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Die
vorliegende Erfindung betrifft einen Infrarotstrahlungsdetektor
(im Folgenden kurz: "Infrarotdetektor") mit einem Infrarotstrahlungssensor
(im Folgenden kurz: "Infrarotsensor") und einem Gehäuse.
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Ein
Infrarotdetektor, der durch Anordnen eines Infrarotsensors in einem
Gehäuse,
welches einen Sockel und eine Kappe mit einem Fensterabschnitt,
das für
Infrarotstrahlung durchlässig
ist, umfasst, ist aus dem Stand der Technik bekannt. Ein Beispiel
ist in der japanischen ungeprüften
Patentanmeldung Nr. H11-142245 offenbart.
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Dieser
Infrarotdetektor ist durch Anordnen eines Infrarotsensors in einer
Umhüllung
bekannt. Der Infrarotsensor wird gebildet, indem über einem Isolierungsfilm
ein Temperaturwandler (Thermoelemente) gebildet wird. Die Umhüllung (Gehäuse) umfasst
einem Behälter
(Kappe) mit einem für
Infrarotstrahlung durchlässigen
Fenster (Fensterabschnitt) und einer Basis (Sockel). Ein aus einem
Material mit hoher Wärmeleitfähigkeit
bestehendes Stützelement ist
zwischen dem Isolierungsfilm und der Basis angeordnet, und eine
Wärmesenke
ist zwischen dem Isolierungsfilm und dem Behälter angeordnet. Auf diese Weise
wird eine Temperaturdifferenz zwischen dem Behälter und der Basis und dem
Infrarotsensor verringert, und ein durch eine Änderung der Umgebungstemperatur
verursachtes falsches Ausgangssignal kann verhindert werden (Das
heißt,
das Ansprechverhalten des Infrarotdetektors ist verbessert).
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Bei
dem Infrarotdetektor mit dem oben beschriebenen Aufbau tritt jedoch
das Problem auf, dass das Stützelement
getrennt von dem Infrarotsensor hergestellt werden muss. Außerdem erfordert
die Wärmesenke
eine komplizierte Herstellung. D.h., wenn die Wärmesenke eingebaut wird, wird
deren Rand durch das Gehäuse
so gebogen bzw. verformt, dass es eine Mehrzahl von Kontaktabschnitten
aufweist, die in thermischen Kontakt mit der inneren Umfangsoberfläche des
Behälters
gebracht werden müssen.
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Angesichts
des oben beschriebenen Problems ist es Ziel der vorliegenden Erfindung,
einen Infrarotdetektor mit einfachem Aufbau und besserem Ansprechverhalten
bereitzustellen.
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Ein
Infrarotdetektor umfasst einen Infrarotsensor und ein Gehäuse. Der
Infrarotsensor umfasst ein Substrat mit einem dünnen Abschnitt als Membran,
eine Erfassungsvorrichtung zur Erzeugung eines elektrischen Signals
auf der Grundlage einer Temperaturänderung in Übereinstimmung mit einem empfangenen
Infrarotlicht bzw. einer empfangenen Infrarotstrahlung, wobei die
Erfassungsvorrichtung einen Teil aufweist, der auf der Membran angeordnet
ist, und einem Infrarotabsorptionsfilm, der so auf der Membran angeordnet
ist, dass er den Teil der Erfassungsvorrichtung abdeckt. Das Gehäuse umfasst eine
Basis und eine Kappe bzw. Abdeckung mit einer Öffnung, die für Infrarotstrahlung
(Infrarotlicht) durchlässig
ist. Der Infrarotsensor ist so in dem Gehäuse untergebracht, dass er
auf der Basis angeordnet und von der Kappe überdeckt ist. Die Kappe umfasst
ferner einen Vorsprung, der von einer inneren Wand der Kappe in
Richtung des Infrarotsensors derart hervorragt, dass ein innerer
Rand des Vorsprungs außerhalb
einer Linie angeordnet ist, die einen Rand der Öffnung des Gehäuses mit
einem Rand des Infrarotsensors verbindet. Der Vorsprung ist aus
einem Material hergestellt, das einen Wärmeleitungskoeffizient aufweist,
der größer als
derjenige eines in dem Gehäuse
befindlichen Gases ist.
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In
dem oben beschriebenen Detektor ist wenigstens ein Teil der Erfassungsvorrichtung
auf der Membran angeordnet, und der Infrarotsensor ist auf der Basis
des Gehäuses
angeordnet. Darüber
hinaus ist der Vorsprung zwischen dem Substrat und der Kappe ausgebildet.
Insbesondere ragt der Vorsprung von der Kappe in Richtung des Sensors
hervor. Der Vorsprung ist aus einem Material hergestellt, das einen
Wärmeleitungskoeffizienten
besitzt, der größer als
derjenige des in dem Gehäuse
befindlichen Gases ist. Demzufolge ist die Temperaturdifferenz zwischen
dem Sensor und dem Gehäuse
im Vergleich zu einem herkömmlichen
Detektor ohne Vorsprung verringert. Daher kann der Detektor auf
die Temperaturänderung
der äußeren Umgebung
reagieren. Das heißt,
das Ansprechverhalten des Detektors auf Änderungen der Umgebungstemperatur
ist verbessert, so dass der Detektor eine hohe Empfindlichkeit aufweist.
Darüber
hinaus ist die Membran als der dünne Abschnitt
des Substrats als Teil des Substrats ausgebildet, und ferner ist
der Vorsprung auf der Kappe ausgebildet. Demzufolge ist der Aufbau
des Detektors einfach.
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Vorzugsweise
ist der Vorsprung von dem Infrarotsensor getrennt. In diesem Fall
wird verhindert, dass die in der Erfassungsvorrichtung absorbierte Energie
infraroter Strahlung zu dem Substrat entweicht. Daher ist die Empfindlichkeit
des Sensors erhöht.
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Vorzugsweise
ist der Vorsprung aus einem Material hergestellt, das von demjenigen
der Kappe verschieden ist, so dass die Wärmeleitungskoeffizienten beider
Materialien verschieden sind. Vorzugsweise ist der Wärmeleitungskoeffizient
des Materials des Vorsprungs größer als derjenige
der Kappe. Der Vorsprung wird in die Kappe eingebaut. Das Ansprechverhalten
auf die Atmosphärentemperatur
ist stark verbessert. Vorzugsweise ist der Vorsprung auf der inneren
Wand der Kappe befestigt. Insbesondere ist keine zusätzliche
Spannvorrichtung zur Verbindung des Vorsprungs mit der Kappe erforderlich,
da der Vorsprung mit der Kappe verpresst ist. Daher sind die Herstellungskosten
des Detektors verringert. Ferner kann der Vorsprung mit Hilfe eines
Klebemittels oder einem Schweißverfahren
mit der Kappe verbunden werden.
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Vorzugsweise
ist das Material des Vorsprungs das gleiche wie dasjenige der Kappe,
so dass der Vorsprung einstückig
mit der Kappe ausgebildet ist. In diesem Fall ist der Herstellungsprozess des
Detektors vereinfacht.
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Vorzugsweise
ist die Erfassungsvorrichtung ein Thermoelement, das einen auf der
Membran angeordneten Messpunkt und einen auf dem Substrat, jedoch
nicht auf der Membran, angeordneten Referenzpunkt aufweist.
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Vorzugsweise
ist das Substrat ein Halbleitersubstrat, und die Erfassungsvorrichtung
ist, durch einen Isolierungsfilm getrennt, auf dem Substrat angeordnet.
In diesem Fall kann die Membran leicht mit Hilfe eines herkömmlichen
Verfahrens zur Herstellung von Halbleiterbauelementen auf dem Substrat ausgebildet
werden, so dass die Herstellungskosten des Detektors verringert
sind.
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Vorzugsweise
ist der Infrarotsensor durch einen Schaltungschip getrennt auf der
Basis angeordnet.
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Vorzugsweise
umfasst der Detektor ferner eine Infrarotlichtquelle zur Aussendung
des Infrarotlichts bzw. der Infrarotstrahlung durch Erwärmen eines
Widerstandselements der Infrarotlichtquelle, indem dem Widerstandsele ment
Energie zugeführt wird.
Der Infrarotsensor und die Infrarotlichtquelle bilden einen Infrarotgassensor
zur Erfassung der Art und der Konzentration des Gases (Messobjekt)
in dem Gehäuse
auf der Grundlage der Stärke
der Absorption von Infrarotstrahlung einer bestimmten Wellenlänge. Die
Erfassungsvorrichtung und das Widerstandselement sind so auf dem
Substrat angeordnet, dass sie sich innerhalb des Gehäuses befinden.
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Die
oben genannten und weiter Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden deutlicher aus der nachfolgenden ausführlichen
Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen. In den Zeichnungen
sind:
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1A eine
Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor zeigt, 1B eine
Draufsicht, die den Sensor zeigt, und 1C ein
Schaltungsdiagramm, das das Abgreifen des Ausgangssignals des Sensors erläutert, gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
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2 ist
eine schematische Querschnittsansicht, die den Infrarotdetektor
gemäß der bevorzugten
Ausführungsform
zeigt;
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3 eine
schematische Querschnittsansicht, die eine Funktion einer Kappe
gemäß der bevorzugten
Ausführungsform
erläutert;
und
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4 eine
schematische Querschnittsansicht, die einen Gassensor gemäß der bevorzugten Ausführungsform
zeigt.
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Nachfolgend
ist eine bevorzugte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben.
In der nachfolgenden Beschreibung der bevor zugten Ausführungsform dient
ein Infrarotdetektor mit einem Infrarotsensor vom Typ mit einer
Thermosäule,
welcher Thermoelemente als Erfassungselement zur Erfassung von infraroter
Strahlung (kurz: Infrarotstrahlung) umfasst, als Beispiel.
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1A bis 1C sind
Zeichnungen, die den allgemeinen Aufbau des Infrarotsensors eines Infrarotdetektors
gemäß dieser
Ausführungsform
zeigen. 1A ist eine Querschnittsansicht, 1B ist eine
Draufsicht der oberen Oberflächenseite
und 1C ist ein schematisches Diagramm, das den Aufbau
des Erfassungselements und die Art und Weise, wie das Ausgangssignal
des Infrarotsensors entnommen wird, zeigt.
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Wie
in 1A gezeigt ist, umfasst der Infrarotsensor 100 ein
Substrat 10, ein Erfassungselement 20 und einen
Infrarotstrahlung absorbierenden Film 30 (im Folgenden
kurz: "Infrarotabsorptionsfilm").
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Das
Substrat 10 ist ein Halbleitersubstrat, das aus Silizum
besteht. In dem Substrat 10 ist zum Beispiel durch Nassätzen des
Substrats 10 von der Unterseite ein Hohlraum 11 ausgebildet.
In dieser Ausführungsform
ist jeder Querschnitt durch den Hohlraum 11 in einer Ebene
parallel zur Zeichenebene der 1B rechteckförmig, wobei
sich die Fläche des
Querschnitts in vertikaler Richtung von unten nach oben in 1A verringert.
Die oberste Querschnittsfläche
ist in 1B durch eine gestrichelte Linie
angezeigt ist.
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Wie
in 1A gezeigt ist, ist ein Isolierungsfilm 12,
der einen Siliziumoxidfilm, ein Siliziumnitridfilm und dergleichen
umfasst, auf der oberen Oberfläche
des Substrats 10 einschließlich des Hohlraums 11 ausgebildet.
Der Abschnitt des Isolierungsfilms 12, der über dem
Hohl raum 11 angeordnet ist, bildet so einen dünnwandigen
Abschnitt des Substrats 10, d.h. eine Membran 13.
In dieser Ausführungsform
ist der Isolierungsfilm 12 als Siliziumnitridfilm durch
CVD oder dergleichen auf dem Substrat 10 ausgebildet, und
darauf wiederum ist ein Siliziumoxidfilm ausgebildet.
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Wenn
das Substrat 10 wie oben erwähnt ein Halbleitersubstrat
ist, kann die Membran 13 mit Hilfe herkömmlicher Techniken zur Herstellung
von Halbleiterbauelementen über
dem Substrat 10 ausgebildet werden. Mit anderen Worten,
es kann ein Infrarotsensor 100 hoher Empfindlichkeit kostengünstig hergestellt
werden. Außer
einem Halbleitersubstrat kann ein Glassubstrat oder dergleichen
für das
Substrat 10 verwendet werden.
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Das
Erfassungselement 20 umfasst Thermoelemente und erstreckt
sich von der Membran 13 zu dem dickwandigen Abschnitt des
Substrats 10 außerhalb
der Membran 13, wie es in 1B gezeigt ist.
Wie es in 1C gezeigt ist, sind die Thermoelemente
wie folgt gebildet: Eine Mehrzahl von Gruppen von Filmen aus zwei
verschiedenen Materialien 20a und 20b erstrecken
sich im Wechsel hintereinander angeordnet über das Substrat 10 (Thermosäule), wobei
ihre jeweiligen Verbindungsstellen 20c, 20d abwechselnd
heiße
Kontakte 20c als Messpunkte und kalte Kontakte 20d als
Referenzpunkte bilden. Ein Beispiel einer Kombination der Filme
unterschiedlicher Materialien 20a und 20b ist
eine Kombination aus einem Aluminiumfilm und einem polykristallinen Siliziumfilm.
Ein polykristalliner Siliziumfilm ist auf dem Isolierungsfilm 12 ausgebildet,
und ein Aluminiumfilm ist über
diesem polykristallinen Siliziumfilm ausgebildet, wobei ein aus
BPSG (Bor dotiertes Phosphor-Silizium-Glas)
oder dergleichen bestehender Isolierungsfilm (im Folgenden kurz
als "Zwischenlage-Isolierungsfilm" bezeichnet) dazwischen angeordnet
ist.
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Der
Aluminiumfilm ist durch in dem Zwischenlage-Isolierungsfilm ausgebildete Kontaktlöcher mit
Endabschnitten des polykristallinen Siliziumfilms verbunden. Der
Aluminiumfilm bildet einen Teil des Erfassungselements und verbindet
darüber
hinaus das Erfassungselement mit Elektroden.
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Der
Infrarotsensor 100, welcher derartige Thermoelemente 20 umfasst,
wird als Infrarotsensor vom Typ mit Thermosäule bezeichnet. Wie in 1A bis 1C gezeigt
ist, sind die heißen
Kontakte 20c der Thermoelemente 20 auf der Membran 13 ausgebildet,
die eine niedrige Wärmekapazität besitzt.
Die kalten Kontakte 20d der Thermoelemente 20 sind
außerhalb
der Membran 13, auf dem Substrat 10 ausgebildet,
welches eine hohe Wärmekapazität hat. Das
Substrat 10 fungiert als Wärmesenke.
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Die
vorliegende Erfindung ist für
jedes Erfassungselement 20 geeignet, das die folgenden
Eigenschaften aufweist: wenigstens ein Teil des Erfassungselements 20 ist über der
Membran 13 ausgebildet, wenigstens ein Teil seines auf
der Membran 13 ausgebildeten Abschnitts ist mit dem Infrarotabsorptionsfilm 30 überdeckt,
und das Erfassungselement 20 erzeugt ein elektrisches Signal
auf der Grundlage einer Temperaturänderung durch Auftreffen von
Infrarotstrahlung. Daher können
auch andere als die mit den oben beschriebenen Thermoelementen versehenen
Erfassungselemente verwendet werden. Als Erfassungselemente können beispielweise
ein Erfassungselement vom Typ eines Bolometers, der ein Widerstandselement
umfasst, oder ein Ladungssammel-Erfassungselement, das einen Kollektor
aufweist, verwendet werden.
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Der
Infrarotabsorptionsfilm 30 ist aus einem Material gebildet,
das Infrarotstrahlen wirksam absorbiert, und ist so über der
Membran 13 ausgebildet, dass wenigstens ein Teil des Erfassungselements 20 damit überdeckt
ist. Der Infrarotabsorptionsfilm 30 in dieser Ausführungsform
wird dadurch gebildet, dass eine Mischung aus Polyesterharz und
Kohlenstoff erzeugt und diese Mischung erhitzt und verdichtet wird. Der
Infrarotabsorptionsfilm 30 ist so über der Membran 13 ausgebildet,
dass die heißen
Kontakte 20c überdeckt
sind, so dass er die Infrarotstrahlen absorbiert und wirksam die
Temperatur der heißen
Kontakte 20c des Erfassungselements 20 erhöht. In dieser Ausführungsform
ist der Infrarotabsorptionsfilm 30 so ausgebildet, dass
er wenigstens einen Teil des Erfassungselements 20 überdeckt,
wobei dazwischen ein Schutzfilm wie etwa ein Siliziumnitridfilm
angeordnet ist.
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Der
Infrarotabsorptionsfilm 30 ist in einem vorbestimmten Abstand
von den Enden des Bereichs ausgebildet, der die Membran 13 bildet
(im Folgenden als "Membranbildungsbereich" bezeichnet. D.h. der
Infrarotabsorptionsfilm 30 ist so ausgebildet, dass das
Verhältnis
A/C = 0,75 bis 0,9 beträgt,
wobei A die Breite des Infrarotabsorptionsfilms 30 und
C die Breite der Membran 13 ist (A kann auch als die Länge in Richtung
der Substratebene in 1A definiert werden). Die Beziehung
zwischen dem Infrarotabsorptionsfilm 30 und der Membran 13 ist
in der japanischen ungeprüften
und veröffentlichten
Patentanmeldung Nr. 2002-365140 offenbart.
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Wie
oben erwähnt,
ist der Infrarotsensor 100 in dieser Ausführungsform
wie folgt ausgebildet: Die heißen
Kontakte 20c des Erfassungselements (Thermoelemente) 20 sind
mit dem Infrarotabsorptionsfilm 30 überdeckt und auf der Membran 13 ausgebildet. Die
kalten Kontakte 20d sind auf dem dickwandigen Abschnitt
des Substrats 10, d.h. nicht auf der Membran 13 ausgebildet.
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Wenn
zum Beispiel von einem menschlichen Körper Infrarotstrahlen ausgesendet
werden, werden daher diese Infrarotstrahlen von dem Infrarotabsorptionsfilm 30 absorbiert,
so dass sich dessen Temperatur erhöht. Als Folge davon erhöht sich
die Temperatur der heißen
Kontakte 20c, die unter dem Infrarotabsorptionsfilm 30 angeordnet
sind. Die Temperatur der kalten Kontakte 20d erhöht sich
nicht, da das Substrat 10 als Wärmesenke wirkt. Wie oben erwähnt, verändert das
Erfassungselement 20 seine elektromotorische Kraft durch
eine zwischen den heißen
Kontakten 20c und den kalten Kontakten 20d erzeugte Änderung
der Temperaturdifferenz, die erzeugt wird, wenn Infrarotstrahlung
empfangen wird (Seebeck-Effekt). Auf der Grundlage der veränderten elektromotorischen
Kraft werden die Infrarotstrahlen erfasst. Die in 1C dargestellten
Thermoelemente bilden eine Thermosäule. Daher liefert die Summe der
in den einzelnen Gruppen der unterschiedlichen Materialien 20a und 20b erzeugten
elektromagnetischen Kräfte
die Ausgangsspannung Vaus des Erfassungselements 20.
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Der
wie oben beschrieben aufgebaute Infrarotsensor 100 ist
in dem Gehäuse 200 angeordnet, welches
den Sockel und die Kappe umfasst, und bildet den Infrarotdetektor 300.
Nachfolgend ist der Infrarotdetektor 300 mit Bezug auf 2 und 3 beschrieben. 2 ist
eine Zeichnung, die den allgemeinen Aufbau des Infrarotdetektors 300 zeigt. 3 ist
eine schematische Querschnittsansicht zur Erläuterung der Kappe des Gehäuses 200,
welche ein kennzeichnender Abschnitt dieser Ausführungsform ist.
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Ein
herkömmlicher
Infrarotdetektor wird wie folgt gebildet: Ein Infrarotsensor wird
auf einem Sockel oder dergleichen befestigt, und eine Kappe mit einem
Eintrittsfenster, das für
Infrarotstrahlung durchlässig
ist, wird anschließend
auf den Sockel montiert. Auf diese Wei se ist der Infrarotsensor
in dem aus dem Sockel und der Kappe gebildeten Gehäuse aufgenommen,
um so den Infrarotdetektor zu bilden. Dabei wird die folgenden Maßnahme ergriffen,
damit der Infrarotabsorptionsfilm wirksam Infrarotstrahlen absorbieren
kann: Die Kappe (das Eintrittsfenster) und der Infrarotsensor sind
in einem vorbestimmten Abstand voneinander angeordnet, und das Gehäuse ist
mit Gas (z.B. Luft, Stickstoff) gefüllt. Daraus ergibt sich das
folgende Problem: Obwohl der Infrarotsensor mit dem Sockel in Kontakt
ist, ist zwischen dem Infrarotsensor und der Kappe ein Gas vorhanden,
das eine niedrige Wärmeleitfähigkeit
besitzt. Aus diesem Grund kann die Temperatur des Infrarotsensors
einer schnellen Temperaturänderung der äußeren Umgebung
des Gehäuses
nicht folgen. Als Folge davon kann solange kein genaues Ausgangssignal
gewonnen werden, bis die Umgebungstemperatur und die Temperatur
des Infrarotsensors sich im Wesentlichen angeglichen haben. Das
heißt, das
Ansprechverhalten des Infrarotsensors in dem herkömmlichen
Detektor ist verbessert.
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Der
Infrarotdetektor 300 in dieser Ausführungsform ist durch die Kappe 220 gekennzeichnet, die
zusammen mit dem Sockel 210 das Gehäuse 200 bildet.
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Wie
in 2 dargestellt, ist der Infrarotdetektor 300 wie
folgt aufgebaut: Ein Schaltungschip 230 ist auf dem Sockel 210 befestigt,
und der Infrarotsensor 100 ist auf dem Schaltungschip 230 angeordnet. Der
Sockel 210 ist mit Anschlüssen 240 versehen, die
durch den Sockel 210 nach außen geführt sind, wobei die Durchführungsabschnitte
hermetisch versiegelt sind. Die Anschlüsse 240, der Infrarotsensor 100 und
der Schaltungschip 230 sind über Bondingdrähte 241 miteinander
verbunden. Die Kappe 220 ist so auf den Sockel 210 montiert,
dass der Infrarotsensor 100 und der Schaltungschip 230 in
dem Raum aufgenom men sind, der in montiertem Zustand zwischen der
Kappe 220 und dem Sockel 210 gebildet ist.
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Die
Kappe 220 weist zum Beispiel eine allgemein zylindrische
Gestalt auf, und ein Eintrittsfensterabschnitt 221 ist
in ihrem oberen Abschnitt, gegenüber
dem Sockel 220, ausgebildet. Der Eintrittsfensterabschnitt 221 ist
in räumlicher Übereinstimmung mit
dem Infrarotabsorptionsfilm 30 des Infrarotsensors 100 angeordnet
und für
Infrarotstrahlung durchlässig.
Der Eintrittsfensterabschnitt 221 umfasst eine Öffnung 221a,
die in dem oberen Teil der Kappe 220 ausgebildet ist, und
ein Infrarotlicht-Wellenlängenselektionsfilter 221b ist
hermetisch auf der inneren Oberfläche der Kappe 220 befestigt,
so dass die Öffnung 221a damit
bedeckt ist. Wenn Infrarotstrahlen durch den Eintrittsfensterabschnittabschnitt 221 hindurchtreten,
geschieht daher Folgendes: Nur Infrarotstrahlen mit einer gewünschten
Wellenlänge
können
selektiv hindurchtreten, und sie treffen auf den Infrarotabsorptionsfilm 30 des
Infrarotsensors 100 auf.
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Die
Kappe 220 umfasst einen Vorsprungsabschnitt bzw. Vorsprung 222,
der in Richtung des Infrarotsensors 100 hervorragt. Dieser
Vorsprung 222 ist aus einem Material gebildet (z.B. Metall,
Harz), welches eine höhere
Wärmeleitfähigkeit
als das in das Gehäuse 200 eingefüllte Gas
aufweist. Dies dient dazu, Überlagerungen
mit den Infrarotstrahlen zu vermeiden (Fläche zwischen den gestrichelten
Linien in 2), die durch den Eintrittsfensterabschnitt 221 auf
den Infrarotabsorptionsfilm 30 gerichtet werden. Der Vorsprung 222 in
dieser Ausführungsform
weist ebenfalls eine allgemein zylindrische Gestalt auf, die der
Kappe 220 entspricht. Der obere Teil des Vorsprungs 222 ist
offen, um so eine Behinderung der auf den Infrarotabsorptionsfilm 30 gerichteten
Infrarotstrahlen zu vermeiden. Mit der wie oben beschrieben aufgebauten
Kappe 220 kann die Temperaturdifferenz zwischen dem Infrarotsensor 100 und
der Kappe 220 (außen)
stärker
reduziert werden als in Fällen,
in denen sich zwischen dem Infrarotsensor 100 und der Kappe 220 Gas
befindet. Mit anderen Worten, selbst wenn die Größe (Außendurchmesser) der Kappe 220 identisch
ist, kann das Ansprechverhalten auf eine Änderung der Umgebungstemperatur verbessert
werden. Es ist ratsam, dass der Vorsprung 222 so ausgelegt
ist, dass die Menge des in das Gehäuses 200 (Raum in
dem Gehäuse 200)
eingefüllten
Gases so weit wie möglich
verringert ist. Dies wird dadurch erreicht, dass das Volumen (der Raum)
soweit verringert wird, dass auf den Infrarotabsorptionsfilm 30 auftreffende
Infrarotstrahlen gerade nicht behindert werden.
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Der
Vorsprung 222 in dieser Ausführungsform ist aus einem Material
gebildet, das von dem Material der Kappe 220 verschieden
ist, und in die Kappe 220 eingebaut bzw. aufgenommen. Insbesondere
ist der Vorsprung 222 aus einem Material hergestellt (z.B.
Aluminium, Kupfer), das eine höhere
Wärmeleitfähigkeit
als das Material (z.B. ein eisenhaltiges Material) der Kappe 220 besitzt.
Daher kann das Ansprechverhalten auf eine Änderung der Umgebungstemperatur
verbessert werden. Wenn der Vorsprung 222 aus einem von
dem Material der Kappe 220 verschiedenen Material gebildet
ist, ergibt sich der folgende Vorteil: Die Kontur des Vorsprungs 222 kann
freier gewählt
werden als in Fällen,
in denen der Vorsprung 22 einteilig aus dem gleichen Material
wie die Kappe 220 gebildet ist.
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Verschiedene
Verfahren zum Einbau des Vorsprungs 222 in die Kappe 220 können angewendet
werden. Ein Beispiel ist folgendes: Ein Vorsprung 222 wird
in vorbestimmter Form gebildet und in die Kappe 220 eingepresst,
wie es in 3 gezeigt ist, und der Vorsprung 222 wird
mit der inneren Wand der Kappe 220 unter Kraftaufwand in
Kontakt gebracht und daran befestigt. In diesem Fall ist ein Befestigungselement
zur Befestigung des Vorsprungs 222 an der Kappe 220 nicht
notwendig. Daher ist keine komplizierte Fertigung notwendig, so
dass der Aufbau des Infrarotdetektors vereinfacht werden kann. Der
Einbau durch Einpressen hat die folgenden Vorteile: Wenn das Material,
das die Kappe 220 bildet, und dasjenige, das den Vorsprung 222 bildet,
eine unterschiedliche Härte
aufweisen, passt sich das Material mit der geringeren Härte den
Aussparungen und Vorsprüngen
auf der Oberfläche
des Materials mit der größeren Härte an.
Als Folge davon wird die Kontaktfläche vergrößert, und der Vorsprungsabchnitt 222 kann
stabiler an der Kappe 220 befestigt werden.
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Weitere
Verfahren zum Einbau sind zum Beispiel Kleben (vorzugsweise mit
leitendem Klebemittel) und Schweißen. Selbst wenn der Vorsprung 222 und
die Kappe 220 aus dem gleichen Material gebildet sind,
kann der Vorsprung 222 separat hergestellt werden und durch
Verpressen oder dergleichen mit der Kappe 220 verbunden
werden.
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Wie
oben erwähnt,
ragt der Vorsprung 222 von der Kappe 220 in Richtung
des Infrarotsensors 100 hervor. Dadurch erhöht der Vorsprung 222 die Wärmeübertragung
zwischen der Kappe 220 und dem Infrarotsensor 100 im
Vergleich zu Fällen,
in denen der Vorsprung 222 nicht vorgesehen ist. Daher kann
der folgende Aufbau verwendet werden: Der Vorsprung 222 ist
mit einem Abschnitt (z.B. dem Substrat 10) des Infrarotsensors 100,
der mit dem Erfassungselement 20 elektrisch nicht verbunden
ist, in Kontakt. Bei diesem Aufbau kann die Temperaturdifferenz
zwischen dem Infrarotsensor 100 und der Kappe 220 (außen) weiter
verringert werden. Daher ist dieser Aufbau wirksam bei der Verbesserung
des Ansprechverhaltens auf eine Änderung
der Umgebungstemperatur. Dieser Aufbau bringt jedoch ein Problem
mit sich: Der Infrarotsensor 100 ist schon über dem
Sockel 210 angeordnet, und die Anzahl der Wärmekontaktpunkte
mit dem Infrarotsensor 100 ist erhöht. Als Folge davon kann die
von dem Infrarotabsorptionsfilm 30 (Erfassungselement 20)
empfangene Infrarotenergie leicht in Richtung des dickwandigen Abschnitts
des Substrats 10 entweichen. Mit anderen Worten, es besteht
die Möglichkeit,
dass die Sensorempfindlichkeit verschlechtert ist. Der Infrarotdetektor 300 gemäß dieser
Ausführungsform
ist jedoch so ausgebildet, dass die folgende Bedingung erfüllt ist:
Der Vorsprung 222 der Kappe 220 ragt von der Kappe 220 hervor
und ist so nah wie möglich
an den Infrarotsensor 100 herangeführt, ohne diesen jedoch zu
berühren.
Mit diesem Aufbau kann das Ansprechverhalten auf eine Änderung
der Umgebungstemperatur soweit verbessert werden, dass die Empfindlichkeit
des Sensors nicht herabgesetzt ist.
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Bei
dem Infrarotsensor 300 dieser Ausführungsform fungiert das Substrat 10,
das den Infrarotsensor 100 bildet, selbst als Wärmesenke.
Daher bildet das Substrat 10 ein Wärmeübertragungselement zwischen
dem Infrarotsensor 100 und dem Sockel 210, der
das Gehäuse 200 bildet.
Daher muss kein separates Übertragungselement
zwischen dem Infrarotsensor 100 und dem Sockel 210 vorgesehen
sein. Als Folge davon kann der Aufbau zur Verbesserung des Ansprechverhaltens
auf eine Änderung
der Umgebungstemperatur vereinfacht werden.
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Bei
der Beschreibung dieser Ausführungsform
ist der folgende Fall als Beispiel angenommen: Der Vorsprung 222 ist
aus einem Material gebildet, das von dem Material der Kappe 220 verschieden
ist, und in der Kappe 220 durch Einpressen befestigt. Alternativ
kann der folgende Aufbau verwendet werden: Verwenden des gleichen
Materials wie das der Kappe 220, der Vorsprung 222 ist
einteilig auf der Kappe 220 ausgebildet. In diesem Fall
kann der Herstellungsprozess vereinfacht werden.
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Bei
der Beschreibung dieser Ausführungsform
ist der folgende Fall als Beispiel angenommen: Der Infrarotsensor 100 ist über dem
Sockel 210 befestigt, wobei sich der Schaltungschip 230 dazwischen
befindet. Statt dessen kann der folgende Aufbau verwendet werden:
Der Infrarotsensor 100 ist (zum Beispiel durch Kleben)
mit der Seite des Substrats 10, die der Membranbildungsfläche gegenüberliegt,
direkt auf dem Sockel 210 befestigt.
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Bisher
ist eine bevorzugte Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung beschrieben worden. Die vorliegende Erfindung
ist jedoch nicht auf die oben genannte Ausführungsform begrenzt, sondern
kann auf verschiedene Weise modifiziert werden.
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Bei
der Beschreibung der obigen Ausführungsform
ist der folgende Fall als Beispiel angenommen: Der Hohlraum 11,
der in dem Substrat 10 des Infrarotsensors 100 gebildet
ist, ist nur auf der der Membranbildungsfläche des Substrats 10 gegenüberliegender
Seite geöffnet.
Die vorliegende Erfindung kann jedoch auch für einen Infrarotsensor 100 geeignet,
der einen Hohlraum 11 aufweist, der auf der der Membranbildungsfläche des
Substrats 10 gegenüberliegenden
Seite geschlossen ist. In diesem Fall kann der Hohlraum 11 durch
Ausbilden von Ätzlöchern und Ätzen des
Substrats 10 ausgehend von der Membranbildungsfläche gebildet
werden.
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Der
Aufbau des Infrarotdetektors 300 in dieser Ausführungsform
ist auch für
den folgenden Typ eines Infrarotgas-Erfassungssensors 500 (im
Folgenden als "Gassensor" bezeichnet) geeignet:
Gassensoren, die mit einer Infrarotlichtquelle 400 zur Aussendung
von Infra rotstrahlen und dem Infrarotsensor 100 ausgestattet
sind und die Art und Konzentration eines zu messenden Gases auf
der Grundlage der absorbierten Infrarotstrahlen bestimmter Wellenlänge. 4 zeigt
ein Beispiel. 4 ist eine Zeichnung, die den
allgemeinen Aufbau des Gasssensors 500 zeigt, auf den die
vorliegende Erfindung angewendet wird. Wie in 4 gezeigt
ist, ist ein Sensorchip 410 über dem Sockel 210 angeordnet,
wobei zum Beispiel der Schaltungschip 230 dazwischen, innerhalb
der auf den Sockel 210 montierten Kappe 220, angeordnet
ist. Der Sensorchip 410 ist gebildet, indem über dembselben
Substrat der Infrarotsensor 100 und die Infrarotlichtquelle 400,
die Infrarotstrahlen aussendet, indem einem Widerstandselement Energie
zugeführt
wird und dieses dadurch zur Erzeugung von Wärme angeregt wird, angeordnet
sind. Zusätzlich
zu dem Eintrittsfensterabschnitt 221 ist die Kappe 220 mit
einem Strahlungsfensterabschnitt 223 in einer mit der Infrarotlichtquelle 400 übereinstimmenden
Position vorgesehen. Der Vorsprung 222 ist zum Beispiel
durch Einpressen in die Kappe 220 eingebaut, so dass das Folgende
erreicht wird: Auf den Infrarotsensor 100 auftreffende
Infrarotstrahlen werden nicht überlagert, und
von der Infrarotlichtquelle 400 ausgesendete Infrarotstrahlen
werden nicht überlagert.
Die Kappe 220 ist so auf den Sockel 210 montiert,
dass der Sensorchip 410 und der Schaltungschip 230 darin
aufgenommen sind.
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Diese
Abschnitte bilden einen Aufbau, auf den Infrarotdetektor 300 gemäß der obigen
Ausführungsform
angewendet wird. Der folgende Aufbau kann verwendet werden: Der
Vorsprung 222 ist aus dem gleichen Material wie die Kappe 220 gebildet und
einteilig in der Kappe 220 gebildet.
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Anschließend wird
eine Umhüllung 510 so auf
den Sockel 210 montiert, dass die Kappe 220 darin
aufgenommen ist. In der Seitenfläche
der Umhüllung 510 sind
eine Mehrzahl von Gasdurchlassöffnungen 511 ausgebildet,
so dass ein Gas, das das zu messende Gas enthält, in die Umhüllung 510 (außer ins
Innere der Kappe 220) einströmen kann. Auf der inneren Oberfläche des
oberen Teils der Umhüllung 510,
gegenüber
dem Sockel 210, ist ein konkaver Spiegel 512 vorgesehen,
der von der Infrarotlichtquelle 400 ausgesendete Infrarotstrahlen
in Richtung des Infrarotsensors 100 reflektiert. Daher
durchlaufen Infrarotstrahlen das zu messenden Gas zweimal, das durch
die Gasdurchlassöffnungen 511 in
die Ummantelung 510 (mit der Ausnahme des Inneren der Kappe 220)
hineingebracht wird. Dabei werden die Infrarotstrahlen absorbiert
und erreichen den Infrarotsensor 100, wobei die Intensität der bei
dem Infrarotsensor 100 ankommenden Infrarotstrahlen in
Abhängigkeit
von der Dichte des zu messenden Gases variiert. Das Ausgangssignal
des Infrarotsenders 100 verändert sich entsprechend. In 4 ist
das mit der Bezugszahl 240 versehene Element ein Anschluss, der
nach außen
geführt
ist, das mit der Bezugszahl 241 versehene Element ist ein
Bondingdraht, der den Anschluss 240 mit dem Sensorchip 410 und
dem Schaltungschip 230 verbindet, und das mit der Bezugszahl 224 versehene
Element ist eine Barriere, die verhindert, dass von der Infrarotlichtquelle 400 ausgesendete
Infrarotstrahlen direkt in den Infrarotsensor 100 gelangen.
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Wie
oben erwähnt
kann selbst in einem sogenannten Reflexionsgassensor 500,
in dem eine Infrarotlichtquelle 400 und ein Infrarotsensor 100 auf demselben
Substrat angeordnet sind, durch Bereitstellen einer Kappe 220 mit
einem Vorsprung 222 der folgende Vorteil erzielt werden:
Das Ansprechverhalten des Infrarotsensors 100 auf eine
schnelle Änderung
der Umgebungstemperatur kann stärker
verbessert werden als in Fällen,
in denen zwischen der Kappe 220 und dem Sensorchip 410 ein
Gas vorhanden ist.
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Der
Vorsprung 222 ist vorzugsweise so ausgebildet, dass er
sich nicht in Kontakt mit dem Sensorchip 410 befindet.
Befindet sich der Vorsprung 222 in Kontakt mit dem Sensorchip 410,
so tritt das folgende Problem auf: Die von der Infrarotlichtquelle 400 ausgesendete
Energie infraroter Strahlung und die von dem Infrarotsensor 100 empfangene
Energie infraroter Strahlung werden durch den Vorsprung in Richtung
des Kappe 220 thermisch abgeführt. Als Folge davon ist der
Lichtempfangswirkungsgrad des Infrarotsensors 100 verschlechtert.
Das heißt,
die Empfindlichkeit des Gassensors 500 ist verschlechtert.
Daher ist der Vorsprung 222 vorzugsweise so ausgebildet,
dass er von der Kappe 220 hervorragt und so nah wie möglich an
den Sensorchip 410 herangebracht wird, ohne jedoch diesen
zu berühren.
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In
dem oben beschriebenen Gassensor 500 kann der Vorsprung 222 nur
auf der Kappe 220 auf der Seite des Infrarotsensors 100 (zum
Beispiel durch Kleben) angebracht sein. Jedoch kann der Aufbau des
Gassensors durch Verpressen und Befestigen des Vorsprungs 222 in
der Kappe 220 vereinfacht werden, wie es in 4 gezeigt
ist. Die Position und Form der Ausbildung des Vorsprungs 222 ist nicht
auf die in 4 als Beispiel gezeigten begrenzt. Es
kann zum Beispiel der folgende Aufbau verwendet werden: Der Vorsprung 222 ist
zwischen der Kappe 220 auf der Seite des Infrarotsensors 100 und
der Barriere 224 vorgesehen (Der Vorsprung 222 wird zum
Beispiel durch Verpressen und Kleben eingebaut).
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Obgleich
die vorliegende Erfindung bezüglich
der bevorzugten Ausführungsformen
offenbart worden ist, um ein besseres Verständnis von diesen zu ermöglichen,
sollte wahrgenommen werden, dass die Erfindung auf verschiedene
Weisen verwirklicht werden kann, ohne den Umfang der Erfindung zu verlassen.
Deshalb sollte die Erfindung derart verstanden werden, dass sie
alle möglichen
Ausführungsformen
und Ausgestaltungen zu den gezeigten Ausführungsformen beinhaltet, die
realisiert werden können,
ohne den Umfang der Erfindung zu verlassen, wie er in den beigefügten Ansprüchen dargelegt ist.