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CN117929887A - 故障检测方法、装置、存储介质和车辆 - Google Patents

故障检测方法、装置、存储介质和车辆 Download PDF

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CN117929887A CN202410094950.9A CN202410094950A CN117929887A CN 117929887 A CN117929887 A CN 117929887A CN 202410094950 A CN202410094950 A CN 202410094950A CN 117929887 A CN117929887 A CN 117929887A
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Abstract

本发明提出一种故障检测方法、装置、存储介质和车辆，方法包括：确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态；根据PIN位置状态确定芯片通信线路的故障类型，本发明通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。

Description

故障检测方法、装置、存储介质和车辆
技术领域
本发明涉及故障检测技术领域，尤其是涉及一种故障检测方法、装置、存储介质和车辆。
背景技术
随着车辆电气化、智能化的发展,车辆上使用CAN(Controller Area Network，控制器局域网总线)总线线束进行信息交互的控制器越来越多，对CAN总线线束的可靠性要求也越来越高，当CAN总线线束出现故障，或某个控制器内部出现影响CAN总线线束进行信号传输的故障时，同一网段内的所有控制器之间无法交互信息，造成车辆功能异常，甚至无法行驶。由于同一个网段内CAN总线线束的CAN_H信号线或CAN_L信号线分别连通，一旦出现CAN总线线束相关故障，会导致整个网段内的CAN网络信号无法传输，造成车辆功能异常，同时也无法利用诊断设备通过OBD(On Board Diagnostics，车载自动诊断系统)接口进行故障排查。
在相关技术中，大多采用万用表、示波器等硬件设备对控制器进行多次电压检测，逐个排查所有控制器，或者对CAN总线线束进行逐段检修，以确定CAN总线线束的具体故障部位及原因，然而，由于大部分的控制器分布在车辆的不同部位，且CAN总线线束和控制器装配在车辆内部，导致检测方式复杂，且专业性较强，造成检测时间周期较长，影响检修效率。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
为此，本发明的一个目的在于提出一种故障检测方法，该方法通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
为此，本发明的第二个目的在于提出一种故障检测装置。
为此，本发明的第三个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。
为此，本发明的第四个目的在于提出一种车辆。
为了达到上述目的，本发明的第一方面的实施例提出了一种故障检测方法，所述方法包括：确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN(Personal identification number，人身份识别码)位置状态；根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型。
根据本发明实施例的故障检测方法，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
在一些实施例中，根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型包括：连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态时，确定所述芯片通信线路出现短路故障。
在一些实施例中，连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态之后，还包括：获取第一故障报文和/或第二故障报文。
在一些实施例中，获取所述第二故障报文之后，还包括：在仪表模块上显示所述第二故障报文对应的第二故障类型。
在一些实施例中，获取第一故障报文之后，还包括：连续预设次数检测到所述PIN位置状态为高电平状态时，清除所述第一故障报文。
在一些实施例中，确定芯片通信线路故障之前，还包括：设置芯片通信线路的故障标志位。
为了达到上述目的，本发明的第二方面的实施例提出了一种故障检测装置，所述装置包括：获取模块，用于确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态；确定模块，用于根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型。
根据本发明实施例的故障检测装置，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
在一些实施例中，所述确定模块，具体用于：连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态时，确定所述芯片通信线路出现短路故障。
为了达到上述目的，本发明的第三方面的实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质，所述非临时性计算机可读存储介质上存储有故障检测程序，所述故障检测程序被处理器执行时实现上述实施例所述的故障检测方法。
为了达到上述目的，本发明的第四方面的实施例提出了一种车辆，所述车辆包括：上述实施例所述的故障检测装置。
根据本发明实施例的车辆，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是根据本发明一个实施例的故障检测方法的流程图；
图2是根据本发明一个实施例的芯片的硬件结构示意图；
图3是根据本发明一个实施例的故障检测方法的流程图；
图4是根据本发明一个实施例的故障检测装置的结构框图；
图5是根据本发明一个实施例的车辆的框图。
附图标记：故障检测装置2；
获取模块21；确定模块22；
车辆3。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本发明的实施例。
下面结合图1-图3对本发明实施例的故障检测方法进行举例说明。
如图1所示，本发明实施例的故障检测方法至少包括步骤S1和步骤S2。
步骤S1，确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态。
其中，芯片通信线路故障为芯片内部的CAN总线线束的某个部位出现故障，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，能够快速定位CAN总线线束的具体故障部位。
在实施例中，如图2所示，以TJA1043芯片为例，通过CAN收发器原理诊断是否发生CAN_H对电短路，CAN_L对电短路，CAN_H对地短路，在监测到发生上述任一项现象时，确定TJA1043芯片通信线路故障，MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)获取此时TJA1043芯片的PIN位置状态例如记为Error PIN，以便MCU根据PIN位置状态Error PIN进行故障检测，快速排查CAN总线线束的具体故障部位。
步骤S2，根据PIN位置状态确定芯片通信线路的故障类型。
在实施例中，MCU获取TJA1043芯片的PIN位置状态Error PIN后，监测PIN位置状态Error PIN的电平状态，例如PIN位置状态为高电平状态即Error PIN为active-High，或者PIN位置状态为低电平状态即Error PIN为active-LOW，以便MCU确定芯片通信线路的故障类型，从而根据不同的故障类型进行对应的故障应对措施，例如清除故障类型，或者显示故障类型，通过在定位CAN总线线束的具体故障部位后，确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因。
根据本发明实施例的故障检测方法，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
在一些实施例中，根据PIN位置状态确定芯片通信线路的故障类型包括：连续预设次数检测到PIN位置状态为低电平状态时，确定芯片通信线路出现短路故障。
在实施例中，MCU获取TJA1043芯片的PIN位置状态Error PIN后，每隔预设时间例如100ms实时检测PIN位置状态Error PIN，当连续预设次数例如连续3次检测到PIN位置状态为低电平状态即Error PIN为active-LOW时，则确定芯片通信线路出现短路故障。
在一些实施例中，连续预设次数检测到PIN位置状态为低电平状态之后，还包括：获取第一故障报文和/或第二故障报文。
在实施例中，当MCU连续预设次数例如连续3次检测到PIN位置状态为低电平状态即Error PIN为active-LOW时，MCU通过售后诊断设备读取第一故障报文即DTC(DiagnosticTrouble Code，诊断故障码)报文，和/或获取第二故障报文即DM1(Diagnostic Message 1，诊断信息)报文，通过获取不同的故障报文，能够定位CAN总线的具体故障部位。
在一些实施例中，获取第二故障报文之后，还包括：在仪表模块上显示第二故障报文对应的第二故障类型。
在实施例中，MCU获取第二故障报文即DM1报文后，将第二故障报文即DM1报文发送至CAN总线线束，CAN总线线束接收第二故障报文即DM1报文，并将第二故障报文即DM1报文发送至仪表模块，仪表模块接收CAN总线线束发送的第二故障报文即DM1报文，显示第二故障报文即DM1报文对应的第二故障类型，以方便用户能实时查看CAN总线线束的具体故障部位及原因。
在一些实施例中，获取第一故障报文之后，还包括：连续预设次数检测到PIN位置状态为高电平状态时，清除第一故障报文。
在实施例中，MCU获取第一故障报文即DTC报文后，当连续预设次数检测到PIN位置状态为高电平状态即Error PIN为active-High时，认为TJA1043芯片处于通电模式，或TJA1043芯片收发器重新进入正常模式，则清除第一故障报文即DTC报文，并且仪表模块上不再显示故障类型。
在一些实施例中，确定芯片通信线路故障之前，还包括：设置芯片通信线路的故障标志位。
在实施例中，确定TJA1043芯片通信线路故障之前，在MCU中预设故障判断逻辑，即判断芯片通信线路是否发生故障的依据，例如，若TJA1043芯片收发器在TXD(TransmitData，发送数据)引脚上的四个连续显性隐性周期期间检测到芯片通信线路对VBAT(VoltBattery，电池电压)引脚、VCC(Volt Current Condenser，供电电压)引脚或GND(Ground，电线接地端)引脚短路，同时驱动芯片通信线路显性，则设置芯片通信线路的故障标志位。
下面参考图3对本发明实施例的故障检测方法进行举例说明。
如图3所示，本发明实施例的故障检测方法至少包括步骤S11-步骤S16。
步骤S11，设置芯片通信线路的故障标志位。
步骤S12，确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态。
步骤S13，连续预设次数检测到PIN位置状态为低电平状态时，确定芯片通信线路出现短路故障。
步骤S14，获取第一故障报文和/或第二故障报文。
步骤S15，在仪表模块上显示第二故障报文对应的第二故障类型。
步骤S16，连续预设次数检测到PIN位置状态为高电平状态时，清除第一故障报文。
根据本发明实施例的故障检测方法，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
下面参考图4描述本发明实施例的故障检测装置2。
如图4所示，本发明实施例的故障检测装置2包括：获取模块21和确定模块22，其中，
获取模块21用于确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态；确定模块22用于根据PIN位置状态确定芯片通信线路的故障类型。
在实施例中，以TJA1043芯片为例，获取模块21通过CAN收发器原理诊断是否发生CAN_H对电短路，CAN_L对电短路，CAN_H对地短路，在监测到发生上述任一项现象时，确定TJA1043芯片通信线路故障，MCU获取此时TJA1043芯片的PIN位置状态例如记为Error PIN，以便MCU根据PIN位置状态Error PIN进行故障检测，快速排查CAN总线线束的具体故障部位。
确定模块22获取TJA1043芯片的PIN位置状态Error PIN后，监测PIN位置状态Error PIN的电平状态，例如PIN位置状态为高电平状态即Error PIN为active-High，或者PIN位置状态为低电平状态即Error PIN为active-LOW，以便MCU确定芯片通信线路的故障类型，从而根据不同的故障类型进行对应的故障应对措施，例如清除故障类型，或者显示故障类型，通过在定位CAN总线线束的具体故障部位后，确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因。
根据本发明实施例的故障检测装置2，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
在一些实施例中，确定模块22还具体用于：连续预设次数检测到PIN位置状态为低电平状态时，确定芯片通信线路出现短路故障。
在实施例中，确定模块22获取TJA1043芯片的PIN位置状态后，每隔预设时间例如100ms实时检测PIN位置状态，当连续预设次数例如连续3次检测到PIN位置状态为低电平状态即Error PIN为active-LOW时，则确定芯片通信线路出现短路故障。
在一些实施例中，确定模块22连续预设次数检测到PIN位置状态为低电平状态之后，还具体用于：获取第一故障报文和/或第二故障报文。
在一些实施例中，确定模块22获取第二故障报文之后，还具体用于：在仪表模块上显示第二故障报文对应的第二故障类型。
在一些实施例中，确定模块22获取第一故障报文之后，还具体用于：连续预设次数检测到PIN位置状态为高电平状态时，清除第一故障报文。
在一些实施例中，确定模块22确定芯片通信线路故障之前，还具体用于：设置芯片通信线路的故障标志位。
根据本发明实施例的故障检测装置2，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
下面描述本发明实施例的非临时性计算机可读存储介质。
本发明实施例的非临时性计算机可读存储介质上存储有故障检测程序，故障检测程序被处理器执行时实现上述实施例的故障检测方法。
下面参考图5描述本发明实施例的车辆3。
如图5所示，本发明实施例的车辆包括上述实施例的故障检测装置2。
根据本发明实施例的车辆3，通过在芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态，以快速定位CAN总线线束的具体故障部位，并根据PIN位置状态的电平状态确定芯片通信线路的故障类型，以确定CAN总线线束的具体故障部位的对应故障原因，通过芯片自身的PIN位置状态排查CAN总线线束的故障部位和原因，避免使用额外的硬件设备为故障检测带来的复杂性，能够减少时间和成本的损耗，从而提升检修效率。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种故障检测方法，其特征在于，包括：
确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态；
根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型。
2.根据权利要求1所述的故障检测方法，其特征在于，根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型包括：
连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态时，确定所述芯片通信线路出现短路故障。
3.根据权利要求2所述的故障检测方法，其特征在于，连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态之后，还包括：
获取第一故障报文和/或第二故障报文。
4.根据权利要求3所述的故障检测方法，其特征在于，获取所述第二故障报文之后，还包括：
在仪表模块上显示所述第二故障报文对应的第二故障类型。
5.根据权利要求3所述的故障检测方法，其特征在于，获取第一故障报文之后，还包括：
连续预设次数检测到所述PIN位置状态为高电平状态时，清除所述第一故障报文。
6.根据权利要求5所述的故障检测方法，其特征在于，确定芯片通信线路故障之前，还包括：
设置芯片通信线路的故障标志位。
7.一种故障检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于确定芯片通信线路故障时，获取芯片的PIN位置状态；
确定模块，用于根据所述PIN位置状态确定所述芯片通信线路的故障类型。
8.根据权利要求7所述的故障检测装置，其特征在于，所述确定模块，具体用于：
连续预设次数检测到所述PIN位置状态为低电平状态时，确定所述芯片通信线路出现短路故障。
9.一种非临时性计算机可读存储介质，其特征在于，所述非临时性计算机可读存储介质上存储有故障检测程序，所述故障检测程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的故障检测方法。
10.一种车辆，其特征在于，包括：如权利要求7或8所述的故障检测装置。
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