DE102010014100A1 - Semiconductor laser element, has laser diode and positive temperature co-efficient resistor that are thermally connected with one another and arranged on heat sink and thermal conductive intermediate medium - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Halbleiterlaserbauelement und ein Verfahren zum Betrieb eines Halbleiterlaserbauelements.The invention relates to a semiconductor laser component and a method for operating a semiconductor laser component.
Bei Halbleiterlasern ist die Wellenlänge der emittierten Strahlung von der Temperatur des Halbleiterlaserbauelements abhängig. Dies kann zu einer unerwünschten Änderung der Emissionswellenlänge führen, wenn sich zum Beispiel die Temperatur des Halbleiterlaserbauelements aufgrund einer Änderung der Umgebungstemperatur verändert. Zur Verminderung der Temperaturdrift können passiv stabilisierte Laserdioden wie beispielsweise DFB-Laser, DBR-Laser oder VCSEL eingesetzt werden, bei denen die Wellenlänge durch den Aufbau des Resonators und/oder der Kontaktstruktur stabilisiert wird. Bei solchen passiv stabilisierten Lasern können aber Nicht-Linearitäten in der Ausgangsleistung auftreten und die Ausgangsleistung ist in der Regel auf einige Milliwatt limitiert.In semiconductor lasers, the wavelength of the emitted radiation is dependent on the temperature of the semiconductor laser device. This may result in an undesirable change in emission wavelength, for example, when the temperature of the semiconductor laser device changes due to a change in ambient temperature. To reduce the temperature drift, passively stabilized laser diodes such as DFB lasers, DBR lasers or VCSELs can be used, in which the wavelength is stabilized by the structure of the resonator and / or the contact structure. In such passively stabilized lasers, however, non-linearities in the output power can occur and the output power is usually limited to a few milliwatts.
Andererseits ist es möglich, die Temperatur des Halbleiterbauelements aktiv zu stabilisieren, indem ein Regelkreis aus einem Kühlelement, einem Temperatursensor und einer Treiberschaltung verwendet wird. Dadurch erhöhen sich aber die Größe und die Kosten des Halbleiterlaserbauelements.On the other hand, it is possible to actively stabilize the temperature of the semiconductor device by using a control circuit of a cooling element, a temperature sensor, and a driver circuit. However, this increases the size and cost of the semiconductor laser device.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Halbleiterlaserbauelement und ein Verfahren zum Betrieb eines Halbleiterlaserbauelements anzugeben, bei denen auf vergleichsweise einfache und kostengünstige Weise eine Stabilisierung der Emissionswellenlänge erzielt wird.The invention has for its object to provide a semiconductor laser device and a method for operating a semiconductor laser device, in which a stabilization of the emission wavelength is achieved in a relatively simple and cost-effective manner.
Diese Aufgabe wird durch ein Halbleiterlaserbauelement und ein Verfahren zum Betrieb eines Halbleiterlaserbauelements gemäß den unabhängigen Patentansprüchen gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.This object is achieved by a semiconductor laser device and a method for operating a semiconductor laser device according to the independent claims. Advantageous embodiments and modifications of the invention are the subject of the dependent claims.
Ein Halbleiterlaserbauelement umfasst gemäß zumindest einer Ausführungsform der Erfindung einen Laserdiodenchip und einen PTC-Widerstand, wobei der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand thermisch miteinander verbunden sind. Der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand sind insbesondere derart thermisch miteinander verbunden, dass während des Betriebs des Halbleiterlaserbauelements auftretende Temperaturänderungen des PTC-Widerstands zu einer Temperaturänderung des Laserdiodenchips führen und umgekehrt.A semiconductor laser device according to at least one embodiment of the invention comprises a laser diode chip and a PTC resistor, wherein the laser diode chip and the PTC resistor are thermally connected together. The laser diode chip and the PTC resistor are in particular thermally connected to one another in such a way that temperature changes of the PTC resistor occurring during operation of the semiconductor laser component lead to a temperature change of the laser diode chip and vice versa.
Vorzugsweise sind die Temperaturänderungen des PTC-Widerstands und des Laserdiodenchips im Wesentlichen gleich, so dass beispielsweise eine Erhöhung der Temperatur des PTC-Widerstands um etwa 10°C auch eine Erhöhung der Temperatur des Laserdiodenchips um etwa 10°C bewirkt.Preferably, the temperature changes of the PTC resistor and the laser diode chip are substantially equal so that, for example, raising the temperature of the PTC resistor by about 10 ° C also causes the temperature of the laser diode chip to increase by about 10 ° C.
Die Betriebstemperatur des Laserdiodenchips unterscheidet sich bevorzugt um nicht mehr als 10°C und besonders bevorzugt um nicht mehr als 5°C von der Betriebstemperatur des PTC-Widerstands.The operating temperature of the laser diode chip preferably differs by not more than 10 ° C and more preferably not more than 5 ° C from the operating temperature of the PTC resistor.
Die Erfindung macht sich die stark nicht lineare Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands und der daraus resultierenden Änderung des Betriebsstroms und der in Wärme umgesetzten elektrischen Leistung bei einem PTC-Widerstand zunutze. Bei einem PTC-Widerstand steigt der elektrische Widerstand oberhalb der so genannten Nenntemperatur, die in etwa der ferroelektrischen Curie-Temperatur entspricht, exponentiell an. Beispielsweise kann der Widerstand innerhalb eines Temperaturintervalls von wenigen °C um mehrere Größenordnungen ansteigen.The invention takes advantage of the highly non-linear temperature dependence of the electrical resistance and the resulting change in operating current and heat-converted electrical power in a PTC resistor. In a PTC resistor, the electrical resistance above the so-called nominal temperature, which corresponds approximately to the ferroelectric Curie temperature, increases exponentially. For example, the resistance can increase by several orders of magnitude within a temperature interval of a few degrees Celsius.
Wenn sich beispielsweise beim Betrieb des Halbleiterlaserbauelements die Umgebungstemperatur verringert, führt dies zu einer starken Verringerung des elektrischen Widerstands des PTC-Widerstands, so dass der Betriebsstrom beim Betrieb mit einer konstanten Spannung stark ansteigt. Dadurch wird eine höhere elektrische Leistung in dem PTC-Widerstand umgesetzt, die zu einer Erwärmung des PTC-Widerstands führt. Die sich bei der geringeren Umgebungstemperatur einstellende Temperatur des PTC-Widerstands stellt sich dabei vorzugsweise derart ein, dass sie in etwa der Temperatur bei der vorherigen größeren Umgebungstemperatur entspricht. Entsprechend führt eine Erhöhung der Umgebungstemperatur zu einer Erhöhung des Widerstands des PTC-Widerstands und somit zu einer Verminderung der in dem PTC-Widerstand in Wärme umgesetzten elektrischen Leistung, die einer Temperaturerhöhung des PTC-Widerstands entgegenwirkt und diese vorzugsweise sogar ganz kompensiert.For example, when the ambient temperature decreases during operation of the semiconductor laser device, this leads to a large reduction in the electrical resistance of the PTC resistor, so that the operating current increases sharply when operating at a constant voltage. As a result, a higher electrical power is converted in the PTC resistor, which leads to a heating of the PTC resistor. The adjusting itself at the lower ambient temperature temperature of the PTC resistor is preferably such that it corresponds approximately to the temperature at the previous larger ambient temperature. Correspondingly, an increase in the ambient temperature leads to an increase in the resistance of the PTC resistor and thus to a reduction in the electrical power converted into heat in the PTC resistor, which counteracts and preferably even completely compensates for a temperature increase of the PTC resistor.
Das Temperaturverhalten des PTC-Widerstands ist also vorteilhaft dadurch gekennzeichnet, dass sich unabhängig von der Umgebungstemperatur eine zumindest annähernd stabile Gleichgewichtstemperatur einstellt. Der PTC-Widerstand ist daher thermisch selbststabilisierend.The temperature behavior of the PTC resistor is thus advantageously characterized in that an at least approximately stable equilibrium temperature is established independently of the ambient temperature. The PTC resistor is therefore thermally self-stabilizing.
Dadurch, dass der PTC-Widerstand und der Laserdiodenchip thermisch miteinander verbunden sind, werden vorteilhaft die Temperaturschwankungen des Laserdiodenchips vermindert. Insbesondere wird auf diese Weise erreicht, dass temperaturbedingte Schwankungen der Emissionswellenlänge der Laserdiode vermindert werden.By virtue of the fact that the PTC resistor and the laser diode chip are thermally connected to one another, the temperature fluctuations of the laser diode chip are advantageously reduced. In particular, it is achieved in this way that temperature-induced fluctuations in the emission wavelength of the laser diode are reduced.
Der PTC-Widerstand und der Laserdiodenchip sind vorzugsweise dadurch thermisch miteinander verbunden, dass sie auf einem gemeinsamen thermisch leitfähigen Träger angeordnet sind. Der thermisch leitfähige Träger kann insbesondere ein Träger aus einem Metall oder einer Metalllegierung sein. Bei dem Metall oder der Metalllegierung kann es sich beispielsweise um Cu oder CuW handeln. Alternativ sind auch andere thermisch leitfähige Materialien geeignet.The PTC resistor and the laser diode chip are preferably thermally connected to each other by being on a common thermally conductive carrier are arranged. The thermally conductive carrier may in particular be a carrier made of a metal or a metal alloy. The metal or metal alloy may be, for example, Cu or CuW. Alternatively, other thermally conductive materials are suitable.
Der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand können beispielsweise nebeneinander auf dem thermisch leitfähigen Träger angeordnet sein. In diesem Fall besteht eine thermische Verbindung zwischen dem PTC-Widerstand und dem Laserdiodenchip dadurch, dass der PTC-Widerstand und der Laserdiodenchip jeweils Wärme über die dem Träger zugewandte Grundfläche an den Träger abgeben und vom Träger aufnehmen können.The laser diode chip and the PTC resistor may, for example, be arranged side by side on the thermally conductive carrier. In this case, there is a thermal connection between the PTC resistor and the laser diode chip in that the PTC resistor and the laser diode chip can each deliver heat to the carrier via the base area facing the carrier and absorb it from the carrier.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform sind der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand auf einander gegenüberliegenden Seiten eines thermisch leitfähigen Trägers angeordnet. In diesem Fall liegen sich der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand vorzugsweise einander direkt gegenüber, das heißt sie sind in lateraler Richtung nicht voneinander beabstandet. In diesem Fall sind der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand vorteilhaft nur durch die Dicke des thermisch leitfähigen Trägers und gegebenenfalls vorhandene Verbindungsschichten wie beispielsweise Lotschichten voneinander beabstandet.In another preferred embodiment, the laser diode chip and the PTC resistor are disposed on opposite sides of a thermally conductive support. In this case, the laser diode chip and the PTC resistor are preferably directly opposite each other, that is, they are not spaced apart in the lateral direction. In this case, the laser diode chip and the PTC resistor are advantageously only spaced apart from one another by the thickness of the thermally conductive carrier and optionally existing connecting layers, such as solder layers.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung weist der PTC-Widerstand eine Keramik auf. Die Keramik kann insbesondere eine Titanat-Keramik sein. Vorzugsweise enthält die Keramik Barium-Titanat, Blei-Titanat oder Strontium-Titanat. Die Keramik kann Zusatzstoffe, insbesondere Dotierstoffe, enthalten. Beispielsweise handelt es sich bei den Zusatzstoffen um Yttrium, Mangan, Tantal oder Silizium. Mittels solcher Zusatzstoffe ist es insbesondere möglich, die Nenntemperatur des PTC-Widerstands zu beeinflussen. Unter der Nenntemperatur wird im Rahmen der Anmeldung die Temperatur verstanden, bei der der Widerstand Rn des PTC-Widerstands doppelt so groß ist wie der Anfangswiderstand Ra. Der Anfangswiderstand Ra ist dabei der Widerstand, bei dem der temperaturabhängige Widerstand des PTC-Widerstands ein Minimum aufweist, das heißt, dass ein Wechsel von einem negativen zu einem positiven Temperaturkoeffizienten stattfindet. Oberhalb der Nenntemperatur, die in etwa mit der ferroelektrischen Curie-Temperatur übereinstimmt, weist ein PTC-Widerstand einen stark positiven Temperaturkoeffizienten auf.In a preferred embodiment, the PTC resistor has a ceramic. The ceramic may in particular be a titanate ceramic. Preferably, the ceramic contains barium titanate, lead titanate or strontium titanate. The ceramic may contain additives, in particular dopants. For example, the additives are yttrium, manganese, tantalum or silicon. By means of such additives, it is possible in particular to influence the nominal temperature of the PTC resistor. Under the nominal temperature is understood in the context of the application, the temperature at which the resistance R n of the PTC resistor is twice as large as the initial resistance R a . The initial resistance R a is the resistance at which the temperature-dependent resistance of the PTC resistor has a minimum, that is, a change from a negative to a positive temperature coefficient takes place. Above the nominal temperature, which coincides approximately with the ferroelectric Curie temperature, a PTC resistor has a strongly positive temperature coefficient.
Die Nenntemperatur des PTC-Widerstands beträgt vorzugsweise mindestens 40°C. Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die Nenntemperatur nicht mehr als 70°C beträgt.The rated temperature of the PTC resistor is preferably at least 40 ° C. Furthermore, it is advantageous if the nominal temperature is not more than 70 ° C.
Im Betrieb des Halbleiterlaserbauelements wird der PTC-Widerstand vorzugsweise bei einer Temperatur betrieben, die größer als die Nenntemperatur ist. Der PTC-Widerstand weist in diesem Fall einen stark positiven Temperaturkoeffizienten auf, wodurch sich, wie zuvor beschrieben, eine thermische Selbststabilisierung des PTC-Widerstands ergibt. Die Temperaturstabilisierung erfolgt vorzugsweise in der Nähe der maximal zulässigen Umgebungstemperatur des Laserdiodenchips, beispielsweise bei etwa 50°C.In operation of the semiconductor laser device, the PTC resistor is preferably operated at a temperature greater than the nominal temperature. The PTC resistor in this case has a strong positive temperature coefficient, resulting in thermal self-stabilization of the PTC resistor, as described above. The temperature stabilization is preferably carried out in the vicinity of the maximum permissible ambient temperature of the laser diode chip, for example at about 50 ° C.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist das Halbleiterlaserbauelement ein Gehäuse auf und der Laserdiodenchip und der PTC-Widerstand sind in das Gehäuse integriert. Durch die Integration des Laserdiodenchips und des PTC-Widerstands in ein gemeinsames Gehäuse wird die thermische Verbindung und somit der Temperaturaustausch zwischen dem PTC-Widerstand und dem Laserdiodenchip weiter verbessert. Bei dem Gehäuse des Halbleiterlaserbauelements, in das der PTC-Widerstand und der Laserdiodenchip integriert sind, kann es sich insbesondere um ein so genanntes TO(Transistor Outline)-Gehäuse handeln. Alternativ sind auch andere Gehäuse, insbesondere oberflächenmontierbare Gehäuse, geeignet.In a further advantageous embodiment, the semiconductor laser component has a housing and the laser diode chip and the PTC resistor are integrated into the housing. The integration of the laser diode chip and the PTC resistor in a common housing, the thermal connection and thus the temperature exchange between the PTC resistor and the laser diode chip is further improved. The housing of the semiconductor laser component, in which the PTC resistor and the laser diode chip are integrated, can in particular be a so-called TO (transistor outline) housing. Alternatively, other housings, in particular surface mount housings, are suitable.
Bei einer Ausführungsform des Verfahrens zum Betrieb eines Halbleiterlaserbauelements weist das Halbleiterlaserbauelement einen PTC-Widerstand und einen Laserdiodenchip auf, die derart thermisch miteinander verbunden sind, dass sich die Betriebstemperatur des Laserdiodenchips vorteilhaft um nicht mehr als 10°C und besonders bevorzugt nicht mehr als 5°C von der Betriebstemperatur des PTC-Widerstands unterscheidet.In one embodiment of the method for operating a semiconductor laser component, the semiconductor laser component has a PTC resistor and a laser diode chip which are thermally connected to one another such that the operating temperature of the laser diode chip is advantageously not more than 10 ° C. and more preferably not more than 5 ° C is different from the operating temperature of the PTC resistor.
Der PTC-Widerstand wird bevorzugt oberhalb seiner Nenntemperatur betrieben. Die Nenntemperatur des PTC-Widerstands beträgt vorzugsweise zwischen einschließlich 40°C und einschließlich 70°C.The PTC resistor is preferably operated above its nominal temperature. The nominal temperature of the PTC resistor is preferably between 40 ° C and 70 ° C inclusive.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung emittiert die Halbleiterlaserdiode bei einer Umgebungstemperatur T Strahlung mit einer Wellenlänge λ, wobei bei einer Änderung der Umgebungstemperatur ΔT eine Änderung der Wellenlänge Δλ auftritt, für die Δλ/ΔT ≤ 0,1 nm/°C gilt. Vorzugsweise gilt Δλ/ΔT ≤ 0,05 nm/°C. Beispielsweise tritt bei einer Änderung der Umgebungstemperatur von 10°C eine Änderung der Wellenlänge von nur weniger als 1 nm oder sogar von nur weniger als 0,5 nm auf.In a preferred embodiment, the semiconductor laser diode emits radiation having a wavelength λ at an ambient temperature T, wherein a change in the wavelength Δλ occurs when the ambient temperature ΔT changes, for which Δλ / ΔT ≤ 0.1 nm / ° C. Preferably, Δλ / ΔT ≤ 0.05 nm / ° C. For example, with a change in ambient temperature of 10 ° C, a change in wavelength of only less than 1 nm or even less than 0.5 nm occurs.
Die Umgebungstemperatur T, bei der das Halbleiterlaserbauelement betrieben wird, kann beispielsweise zwischen 0°C und 50°C betragen.The ambient temperature T at which the semiconductor laser device is operated may be, for example, between 0 ° C and 50 ° C.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von Ausführungsbeispielen in Zusammenhang mit den
Es zeigen:Show it:
Gleiche oder gleich wirkende Bestandteile sind in den Figuren mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Die Größen der Bestandteile sowie die Größenverhältnisse der Bestandteile untereinander sind nicht als maßstabsgerecht anzusehen.Identical or equal components are provided in the figures with the same reference numerals. The sizes of the components and the size ratios of the components with each other are not to be regarded as true to scale.
Das in
Die Laserdiode
Weiterhin enthält das Halbleiterlaserbauelement
Der PTC-Widerstand
Zur elektrischen Kontaktierung können die Laserdiode
Dadurch, dass in dem Halbleiterlaserbauelement
Die Wirkungsweise des PTC-Widerstands als temperaturstabilisierendes Element wird anhand der
Die Nenntemperatur Tn des PTC-Widerstands ist abhängig vom Material und darin enthaltenen Zusatzstoffen und kann beispielsweise zwischen etwa 40°C und etwa 150°C betragen.The nominal temperature T n of the PTC resistor is dependent on the material and additives contained therein and may for example be between about 40 ° C and about 150 ° C.
Vorzugsweise beträgt die Nenntemperatur des PTC-Widerstands zwischen einschließlich 40°C und einschließlich 70°C. Dies ermöglicht einen Betrieb des Halbleiterlaserbauelements oberhalb der Nenntemperatur Tn, so dass der PTC-Widerstand vorteilhaft einen stark positiven Temperaturkoeffizienten aufweist.Preferably, the nominal temperature of the PTC resistor is between 40 ° C and 70 ° C inclusive. This allows operation of the semiconductor laser device above the nominal temperature T n , so that the PTC resistor advantageously has a strongly positive temperature coefficient.
In
Da der PTC-Widerstand und die Laserdiode thermisch miteinander verbunden sind, bewirkt das thermisch selbststabilisierende Verhalten des PTC-Widerstands auch eine thermische Stabilisierung der Laserdiode. Insbesondere kann erreicht werden, dass bei einer Änderung der Umgebungstemperatur ΔT eine Änderung der Wellenlänge Δλ auftritt, für die Δλ/ΔT ≤ 0,1 nm/°C gilt. Vorzugsweise gilt Δλ/ΔT ≤ 0,05 nm/°C. Die Umgebungstemperatur T kann beispielsweise zwischen 0°C und 50°C betragen.Since the PTC resistor and the laser diode are thermally connected to each other, the thermally self-stabilizing behavior of the PTC resistor also causes thermal stabilization of the laser diode. In particular, it can be achieved that, when the ambient temperature ΔT changes, a change in the wavelength Δλ occurs for which Δλ / ΔT ≤ 0.1 nm / ° C. Preferably, Δλ / ΔT ≤ 0.05 nm / ° C. The ambient temperature T may for example be between 0 ° C and 50 ° C.
Das Halbleiterlaserbauelement
Die in
Bei dem in
Bei dem in
Innerhalb des Gehäuses
In
Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.The invention is not limited by the description with reference to the embodiments. Rather, the invention encompasses any novel feature as well as any combination of features, including in particular any combination of features in the claims, even if this feature or combination itself is not explicitly stated in the claims or exemplary embodiments.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2507732A (en) * | 2012-11-07 | 2014-05-14 | Oclaro Technology Ltd | Laser temperature control |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4235768A1 (en) * | 1992-10-24 | 1994-05-19 | Cho Ok Kyung | Modified semiconductor laser diode with integrated temperature control part |
US5703893A (en) * | 1995-01-13 | 1997-12-30 | Fujitsu Limited | Laser diode module |
US6236668B1 (en) * | 1998-06-29 | 2001-05-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus and pumping circuit therefor |
US20020121671A1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-05 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser device and semiconductor laser module |
US20040161000A1 (en) * | 2003-02-13 | 2004-08-19 | Byung-Kwon Kang | Uncooled optical communication module |
JP2008277644A (en) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Temperature controller for wavelength locker, the wavelength locker and optical module |
JP2008294262A (en) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical element module and its manufacturing method |
-
2010
- 2010-04-07 DE DE102010014100A patent/DE102010014100A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4235768A1 (en) * | 1992-10-24 | 1994-05-19 | Cho Ok Kyung | Modified semiconductor laser diode with integrated temperature control part |
US5703893A (en) * | 1995-01-13 | 1997-12-30 | Fujitsu Limited | Laser diode module |
US6236668B1 (en) * | 1998-06-29 | 2001-05-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus and pumping circuit therefor |
US20020121671A1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-05 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser device and semiconductor laser module |
US20040161000A1 (en) * | 2003-02-13 | 2004-08-19 | Byung-Kwon Kang | Uncooled optical communication module |
JP2008277644A (en) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Temperature controller for wavelength locker, the wavelength locker and optical module |
JP2008294262A (en) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical element module and its manufacturing method |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2507732A (en) * | 2012-11-07 | 2014-05-14 | Oclaro Technology Ltd | Laser temperature control |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
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Effective date: 20141101 |