CN117206214B - 一种自动化芯片测试分选装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及芯片测试设备技术领域，具体的公开了一种自动化芯片测试分选装置及系统，包括底座，所述底座的顶部安装有多边形的安装柱，安装柱的顶端安装有顶板，安装柱的底端外壁开设有环形的安装槽，安装柱的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽，放置槽的内底部与安装槽相互连通，放置槽的内壁按长度方向开设有固定孔；安装槽的内部转动安装有安装套，安装套的外壁上安装有若干个芯片测试仪，芯片测试仪的顶端开设有与放置槽相匹配的进料孔。本发明芯片测试完毕后，可根据芯片的电变量参数把测试完毕的芯片分别放置在若干个出料槽内，在使用时无需工作人员手动对芯片进行测试和分选。

Description

一种自动化芯片测试分选装置及系统

技术领域

本发明涉及芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种自动化芯片测试分选装置及系统。

背景技术

芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。芯片内部都是半导体材料，大部份都是硅材料，里面的电容，电阻，二极管，三极管都是用半导体做出来的。芯片对于电器而言相当于人体大脑一样，它具有十分强大的运算、处理、协调能力。芯片的工作原理是将电路制造在半导体芯片表面上从而进行运算与处理。芯片在封装前，需要对芯片在使用时的电变量进行测量，用于了解芯片的质量和使用时的稳定性。

在对芯片测试完毕后，需要对不同电变量参数的芯片进行分选放置，而常用的芯片电变量测试设备在对芯片测试时大多只能对单一的芯片进行测试，所以在对芯片进行分选时，为了节省成本，大多是通过工作人员手动对芯片进行分选，在对芯片进行测试时需要工作人员手动对芯片进行位置放置和连接，对芯片的测试效率较低。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种自动化芯片测试分选装置及系统，包括底座，所述底座的顶部安装有多边形的安装柱，安装柱的顶端安装有顶板，安装柱的底端外壁开设有环形的安装槽，安装柱的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽，放置槽的内底部与安装槽相互连通，放置槽的内壁按长度方向开设有固定孔；

安装槽的内部转动安装有安装套，安装套的外壁上安装有若干个芯片测试仪，芯片测试仪的顶端开设有与放置槽相匹配的进料孔，进料孔的底端贯穿芯片测试仪，进料孔的顶端与放置槽的底端相互连通，进料孔的两侧内壁上均安装有若干个弧形的检测片。

优选的，所述进料孔远离安装柱的一侧内壁上开设有固定槽，固定槽内滑动安装有挡板，挡板位于若干个检测片的下方，固定槽远离进料孔的一端内壁上安装有电磁铁，进料孔远离固定槽的一侧内壁上安装有磁铁片。

优选的，所述挡板的两端均安装有铁片，电磁铁和磁铁片分别位于挡板的两端，固定槽的两侧内壁上均按长度方向开设有导向槽，导向槽的一端贯穿至进料孔的内部，挡板的两侧均安装有导向块，导向块滑动安装在导向槽内。

优选的，所述安装槽的底端外壁开设有环形的限位槽，限位槽的内部转动安装有外齿轮圈，安装套的底端内壁安装有若干个齿轮条，安装套通过齿轮条与外齿轮圈相互啮合连接，底座的顶部开设有环形的滑槽，滑槽内滑动安装有电动滑块，电动滑块的顶端安装在外齿轮圈的底部。

优选的，所述安装柱的外壁上安装有与安装柱相匹配的多边形的固定圈，固定圈的若干个侧面均开设有与放置槽相匹配的安装孔，安装孔的内壁上转动安装有电动滚轮，放置槽的内壁上位于固定孔的两侧均按长度方向安装有清洁片。

优选的，所述电动滚轮的外壁上安装有海绵套，海绵套的外壁靠近安装柱的一侧位于固定孔的内部，固定圈位于芯片测试仪的上方。

优选的，所述底座的顶部靠近边缘的位置开设有若干个与芯片测试仪相匹配的出料槽，出料槽靠近安装柱的一端位于芯片测试仪的下方，进料孔的底端与出料槽的内部相互连通。

优选的，所述顶板的顶部靠近边缘的位置倾斜开设有若干个与放置槽相匹配的进料槽，进料槽的内底部靠近安装柱的一端开设有输送孔，输送孔的底端与放置槽相互连通。

优选的，所述顶板的底部开设有环形的存放槽，存放槽的内顶部安装有遮挡布，底座的底部安装有若干个支撑块。

本发明中一种自动化芯片测试分选装置的操作系统，该操作系统包括如下步骤：

步骤一：工作人员把待检测的芯片放置在进料槽的内部，使芯片顺着进料槽的内底部滑落至放置槽的内部，在使用时若干个待测试的芯片在放置槽的内部依次叠放；

步骤二：当工作人员对芯片进行测试时，电动滚轮带动放置槽内底部的芯片移动至芯片测试仪上的进料孔内部，而位于进料孔两侧内壁上弧形的检测片与芯片两侧的键合丝相互抵接，芯片测试仪通过检测片与键合丝对芯片使用时的电变量进行检测；

步骤三：当芯片测试完毕后，根据对芯片测试的电变量参数使电动滑块通过外齿轮圈和安装套带动芯片测试仪和测试完毕的芯片转动至指定出料槽的上方；

步骤四：在对芯片进行测试时，挡板能对芯片的位置进行限定，当芯片测试完毕后，电磁铁通电产生磁场，并与挡板上的铁片相互吸附，挡板向电磁铁方向移动，并断开对进料孔的阻挡，使测试完毕的芯片掉落至出料槽内。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明中安装柱为多边形，且安装柱若干个侧面上的放置槽内部均可存放一定量的待测试芯片，在使用时存放的芯片可自动进入芯片测试仪内部进行电变量测试，在使用时更加方便，无需工作人员手动对芯片进行放置和连接，且在芯片测试完毕后，可根据芯片的电变量参数把测试完毕的芯片分别放置在底座顶部的若干个出料槽内，在使用时无需工作人员手动对芯片进行测试和分选，使用时更加方便，且若干个芯片测试仪可同时对多个芯片进行测试，提高了芯片测试的效率。

本发明中电动滚轮通过海绵套带动位于放置槽内底部的芯片进行下移，同时也能在芯片移动时对芯片的侧面起到较好的保护作用，防止电动滚轮带动芯片进行移动时对芯片的侧面进行挤压，导致芯片表面出现损坏，同时海绵套也能与放置槽的内壁相互配合，对芯片进行夹持和位置限定，在芯片在放置槽内部移动时，位于放置槽内壁上的清洁片能对芯片两侧的键合丝进行清洁，使键合丝能与检测片更好的进行连接，同时清洁片能对进入放置槽内部的芯片掉落速度进行减缓，防止相邻的两个芯片在放置槽内部相互碰撞。

本发明中当芯片掉落至芯片测试仪上的进料孔内部后，芯片的底端与挡板的顶部抵接，挡板能对芯片的位置起到较好的限定作用，防止芯片在进行测试时出现掉落的情况，位于进料孔两侧内壁上的若干个检测片便会分别与芯片两侧的若干个键合丝相互抵接，芯片测试仪通过检测片和键合丝对芯片与芯片相互电性连接，并对芯片使用时的变电量进行测试。

本发明中当芯片测试仪和其内部的芯片移动至指定出料槽的内部后，电磁铁与外界的电源相互电性连接，电磁铁的磁场强度大于磁铁片的磁场，所以挡板通过电磁铁磁铁片的相互吸附向电磁铁方向移动，挡板靠近磁铁片的一端便可断开对进料孔的阻挡，而位于进料孔内部测试完毕的芯片便可通过进料孔的底端掉落至底座顶部的出料槽的内部，当测试完毕的芯片移动至外界后，电磁铁断开与外界电源的电性连接，而挡板再次通过磁铁片的磁性进行移动，并对进料孔底端进行阻挡，方便对其余的芯片进行测试。

附图说明

图1为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的立体图；

图2为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的安装柱结构示意图；

图3为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的固定圈安装结构示意图；

图4为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的固定圈结构示意图；

图5为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的安装套结构示意图；

图6为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的芯片测试仪结构示意图；

图7为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的芯片测试仪剖视图；

图8为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的导向块安装结构示意图；

图9为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的顶板剖视图；

图10为本发明提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统的底座结构示意图。

图中：1、底座；2、安装柱；3、顶板；4、放置槽；5、固定孔；6、清洁片；7、固定圈；8、安装套；9、芯片测试仪；10、安装槽；11、限位槽；12、安装孔；13、电动滚轮；14、海绵套；15、外齿轮圈；16、进料孔；17、齿轮条；18、检测片；19、固定槽；20、电磁铁；21、挡板；22、磁铁片；23、导向槽；24、导向块；25、滑槽；26、电动滑块；27、出料槽；28、进料槽；29、输送孔；30、存放槽；31、遮挡布；32、支撑块。

实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、 “外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

参照图1-10，一种自动化芯片测试分选装置及系统，包括底座1，底座1的顶部安装有多边形的安装柱2，安装柱2的顶端安装有顶板3，安装柱2的底端外壁开设有环形的安装槽10，安装柱2的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽4，放置槽4的内底部与安装槽10相互连通，放置槽4的内壁按长度方向开设有固定孔5；

安装槽10的内部转动安装有安装套8，安装套8的外壁上安装有若干个芯片测试仪9，芯片测试仪9的顶端开设有与放置槽4相匹配的进料孔16，进料孔16的底端贯穿芯片测试仪9，进料孔16的顶端与放置槽4的底端相互连通，进料孔16的两侧内壁上均安装有若干个弧形的弹性检测片18。

作为本发明的一种技术优化方案，进料孔16远离安装柱2的一侧内壁上开设有固定槽19，固定槽19内滑动安装有挡板21，挡板21位于若干个检测片18的下方，固定槽19远离进料孔16的一端内壁上安装有电磁铁20，进料孔16远离固定槽19的一侧内壁上安装有磁铁片22；电磁铁20与外界电源相互电性连接，当电磁铁20通电后便会产生磁场，使电磁铁20与挡板21上的铁片相互吸附，芯片可通过进料孔16输送至外界。

作为本发明的一种技术优化方案，挡板21的两端均安装有铁片，电磁铁20和磁铁片22分别位于挡板21的两端，固定槽19的两侧内壁上均按长度方向开设有导向槽23，导向槽23的一端贯穿至进料孔16的内部，挡板21的两侧均安装有导向块24，导向块24滑动安装在导向槽23内；导向槽23可通过导向块24对挡板21的移动起到较好的导向作用，使挡板21在移动时更加稳定。

作为本发明的一种技术优化方案，安装槽10的底端外壁开设有环形的限位槽11，限位槽11的内部转动安装有外齿轮圈15，安装套8的底端内壁安装有若干个齿轮条17，安装套8通过齿轮条17与外齿轮圈15相互啮合连接，底座1的顶部开设有环形的滑槽25，滑槽25内滑动安装有电动滑块26，电动滑块26的顶端安装在外齿轮圈15的底部；在使用时电动滑块26可通过外齿轮圈15带动安装套8和其外壁上若干个芯片测试仪9进行转动，方便工作人员对芯片测试仪9内部的芯片进行分选放置。

作为本发明的一种技术优化方案，安装柱2的外壁上安装有与安装柱2相匹配的多边形的固定圈7，固定圈7的若干个侧面均开设有与放置槽4相匹配的安装孔12，安装孔12的内壁上转动安装有电动滚轮13，放置槽4的内壁上位于固定孔5的两侧均按长度方向安装有清洁片6；固定圈7在使用时可通过电动滚轮13对放置槽4内部的芯片起到较好的支撑和位置限定，防止芯片测试仪9在对芯片进行电变量测试时其余的芯片掉落至进料孔16内部。

作为本发明的一种技术优化方案，电动滚轮13的外壁上安装有海绵套14，海绵套14的外壁靠近安装柱2的一侧位于固定孔5的内部，固定圈7位于芯片测试仪9的上方；海绵套14在使用时可对芯片的表面起到较好的防护作用，防止在电动滚轮13转动带动芯片移动时对芯片的表面进行挤压。

作为本发明的一种技术优化方案，底座1的顶部靠近边缘的位置开设有若干个与芯片测试仪9相匹配的出料槽27，出料槽27靠近安装柱2的一端位于芯片测试仪9的下方，进料孔16的底端与出料槽27的内部相互连通；在使用时芯片测试仪9可根据所测试芯片的电变量不同通过转动时芯片掉落至指定出料槽27的内部，在使用时可对芯片的分选存放。

作为本发明的一种技术优化方案，顶板3的顶部靠近边缘的位置倾斜开设有若干个与放置槽4相匹配的进料槽28，进料槽28的内底部靠近安装柱2的一端开设有输送孔29，输送孔29的底端与放置槽4相互连通；当工作人员需要对芯片进行安装放置时，直接把芯片放置在进料槽28的内部便可，芯片可顺着进料槽28的内底部和输送孔29自动进入放置槽4的内部，在对芯片进行安装放置时更加方便。

作为本发明的一种技术优化方案，顶板3的底部开设有环形的存放槽30，存放槽30的内顶部安装有遮挡布31，底座1的底部安装有若干个支撑块32；在使用时工作人员可在存放槽30的内顶部安装电动收卷筒，使遮挡布31缠绕安装在电动收卷筒上，方便工作人员通过电动收卷筒对遮挡布31进行升降，而遮挡布31能对安装柱2的四周起到较好的遮挡和防护，防止外界的人灰尘落在安装柱2和芯片的表面。

本发明中一种自动化芯片测试分选装置的操作系统，该操作系统包括如下步骤：

步骤一：工作人员把待检测的芯片放置在进料槽28的内部，使芯片顺着进料槽28的内底部滑落至放置槽4的内部，在使用时若干个待测试的芯片在放置槽4的内部依次叠放；

步骤二：当工作人员对芯片进行测试时，电动滚轮13带动放置槽4内底部的芯片移动至芯片测试仪9上的进料孔16内部，而位于进料孔16两侧内壁上弧形的检测片18与芯片两侧的键合丝相互抵接，芯片测试仪9通过检测片18与键合丝对芯片使用时的电变量进行检测；

步骤三：当芯片测试完毕后，根据对芯片测试的电变量参数使电动滑块26通过外齿轮圈15和安装套8带动芯片测试仪9和测试完毕的芯片转动至指定出料槽27的上方；

步骤四：在对芯片进行测试时，挡板21能对芯片的位置进行限定，当芯片测试完毕后，电磁铁20通电产生磁场，并与挡板21上的铁片相互吸附，挡板21向电磁铁20方向移动，并断开对进料孔16的阻挡，使测试完毕的芯片掉落至出料槽27内。

本发明在使用时，工作人员把待检测的芯片分别依次放置在顶板3顶部的若干个进料槽28的内部，进料槽28的内底部为倾斜状，所以当芯片放置在进料槽28的内部后，芯片便可顺着进料槽28的内底部滑落至输送孔29内，并通过输送孔29进入安装柱2外壁上的放置槽4内，在使用时若干个待测试的芯片便可依次在放置槽4的内部叠放。当芯片掉落至放置槽4的内部后，电动滚轮13和其外壁上的海绵套14能对芯片的下移进行阻挡，使海绵套14的外壁与芯片的侧面抵接，在使用时能防止芯片出现自动掉落的情况。

当工作人员需要对芯片进行电变量测试时，电动滚轮13便可在固定圈7外壁安装孔12的内部进行转动，而当电动滚轮13转动时其外壁上的海绵套14便可带动位于放置槽4内底部的芯片进行下移，直至芯片掉落至芯片测试仪9上的进料孔16的内部，而电动滚轮13便停止转动，使海绵套14对位于放置槽4内部的芯片起到较好的夹持。在使用时海绵套14能带动芯片进行下移，同时也能在芯片移动时对芯片的侧面起到较好的保护作用，防止电动滚轮13带动芯片进行移动时对芯片的侧面进行挤压，导致芯片表面出现损坏，同时海绵套14也能与放置槽4的内壁相互配合，对芯片进行夹持和位置限定。

当芯片掉落至芯片测试仪9上的进料孔16内部后，芯片的底端与挡板21的顶部抵接，挡板21能对芯片的位置起到较好的限定作用。在使用时磁铁片22通过自身磁场与挡板21上的铁片相互吸附，使挡板21的一端与磁铁片22相互抵接，而挡板21便可对进料孔16的底端进行阻挡，防止芯片在进行测试时出现掉落的情况。当芯片掉落至进料孔16的内部后，位于进料孔16两侧内壁上的若干个检测片18便会分别与芯片两侧的若干个键合丝相互抵接，芯片测试仪9通过检测片18和键合丝对芯片与芯片相互电性连接，并对芯片使用时的变电量进行测试。在使用时检测片18均位于弹性的弧形，在对芯片进行测试均是与芯片两侧的键合丝轻微抵接，并不会对芯片进行夹持，防止在对芯片测试完毕后芯片无法从进料孔16掉落至外界。

当芯片测试仪9对芯片测试完毕后，根据芯片测试时的电变量差异使电动滑块26带动外齿轮圈15在安装柱2的底端进行转动，而当外齿轮圈15转动时便可带动安装套8和其上的芯片测试仪9以安装柱2为中心进行转动，使芯片测试仪9和其内部芯片转动至底座1顶部指定位置的出料槽27的内部。在使用时位于底座1顶部的若干个出料槽27分别根据芯片的电变量参数对若干个测试完毕后的芯片进行区分存放，方便工作人员对不同电变量参数的芯片进行拿取。

当芯片测试仪9和其内部的芯片移动至指定出料槽27的内部后，固定槽19内部的电磁铁20可与外界的电源相互电性连接，使电磁铁20自身产生磁场，且电磁铁20的磁场强度大于磁铁片22的磁场，所以电磁铁20便可对挡板21远离磁铁片22一端上的铁片进行吸附，而挡板21便可在固定槽19的内部向电磁铁20的方向进行移动，直至挡板21上的铁片与电磁铁20相互抵接。当挡板21移动时，挡板21靠近磁铁片22的一端便可断开对进料孔16的阻挡，而位于进料孔16内部测试完毕的芯片便可通过进料孔16的底端掉落至底座1顶部的出料槽27的内部，并在出料槽27的内部向靠近底座1边缘的位置进行滑动，而工作人员便可对出料槽27内部的芯片进行拿取。

在使用时工作人员可在顶板3底部存放槽30的内部安装电动收卷轮，并把遮挡布31缠绕安装在电动收卷轮上，在使用时工作人员便可通过电动收卷轮对遮挡布31的底端进行升降，在使用时遮挡布31可对安装柱2的四周进行遮挡和防护，防止在使用时外界的灰尘落在芯片的表面，同时当工作人员对芯片测试完毕后，工作人员可通过遮挡布31对安装柱2和若干个芯片测试仪9进行遮盖，方便工作人员对安装柱2和芯片测试仪9进行存放，且在使用时若干个待测试的芯片可存放至若干个放置槽4内部，方便工作人员下次对芯片进行测试。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种自动化芯片测试分选装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部安装有多边形的安装柱（2），安装柱（2）的顶端安装有顶板（3），安装柱（2）的底端外壁开设有环形的安装槽（10），安装柱（2）的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽（4），放置槽（4）的内底部与安装槽（10）相互连通，放置槽（4）的内壁按长度方向开设有固定孔（5）；

安装槽（10）的内部转动安装有安装套（8），安装套（8）的外壁上安装有若干个芯片测试仪（9），芯片测试仪（9）的顶端开设有与放置槽（4）相匹配的进料孔（16），进料孔（16）的底端贯穿芯片测试仪（9），进料孔（16）的顶端与放置槽（4）的底端相互连通，进料孔（16）的两侧内壁上均安装有若干个弧形的检测片（18）；

所述进料孔（16）远离安装柱（2）的一侧内壁上开设有固定槽（19），固定槽（19）内滑动安装有挡板（21），挡板（21）位于若干个检测片（18）的下方，固定槽（19）远离进料孔（16）的一端内壁上安装有电磁铁（20），进料孔（16）远离固定槽（19）的一侧内壁上安装有磁铁片（22）；

所述安装柱（2）的外壁上安装有与安装柱（2）相匹配的多边形的固定圈（7），固定圈（7）的若干个侧面均开设有与放置槽（4）相匹配的安装孔（12），安装孔（12）的内壁上转动安装有电动滚轮（13），放置槽（4）的内壁上位于固定孔（5）的两侧均按长度方向安装有清洁片（6）；

所述电动滚轮（13）的外壁上安装有海绵套（14），海绵套（14）的外壁靠近安装柱（2）的一侧位于固定孔（5）的内部，固定圈（7）位于芯片测试仪（9）的上方；

电动滚轮（13）转动时其外壁上的海绵套（14）便可带动位于放置槽（4）内底部的芯片进行下移，直至芯片掉落至芯片测试仪（9）上的进料孔（16）的内部，而电动滚轮（13）便停止转动，使海绵套（14）对位于放置槽（4）内部的芯片起到较好的夹持，在使用时海绵套（14）能带动芯片进行下移，同时也能在芯片移动时对芯片的侧面起到较好的保护作用，防止电动滚轮（13）带动芯片进行移动时对芯片的侧面进行挤压，导致芯片表面出现损坏，同时海绵套（14）也能与放置槽（4）的内壁相互配合，对芯片进行夹持和位置限定，芯片掉落至放置槽（4）的内部后，电动滚轮（13）和其外壁上的海绵套（14）能对芯片的下移进行阻挡，使海绵套（14）的外壁与芯片的侧面抵接，在使用时能防止芯片出现自动掉落的情况；

所述挡板（21）的两端均安装有铁片，电磁铁（20）和磁铁片（22）分别位于挡板（21）的两端，固定槽（19）的两侧内壁上均按长度方向开设有导向槽（23），导向槽（23）的一端贯穿至进料孔（16）的内部，挡板（21）的两侧均安装有导向块（24），导向块（24）滑动安装在导向槽（23）内；

所述底座（1）的顶部靠近边缘的位置开设有若干个与芯片测试仪（9）相匹配的出料槽（27），出料槽（27）靠近安装柱（2）的一端位于芯片测试仪（9）的下方，进料孔（16）的底端与出料槽（27）的内部相互连通；

所述顶板（3）的顶部靠近边缘的位置倾斜开设有若干个与放置槽（4）相匹配的进料槽（28），进料槽（28）的内底部靠近安装柱（2）的一端开设有输送孔（29），输送孔（29）的底端与放置槽（4）相互连通。

2.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试分选装置，其特征在于，所述安装槽（10）的底端外壁开设有环形的限位槽（11），限位槽（11）的内部转动安装有外齿轮圈（15），安装套（8）的底端内壁安装有若干个齿轮条（17），安装套（8）通过齿轮条（17）与外齿轮圈（15）相互啮合连接，底座（1）的顶部开设有环形的滑槽（25），滑槽（25）内滑动安装有电动滑块（26），电动滑块（26）的顶端安装在外齿轮圈（15）的底部。

3.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试分选装置，其特征在于，所述顶板（3）的底部开设有环形的存放槽（30），存放槽（30）的内顶部安装有遮挡布（31），底座（1）的底部安装有若干个支撑块（32）。

4.如上述权利要求1-3中任一项所述的一种自动化芯片测试分选装置的操作系统，该操作系统包括如下步骤：

步骤一：工作人员把待检测的芯片放置在进料槽（28）的内部，使芯片顺着进料槽（28）的内底部滑落至放置槽（4）的内部，在使用时若干个待测试的芯片在放置槽（4）的内部依次叠放；

步骤二：当工作人员对芯片进行测试时，电动滚轮（13）带动放置槽（4）内底部的芯片移动至芯片测试仪（9）上的进料孔（16）内部，而位于进料孔（16）两侧内壁上弧形的检测片（18）与芯片两侧的键合丝相互抵接，芯片测试仪（9）通过检测片（18）与键合丝对芯片使用时的电变量进行检测；

步骤三：当芯片测试完毕后，根据对芯片测试的电变量参数使电动滑块（26）通过外齿轮圈（15）和安装套（8）带动芯片测试仪（9）和测试完毕的芯片转动至指定出料槽（27）的上方；

步骤四：在对芯片进行测试时，挡板（21）能对芯片的位置进行限定，当芯片测试完毕后，电磁铁（20）通电产生磁场，并与挡板（21）上的铁片相互吸附，挡板（21）向电磁铁（20）方向移动，并断开对进料孔（16）的阻挡，使测试完毕的芯片掉落至出料槽（27）内。