Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

DE102011085555A1 - Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung - Google Patents

Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung Download PDF

Info

Publication number
DE102011085555A1
DE102011085555A1 DE102011085555A DE102011085555A DE102011085555A1 DE 102011085555 A1 DE102011085555 A1 DE 102011085555A1 DE 102011085555 A DE102011085555 A DE 102011085555A DE 102011085555 A DE102011085555 A DE 102011085555A DE 102011085555 A1 DE102011085555 A1 DE 102011085555A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
resistor
bridge circuit
resistance value
variable
tolerance range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102011085555A
Other languages
English (en)
Inventor
Ingo Herrmann
Roland Mueller-Fiedler
Veronique Krueger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE102011085555A priority Critical patent/DE102011085555A1/de
Priority to EP12769964.3A priority patent/EP2773971A1/de
Priority to CN201280053659.2A priority patent/CN104024870B/zh
Priority to PCT/EP2012/067374 priority patent/WO2013064294A1/de
Priority to US14/353,758 priority patent/US9568523B2/en
Publication of DE102011085555A1 publication Critical patent/DE102011085555A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R17/00Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
    • G01R17/10AC or DC measuring bridges
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C10/00Adjustable resistors
    • H01C10/16Adjustable resistors including plural resistive elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Messbrückenschaltung (100), mit einem ersten und zweiten Ast. Im ersten Ast sind ein erster messgrößensensitiver Widerstand (R2(x)) und ein unveränderlicher Widerstand (Rfix,1) in Reihe geschaltet, wobei zwischen dem ersten messgrößensensitiven Widerstand (R2(x)) und dem unveränderlichen Widerstand (Rfix,1) eine erste Abgriffstelle (104) angeordnet ist. Im zweiten Ast ist ein zweiter messgrößensensitiven Widerstand (R1(x)) und eine variable Widerstandsanordnung (102) in Reihe geschaltet. Die Variable Widerstandsanordnung (102) weist ein erstes Bauelement (Rfix,2) mit einem unveränderlichen elektrischen Widerstandswert und ein zweites Bauelement (M) mit einem veränderbaren elektrischen Widerstandswert auf, wobei das zweite Bauelement parallel zu dem ersten Bauelement (Rfix,2) geschaltet ist, um einen elektrischen Gesamtwiderstandswert der Widerstandsanordnung (102) zu variieren. Zwischen dem zweiten messgrößensensitiven Widerstand (R1(x)) und der Widerstandsanordnung (102) ist eine zweite Abgriffstelle (106) angeordnet. Der erste Ast und der zweite Ast sind parallel geschaltet. Zwischen der ersten Abgriffstelle (104) und der zweiten Abgriffstelle (106) ist ein Messinstrument anordenbar.

Description

  • Stand der Technik
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine variable Widerstandsanordnung, auf eine Messbrückenschaltung, auf ein Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung sowie auf ein entsprechendes Steuergerät und Computerprogrammprodukt.
  • In einer Schaltung, die auf dem elektrischen Gleichgewicht in beispielsweise zwei Strängen basiert, ist aufgrund von Bauteiltoleranzen und Fertigungstoleranzen eine Möglichkeit zum Justieren des Widerstands zumindest eines der Stränge erforderlich. Beispielsweise können mittels irreversiblen Justierverfahren, wie Laser-Trimmung oder Zener-Zapping einzelne Widerstände einer kaskadierten Anordnung von Widerständen überbrückt oder kurzgeschlossen werden, um einen resultierenden Widerstand der Anordnung anzupassen. Bei einer Störung des Gleichgewichts, beispielsweise aufgrund von Bauteilalterung in den Strängen ist ein erneutes Justieren erforderlich. Dazu kann die kaskadierte Anordnung ausgetauscht und justiert werden.
  • Eine Einrichtung zum Abgleich von Sensorsignalen ist aus der DE 4 115 288 A1 bekannt.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Vor diesem Hintergrund wird mit der vorliegenden Erfindung eine variable Widerstandsanordnung, eine Messbrückenschaltung, ein Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung sowie schließlich ein entsprechendes Steuergerät und Computerprogrammprodukt gemäß den Hauptansprüchen vorgestellt. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den jeweiligen Unteransprüchen und der nachfolgenden Beschreibung.
  • Die Erfindung basiert auf der Erkenntnis, dass ein Memristor einen eingeschriebenen elektrischen Widerstandswert speichern kann, solange der Memristor oberhalb einer Grenzfrequenz und/oder unterhalb einer Grenz-Stromstärke betrieben wird. Der elektrische Widerstandswert kann vergrößert oder verkleinert werden, wenn der Memristor mit einem Strom unterhalb der Grenzfrequenz und/oder oberhalb der Grenz-Stromstärke bestromt wird. Eine Schaltung mit einem Memristor kann zum Kalibrieren der Schaltung unterhalb der Grenzfrequenz und/oder oberhalb der Grenz-Stromstärke betrieben werden. Die Schaltung mit dem Memristor kann im Betrieb oberhalb der Grenzfrequenz und/oder unterhalb der Grenz-Stromstärke betrieben werden und die Kalibrierung bleibt erhalten.
  • Vorteilhafterweise kann ein einzelner Memristor, der eine geringe Fläche belegt, eine große Anzahl von Einzelbauteilen ersetzen, die herkömmlicherweise zum Kalibrieren vorgehalten werden und eine große Fläche belegen. Dadurch kann eine Schaltung mit dem Memristor kleiner ausgeführt werden. Da der Memristor immer wieder kalibriert werden kann, kann die Schaltung fest verbaut werden, da kein Schaltungstausch erforderlich ist. Aufgrund der geringeren Teilezahl kann die Schaltung ferner kostengünstig bereitgestellt werden.
  • Die vorliegende Erfindung schafft eine variable Widerstandsanordnung mit folgenden Merkmalen:
    einem ersten Bauelement mit einem unveränderlichen elektrischen Widerstandswert; und
    einem Memristor mit einem veränderbaren elektrischen Widerstandswert, der parallel zu dem ersten Bauteil geschaltet ist, um einen elektrischen Gesamtwiderstandswert der Widerstandsanordnung zu variieren.
  • Weiterhin schafft die vorliegende Erfindung eine Messbrückenschaltung, mit folgenden Merkmalen:
    einem ersten Ast, der einen in Reihe geschalteten ersten Widerstand und einen unveränderlichen Widerstand aufweist, wobei zwischen dem ersten Widerstand und dem unveränderlichen Widerstand eine erste Abgriffstelle angeordnet ist; und
    einem zweiten Ast, der einen in Reihe geschalteten zweiten Widerstand und eine variable Widerstandsanordnung gemäß dem hier vorgestellten Ansatz aufweist, wobei zwischen dem zweiten Widerstand und der Widerstandsanordnung eine zweite Abgriffstelle angeordnet ist, wobei der erste Ast und der zweite Ast parallel geschaltet sind und zwischen der ersten Abgriffstelle und der zweiten Abgriffstelle ein Messinstrument anordenbar ist.
  • Desweiteren schafft die vorliegende Erfindung ein Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung gemäß dem hier vorgestellten Ansatz, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:
    Ermitteln eines Messwerts des Messinstruments, wenn der erste Widerstand einer physikalischen Kalibriergröße ausgesetzt ist und der zweite Widerstand ebenfalls einer physikalischen Kalibriergröße ausgesetzt ist; und
    Verändern des elektrischen Widerstandswerts des Memristors der variablen Widerstandsanordnung bis der Messwert in einem Toleranzbereich um einen vorbestimmten Wert ist, um die Messbrückenschaltung zu kalibrieren.
  • Unter einem Bauelement mit einem unveränderlichen elektrischen Widerstandswert kann ein Widerstand verstanden werden, der innerhalb eines Toleranzbereichs über seine Lebensdauer gleich bleibt. Unter einem Memristor kann ein Bauelement mit einem veränderbaren elektrischen Widerstandswert verstanden werden. Ein elektrischer Gesamtwiderstand einer Parallelschaltung kann als Kehrwert einer Summe eines Kehrwerts des Widerstandswerts des ersten Bauelements und eines Kehrwerts des Widerstandswerts des Memristors bzw. des zweiten Bauelements verstanden werden. Das erste Bauelement und das zweite Bauelement können einzelne diskrete Bauelemente sein. Eine Messbrückenschaltung kann einen ersten Anschlusspunkt für eine Speisespannung und einen zweiten Anschlusspunkt für die Speisespannung aufweisen. Der erste Ast kann an den Anschlusspunkten mit dem zweiten Ast elektrisch verbunden sein. Eine Abgriffstelle kann ein Anschlusspunkt sein. Ein Messinstrument kann ein Strommessgerät oder ein Spannungsmessgerät sein. Unter einer physikalischen Kalibriergröße kann beispielsweise eine vorbestimmte Kraft verstanden werden. Zum Beispiel kann die Kalibriergröße so definiert sein, dass keine äußere Einwirkung auf den Widerstand einwirkt. Die Kalibriergrößen können gleich sein. Zum Verändern des elektrischen Widerstandswerts kann beispielsweise ein gleichgerichteter Strom oder eine gleichgerichtete Spannung an den Memristor angelegt werden. Durch ein Aufschalten einer gleichgerichteten Komponente auf den Memristor können Ladungsträger im Memristor eine Ortsveränderung erfahren, die einen elektrischen Widerstand des Memristors vergrößern oder verkleinern können. Die gleichgerichtete Komponente kann eine Mindestgröße und/oder eine Mindestdauer aufweisen.
  • Der erste Widerstand und/oder der zweite Widerstand kann ein messgrößensensitiver Widerstand sein, und dazu ausgebildet sein, eine Veränderung einer physikalischen Größe am Sensor in einer entsprechenden Änderung eines elektrischen Widerstandswerts abzubilden. Beispielsweise kann ein messgrößensensitiver Widerstand ein piezoresistiver Drucksensor oder ein Längensensor sein.
  • Der erste messgrößensensitive Widerstand kann vor den unveränderlichen Widerstand geschaltet sein. Die variable Widerstandsanordnung kann vor den zweiten messgrößensensitiven Widerstand geschaltet sein. Durch diese Anordnung kann eine Halbbrückenschaltung realisiert werden. Die Schaltung kann auch als Viertelbrücke mit nur einem messgrößensensitiven Widerstand aufgebaut werden.
  • Die variable Widerstandsanordnung kann zumindest einen extern zugreifbaren Kalibrierungsanschluss aufweisen. Über einen Kalibrierungsanschluss kann der Memristor unmittelbar bestromt werden. Dadurch kann eine Auswirkung der anderen Bauelemente auf den Kalibriervorgang minimiert werden.
  • Zwischen der ersten Abgriffstelle und der zweiten Abgriffstelle kann eine Spannungsmesseinrichtung angeordnet sein. Die Messbrückenschaltung kann mit einem konstanten Strom bestromt werden. Eine Veränderung an den messgrößensensitiven Widerständen kann durch eine Änderung eines Spannungswerts an der Spannungsmesseinrichtung abgebildet werden.
  • Im Schritt des Veränderns kann der Widerstandswert solange in einer Richtung stetig vergrößert werden, bis der Messwert aus dem Toleranzbereich austritt. Ein Intervall des Widerstandswerts zwischen dem Eintritt des Messwerts in den Toleranzbereich und dem Austritt des Messwerts aus dem Toleranzbereich kann ermittelt werden. Anschließend kann der Widerstandswert um einen vorbestimmten Anteil, insbesondere die Hälfte, des Intervalls stetig verkleinert werden. Oder es kann im Schritt des Veränderns der Widerstandswert solange stetig verkleinert werden, bis der Messwert aus dem Toleranzbereich austritt. Ein Intervall des Widerstandswerts zwischen dem Eintritt des Messwerts in den Toleranzbereich und dem Austritt des Messwerts aus dem Toleranzbereich kann ermittelt werden. Anschließend kann der Widerstandswert um einen vorbestimmten Anteil, insbesondere die Hälfte, des Intervalls stetig vergrößert werden, um die Messbrückenschaltung zu kalibrieren. Durch ein Erfassen eines ersten Werts des Widerstands beim Eintritt in den Toleranzbereich und einem zweiten Wert des Widerstands beim Austritt aus dem Toleranzbereich ergibt sich ein Widerstandsband, in dessen Mitte der Widerstandswert eingestellt werden kann, um die Messbrücke abzustimmen. Ein Intervall kann eine Breite des Widerstandsbands repräsentieren. Der Widerstandswert kann beispielsweise vergrößert werden, bis der Toleranzbereich verlassen ist. Dann kann der Widerstandswert wieder verkleinert werden, bis der vorbestimmte Anteil des Intervalls erreicht wird.
  • Die vorliegende Erfindung schafft ferner ein Steuergerät, das ausgebildet ist, um die Schritte des erfindungsgemäßen Verfahrens in entsprechenden Einrichtungen durchzuführen bzw. umzusetzen. Auch durch diese Ausführungsvariante der Erfindung in Form eines Steuergeräts kann die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe schnell und effizient gelöst werden.
  • Unter einem Steuergerät kann vorliegend ein elektrisches Gerät verstanden werden, das Sensorsignale verarbeitet und in Abhängigkeit davon Steuersignale ausgibt. Das Steuergerät kann eine Schnittstelle aufweisen, die hard- und/oder softwaremäßig ausgebildet sein kann. Bei einer hardwaremäßigen Ausbildung können die Schnittstellen beispielsweise Teil eines sogenannten System-ASICs sein, der verschiedenste Funktionen des Steuergeräts beinhaltet. Es ist jedoch auch möglich, dass die Schnittstellen eigene, integrierte Schaltkreise sind oder zumindest teilweise aus diskreten Bauelementen bestehen. Bei einer softwaremäßigen Ausbildung können die Schnittstellen Softwaremodule sein, die beispielsweise auf einem Mikrocontroller neben anderen Softwaremodulen vorhanden sind.
  • Von Vorteil ist auch ein Computerprogrammprodukt mit Programmcode, der auf einem maschinenlesbaren Träger wie einem Halbleiterspeicher, einem Festplattenspeicher oder einem optischen Speicher gespeichert sein kann und zur Durchführung des Verfahrens nach einer der vorstehend beschriebenen Ausführungsformen verwendet wird, wobei das Programm auf einem Computer oder einer Vorrichtung ausgeführt wird.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand der beigefügten Zeichnungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 ein Blockschaltbild einer Messbrückenschaltung mit einer variablen Widerstandsanordnung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und
  • 2 ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • In der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden für die in den verschiedenen Figuren dargestellten und ähnlich wirkenden Elemente gleiche oder ähnliche Bezugszeichen verwendet, wobei auf eine wiederholte Beschreibung dieser Elemente verzichtet wird.
  • 1 zeigt ein Blockschaltbild einer Messbrückenschaltung 100 mit einer variablen Widerstandsanordnung 102 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die Messbrückenschaltung 100 weist zwei Äste auf. In einem der Äste ist ein erster messgrößensensitiver Widerstand R1(x) und die variable Widerstandsanordnung 102 in Reihe geschaltet. Zwischen beiden ist eine erste Abgriffstelle 104 angeordnet. Im anderen der Äste ist ein zweiter messgrößensensitiver Widerstand R2(x) und ein erster unveränderlicher Widerstand Rfix,1 in Reihe geschaltet. Zwischen beiden ist eine zweite Abgriffstelle 106 angeordnet. Beide Äste sind parallel zueinander zwischen einem ersten Anschluss 108 und einem zweiten Anschluss 110 geschaltet. Die variable Widerstandsanordnung 102 weist einen zweiten unveränderlichen Widerstand Rfix,2 und einen parallel dazu geschalteten Memristor M auf.
  • Im Betrieb wird die Messbrückenschaltung 100 mittels einer Versorgungsspannung UV zwischen dem ersten Anschluss 108 und dem zweiten Anschluss 110 durch beide Äste der Messbrückenschaltung 100 versorgt. Der zweite Anschluss 110 kann auf einem Nullpotential GND liegen. Wenn beide Äste zueinander im Gleichgewicht stehen fließt zwischen der ersten Abgriffstelle 104 und der zweiten Abgriffstelle 106 kein Strom und es liegt keine Spannung U an. Wenn die Messbrückenschaltung 100 beispielsweise aufgrund einer Drift eines der messgrößensensitiven Widerstände R1(x), R2(x) verstimmt ist, obwohl beide messgrößensensitiven Widerstände R1(x), R2(x) unbelastet sind, ist eine Kalibrierung der Messbrückenschaltung 100 erforderlich, um den Stromfluss zwischen den Abgriffstellen 104, 106 zu unterbinden. Zum Kalibrieren der Messbrückenschaltung 100 wird die variable Widerstandsanordnung 102 verändert, bis das Gleichgewicht wieder hergestellt ist. Um einen Widerstandswert des Memristors M zu verändern wird von einem Memristorterminal zu dem zweiten Anschluss 110 durch den Memristor M ein Memristorstrom IM angelegt. Der Memristorstrom IM kann einen hohen Gleichstromanteil aufweisen. Durch den Memristorstrom IM werden Ladungsträger innerhalb des Memristors M bewegt, wodurch sich eine Leitfähigkeit, also der Widerstandswert des Memristor M ändert.
  • Während die Messbrückenschaltung 100 mit einer Spannung UV mit einer Trägerfrequenz betrieben wird, die höher als eine Grenzfrequenz des Memristors M ist, verändert sich der Widerstandswert des Memristors M nicht. Zwischen den Abgriffstellen 104, 106 kann dann ein Amplitudenmoduliertes Signal U abgegriffen werden, das eine Messgröße an den messgrößensensitiven Widerständen R1(x), R2(x) abbildet.
  • 2 zeigt ein Ablaufdiagramm eines Verfahrens 200 zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das Verfahren 200 weist einen Schritt des Ermittelns 202 und einen Schritt des Veränderns 204 auf. Im Schritt des Ermittelns 202 wird ein Messwert des Messinstruments ermittelt, wenn der erste messgrößensensitive Widerstand einer physikalischen Kalibriergröße ausgesetzt ist und der zweite messgrößensensitive Widerstand ebenfalls einer physikalischen Kalibriergröße, ausgesetzt ist. Insbesondere können die Kalibriergrößen identisch sein, oder gleich groß bei entgegengesetzten Vorzeichen sein. Beispielsweise können die messgrößensensitiven Widerstände lediglich ihrem Eigengewicht oder einer Grundlast ausgesetzt sein. Im Schritt des Veränderns 204 wird der elektrische Widerstandswert des zweiten Bauelements der variablen Widerstandsanordnung (des Memristors) verändert, bis der Messwert in einem Toleranzbereich um einen vorbestimmten Wert ist. Beispielsweise kann der vorbestimmte Wert ein vorbestimmtes Spannungsniveau, wie null Volt sein. Der Toleranzbereich kann beispielsweise unter Berücksichtigung einer Messungenauigkeit festgelegt werden.
  • Mit anderen Worten kann ein Memristor M ein Widerstandsnetzwerk zum Abgleich von Sensoren R1(x), R2(x) ersetzen. Ein solches Widerstandsnetzwerk kann z.B. durch Laser-Trimmung oder durch Zener-Zapping zum Abgleichzeitpunkt auf den gewünschten Wert eingestellt werden.
  • Das Prinzip des Memristors M lässt sich theoretisch am besten im Vergleich mit den anderen passiven Bauelementen beschreiben. Allen Bauelementen liegt die Verkopplung der elektrischen Ladung und ihrer Ableitung (Strom) auf der einen Seite und des magnetischen Flusses und seiner Ableitung (Spannung) auf der anderen Seite zu Grunde. Auf dieser Basis entspricht ein elektrischer Widerstand einer Ableitung der Spannung nach dem Strom, eine Induktivität entspricht einer Ableitung des Flusses nach dem Strom, eine (reziproke) Kapazität entspricht einer Ableitung der Spannung nach der Ladung und eine Memristivität entspricht einer Ableitung des Flusses nach der Ladung.
  • In einer mikrosystemtechnischen Realisierung eines Memristors werden sehr dünne (einige nm) Titandioxid-Schichten zwischen Platinelektroden aufgebracht. Wird nun ein Teil der Ti02-Schicht mit Sauerstofffehlstellen dotiert, stellt sich in diesem Teil eine hohe elektrische Leitfähigkeit ein, während der undotierte Teil ein Isolator ist. Durch Anlegen eines elektrischen Feldes, also Spannung, lässt sich die Trennlinie zwischen den Bereichen verschieben und damit der Gesamtwiderstand der Schicht verändern. Dabei ist jedoch nicht nur die Höhe des Feldes entscheiden, sondern auch die Historie des Feldverlaufs (ähnlich wie bei einem Kondensator die gespeicherte Ladung von der Historie der Bestromung abhängt). Auch die Geschwindigkeit der Feldänderung spielt eine große Rolle. Das Verhalten ist also (wie bei Induktivitäten und Kapazitäten auch) stark frequenzabhängig. Dies lässt sich ausnutzen um Memristoren als nichtflüchtigen analogen Speicher zu nutzen. Der Widerstand eines Memristors kann mit niedrigen Frequenzen und hohen Feldern eingestellt (beschrieben) werden, während das Auslesen mit kleinen hochfrequenten Spannungen geschieht, die den Zustand des Memristors nicht verändern, da das Zeitintegral des Stroms konstant bleibt.
  • Durch einen Memristor können Zener-Zappingkaskaden oder Trimmwiderstandsnetzwerke vermieden werden, die vergleichsweise viel Platz brauchen. Der Platzbedarf steigt umso mehr, je genauer der Abgleichwert eingestellt werden soll, und je größer ein Abgleichbereich ist, da jeder Teil der Kaskade bzw. des Netzwerks nur einen binären Wert repräsentiert. Ein mit Zener-Zappingkaskaden oder Trimmwiderstandsnetzwerken eingestellter Wert ist nur bedingt korrigierbar, ein nachträglicher erneuter Abgleich um z.B. in der Werkstatt die Drift eines Sensors über Lebensdauer zu korrigieren ist meist nur in einer Richtung möglich (vgl. Haareschneiden). Mit einem Memristor als Abgleichelement kann mit einem einzelnen oder wenigen Bauelementen mit geringem Platzbedarf ein analoger Abgleichwert gespeichert werden, der sich bei Bedarf nachträglich korrigieren lässt. Durch einen Memristor in einer Sensoranordnung, wie sie hier vorgestellt ist kann bei verringertem Platzbedarf ein Abgleichwert analog statt digital gespeichert werden und der Abgleichwert kann nachträglich ohne Einschränkung verändert werden.
  • In 1 ist beispielsweise eine Sensoranordnung gezeigt deren Signal mit Hilfe einer Wheatstone-Brücke 100 aus zwei veränderlichen Widerständen R(x) in einen elektrischen Wert abgebildet wird. Die veränderlichen Widerstände (z.B. piezoresistive Widerstände auf einer Drucksensormembran) sind mit zwei festen Widerständen (Rfix) verschaltet. Aus technologischen Gründen kommt es dabei in der Regel zu einer Verstimmung der Brücke 100, die man herkömmlicherweise dadurch korrigieren kann, dass einer der festen Widerstände als Netzwerk aus mehreren Widerständen aufgebaut wird, die z.B. durch Laser-Trimmen einzeln deaktiviert werden können. Dadurch kann die Verstimmung der Brücke 100 weitestgehend ausgeglichen werden, allerdings nur einmalig. Wird wie in 1 gezeigt, statt des Trimmwiderstandsnetzwerks eine Kombination 102 aus einem normalen Widerstand (Rfix,2) und einem Memristor (M) verwendet, kann zum Abgleichzeitpunkt über ein zusätzliches Terminal der Memristor beschrieben werden. Das ermöglicht eine nahezu beliebig genaue Abstimmung der Brücke 100. Für den Fall, dass die Sensoren eine Drift über Lebensdauer aufweisen, ist es so auch möglich, z.B. bei einem Werkstattaufenthalt die Sensoranordnung neu abzugleichen, wohingegen es notwendig wäre, ein Sensor mit herkömmlichem Abgleich auszutauschen. Ein Einsatz des Memristor-Abgleichs ist prinzipiell bei allen Sensoren möglich, bei denen ein Abgleich nach der Herstellung notwendig ist und die nicht über eine interne Auswertelogik verfügen. Dort ist dieser Abgleich ohne Zusatzaufwand möglich.
  • Die beschriebenen und in den Figuren gezeigten Ausführungsbeispiele sind nur beispielhaft gewählt. Unterschiedliche Ausführungsbeispiele können vollständig oder in Bezug auf einzelne Merkmale miteinander kombiniert werden. Auch kann ein Ausführungsbeispiel durch Merkmale eines weiteren Ausführungsbeispiels ergänzt werden.
  • Ferner können erfindungsgemäße Verfahrensschritte wiederholt sowie in einer anderen als in der beschriebenen Reihenfolge ausgeführt werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 4115288 A1 [0003]

Claims (9)

  1. Variable Widerstandsanordnung (102) mit folgenden Merkmalen: einem ersten Bauelement (Rfix,2) mit einem unveränderlichen elektrischen Widerstandswert; und einem Memristor (M) mit einem veränderbaren elektrischen Widerstandswert, der parallel zu dem ersten Bauelement (Rfix,2) geschaltet ist, um einen elektrischen Gesamtwiderstandswert der Widerstandsanordnung (102) zu variieren.
  2. Messbrückenschaltung (100), mit folgenden Merkmalen: einem ersten Ast, der einen in Reihe geschalteten ersten Widerstand (R2(x)) und einen unveränderlichen Widerstand (Rfix,1) aufweist, wobei zwischen dem ersten Widerstand (R2(x)) und dem unveränderlichen Widerstand (Rfix,1) eine erste Abgriffstelle (104) angeordnet ist; und einem zweiten Ast, der einen in Reihe geschalteten zweiten Widerstand (R1(x)) und eine variable Widerstandsanordnung (102) gemäß Anspruch 1 aufweist, wobei zwischen dem zweiten Widerstand (R1(x)) und der Widerstandsanordnung (102) eine zweite Abgriffstelle (106) angeordnet ist, wobei der erste Ast und der zweite Ast parallel geschaltet sind und zwischen der ersten Abgriffstelle (104) und der zweiten Abgriffstelle (106) ein Messinstrument anordenbar ist.
  3. Messbrückenschaltung (100) gemäß Anspruch 2, bei der der erste Widerstand (R2(x)) und/oder der zweite Widerstand (R1(x)) ein messgrößensensitiver Widerstand ist, der dazu ausgebildet ist, eine Veränderung einer physikalischen Größe am Sensor in einer entsprechenden Änderung eines elektrischen Widerstandswerts abzubilden.
  4. Messbrückenschaltung (100) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, bei der die variable Widerstandsanordnung (102) zumindest einen extern zugreifbaren Kalibrierungsanschluss aufweist.
  5. Messbrückenschaltung (100) gemäß einem der vorangegangenen Ansprüche, bei der zwischen der ersten Abgriffstelle (104) und der zweiten Abgriffstelle (106) eine Spannungsmesseinrichtung angeordnet ist.
  6. Verfahren (200) zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung (100) gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist: Ermitteln (202) eines Messwerts des Messinstruments, wenn der erste Widerstand (R2(x)) einer physikalischen Kalibriergröße ausgesetzt ist und der zweite Widerstand (R1(x)) ebenfalls einer physikalischen Kalibriergröße ausgesetzt ist; und Verändern (204) des elektrischen Widerstandswerts des Memristors (M) der variablen Widerstandsanordnung (102) bis der Messwert in einem Toleranzbereich um einen vorbestimmten Wert ist, um die Messbrückenschaltung (100) zu kalibrieren.
  7. Verfahren (200) gemäß Anspruch 6, bei dem im Schritt des Veränderns (204) der Widerstandswert solange stetig vergrößert wird, bis der Messwert aus dem Toleranzbereich austritt, und ein Intervall des Widerstandswerts zwischen dem Eintritt des Messwerts in den Toleranzbereich und dem Austritt des Messwerts aus dem Toleranzbereich ermittelt wird, wobei der Widerstandswert anschließend um einen vorbestimmten Anteil, insbesondere die Hälfte, des Intervalls stetig verkleinert wird, und/oder bei dem im Schritt des Veränderns (204) der Widerstandswert solange stetig verkleinert wird, bis der Messwert aus dem Toleranzbereich austritt, und ein Intervall des Widerstandswerts zwischen dem Eintritt des Messwerts in den Toleranzbereich und dem Austritt des Messwerts aus dem Toleranzbereich ermittelt wird, wobei der Widerstandswert anschließend um einen vorbestimmten Anteil, insbesondere die Hälfte, des Intervalls stetig vergrößert wird, um die Messbrückenschaltung (100) zu kalibrieren.
  8. Steuergerät, das ausgebildet ist, um die Schritte eines Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 6 bis 7 durchzuführen.
  9. Computer-Programmprodukt mit Programmcode zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 6 bis 7, wobei das Programm auf einer Vorrichtung oder einem Steuergerät ausgeführt wird.
DE102011085555A 2011-11-02 2011-11-02 Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung Withdrawn DE102011085555A1 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011085555A DE102011085555A1 (de) 2011-11-02 2011-11-02 Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung
EP12769964.3A EP2773971A1 (de) 2011-11-02 2012-09-06 Variable widerstandsanordnung, messbrückenschaltung und verfahren zum kalibrieren einer messbrückenschaltung
CN201280053659.2A CN104024870B (zh) 2011-11-02 2012-09-06 可变电阻装置、测量桥电路和用于校准测量桥电路的方法
PCT/EP2012/067374 WO2013064294A1 (de) 2011-11-02 2012-09-06 Variable widerstandsanordnung, messbrückenschaltung und verfahren zum kalibrieren einer messbrückenschaltung
US14/353,758 US9568523B2 (en) 2011-11-02 2012-09-06 Variable resistor arrangement, measurement bridge circuit and method for calibrating a measurement bridge circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011085555A DE102011085555A1 (de) 2011-11-02 2011-11-02 Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102011085555A1 true DE102011085555A1 (de) 2013-05-02

Family

ID=47008491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102011085555A Withdrawn DE102011085555A1 (de) 2011-11-02 2011-11-02 Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9568523B2 (de)
EP (1) EP2773971A1 (de)
CN (1) CN104024870B (de)
DE (1) DE102011085555A1 (de)
WO (1) WO2013064294A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3153850A1 (de) * 2015-10-08 2017-04-12 Nokia Technologies Oy Vorrichtung und zugehöriges verfahren zur messung eines physikalischen reizes
US12007347B2 (en) * 2019-10-02 2024-06-11 Oxford Brookes University Sensor

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8848337B2 (en) * 2011-02-01 2014-09-30 John R. Koza Signal processing devices having one or more memristors
WO2016085470A1 (en) * 2014-11-25 2016-06-02 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Bi-polar memristor
US10418810B2 (en) * 2015-01-28 2019-09-17 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Electrostatic discharge memristive element switching
CN109085427B (zh) * 2015-07-15 2021-04-23 北京东方计量测试研究所 一种模拟等效毫欧至微欧量级直流电阻的桥式电阻
DE102016206958A1 (de) * 2016-04-25 2017-10-26 Continental Automotive Gmbh Verfahren zum Bestimmen eines Laststroms und Batteriesensor
EP3282484B1 (de) 2016-08-10 2020-12-23 X-FAB Semiconductor Foundries GmbH Spannungsgesteuerter widerstand
CN106557092B (zh) * 2016-11-30 2019-11-26 中国航天空气动力技术研究院 电动舵机实际旋转角度与反馈角度对应关系的调节方法
CN108427017B (zh) * 2018-01-31 2020-07-28 浙江万物工场智能科技有限公司 一种测试系统及终端
CN110837016B (zh) * 2019-11-19 2021-09-10 思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司 精密匹配电阻阵列及其校准方法
CN111337811B (zh) * 2020-03-23 2021-03-30 电子科技大学 一种忆阻器测试电路
CN114689938A (zh) * 2020-12-29 2022-07-01 宝能汽车集团有限公司 汽车绝缘电阻的上报方法、装置及具有其的汽车
CN113156216B (zh) * 2021-04-23 2023-06-13 中国科学院半导体研究所 用于半桥模块寄生电感校准测试的测试装置及方法
CN113553293B (zh) * 2021-07-21 2024-09-03 清华大学 存算一体装置及其校准方法
US12243613B2 (en) * 2022-02-24 2025-03-04 Changxin Memory Technologies, Inc. Voltage output test circuit, voltage divider output circuit, and memory
CN115951291B (zh) * 2023-03-14 2023-05-23 北京森社电子有限公司 一种闭环霍尔传感器的自动调零设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4115288A1 (de) 1991-05-10 1992-11-12 Bosch Gmbh Robert Einrichtung zum abgleich von sensorsignalen

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3893192A (en) * 1971-02-25 1975-07-01 Danfoss As Converter for measured quantities
FR2129987B1 (de) * 1971-03-25 1974-08-19 Telemecanique Electrique
DE2433080C2 (de) 1974-07-10 1983-09-29 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Schaltungsanordnung zur Umwandlung einer Brückenverstimmung in eine Frequenzänderung
DE3612810A1 (de) * 1986-04-16 1987-10-22 Bosch Gmbh Robert Schaltungsanordnung zur messung einer mechanischen verformung, insbesondere unter einwirkung eines drucks
DE4024402C1 (de) * 1990-08-01 1991-10-31 Dr.Ing.H.C. F. Porsche Ag, 7000 Stuttgart, De
US5485100A (en) * 1993-06-04 1996-01-16 United Technologies Corporation Automatically balanced and tested bridge measurement circuit, and method
CN1465981A (zh) * 2002-06-29 2004-01-07 骆乃光 一种实验用电桥
DE10308029B3 (de) * 2003-02-24 2004-10-28 Elmos Semiconductor Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Widerstandswerts eines elektrischen Bauelements und elektrische Schaltung mit einer derartigen Vorrichtung
US7106120B1 (en) * 2003-07-22 2006-09-12 Sharp Laboratories Of America, Inc. PCMO resistor trimmer
JP2007184065A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Toshiba Corp 磁気記憶装置
DE102006051365B4 (de) 2006-10-27 2011-04-21 Sartorius Ag Messverstärkungsvorrichtung und -verfahren
US7898844B2 (en) * 2008-10-31 2011-03-01 Seagate Technology, Llc Magnetic tunnel junction and memristor apparatus
JP5197512B2 (ja) * 2009-07-02 2013-05-15 株式会社東芝 半導体記憶装置
US9196354B2 (en) * 2010-02-09 2015-11-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Memory resistor adjustment using feedback control
US8694452B2 (en) * 2010-07-07 2014-04-08 Qualcomm Incorporated Methods and systems for CMOS implementation of neuron synapse

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4115288A1 (de) 1991-05-10 1992-11-12 Bosch Gmbh Robert Einrichtung zum abgleich von sensorsignalen

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3153850A1 (de) * 2015-10-08 2017-04-12 Nokia Technologies Oy Vorrichtung und zugehöriges verfahren zur messung eines physikalischen reizes
WO2017060564A1 (en) * 2015-10-08 2017-04-13 Nokia Technologies Oy An apparatus and associated method for sensing a physical stimulus
US12007347B2 (en) * 2019-10-02 2024-06-11 Oxford Brookes University Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
US9568523B2 (en) 2017-02-14
US20140347072A1 (en) 2014-11-27
WO2013064294A1 (de) 2013-05-10
CN104024870A (zh) 2014-09-03
EP2773971A1 (de) 2014-09-10
CN104024870B (zh) 2017-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102011085555A1 (de) Variable Widerstandsanordnung, Messbrückenschaltung und Verfahren zum Kalibrieren einer Messbrückenschaltung
DE102013005939A1 (de) Messwiderstand und entsprechendes Messverfahren
WO2017167876A1 (de) Mems-mikrofon und verfahren zur selbstkalibrierung des mems-mikrofons
DE102017219016A1 (de) Verfahren zum Betrieb eines Batteriesensors und Batteriesensor
DE102017223535A1 (de) Verfahren und Batteriesensor zur Ermittlung eines Laststroms
EP3449264B1 (de) Verfahren zum bestimmen eines laststroms und batteriesensor
DE102014007304A1 (de) Kraftfahrzeug-Batteriemanagement mit Einzelzellenüberwachung
DE69530715T2 (de) Messvorrichtung für eine elektrische Grösse
DE102013213566A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung einer Stromstärke
EP3640652B1 (de) Verfahren zum betrieb eines batteriesensors und batteriesensor
EP3233578B1 (de) Überwachungsvorrichtung für zumindest einen zündkreis für ein personenschutzmittel für ein fahrzeug und verfahren zum betreiben einer überwachungsvorrichtung
DE102011106694A1 (de) Druckmessumformer
DE102012223573A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Überwachen von Signalpegeln
DE102016102274A1 (de) Erkennen eines defekten Zwischenkreiskondensators
DE102017221173A1 (de) Strommessvorrichtung
DE102018112236B3 (de) Betriebszustandsabhängige vollautomatische Festlegung der Strommessstelle in Halbbrücken und Vollbrücken durch Stromvorzeichendetektion
DE102012005994B4 (de) Piezoelektrischer Antrieb für ein Ventil, Piezoventil mit einem solchen Antrieb und Verfahren zum Betrieb und zur Herstellung eines Piezoventils
DE10231447B4 (de) Mechanisch elektrischer Wandler
DE102014201584A1 (de) Halbleiterschalter und Verfahren zum Bestimmen eines Stroms durch einen Halbleiterschalter
DE10057486A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erkennung eines Defekts von Halbleiterschaftelementen und dessen/deren Verwendung in Kraftfahrzeugen, insbesondere Bremskraft- und Fahrdynamikreglern
DE19726773A1 (de) Verfahren zum Abgleichen eines Stromreglers
DE102013200479A1 (de) Messvorrichtung zum Bestimmen einer über einen Leiter übertragenen elektrischen Leistung
DE10259719A1 (de) Verfahren zur Minimierung des Fehlers einer Messgröße
WO1998026299A1 (de) Vorrichtung zur zustandserfassung von n leistungskondensatoren einer hochspannungskondensatorbatterie
DE102005023486B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Überwachen und Steuern mehrerer in Serie geschalteter Kapazitäten

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee