CN214250861U

CN214250861U - 高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置

Info

Publication number: CN214250861U
Application number: CN202023216710.8U
Authority: CN
Inventors: 罗时帅
Original assignee: Rongcheer Industrial Technology Suzhou Co ltd
Current assignee: Rongcheer Industrial Technology Suzhou Co ltd
Priority date: 2020-12-28
Filing date: 2020-12-28
Publication date: 2021-09-21
Anticipated expiration: 2030-12-28

Abstract

本实用新型涉及测试装置技术领域，涉及一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置。本实用新型通过将线圈产品放置在定位载具上，转盘带动多个定位载具进行同步上下料以及检测操作，实现设备的完全自动化，减少人力，降低工人的劳动强度，节省生产成本，同时还可对不合格产品进行复测，降低生产成本，满足了生产中大量的检测需求；通过产品载具定位线圈产品，可提高检测机构的检测精度，为产品质量的提高提供有力保障。

Description

高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，涉及一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置。

背景技术

现有的手机等小型电子消费品，都逐渐开始使用无线充电，来彻底杜绝传统有线连接方式。在无线充电线圈(带磁铁纳米晶线圈)的生产过程中，就需要常对线圈盘的厚度尺寸进行测试，目前一般采用高度仪或过规仪逐个检查线圈厚度，测试方法不仅效率低，而且费时费力，精确度常常难以保证，造成过多废品出现，增加生产成本，不适合工厂大量生产的模式。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种降低工人的劳动强度，节省生产成本，还可对不合格产品进行复测，检测精度高的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，包括转盘，所述转盘上设置有上料工位、下料工位以及多个检测工位，所述上料工位、下料工位以及多个检测工位上均设置有定位载具，多个定位载具围设转盘上；

所述定位载具包括检测机构、产品载具，所述产品载具设置在载具架上，所述载具架设置在检测架上，所述检测机构设置在所述检测架上，所述检测机构设置在所述产品载具下方。

进一步地，所述上料工位包括上料机械手以及上料架，所述上料架设置在所述转盘一侧，所述上料机械手设置在所述上料架与转盘之间，用以对上料架上的线圈产品上料至定位载具上。

进一步地，所述下料工位包括下料机械手、下料架以及NG架，所述NG架、下料架设置在所述转盘一侧，所述下料机械手设置在所述下料架与转盘之间，用以对检测完毕的线圈产品搬运至下料架或者NG架上。

进一步地，所述载具架上设置有一镂空部，所述产品载具设置在所述镂空部上，所述产品载具上设置有用于定位线圈产品的定位销。

进一步地，所述产品载具边缘设置有多个定位柱，所述载具架上边缘设置有多个定位杆。

进一步地，所述产品载具上设置有定位部件，所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔。

进一步地，所述检测机构包括多个检测传感器，所述检测传感器设置在所述检测架上，所述载具板上开设有检测通孔，所述检测传感器穿设在所述检测通孔上。

进一步地，所述定位载具还包括升降机构，所述检测机构、产品载具均设置在所述升降机构上，所述升降机构包括升降架以及下顶升气缸，所述升降架上上设置有升降滑轨，所述升降滑轨上滑设有顶升架，所述检测架与所述顶升架连接，所述下顶升气缸与所述升降架连接，所述下顶升气缸活塞杆杆端与所述顶升架驱动连接，所述下顶升气缸带动所述顶升架沿着升降滑轨做往复直线运动。

进一步地，所述检测传感器为LVDT线性位移传感器，所述LVDT线性位移传感器设置有陶瓷检测头，所述陶瓷检测头穿设在所述检测通孔上。

进一步地，所述产品载具上设置有感应板，所述检测工位上设置有与所述感应板相匹配的接近传感器，所述感应板与所述接近传感器相对设置。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过将线圈产品放置在定位载具上，转盘带动多个定位载具进行同步上下料以及检测操作，实现设备的完全自动化，减少人力，降低工人的劳动强度，节省生产成本，同时还可对不合格产品进行复测，降低生产成本，满足了生产中大量的检测需求；通过产品载具定位线圈产品，可提高检测机构的检测精度，为产品质量的提高提供有力保障。

附图说明

图1是本实用新型的一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置示意图。

图2是本实用新型的定位载具示意图。

图3是本实用新型的产品载具示意图。

图4是本实用新型的产品载具剖视图。

图中标号说明：1、转盘；11；上料工位；12、下料工位；13、检测工位；2、机械手；21、上料架；22、下料架；23、NG架；3、定位载具；33、产品载具；331、感应板；332、接近传感器；333、吸附孔；334、真空吸板；335、检测通孔；336、定位销；337、定位柱；338、定位杆；34、升降架；341、顶升架；342、下顶升气缸；343、升降滑轨；344、检测架；345、检测传感器；346、陶瓷检测头；

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。

参照图1-4所示，一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，包括转盘1，所述转盘1上设置有上料工位11、下料工位12以及多个检测工位13，所述上料工位11、下料工位12以及多个检测工位13上均设置有定位载具3，多个定位载具3围设转盘1上；

所述定位载具3包括检测机构、产品载具33，所述产品载具33设置在载具架上，所述载具架设置在检测架344上，所述检测机构设置在所述检测架344上，所述检测机构设置在所述产品载具33下方。

本实用新型通过将线圈产品放置在定位载具3上，转盘1带动多个定位载具3进行同步上下料以及检测操作，实现设备的完全自动化，减少人力，降低工人的劳动强度，节省生产成本，同时还可对不合格产品进行复测，降低生产成本，满足了生产中大量的检测需求；通过产品载具33定位线圈产品，可提高检测机构的检测精度，为产品质量的提高提供有力保障。

所述上料工位11包括上料机械手以及上料架21，所述上料架21设置在所述转盘1一侧，所述上料机械手设置在所述上料架21与转盘1之间，用以对上料架21上的线圈产品上料至定位载具3上。

所述下料工位12包括下料机械手、下料架22以及NG架23，所述NG架23、下料架22设置在所述转盘1一侧，所述下料机械手设置在所述下料架22与转盘1之间，用以对检测完毕的线圈产品搬运至下料架22或者NG架23上。

所述载具架上设置有一镂空部，所述产品载具33设置在所述镂空部上，所述产品载具33上设置有用于定位线圈产品的定位销336。

所述产品载具33边缘设置有多个定位柱337，所述载具架上边缘设置有多个定位杆338，通过定位柱337以及定位杆338可与检测工位13上的检测设备上的定位孔位连接，保证线圈产品在检测工位13检测时的位置精度。

所述产品载具33上设置有定位部件，所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔333。

所述检测机构包括多个检测传感器345，所述检测传感器345设置在所述检测架344上，所述载具板上开设有检测通孔335，所述检测传感器345穿设在所述检测通孔335上。

所述检测传感器345为LVDT线性位移传感器，所述LVDT线性位移传感器设置有陶瓷检测头346，所述陶瓷检测头346穿设在所述检测通孔335上。

采用LVDT线性位移传感器，其检测精度可达0.1μm，同时与产品接触的陶瓷检测头346可用于带磁铁产品检测，不会损伤产品和被磁化，保证检测精度。

所述定位载具3还包括升降机构，所述检测机构、产品载具33均设置在所述升降机构上，所述升降机构包括升降架34以及下顶升气缸342，所述升降架34上上设置有升降滑轨343，所述升降滑轨343上滑设有顶升架341，所述检测架344与所述顶升架341连接，所述下顶升气缸342与所述升降架34连接，所述下顶升气缸342活塞杆杆端与所述顶升架341驱动连接，所述下顶升气缸342带动所述顶升架341沿着升降滑轨343做往复直线运动。

所述转盘1上开设有安装孔，所述升降架34穿设过安装孔与所述转盘1连接，所述升降机构可带动产品载具33上的线圈产品与检测工位13设备的检测位置抵接，使得产品载具33与检测设备完全接触，获得线圈产品各位置的厚度信息更加准确。

所述产品载具33上设置有感应板331，所述检测工位13上设置有与所述感应板331相匹配的接近传感器332，所述感应板331与所述接近传感器332相对设置。

通过感应板331与接近传感器332接触后，保证线圈产品在检测工位13检测时的位置精度，进一步提高检测精度。

通过两个机器人上下料，上料机械手负责从上料架21中吸取产品放置于上料位的定位载具3上，下料机械手将检测完成产品吸取后放置于NG架23和下料架22中。产品从上料工位11开始转动一圈，经过所有检测工位13直至下料工位12处算完成1个检测流程。

当下料区域产品被检测工站判定为NG不良时，自动启动复测程序，重新测量再重新在转盘1上流转复测，复测后再判断此产品是否为真的NG不良，若仍为NG不良，下料机械手放置于NG架23中；若为假NG不良，则放置于下料架22中；复测程序启动时，上料机械手停止往上料工位11的定位载具3上放置新产品。

通过复测程序可以完全取代人工复测，实现设备的完全自动化，减少人力，节省生产成本。

本实用新型还包括控制器，所述控制器内设置有市面上常用控制电路，所述控制器与所述上料工位11、下料工位12、定位载具3、检测工位13电连接，用以实现线圈产品厚度的检测。

以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

Claims

1.一种高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，包括转盘，所述转盘上设置有上料工位、下料工位以及多个检测工位，所述上料工位、下料工位以及多个检测工位上均设置有定位载具，多个定位载具围设转盘上；

2.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述上料工位包括上料机械手以及上料架，所述上料架设置在所述转盘一侧，所述上料机械手设置在所述上料架与转盘之间，用以对上料架上的线圈产品上料至定位载具上。

3.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述下料工位包括下料机械手、下料架以及NG架，所述NG架、下料架设置在所述转盘一侧，所述下料机械手设置在所述下料架与转盘之间，用以对检测完毕的线圈产品搬运至下料架或者NG架上。

4.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述载具架上设置有一镂空部，所述产品载具设置在所述镂空部上，所述产品载具上设置有用于定位线圈产品的定位销。

5.如权利要求4所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述产品载具边缘设置有多个定位柱，所述载具架上边缘设置有多个定位杆。

6.如权利要求4所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述产品载具上设置有定位部件，所述定位部件包括真空封板，所述真空封板设置在所述载具板底部，所述载具板上设置有多个与所述真空封板相连通的吸附孔。

7.如权利要求4所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述检测机构包括多个检测传感器，所述检测传感器设置在所述检测架上，所述载具板上开设有检测通孔，所述检测传感器穿设在所述检测通孔上。

8.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述定位载具还包括升降机构，所述检测机构、产品载具均设置在所述升降机构上，所述升降机构包括升降架以及下顶升气缸，所述升降架上设置有升降滑轨，所述升降滑轨上滑设有顶升架，所述检测架与所述顶升架连接，所述下顶升气缸与所述升降架连接，所述下顶升气缸活塞杆杆端与所述顶升架驱动连接，所述下顶升气缸带动所述顶升架沿着升降滑轨做往复直线运动。

9.如权利要求7所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述检测传感器为LVDT线性位移传感器，所述LVDT线性位移传感器设置有陶瓷检测头，所述陶瓷检测头穿设在所述检测通孔上。

10.如权利要求1所述的高光面复杂结构纳米晶的线内自动复测装置，其特征在于，所述产品载具上设置有感应板，所述检测工位上设置有与所述感应板相匹配的接近传感器，所述感应板与所述接近传感器相对设置。