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CN111164407B - 二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序 - Google Patents

二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序 Download PDF

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CN111164407B CN201880063611.7A CN201880063611A CN111164407B CN 111164407 B CN111164407 B CN 111164407B CN 201880063611 A CN201880063611 A CN 201880063611A CN 111164407 B CN111164407 B CN 111164407B
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Abstract

本发明公开一种二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有读取摄像区域的一部分的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个测量区域的部分区域对应的一部分设置于摄像区域；控制部，进行通过将所设置的一部分的数量作为摄像次数，使二维成像元件使用部分读取功能，多次摄像测量对象物，获取与多个一部分分别对应的多个部分区域的测光量；以及计算部，针对多个部分区域中的每一个，执行基于所获取的部分区域的测光量，计算部分区域所包含的至少两个测量区域的闪烁量这一处理。

Description

二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以 及二维闪烁测量程序
技术领域
本发明例如涉及一种测量显示屏的闪烁量的技术。
背景技术
为了评价显示屏的闪烁不均匀性，而测量设置在显示屏上的多个测量区域(测量点)各自的闪烁量。点型闪烁测量装置通过一次测量来测量一个测量区域的闪烁量。为了使用点型闪烁测量装置来测量设置在显示屏上的多个测量区域各自的闪烁量，考虑如下方法(1)或(2)：(1)测量者准备多台闪烁测量装置，通过一台闪烁测量装置来测量一个测量区域的闪烁量。(2)测量者准备一台闪烁测量装置，在变更测量区域的同时通过一台闪烁测量装置来反复测量闪烁量。
根据采用二维成像元件的闪烁测量装置(例如专利文献1)，则无需使用这些方法。
二维成像元件的帧率可被视为采样频率。因此，在二维成像元件的情况下，帧率和采样频率，仅单位不同，值相同。当帧率例如为128fps时，采样频率为128Hz。虽然为了高精度地测量闪烁量，需要增加采样频率，但是，通常的二维成像元件(即不是用于高速照相机的二维成像元件)的帧率(采样频率)较低(例如，60fps、128fps)。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2003-254860号公报
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够使用二维成像元件高精度地测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序。
为实现上述目的，反映本发明的一个方面的二维闪烁测量装置为一种测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置，具备二维成像元件、设置部、控制部以及计算部。二维成像元件具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能。设置部将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域。控制部通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量。计算部针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量这一处理。
通过以下提供的详细描述以及附图能够充分理解发明的一个或者多个实施方式提供的优点以及特征。这些详细描述以及附图仅作为例子而提供，其意不在限定本发明。
附图说明
图1是示出具有作为测量对象物的屏幕的彩色显示器(DUT)与二维闪烁测量装置的关系的图。
图2是设置有多个测量区域的DUT屏幕的平面示意图。
图3是示出表示一个测量区域的亮度的亮度信号的一例的图表。
图4是描述根据JEITA法的闪烁量测量步骤的说明图。
图5是示出实施方式所涉及的二维闪烁测量装置的结构的框图。
图6是描述使用实施方式所涉及的二维闪烁测量装置来测量设定在DUT屏幕上的多个测量区域各自的闪烁量的动作的流程图。
图7是描述DUT屏幕、二维成像元件的视场以及二维成像元件的摄像区域的关系的一例的说明图。
图8是描述对DUT屏幕进行设定而得的多个测量区域、DUT屏幕与二维成像元件的摄像区域的关系的一例的说明图。
图9是描述DUT屏幕、部分区域、二维成像元件的摄像区域与摄像区域的一部分的关系的一例的说明图。
图10是示出使用部分读取功能的三次摄像的时序图的图。
图11是示出当不使用部分读取功能时的摄像的时序图的图。
图12是示出实施方式所涉及的二维闪烁测量系统的结构的框图。
具体实施方式
以下，参照附图描述本发明的一个或者多个实施方式。但是，发明的范围并不限定于所公开的实施方式。
在各图中，标注了相同标号的结构表示相同结构，关于其结构，针对已经描述了的内容，省略其描述。在本说明书中，在总称的情况下，以省略后缀的参照标号(例如部分区域R4)表示，在指个别结构的情况下，以带后缀的参照标号(例如部分区域R4-1、R4-2、R4-3)表示。
图1是示出具有作为测量对象物的屏幕1的彩色显示器(DUT＝Device UnderTest，受测器件)与二维闪烁测量装置3的关系的图。测量对象物具有显示图像的功能，在实施方式中，以DUT的屏幕1(以下称为“DUT屏幕1”)为例进行描述。测量对象物不限于显示屏，除此之外，例如有投影仪的投影屏。
二维闪烁测量装置3基于测量者的指示，在DUT屏幕1上设定多个测量区域，针对多个测量区域同时测量闪烁量。图2是设定有多个测量区域R1的DUT屏幕1的平面示意图。在DUT屏幕1上二维设定有48个测量区域R1。设定在DUT屏幕1上的测量区域R1的数量可为多个，并不限于48个。测量区域R1(测量点)的形状为圆形，但不限于此，也可为矩形。
在下文中虽然描述了采用亮度来测量闪烁量的例子，但是也可以是测光量(明度)。二维闪烁测量装置3基于从测量对象物获取的图像信息信号来求出测光量，基于该测光量来运算闪烁量。测光量是统称二维闪烁测量装置3所具备的二维成像元件摄像DUT屏幕1(测量对象物)而得的图像信息信号(RAW图像数据)以及亮度的物理量。
作为闪烁量的测量方法，有对比度法以及JEITA(Japan Electronics andInformation Technology Industries Association，日本电子信息技术产业协会)法。二维闪烁测量装置3能够通过对比度法、JEITA法中的任意一种来测量闪烁量。
描述对比度法。图3是示出表示一个测量区域R1的亮度的亮度信号的一例的图表。横轴表示时间，纵轴表示亮度。亮度信号可以看作是在直流分量上叠加有交流分量。亮度信号的波形通常为正弦曲线形状。若设亮度信号的最大值为Vmax，最小值为Vmin，则Vmax与Vmin交替重复。
根据对比度法的闪烁量通过以下公式定义。
闪烁量＝交流分量AC/直流分量DC
描述JEITA法。图4是描述根据JEITA法的闪烁量测量步骤的说明图。(1)将亮度信号由模拟转换为数字。(2)通过快速傅立叶变换对经数字转换而得的亮度信号进行频率分解，生成功率谱。在该例中，亮度信号中所包含的频率分量为0Hz分量(直流分量)、20Hz分量以及50Hz分量。(3)对功率谱进行视觉灵敏度校正。(4)利用经视觉灵敏度校正而得的功率谱的直流分量和最大交流分量来计算闪烁量。
图5是示出实施方式所涉及的二维闪烁测量装置3的结构的框图。二维闪烁测量装置3具备光学镜头31、二维成像元件32、运算处理部33以及通信部34。光学镜头31会聚来自整个DUT屏幕1的光L。光学镜头31会聚的光L由二维成像元件32接收。
二维成像元件32例如CMOS传感器，是具有二维摄像区域的图像传感器。二维成像元件32具有与视觉灵敏度特性相同的分光灵敏度特性。摄像区域(摄像范围、摄像面)具有阵列状地排列有多个受光元件(多个像素)的结构。二维成像元件32以所设置的帧率来摄像显示图像的DUT屏幕1，输出表示摄像而得的图像的亮度信息的信号(以下称作“亮度信号SG”)。
详细而言，二维成像元件32通过以所设置的帧率摄像显示图像的DUT屏幕1来生成图像信息信号(亮度信号SG)，输出亮度信号SG。亮度信号SG为数字电信号。
二维成像元件32具有部分读取功能。部分读取将二维成像元件32的摄像区域的一部分作为读取对象。即，部分读取为当二维成像元件32摄像显示图像的DUT屏幕1时，读取在二维成像元件32的摄像区域的一部分中存储的数据(如后述图9所示，摄像区域R2的一部分R3与部分区域R4对应，存储部分区域R4的图像信息)。根据部分读取，即使是普通的二维成像元件32也能够以高帧率(例如512fps)摄像。
在二维成像元件32的情况下，关于帧率的值，若将单位从fps改为Hz，则为采样频率。例如，当帧率为512fps时，采样频率为512Hz。在512fps下，二维成像元件32所输出的亮度信号SG为以512Hz采样而得的数字信号。如上所述，根据部分读取，即使是普通的二维成像元件32也能够以高帧率摄像。由此，即使是普通的二维成像元件32也可以支持高采样频率。
运算处理部33为执行测量闪烁量所需的各种设置、运算的硬件处理器。详细而言，运算处理部33为由CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)、RAM(Random AccessMemory，随机存取存储器)、ROM(Read Only Memory，只读存储器)以及HDD(Hard DiskDrive，硬盘驱动器)等实现的微型计算机。运算处理部33作为功能块具备设置部331、控制部332以及计算部333。这些容后述。
另外，运算处理部33的部分或全部功能可以代替CPU处理，通过FPGA(fieldprogrammable gate array，现场可编程门阵列)处理，或者二者相结合来实现。此外，同样地，运算处理部33的部分或全部功能可以代替软件处理，通过专用硬件电路处理，或者二者相结合来实现。
运算处理部33由图5所示的多个要素构成。因此，在作为实现运算处理部33的硬件的HDD中保存有用于实现这些要素的程序。即，在该HDD中保存有用于实现设置部331、控制部332以及计算部333中的每一个的程序。这些程序被描述为设置程序、控制程序、计算程序。
这些程序使用要素的定义来描述。以设置部331以及设置程序为例予以描述。设置部331将多个与包括至少两个测量区域R1的部分区域R4对应的摄像区域R2的一部分R3设置于摄像区域R2。设置程序是将多个与包括至少两个测量区域R1的部分区域R4对应的摄像区域R2的一部分R3设置于摄像区域R2的程序。
由作为实现运算处理部33的硬件的CPU执行的这些程序(设置程序、控制程序、计算程序)的流程图为后述的图6。
通信部34为二维闪烁测量装置3与外部PC(Personal Computer，个人计算机)5通信的通信接口。测量者通过操作PC5来针对二维闪烁测量装置3下达执行测量闪烁量所需的各种设置(例如，测量区域R1的中心位置的指定、测量区域R1的数量)、闪烁量的测量的指令等。
描述使用实施方式所涉及的二维闪烁测量装置3来测量设定在DUT屏幕1上的多个测量区域各自的闪烁量这一动作。图6是对此进行描述的流程图。图7是描述DUT屏幕1、二维成像元件32的视场F以及二维成像元件32的摄像区域R2的关系的一例的说明图。
参照图5及图7，测量者将二维成像元件32的视场F对位于显示图像的DUT屏幕1的位置。测量者调整二维成像元件32的焦距以便视场F包括DUT屏幕1并且略大于DUT屏幕1。由此，能够提高在二维成像元件32的摄像区域R2中成像的DUT屏幕1的像的分辨率。
测量者操作PC5将摄像预览图像的指令输入二维闪烁测量装置3。由此，控制部332使二维成像元件32摄像显示图像的DUT屏幕1。PC5通过该摄像使PC5的屏幕(未示出)显示拍摄有DUT屏幕1的图像作为预览图像(图6的步骤S1)。
测量者观看预览图像，并且操作PC5在DUT屏幕1上设置多个测量区域R1(图6的步骤S2)。图8是描述进行了该设置而得的多个测量区域R1、DUT屏幕1以及二维成像元件32的摄像区域R2的关系的一例的说明图。48个测量区域R1矩阵状地设置在DUT屏幕1内。在DUT屏幕1的纵向上设有6个测量区域R1，在DUT屏幕1的横向上设有8个测量区域R1。测量区域R1的形状为圆形。相邻的测量区域R1隔开间隔地设置。测量区域R1的数量、设置位置以及形状为示例，并不限于此。
参照图5及图8，在设置48个测量区域R1(多个测量区域R1)之后，运算处理部33使用预览图像确定DUT屏幕1(DUT屏幕1的像)(图6的步骤S3)。运算处理部33例如通过使用边缘检测处理从预览图像中检测DUT屏幕1来确定DUT屏幕1。另外，测量者针对在PC5的屏幕上显示的预览图像指定DUT屏幕1，运算处理部33可将其确定为DUT屏幕1。
运算处理部33确定关注频率(图6的步骤S4)。关注频率是计算部333计算闪烁量所需的信号的频率。能够根据闪烁量的测量方法改变关注频率。JEITA法具有对表示部分区域R4的亮度的亮度信号SG进行频率分解的步骤(快速傅立叶变换步骤)。优选地，设表示部分区域R4的亮度的亮度信号SG所包含的频率分量中的、强度最大的交流频率分量的频率为关注频率。在对比度法中，由于没有对表示测量区域R1的亮度的亮度信号SG进行频率分解的步骤，因此能够设表示测量区域R1的亮度的亮度信号SG的频率(频带)为关注频率(优选地，可将强度最大的频率分量的频率设为关注频率)。
作为关注频率的确定方法，有如下(1)～(3)。均为已知的方法。
(1)运算处理部33基于对预览图像的动态图像进行频率解析而得的数据来确定关注频率。
(2)测量者使用点型闪烁测量装置测量显示图像的DUT屏幕1的亮度信号SG，基于此亮度信号SG确定关注频率。
(3)闪烁频率有时事先知晓。例如，已知在液晶显示器中产生的闪烁频率是Vsync的2倍。在这种情况下，测量者可以使用PC5将闪烁频率输入至二维闪烁测量装置3。运算处理部33将所输入的此频率确定为关注频率。
在(1)和(2)的情况下，如果通过提高用于测量关注频率的采样频率，则能够高精度地测量关注频率。优选地，在JEITA法的情况下，提高关注频率的测量精度。JEITA法对表示测量区域R1的亮度的亮度信号SG进行快速傅立叶变换，生成功率谱，基于此来计算测量区域R1的闪烁量。由于在功率谱中需要包括与关注频率相对应的频谱，因此需要提高关注频率的测量精度。与之相对，在对比度法的情况下，由于不生成功率谱，因此能够测量包括闪烁频率的频带即可。
设置部331基于在步骤S4中确定的关注频率来设置部分读取的帧率(采样频率)(图6的步骤S5)。这是能够再现具有关注频率的信号(例如，表示48个测量区域R1各自的亮度的亮度信号SG或这些亮度信号SG所包含的频率分量中强度最大的交流频率分量)的帧率(以下称为“再现帧率”)。另外，可以将充分大于亮度信号SG的频率的值(例如，该频率的20倍)或者充分大于强度最大的交流频率分量的频率的值(例如，该频率的20倍)作为部分读取的帧率(采样频率)预先设置于设置部331。据此，无需进行确定关注频率的处理。
设置部331预先存储表示关注频率与部分读取的帧率的关系的表达式，使用此表达式来确定部分读取的帧率。部分读取的帧率的确定方法并不限于此。设置部331可预先存储表示关注频率与部分读取的帧率的关系的查询表，使用该表来确定部分读取的帧率。
在对比度法的情况下，如果将亮度信号SG的频率(关注频率)的2倍帧率设为部分读取的帧率，则能够再现亮度信号SG。但是，为了提高亮度信号SG的再现精度，优选地将不低于亮度信号SG的频率的4倍的帧率，更优选地将不低于8倍的帧率设为部分读取的帧率。
在JEITA法的情况下，针对亮度信号SG所包含的频率分量中强度最大的交流频率分量，设不低于该频率(关注频率)的2倍的帧率为部分读取的帧率。并且，计算部333在对亮度信号SG进行快速傅立叶变换并生成功率谱时，将能整除亮度信号SG所包含的频率分量的各个频率中的关注频率的整数设为功率谱的频率间距。例如，参照图4的(3)，当关注频率为20Hz时，能够设1Hz、2Hz、4Hz、5Hz、10Hz中的任意一个为频率间距。如此地，能够将关注频率为20Hz的频谱包含于功率谱中。另外，关注频率可以是整数(例如20Hz)，也可以包括小数(例如22.4Hz)。
设置部331确定以在步骤S5中设置的部分读取的帧率确定的摄像区域R2的一部分R3的尺寸(图6的步骤S6)。详细而言，如后述的图9所示，摄像区域R2的一部分R3是摄像区域R2中的经部分读取而成为读取的对象的区域。
若帧率提高，则一部分R3的尺寸减小，因此，部分区域R4的尺寸减小。若帧率降低，则一部分R3的尺寸增大，因此，部分区域R4的尺寸增大。设置部331预先存储表示帧率与一部分R3的尺寸的关系的表达式，使用该表达式来确定能够执行在步骤S5中设置的部分读取的帧率的一部分R3的尺寸。一部分R3的尺寸的确定方法并不限于此。设置部331可预先存储表示帧率与一部分R3的尺寸的关系的查询表，使用该表来确定一部分R3的尺寸。另外，一部分R3的尺寸可以是一部分R3的像素数，也可以是一部分R3的面积。摄像区域R2的尺寸也相同。
设置部331通过将一部分R3的横向(行方向)上的尺寸设为摄像区域R2的横向的尺寸，更改纵向(列方向)上的尺寸来将一部分R3的尺寸设为在步骤S6确定的尺寸。
设置部331将摄像区域R2的尺寸除以在步骤S6中确定的一部分R3的尺寸而得的值设置为一部分R3的数量(图6中的步骤S7)。在此，将一部分R3的数量设置为3个。由于一部分R3和部分区域R4一一对应，因此一部分R3的数量与部分区域R4的数量相同。
设置部331针对3个一部分R3设置摄像区域R2上的地址，以便摄像区域R2在纵向上被分为3个。由此，沿着摄像区域R2的纵向排列的3个一部分R3设置于摄像区域R2(图6的步骤S8)。另外，这些地址可以由用户操作PC5来设置。
图9是描述DUT屏幕1、部分区域R4、二维成像元件32的摄像区域R2以及摄像区域R2的一部分R3的关系的一例的说明图。部分区域R4为通过设置部331设置摄像区域R2的一部分R3而设置在DUT屏幕1上的区域。由于在摄像区域R2中设置有多个一部分R3，因此在DUT屏幕1中设置有多个部分区域R4。一部分R3与部分区域R4一一对应。在图9所示的示例中，三个部分区域R4无间隙地设置在DUT屏幕1上。一部分R3-1与部分区域R4-1对应，一部分R3-2与部分区域R4-2对应，一部分R3-3与部分区域R4-3对应。部分区域R4的像成像于摄像区域R2的一部分R3，从该一部分R3读取的数据(图像信息信号)表示部分区域R4的亮度。
部分区域R4-1包括48个测量区域R1中的第1行测量区域R1以及第2行测量区域R1。部分区域R4-2包括48个测量区域R1中的第3行测量区域R1以及第4行测量区域R1。部分区域R4-3包括48个测量区域R1中的第5行测量区域R1以及第6行测量区域R1。因此，设置部331将多个与包括至少两个测量区域R1的部分区域R4对应的一部分R3设置于摄像区域R2。
如果在设置在DUT屏幕1上的48个测量区域R1中，有未包含于部分区域R4的测量区域R1，则计算部333无法计算其测量区域R1的闪烁量。在实施方式中，将摄像区域R2的尺寸除以摄像区域R2的一部分R3的尺寸而得的值设为一部分R3的数量(图6的步骤S7)。因此，形成DUT屏幕1虚拟地被等分，每个划分而得的部分成为部分区域R4的形态。在此形态中，由于设置在DUT屏幕1上的48个测量区域R1各自包含于某一个部分区域R4中，因此能够针对所有48个测量区域R1计算闪烁量。
为了计算部分区域R4的闪烁量，部分读取的帧率需为在步骤S5中描述的再现帧率。在实施方式中，将摄像区域R2的尺寸除以通过再现帧率确定的摄像区域R2的一部分R3的尺寸而得的值设为一部分R3的数量(图6的步骤S7)。因此，能够计算部分区域R4的闪烁量，同时如上所述，能够针对设置在DUT屏幕1上的所有48个测量区域R1计算闪烁量。
另外，再现帧率不低于能够再现具有关注频率的信号的帧率的下限值即可。但是，由于帧率与摄像区域R2的一部分R3的尺寸具有负相关关系，因此如果设再现帧率大于下限值，则摄像区域R2的一部分R3的尺寸变小。结果，由于一部分R3的数量(部分区域R4的数量)增加，因此闪烁的测量时间增加。
参照图6以及图9，设置部331将测量区域R1设置为与在步骤S5中设置的部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸(图6的步骤S9)。所谓正相关关系即若帧率增加，则测量区域R1的尺寸增大，若帧率减小，则测量区域R1的尺寸减小。
摄像区域R2中的成像有测量区域R1的像的位置并非由一个像素，而是由多个像素构成。计算部333将表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号SG相加(合并)，使用相加而得的亮度信号SG来计算测量区域R1的闪烁量。由于若表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号SG的强度小，则SN比降低，因此无法提高闪烁量的测量精度。
若部分读取的帧率高，则一部分R3的曝光时间变短。因此，有时当测量区域R1的尺寸小时，上述相加而得的亮度信号SG的强度变小，可能无法获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号SG。另一方面，若部分读取的帧率低，则一部分R3的曝光时间变长。因此，即使测量区域R1的尺寸小，上述相加而得的亮度信号SG的强度变大，也能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号SG。
根据实施方式，若部分读取的帧率高，则增大测量区域R1的尺寸。由此，即使部分读取的帧率高，也能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号SG。
若测量区域R1的数量多，则能够提高二维闪烁测量装置3的空间分辨率。由此，能够更精确地评价DUT屏幕1的闪烁不均匀性。根据实施方式，若部分读取的帧率低，则减小测量区域R1的尺寸。由此，若部分读取的帧率低时，由于能够增加测量区域R1的数量，因此能够提高二维闪烁测量装置3的空间分辨率。
在JEITA法的情况下，在步骤S9之后，设置部331设置摄像时间。如后述，DUT屏幕1被摄像3次。该摄像时间为1次摄像时间。这是获得对表示部分区域R4的亮度的亮度信号SG进行快速傅里叶变换所需的帧数的时间。另外，在对比度法的情况下，预定的摄像时间可以在设置部331中设置，也可以由测量者操作PC5，将摄像时间输入二维闪烁测量装置3，将此设置于设置部331。
控制部332在步骤S5中设置的帧率下，使二维成像元件32使用部分读取功能对DUT屏幕1进行多次摄像(图6的步骤S10)。对于这些摄像使用全局快门。摄像次数是在步骤S7中设置的一部分R3的数量，在此，摄像次数为3次。图10是示出使用部分读取功能的3次摄像的时序图的图。
参照图5、图9以及图10，控制部332使二维成像元件32对DUT屏幕1进行第1次摄像。在第1次摄像中，二维成像元件32从一部分R3-1中读取数据(图像信息信号)。该数据包括表示部分区域R4-1的亮度的亮度信号SG。该亮度信号SG被发送至控制部332。接着，控制部332使二维成像元件32对DUT屏幕1进行第2次摄像。在第2次摄像中，二维成像元件32从一部分R3-2中读取数据(图像信息信号)。该数据包括表示部分区域R4-2的亮度的亮度信号SG。该亮度信号SG被发送至控制部332。接着，控制部332使二维成像元件32对DUT屏幕1进行第3次摄像。在第3次摄像中，二维成像元件32从一部分R3-3中读取数据(图像信息信号)。该数据包括表示部分区域R4-3的亮度的亮度信号SG。该亮度信号SG被发送至控制部332。第1次、第2次、第3次摄像的摄像时间为上述摄像时间，为相同的值。
如上所述，控制部332通过将所设置的一部分R3的数量作为摄像次数，使二维成像元件32使用部分读取功能进行多次摄像，来获取与多个一部分R3分别对应的多个部分区域R4的测光量。
作为比较，将描述不使用部分读取功能的情况(即，从摄像区域R2读取数据的情况)。图11是示出当不使用部分读取功能时的摄像的时序图的图。摄像次数为1次。控制部332使二维成像元件32摄像DUT屏幕1。在该摄像中，二维成像元件32从摄像区域R2读取数据(图像信息信号)，输出表示摄像区域R2的亮度的亮度信号SG。
参照图5及图9，计算部333针对3个部分区域R4(多个部分区域R4)分别包含的测量区域R1计算闪烁量(图6的步骤S11)。详细而言，计算部333基于表示上述的部分区域R4-1的亮度的亮度信号SG，针对部分区域R4-1中所包含的所有测量区域R1分别计算闪烁量。计算部333基于表示上述的部分区域R4-2的亮度的亮度信号SG，针对部分区域R4-2中所包含的所有测量区域R1分别计算闪烁量。计算部333基于表示上述的部分区域R4-3的亮度的亮度信号SG，针对部分区域R4-3中所包含的所有测量区域R1分别计算闪烁量。
以部分区域R4-1为例更详细地描述计算部333的处理。部分区域R4-1的亮度信号SG包括部分区域R4-1中所包含的所有测量区域R1(16个测量区域R1)各自的亮度信号SG。计算部333使用表示第1个测量区域R1的亮度的亮度信号SG计算第1个测量区域R1的闪烁量，使用表示第2个测量区域R1的亮度的亮度信号SG计算第2个测量区域R1的闪烁量。计算部333同样针对第3个至第16个测量区域R1计算闪烁量。
如上所述，计算部333基于由控制部332获取的部分区域R4的测光量，针对多个部分区域R4中的每一个，执行计算部分区域R4中所包含的至少两个测量区域R1的闪烁量的处理。
描述实施方式的主要效果。控制部332进行将在步骤S8中设置的一部分R3的数量作为摄像次数，使二维成像元件32多次摄像DUT屏幕1的控制。一部分R3的数量，换言之，若部分区域R4的数量增多，则摄像次数增加，结果，闪烁测量时间增加。考虑针对与设置在DUT屏幕1上的48个测量区域R1(多个测量区域R1)分别对应的48个一部分R3进行部分读取这一技术构思。在该技术构思中，测量区域R1的数量等于摄像次数。如果设置在DUT屏幕1上的测量区域R1的数量多，则闪烁测量时间增加。与之相对，根据实施方式，由于部分区域R4包括16个测量区域R1(至少两个测量区域R1)，因此部分区域R4的数量(3个)少于测量区域R1的数量(48个)。因此，与上述技术构思相比，在实施方式中能够减少摄像次数。
根据部分读取功能，即便是普通的二维成像元件32，也能够以高帧率摄像。由此，由于使用高采样频率采样表示与一部分R3对应的部分区域R4的亮度的亮度信号SG(表示部分区域R4中所包含的所有测量区域R1各自的亮度的亮度信号SG)，因此能够高精度地测量测量区域R1的闪烁量。因此，根据实施方式，能够使用二维成像元件32高精度地测量设置在DUT屏幕1上的多个测量区域R1各自的闪烁量。
如果使用高速照相机，则能够以高帧率摄像DUT屏幕1。但是，现有的高速照相机有如下问题：(1)高速照相机价格昂贵；(2)由于高速照相机通常以强光量下的拍摄为前提，因此对噪声影响小。但是，如DUT屏幕1的亮度测量那样，在限制光量时，噪声的影响增大。因此，由于亮度信号SG的再现性较低，因此尽管是高帧率(高采样频率)，但是闪烁量的测量精度也不高。根据实施方式，即使不使用高速照相机，也能够通过部分读取功能以高帧率进行摄像。但是，能够将高速照相机的部分读取功能应用于实施方式。
如上所述，计算部333将表示与多个像素分别对应的区域的亮度的亮度信号SG相加(合并)，使用相加而得的亮度信号SG来计算测量区域R1的闪烁量。若表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号SG的相位偏移，则相加而得的亮度信号SG的波形变钝，无法提高闪烁量的测量精度。在实施方式中，使用全局快门摄像部分区域R4(图6的步骤S10)。由于全局快门不同于滚动快门，构成摄像区域R2的所有像素能够同时曝光，因此能够使这些亮度信号SG的相位对齐。
描述实施方式的变形例。描述第1变形例。参照图5及图9，设置部331设置3个一部分R3(多个一部分R3)，以使3个部分区域R4(多个部分区域R4)无间隙地配置于DUT屏幕1上。与之相对，在第1变形例中，在DUT屏幕1上设间隙来设置3个部分区域R4(多个部分区域R4)。详细而言，测量者操作PC5，针对3个部分区域R4中的每一个，进行减小纵向(列方向)的尺寸的设置(此时，设置3个部分区域R4中的每一个的尺寸，以使测量区域R1不超出部分区域R4)。设置部331针对3个一部分R3分别校正地址，以便对应于尺寸已减小的3个部分区域R4。根据第1变形例，由于能够减小一部分R3的尺寸，因此能够减少从一部分R3中读取的数据量，减轻运算负荷。
描述第2变形例。在实施方式中，设置部331将测量区域R1设置为与设置部331所设置的部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸(图6的步骤S9)。与之相对，在第2变形例中，设置部331通过在设置部331所设置的部分读取帧率下，二维成像元件32摄像DUT屏幕1来测量从二维成像元件32输出的亮度信号SG的强度，将测量区域R1设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。以下详细描述。
所谓负相关关系是指若测量而得的强度大，则测量区域R1的尺寸减小，若测量而得的强度小，则测量区域R1的尺寸增大。
从二维成像元件32输出的亮度信号SG例如是表示设置在DUT屏幕1上的一个测量区域R1(设该测量区域R1的尺寸为初始值)的亮度的亮度信号SG。
根据第2变形例，由于若所测量的亮度信号SG的强度大，则减小测量区域R1的尺寸，因此能够增加测量区域R1的数量。由此，亮度信号SG能够确保计算闪烁量所需的强度，同时提高二维闪烁测量装置3的空间分辨率。
根据第2变形例，若所测量的亮度信号SG的强度小，则增大测量区域R1的尺寸。由此，能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号SG。
另外，在第2变形例中，设置部331可以使用步骤S1中的预览图像来测量亮度信号SG的强度，也可以使用步骤S10中的部分区域R4的图像来测量亮度信号SG的强度。在后一种情况下，步骤S9和步骤S10互换。
简单描述实施方式所涉及的二维闪烁测量系统。图12是示出该系统7的结构的框图。二维闪烁测量系统7具备照相机71以及PC72。照相机71是具备光学镜头31、二维成像元件32以及通信部711的数码照相机。照相机71具有图5所示的二维闪烁测量装置3所具备的光学镜头31以及二维成像元件32的功能。通信部711为照相机71与外部装置通信的通信接口。在此，通信部711将从二维成像元件32输出的亮度信号SG发送至PC72。
PC72具备运算处理部33以及通信部721。PC72具有如图5所示的运算处理部33以及PC5的功能。通信部721为PC72与外部装置通信的通信接口。在此，通信部721接收从照相机71的通信部711输出的亮度信号SG，将所接收的亮度信号SG发送至运算处理部33。
由于二维闪烁测量系统7具备与二维闪烁测量装置3相同的结构，因此具有与二维闪烁测量装置3相同的作用效果。
作为与实施方式相关的技术构思，有如下构思：使整个DUT屏幕1的像成像在摄像区域R2的一部分R3上，通过部分读取，从该一部分R3获取整个DUT屏幕1的亮度信号SG，基于该亮度信号SG，计算多个测量区域R1各自的闪烁量。
但是，此技术构思有如下问题：(1)由于整个DUT屏幕1的像并非成像在摄像区域R2而是成像在一部分R3上，因此整个DUT屏幕1的像变小。由此，由于光量减小，因此亮度信号SG的SN比减小。结果，产生闪烁量的测量精度降低的问题；(2)为了使整个DUT屏幕1的像成像在摄像区域R2的一部分R3上，需要增加二维成像元件32与DUT屏幕1的距离，或者需要使用广角镜头。前者会产生测量闪烁量所需的空间增大的问题。后者会产生整个DUT屏幕1的像失真的问题。
(实施方式的概要)
实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置为一种测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，对所述测量对象物进行多次摄像，来获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量的处理。
部分区域为通过设置部设置摄像区域的一部分而设置在测量对象物上的区域。由于在摄像区域中设置有多个一部分，因此测量对象物上设置有多个部分区域。部分区域的像成像于一部分。使用此方法，获得与该一部分对应的部分区域的测光量。
测光量(明度)是统称图像信息信号以及亮度的物理量。图像信息信号是通过具有任意分光灵敏度特性的二维成像元件摄像测量对象物，二维成像元件所生成的光强度信号(RAW图像数据)。亮度是具有视觉灵敏度曲线V(λ)的分光灵敏度特性的二维成像元件测量而得的测量对象物的光强度。
控制部进行将所设置的一部分的数量作为摄像次数，使二维成像元件多次摄像测量对象物这一控制。一部分的数量，换言之，若部分区域的数量增加，则摄像次数增加，其结果是，闪烁的测量时间增加。考虑针对与设置在测量对象物上的多个测量区域分别对应的多个一部分进行部分读取这一技术构思。在此技术构思中，将测量区域的数量作为摄像次数。如果设置在测量对象物上的测量区域的数量多，则闪烁的测量时间增加。与之相对，根据实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置，由于部分区域包括至少两个测量区域，因此部分区域的数量(一部分的数量)少于测量区域的数量。因此，实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置与上述技术构思相比，能够减少摄像次数。
根据部分读取功能，即便是普通的二维成像元件，也能够以高帧率进行摄像。由此，由于使用高采样频率采样表示与摄像区域的一部分对应的部分区域的测光量的信号(表示部分区域所包含的所有测量区域各自的测光量的信号)，因此能够高精度地测量测量区域的闪烁量。因此，根据实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置，能够使用二维成像元件高精度地测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量。
另外，在测光量为亮度时，表示测光量的信号为亮度信号。测光量为图像信息信号时，表示测光量的信号为图像信息信号。
在上述构成中，所述设置部将能够再现具有所述计算部计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率，将所述摄像区域的尺寸除以通过所设置的所述部分读取的帧率确定的所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。
能够再现具有计算部计算闪烁量所需的关注频率的信号的帧率(以下称作“再现帧率”)例如为能够再现表示部分区域的测光量的信号的帧率。或者，再现帧率为表示测光量的信号所包含的频率分量中的、例如能够再现强度最大的交流频率分量的帧率。
另外，当一部分的数量的值为小数时，则上舍入(例如，在3.2的情况下为4.0)。
如果在设置在测量对象物上的多个测量区域中，有未包含于部分区域的测量区域，则计算部无法计算其测量区域的闪烁量。在该构成中，将摄像区域的尺寸除以摄像区域的一部分的尺寸而得的值设为一部分的数量(一部分的数量＝摄像区域尺寸/一部分的尺寸)。一部分的数量为部分区域的数量。因此，形成测量对象物虚拟地被等分，每个划分而得的部分成为部分区域的形态。在该形态中，由于设置在测量对象物上的多个测量区域各自包含于某一个部分区域中，因此能够针对所有多个测量区域计算闪烁量。
为了计算部分区域的闪烁量，部分读取的帧率需为上述再现帧率。在该构成中，将摄像区域的尺寸除以通过再现帧率确定的摄像区域的一部分的尺寸而得的值作为一部分的数量(部分区域的数量)。因此，能够计算部分区域的闪烁量，同时如上所述，能够针对设置在测量对象物上的所有多个测量区域计算闪烁量。
在上述构成中，所述计算部在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换并生成功率谱时，将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数设为功率谱的频率间距。
根据该构成，能够将表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中所包含的频率分量的各个频率中的关注频率(例如强度最大的交流频率分量的频率)包含于功率谱。例如，在关注频率为20Hz的情况下，如果将间距设置为5Hz，则功率谱中能够包括20Hz的频谱。由此，此构成适用于JEITA法。
在上述构成中，所述设置部将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。在下文中，虽然使用亮度信号描述，但是也可以是图像信息信号。
该构成为测量区域的尺寸的确定方法的一示例。所谓正相关关系，即若帧率增加，则测量区域的尺寸增大，若帧率减小，则测量区域的尺寸减小。
二维成像元件的摄像区域中的成像有测量区域的像的位置并非由一个像素，而是由多个像素构成。计算部将表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号相加(合并)，使用相加而得的亮度信号来计算测量区域的闪烁量。由于若表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号的强度小，则SN比降低，因此无法提高闪烁量的测量精度。
若部分读取的帧率高，则摄像区域的一部分的曝光时间变短。因此，当测量区域的尺寸小时，上述相加而得的亮度信号的强度变小，无法获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号。另一方面，若部分读取的帧率低，则摄像区域的一部分的曝光时间变长。因此，即使测量区域的尺寸小，上述相加而得的亮度信号的强度也能够变大，能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号。
根据该构成，若部分读取的帧率高，则增大测量区域的尺寸。由此，即使部分读取的帧率高，也能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号。
若测量区域的数量多，则能够提高二维闪烁测量装置的空间分辨率。由此，能够更精确评价例如显示屏的闪烁不均匀性。根据该构成，若部分读取的帧率低，则减小测量区域的尺寸。由此，在部分读取的帧率低时，由于能够增加测量区域的数量，因此能够提高二维闪烁测量装置的空间分辨率。
在上述构成中，所述设置部在所设置的所述部分读取的帧率下，通过所述二维成像元件摄像所述测量对象物，测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度，将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。在下文中，虽然使用亮度信号为例描述表示测光量的信号，但也可以是图像信息信号。
该构成为测量区域的尺寸的确定方法的其他示例。所谓负相关关系，即若所测量的强度大，则测量区域的尺寸减小，若所测量的强度小，则测量区域的尺寸增大。
从二维成像元件输出的亮度信号例如是表示设置在测量对象物上的一个测量区域(将该测量区域的尺寸设为初始值)的亮度的亮度信号。
根据该构成，由于若所测量的亮度信号的强度大，则减小测量区域的尺寸，因此能够增加测量区域的数量。由此，亮度信号能够确保计算闪烁量所需的强度，同时提高二维闪烁测量装置的空间分辨率。
根据该构成，若所测量的亮度信号的强度小，则增大测量区域的尺寸。由此，能够获得具有计算闪烁量所需的强度的亮度信号。
在上述构成中，所述二维成像元件具有全局快门功能，所述控制部进行使所述二维成像元件使用所述全局快门功能，多次摄像所述测量对象物这一控制。在下文中，虽然使用亮度信号描述，但也可以是图像信息信号。
如上所述，计算部将表示与多个像素分别对应的区域的亮度的亮度信号相加(合并)，使用相加而得的亮度信号计算测量区域的闪烁量。若表示与这些像素分别对应的区域的亮度的亮度信号的相位偏移，则相加而得的亮度信号的波形变钝，无法提高闪烁量的测量精度。由于全局快门不同于滚动快门，构成摄像区域的所有像素能够同时曝光，因此能够使这些亮度信号的相位对齐。
实施方式的第二方面所涉及的二维闪烁测量系统为一种测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量系统，具备：照相机，包括具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件；设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，对所述测量对象物进行多次摄像，来获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量的处理。
设置部、控制部以及计算部可包含于一个装置中，也可包含于单独装置中。前者是例如包括设置部、控制部以及计算部的计算机设备。后者是例如包括设置部的计算机设备、包括控制部的计算机设备以及包括计算部的计算机设备。
实施方式的第二方面所涉及的二维闪烁测量系统从系统的观点限定实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置，具有与实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置相同的作用效果。
实施方式的第三方面所涉及的二维闪烁测量方法是一种使用具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量方法，具备：设置步骤，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；控制步骤，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，对所述测量对象物进行多次摄像，来获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及计算步骤，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量的处理。
实施方式的第三方面所涉及的二维闪烁测量方法从方法的观点限定实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置，具有与实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置相同的作用效果。
实施方式的第四方面所涉及的二维闪烁测量程序是一种使用具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量程序，使计算机执行如下步骤：设置步骤，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；控制步骤，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，对所述测量对象物进行多次摄像，来获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及计算步骤，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量的处理。
实施方式的第四方面所涉及的二维闪烁测量程序从程序的观点限定实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置，具有与实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置相同的作用效果。
另外，上述的实施方式的第一方面所涉及的二维闪烁测量装置在设亮度为测光量的情况下表达如下：二维闪烁测量装置为一种测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；控制部，进行通过将多个所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，从多个所述一部分中的每一个读取亮度信号这一控制；以及计算部，针对与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域，执行基于从所述一部分读取的亮度信号，计算与所述一部分对应的所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量这一处理。
虽然详细图示且说明了本发明的实施方式，但这只是简单的图例以及实例，并非限定。本发明的范围应由所附的权利要求书的内容来解释。
2017年10月5日提交的日本国专利申请特愿2017-195104以及2017年10月13日提交的日本国专利申请特愿2017-198964的公开整体特此并入作为参考。
工业实用性
根据本发明，能够提供一种二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序。

Claims (19)

1.一种二维闪烁测量装置，其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，具备：
二维成像元件，具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能；
设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；
控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及
计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。
2.如权利要求1所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部将能够再现具有所述计算部计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率，通过所述设置的所述部分读取的帧率确定所述一部分的尺寸，并将所述摄像区域的尺寸除以所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。
3.如权利要求2所述的二维闪烁测量装置，
所述计算部在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换生成功率谱时，将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中，所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数，设为所述功率谱的频率间距。
4.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。
5.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部通过在所设置的所述部分读取的帧率下，所述二维成像元件摄像所述测量对象物，测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度，将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。
6.如权利要求1～5中任意一项所述的二维闪烁测量装置，
所述二维成像元件具有全局快门功能，
所述控制部进行控制使所述二维成像元件使用所述全局快门功能，以所述多次摄像所述测量对象物。
7.一种二维闪烁测量系统，其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，具备：
照相机，包括具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件；
设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；
控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及
计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。
8.一种二维闪烁测量方法，其使用具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件，测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，具备：
设置步骤，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；
控制步骤，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及
计算步骤，针对多个所述部分区域中的每一个，基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。
9.如权利要求8所述的二维闪烁测量方法，
在所述设置步骤中，将能够再现具有通过所述计算步骤计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率，通过所述设置的所述部分读取的帧率确定所述一部分的尺寸，并将所述摄像区域的尺寸除以所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。
10.如权利要求9所述的二维闪烁测量方法，
在所述计算步骤中，在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换生成功率谱时，将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中，所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数，设为所述功率谱的频率间距。
11.如权利要求9或10所述的二维闪烁测量方法，
在所述设置步骤中，将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。
12.如权利要求9或10所述的二维闪烁测量方法，
在所述设置步骤中，通过在所设置的所述部分读取的帧率下，所述二维成像元件摄像所述测量对象物，测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度，将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。
13.如权利要求8～12中任意一项所述的二维闪烁测量方法，
所述二维成像元件具有全局快门功能，
在所述控制步骤中，进行控制使所述二维成像元件使用所述全局快门功能，以所述多次摄像所述测量对象物。
14.一种存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，所述二维闪烁测量程序使用具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件，测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，使计算机执行以下步骤：
设置步骤，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；
控制步骤，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及
计算步骤，针对多个所述部分区域中的每一个，基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。
15.如权利要求14所述的存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，
在所述设置步骤中，将能够再现具有通过所述计算步骤计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率，通过所述设置的所述部分读取的频率确定所述一部分的尺寸，并将所述摄像区域的尺寸除以所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。
16.如权利要求15所述的存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，
在所述计算步骤中，在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换生成功率谱时，将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中，所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数，设为所述功率谱的频率间距。
17.如权利要求15或16所述的存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，
在所述设置步骤中，将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。
18.如权利要求15或16所述的存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，
在所述设置步骤中，通过在所设置的所述部分读取的帧率下，所述二维成像元件摄像所述测量对象物，测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度，将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。
19.如权利要求14～18中任意一项所述的存储二维闪烁测量程序的计算机可读记录介质，
所述二维成像元件具有全局快门功能，
在所述控制步骤中，进行控制使所述二维成像元件使用所述全局快门功能，以所述多次摄像所述测量对象物。
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