DE102015004607A1 - Sensor unit, system and method for detecting and locating anomalies in test objects of electrically conductive material - Google Patents
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Abstract
Mit der vorliegenden Erfindung sollen eine Sensoreinheit, ein System und ein Verfahren zum Detektion und Lokalisierung von Anomalien in Prüfobjekten aus elektrisch leitfähigem Material bereitgestellt werden, mit denen elektrisch leitfähige Materialien global und lokal geprüft und vorhandene Anomalien charakterisiert werden können. Der erfindungsgemäßes System umfasst mindestens eine Sensoreinheit, bestehend aus einer statischen Magnetfeldquelle (02) und ein ersten Magnetsystem (04), mindestens eine Positionier- und Kraftmesseinheit (03), an welcher das erste Magnetsystem (04) befestigt ist, und einer Auswerte- und Steuereinheit (08). Mit Hilfe der erfassten, auf die Magnetfeldquelle wirkenden Kraftkomponenten können vorhandene Anomalien global und lokal analysiert und bewertet werden.The present invention is intended to provide a sensor unit, a system and a method for detecting and locating anomalies in test objects made of electrically conductive material, with which electrically conductive materials can be tested globally and locally and existing anomalies can be characterized. The inventive system comprises at least one sensor unit, consisting of a static magnetic field source (02) and a first magnet system (04), at least one positioning and force measuring unit (03) to which the first magnet system (04) is attached, and an evaluation and Control unit (08). With the help of the detected force components acting on the magnetic field source, existing anomalies can be analyzed and evaluated globally and locally.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sensoreinheit, ein System und ein Verfahren zur Detektion und Lokalisierung von Anomalien in Prüfobjekten aus elektrisch leitfähigem Material.The present invention relates to a sensor unit, a system and a method for detecting and locating anomalies in test objects of electrically conductive material.
In der heutigen Zeit spielt die zerstörungsfreie Detektion von Anomalien in Werkstoffen aufgrund der ständig steigenden Materialanforderungen eine große Rolle. In diesem Sinne wird der Prüfkörper vor seinem Einsatz auf Inklusionen, Defekte oder allgemeine Materialinhomogenitäten untersucht, die während des Produktionsprozesses entstehen können. Dabei ist die Untersuchung von elektrisch leitfähigen Materialien aufgrund der hohen Bedeutung metallischer Werkstoffe in der heutigen Zeit unabdingbar.Non-destructive detection of material anomalies is currently important due to ever-increasing material requirements. In this sense, the specimen is examined prior to its use for inclusions, defects or general material inhomogeneities that may arise during the production process. The investigation of electrically conductive materials is indispensable today because of the importance of metallic materials.
Der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung liegt eine Reihe von Verfahren zu Grunde, die in dem
Eine besondere Bedeutung bei der Untersuchung von elektrisch leitfähigen Materialien kommt den elektromagnetischen Verfahren zu. Ein bekanntes Verfahren in diesem Bereich stellt die Wirbelstromprüfung dar. Ein konventioneller Sensor umfasst Erreger- und Empfängerspulen. Die Erregerspule wird an eine Wechselspannungsquelle angeschlossen und erzeugt ein elektromagnetisches Wechselfeld. Aufgrund der zeitlichen Änderung des Magnetfeldes werden im Prüfkörper Wirbelströme induziert, deren Verlauf im Falle eines Defektes gestört wird. Dies hat eine Veränderung des von den Wirbelströmen erzeugten Magnetfeldes zur Folge. Mit Hilfe der Empfängerspulen wird eine solche Veränderung erfasst. In diesem Sinne hängt die Qualität des Messsignals stark von der gewählten Erregerfrequenz ab. Ein wesentlicher Nachteil dieses Verfahrens stellt die geringe Eindringtiefe der elektromagnetischen Felder dar, die ebenfalls von der Frequenz des Primärfeldes, sowie von den Materialeigenschaften des Prüfkörpers bestimmt wird. Defekte die tiefer als das Dreifache der Eindringtiefe liegen, können in der Regel nur schwer klassifiziert werden (
Bisher können mit Hilfe des Prinzips der Wirbelstromprüfung axialsymmetrische Prüfkörper auf oberflächennahe Defekte untersucht werden („Defectomat”, Institut Dr. Foerster GmbH & Co. KG http://www.foerstergroup.de/DEFECTOMAT-DS.67.0.html). Dabei ist das Untersuchungsobjekt von einer Erregerspule umgeben. Im Fall eines Defektes ist eine zeitliche Änderung des sekundären Magnetfeldes zu verzeichnen, die mit Hilfe von Empfängerspulen detektiert wird. Das beschriebene Verfahren umfasst lediglich die Detektion von Defekten, zur genauen Lokalisierung hingegen wird ein zweites Testsystem benötigt („Circograph”, Institut Dr. Foerster GmbH & Co. KG, http://www.foerstergroup.de/CIRCOGRAPH-DS.74.0.html). In diesem System rotieren Wirbelstromsensoren um den axialsymmetrischen Prüfkörper. Bei gleichzeitiger Bewegung des Prüfobjektes ergibt sich eine helixförmige Prüfspur. Dabei muss allerdings der gesamte Prüfkörper gescannt werden, um eine Lokalisierung von Defekten zu ermöglichen.So far, with the aid of the principle of eddy current testing, axially symmetric test specimens can be examined for near-surface defects ("Defectomat", Institute Dr. Foerster GmbH & Co. KG http://www.foerstergroup.de/DEFECTOMAT-DS.67.0.html). The object to be examined is surrounded by an exciter coil. In the case of a defect, a temporal change of the secondary magnetic field is detected, which is detected by means of receiver coils. The method described comprises only the detection of defects, for the exact localization, however, a second test system is required ("Circograph", Institute Dr. Foerster GmbH & Co. KG, http://www.foerstergroup.de/CIRCOGRAPH-DS.74.0. html). In this system, eddy current sensors rotate around the axisymmetric test specimen. With simultaneous movement of the test object results in a helical test track. However, the entire specimen must be scanned to allow localization of defects.
In der Patentanmeldung
Eine Modifikation der klassischen Wirbelstromprüfung wurde in den letzten Jahren an der Technischen Universität Ilmenau unter dem Namen „Lorentzkraft Wirbelstromprüfung” (LET) entwickelt. Diese beruht auf der Induktion von Wirbelströmen aufgrund einer Relativbewegung zwischen dem Prüfling und der Magnetfeldquelle. Anders als bei der klassischen Wirbelstromprüfung wird das Prüfobjekt einem statischen Magnetfeld ausgesetzt. Als eine mögliche Magnetfeldquelle könnte ein Dauermagnet zum Einsatz kommen. Infolge der induzierten Wirbelströme wird eine Lorentzkraft hervorgerufen. Aufgrund des dritten Newtonschen Axioms wirkt diese Kraft auf den Prüfling und die Magnetfeldquelle. Mittels Kraftsensoren, kann die Kraft, die auf die Quelle wirkt gemessen werden. Ein zusätzlicher Informationsgehalt ergibt sich unter Verwendung von 3D Kraftsensoren, die die Kräfte in alle drei Raumrichtungen messen. Passiert ein Defekt innerhalb des Prüfobjektes die Magnetfeldquelle, werden die Wirbelströme in Ihrer Ausprägung gestört. Infolge dessen ergibt sich eine Änderung der gemessenen Lorentzkräfte, die vom Messsystem detektiert werden. Aufgrund der Verwendung von magnetischen Gleichfeldern können die elektromagnetischen Felder tiefer in das Prüfobjekt eindringen. Somit liegt ein wesentlicher Vorteil dieses Verfahrens darin, auch tiefer liegende Defekte detektieren zu können. Die Grundprinzipien sind in dem
In diesem Zusammenhang werden in der
Außerdem wird in der
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, den Stand der Technik weiterzuentwickeln und die aufgezeigten Nachteile zu überwinden und eine Sensoreinheit, ein System und ein Verfahren zum Detektion und Lokalisierung von Anomalien in Prüfobjekten aus elektrisch leitfähigem Material bereitzustellen, mit denen es gelingt elektrisch leitfähigen Materialien global und lokal zu prüfen und vorhandene Anomalien zu charakterisieren.The object of the present invention is to further develop the prior art and to overcome the drawbacks and to provide a sensor unit, a system and a method for the detection and localization of anomalies in test objects made of electrically conductive material, with which succeeds electrically conductive materials globally and to examine locally and to characterize existing anomalies.
Erfindungsgemäß gelingt die Lösung dieser Aufgabe mit den Merkmalen des ersten, sechsten und neunten Patentanspruchs. Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Lösung sind in den Unteransprüchen angegeben.According to the solution of this problem with the features of the first, sixth and ninth patent claim succeeds. Advantageous embodiments of the solution according to the invention are specified in the subclaims.
Im Folgenden werden Einzelheiten und Vorteile der Erfindung anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt:In the following, details and advantages of the invention will be explained in more detail with reference to drawings. It shows:
Das Prüfobjekt (
Die Analyse der Signalverläufe erfolgt in einer zentralen Auswerte- und Steuereinheit (
Die Erfindung umfasst weiterhin das in
In Kombination mit einem externen magnetischen Feld, hervorgerufen durch die anliegende Magnetfeldquelle (
Das erfindungsgemäße System kann durch die Verwendung von zusätzlichen Empfängerspulen erweitert werden. Aufgrund der zeitlichen Änderung des magnetischen Feldes im Fall eines Defektes, wird eine Spannung in einem der nahe am Prüfobjekt (
In einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel ist das erste Magnetsystem (
Die hohe Variabilität der Defektgeometrien stellt hohe Anforderungen an das erfindungsgemäße System zur deren Detektion und Lokalisierung. Aus diesem Grund kann es neben dem positionierbaren ersten Magnetsystem (
Ein nachgeschaltetes Markiersystem (
Die Vorteile der Erfindung liegen in der Möglichkeit der Lokalisierung möglicher Anomalien im Prüfobjekt (
Das erfindungsgemäße Verfahren kann beispielsweise in Kombination mit dem in der
Weiterhin kann das vorgestellte Verfahren um das Prinzip der differentiellen Messung nach
Als Prüfobjekte können neben axialsymmetrischen Aufbauten auch kantige Objekte und Flüssigkeiten untersucht werden, wobei die konkrete Geometrie der vorgeschalteten Magnetfeldquelle (
Potentielle Anwendungsgebiete liegen in der allgemeinen Überwachung der Werkstoffeigenschaften von elektrisch leitfähigen Halbzeugen wie sie zum Beispiel in Gieß- und Walzlinien zum Einsatz kommen. Des Weiteren ist die Analyse von Rohren und Rohrschweißlinien zur Überprüfung der Schweißqualität möglich. Die Kontrolle der Geometrie des Prüfkörpers wie zum Beispiel die der Rohrwandstärke kann ebenfalls erfolgen. Weitere Beispiele zur Anwendung liegen in der Prüfung von Endlos-Drahtlinien, Ziehlinien, Umspulern und in der Produktion von Ventilfedern.Potential application areas are the general monitoring of the material properties of electrically conductive semi-finished products such as those used in casting and rolling lines. Furthermore, the analysis of pipes and pipe welding lines to check the welding quality is possible. The control of the geometry of the specimen such as the pipe wall thickness can also be done. Further examples of application are the testing of endless wire lines, drawing lines, rewinders and in the production of valve springs.
BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS
- 0101
- Prüfobjekt aus elektrisch leitfähigem MaterialTest object made of electrically conductive material
- 0202
- statische Magnetfeldquellestatic magnetic field source
- 0303
- Positioniereinheit mit KraftmesseinheitPositioning unit with force measuring unit
- 0404
- positionierbares erstes Magnetsystempositionable first magnet system
- 0505
- positionierbares zweites Magnetsystempositionable second magnet system
- 0606
- Markiersystemmarking System
- 0707
- Oberflächendefektsurface defect
- 0808
- Auswerte- und SteuereinheitEvaluation and control unit
- 0909
- tief liegender Defektdeep lying defect
- 1010
- radial magnetisierter segmentierter Außenringradially magnetized segmented outer ring
- 1111
- axial magnetisiertes zylinderförmiges Segmentaxially magnetized cylindrical segment
- 1212
- ferromagnetisches zylinderförmiges Segment mit hoher Sättigungsmagnetisierungferromagnetic cylindrical segment with high saturation magnetization
- 1313
-
Spulensystem um Magnetfeldquelle
02 Coil system aroundmagnetic field source 02 - 1414
-
Spulenarray an Magnetfeldquelle
02 Coil array tomagnetic field source 02 - 1515
-
Spulensystem um Magnetsystem
04 Coil system aroundmagnet system 04 - 1616
-
Spulensystem um Magnetsystem
05 Coil system around magnet system05
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- WO 2007/053519 [0006] WO 2007/053519 [0006]
- DE 102011056650 A1 [0008, 0028] DE 102011056650 A1 [0008, 0028]
- WO 2014037388 A1 [0009, 0029] WO 2014037388 A1 [0009, 0029]
Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
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- Artikel „Lorentz force eddy current testing: a novel NDE-technique” von H. Brauer et al. (COMPEL – The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, vol. 33, no. 6, pp. 1965–1977, 2014) [0007] Article "Lorentz force eddy current testing: a novel NDE technique" by H. Brauer et al. (COMPEL - The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, vol. 33, no. 6, pp. 1965-1977, 2014) [0007]
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