DD233197A1 - METHOD FOR DETECTING THE OUTER LAYERS OF COMPOSITE MATERIALS - Google Patents
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Abstract
Das Verfahren dient der Erkennung der aeusseren, optisch schwer unterscheidbarer Schichten von Verbundwerkstoffen, insbesondere solcher aus Edelmetallen und Nichteisenmetallen, wobei die lagerichtige Kennzeichnung und Weiterverarbeitung solcher Schichten mit niedrigem apparativem und personellem Aufwand bezweckt wird. Aufgabe ist die Entwicklung eines Verfahrens und einer Anordnung zur zerstoerungsfreien Erkennung, die sich direkt in den technologischen Fluss des Produktionsprozesses einordnen lassen. Das Verfahren beruht darauf, dass ein eine Pruefspule einschliessender Oszillator mit konstanter Kapazitaet bei einer solchen Messfrequenz betrieben wird, dass die Eindringtiefe der Wirbelstroeme in der gleichen Groessenordnung wie die Staerke der zu erkennenden Schicht gehalten wird und die Schwingungen des Oszillators gedaempft oder voellig aufgehoben werden.The method is used to detect the outer, optically difficult to distinguish layers of composite materials, especially those of precious metals and non-ferrous metals, the correct position marking and further processing of such layers with low equipment and personnel expenditure is intended. The task is the development of a method and an arrangement for non-destructive detection, which can be classified directly in the technological flow of the production process. The method is based on operating a constant-frequency oscillator including a test coil at a measurement frequency such that the penetration depth of the vortex flows is maintained at the same order of magnitude as the strength of the layer to be detected, and the vibrations of the oscillator are damped or canceled altogether.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zerstörungsfreien Erkennung optisch nicht oder nur schwer unterscheidbarer äußerer Schichten von Verbundwerkstoffen aus Edel- und/oder Nichteisenmetallen sowie deren Legierungen und den daraus hergestellten Halbzeugen und Bauelementen.The invention relates to a method for the non-destructive detection of optically unrecognizable or difficult to distinguish outer layers of composites of precious and / or non-ferrous metals and their alloys and the semifinished products and components produced therefrom.
Bekanntlich sind bei Verbundwerkstoffen, wie Bi- und Trimetallen, die einzelnen Schichten auf Grund oftmals sehr geringer farblicher Unterschiede optisch schwer zu erkennen, so daß bereits vor deren Kennzeichnung durch Gravieren, Riffelungen u. a. die Gefahr der Verwechslung der Schichten besteht. Dadurch sind Fehlkennzeichnungen nicht auszuschließen, die bei der Weiterverarbeitung unvermeidlich Ausschuß verursachen.As is well known in composite materials, such as bimetallic and trimers, the individual layers due to often very small differences in color optically difficult to see, so that even before their identification by engraving, corrugations u. a. There is a risk of confusion between the layers. As a result, misidentification can not be excluded, which inevitably cause waste during further processing.
Zum Erkennen der jeweiligen Schicht, als Voraussetzung für die lagerichtige Weiterverarbeitung, sind Oberflächenanalysenverfahren, naßchemische oder spektralanalytische Verfahren sowie metallographische Untersuchungsmethoden allgemein bekannt, die auf der Untersuchung der materialtypischen physikalischen oder chemischen Eigenschaften der zu unterscheidenden Schichten des Verbundwerkstoffes beruhen.To identify the respective layer, as a prerequisite for the correct position further processing, surface analysis methods, wet chemical or spectral analytical methods and metallographic examination methods are generally known, which are based on the examination of the material-specific physical or chemical properties of the different layers of the composite material.
Alle diese bekannten Verfahren besitzen den Mangel, daß die zur Bestimmung der jeweiligen Schicht erforderliche Analyse unter Laborbedingungen mit hohem apparativem Aufwand durchgeführt werden muß, wodurch sie sich nicht in den technologischen Fluß des Produktionsprozesses einordnen lassen. Auf Grund des erforderlichen Zeitaufwandes für die Durchführung der Analyse und des zeitlichen Abstandes zwischen Probenahme, Analyse und dem Vorliegen der Analysenergebnisse ist eine wirkungsvolle Erkennung der Schichten von Verbundwerkstoffen vor der Kennzeichnung oder anderweitigen Verarbeitung ohne Unterbrechung des Produktionsprozesses nicht möglich.All these known methods have the defect that the analysis required for the determination of the respective layer must be carried out under laboratory conditions with a high expenditure on equipment, whereby they can not be classified in the technological flow of the production process. Due to the time required to perform the analysis and the time interval between sampling, analysis and the presence of analytical results, effective detection of the layers of composites prior to marking or other processing without interrupting the production process is not possible.
Außerdem wird bei den naßchemischen, spektralanalytischen und metallographischen Verfahren der zu prüfende Werkstoff beschädigt oder zerstört, wodurch Materialverluste entstehen, die bei Edelmetallen oder deren Legierungen besonders nachteilig sind.In addition, in the wet-chemical, spectral-analytical and metallographic processes, the material to be tested is damaged or destroyed, as a result of which material losses occur which are particularly disadvantageous in the case of precious metals or their alloys.
Weiter sind Verfahren und Anordnungen zur Identifizierung von Einmetallwerkstoffen bekannt, bei denen die Identifizierung des Werkstoffes unter Ausnutzung seiner elektrischen Eigenschaften erfolgt. Diese beruhen auf der Ausnutzung der elektrischen Leitfähigkeit und des Wirbelstromeffektes, wo bei mit entsprechenden Schaltungen Spannungswerte angezeigt werden, die Aufschluß über den jeweils vorliegenden Werkstoff geben. Ein solches bekanntes Verfahren und eine Anordnung sind in der DD-PS 107142 beschrieben. Gemäß diesem Verfahren wird eine hochfrequente Wechselspannung hohen Potentials über eine Drossel an die Primärwicklung einer Prüfspule gelegt und die durch die induzierten Wirbelströme in einer Sekundärwicklung der Prüfspule erzeugte Spannung über einen Übertrager einem Anzeigeinstrument zugeführt. Die Anordnung besteht aus einem hochfrequenten Sender, dessen Ausgang über einen Verstärker, eine Drossel und eine Kapazität mit der Primärwicklung der Prüfspule und die Sekundärwicklung der Prüfspule über einen Übertrager mit dem Anzeigeinstrument verbunden ist. Diese bekannten Lösungen gestatten es nicht, Schichten auf Verbundwerkstoffen zu identifizieren, da sie nach dem Durchstrahlungsprinzip arbeiten, wodurch die in der Regel unterschiedlichen elektrischen Eigenschaften zweier oder dreier miteinander stoffschlüssig verbundener metallischer Schichten nicht getrennt voneinander erfaßbar sind, So ist es nicht möglich, einzelne Schichten durch Spannungsänderungen zu identifizieren, da die durch die Verluste bei der Wirbelstrombildung in der Prüfspule hervorgerufene Spannungsänderung durch den gesamten Prüfkörper bewirkt wird. Ferner ist ein Verfahren, das u.a. zur Dickenmessung von Schichten verwendet wird, bekannt, das durch Aufsetzen einer Tastspule unmittelbar die elektrische Leitfähigkeit des unter der Tastspule befindlichen Metalle abzulesen gestattet. Dieses Verfahren arbeitet nach dem Prinzip des anschwingenden Senders. Dabei wird der Sender durch Rückkopplung so stark erregt, daß er mit dem Bruchteil der Amplitude, wie sie sich bei fester Rückkopplung einstellt, schwingt (Handbuch der Werkstoffprüfung, Bd. I „Prüf- und Meßeinrichtungen", 2. Auflage, Springer-Verlag Be iin/Göttingen/Heidelberg, 1958). Dieses Verfahren eignet sich nicht für die Erkennung der äußeren Schichten von Verbundwerkstoffen, da nur ein Summeneffekt hinsichtlich der Leitfähigkeit der Dicke u.a. Parameter erreichbar ist.Furthermore, methods and arrangements for the identification of Einmetallwerkstoffen are known in which the identification of the material takes place by utilizing its electrical properties. These are based on the utilization of the electrical conductivity and the eddy current effect, where are displayed at corresponding circuits voltage values that provide information about the material in each case. Such a known method and arrangement are described in DD-PS 107142. According to this method, a high-frequency alternating voltage of high potential is applied to the primary winding of a test coil via a choke and the voltage generated by the induced eddy currents in a secondary winding of the test coil is fed via a transformer to a display instrument. The arrangement consists of a high-frequency transmitter whose output is connected via an amplifier, a choke and a capacitor to the primary winding of the test coil and the secondary winding of the test coil via a transformer with the indicating instrument. These known solutions do not allow to identify layers on composite materials, since they work according to the transmission principle, whereby the usually different electrical properties of two or three cohesively bonded together metallic layers are not detected separately, so it is not possible, individual layers to identify by voltage changes, since caused by the losses in the eddy current formation in the test coil voltage change is effected throughout the test specimen. Further, a method which is used i.a. is used for the thickness measurement of layers, known that allows by reading a probe coil directly read the electrical conductivity of the metals located under the Pastspule. This method works on the principle of the oscillating transmitter. In this case, the transmitter is excited by feedback so strong that it oscillates with the fraction of the amplitude, as it sets with a fixed feedback (Manual of Materials Testing, Vol. I "Testing and Measuring Equipment", 2nd edition, Springer-Verlag Be iin / Göttingen / Heidelberg, 1958) This method is not suitable for the detection of the outer layers of composite materials, since only a cumulative effect with regard to the conductivity of the thickness and other parameters can be achieved.
Ein Verfahren und eine Anordnung zur Erkennung optisch schwer unterscheidbarer Schichten von Verbundwerkstoffen, das sich in den technologischen Fluß des Produktionsprozesses einordnen läßt, ist bisher nicht bekannt geworden.A method and an arrangement for the detection of optically difficult to distinguish layers of composite materials, which can be classified in the technological flow of the production process, has not been previously known.
Ziel der Erfindung ist es, die lagerichtige Kennzeichnung und Weiterverarbeitung von aus optisch schwer unterscheidbaren Schichten gebildeten Verbundwerkstoffen sowie daraus hergestellten Halbzeugen mit niedrigem apparativem und personellem Aufwand sicher zu gewährleisten.The aim of the invention is to ensure the correct position marking and processing of composites formed from optically difficult distinguishable layers and semi-finished products produced therefrom with low equipment and personnel expense safely.
Die bekannten auf der Untersuchung materialtypischer physikalischer Eigenschaften beruhenden Verfahren zur Erkennung der Schichten von Verbundwerkstoffen erfordern meist werkstoffzerstörende Analysen unter Laborbedingungen, so daß sie sich nicht direkt in den technologischen Fluß des Produktionsprozesses einordnen lassen, während die bekannten auf die Untersuchung elektrischer Eigenschaften des Werkstoffes gerichteten Verfahren und Anordnungen lediglich die Sortierung von Einmetallen gestatten.Known methods for detecting the layers of composites based on the investigation of material-typical physical properties usually require material-destroying analyzes under laboratory conditions, so that they can not be classified directly in the technological flow of the production process, whereas the known methods directed to the investigation of electrical properties of the material and arrangements allow only the sorting of single metals.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, ein nach dem Wirbelstromprinzip arbeitendes Verfahren zur zerstörungsfreien Erkennung der äußeren Schichten von Verbundwerkstoffen sowie daraus hergestellten Halbzeugen, die sich direkt in den technologischen Fluß des Produktionsprozesses einordnen lassen, zu entwickeln.The invention is therefore based on the object, according to the eddy current principle working method for non-destructive detection of the outer layers of composite materials and semi-finished products derived therefrom, which can be classified directly in the technological flow of the production process to develop.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß ein eine Prüfspule einschließender Oszillator mit konstanter Kapazität bei einer solchen Meßfrequenz betrieben wird, daß die Eindringtiefe der Wirbelströme im Metall in der gleichen Größenordnung wie die Stärke der zu erkennenden äußeren Schicht des Verbundwerkstoffes gehalten wird und die Schwingung des Oszillators infolge einer durch die Rückwirkung eines magnetischen Wechselfeldes auf die Prüfspule entstehenden Änderung des ohmschen Anteiles eines Scheinwiderstandes der Prüfspule gedämpft oder völlig aufgehoben wird. Die Schwingung des Oszillators wird über einen Schwellwertschalter und eine Treiberstufe in eine Ja/Nein-Aussage als Erkennungsmerkmal für die Schicht umgesetzt. Die Stabilitätsgrenze des Oszillators wird über einen Abgleichwiderstand derart eingestellt, daß der Oszillator beim Auftreten auf eine erste der äußeren Schichten des Verbundwerkstoffes schwingt und beim Aufsetzen auf eine zweite äußere Schicht nicht schwingt.According to the invention, this object is achieved in that a test coil einschließender oscillator is operated with a constant capacitance at such a measurement frequency that the penetration depth of the eddy currents in the metal is kept in the same order of magnitude as the thickness of the recognizable outer layer of the composite material and the vibration of the Oscillator is attenuated due to a resulting from the reaction of an alternating magnetic field to the test coil change in the ohmic portion of an impedance of the test coil or canceled completely. The oscillation of the oscillator is converted via a threshold value switch and a driver stage into a yes / no statement as a distinguishing feature for the layer. The stability limit of the oscillator is adjusted via a trimming resistor such that the oscillator, upon impact, swings onto a first of the outer layers of the composite and does not vibrate when placed on a second outer layer.
Weiter ist kennzeichnend, daß ein aus der Prüfspule und einem Kondensator gebildeter Schwingkreis, der mit einem Verstärker zu einem Oszillator geschaltet ist, für die Schichterkennung verwendet wird.Further, it is characteristic that a resonant circuit formed of the test coil and a capacitor, which is connected to an amplifier to an oscillator, is used for the layer detection.
Das erfindungsgemäße Verfahren wirkt derart, daß die Schwingungen des Schwingkreises mittels des Abgleichwiderstandes in Abhängigkeit von der Leitfähigkeit der zu identifizierenden Schicht an der Stabilitätsgrenze eingestellt werden. Danach wird die Prüfspule auf die zu erkennende Schicht aufgesetzt, so daß im Werkstoff Wirbelströme gebildet werden, die ein auf die Prüfspule zurückwirkendes sekundäres magnetisches Wechselfeld erzeugen. Dadurch wird der ohmsche und der induktive Anteil des Scheinwiderstandes verändert, deren Wert zu einer Dämpfung oder Auf hebung der Schwingungen im Oszillator führt. Die Feststellung, ob der Oszillator „schwingt" oder „nicht schwingt", wird mittels der Ausgangsspannung des Verstärkers auf einen Schwellwertschalter übertragen und von einer Treiberstufe und einer Anzeigeeinheit in eine Ja/Nein-Aussage umgesetzt.The inventive method acts in such a way that the oscillations of the resonant circuit are adjusted by means of the balancing resistor as a function of the conductivity of the layer to be identified at the stability limit. Thereafter, the test coil is placed on the layer to be detected, so that eddy currents are formed in the material, which generate a retroactive to the test coil secondary alternating magnetic field. As a result, the ohmic and the inductive component of the impedance is changed, the value of which leads to an attenuation or to increase the vibrations in the oscillator. The determination of whether the oscillator "oscillates" or "does not oscillate" is transmitted to a threshold value switch by means of the output voltage of the amplifier and converted into a yes / no statement by a driver stage and a display unit.
Nachstehend wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels und von Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen inThe invention will be explained in more detail with reference to an embodiment and drawings. The drawings show in
Fig. 1: eine AnordnungFig. 1: an arrangement
Fig. 2: eine Ortskurve der Scheinwiderstandsebene.2 shows a locus of the impedance layer.
Das Ausführungsbeispiel bezieht sich auf die Erkennung eines Verbundwerkstoffes, bestehend aus einer AgCdO und einer AgCd-Schicht. Die eingestellte Meßfrequenz beträgt 1 MHz.The embodiment relates to the detection of a composite material consisting of an AgCdO and an AgCd layer. The set measuring frequency is 1 MHz.
Die Anordnung besteht aus der Prüf spule 1, die zusammen mit einem parallel zu ihr geschalteten Kondensator 2 konstanter Kapazität einen Parallelschwingkreis bildet, der über den Eingang des Verstärkers 3 und dem Abgleichwiderstand 4 zu einem Oszillator 5 geschaltet ist.The arrangement consists of the test coil 1, which forms a parallel resonant circuit, which is connected via the input of the amplifier 3 and the trimming resistor 4 to an oscillator 5, together with a capacitor 2 connected in parallel to its constant capacitance.
Der Verstärker 3 des Oszillators 5 ist über den Schwellwertschalter 6 und die Treiberstufe 7 mit besonders markierten Luminiszenzdioden 8 und 9 gekoppelt. Die Prüfspule 1 wird bei Meßbeginn auf den Prüfling 10 aufgesetzt (Fig. 1).The amplifier 3 of the oscillator 5 is coupled via the threshold value switch 6 and the driver stage 7 with specially marked luminescence diodes 8 and 9. The test coil 1 is placed at the beginning of the measurement on the test piece 10 (Fig. 1).
Vor Meßbeginn wird die konstante Schwingungsamplitude des Schwingkreises 1,2 entsprechend den Prüfbedingungen, z. B.Before the start of measurement, the constant oscillation amplitude of the resonant circuit is 1.2 according to the test conditions, eg. B.
der unterschiedlichen Leitfähigkeit der zu unterscheidenden Schichten 10 über den Abgleichwiderstand 4 an der Stabilitätsgrenze eingestellt. Danach wird eine der Schichten 10 durch Aufsetzen der Prüfspule 1 auf diese in deren magnetisches Wechselfeld gebracht. Besteht die zu prüfende Schicht 10 aus elektrisch leitendem Werkstoff, werden in einer oberflächennahen Zone, deren Stärke durch die Meßfrequenz festgelegt ist, Wirbelströme und dadurch ein sekundäres magnetisches Wechselfeld erzeugt, das auf die Prüfspule zurückwirkt. Dadurch werden die elektrischen Eigenschaften der Prüfspule 1 in der Weise beeinflußt, daß sich ihr Scheinwiderstand im ohmschen und im induktiven Anteil ändert. Die Änderung des Scheinwiderstandes der Prüfspule 1 nach Betrag und Phasenwinkel hängt unter anderem auch von der elektrischen Leitfähigkeit der zu identifizierenden Schicht ab, so daß in der Scheinwiderstandsebene eine Ortskurve 11 für die Prüfspule 1 erarbeitet werden kann, die die spezifische elektrische Leitfähigkeit als Parameter besitzt. Die gleichen Kurven ergeben sich aber auch, wenn die Meßfrequenz als Parameter dient.the different conductivity of the layers to be distinguished 10 set on the balancing resistor 4 at the stability limit. Thereafter, one of the layers 10 is brought by placing the test coil 1 on this in the alternating magnetic field. If the layer 10 to be tested consists of electrically conductive material, eddy currents are generated in a near-surface zone whose intensity is determined by the measuring frequency, and thus a secondary alternating magnetic field which acts on the test coil. As a result, the electrical properties of the test coil 1 are influenced in such a way that their impedance changes in ohmic and inductive content. The change of the impedance of the test coil 1 in terms of magnitude and phase angle depends inter alia on the electrical conductivity of the layer to be identified, so that in the impedance plane, a locus 11 can be worked out for the test coil 1, which has the specific electrical conductivity as a parameter. However, the same curves also result if the measuring frequency serves as a parameter.
Wie aus Fig. 2 erkennbar ist, ist der Scheinwiderstand der Prüfspule 1 für Luft(l)—also vor dem Aufsetzen der Prüfspule 1 auf die zu identifizierende Schicht—Z0 = Ro + j oLo· Nach dem Aufsetzen der Prüfspule 1 aufdieerstezuidentifizierendeSchichtiO(ll) mit einer bestimmten spezifischen Leitfähigkeit ändert sich der Scheinwiderstand in Z-i = Ri + j -,L1.As can be seen from Fig. 2, the impedance of the test coil 1 for air (l) -also before placing the test coil 1 on the layer to be identified Z 0 = Ro + j oLo · After putting the test coil 1 on the first to be identified SchichtiO (ll ) with a specific conductivity, the impedance changes to Zi = Ri + j -, L 1 .
Bei der zweiten zu prüfenden Schicht 10 (III) mit einer anderen, in diesem Beispiel niedrigeren Leitfähigkeit, hat die Prüfspule 1 den Scheinwiderstand Z2 = R2 + j 2^-1- Wie zu erkennen ist, bedingt die Leitfähigkeitsminderung eine Induktivitätserhöhung der Prüfspule 1 und damit eine Absenkung der Frequenz des Oszillators 5, die nach der BeziehungIn the second layer to be tested 10 (III) with a different, in this example, lower conductivity, the test coil 1 has the impedance Z2 = R2 + j 2 ^ -1- As can be seen, the conductivity reduction causes an inductance increase of the test coil 1 and thus lowering the frequency of the oscillator 5, according to the relationship
f s : · fs: ·
2 L . C2 L C
festliegt.fixed.
Während Leitfähigkeitsmeßgeräte vorzugsweise bei solchen Frequenzen arbeiten, wo Leitfähigkeitsänderungen den größten Einfluß auf den induktiven Anteil des Scheinwiderstandes ausüben, ist es in diesem Anwendungsfall notwendig, wesentlich höhere Meßfrequenzen zu verwenden (1 MHz), da dadurch die Eindringtiefe in dem gleichen Größenbereich wie die Schichtstärke liegt und nur so eine zweifelsfreie Unterscheidung möglich ist. Außerdem hat bei diesen Frequenzen die Leitfähigkeitsänderung einen größeren Einfluß auf den ohmschen Anteil des Scheinwiderstandes.While conductivity meters operate preferably at those frequencies where conductivity changes exert the greatest influence on the inductive component of the impedance, in this application it is necessary to use substantially higher measurement frequencies (1 MHz), since the penetration depth is in the same size range as the layer thickness and only so a clear distinction is possible. In addition, at these frequencies, the conductivity change has a greater influence on the ohmic portion of the impedance.
Die Einstellung des Oszillators 5 erfolgt über den Abgleichwiderstand 4 derart, daß der Oszillator 5 beim Scheinwiderstand Zi(II) der Prüfspule 1 gerade noch schwingt und beim Scheinwiderstand Z2(III) die Schwingungen völlig aussetzen oder eine sehr niedrige Schwingungsamplitude annehmen.The adjustment of the oscillator 5 via the trimming resistor 4 such that the oscillator 5 at the impedance Zi (II) of the test coil 1 just swings and the impedance Z 2 (III) completely suspend the vibrations or assume a very low amplitude oscillation.
Die Ausgangsspannung des Oszillators 5 wird vom Verstärker 3 zum Schwellwertschalter 6 übertragen. Von diesem aus werden über eine Treiberstufe zwei farblich besonders markierte Luminiszenzdioden 8 und 9 angesteuert. Die Diode 8, z. B. grün, liegt am nichtinvertierten Ausgang der Treiberstufe 7 zur Signalisierung der ersten Schicht 10 mit der höheren Leitfähigkeit (II) und die Diode 9, z. B. rot, liegt am invertierten Ausgang der Treiberstufe 7 zur Signalisierung der zweiten Schicht 10 mit der niedrigeren Leitfähigkeit (III).The output voltage of the oscillator 5 is transmitted from the amplifier 3 to the threshold value switch 6. From this, two color-coded luminescent diodes 8 and 9 are driven via a driver stage. The diode 8, z. B. green, is located at the non-inverted output of the driver stage 7 for signaling the first layer 10 with the higher conductivity (II) and the diode 9, z. B. red, is located at the inverted output of the driver stage 7 for signaling the second layer 10 with the lower conductivity (III).
Die Erfindung eignet sich für die Erkennung der äußeren Schichten von Verbundwerkstoffen, wie Bi- und Trimetallen aus Edelmetall und Nichteisenmetall sowie deren Legierungen und daraus hergestellten Halbzeugen, Bauelementen und dergleichen. Sie kann aber auch zur Sortierung von Einmetallen verwendet werden. Sie gestattet es, die Schichten auf Verbundwerkstoffen mit geringem apparativem Aufwand direkt im technologischen Fluß des Produktionsprozesses zu identifizieren, so daß solche Werkstoffe mit großer Sicherheit lagerichtig der Kennzeichnung bzw. Weiterverarbeitung zugeführt werden können. Außerdem werden durch die zerstörungsfreie Erkennung Verluste an wertvollen Metallen vermieden. Vorteile sind auch darin zu sehen, daß die Bedienung der Anordnung einfach ist und kein speziell ausgebildetes Personal erfordert, die Herstellung von Eichproben entfällt und der Herstellungsaufwand für die Anordnung niedrig ist.The invention is suitable for the detection of the outer layers of composite materials, such as bimetallic and trimetal metals of noble metal and non-ferrous metal and their alloys and semifinished products, components and the like produced therefrom. But it can also be used to sort single metals. It makes it possible to identify the layers on composite materials with little equipment expense directly in the technological flow of the production process, so that such materials can be fed with great certainty in the correct position of the marking or further processing. In addition, non-destructive detection avoids losses of valuable metals. Advantages can also be seen in the fact that the operation of the arrangement is simple and requires no specially trained personnel, the production of calibration samples is eliminated and the manufacturing cost of the arrangement is low.
Claims (4)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DD26533984A DD233197A1 (en) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | METHOD FOR DETECTING THE OUTER LAYERS OF COMPOSITE MATERIALS |
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DD26533984A DD233197A1 (en) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | METHOD FOR DETECTING THE OUTER LAYERS OF COMPOSITE MATERIALS |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3720686A1 (en) * | 1987-06-23 | 1989-01-05 | Foerster Inst Dr Friedrich | METHOD FOR EXAMINING AN OBJECT |
DE3815009A1 (en) * | 1988-04-30 | 1989-11-09 | Leybold Ag | DEVICE AND METHOD FOR NON-DESTRUCTION-FREE MEASUREMENT OF THE Ohmic RESISTANCE OF THIN LAYERS IN ACCORDANCE WITH THE Eddy Current Principle |
-
1984
- 1984-07-17 DD DD26533984A patent/DD233197A1/en unknown
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DE3720686A1 (en) * | 1987-06-23 | 1989-01-05 | Foerster Inst Dr Friedrich | METHOD FOR EXAMINING AN OBJECT |
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