DE1945899A1 - Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
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Description
»ipt.-lng.R.BeettU.
DIpL-Ing. Lamprecht
81-14.9O4P(14.9O5H) 10.9-1969
HITACHI, LTD., Tokio (Japan)
Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer
Herstellung
Sie Erfindung bezieht sich auf eine Halbleitervorrichtung mit verbesserten Wärmeleiteigenschaften, insbesondere
auf eine integrierte Schaltkreisvorrichtung.
Bisher ist bereits die Plächenverbindungstecnnik bekannt,
bei der allgemein eine Halbleiterplatte mit einer Oberfläche, auf der eine große Zahl von Elektroden angebracht
ist, umgekehrt auf einer Trägerplatte mit einer Hehrzahl von leitenden flächenteilen derart angeordnet wird,
daß die Elektroden entsprechend mit den leitenden 3?lächenteilen
auf der Trägerplatte verbunden werden.
81-Pos.19.336-TpP (8)
009813/1213
ßAD ORIGINAL
Eine solche Flächenverbindungstechnik ist insofern vorteilhaft,
daß sich ein guter Arbeitswirkungsgrad und eine hohe Verläßlichkeit der hergestellten Vorrichtung erzielen
lassen, da keine feinen Zuführungedrähte zur Verbindung eines Halbleiterplättchens und einer Verdrahtungsbasisplatte
erforderlich sind, hat jedoch den Nachteil, daß der Temperaturanstieg des Halbleiterplättchens groß wird, da die Bais-vplatte
und das Halbleiterplättchen nur über kleine Elektrodenzonen verbunden sind, der Wärmewiderstand zwischen des
Halbleiterplättehen und der Verdrahtungsbasisplatte daher groß wird und die im Halbleiterplättchen erzeugte Wärme
nicht gut abgeleitet werden kann. Saher ist auch der elektrische !eistungsverbrauch in dem Halbleiterplättchen begrenzt,
und es wird schwierig, eine große Zahl von Schaltkreiseierneaten
in einem Halbleiterplättchen zu integrieren (G-roßzahlintegretion). Außerdem ist, wenn eine Verdrahtungsbasisplatte mit einer großen Zahl von Halbleiterplättchen
in einem Kasten angeordnet wird, die Zahl der unterzubringenden Halbleiterplättchen auf Grund dieses Hangels
an Wärmeabfuhr begrenzt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleitervorrichtung
zu schaffen, die verbesserte Wärmeableiteigenschaften aufweist.
Außerdem soll die Erfindung eine Plächenverbindungs-Halbleitervorrichtung
ermöglichen, die gegenüber einer mechanischen Belastung von außen und der Wärmebelastung
widerstandsfähig ist.
Schließlich ist Aufgäbe der Erfindung die Angabe eines
Verfahrens zur industriellen Herstellung der genannten HaIb-
0 0 9813/1213
BA°OFiiGlNAL
leitervorricutung unter möglichst weltgehender Ausschaltung
einer mechanischen Beanspruchung des Halbleiterplättchens.
Die Halbleitervorrichtung, mit der diese Aufgabe gelöst
wird, ist erfindungegemäß gekennzeichnet durch
a) eine Unterlage mit einer isolierenden Hauptoberfläche and einer auf dieser angebrachten Hehrzahl
von leitenden Flächenteilenj
b) ein Halbleiterplatteheη mit einer ersten und einer
zweiten Hauptoberfläche und einer auf der ersten, der Hauptoberfläche der Unterlage zugewandten Hauptoberfläche
angebrachten Mehrzahl von mit den zugehörigen leitenden Flächenteilen verbundenen Elektrodenj
c) eine Platte mit einer gegenüber der zweiten Hauptoberfläche größeren und dieser zugewandten Hauptoberfläche
in einem bestimmten Abstand vom Halbleiterplättchen;
d) ein an der zweiten Hauptoberfläche des Halbleiterplättchens befestigtes, zwischen diesem und der
Platte angeordnetes Zwischenstück mit einer größeren Wärmeleitfähigkeit als Luft; und
e) eine zwiscnen dem Zwischenstück und der Hauptoberfläche
der Platte angebrachte Schicht aus Lötwerkstoff.
Nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist eine
Halbleitervorrichtung aus wenigstens einem Halbleiterplättchen mit zwei Hauptoberflächen, auf deren einer eine Mehrzahl von
Elektroden angebracht ist, und einer Trägerunterlage mit einer Mehrzahl von leitenden Flächenteilen in Anordnung entsprechend
den Elektroden vorgesehen, wobei die Elektroden des
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ßAD ORIGINAL
HalbleiterpXättohens mit den leitenden Schichten der SDrägerunterlage
durch Fläehe-an-Fläche-VetsMisä.tifig verbund enjsind,
und äieee Vorrichtung weist das Hec3£gjc-1. auf, daß ein
Ableitkörpes (©rwüüschterweise aus ainesa Werkstoff mit
einer größeren Wärmeleitfähigkeit; &leSuft) an einer anderen
HauptoberfläeJae (Rückseite) des Halüleiterplättchens über
ein Zwißeh98gtück mit einer größeren Wärmeleitfähigkeit als
Luft, wie s.B. Teilchen oder kleinen Stücken aus Metall
verbunden ist.
Daher läßt sich zusätzlich zu dem Wärmeleitweg von den Elektroden des Halbleiterplättchens zur Unterlage ein weiterer
Wärmeleitweg (der Weg von der Rückseite des Halbleiterplättchens zum Wärmeableitkörper durch das Zwischenstückmaterial) zwecks Ableitung der in dem Halbleiterplättchen
erzeugten Wärme auf Grund dieses Aufbaues schaffen, der Wärmewiderstand läßt sich so senken, und der dann auftretende
Fehler, wenn ein Halbleiterplättchen mit einem großen Wärmeentwicklungswert nach der Flächenverbindungstechnik
an einer Unterlage befestigt wird, läßt sich vermeiden. So läßt sich die tatsächliche Einrichtungsdichte
des Halbleiterplättchens in dem Kasten verringern, und die
Integraldichte der Schaltkreiselemente im Halbleiterplättchen läßt sich gleichzeitig verbessern.
Die Merkmale und Vorteile der Erfindung sollen anhand der
in der Zeichnung veranschaulichten Ausführungsbeispiele näher erläutert werdenj darin zeigen:
Fig. 1 einen Schnitt durch eine integrierte Schaltkreisvorrichtung
gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung^
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ORIGINAL
Fig, 2 einen Schnitt durch, eine integrierte Schaltkreis-Torrichtung
nach einem gegenüber der Pig. 1 modifizierten Ausführungsbeispielj
Pig. 3 einen Schnitt durch ein Halbleiterplättchen zur
Erläuterung des Anbringungsvorganges des HaIbleiterplättchens
nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Pig. 4a eine AufBicht und 4b eine Schnittansicht nach der
linie IYb-IVb in Pig. 4a eines Halbleiterplättchena
zur Erläuterung des AnbringungsVorganges des Halbleiterplättchens nach einem anderen Ausführungebeispiel
der Erfindung;
Pig·5a und 5b Sohnittansichten zur Darstellung einer «raten
und einer zweiten Ausführungsart des Warmeableitkörperbefe&tigungsaufbaues
nach der Erfindung;
Pig· 6a und 6b Sohnittansichten von Ausführungsbeispielen je einer Abwandlung eines Zwischenstückes;
Pig. 7a und 7b Schnittansichten einer Plächenverbindunga-Integriertaciialtkreisvorrichtung
nach noch einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung; und
Fig. 8 einen Schnitt durch einen Wärmeableitkörperaufbau nach einem anderen Ausführungsbeispiel der
Erfindung.
In Pig. 1 ist ein Fall einer integrierten Schaltkreis-Vorrichtung entsprechend einem Ausführungsbeispiel der Erfindung
dargestellt· In einem Kasten aus einem keramischen Bodenteil 1, einem auf dem Bodenteil 1 angeordneten keramischen
Bahnen 2 und einem am Rahmen 2 mittels einer Schicht aus lötwerkstoff 14 befestigten Deckel 3 ist eine keramische
Unterlage 4- eingeschlossen, und eine Mehrzahl von leitenden
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Flächenteilsn 8a, 8b, 8c und 8d ist auf einer Hauptoberfläche
der Unterlage 4 angebracht. Halbleiterplättohen 5a und 5b mit zwei Hauptoberflächen und einer Mehrzahl von
Elektroden 6a, 6b, 6c und 6d auf einer dieser Oberflächen sind der Haupt oberfläche der Unterlage 4 gegenübergestellt,
wobei die eine Hauptoberfläche nach unten gerichtet ist,
und die Elektroden sind mit entsprechenden leitenden Flächen·*
teilen elektrisch verbunden. Kugelförmige Metallzwischenstücke 7a und 7b sind mittels der lötwerkstoffe 11a und 4i*b
an der Rückseite jedes Halbleiterplättehens befestigt, und
ein Seil jedes kugelförmigen Zwischenstückes ist mit eine:?
Schicht aus lötwerkstoff 12 bedeckt, die auf der Innenwand des Deckels 3 angebracht ist, damit dieser als Wärmelsitkörper~wirkt,
wie Fig. 1 zeigt. Eine lötwerkstoffschicht
und Zuführungen 10a und 10b, die sich durch die lötwerkstoff
schicht 13 erstrecken, sind zwischen dem Rahmen 2 und dem Unterteil 1 esgeortost. Die leitenden Flächenteile 8a und 8d
in dem Kasten sind über feine Drähte 9a und 9b elektrisch mit den Zuführungen 10a und 10b verbunden.
Natürlich kann lediglich ein Ssaneiator in dem Halbleiterplättchen
enthalten sein, doch können sich darin auch eine Kombination von zwei oder mehr Schaltkreiselementen, wie
Transistor, Diode, Widerstand und Kondensator darin befinden. Auch können Filmwiderstände oder Filmkondensatoren
in der gleichen Weise, wie die leitenden Flächfenteile erzeugt sind, nach der bekannten Takuumverdampfungs- oder Fotoätztechnik
auf der Unterlage 4 erzeugt werden. Die Zwischenstücke 7a und 7b bestehen aus einem festen Werkstoff, der
bei der Temperatur, wo der Lötwerkstoff 12 schmilzt, nicht schmilzt, um seine vorher gefertigte Form beizubehalten^
und z. B. verwendet man hierzu Cu-Kugeln. Der keramische Unter-
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teil 1 und die keramische unterlage 4 sind getrennt hergestellt, and ihre leitenden Zonen sied durch Zuführungsdr
ähte 9a und 3d verbunden. Ta nach den Umständen können
jedoch die leitenden i*läeh#»teile auf der Unterlage 4
direkt mit den Zuführungen 10a und 10b verbunden werden,
wo die Zuführungsdrähte 9a und 9b nicht unbedingt erforderlich
sind.
Der Zusammenbau des bevorzugten Ausführungsbeispiels läßt sich wirksam z. B., wie folgt, durchführen.
(1) Durch lötwerkstoffmengen 11a, 11b mit einem verhältnismäßig
hohen Schmelzpunkt werden die Cu-Kugeln 7a, 7b auf den rückwärtigen Oberflächen der Halbleiterplättchen 5a und 5b
entgegengesetzt zu den Oberflächen befestigt, wo die Elektroden 6a, 6b, 6c und 6d ausgebildet sind,
(2) Die Lage der Hehrzahl von Elektroden jedes der Halbleiterplättchen ist auf eine bestimmte Stellung der
entsprechenden leitenden Flächenteile auf der Unterlage 4
festgesetzt, und sie werden daran nach der Ultraschall-Schweißtechnik befestigt. Neben dieser Ausführungsart kann eine
solche Terbindung nach verschiedenen Arten der JPlächenverbindungstechnik
ausgeführt werden, bei der die Verbindung ausgeführt wird, indem man die Oberfläche, an der die
Elektroden angebracht sind, und die Unterlage aufeinanderlegt, z. B. nach einem Verfahren unter Verwendung von Lötwerkst
offkugeln, einem Verfahren unter Verwendung von Sockeln
oder einem Verfahren unter Verwendung von Strahlenzuführungen.
(3) Der Bahmen 2 wird auf einer Oberfläche dee Bodenteils
1 angeordnet, wo die Schicht 13 aus Lötwerkstoff oder
einem Verbindungsmittel zwischen ihnen zusammen mit den Zu- .
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führungen 10a und 10fe eingebracht werden. Metallisierte
Schichten 15» 14 werden in der VertJLifting dee Bodenteile
1 und eiern oberen Seil dee B&hmmB 2 gebildet«
(4) Die Unterlage 4 wird Über lic; metallisiert*
Schicht 15 als Terbindungsschicfct em Boden der Vertiefung
dee Easten&odenteils 1 befestigt»
(5) Me leitenden Plächenteile 8a und 8d der Unterlage
und die nach außen führenden Zufuhrungsdrähte 10a und 10b,
die sich zwischep dem Rahmen 2 und dem Bodenteil 1
erstrecken, werden jeweils mit Zuiührungsdrähten 9a und 9b eines Durchmessers von etwa 25 bis 38 /U verbunden.
(6) Der Lötwerkstoff 12 mit einem verhältnismäßig
niedrigen Schmelzpunkt wird auf einer Oberfläche des Deckels 3 angebracht, der Deckel wird auf einem Halter mit
der Oberfläche nach oben angeordnet, und dann wird der gemäß dem Verfahrensschritt (3) vorbereitete Bodenteil 1 auf
den Deckel 3 aufgesetzt. Der Lötwerkstoff 12 schmilzt bei einer niedrigeren Temperatur als die Schmelzpunkte
der lötwerkstoffe 11a und 11b und der Elektroden, die kugelförmigen
Zwischenstücke auf den rückwärtigen Oberflächen der Halbleiterplättchen werden mit dem geschmolzenen Lötwerkstoff
12 in Berührung gebracht, und andererseits wird der Eahmen 2 auf den Umfang des Deckels 3 ausgerichtet.
Dabei kann die Abdichtung des Kastens auch durchgeführt werden, indem man gleichzeitig die metallisierte Schicht
auf der oberen Oberfläche des Rahmens 2 schmilzt, wenn der Lötwerkstoff 12 geschmolzen wird.
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(7) Sann wird durch. Erstarrung des geschmolzenen lötwerkstoff B eine gewünschte integrierte Schaltkreisvorrichtung
vollendet. In einer solchen Halbleitervorrichtung addiert sich ein Wärmeleitweg von der Rückoberfläche des Halbleiterplättohens zum Deckel 3 zu dem Wärmeleitweg von den HaIbltierplättchen 5a und 5b durch die Elektroden zur keramischen
Unterlage 4, so daß die Wärmeableitung erleichtert wird und "san eine wirksame Plächenverbindungs-Halbleitervorriehtung
erhalten kann. Allgemein tritt jedoch, wenn das Halbleiterplättchen direkt am Wärmeableitkörper befestigt wird oder man
eine dünne Lötwerkstoffschicht zwischenfügt, eine Gefahr
auf, daß das Halbleiterplättchen auf Grund einer mechanischen
Beanspruchung oder einer Wärmebeanspruchung beschädigt wird, die auf das Plättchen über den Wärmeableitkörper oder
Deckel von außen einwirkt, doch im Fall vorliegender Erfindung sind die Zwischenstücke 7a, 7b zwischen den Halbleiterplättchen
und dem Wärmeableitkörper oder dem Deckel 3 angebracht, so daß diese Gefahr fast überhaupt nicht auftritt. Wenn nämlich,
z. B. ein Wärmeableitkörper direkt an die Rückseite eines Halbleiterplättohena angelötet wird, besteht die Möglichkeit, daß dm« Halbleiterplättchen zerbricht, falls eine
Biegebeanaprucliung durch eine äußere Kraft entweder während
des Zusammenbaues oder nach der Fertigstellung darauf einwirkt, da die Dicke des Halbleiterplättchens meistens zwischen
100 und 300 /U liegt. Außerdem treten dabei viele Nachteile
auf, die den Zusammenbauvorgang schwierig machen, da der
Abstand zwischen der Unterlage und dem Wärmeableitkörper gering ist und die Gefahr besteht, daß beim Verlöten des Halbleiterplättchen· alt dem Wärmeableitkörper der Lötwerkstoff
mit dem VerdrehtungBweg der Unterlage an der Seite des
dünnen Plättchens in Berührung kommt oder ein unvollkommener
Eontakt zwischen dem Plättchen und dem Wärmeableitkörper
auftreten kann, und diese Nachteile werden zu einem ersten
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Problem, wenn der Wärmeableitkörper groß ist, eine Vielzahl von Halbleiterplättehen mit einem Wärmeableitkörper
verbunden wird oder viel lötwerkstoff zwischen dem HaIbleiterplättchen
und dem Wärmeableitkörper verwendet -werden
muß. Im Gegensatz dazu wird erfindungsgemäß das Zwischenstück von etwa der gleichen Sicke wie die Breite des
Halbleiterplättchens zwischen dem Halbleiterplättchen und
dem Wärmeableitkörper eingefügt, so daß die mechanische Festigkeit des Plättchens durch das Zwischenstück wes^atlich
verstärkt wird und ein Zerbrechen des Plättchens nicht nur während des Zusammenbaues, sondern auch nacn der Fertig»
stellung verhindert werden kann· Besonders ergibt sion dabei
der Vorteil, daß der Lötvorgang zwischen dem Deckel und dem Zwischenstück erleichtert wird, da der Abstand zwischen
der unterlage und dem Wärmeableitkärper durch das Zwischens¥l8k
gröBer gesacfet werden kann. Auoh läßt sich., selbst,
wenn eine erheblich groß® Menge ¥on lötwerkstoff beim Verlöten
des Halbleiterplättehens mit &m Zwischenstück oder
des Zwischenstücks mit Sem Wärmeafoleitkörper verwendet
wird, der Fluß von !lötwerkstoff an der Seitenfläche
des Zwischenstückes abfangen, da das Zwischenstück von
kugelförmiger Gestalt nicht aehnilzt, und die Probleme eines Kurzschlusses zwischen dem lötwerkstoff 12 und den leitenden
Flächenteilen an der Unterlage sowie eines unvollkommenen Eontakts zwischen dem Zwischenstück und dem Wärmeableitkörper
lassen sich so vermeiden.
Es soll nun ein weiteres verbessertes Ausführungsbeispiel der Erfindung im einzelnen beschrieben werden.
Im Fall sines Halbleiterplätteiiene mit einer großes Bau.ptoberflache
im Vergleich zu seiner Dicke, wie z. B. insbesondere eines Plättchens für eine integriert© Schaltung-.,
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es erwünscht, vorher ein STwlschenstück auf der Rückseite des
Plättchene anzubringen, W das Zerbrechen des Plättchens
auf Grund einer äußeren Kraft beim Befestigen des Plättchens an der unterlage su verhindern, und dafür läßt sich das
folgende Verfahren anwenden« Die Tielzahl von Zwischenstücken
wird auf einer Halbleiterwaffel toc großer !fläche unter
Festlegung ihrer Stellung mittels einer Einspannvorrichtung (Schablone) befestigt, und danach wird die Waffel zerschnitten,
um die einzelnen Plättchen zu erhalten} dieses Verfahren ist in industriellem Maßstab anwendbar. Bei einem
anderen industriellen Verfahren wird das Zwischenstück auf der ganzen Oberfläche der Halbleiterwaffel angebracht
und gleichzeitig dann mit durchgeschnitten, wenn die Waffel in einzelne Plättchen zerschnitten wird, so daß man eine
Mehrzahl von Plättchen erhält, auf deren Bückseiten Zwischenstücke
angebracht sind.
Wenn ein Teil des Kastens als Wärmeableiter wirkt und.
die Stellung relativ zum Halbleiterplättchen festgelegt ist,
wie Fig. 1 zeigt, wird der Abstand zwischen der Rückseite des Plättchens und dem Wärmeableitkörper durch die Sicke der
Unterlage und des Kastenrahmens bestimmt. Es ist industriell schwierig und nicht erwünscht, die Genauigkeit des Abstandes
extrem in die Höhe zu treiben. Außerdem ist die Dicke des an einzelnen Plättchen befestigten Zwischenstücks nicht fest
bestimmt. Da die Abstände zwischen den Zwischenstücken und den Deckeln bei den einzelnen Plättchen nicht konstant sind,
besteht die Gefafcr, daß 4er Deckel in direkte Berührung mit
dem Zwischenstück kommen könnte und daher eine äußere Kraft
auf ein Plättchen einwirken müßte. Daher ist, wie Pig. 2 zeigt, in der für gleiche Teile die gleichen Bezugszeichen
wie in Fig. 1 verwendet sind, die Höhe h des Zwischenstücks 7b etwas kleiner als der Abstand H zwischen der Rückseite des
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Plättchens 5b und dem Wärmeableitkörper 5 gemacht, damit
keine direkte Berührung zwischen dem Zwischenstück 7b und dem Wärmeableitkörper 3 auftritt. Man kann dann durch
Ausfüllen des Baumes mit einer Menge von Lötwerkstoff 12 vermeiden, daß die auf den Deckel oder den Wärmeableitkörper
während des Zusammenbaues ausgeübte Kraft direkt auf das Halbleiterplättchen einwirkt. Es ist ein Merkmal dieses
Ausführungsbeispiels, daß dabei der eine Vertiefung aufweisende Wärmeableitdeckel 3 als WÄrmeableitkörper verwendet wird.
Das Herstellungsverfahren ist das gleiche wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel, doch es tritt hierbei nicht die Gefahr
auf, daß der Lötwerkstoff 12 bis zu dem Verdrahtungsteil an der Unterlage 4 vordringt, selbst wenn eine ausreichend
große Menge von Lötwerkstoff verwendet wird, da die Zwischenstücke 7a und 7b zwischengefügt werden, und so läßt eich
eine sehr einfache und wirksame Verbindung herstellen.
Wenn die Dicke des Zwischenstücks größer als der Abstand zwischen dem Plättchen und dem Deckel ist, wird ein Teil des
Zwischenstückes z. B. mittels Abschleifens entfernt, um seine Dicke geringere als diesen Abstand zu machen, bevor der
Wärmeableitkörper, d. h. der Deckel befestigt wird, und dann wird das Zwischenstück verwendet.
Was die Form des Zwischenstücks angeht, so lassen sich eine Form wie die schon beschriebene Kugelform, die Form
eines Kegels, einer Scheibe^oder einer Halbkugel und verschiedene
andere Formen verwenden, doch unter Berücksichtigung der Leichtigkeit der Herstellung und der Verbindung
mit einem rechteckigen Plättchen ist eine Kugelform, Scheibenform oder Halbkreis form für das Zwischenstück sehr vorteilhaft.
Wenn ein kugelförmiges Zwischenstück verwendet wird, macht man seinen Durchmesser nahezu gleich der größten Breite des
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Halbleiterplättchens oder etwas geringer, da es erwünscht
ist, bei der Verbindung zwiscnen dem Zwischenstück und dem Plättchen mittels einer großen Menge von lötwerkstoff eine
große Berührungsfläche zu erhalten, um eine bessere Wärmeableitung zu ermöglichen. Wenn jedoch der Durchmesser zu
klein ist, konzentriert sich die vom Deckel übertragene äußere Kraft auf einen Punkt der Halbleiterplättchenoberfläche, weshalb der Durchmesser vorzugsweise größer als
die kleinste Breite des Halbleiterplättchens gemacht werden sollte, um eine solche Situation zu vermeiden. Wenn das
Zwischenstück mit der Rückfläche des Halbleiterplättchens verlötet wird, saugt sich der Lötwerkstoff in den Raum
zwiscnen dtm kugelförmigen Zwischenstück und der Rückfläche des Halbleiterplättchens, und es wird vermieden, daß der
Lötwerkstoff zur Seitenfläche des Plättchens fließt, indem aan den Durchiieseer in der beschriebenen Weise festlegt.
Beim vorstehenden Ausführungsbeispiel wird das Zwischenstück durch Anlöten eines vorgeformten Körpers an der Rückseite
des Plättohene hergestellt, doch nach einem anderen Verfahren
wird eine Metallschicht auf der Rückseite des Plättchens durch Vakuumverdampfung, Plattierung oder Ankleben erzeugt,
und auch die so erhaltene Metallschicht läßt sich als Zwischenstück verwenden. Ss ist zweckmäßig, die Rückseite
des Plättchens nach einem Verfahren wie Plattieren oder Verdampxen vorher zu metallisieren, um das Verlöten des
Zwischenstücks mit der Unterlage zu erleichtern, oder eine Isolierschicht, z. B. aus SiO2 oder Si,S., am Umfang des
Plättchens anzubringen, um das Abfließen des Lötwerkstoffs zu verhindern. Der Schmelzpunkt des Verbindungswerkstoffs, der
bei dem jeweiligen Verbindungsvorgang verwendet wird, sollte in Abhängigkeit von der Reihenfolge der Verbindungsvorgänge
festgelegt werden, und es ist natürlich vorteilhaft, den
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Schmelzpunkt des Werkstoffes, der beim letzten Verbindungsvorgang
verwendet wird, als niedrigsten zu wählen. Insbesondere der Schmelzpunkt des lötwerkstoffee, der an der
inneren Oberfläche des Deckels verwendet wird, sollte zweckmäßig niedriger als der Schmelzpunkt des Metalls sein,
aus dem die Elektrode des Halbleiterplättchens gemacht ist. Das in Pig. 3 gezeigte Verfahren ist für die Ausführung
der Flächeηverbindung des Halbleiterplättchens mit der Unterlage
vorteilhaft. Das heißt, dieses Verfahren ist günstig anwendbar, wenn das Zwischenstück etwas kleiner als die
kleinste Breite des Halbleiterplättchens ist. Das Zwischenstück 7a wird in einem Loch einer Yakuumeinspannvorrichtung
30 angeordnet, und die Seitenflächen des Plättchens werden von der Einspannvorrichtung gehalten. Dann werden
die Elektroden 6a und 6b des Plättchens 5a ait den entsprechenden
leitenden Flächentellen 8a und 8b an der Unterlage 4
nach dem bekannten Verfahren verbunden· Des in den flg. 4a
und 4b gezeigte Verfahren ist zweckmäßig «nwendbar, wo die
Abmessung des Zwischenstücks 14 nahezu gleich oder etwas größer als die geringste Breite des Plättchens 40 ist, und
bei einem solchen Verfahren wird das Plättchen 40 in einer
bestimmten Stellung auf der ünterlagenoberfläche angeordnet,
indem man da· Plättchen an den Seiten aittele
Träger 42a, 42b hält. In den Fig. 3, 4a und 4b sind für gleiche Teile gleiche Bezugsziffern wie in Fig. 1 verwendet.
Dieses Verfahren hat den Vorteil, daß kein Problem des Zerbrechens des Plättchens beim Hantieren gemäß diesen Fig. 3,
4a und 4b auftritt, da das Zwischenstück vorher mit dem Halbleiterplättchen verbunden und das Halbleiterplättchen
so verstärkt wird. Die Lehre nach der Erfindung bedeutet, daß dieses Verfahren vorteilhaft bei einem Halbleiterplättchen
von großer Fläche, z. B. einem integrierten Schaltungsplättehen anwendbar ist, das leicht brechen könnte, wenn man
kein Zwischenstück verwendete.
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Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel nach, der Erfindung,
das in Fig. 5a dargestellt^ ist (wobei wiederum gleiche
Teile wie in Fig. 1 gleiche Bezugszeichen tragen), ist ein Wärmeableitkörper 51 im Kasten getrennt vom Deckel 3 vorgesehen
und dazu so klein, daß er sich im Kasten unterbringen läßt, wo er sich im wesentlichen parallel zum Deckel 3
erstreckt. Dabei beginnt der Wärmefluß vom Zwischenstück aus, geht leiciit zu diesem Wärmeableitkörper über und wird von der
gesamten Oberfläche des Wärmeableitkörpers auf den Deckel übertragen, so daß die Wärmeableitfunktion weiter verstärkt
ist, da die Fläche des Deckels groß ist. Um die Wärmeableitfunktion
weiter zu fördern, bringt man zwischen dem Deckel und dem Wärmeableitkörper etwas elastisches Material 52 mit einer
größeren Wärmeleitfähigkeit als der von Luft (ζ. Β. Silicongummi,
Schaumharz oder ein durch Mischen von Pulver eines Materials mit guter Wärmeleitfähigkeit, wie Metall, Berylliumoxyd
oder Aluminiumoxydkeramik mit Silicongummi oder Schaumharz hergestelltes Material) an. Die Wärmeableitfunktion
kann auch dadurch erleichtert werden, daß man ein flüssiges Füllmaterial, wie Siliconöl in den Kasten einbringt. In
Fig. 5b (in der gleiche Bezugszeichen gleiche Teile wie in Fig. 5a bezeichnen) bedeutet die Bezugsüiffer 53 einen
stoßdämpfenden Teil, der am Umfang des Wärmeleitkörpers 3 ausgebildet ist. Die Wärmebelastung, die durch die Differenz
der Wärmeausdehnungskoeffizienten hervorgerufen wird, wird durch den stoßdämpfenden Teil 53 aufgenommen, und außerdem
kann auch ein elastisches Material 52 diese Belastung abfangen.
Ein weiteres Ausführungsbeiapiel bezieht sich auf einen
verbesserten Aufbau, bei dem ein Wärmeableitmaterial mit der Funktion der Wärmebelastungsaufnahme als Zwischenstück 60
verwendet wird, wie Fig. 6a zeigt, und beispielsweise ist ein
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scheiben- oder kugelförmiges Zwischenstück aus Metall,
wie Schwammetall, Weichmetall oder aus dem genannten elastische Material hierfür zu empfehlen. Veiter kann man auch ein
Zwischenstück verwenden, das aus einem mehrfach abgebogenen elastischen Körper 62 besteht, wie in Pig. 6b gezeigt
ist. Nach, einem solchen Verfahren kann die Wärmebelaetung
in verschiedenen Richtungen aufgefangen werden. In der Fig. 6a bedeuten die Bezugsziffern 61a und 61b metallisierte
Schichten, die auf der Oberfläche des Zwiechenetückmaterials
ausgebildet sind und die Verbindungen des Zwischenstücks
mit dem Wärmeableitkörper 3 und dem Halbleiterplättchen 5a
erleichtern. Eine der Verbindungen des Zwischenstücks mit dem Wärmeableitkörper oder dem Halbleiterplättchen kann auch
durch Druckkontakt hergestellt werden. Dabei ist es zweckmäßig, zwischen den Berührungszonen ein weiches Klebeeaterial,
wie z.B. Pb, In oder ein flüssiges Material, wie Siliconeöl anzubringen, um den Wärmewiderstand an der Berührungezone
zu verringern. Weiter läßt sich die Verbindung auch durch teilweises Schmelzen oder andere Wärmebehandlung eines Teils
des Zwischenstücks, und zwar des den Wärmeableitkörper berührenden
Teils herstellen, indem man Wärme einwirken läßt, um einen Eontakt zwischen dem Deckel und dem Kaetenrahmen
herzustellen. Aufmerksamkeit muß hierbei auf die Tatsache gelenkt werden, daß es notwendig ist, die Deformation auf ein
solches Ausmaß zu beschränken, daß das Zwischenstück im wesentlichen
den Zustand und die form von vorher beibehält, ohne daß ein größerer Teil oder das ganz« ZwIechenetückmattrial
schmilzt.
Noch ein weiteres Aueführungebeispiel der Erfindung bedeutet eine zusätzliche Verbesserung, wonach das Halbleiterplättchen
und seine Verbindungezone nicht zerbrechen, atlbst wenn der Wärmeausdehnungskoeffizient des Zwischenstücke ver-
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hältnismäßig groß ist. In Pig. 7a hat das Halbleiterplättchen 5a
Elektroden 70a und 70b, die von der Oberfläche des Halbleiter plättchens parallel zu dieser und über ihren Umfang
herausragen. Jede Elektrode umfaßt einen Zweischichtaufbau
aus z. B. Pt-Au und ist eine strahlenförmige Zuführung
mit Abmessungen von etwa 50 /U Breite, 10 bis 20 /U Sicke
und 200 /U lange. Das Verfahren zur Herstellung einer
Strahlenzuftthrungs-Halbleitervorrichtung ist in Fachkreisen
an sich bekannt. Bas Zwischenstück 7a wird mit der Rückseite des Halbleiterplättchens 5a verbunden. Fig. 7b gibt eine
Barstellung des Hauptteils einer unter '^rwendung des Halbleiterplättchens 5a hergestellten Halbleitervorrichtung, wo
die strahlenförmige Elektrode 70a mit einer Verdrahtung öa an einer weit genug außerhalb der Elektrodenverbindungszone
des Halbleiterplättchens 5a (Umfang des Halbleiterplättchens 5a) befindlichen Stelle verbunden ist. Bas Zwischenstück 7a
ist mit dem Wärmeableitkörper 3 durch den Lötwerkstoff 12 la Kasten verbunden. Bie Wärmebelastung, insbesondere des
Zwischenstücks 7a, wird beim Zusammenbau oder im Betrieb durch die Zuführungen 70a und 70b aufgenommen.
Fig. 8 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei dem ein keramischer Werkstoff als Wärmeableitkörper 80 verwendet ist, um
seinen Wärmeausdehnungskoeffizienten in Obereinstimmung mit
dem Wärmeausdehnungskoeffizienten eines keramischen Rahmens zu bringen. Was das keramische Material betrifft, so ist hier
tin Werkstoff alt guter Wärmeleitfähigkeit, wie Berylliumoxyd erwünscht. Metallisierte Schichten 81 und 82 sind auf der
Oberfläche des keramischen Wärmeableitkörpers ausgebildet, üb ein Löten bei diesem Aufbau möglich zu machen. Eine
metallisierte Schicht 83 ist auch auf der oberen Fläche des Rahmens 2 angebracht.
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Bei eise» anderen Verfahren zur elektrischen Isolierung zwischen dem Halbleiterplättchen und dem Deckel wird
zweckmäßig eine Isolierschicht, wie z. B. SiO2 oder Si,N4
auf der Rückoberflache des Halbleiterplättchens angebracht,
und dabei kann eine metallisierte Schicht auf dieser Schicht erzeugt werden, um die Befestigung des Zwischenstücks
zu erleichtern. Es ist vorteilhaft, die ganze Oberfläche des
Halbleiterplättchens mit einer Isolierschicht abzudecken, um einen stabilen Betrieb der Schaltkreiselemente im Plättchen zu
sichern.
Um eine Halbleitervorrichtung für ultrahohe Frequenz vorzusehen,
kann man eine Streifentypübtrtragungslinie aufbauen,
die den leitenden Flächenteil auf der Unterlage und den Deckel oder den Wärmeableitkörper umfaßt, indem man den
Erdanschluß im Halbleiterplättchen mit dem Deckel oder dem Wärmeableitkörper verbindet.
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Claims (8)
- Patentansprüche1J Halbleitervorrichtung, gekennzeichnet durcha) eine Unterlage (4) mit einer isolierenden Hauptoberfläche und einer auf dieser angebrachten Mehrzahl von leitenden Flächenteilen (8a bis 8d);b) ein Halbleiterplättchen (z. B. 5a) mit einer ersten und einer zweiten Hauptoberfläche und einer auf der ersten, der Hauptoberfläche der Unterlage zugewandten Haupt oberfläche angegrauten Hehrzahl von mit den zugehörigen leitenden Flächenteilen verbundenen Elektroden (z. B. 6a, 6b);c) eine Platte (z. B. 3) mit einer gegenüber der zweiten Hauptoberfläche größeren und dieser zugewandten Hauptoberfläche in einem bestimmten Abstand vom Halbleiterplättchen ;d) ein an der zweiten Hauptoberfläche des Halbleiterplättchens befestigtes, zwischen diesem und der Platte angeordnetes Zwischenstück (z. B. 7a) mit einer größeren Wärmeleitfähigkeit als Luitf unde) eine zwischen dem Zwischenstück und der Hauptoberfläche der Platte angebrachte Schicht (12) aus lötwerkstoff.
- 2. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Unterlage (4) am Bodenteil (1) eines Kastens (1, 2) mit einer durch die Platte (3) verschlossenen Öffnung angeordnet ist.0 0 9 8 13/1213
- 3. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die am Halbleiterplättchen (5a) angebrachten Elektroden (70a, 70b) über dessen Umfang parallel zu seiner ersten Hauptoberfläche hinausragen und an ihrem freien Ende mit den leitenden Flächenteilen (8a, ob) auf der Unterlage (4) verbunden sind.
- 4. Halbleitervorrichtung nach Anspruch !,dadurch gekennzeichnet, daß das Zwischenstück (z. B. 7a) kugelförmig und aus Metall ist.
- 5. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Zwischenstück (z. B. 60) aus Isolierstoff ist.
- 6. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Zwischenstück (z. B. 62) elastisch ist.
- 7. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß mana) eine Unterlage mit einer isolierenden Hauptoberfläche und einer auf dieser angebrachten Mehrzahl von getrennten leitenden Flächenteilen schafft;b) auf die isolierende Hauptoberfläche eine erste Hauptoberfläche eines Halblelterplättchens mit einer ersten und einer zweiten Hauptoberfläche und einer auf der ersten angebrachten Mehrzahl von Elektroden auflegt und dadurch die leitenden Flächenteile mit den zugehörigen Elektroden verbindetjc) an der zweiten Hauptoberfläche des Halbleiterplättchens ein Zwischenstück mit einer größeren Wärmeleitfähigkeit als luft befestigt!009813/1213d) eine Platte auf einer gegenüber der zweiten Hauptoberfläche größeren Hauptoberfläche mit einer Schicht aus JDötwerkstoff versieht?e) die Schicht aus Lötwerkstoff zum Schmelzen bringt; undf) die Platte unter Herstellung eines Eontakts zwischen dem Zwischenstück und der geschmolzenen Schicht aus Lötwerkstoff über der Unterlage anordnet.
- 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß man die Unterlage im voraus am Bodenteil eines Kastens mit einer öffnung befestigt und die öffnung mittels der Platte abdichtet, wenn der Lötwerkstoff und das Zwischenstück in Kontakt kommen·0 0 9 8 13/1213Leerseite
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US10403594B2 (en) * | 2018-01-22 | 2019-09-03 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Hybrid bonding materials comprising ball grid arrays and metal inverse opal bonding layers, and power electronics assemblies incorporating the same |
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- 1969-09-10 DE DE19691945899 patent/DE1945899B2/de not_active Withdrawn
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