Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

DE102004047928A1 - Optisches 3D-Messverfahren - Google Patents

Optisches 3D-Messverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE102004047928A1
DE102004047928A1 DE200410047928 DE102004047928A DE102004047928A1 DE 102004047928 A1 DE102004047928 A1 DE 102004047928A1 DE 200410047928 DE200410047928 DE 200410047928 DE 102004047928 A DE102004047928 A DE 102004047928A DE 102004047928 A1 DE102004047928 A1 DE 102004047928A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
image
images
stack
contrast
focal plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE200410047928
Other languages
English (en)
Other versions
DE102004047928B4 (de
Inventor
Norbert Dipl.-Ing. Steffens
Michael Alex Dr.-Ing. Zapp
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Mahr Holding GmbH
Original Assignee
Carl Mahr Holding GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Mahr Holding GmbH filed Critical Carl Mahr Holding GmbH
Priority to DE200410047928 priority Critical patent/DE102004047928B4/de
Publication of DE102004047928A1 publication Critical patent/DE102004047928A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102004047928B4 publication Critical patent/DE102004047928B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Revoked legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Zur 3-D-Vermessung von Objektoberflächen dient ein optisches Verfahren, das mit einer Kamera arbeitet. Diese weist eine Fokusebene auf, die einen sehr geringen Tiefenschärfebereich festlegt. Durch Verfahren der Z-Position der Fokusebene und wiederholte Bildaufnahme wird ein Bildstapel, bestehend aus Einzelbildern, erzeugt. Die Einzelbilder weisen jeweils nur dort scharfe, d. h. kontrastreiche Partien auf, in denen die Objektoberfläche die Fokusebene schneidet. Jedem Einzelbild ist ein Z-Wert zugeordnet. Die scharf abgebildeten Bereiche der einzelnen Bilder werden zu einem Ergebnisbild Br zusammengefasst, dessen Pixeln jeweils die X-Koordinate, die Y-Koordinate und die Z-Koordinate zugeordnet ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Messverfahren zur 3D-Vermessung räumlicher Objektoberflächen.
  • Optische Sensoren, insbesondere 2D-Sensoren, eignen sich zur zweidimensionalen Objektvermessung. Sie erzeugen ein zweidimensionales Bild, in dem durch Kantenfinderroutinen Objektkanten identifizierbar sind. Die Pixelpositionen der Kanten sind den X-, Y-Positionen der Kantenpunkte direkt zuzuordnen.
  • Häufig wird zusätzlich die Z-Koordinate einzelner Punkte der Objektoberfläche oder der gesamten Objektoberfläche gesucht. Dazu ist es beispielsweise aus der EP 0 330 901 bekannt, in den Strahlengang einer Kamera einen Laserstrahl einzuspiegeln, der auf einen Oberflächenpunkt fokussiert wird. Das von dem Laserstrahlauftreffpunkt rück gestreute Licht wird wiederum von dem Objektiv erfasst und ausgewertet. Das Verfahren ist ein Verfahren der konfokalen Mikroskopie. Durch Z-Verstellung des Objektivs wird die Objektoberfläche in den Brennpunkt des Laserstrahls verfahren. Wird der Brennpunkt erreicht wird dies durch eine entsprechende Auswerteeinrichtung signalisiert, die daraus den Z-Wert des Messpunkts bestimmt.
  • Die Bestimmung des Z-Werts kann hier nur für einen auf der optischen Achse liegenden Messpunkt durchgeführt werden.
  • Aus der DE 199 54 684 A1 sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Vermessen von Oberflächen eines Messobjekts bekannt, wobei ebenfalls nach dem Prinzip der konfokalen Mikroskopie gearbeitet wird. Der Sensorkopf unterliegt dabei einer in Z-Richtung orientierten schwingenden Bewegung, wobei seine Position zugleich mittels mechanischer Messmittel überwacht wird.
  • Des Weiteren ist aus der DE 102 54 435 A1 ein Verfahren und eine Vorrichtung zur dreidimensionalen Kantenerkennung mit Z-Höhenjustierung bekannt. Bei diesem Verfahren wird ein so genannter Bildstapel, d.h. eine Reihe von in unterschiedlichen Abständen zu der Objektoberfläche aufgenommenen Bildern erzeugt. Zur Durchführung von Kantenfin derroutinen werden zunächst Randpunkte ausgesucht, wobei dann aus dem Bildstapel diejenigen Bilder ausgewählt werden, bei denen die Randpunkte die maximalen Kontrastwerte im Vergleich zu anderen Bildern des Stapels aufweisen. Für die folgende Randdetektion wird entweder die Halterung des Messkopfs oder des Prüfobjekts zu der Z-Position physikalisch bewegt bis der maximale Kontrast erhalten wird, um ein neues Bild für die nachfolgende Randdetektion zu erhalten oder es wird einfach dasjenige Bild aus dem Bildstapel gewählt, das der zu berechnenden Z-Position am nächsten liegt.
  • Des Weiteren ist aus der Praxis ein Verfahren bekannt, bei dem Einzelbilder des Bildstapels zu einem Ergebnisbild mit virtueller Tiefenschärfe verknüpft werden. Dies ist erforderlich, wenn die Bildaufnahmeeinrichtung keine nennenswerte oder keine ausreichende Tiefenschärfe ausreicht. Hierzu werden in jedem Bild je Pixel der Kontrast bestimmt. Es werden die Kontrastwerte der korrespondierenden Pixel Bild für Bild verglichen und jeweils der Grauwert des korrespondierenden Pixels mit dem höchsten Kontrastwert in das Ergebnisbild eingetragen. Somit werden die scharf abgebildeten Bereiche der einzelnen Bilder in das Ergebnisbild übernommen. Das Ergebnisbild gleicht somit der Abbildung eines Objektivs mit einer Tiefenschärfe über den gesamten Bereich der optischen Achse des Bildstapels. Wird ein telezentrisches Objektiv verwendet, erhält man eine 2D-Projektion des kompletten Bildstapels.
  • Die oben beschriebenen Verfahren liefern nur eine beschränkte Tiefeninformation je Pixel. Diese ist für das gesamte komplette Bild konstant. Bei dem letztgenannten Verfahren wird Tiefeninformation gezielt unterdrückt.
  • Davon ausgehend ist es Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur dreidimensionalen berührungslosen optischen Vermessung von Objektoberflächen zu schaffen.
  • Diese Aufgabe wird mit dem Verfahren nach Anspruch 1 gelöst:
    Dem erfindungsgemäßen Verfahren gemäß werden mittels eines optischen Bildsensors, der flächenhafte Bilder liefert, ein Bildstapel aufgenommen. Die Einzelbilder des Bildstapels sind in Z-Richtung voneinander beabstandet. Der Abstandswert ist vorzugsweise etwa so groß wie die Tiefenschärfe des Bildsensors bzw. seines Objektivs. Um eine große Z-Auflösung zu erhalten, ist die Tiefenschärfe vorzugsweise sehr gering. Sie kann praktischerweise im Bereich von einigen Mikrometern liegen. Soll beispielsweise eine Tiefenauflösung von 3 μm erreicht werden, darf bei Abständen der Objektoberfläche von der Fokusebene von größer 3 μm keine Scharfabbildung mehr erfolgen. Zumindest aber muss der erfassbare Bildkontrast bei der hier beispielhaft gewählten 3-μm-Auflösung bei einem 3-μm-Abstand zwischen Fokusfläche und Objektpunkt messbar zurückgegangen sein.
  • Die Bilder des Bildstapels enthalten die gesamte Information über die 3D-Koordinaten der gesamten vermessenen Objektoberfläche. Die Auflösung wird in Lateralrichtung (X und Y) nur durch die Auflösung des Bildsensors bestimmt. In Z-Richtung wird die Auflösung nur durch die Anzahl der aufgenommenen Bilder und die Tiefenschärfe des Objektivs begrenzt. Sie ist umso höher je geringer die Tiefenschärfe ist.
  • Zur Durchführung des Verfahrens werden aus den einzelnen Bildern des Bildstapels jeweils diejenigen Pixel herausgesucht, die scharf abgebildet sind. Dies sind in jedem Bild nur diejenigen Pixel bei denen eine abgebildete Kante oder Fläche im Rahmen der durch die Tiefenschärfe vorgegebenen Ungenauigkeit in der Fokusebene liegt. Alle anderen Bereiche der Objektoberfläche sind unscharf und weisen somit keinen nennenswerten lokalen Kontrast auf. Somit kann durch die Auswertung der Schärfeinformation der einzelnen Bilder des Bildstapels die gesuchte Tiefeninformation gewonnen werden. Mit einem einzigen Messdurchlauf wird die zu vermessende Objektoberfläche somit präzise vermessen.
  • Zur Bestimmung der Z-Information ist ein Anfahren bestimmter Fokuspositionen überflüssig. Das aus dem Bildstapel erzeugte Ergebnisbild enthält alle Informationen, d.h. die X-, Y- und Z-Koordinaten aller Bildpunkte.
  • In dem Ergebnisbild können die Kantenverläufe der abgebildeten Kanten ohne Nachfokussierung bestimmt werden. Wie schon die vorgenannte Eigenschaft ergibt dies einen erheblichen Zeitvorteil gegenüber Verfahren, bei denen Fokuspositionen gezielt angefahren werden müssen oder bei denen Kantenverläufe durch Nachfokussierung zu bestimmen sind.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren vermeidet Fehlmessungen durch unscharfe Kanten. Dies erhöht die Messsicherheit.
  • Ein weiterer Vorteil ist die übersichtliche Ergebnisdarstellung. Sowohl die lateralen Koordinaten X und Y als auch die Tiefenkoordinate Z ist in einem einzigen Ergebnis bild enthalten. Die Lateralkoordinaten und die Tiefenkoordinate werden in einem Messvorgang bestimmt. Dies führt zu geringen Messfehlern. Die Extraktion der X-, Y- und Z-Koordinaten aus dem Bildstapel ermöglicht darüber hinaus die Digitalisierung von Oberflächen bei gleichzeitiger Messung von Abmessungen. Das Verfahren ist präzise, schnell und sicher. Es ist wenig von den Reflexionseigenschaften der Objektoberfläche abhängig. Es kann mit gezielter Beleuchtung oder Umgebungslicht gearbeitet werden. An die Beleuchtung werden, abgesehen von der Vermeidung von Überstrahlungen (Überbelichtungen) und nicht ausreichenden Ausleuchtungen, kaum besondere Ansprüche gestellt.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist die Fokusfläche eine Fokusebene. Jedes Bild des Bildstapels enthält die Kantenpartien, bei denen Oberflächenkanten oder Flächenbereiche die Fokusebene schneiden oder in dieser liegen, scharfe abgebildete Bildbereiche. Die Bestimmung der X-, Y- und Z-Koordinaten ist bei der ebenen Ausbildung der Fokusfläche besonders einfach. Prinzipiell ist es jedoch auch möglich, mit nicht ebenen Fokusflächen zu arbeiten. Hierzu muss lediglich bekannt sein, welcher Z-Abstand eines jeden Rasterpunkts eines gedachten, die Fokusfläche überziehenden Rasters zu einer scharfen Abbildung führt. Der Vorzug dieser Ausführungsform liegt in der Möglichkeit der Verwendung vereinfachter oder verbilligter Objektive, bzw. in einer Erhöhung der Messgenauigkeit.
  • Der von dem Bildsensor abgegebene Bildstapel kann beispielsweise mittels eines Framegrabbers in einem Speicher abgelegt und zur Nachbearbeitung bereit gehalten werden. Zu der Nachbearbeitung gehört beispielsweise die Erzeugung eines Ergebnisbilds, in das nur die jeweils scharf abge bildeten Bereiche der einzelnen Bilder des Bildstapels eingetragen werden, wobei dann jedem Pixel nicht nur die X- und Y- sondern auch die Z-Koordinate zugeordnet ist. Die Z-Koordinate eines scharf abgebildeten Pixels ist diejenige des Bildes, dem das Pixel entnommen worden ist. Sodann kann das erzeugte Ergebnisbild abgespeichert und weiterhin bereit gehalten werden. Es ist jedoch auch möglich, auf eine Abspeicherung des Bilderstapels zu verzichten und das Ergebnisbild gewissermaßen in Echtzeit zu erzeugen. Zu diesem Zweck werden die Einzelbilder, die von dem Bildsensor geliefert werden, auf scharfe Bereiche überprüft, wobei nur die scharfen Bereiche in das Ergebnisbild übernommen werden. Liefert das nachfolgende Bild für einen bereits abgespeicherten Bereich noch schärfere Pixel werden die noch schärferen Pixel übernommen. Auf diese Weise entsteht bei einem einzigen Z-Scan-Durchlauf das Ergebnisbild, das die X-, Y- und Z-Koordinaten vollständig enthält. Das Verfahren beruht auf einfachen, schnell durchführbaren Vergleichs- und Rechenoperationen und benötigt somit so wenig Zeit, dass es in Echtzeit durchgeführt werden kann. Darüber hinaus benötigt es wenig Speicherplatz.
  • Das Scannen des Objekts durch Verlagerung der Fokusebene in Bezug auf die Objektoberfläche kann prinzipiell durch verschiedene Maßnahmen erreicht werden. Eine einfache und übersichtliche Ausführungsform ergibt sich durch Bewegung des Bildsensors bzw. einer Kamera und der Objektoberfläche relativ zueinander. Eine mechanisch schnellere Lösung kann sich ergeben, wenn das Objektiv beeinflusst wird. Beispielsweise kann der optische Sensor in Bezug auf das Objektiv oder das Objektiv in Bezug auf den optischen Sensor bewegt werden. Beides kann zu einer Z-Verschiebung der Fokusebene genutzt werden. Alternativ kann ein Zoomsystem mit variabler Fokusebene eingesetzt werden. Bevorzugt wird dabei eine Anordnung, bei der die Öffnung des Objektivs so variiert wird, dass bei Verlagerung der Fokusebene ein gegebener Flächenbereich in der Fokusebene stets gleich groß auf dem Bildsensor abgebildet wird. Damit wird die Bildverarbeitung besonders einfach. Ein ausgewähltes Pixel P(i, j) einer ersten Fokusebene FZ1 entspricht dann dem gleichen Pixel P(i, j) in einer anderen Fokusebene FZn (z. B. FZ4). Ändert sich der Abbildungsmaßstab hingegen ist das verfahren gleichermaßen durchführbar. Jedoch muss darauf Rücksicht genommen werden, dass dann ein Pixel P(i, j) in einer ersten Fokusebene FZ1 einem anderen Pixel P(k, l) einer anderen Fokusebene FZn entspricht.
  • Die Aufnahme des Bilderstapels kann im einfachsten Falle bei ruhender Fokusebene vorgenommen werden. Dabei wird zur Aufnahme des jeweiligen Einzelbilds die Relativbewegung der Fokusebene in Bezug auf die Objektoberfläche jeweils gestoppt. Es ist jedoch auch möglich, bei bewegter Fokusebene zu arbeiten. Dies ist z.B. dann möglich, wenn die Bewegungsgeschwindigkeit der Fokusebene in Bezug auf die Bildaufnahmegeschwindigkeit des Bildsensors gering ist. Nimmt der Bildsensor das Bild zeilenweise auf und ist die Bewegungsgeschwindigkeit relativ groß muss die Fokusebene in Bezug auf die Objektoberfläche und die optische Achse als geneigt angesehen werden. Die Neigung der optischen Achse wird durch die Z-Verlagerung der Fokusebene während der Aufnahmezeit des Einzelbilds bestimmt. Diese Schräglage oder Neigung der Fokusebene kann bei der Z-Auswertung des Bilderstapels berücksichtigt werden, indem nicht allen Pixeln des Einzelbildes die gleichen Z-Werte sondern die ihrer Verlagerung entsprechenden, individuellen Z-Werte zugeordnet werden. Bis auf eine geringfügige Erhöhung des Speicherplatzbedarfs entstehen dadurch keine Nachteile. Jedoch kann eine erhebliche Steigerung der Aufnahmegeschwindigkeit erreicht werden.
  • Weitere Einzelheiten vorteilhafter Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus der Zeichnung in Verbindung mit der nachfolgenden Beschreibung sowie Ansprüchen.
  • In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung veranschaulicht. Es zeigen:
  • 1 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Verfahrens anhand einer einfachen geometrischen Objektoberfläche und einer Kamera in symbolischer Veranschaulichung,
  • 2 einen Bilderstapel, gewonnen mit der Anordnung nach 1,
  • 3 bis 5 Einzelbilder des Bilderstapels in schematischer Veranschaulichung,
  • 6 einen Ausschnitt aus einem Einzelbild des Bilderstapels mit Veranschaulichung seiner Pixel,
  • 7 ein Ergebnisbild mit virtueller Tiefenschärfe,
  • 8 eine alternative Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens in schematischer Darstellung,
  • 9 eine weitere alternative Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens in schematischer Darstellung und
  • 10 die Interpolation von Pixelgrauwerten anhand eines Diagramms.
  • In 1 ist die Vermessung einer Objektoberfläche 1 mittels einer Kamera 2 veranschaulicht, die einen optischen Bildsensor z.B. in Form eines flächenhaften CCD-Sensors 3 aufweist. Alternativ kann ein C-MOS-Sensor eingesetzt werden. Zu der Kamera 2 gehört außerdem ein Objektiv 4, das dazu dient, dem CCD-Sensor 3 eine scharfe Abbildung zu erzeugen. Die Tiefenschärfe des Objektivs 4 ist allerdings gering, vorzugsweise sehr gering. Im bevorzugten Ausführungsbeispiel beträgt der Tiefenschärfenbereich lediglich einen oder wenige Mikrometer, so dass eine Scharfabbildung der Objektoberfläche 1 nur innerhalb einer Fokusebene FZ erfolgt. Genau genommen handelt es sich um ein Fokusvolumen, das jedoch in Z-Richtung, d.h. in Richtung der optischen Achse 5 keine nennenswerte Ausdehnung aufweist.
  • Die Objektoberfläche 1 ist eine räumliche Oberfläche, die die Fokusebene FZ schneidet. Im vorliegenden Beispiel ist zur Veranschaulichung als Objektoberfläche 1 eine Pyramidenfläche angenommen worden, wobei die Spitze der Pyramide auf der optischen Achse 5 liegt. Sie kann jedoch beliebig anders positioniert werden und es können auch nahezu beliebige andere Objektoberflächen vermessen werden.
  • Die Kamera 2 ist an eine Verarbeitungseinrichtung 6, beispielsweise in Form eines herkömmlichen PC, angeschlossen, der vorzugsweise einen Massenspeicher 7, beispielsweise in Form einer Festplatte enthält. Außerdem weist er die üblichen sonstigen Komponenten, wie Bildschirm, Eingabe, Schnittstelle, Verarbeitungseinrichtung usw. auf. Die Verarbeitungseinrichtung 6 ist über eine Wirkverbindung 8 mit der Kamera 2 verbunden, um deren Bilder aufzunehmen. Sie ist außerdem mit einer Verstelleinrichtung 9 verbunden, um diese zu steuern. Die Verstelleinrichtung 9 positioniert die Kamera 2 entlang der in Z-Richtung orientierten optischen Achse 5 in verschiedene Aufnahmepositionen Z1 bis Zn. Zur Veranschaulichung ist in 1 n= 7 angenommen worden. Praktischerweise wird die Anzahl der verschiedenen Aufnahmepositionen jedoch wesentlich höher sein. Die Verstelleinrichtung 9 kann bedarfsweise auch autark, d.h. unabhängig von der Verarbeitungseinrichtung 6 arbeiten und die Bildaufnahme durch Signalgabe auslösen.
  • Zur Vermessung der Objektoberfläche 1 wird die Kamera 2 mittels der Verstelleinrichtung 9 zunächst in eine erste Aufnahmeposition Z1 gefahren, in der die zugeordnete Fokusebene FZ1 an einem Ende des zu erfassenden Z-Bereichs der Objektoberfläche 1 steht. In dieser Position wird ein erstes Bild B(1) aufgenommen. Das Bild B(1) ist der Z-Position Z1 der Fokusebene FZ zugeordnet. Nach Aufnahme dieses Bilds wird die Kamera 2 in die Z-Position Z2 verschoben. Somit verlagert sich die Fokusebene in die Position FZ2. In dieser wird das Bild B(2) aufgenommen. Dieser Vorgang wird dann so lange fortgesetzt bis die Kamera 2 die Position Z7 ( 1) erreicht. Die Fokusebene FZ ist dann in der Position Z7. Es wird das Bild B(7) aufgenommen. Somit wird der in 2 schematisch veranschaulichte Bilderstapel 11 erzeugt. Jedem dieser Bilder ist eine Z-Position Z1 bis Z7 zugeordnet. Der Bilderstapel 11 wird mit den zu den Einzelbilder B(1) bis B(7) zugeordneten Z-Positionen in dem Massenspeicher 7 abgelegt.
  • In den Bildern B(1) bis B(7) sind jeweils nur diejenigen Bildpartien scharf abgebildet, in denen die Objektoberfläche 1 die betreffende Fokusebene FZ schneidet. Dies ist in den 3 bis 5 veranschaulicht. Die 3 stellt den Schnitt der Objektoberfläche 1 mit der Fokusebene FZ für die Position Z1 dar. Es sind lediglich kurze Abschnitte 12, 13, 14, 15 der vier Kanten der die Objektoberfläche 1 ausmachenden Pyramide scharf abgebildet. Die übrigen Kantenbereiche verschwimmen, d.h. sind unscharf. Zur Herausfilterung der scharf abgebildeten und somit in der Fokusebene liegenden Bildbereiche insbesondere der Kantenbereiche wird nun eine Kontrastbestimmungsroutine durchgeführt. Diese untersucht die einzelnen Pixel des Bildes 1 auf Kontrast. Dabei wird jedem Pixel P(x, y) (siehe 6) ein Kontrastwert K(x, y) zugeordnet, der sich aus den Helligkeitswerten der Nachbarpixel berechnet.
  • Dieser Vorgang wird auch für das Bild B(2) durchgeführt, bei dem die entsprechende Fokusebene FZ die Pyramide etwas näher zu ihrer Spitze hin versetzt schneidet. Entsprechend sind Kantenbereiche 16, 17, 18, 19 scharf abgebildet, die näher an der Spitze der Pyramide liegen. Die scharf abgebildeten Bereiche werden wiederum über die Kontrastbestimmungsroutine ausfindig gemacht. Dieser Vorgang wiederholt sich nun für alle Bilder bis zum letzten Bild, hier B(7). Dieses ist in 5 veranschaulicht. Zufällig trifft die Fokusebene FZ in der Position Z7 die Spitze der Pyramide. Es ist somit der zentrische, die Spitze enthaltende Bildbereich 21 scharf abgebildet.
  • Die scharf abgebildeten Bild- bzw. Kantenbereiche 12 bis 21 der Bilder B(1) bis B(7) werden nun zu einem aus 7 ersichtlichen Ergebnisbild zusammengesetzt. Dieses Ergebnisbild enthält sowohl die X-, Y- als auch die Z-Positionen aller als scharf erkannten Pixel. Die Z-Positionen sind dabei von den Einzelbildern B(1) bis B(7) übernommen, denen die jeweils schärfsten Bereiche entnommen wurden.
  • Die Vorgehensweise zur Erzeugung des Ergebnisbilds kann wie folgt zusammengefasst werden:
    • – zunächst wird ein Bildstapel 11 mit n Bildern B(z) während der Bewegung des optischen Systems in Richtung der optischen Achse 5 aufgenommen. Jedem Bild B(i) wird die Aufnahmeposition Z auf der optischen Achse 5 zugeordnet.
    • – Jedem Pixel P(x, y) wird nun ein Kontrastwert K(x, y) zugeordnet, der sich aus den Nachbarpixeln berechnet.
    • – Es werden die Kontrastwerte K(x0, y0) korrespondierenden Pixel P(x0, y0) in allen Bildern B(z) verglichen. Es ergibt sich ein maximaler Kontrastwert Kmax(x0, y0) in dem Bild B(zmax) für jedes Pixel P(x0, y0)
    • – In dem nun dreidimensionalen Ergebnisbild Br wird neben dem Grauwert des Pixels P(x0, y0) aus dem Bild B(zmax), dessen Kontrastwert am größten ist, auch die Bildaufnahmeposition zmax mit übernommen. So erhält jedes Pixel eine dreidimensionale Koordinate P(x0, y0, z).
  • Es ist möglich, auf die Zwischenspeicherung der Bilder B(1) bis B(7) bzw. B(n) zu verzichten, wenn die Kontrastwerte während der Bildaufnahme erzeugt und das Pixel mit dem jeweiligen Kontrastmaximum in das Ergebnisbild Br eingetragen wird.
  • In 8 ist eine abgewandelte Ausführungsform der Messanordnung veranschaulicht. Sie beruht auf einer Bewegung der Fokusebene FZ (FZ1 bis FZn) bei ruhender Kamera 2 und zugleich ruhender Objektoberfläche 1. Es wird ein variables Objektiv 4 verwendet, das die Fokusebene entlang der optischen Achse 5 verlagern kann. Zugleich ist das Objektiv 4 als Zoomobjektiv ausgebildet, wobei bei variablem Bildöffnungswinkel der erfasste Flächenbereich der Fokusebene konstant ist.
  • Diese Anordnung gestattet die Anwendung des obigen Verfahrens ohne sonstige Abwandlung.
  • Es ist auch möglich, den Öffnungswinkel unabhängig von der Lage der Fokusebene zu ändern. In diesem Fall arbeitet das Objektiv 4 mit veränderlichem Abbildungsmaßstab. Die Veränderung des Abbildungsmaßstabes kann in dem Verfahren zur Erzeugung des Ergebnisbilds Br berücksichtigt werden. Unter Abbildungsmaßstab wird hier das Längenverhältnis zwischen einer in der Fokusebene FZ gemessenen Länge und einem entsprechenden Pixelabstand auf dem CCD-Sensor verstanden. Die Kompensation wechselnder Abbildungsmaßstäbe kann durch entsprechende Vergrößerung oder Verkleinerung der Bilder des Bilderstapels erreicht werden.
  • Des Weiteren ist es möglich, mit nicht ebenen Fokusflächen FZ zu arbeiten, wie 9 veranschaulicht. In diesem Fall ist jedem einzelnen Bild nicht nur ein einziger Z-Wert zugeordnet, sondern es ist jedem seiner Pixel die zugehörige Z-Position seiner Fokusebene zugeordnet. Diese ergibt sich aus der Z-Position der Fokusebene an der optischen Achse 5 zuzüglich oder abzüglich eines pixelspezifischen Werts, der von der Krümmung der Fokusebene abhängt.
  • Im Übrigen kann das im Zusammenhang mit der 1 bis 7 beschriebene Verfahren Anwendung finden.
  • Eine Optimierung des Verfahrens stellt eine Interpolation oder Approximation des Kontrastverlaufs K(x0, y0, z) sowie des Grauwertverlaufs G (x0, y0, z) dar. So ist es möglich, das Maximum des Kontrasts bzw. dem zugehörigen Grauwert auch zwischen den einzelnen Bildern B(z) zu bestimmen und somit die Genauigkeit zu erhöhen.
  • 10 stellt dies in einem Diagramm dar. Eine erste Kurve I kennzeichnet den Kontrast für ein herausgegriffenes Pixel P(x0, y0) in den Bildern B des Bilderstapels B(z). Die Kurve I interpoliert die einzelnen Kontrastwerte K(x, y).
  • Die Kurve weist ein Maximum an einer Stelle auf, die durch eine vertikale strichpunktierte Stelle gekennzeichnet ist. Das Maximum kann zwischen zwei Bildern liegen. Ein zweite Kurve II kennzeichnet die Grauwerte der Bilder. Die Kurve II wird durch Interpolation der einzelnen Grauwerte der betreffenden Bilder gewonnen. Als gültiger Grauwert kann der Grauwert der gleichen Stelle Z herausgegriffen werden, bei dem die Kurve I ihr Maximum hat. Der Z-Wert kann, wie gesagt, zwischen zwei Bildern liegen. In das Ergebnisbild wird dann der Pixel mit dem Grauwert G an der Stelle Z zugeordnet, die zwischen zwei Bildern liegt. Außerdem wird dem betreffenden Pixel der entsprechende Z-Wert zugeordnet, bei dem die Kurve I ihr Maximum hat.
  • Zur 3D-Vermessung von Objektoberflächen 1 dient ein optisches Verfahren, das mit einer Kamera arbeitet. Diese weist eine Fokusebene FZ auf, die einen sehr geringen Tiefenschärfebereich festlegt. Durch Verfahren der Z-Position der Fokusebene FZ und wiederholte Bildaufnahme wird ein Bildstapel 11 bestehend aus Einzelbildern B(z) erzeugt. Die Einzelbilder weisen jeweils nur dort scharfe, d.h. kontrastreiche Partien auf, in denen die Objektoberfläche 1 die Fokusebene F2 schneidet. Jedem Einzelbild B(z) ist ein Z-Wert zugeordnet. Die scharf abgebildeten Bereiche der einzelnen Bilder B(z) werden zu einem Ergebnisbild Br zusammengefasst, dessen Pixeln jeweils die X-Koordinate, die Y-Koordinate und die Z-Koordinate zugeordnet ist.

Claims (23)

  1. Verfahren zum dreidimensionalen berührungslosen optischen Vermessen von Objektoberflächen (1) mittels eines optischen Bildsensors (3) für in zwei Richtungen x und y ausgedehnte und somit zweidimensionale Bilder, der in einem in einer dritten Richtung z gemessenen Abstand eine Fokusfläche (FZ) festlegt und eine geringe Tiefenschärfe aufweist, wobei bei dem Verfahren ein eine Serie von Bildern (B(z)) umfassender Bildstapel (11) erzeugt wird, dessen Bilder (B(z)) in unterschiedlichen z-Positionen der Fokusfläche (FZ) in Bezug auf die Objektoberfläche (1) aufgenommen worden sind, und wobei bei dem Verfahren die aufgenommenen Bilder (B(z)) des Bildstapels (11) sowohl zur Bestimmung der x- und y-Koordinaten als auch der z-Koordinate jedes Pixels (P(x, y)) herangezogen werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Tiefenschärfe geringer ist als die geforderte z-Auflösung.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokusfläche (FZ) eine Ebene ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Bilder (B(z)) des Bildstapels (11) in einem Speichermedium (7) abgespeichert werden, wobei jedem Bild (B(z)) des Bildstapels (11) die z-Position der Fokusfläche (FZ) in Bezug auf die Objektoberfläche (1) zugeordnet wird.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass in den aufgenommenen Bildern (B(z)) scharf abgebildete Bereiche (1221) identifiziert werden und dass den scharf abgebildeten Bereichen die z-Koordinate des zugehörigen Bildes (B(z)) zugeordnet wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass zur Auffindung scharf abgebildeter Bereiche (1221) in jedem Bild B(z)) pixelweise ein Kontrastwert K(x, y) berechnet wird.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass zur Berechnung des Kontrastwertes K(x, y) die Helligkeitswerte der Nachbarpixel miteinander verglichen werden.
  8. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass für alle sich in den Bildern (B(z)) entsprechenden Pixel das Pixel mit dem maximalen Kontrastwert Kmax(x, y) herausgesucht und zur Bestimmung der x-, y- und z-Koordinate herangezogen wird.
  9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass aus den verschiedenen Bildern (B(z)) die einander entsprechenden, zu den verschiedenen Bildern (B(z)) gehörigen Pixel identifiziert und aus diesen Pixeln jeweils dasjenige mit dem maximalen Kontrastwert Kmax(x, y) herausgesucht und zur Erstellung eines Ergebnisbildes herangezogen wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Aufnahme der Bilder (B(z))) des Bilderstapels (11) der Bildsensor (3) und die Objektoberfläche (1) gegeneinander verschoben werden.
  11. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Aufnahme der Bilder (B(z)) des Bilderstapels (11) ein zu dem Bildsensor (3) gehöriges optisches Abbildungssystem (4) beeinflusst wird.
  12. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Abbildungssystem (4) ein Zoomobjektiv ist.
  13. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Aufnahme der Bilder (B(z)) des Bilderstapels (11) der Abstand des Bildsensors von dem zu ihm gehörigen optischen Abbildungssystem (4) verändert wird.
  14. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahme des Bilderstapels (11) bei bewegter Fokusebene (FZ) vorgenommen wird.
  15. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahme des Bilderstapels (11) bei ruhender Fokusebene (FZ) vorgenommen wird.
  16. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Objektoberfläche (1) mit diffusem Licht beleuchtet wird.
  17. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Objektoberfläche (1) zur Kontrasterhöhung mit strukturiertem Licht beleuchtet wird.
  18. Messeinrichtung mit einem Bildsensor (3) und einer Verarbeitungseinrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach einem der vorstehenden Ansprüche.
  19. Verfahren nach Anspruch 1 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass aus den Kontrastwerten K einander entsprechender Pixel (P(x0, y0)) der Bilder (B(z)) eine Kontrastverlaufsfunktion K(x0, y0, z) gebildet wird und dass aus den Grauwerten einander entsprechender Pixel der entsprechende Grauwertverlauf G(x0, y0, z) bestimmt wird und dass derjenige Grauwert in das Ergebnisbild übertragen wird, bei dem die Kontrastverlaufsfunktion ein Maximum hat.
  20. Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontrastverlaufsfunktion K(x0, y0, z) und der Grauwertverlauf G(x0, y0, z) als kontinuierliche Funktionen gewonnen werden, wobei auch Funktionswerte in das Ergebnisbild übernommen werden, deren Z-Werte zwischen den Bildern (B(z)) liegen.
  21. Koordinatenmessmaschine mit einer Kamera (2) mit geringer Tiefenschärfe zur Aufnahme eines Bilderstapels (B(z)) durch Bewegung ihrer Fokusebene (FZ) relativ zu einer Objektoberfläche und mit einer Verarbeitungseinrichtung (6), die in den Bildern (B) des Bilderstapels (B(z)) scharfe Bereiche (1221) identifiziert und diesen den Z-Wert des Bildes dem sie entstammen, zuordnet.
  22. Koordinatenmessmaschine nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass die Kamera (2) interferenzoptisch arbeitet.
  23. Koordinatenmessmaschine nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass die Kamera (2) Teil eines Weißlichtinterferometers ist.
DE200410047928 2004-10-01 2004-10-01 Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung Revoked DE102004047928B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200410047928 DE102004047928B4 (de) 2004-10-01 2004-10-01 Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200410047928 DE102004047928B4 (de) 2004-10-01 2004-10-01 Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102004047928A1 true DE102004047928A1 (de) 2006-04-06
DE102004047928B4 DE102004047928B4 (de) 2011-02-24

Family

ID=36062124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200410047928 Revoked DE102004047928B4 (de) 2004-10-01 2004-10-01 Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102004047928B4 (de)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008012054A1 (de) * 2006-07-25 2008-01-31 Carl Mahr Holding Gmbh Dynamische bildaufnahme mit bildgebenden sensoren
WO2008109908A1 (de) * 2007-03-14 2008-09-18 Alicona Imaging Gmbh Verfahren und apparat zur optischen messung der topografie einer probe
WO2009009831A1 (en) * 2007-07-18 2009-01-22 Iatia Imaging Pty Ltd Method and apparatus for determining the surface profile of an object
DE102007053993A1 (de) 2007-09-14 2009-04-02 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Werkzeugvermessung
DE102008000105A1 (de) 2008-01-21 2009-07-30 Feinmess Suhl Gmbh Koordinatenmessgerät
EP2132681A1 (de) * 2007-03-19 2009-12-16 Sony Corporation Zweidimensionale/dreidimensionale digitale informationserfassung und anzeigevorrichtung
US8261989B2 (en) 2006-05-24 2012-09-11 Dr. Wirth Grafische Technik Gmbh & Co. Kg Method for generating image information
US8497920B2 (en) 2008-06-11 2013-07-30 Nokia Corporation Method, apparatus, and computer program product for presenting burst images
US20150081080A1 (en) * 2013-09-13 2015-03-19 Silicon Touch Technology Inc. Three-dimensional printing system and method for three-dimensional printing
DE102015117276A1 (de) 2015-10-09 2017-04-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Vermessen eines Messobjekts mit verbesserter Messgenauigkeit und Vorrichtung
CN106657968A (zh) * 2015-11-04 2017-05-10 澧达科技股份有限公司 三维特征信息感测系统及感测方法
DE102016101832A1 (de) * 2016-02-02 2017-08-03 Frt Gmbh Verfahren und Messvorrichtung zur Messung der Topographie unter Verwendung von mindestens zwei Höhenebenen einer Oberfläche
CN110515146A (zh) * 2018-05-21 2019-11-29 株式会社三丰 焦距可变透镜装置及焦距可变透镜控制方法
CN113284049A (zh) * 2021-06-02 2021-08-20 武汉纺织大学 基于图像清晰感知算法的图像拼接算法
US20220252856A1 (en) * 2021-02-09 2022-08-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method and device for determining the optimal position of the focal plane for examining a specimen by microscopy
DE102021108238A1 (de) 2021-03-31 2022-10-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
DE102022115020B3 (de) 2022-06-15 2023-09-14 Michael ROMANOWSKI Tiefenscanmesssystem, Tiefenscanmessvorrichtung, Kalibriereinheit und Verfahren zur Kalibrierung einer Tiefenscanmessvorrichtung
EP4379445A2 (de) 2022-02-11 2024-06-05 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Bestimmung von tiefenwerten eines oberflächenbereichs eines werkstücks

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011100146B4 (de) 2011-04-29 2015-08-06 Schott Ag Dreidimensionale Messung von bewegten Objekten
DE102011101509C5 (de) * 2011-05-13 2016-08-25 Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH Verfahren zur optischen Vermessung einer Welle
DE102016114190A1 (de) 2016-08-01 2018-02-01 Schott Schweiz Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung transparenter Körper
DE102017009804A1 (de) * 2017-10-20 2019-04-25 Vermicon Ag Verfahren zur Bewertung von mikroskopischen Proben und Vorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5151609A (en) * 1989-08-02 1992-09-29 Hitachi, Ltd. Method of detecting solid shape of object with autofocusing and image detection at each focus level
JPH10247669A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Canon Inc ボンディングワイヤ検査装置および方法
DE10030809A1 (de) * 1999-06-25 2000-12-28 Mitutoyo Corp Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung
DE10149357A1 (de) * 2000-10-13 2002-04-18 Leica Microsystems Imaging Sol Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Oberflächenprofils eines Objektes
WO2002035179A1 (de) * 2000-10-26 2002-05-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Optische kohärenz-interferometrie und kohärenz-tomographie mit räumlich teilkohärenten lichtquellen
DE10241290A1 (de) * 2001-09-11 2003-04-24 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung eines Objektes

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19944516B4 (de) * 1999-09-16 2006-08-17 Brainlab Ag Dreidimensionale Formerfassung mit Kamerabildern

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5151609A (en) * 1989-08-02 1992-09-29 Hitachi, Ltd. Method of detecting solid shape of object with autofocusing and image detection at each focus level
JPH10247669A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Canon Inc ボンディングワイヤ検査装置および方法
DE10030809A1 (de) * 1999-06-25 2000-12-28 Mitutoyo Corp Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung
DE10149357A1 (de) * 2000-10-13 2002-04-18 Leica Microsystems Imaging Sol Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Oberflächenprofils eines Objektes
WO2002035179A1 (de) * 2000-10-26 2002-05-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Optische kohärenz-interferometrie und kohärenz-tomographie mit räumlich teilkohärenten lichtquellen
DE10241290A1 (de) * 2001-09-11 2003-04-24 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung eines Objektes

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8261989B2 (en) 2006-05-24 2012-09-11 Dr. Wirth Grafische Technik Gmbh & Co. Kg Method for generating image information
WO2008012054A1 (de) * 2006-07-25 2008-01-31 Carl Mahr Holding Gmbh Dynamische bildaufnahme mit bildgebenden sensoren
US8203608B2 (en) 2006-07-25 2012-06-19 Carl Mahr Holding Gmbh Dynamic image recording system with superimposition movement during scanning movement for momentary image stopping and method
DE102006034205B4 (de) * 2006-07-25 2012-03-01 Carl Mahr Holding Gmbh Dynamische Bildaufnahme mit bildgebenden Sensoren
WO2008109908A1 (de) * 2007-03-14 2008-09-18 Alicona Imaging Gmbh Verfahren und apparat zur optischen messung der topografie einer probe
AT504940B1 (de) * 2007-03-14 2009-07-15 Alicona Imaging Gmbh Verfahren und apparat zur optischen messung der topografie einer probe
EP2132681A4 (de) * 2007-03-19 2012-04-11 Sony Corp Zweidimensionale/dreidimensionale digitale informationserfassung und anzeigevorrichtung
EP2132681A1 (de) * 2007-03-19 2009-12-16 Sony Corporation Zweidimensionale/dreidimensionale digitale informationserfassung und anzeigevorrichtung
GB2476738A (en) * 2007-07-18 2011-07-06 Latia Imaging Pty Ltd Method and apparatus for determining the surface profile of an object
US8917901B2 (en) 2007-07-18 2014-12-23 Iatia Imaging Pty Ltd. Method and apparatus for determining the surface profile of an object
WO2009009831A1 (en) * 2007-07-18 2009-01-22 Iatia Imaging Pty Ltd Method and apparatus for determining the surface profile of an object
GB2476738B (en) * 2007-07-18 2012-08-15 Iatia Imaging Pty Ltd Method and apparatus for determining the surface profile of an object
DE102007053993B4 (de) * 2007-09-14 2010-08-12 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Werkzeugvermessung
DE102007053993A1 (de) 2007-09-14 2009-04-02 Carl Mahr Holding Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Werkzeugvermessung
DE102008000105B4 (de) * 2008-01-21 2010-11-11 Feinmess Suhl Gmbh Koordinatenmessgerät
DE102008000105A1 (de) 2008-01-21 2009-07-30 Feinmess Suhl Gmbh Koordinatenmessgerät
US9013592B2 (en) 2008-06-11 2015-04-21 Nokia Corporation Method, apparatus, and computer program product for presenting burst images
US8497920B2 (en) 2008-06-11 2013-07-30 Nokia Corporation Method, apparatus, and computer program product for presenting burst images
US9868256B2 (en) 2013-09-13 2018-01-16 Silicon Touch Technology Inc. Three-dimensional printing system and method for three-dimensional printing
US20150081080A1 (en) * 2013-09-13 2015-03-19 Silicon Touch Technology Inc. Three-dimensional printing system and method for three-dimensional printing
TWI618640B (zh) * 2013-09-13 2018-03-21 Silicon Touch Technology Inc. 立體列印系統以及立體列印方法
DE102015117276A1 (de) 2015-10-09 2017-04-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Vermessen eines Messobjekts mit verbesserter Messgenauigkeit und Vorrichtung
DE102015117276B4 (de) 2015-10-09 2018-09-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts mit verbesserter Messgenauigkeit
EP3166076A1 (de) * 2015-11-04 2017-05-10 Leadot Innovation, Inc. System und verfahren zur messung von dreidimensionalen kontourinformationen
CN106657968A (zh) * 2015-11-04 2017-05-10 澧达科技股份有限公司 三维特征信息感测系统及感测方法
US10721455B2 (en) 2015-11-04 2020-07-21 Leadot Innovation, Inc. Three dimensional outline information sensing system and sensing method
DE102016101832A1 (de) * 2016-02-02 2017-08-03 Frt Gmbh Verfahren und Messvorrichtung zur Messung der Topographie unter Verwendung von mindestens zwei Höhenebenen einer Oberfläche
CN110515146A (zh) * 2018-05-21 2019-11-29 株式会社三丰 焦距可变透镜装置及焦距可变透镜控制方法
CN110515146B (zh) * 2018-05-21 2022-08-30 株式会社三丰 焦距可变透镜装置及焦距可变透镜控制方法
US20220252856A1 (en) * 2021-02-09 2022-08-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method and device for determining the optimal position of the focal plane for examining a specimen by microscopy
DE102021108238A1 (de) 2021-03-31 2022-10-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
CN113284049A (zh) * 2021-06-02 2021-08-20 武汉纺织大学 基于图像清晰感知算法的图像拼接算法
EP4379445A2 (de) 2022-02-11 2024-06-05 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Bestimmung von tiefenwerten eines oberflächenbereichs eines werkstücks
DE102022115020B3 (de) 2022-06-15 2023-09-14 Michael ROMANOWSKI Tiefenscanmesssystem, Tiefenscanmessvorrichtung, Kalibriereinheit und Verfahren zur Kalibrierung einer Tiefenscanmessvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004047928B4 (de) 2011-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102004047928B4 (de) Optisches 3D-Messverfahren und Messeinrichtung
EP3489735B1 (de) Verfahren und anordnung zur lichtblattmikroskopie
EP1916046B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum maschinellen Schneiden eines plattenförmigen Werkstücks
EP2870500B1 (de) Verfahren zur vorbereitung und durchführung der aufnahme von bildstapeln einer probe aus verschiedenen orientierungswinkeln
EP1299691A1 (de) Verfahren zum berührungslosen messen von geometrien von gegenständen
DE102016202928B4 (de) Verbessertes Autofokusverfahren für ein Koordinatenmessgerät
EP2437027A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen optischen Abtastung einer Probe
EP3123228B1 (de) Konfokales mikroskop mit aperturkorrelation
DE102011012611A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung eines Winkels
WO2015176888A1 (de) Verbessertes autofokusverfahren für ein koordinatenmessgerät
EP3891545A1 (de) Verfahren zur automatischen positionsermittlung auf einer probenanordnung und entsprechendes mikroskop
EP3569976B1 (de) Rauheitsmesstaster, vorrichtung mit rauheitsmesstaster und entsprechende verwendung
DE102014016087B4 (de) Dreidimensionale optische Erfassung von Objektoberflächen
DE102015110289A1 (de) Verfahren zur Bestimmung von Messpunkten auf der Oberfläche eines Werkzeugstücks mit einem optischen Sensor
DE102008031412A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Beobachtung mehrerer auf einer Linie angeordneter Messpunkte auf einer zu vermessenden Objektoberfläche
EP2590139A1 (de) Verfahren und Apparat zur flächenhaften optischen dreidimensionalen Messung von Oberflächentopographien
DE102020201097B4 (de) Anordnung und Verfahren zur optischen Objektkoordinatenermittlung
EP1054361B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung der räumlichen Konfiguration von Münzen
DE102022108474B4 (de) Verfahren und Messkamera zur Messung eines Oberflächenprofils eines Objekts
DE102010037738A1 (de) Verfahren und Koordinatenmessgerät zur Bestimmung der Geometrie eines Messobjektes
DE102014119436B4 (de) Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Bestimmen von geometrischen Eigenschaften eines Messobjekts unter Verwendung einer Lichtfeldkamera
DE102022118147A1 (de) Laserbearbeitungskopf und Verfahren zum Bearbeiten eines Werkstücks
EP3978866A1 (de) Verfahren zum bestimmen der geometrie eines objektes sowie optische messvorrichtung
WO2024132790A1 (de) Verfahren zur bestimmung von mindestens einer ersten abmessung und einer zweiten abmessung eines objekts, erfassungsvorrichtung, verfahren zum erfassen von multiplen objektdatensätzen zumindest eines objekts
DE102012109726A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie eines Objektes mit einer Zoomoptik

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R026 Opposition filed against patent
R026 Opposition filed against patent
R026 Opposition filed against patent
R026 Opposition filed against patent

Effective date: 20110520

R037 Decision of examining division/fpc revoking patent now final

Effective date: 20121228