DE102019128903A1 - Connecting a connecting wire to a contacting element of a device - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung umfasst eine Vorrichtung (1) zum Erfassen einer physikalischen Messgröße eines Messmediums, umfassend:- Ein Substrat (100);- Ein auf einem ersten Teilbereich des Substrats (100) aufgebrachtes Sensorelement (110);- Ein auf einem zweiten Teilbereich des Substrats (100) aufgebrachtes Kontaktpad (120), wobei das Kontaktpad (120) mittels zumindest einer Leiterbahn mit dem Sensorelement (110) verbunden ist;- Ein Kontaktierungselement, welches eine Anschlussfläche (130) aufweist und welches auf dem Kontaktpad (120) aufgebracht ist; und- Ein Anschlussdraht (140), welcher auf einem Endbereich eine Anschlussfläche (130') aufweist, wobei die Anschlussfläche (130) des Kontaktierungselements eine Vielzahl von Nanodrähten aufweist und/oder wobei die Anschlussfläche (130') des Anschlussdrahts (140) eine Vielzahl von Nanodrähten aufweist,wobei die Anschlussfläche (130) des Kontaktierungselements und die Anschlussfläche (130') des Anschlussdrahts (140) derart zusammengeführt sind, dass sich diese mittels der Nanodrähte kontaktieren,sowie ein Verfahren zum Verbinden eines Anschlussdrahts (140) mit einem Kontaktierungselement einer erfindungsgemäßen Vorrichtung (1).The invention comprises a device (1) for detecting a physical measured variable of a measurement medium, comprising: - a substrate (100); - a sensor element (110) applied to a first partial area of the substrate (100); - a sensor element (110) applied to a second partial area of the substrate (100) applied contact pad (120), the contact pad (120) being connected to the sensor element (110) by means of at least one conductor track; - a contacting element which has a connection surface (130) and which is applied to the contact pad (120); and a connection wire (140) which has a connection surface (130 ') on one end region, the connection surface (130) of the contacting element having a plurality of nanowires and / or the connection surface (130') of the connection wire (140) having a plurality of nanowires, the connection surface (130) of the contacting element and the connection surface (130 ') of the connection wire (140) being brought together in such a way that they contact one another by means of the nanowires, as well as a method for connecting a connection wire (140) to a contacting element of a device according to the invention (1).
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Messgröße eines Messmediums. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Verbinden eines Anschlussdrahts, welcher eine Anschlussfläche aufweist, mit einem Kontaktierungselement einer Vorrichtung, welches eine Anschlussfläche aufweist, wobei die Vorrichtung ein Substrat, ein auf einem ersten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Sensorelement, ein auf einem zweiten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Kontaktpad und ein auf dem Kontaktpad aufgebrachtes Kontaktierungselement aufweist, wobei das Kontaktpad mittels zumindest einer Leiterbahn mit dem Sensorelement verbunden ist.The invention relates to a device for acquiring a physical measured variable of a measuring medium. Furthermore, the invention relates to a method for connecting a connection wire, which has a connection surface, to a contacting element of a device, which has a connection surface, wherein the device comprises a substrate, a sensor element applied to a first partial area of the substrate, a sensor element applied to a second partial area of the Has a contact pad applied to the substrate and a contacting element applied to the contact pad, the contact pad being connected to the sensor element by means of at least one conductor track.
Aus dem Stand der Technik sind eine Vielzahl von Sensorelementen zur Bestimmung von physikalischen Messwerten verschiedener Messmedien bekannt. So dienen diese beispielsweise dem Bestimmen der Temperatur, der Gaskonzentration, der Strömungsgeschwindigkeit, dem Feuchtegehalt oder dem pH-Wert des Messmediums.A large number of sensor elements for determining physical measured values of various measurement media are known from the prior art. For example, they are used to determine the temperature, the gas concentration, the flow rate, the moisture content or the pH value of the measuring medium.
Standard-Sensorelemente sind typischerweise so aufgebaut, dass diese als, insbesondere strukturierte, Schicht ausgestaltet sind und auf einem Substrat aufgebracht sind. Das Sensorelement selbst ist mittels einer Leiterbahn mit einem Kontaktpad verbunden. Typischerweise ist ein kurzer Anschlussdraht an das Kontaktpad angeschweißt oder angelötet. Dieses Gesamtpaket wird so zum Kunden geliefert, welcher dann den Anschlussdraht in geeigneter Weise verlängern muss, um das Sensorelement in seine Anwendung, bzw. in sein Produkt, einzubauen.Standard sensor elements are typically constructed in such a way that they are designed as a, in particular structured, layer and are applied to a substrate. The sensor element itself is connected to a contact pad by means of a conductor track. Typically, a short connecting wire is welded or soldered to the contact pad. This complete package is delivered to the customer, who then has to extend the connecting wire in a suitable manner in order to install the sensor element in his application or in his product.
Dieser Aufbau hat diverse Nachteile:
- Die Anschlussdrähte müssen herstellerseitig oft einzeln pro Sensorelement angeschweißt oder angelötet werden, was zeitaufwendig und teuer ist. Kundenseitig müssen zudem die Anschlussdrähte jedes Sensors einzeln verlängert werden (beispielsweise mittels Laserschweißens, Lötens und/oder Krimpens), was ebenfalls zeitaufwändig ist. Zudem verlangt dies spezielles Equipment und Know-How beim Kunden. Weiterhin besteht die Gefahr, das Sensorelement thermisch zu schädigen oder zu „vergiften“, beispielsweise durch inkompatibles Flussmittel. Je nach Prozess weist die Verbindung des Anschlussdrahtes mit dem Kontaktpad zudem nur eine geringe bis mittelmäßige Temperaturbeständigkeit auf.
- The connection wires often have to be welded or soldered individually to each sensor element by the manufacturer, which is time-consuming and expensive. On the customer side, the connecting wires of each sensor must also be individually extended (for example by means of laser welding, soldering and / or crimping), which is also time-consuming. In addition, this requires special equipment and know-how from the customer. There is also the risk of thermally damaging or “poisoning” the sensor element, for example through incompatible flux. Depending on the process, the connection between the connecting wire and the contact pad also has only a low to mediocre temperature resistance.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht daher darin, eine thermisch stabile elektrische Verbindung eines Anschlussdrahts mit einem Sensorelement anzugeben, welche ohne spezielles Equipment und Know-how realisierbar ist.The object of the present invention is therefore to provide a thermally stable electrical connection between a connecting wire and a sensor element, which can be implemented without special equipment and know-how.
Die Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1 und durch ein Verfahren gemäß Anspruch 10 gelöst.The object is achieved by a device according to
Hinsichtlich der Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Messgröße eines Messmediums ist vorgesehen, dass die Vorrichtung umfasst:
- - Ein Substrat;
- - Ein auf einem ersten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Sensorelement;
- - Ein auf einem zweiten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Kontaktpad, wobei das Kontaktpad mittels zumindest einer Leiterbahn mit dem Sensorelement verbunden ist;
- - Ein Kontaktierungselement, welches eine Anschlussfläche aufweist und welches auf dem Kontaktpad aufgebracht ist; und
- - Ein Anschlussdraht, welcher auf einem Endbereich eine Anschlussfläche aufweist, wobei die Anschlussfläche des Kontaktierungselement eine Vielzahl von Nanodrähten aufweist und/oder wobei die Anschlussfläche des Anschlussdrahts eine Vielzahl von Nanodrähten aufweist,
- - a substrate;
- - A sensor element applied to a first partial area of the substrate;
- A contact pad applied to a second partial area of the substrate, the contact pad being connected to the sensor element by means of at least one conductor track;
- A contacting element which has a connection surface and which is applied to the contact pad; and
- A connection wire which has a connection surface on one end region, the connection surface of the contact-making element having a multiplicity of nanowires and / or the connection surface of the connection wire having a multiplicity of nanowires,
Durch die Verwendung von Nanodrähten auf mindestens eine der Anschlussflächen kann eine elektrisch leitende und mechanisch stabile Verbindung geschaffen werden. By using nanowires on at least one of the connection surfaces, an electrically conductive and mechanically stable connection can be created.
Die Verbindung ist abhängig vom Material beständig bis in hohe Temperaturbereiche, insbesondere bis zu 1500 °C.Depending on the material, the connection is resistant up to high temperature ranges, in particular up to 1500 ° C.
Bevorzugterweise weisen beide Anschlussflächen, also die des Kontaktierungselements und die des Anschlussdrahts, Nanodrähte auf. In einem solchen Fall kann die Verbindung zwischen dem Anschlussdraht und dem Kontaktierungselement besonders gut elektrisch leitend und mechanisch stabil ausgebildet sein, da aufgrund der Größe der Nanodrähte ist die Oberfläche der Verbindung vergrößert ist.Both connection surfaces, that is to say that of the contacting element and that of the connection wire, preferably have nanowires. In such a case, the connection between the connecting wire and the contacting element can be designed to be particularly electrically conductive and mechanically stable, since the surface area of the connection is increased due to the size of the nanowires.
Bei dem Anschlussdraht handelt es sich insbesondere um Draht mit einem kreisrunden Querschnitt. Alternativ kann es sich auch um einen Flachdraht oder Leadframes handeln. Der Anschlussdraht kann bevorzugt aus Platin, Pt DPH, Nickel, Gold, einer Platin-Nickel-Legierung, einer Gold-Nickel-Legierung oder Kupfer bestehen.The connecting wire is, in particular, wire with a circular cross section. Alternatively, it can also be a flat wire or leadframe. The connecting wire can preferably consist of platinum, Pt DPH, nickel, gold, a platinum-nickel alloy, a gold-nickel alloy or copper.
Im Zusammenhang mit der Erfindung bezeichnet das Merkmal „Sensorelement“ eine sensitive, bzw. aktive Schicht, welche beispielsweise strukturiert ist.In connection with the invention, the feature “sensor element” denotes a sensitive or active layer, which is structured, for example.
Gemäß einer ersten Variante der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass im Falle, dass das Kontaktierungselement Nanodrähte aufweist, das Kontaktierungselement zumindest eine Haftschicht aufweist, wobei die Haftschicht im Bereich des Kontaktpads, bzw. auf dem Kontaktpad, aufgebracht ist und wobei die Anschlussfläche auf der Haftschicht aufgebracht ist. Die Haftschicht dient dem Anhaften der Nanodrähte auf dem Kontaktpad, bzw. auf der Oberfläche, welche zum Aufbringen der Nanodrähte vorgesehen ist. Es kann vorgesehen sein, auch die Anschlussfläche des Anschlussdrahts mit einer solchen Haftschicht zu versehen. Vorteilhafterweise umfasst die Haftschicht Titan-Wolfram-Legierung, Chrom-Platin, Nickel-Chrom oder andere typische Haftschichten. Es können auch mehrere übereinander gelagerte Haftschichten unterschiedlichen Materials vorgesehen sein.According to a first variant of the device according to the invention, it is provided that in the event that the contacting element has nanowires, the contacting element has at least one adhesive layer, the adhesive layer being applied in the area of the contact pad or on the contact pad, and the connection surface being on the adhesive layer is upset. The adhesive layer serves to adhere the nanowires to the contact pad or to the surface which is provided for applying the nanowires. It can be provided that the connection surface of the connection wire is also provided with such an adhesive layer. The adhesive layer advantageously comprises titanium-tungsten alloy, chromium-platinum, nickel-chromium or other typical adhesive layers. A plurality of adhesive layers of different materials superimposed on one another can also be provided.
Gemäß einer zweiten Variante der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass im Falle, dass das Kontaktierungselement frei von Nanodrähten ist, das Kontaktierungselement eine auf dem Kontaktpad aufgebrachte Schicht mit einer rauen oder porösen Oberfläche aufweist. Dadurch wird die Oberfläche des Kontaktpads vergrößert, wodurch die Haftfähigkeit der Nanodrähte der Anschlussfläche des Anschlussdrahts erhöht wird.According to a second variant of the device according to the invention, it is provided that, in the event that the contacting element is free of nanowires, the contacting element has a layer with a rough or porous surface applied to the contact pad. As a result, the surface of the contact pad is enlarged, as a result of which the adhesion of the nanowires to the connection surface of the connection wire is increased.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der ersten oder der zweiten Variante ist eine Abdeckschicht vorgesehen, welche das Kontaktierungselement und den Endbereich des Anschlussdrahts vollständig oder partiell bedeckt. Dadurch wird die Festigkeit der Verbindung zwischen der Anschlussfläche des Anschlussdrahts und der Anschlussfläche des Kontaktierungselements erhöht, insbesondere dann, wenn nur eine dieser beiden Anschlussflächen Nanodrähte aufweist. Die Abdeckschicht besteht vorzugsweise aus einem Glas, einer Glaskeramik oder einem Polymer.According to an advantageous embodiment of the first or the second variant, a cover layer is provided which completely or partially covers the contact-making element and the end region of the connection wire. This increases the strength of the connection between the connection surface of the connection wire and the connection surface of the contact-making element, in particular if only one of these two connection surfaces has nanowires. The cover layer preferably consists of a glass, a glass ceramic or a polymer.
Gemäß einer dritten Variante der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass das Kontaktierungselement ein Drahtelement mit einem ersten und einem zweiten Endbereich umfasst, wobei der erste Endbereich mit dem Kontaktpad verbunden ist und wobei die Anschlussfläche auf dem zweiten Endbereich angeordnet ist. In dieser Variante weist die Vorrichtung bereits einen kurzen Anschlussdraht, bezeichnet als „Drahtelement“ auf. Dieser kann mittels Lötens oder Schweißens an dem Kontaktpad angebracht sein. Ebenfalls kann es vorgesehen, wie bezüglich der ersten und der zweiten Variante beschrieben, diese Löt- oder Schweißverbindung mittels einer Abdeckschicht zu verstärken. Dieses Drahtelement weist eine Anschlussfläche auf, an welcher der Anschlussdraht mittels Nanodrähte anschließbar ist, um das Drahtelement zu verlängern. Dadurch entfällt die im Zusammenhang mit den aus dem Stand der Technik bekannten Sensorelementen verbundene Notwendigkeit, das Drahtelement aufwendig mittels Laserschweißens, Lötens und/oder Krimpens zu verlängern.According to a third variant of the device according to the invention, it is provided that the contacting element comprises a wire element with a first and a second end region, the first end region being connected to the contact pad and the connection surface being arranged on the second end region. In this variant, the device already has a short connecting wire, referred to as a “wire element”. This can be attached to the contact pad by soldering or welding. It can also be provided, as described with respect to the first and the second variant, to reinforce this soldered or welded connection by means of a cover layer. This wire element has a connection surface to which the connection wire can be connected by means of nanowires in order to lengthen the wire element. This eliminates the need associated with the sensor elements known from the prior art to lengthen the wire element in a costly manner by means of laser welding, soldering and / or crimping.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass die Nanodrähte einseitig an der jeweiligen Anschlussfläche angebracht sind und die jeweilige Anschlussfläche im Wesentlichen flächig bedecken. Die jeweilige Anschlussfläche weist also eine flächige Bedeckung mit Nanodrähte auf, sind also vollständig mit den Nanodrähten bedeckt, welche einen Nanorasen bilden. According to an advantageous embodiment of the device according to the invention, it is provided that the nanowires are attached to one side of the respective connection surface and essentially cover the respective connection surface over a large area. The respective connection surface thus has a flat covering with nanowires, that is to say is completely covered with the nanowires, which form a nanoscale.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass die Nanodrähte aus einem Metall, insbesondere Kupfer, Silber, Gold, Nickel oder Platin, bestehen. Alternativ bestehen die Nanodrähte aus einer Legierung, welche zumindest eines der vorgenannten Metalle umfasst. Auf diese Weise kann eine elektrisch leitfähige Verbindung zwischen dem Kontaktpad und dem Anschlussdraht gewährleistet werden.According to an advantageous embodiment of the device according to the invention, it is provided that the nanowires consist of a metal, in particular copper, silver, gold, nickel or platinum. Alternatively, the nanowires consist of an alloy which comprises at least one of the aforementioned metals. In this way, an electrically conductive connection between the contact pad and the connecting wire can be ensured.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass die Nanodrähte mittels eines lonenspurätzverfahrens hergestellt sind. Bevorzugterweise weisen die Nanodrähte eine Länge im Bereich von 100 nm bis 100 µm auf. Weiterhin weisen die Nanodrähte bevorzugt einen Durchmesser im Bereich von 10 nm bis 100 µm, insbesondere im Bereich von 30 nm bis 2 µm auf. Dabei bezieht sich der Begriff „Durchmesser“ auf eine kreisförmige Grundfläche, wobei bei einer davon abweichenden Grundfläche eine vergleichbare Definition eines Durchmessers heranzuziehen ist. Es ist besonders bevorzugt, dass alle verwendeten Nanodrähte die gleiche Länge und den gleichen Durchmesser aufweisen. Die Drähte können alternativ auch mit anderen, geeigneten Herstellungsmethoden gefertigt werden.According to an advantageous embodiment of the device according to the invention, it is provided that the nanowires are produced by means of an ion track etching process. The nanowires preferably have a length in the range from 100 nm to 100 μm. Furthermore, the nanowires preferably have a diameter in the range from 10 nm to 100 μm, in particular in the range from 30 nm to 2 μm. The term “diameter” refers to a circular base area, with a comparable definition of a diameter being used for a base area that differs therefrom. It is particularly preferred that all nanowires used have the same length and the same diameter. Alternatively, the wires can also be manufactured using other, suitable manufacturing methods.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, dass das Sensorelement ein Temperatursensor, ein Gassensor, ein Durchflusssensor, ein Feuchtesensor, ein Leitfähigkeitssensor, ein pH-Sensor oder ein Biosensor ist, oder wobei das Sensorelement dazu ausgestaltet ist, bei Beaufschlagen mit einer elektrischen Leistung Wärme zu emittieren.According to an advantageous embodiment of the device according to the invention, it is provided that the sensor element is a temperature sensor, a gas sensor, a flow sensor, a humidity sensor, a conductivity sensor, a pH sensor or a biosensor, or the sensor element is designed to react with an electrical Power to emit heat.
Hinsichtlich des Verfahrens ist vorgesehen, dass das Verfahren zum Verbinden eines Anschlussdrahts, welcher eine Anschlussfläche aufweist, mit einem Kontaktierungselement einer Vorrichtung, welches eine Anschlussfläche aufweist, dient, wobei die Vorrichtung ein Substrat, ein auf einem ersten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Sensorelement, ein auf einem zweiten Teilbereich des Substrats aufgebrachtes Kontaktpad und ein auf dem Kontaktpad aufgebrachtes Kontaktierungselement aufweist, wobei das Kontaktpad mittels zumindest einer Leiterbahn mit dem Sensorelement verbunden ist, umfassend:
- - Bereitstellen einer Vielzahl von Nanodrähten auf der Anschlussfläche des Kontaktierungselements und/oder Bereitstellen einer Vielzahl von Nanodrähten auf der Anschlussfläche des Anschlussdrahts;
- - Zusammenführen der Anschlussflächen, so dass die Anschlussfläche des Kontaktpads mit der Anschlussfläche des Anschlussdrahts mittels der Nanodrähte in Kontakt gebracht wird.
- Provision of a multiplicity of nanowires on the connection surface of the contact-making element and / or provision of a multiplicity of nanowires on the connection surface of the connection wire;
- Merging of the connection surfaces, so that the connection surface of the contact pad is brought into contact with the connection surface of the connection wire by means of the nanowires.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist vorgesehen, dass die Anschlussfläche des Kontaktierungselements und/oder die Anschlussfläche des Anschlussdrahts auf eine Temperatur von mindestens 150°C erwärmt wird. Die Wärme wird beispielsweise von extern zugeführt, beispielsweise, indem die Vorrichtung in einen geeigneten Ofen gelegt wird. Alternativ wird ein elektrischer Strom durch die Verbindung geführt, indem beispielsweise ein Pluspol an dem Anschlussdraht angelegt wird und ein Minuspol an dem Kontaktpad angelegt wird. Durch den Stromfluss erwärmt sich die Verbindung. Die Höhe des elektrischen Stroms wird derart gewählt, dass die Temperatur von mindestens 150°C erreicht wird.According to an advantageous embodiment of the method according to the invention, it is provided that the connection surface of the contacting element and / or the connection surface of the connection wire is heated to a temperature of at least 150.degree. The heat is supplied externally, for example, by placing the device in a suitable furnace. Alternatively, an electric current is passed through the connection by, for example, applying a positive pole to the connecting wire and applying a negative pole to the contact pad. The connection heats up due to the flow of current. The level of the electrical current is chosen so that the temperature of at least 150 ° C is reached.
Im Falle, dass nur eine der beiden Anschlussflächen Nanodrähte aufweist, ist dieser Verfahrensschritt erforderlich, um eine ausreichende Festigkeit der Verbindung zu gewährleisten.In the event that only one of the two connection surfaces has nanowires, this process step is necessary in order to ensure sufficient strength of the connection.
Im Falle, dass beide Anschlussflächen Nanodrähte aufweisen, erhöht ein solcher Verfahrensschritt die bereits ausreichende Festigkeit der Verbindung weiter.In the event that both connection surfaces have nanowires, such a method step further increases the already sufficient strength of the connection.
Die Erfindung wird anhand der nachfolgenden Figuren näher erläutert. Es zeigen
-
1 : ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung; und -
2 : ein zweites Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.
-
1 : a first embodiment of a device according to the invention; and -
2 : a second embodiment of a device according to the invention.
Das Sensorelement
Auf das Kontaktpad
Der Anschlussdraht
Anschließend kann die Verbindung zum Zwecke der Erhöhung der mechanischen Stabilität für eine bestimmte Zeit auf eine Temperatur von mindestens 150 °C erwärmt werden. Dies kann beispielsweise über einen geeigneten Ofen vorgenommen werden, oder indem ein elektrischer Strom durch die Verbindung geführt wird.The connection can then be heated to a temperature of at least 150 ° C. for a certain time in order to increase the mechanical stability. This can be done, for example, via a suitable furnace, or by passing an electrical current through the connection.
Es kann auch vorgesehen sein, dass nicht beide Anschlussflächen
Um für eine zusätzliche mechanische Stabilität zu sorgen, kann eine Abdeckschicht
Die Anschlussfläche
Die Platzierung der Nanodrähte und das gegenseitige Kontaktieren kann analog des ersten Ausführungsbeispiels ausgestaltet sein.The placement of the nanowires and the mutual contacting can be configured analogously to the first exemplary embodiment.
BezugszeichenlisteList of reference symbols
- 11
- Vorrichtungcontraption
- 100100
- SubstratSubstrate
- 110110
- SensorelementSensor element
- 120120
- KontaktpadContact pad
- 130, 130'130, 130 '
- AnschlussflächenConnection surfaces
- 140140
- AnschlussdrahtConnecting wire
- 150150
- AbdeckschichtCover layer
- 160160
- PassivierungsschichtPassivation layer
- 170170
- DrahtelementWire element
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019128903.3A DE102019128903A1 (en) | 2019-10-25 | 2019-10-25 | Connecting a connecting wire to a contacting element of a device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019128903.3A DE102019128903A1 (en) | 2019-10-25 | 2019-10-25 | Connecting a connecting wire to a contacting element of a device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102019128903A1 true DE102019128903A1 (en) | 2021-04-29 |
Family
ID=75378952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019128903.3A Pending DE102019128903A1 (en) | 2019-10-25 | 2019-10-25 | Connecting a connecting wire to a contacting element of a device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102019128903A1 (en) |
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WO2024132329A1 (en) * | 2022-12-19 | 2024-06-27 | Innovative Sensor Technology Ist Ag | Electrical or electronic component, method for producing same, and use of such a component |
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-
2019
- 2019-10-25 DE DE102019128903.3A patent/DE102019128903A1/en active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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R163 | Identified publications notified | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: KRATT-STUBENRAUCH, KAI, DR., DE |
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