchmesser aufweist, wobei der kleine Durchmesser kleiner ist als der Durchmesser des Dielektrikums des Signalleiters.
Zum einfachen und funktionssicheren Einstellen des Abstandes zwischen Signalkontakt und Massekontakt ist am meßspitzenseitigen Ende ein Schieber vorgesehen, welcher in Richtung des großen Durchmessers verschiebbar ist und den Signalleiter mit dem Dielektrikum mit sich führt.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist die Masseleiteranordnung in dem vorbestimmten Bereich als abgeflachtes Rohr ausgebildet.
&iacgr;&ogr; Zweckmäßigerweise ist am Anschlußende eine Standard-Koaxialverbindung für das Meßkabel vorgesehen. Der Massekontakt ist bevorzugt an der Meßspitze ausgebildet.
Beispielsweise sind zwei Signalleiter mit jeweils einem Signalkontakt vorgesehen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Diese zeigt in:
Fig. 1 eine bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Tastspitze in perspektivischer Ansicht,
Fig. 2 die Hochfrequenz-Tastspitze von Fig. 1 in einem Längsschnitt, Fig. 3 eine Schnittansicht entlang Linie A-A von Fig. 2,
Fig. 4 eine alternative Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Tastspitze in perspektivischer Ansicht,
Fig. 5 die Hochfrequenz-Tastspitze von Fig. 4 in einem Längsschnitt und
Fig. 6 eine Schnittansicht entlang Linie B-B von Fig. 5.
Die in Fig. 1 und 2 dargestellte bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Tastspitze umfaßt ein Anschlußende 10, an dem ein nicht
dargestelltes Meßkabel zum Verbinden mit einem nicht dargestellten Meßgerät anschließbar ist, und eine Meßspitze 12, an derein Signalkontakt 14 und ein Massekontakt 16 ausgebildet sind. Die Kontakte 14, 16 bilden einen HF-Übergang, beispielsweise zu einem Prüfling. Ein Koaxialleiter 18 mit Masseleiteranordnung 20 und Signalleiter 22 verbindet das Anschlußende 10 mit der Meßspitze 12. Der Signalleiter 22 ist von einem Dielektrikum 24 umgeben. Am Anschlußende 10 ist ein Handgriff 26 ausgebildet sowie eine Standard-Koaxialverbindung 28 für das Meßkabel angeordnet.
Ausgehend von der Meßspitze 12 ist in einem vorbestimmten Bereich 30 die Masseleiteranordnung 20 als abgeflachtes Rohr ausgebildet. Wie aus Fig. 3 hervor geht, weist dieses Rohr 20 im Querschnitt einen großen Durchmesser 32 und einen kleinen Durchmesser 34 auf, wobei der kleine Durchmesser 34 etwas kleiner ist, als der reguläre Durchmesser des Dielektrikums 24. Daher wird das Dielektrikum 24 im Bereich 30 etwas zusammen gedrückt. In dem mit Bezugszeichen 36 gekennzeichneten Bereich erfolgt der Übergang vom Koaxialkabel 18 auf die rohrförmige Masseleiteranordnung 20. Der Mantel des Koaxialkabels 18 ist auf das offene Ende des Rohres 20 gelötet, während der Innenleiter bzw. Signalleiter 22 mit Dielektrikum 24 einstückig weitergeführt sind. Durch die Abflachung des Rohres 20 im Bereich 30 ist sichergestellt, daß in diesem Rohr 20 trotz gleichen Isolatordurchmessers dieselbe Impedanz wie im Koaxialkabel 18 vorherrscht.
Durch den beweglichen Signalleiter 22 ist ein Abstand zwischen dem Massekontakt 16 und dem Signalkontakt 14 stufenlos einstellbar. Zu diesem Zweck ist am Rohr 20 ein Schieber 38 (Fig. 1, 2) vorgesehen, welcher zwischen Dornen 40, den flexiblen Signalleiter 22 mit sich führt. Auf diese Weise ist der Signalleiter 22 in Pfeilrichtung 42 innerhalb des Rohres 20 hin- und herverschiebbar.
Die Meßspitze 12 besitzt trotz eines großen Verstellbereiches für den Abstand zwischen Massekontakt 16 und Signalkontakt 14 durchgängig, d.h. auch für alle Abstände, eine konstante Impedanz und eignet sich daher vor allem für TDR-Messungen, bei der die Meßgenauigkeit und Auflösung von einem möglichst reflexionsarmen Übergang zum Prüfling abhängen. Der Abstand von Signalkontakt 14 und Massekontakt 16 kann in einfacher Weise durch Betätigen des Schiebers 38
• &phgr; &lgr; · &phgr;·····
verändert werden. Bei der Betätigung des Schiebers 34 bewegt sich der biegsame Innen- oder Signalleiter 22 mit seiner Isolation 24 in dem kastenförmigen Außenleiter 20. Das elektrische Feld zwischen Außenleiter 20 und Innenleiter 22 verläuft im Bereich 30 praktisch nur durch die abgeflachten Bereiche des Dielektrikums 24. Daher ist die Impedanz unabhängig von der Stellung des Innenleiters 22 innerhalb des Rohres 20.
Bei der in Fig. 4 bis 6 dargestellten alternativen1 Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Tastspitze sind funktionsgleiche Teile mit gleichen
&iacgr;&ogr; Bezugsziffern wie in den Fig. 1 bis 3 bezeichnet, so daß zu deren Erläuterung auf die obige Beschreibung der Fig. 1 bis 3 verwiesen wird. Im Gegensatz zur Ausführungsform gemäß der Fig. 1 bis 3 umfaßt diese Hochfrequenz-Tastspitze eine symmetrische Spitze mit zwei Signalleitern 22 mit dementsprechend zwei Signalkontakten 14 an der Meßspitze 12. Entsprechende Außenleiter von Koaxialkabeln 44, welche jeweils ausgehend von den Koaxialanschlüssen 28 durch den Griff 26 verlaufen, sind im Übergangsbereich 36 auf den rohrförmigen Außenleiter 20 gelötet. Die beiden als unsymmetrische Koaxialleitungen (mit getrennter Masse) herausgeführten Meßleitungen 22 laufen im Rohr 20 zusammen und bilden dort eine symmetrische Leitung der doppelten Impedanz. Statt des Massekontakts an der Meßspitze 12 besitzt diese Hochfrequenz-Tastspitze somit einen zweiten, gleichwertigen Signalkontakt 14a an der Meßspitze 12, der an der in den Fig. oberen starren Leitung 22a sitzt. Die in den Fig. untere zweite Leitung 22 ist analog zur unsymmetrischen Meßspitze 12 gemäß der Fig. 1 bis 3 verschiebbar.
Claims (8)
1. Hochfrequenz-Tastspitze, insbesondere für Leiterplatten und/oder HF-Kabel, mit einem Anschlußende (10), an dem ein Meßkabel zum Verbinden mit einem Meßgerät anschließbar ist, mit einem Massekontakt (16) und einer Meßspitze (12), an der wenigstens ein Signalkontakt (14) ausgebildet ist, wobei ein Koaxialleiter (18) mit Masseleiteranordnung (20) und wenigstes einer von einem Dielektrikum (24) umgebenen Signalleiter (22) das Anschlußende (10) mit der Meßspitze (12) verbindet, dadurch gekennzeichnet, daß ausgehend von der Meßspitze (12) über einen vorbestimmten Bereich (30) der Hochfrequenz-Tastspitze die Masseleiteranordnung (20) derart ausgebildet ist, daß wenigstens einer der Signalleiter (22) zusammen mit dem ihn umgebenden Dielektrikum (24) innerhalb der Masseleiteranordnung (20) verschiebbar ist.
2. Hochfrequenz-Tastspitze nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Masseleiteranordnung (20) in dem vorbestimmten Bereich (30) kastenförmig ausgebildet ist.
3. Hochfrequenz-Tastspitze nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die kastenförmige Masseleiteranordnung (20) im Querschnitt einen kleinen und einen großen Durchmesser (34, 32) aufweist, wobei der kleine Durchmesser (34) kleiner ist als der Durchmesser des Dielektrikums (24) des Signalleiters.
4. Hochfrequenz-Tastspitze nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß am meßspitzenseitigen Ende ein Schieber (38) vorgesehen ist, welcher in Richtung des großen Durchmessers (32) verschiebbar ist und den Signalleiter (22) mit dem Dielektrikum (24) mit sich führt.
5. Hochfrequenz-Tastspitze nach wenigstens einem der vorhergehende Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Masseleiteranordnung (20) in dem vorbestimmten Bereich (30) als abgeflachtes Rohr ausgebildet ist.
6. Hochfrequenz-Tastspitze nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß am Anschlußende (10) eine Standard-Koaxialverbindung (28) für das Meßkabel vorgesehen ist.
7. Hochfrequenz-Tastspitze nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Signalleiter (22) mit jeweils einem Signalkontakt (14) vorgesehen sind.
8. Hochfrequenz-Tastspitze nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Massekontakt (16) an der Meßspitze (12) ausgebildet ist.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20021685U DE20021685U1 (de) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Hochfrequenz-Tastspitze |
CNA018161979A CN1466686A (zh) | 2000-12-21 | 2001-12-06 | 高频探头 |
EP01989385A EP1352253A2 (de) | 2000-12-21 | 2001-12-06 | Hochfrequenz-tastspitze |
CA002420581A CA2420581A1 (en) | 2000-12-21 | 2001-12-06 | High-frequency probe-tip |
JP2002551603A JP2004537031A (ja) | 2000-12-21 | 2001-12-06 | 高周波プローブチップ |
PCT/DE2001/004619 WO2002050556A2 (de) | 2000-12-21 | 2001-12-06 | Hochfrequenz-tastspitze |
US10/450,394 US20040066181A1 (en) | 2000-12-21 | 2001-12-12 | High-frequency probe tip |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20021685U DE20021685U1 (de) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Hochfrequenz-Tastspitze |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE20021685U1 true DE20021685U1 (de) | 2001-03-15 |
Family
ID=7950409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE20021685U Expired - Lifetime DE20021685U1 (de) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Hochfrequenz-Tastspitze |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040066181A1 (de) |
EP (1) | EP1352253A2 (de) |
JP (1) | JP2004537031A (de) |
CN (1) | CN1466686A (de) |
CA (1) | CA2420581A1 (de) |
DE (1) | DE20021685U1 (de) |
WO (1) | WO2002050556A2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009105181A1 (en) * | 2008-02-19 | 2009-08-27 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Adjustable electrical probes for circuit breaker tester |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5914613A (en) | 1996-08-08 | 1999-06-22 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system with local contact scrub |
US6256882B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-07-10 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
US6965226B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-11-15 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US6914423B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-07-05 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
DE20114544U1 (de) | 2000-12-04 | 2002-02-21 | Cascade Microtech, Inc., Beaverton, Oreg. | Wafersonde |
WO2003052435A1 (en) | 2001-08-21 | 2003-06-26 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US7057404B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-06-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Shielded probe for testing a device under test |
US7250626B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-07-31 | Cascade Microtech, Inc. | Probe testing structure |
US7262614B1 (en) * | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
US7321234B2 (en) | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
US7187188B2 (en) | 2003-12-24 | 2007-03-06 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck with integrated wafer support |
GB2425844B (en) | 2003-12-24 | 2007-07-11 | Cascade Microtech Inc | Active wafer probe |
WO2006031646A2 (en) | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Cascade Microtech, Inc. | Double sided probing structures |
US7183779B2 (en) * | 2004-12-28 | 2007-02-27 | Spectrum Technologies, Inc. | Soil probe device and method of making same |
US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
US9404940B1 (en) | 2006-01-06 | 2016-08-02 | Teledyne Lecroy, Inc. | Compensating probing tip optimized adapters for use with specific electrical test probes |
US7764072B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-07-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probing system |
US7723999B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-05-25 | Cascade Microtech, Inc. | Calibration structures for differential signal probing |
US7403028B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-07-22 | Cascade Microtech, Inc. | Test structure and probe for differential signals |
US7876114B2 (en) | 2007-08-08 | 2011-01-25 | Cascade Microtech, Inc. | Differential waveguide probe |
US7888957B2 (en) | 2008-10-06 | 2011-02-15 | Cascade Microtech, Inc. | Probing apparatus with impedance optimized interface |
US8410806B2 (en) | 2008-11-21 | 2013-04-02 | Cascade Microtech, Inc. | Replaceable coupon for a probing apparatus |
US8319503B2 (en) | 2008-11-24 | 2012-11-27 | Cascade Microtech, Inc. | Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test |
DE202009003966U1 (de) * | 2009-03-20 | 2009-06-04 | Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg | Messspitzen |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3447078A (en) | 1964-07-17 | 1969-05-27 | American Electronic Lab | Electrical probe for testing transistors and the like having rotatably supported actuator for plural probe tips |
DE3332187A1 (de) | 1983-09-07 | 1985-04-04 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Kontaktbaustein |
DE3535926A1 (de) | 1984-11-13 | 1986-05-22 | Tektronix, Inc., Beaverton, Oreg. | Mikroschaltungs-taster mit angepasster impedanz |
DE3801222A1 (de) | 1988-01-18 | 1989-07-27 | Siemens Ag | Kontaktiereinrichtung fuer pruefzwecke, insbesondere zur pruefung von halbleiterbausteinen |
DE3818728A1 (de) | 1988-06-01 | 1989-12-14 | Feinmetall Gmbh | Federkontaktstift |
DE4028943A1 (de) | 1989-10-02 | 1991-04-11 | Tektronix Inc | Einstellbare sonde mit geringer induktivitaet |
DE4216261A1 (de) | 1992-05-16 | 1993-11-18 | Pmk Mess Und Kommunikationstec | Tastkopf zur Überprüfung elektrischer Schaltungen |
DE29603288U1 (de) | 1996-02-24 | 1996-04-18 | Amrhein, Herbert, 74321 Bietigheim-Bissingen | Kontaktklemme |
DE19641880A1 (de) | 1996-10-10 | 1998-04-16 | Rosenberger Hochfrequenztech | Meßspitzeneinheit zum Kontaktieren von planaren Mikrowellenschaltungen |
DE29823489U1 (de) | 1998-01-14 | 1999-06-24 | Ch. Beha Gmbh Technische Neuentwicklungen, 79286 Glottertal | Gerät zum Messen und/oder Prüfen von elektrischen Größen |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0293497B1 (de) * | 1987-05-26 | 1993-03-10 | Ibm Deutschland Gmbh | Kontaktsonden-Anordnung mit Feinpositionier-Vorrichtung |
US4829242A (en) * | 1987-12-07 | 1989-05-09 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Multigigahertz probe |
US5506515A (en) * | 1994-07-20 | 1996-04-09 | Cascade Microtech, Inc. | High-frequency probe tip assembly |
US5565788A (en) * | 1994-07-20 | 1996-10-15 | Cascade Microtech, Inc. | Coaxial wafer probe with tip shielding |
JP3112873B2 (ja) * | 1997-10-31 | 2000-11-27 | 日本電気株式会社 | 高周波プローブ |
US6366104B2 (en) * | 2000-02-15 | 2002-04-02 | Hughes Electronics Corp. | Microwave probe for surface mount and hybrid assemblies |
-
2000
- 2000-12-21 DE DE20021685U patent/DE20021685U1/de not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-12-06 CN CNA018161979A patent/CN1466686A/zh active Pending
- 2001-12-06 JP JP2002551603A patent/JP2004537031A/ja active Pending
- 2001-12-06 WO PCT/DE2001/004619 patent/WO2002050556A2/de not_active Application Discontinuation
- 2001-12-06 EP EP01989385A patent/EP1352253A2/de not_active Withdrawn
- 2001-12-06 CA CA002420581A patent/CA2420581A1/en not_active Abandoned
- 2001-12-12 US US10/450,394 patent/US20040066181A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3447078A (en) | 1964-07-17 | 1969-05-27 | American Electronic Lab | Electrical probe for testing transistors and the like having rotatably supported actuator for plural probe tips |
DE3332187A1 (de) | 1983-09-07 | 1985-04-04 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Kontaktbaustein |
DE3535926A1 (de) | 1984-11-13 | 1986-05-22 | Tektronix, Inc., Beaverton, Oreg. | Mikroschaltungs-taster mit angepasster impedanz |
DE3801222A1 (de) | 1988-01-18 | 1989-07-27 | Siemens Ag | Kontaktiereinrichtung fuer pruefzwecke, insbesondere zur pruefung von halbleiterbausteinen |
DE3818728A1 (de) | 1988-06-01 | 1989-12-14 | Feinmetall Gmbh | Federkontaktstift |
DE4028943A1 (de) | 1989-10-02 | 1991-04-11 | Tektronix Inc | Einstellbare sonde mit geringer induktivitaet |
DE4216261A1 (de) | 1992-05-16 | 1993-11-18 | Pmk Mess Und Kommunikationstec | Tastkopf zur Überprüfung elektrischer Schaltungen |
DE29603288U1 (de) | 1996-02-24 | 1996-04-18 | Amrhein, Herbert, 74321 Bietigheim-Bissingen | Kontaktklemme |
DE19641880A1 (de) | 1996-10-10 | 1998-04-16 | Rosenberger Hochfrequenztech | Meßspitzeneinheit zum Kontaktieren von planaren Mikrowellenschaltungen |
DE29823489U1 (de) | 1998-01-14 | 1999-06-24 | Ch. Beha Gmbh Technische Neuentwicklungen, 79286 Glottertal | Gerät zum Messen und/oder Prüfen von elektrischen Größen |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009105181A1 (en) * | 2008-02-19 | 2009-08-27 | Siemens Energy & Automation, Inc. | Adjustable electrical probes for circuit breaker tester |
US7804314B2 (en) | 2008-02-19 | 2010-09-28 | Siemens Industry, Inc. | Adjustable electrical probes for circuit breaker tester |
CN101971042A (zh) * | 2008-02-19 | 2011-02-09 | 西门子工业公司 | 用于断路器测试仪的可调节电探针 |
CN101971042B (zh) * | 2008-02-19 | 2013-12-18 | 西门子工业公司 | 用于断路器测试仪的可调节电探针 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1466686A (zh) | 2004-01-07 |
JP2004537031A (ja) | 2004-12-09 |
US20040066181A1 (en) | 2004-04-08 |
EP1352253A2 (de) | 2003-10-15 |
WO2002050556A3 (de) | 2002-12-05 |
WO2002050556A2 (de) | 2002-06-27 |
CA2420581A1 (en) | 2003-02-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE20021685U1 (de) | Hochfrequenz-Tastspitze | |
DE2525166C2 (de) | Kontakt-Sondenvorrichtung | |
DE1036950B (de) | Anordnung zur Kompensation von Stossstellen auf einer Mikrowellen-Bandleitung mittels eines Blindwiderstandes | |
DE10393724T5 (de) | Prüfkopf für kombinierte Signale | |
DE20114544U1 (de) | Wafersonde | |
DE102006026229A1 (de) | Hochfrequenz-Messfühler | |
DE69412524T2 (de) | Antenne für tragbares Funkgerät | |
EP3126852B1 (de) | Kontaktieranordnung, insbesondere hf-messspitze | |
DE3017686A1 (de) | Elektrische verbindungsvorrichtung | |
EP2409166B1 (de) | Hochfrequenz-Messpitze | |
DE3535926A1 (de) | Mikroschaltungs-taster mit angepasster impedanz | |
DE69423323T2 (de) | Impedanzmeter | |
DE19945176B4 (de) | Anordnung von Federkontakten in einem vorbestimmten Raster | |
DE102005053146A1 (de) | Messspitze zur Hochfrequenzmessung | |
DE3801222C2 (de) | Kontaktiereinrichtung für Prüfzwecke, insbesondere zur Prüfung von Halbleiterbausteinen | |
EP3830895A1 (de) | Vorrichtung verbindungsstruktur zwischen auswerteelektronik und sonde in zylindersystemen | |
DE1804087A1 (de) | Prueftaster-Haltevorrichtung | |
DE4404046C2 (de) | Verfahren zum Kalibrieren eines zwei Meßtore aufweisenden Netzwerk-Analysators | |
DE19832021C2 (de) | Tastkopf | |
DE10047900C2 (de) | Anordnung und Verfahren zur Messung von Hochfrequenzparametern einer elektronischen Schaltung mit angeschlossener Antenne | |
DE19746732C2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Schirmdämpfung von Abschirmmaterial für elektromagnetische Felder | |
DE819262C (de) | Anordnung zum reflexionsfreien Abschluss von Leitungen bei sehr hohen Frequenzen | |
DE1144797B (de) | Hochfrequenzleitungsstueck mit veraenderbarer Laenge | |
DE956420C (de) | Viertelwellenlaengen-Transformator | |
DE19718478C2 (de) | Hochimpedanzsonde mit extrem kleiner Eingangskapazität |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R207 | Utility model specification |
Effective date: 20010419 |
|
R163 | Identified publications notified |
Effective date: 20010911 |
|
R150 | Utility model maintained after payment of first maintenance fee after three years |
Effective date: 20040312 |
|
R151 | Utility model maintained after payment of second maintenance fee after six years |
Effective date: 20070129 |
|
R152 | Utility model maintained after payment of third maintenance fee after eight years |
Effective date: 20090312 |
|
R071 | Expiry of right | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: KANDLBINDER, MARKUS, DIPL.-PHYS., DE |