CN116453581B - 存储芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种存储芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取存储芯片测试指令；对存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品；其中，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。根据本发明实施例的方案，能够加快存储芯片的测试效率，快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种存储芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
伴随着电子产品的需求量不断上升，电子产品中应用到的存储芯片也呈现出指数级的增长；其中，存储芯片在被使用之前都需要经过多项功能参数的测试处理，最后得出与对应存储芯片相关的测试结果，最后对测试结果进行分析处理从而确定存储芯片是否测试合格；然而，这样的存储芯片测试过程相对比较繁杂，无法快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理，增加了存储芯片测试的工作量。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
为此，本发明提出一种存储芯片测试方法，能够加快存储芯片的测试效率，快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理。
本发明还提出一种应用上述存储芯片测试方法的装置。
本发明还提出一种应用上述存储芯片测试方法的电子设备。
本发明还提出一种应用上述存储芯片测试方法的计算机可读存储介质。
根据本发明第一方面实施例的存储芯片测试方法，所述方法包括：
获取存储芯片测试指令；
对所述存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的所述待测试存储芯片标记为不良品；
其中，所述芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。
根据本发明的一些实施例，所述获取存储芯片测试指令之前，所述方法还包括：
获取验证信息；
根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号，包括：
对所述存储芯片测试信息进行分析处理得到芯片测试项目信息，其中，所述芯片测试项目信息包括测试端口信息和测试电平信息；
根据所述测试端口信息确定所述待测试存储芯片的所述第一测试输入引脚；
根据所述测试电平信息向所述第一测试输入引脚输入所述测试信号。
根据本发明的一些实施例，所述从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号，包括：
根据所述测试端口信息确定所述第一测试输出引脚；
响应于所述测试信号，从所述待测试存储芯片的所述第一测试输出引脚读取反馈电平信息；
将所述反馈电平信息确定为所述反馈信号。
根据本发明的一些实施例，所述在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，包括：
对所述反馈信号进行转换处理得到检测反馈参数；
将所述检测反馈参数与所述芯片工作参数阈值进行比较；
当所述检测反馈参数不位于所述芯片工作参数阈值的区间范围内，对所述待测试存储芯片停止测试处理。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态，包括：
对所述验证信息进行解析处理得到测试开启触发信息；
根据所述测试开启触发信息对所述待测试存储芯片的读写权限进行开启处理。
根据本发明的一些实施例，所述根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态后，所述方法还包括：
向所述待测试存储芯片发送测试使能信号；
基于所述测试使能信号控制所述待测试存储芯片进入测试状态。
根据本发明第二方面实施例的存储芯片测试装置，包括：
第一处理模块，用于获取存储芯片测试指令；
第二处理模块，用于对所述存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
第三处理模块，用于根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
第四处理模块，用于从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
第五处理模块，用于在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的所述待测试存储芯片标记为不良品；
其中，所述芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。
根据本发明第三方面实施例的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的存储芯片测试方法。
根据本发明第四方面实施例的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被控制处理器执行时实现如上所述的存储芯片测试方法。
根据本发明实施例的存储芯片测试方法，至少具有如下有益效果：在对存储芯片进行检测的过程中，首先获取存储芯片测试指令，接着对存储芯片测试指令进行解码处理就可以得到存储芯片测试信息；接着根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；并且在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品；其中，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。通过上述技术方案，在测试过程中发现存储芯片的某项功能不达标的情况下马上停止测试处理，从而可以很好地节省存储芯片的测试时间，提高存储芯片的测试效率，快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。
图1是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法流程图；
图2是本发明另一个实施例提供的存储芯片测试方法流程图；
图3是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法的输入测试信号的具体流程图；
图4是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法的读取反馈信号的具体流程图；
图5是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法的对待测试存储芯片停止测试的具体流程图；
图6是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法的控制存储芯片的读写权限处于开启状态的具体流程图；
图7是本发明另一个实施例提供的存储芯片测试方法流程图；
图8是本发明一个实施例提供的存储芯片测试装置的构造示意图；
图9是本发明一个实施例提供的电子设备的构造示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明提供了一种存储芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：在对存储芯片进行检测的过程中，首先获取存储芯片测试指令，接着对存储芯片测试指令进行解码处理就可以得到存储芯片测试信息；接着根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；并且在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品；其中，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。通过上述技术方案，在测试过程中发现存储芯片的某项功能不达标的情况下马上停止测试处理，从而可以很好地节省存储芯片的测试时间，提高存储芯片的测试效率，快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理。
下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
如图1所示，图1是本发明一个实施例提供的存储芯片测试方法的流程图。该方法包括但不限于有步骤S100、步骤S200、步骤S300、步骤S400和步骤S500：
步骤S100，获取存储芯片测试指令；
步骤S200，对存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
步骤S300，根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
步骤S400，从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
步骤S500，在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品。
需要说明的是，在对存储芯片进行检测的过程中，首先获取存储芯片测试指令，接着对存储芯片测试指令进行解码处理就可以得到存储芯片测试信息；接着根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；并且在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品；其中，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。通过上述技术方案，在测试过程中发现存储芯片的某项功能不达标的情况下马上停止测试处理，从而可以很好地节省存储芯片的测试时间，提高存储芯片的测试效率，快速对测试不合格的存储芯片进行剔除处理。
值得注意的是，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。即存储芯片完成某一项功能而需要满足的参数要求；示例性地，对存储芯片的运行频率进行测试处理，当需要满足基本的读写要求的情况下，存储芯片的运行频率需要至少为1600MHz，而测试得到的存储芯片的运行频率只有1200MHz，因此就会停止对存储芯片进行测试处理，并且将存储芯片标记为不良品，进而可以很好地提升了存储芯片的测试效率，快速剔除不满足工作需求的存储芯片。
可以理解的是，可以通过上位机向存储芯片下达存储芯片测试指令；接着对上位机下达的存储芯片测试指令进行解码处理就可以得到相应的存储芯片测试信息；存储芯片测试信息包含了对存储芯片进行某项功能测试的测试项目信息。
值得注意的是，在对测试不满足要求的存储芯片标记为不良品之后，还会对不良品进行回收处理，以进行后续的操作处理。
另外，在一实施例中，如图2所示，在执行步骤S100之前可以包括但不限于步骤S110和步骤S120。
步骤S110，获取验证信息；
步骤S120，根据验证信息控制待测试存储芯片的读写权限处于开启状态。
需要说明的是，在获取存储芯片测试指令之前，存储芯片还可以获取验证信息，接着根据验证信息控制待测试存储芯片的读写权限处于开启状态，为了后续的存储芯片测试做好准备。
另外，在一实施例中，如图3所示，上述步骤S300可以包括但不限于步骤S310、步骤S320和步骤S330。
步骤S310，对存储芯片测试信息进行分析处理得到芯片测试项目信息，其中，芯片测试项目信息包括测试端口信息和测试电平信息；
步骤S320，根据测试端口信息确定待测试存储芯片的第一测试输入引脚；
步骤S330，根据测试电平信息向第一测试输入引脚输入测试信号。
需要说明的是，在对存储芯片进行测试的过程中，首先对存储芯片测试信息进行分析处理得到芯片测试项目信息，其中，芯片测试项目信息包括测试端口信息和测试电平信息；接着根据测试端口信息确定待测试存储芯片的第一测试输入引脚；接着根据测试电平信息向第一测试输入引脚输入测试信号。
可以理解的是，根据测试端口信息确定对应的第一测试输入引脚；以及根据测试电平信息确定输入到第一测试输入引脚的测试信号，以实现对存储芯片的某项功能进行测试处理。
另外，在一实施例中，如图4所示，上述步骤S400可以包括但不限于步骤S410、步骤S420和步骤S430。
步骤S410，根据测试端口信息确定第一测试输出引脚；
步骤S420，响应于测试信号，从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈电平信息；
步骤S430，将反馈电平信息确定为反馈信号。
需要说明的是，在对存储芯片进行测试的过程中，首先根据测试端口信息确定第一测试输出引脚；接着响应于测试信号，从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈电平信息；最后将反馈电平信息确定为反馈信号。通过对反馈电平信息进行分析处理就可以得到存储芯片的测试结果。存储芯片响应于测试信号，就可以从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈电平信息。
另外，在一实施例中，如图5所示，上述步骤S500可以包括但不限于步骤S510、步骤S520和步骤S530。
步骤S510，对反馈信号进行转换处理得到检测反馈参数；
步骤S520，将检测反馈参数与芯片工作参数阈值进行比较；
步骤S530，当检测反馈参数不位于芯片工作参数阈值的区间范围内，对待测试存储芯片停止测试处理。
需要说明的是，在对存储芯片进行测试的过程中，首先对反馈信号进行转换处理就可以得到检测反馈参数；接着将检测反馈参数与芯片工作参数阈值进行比较处理；当检测反馈参数不位于芯片工作参数阈值的区间范围内的时候，就会对待测试存储芯片停止测试处理，进而可以加快存储芯片的测试效率，对同批次的存储芯片进行测试的过程中可以快速剔除不满足工作要求的存储芯片。
可以理解的是，对反馈信号进行转换处理就可以将反馈信号转换为数值形式的参数，以便于将检测反馈参数与芯片工作参数阈值进行比较。在检测反馈参数不位于芯片工作参数阈值的区间范围内，表示存储芯片无法完成某一个芯片功能，不能够正常运行，因此就将不满足要求的存储芯片标记为不良品。
另外，在一实施例中，如图6所示，上述步骤S120可以包括但不限于步骤S121和步骤S122。
步骤S121，对验证信息进行解析处理得到测试开启触发信息；
步骤S122，根据测试开启触发信息对待测试存储芯片的读写权限进行开启处理。
需要说明的是，在对存储芯片进行测试之前，还可以对验证信息进行解析处理从而得到测试开启触发信息；接着根据测试开启触发信息对待测试存储芯片的读写权限进行开启处理，为了后续的存储芯片测试做好准备。
另外，在一实施例中，如图7所示，在执行完上述步骤S120之后还可以包括但不限于步骤S130和步骤S140。
步骤S130，向待测试存储芯片发送测试使能信号；
步骤S140，基于测试使能信号控制待测试存储芯片进入测试状态。
需要说明的是，使得存储芯片的读写端口处于开启状态后，还可以向待测试存储芯片发送测试使能信号；接着基于测试使能信号使得待测试存储芯片进入测试状态，为了后续的存储芯片测试做好准备。
在本发明的一些实施例中，如图8所示，本发明的一个实施例还提供了一种存储芯片测试装置10，装置包括：
第一处理模块100，用于获取存储芯片测试指令；
第二处理模块200，用于对存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
第三处理模块300，用于根据存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
第四处理模块400，用于从待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
第五处理模块500，用于在反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的待测试存储芯片标记为不良品；
其中，芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求。
该存储芯片测试装置10的具体实施方式与上述存储芯片测试方法的具体实施例基本相同，在此不再赘述。
在本发明的一些实施例中，如图9所示，本发明的一个实施例还提供了一种电子设备700，包括：存储器720、处理器710及存储在存储器720上并可在处理器710上运行的计算机程序，处理器710执行计算机程序时实现上述实施例中的存储芯片测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至步骤S500、图2中的方法步骤S110至步骤S120、图3中的方法步骤S310至S330、图4中的方法步骤S410至S430、图5中的方法步骤S510至S530、图6中的方法步骤S121至S122和图7中的方法步骤S130至S140。
在本发明的一些实施例中，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述设备实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的存储芯片测试方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至步骤S500、图2中的方法步骤S110至步骤S120、图3中的方法步骤S310至S330、图4中的方法步骤S410至S430、图5中的方法步骤S510至S530、图6中的方法步骤S121至S122和图7中的方法步骤S130至S140。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本发明权利要求所限定的范围内。
Claims (8)
1.一种存储芯片测试方法，其特征在于，包括：
获取存储芯片测试指令；
对所述存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的所述待测试存储芯片标记为不良品；
其中，所述芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求；
其中，所述根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号，包括：
对所述存储芯片测试信息进行分析处理得到芯片测试项目信息，其中，所述芯片测试项目信息包括测试端口信息和测试电平信息；
根据所述测试端口信息确定所述待测试存储芯片的所述第一测试输入引脚；
根据所述测试电平信息向所述第一测试输入引脚输入所述测试信号；
所述从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号，包括：
根据所述测试端口信息确定所述第一测试输出引脚；
响应于所述测试信号，从所述待测试存储芯片的所述第一测试输出引脚读取反馈电平信息；
将所述反馈电平信息确定为所述反馈信号。
2.根据权利要求1所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述获取存储芯片测试指令之前，所述方法还包括：
获取验证信息；
根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态。
3.根据权利要求1所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，包括：
对所述反馈信号进行转换处理得到检测反馈参数；
将所述检测反馈参数与所述芯片工作参数阈值进行比较；
当所述检测反馈参数不位于所述芯片工作参数阈值的区间范围内，对所述待测试存储芯片停止测试处理。
4.根据权利要求2所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态，包括：
对所述验证信息进行解析处理得到测试开启触发信息；
根据所述测试开启触发信息对所述待测试存储芯片的读写权限进行开启处理。
5.根据权利要求2所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述验证信息控制所述待测试存储芯片的读写权限处于开启状态后，所述方法还包括：
向所述待测试存储芯片发送测试使能信号；
基于所述测试使能信号控制所述待测试存储芯片进入测试状态。
6.一种存储芯片测试装置，其特征在于，包括：
第一处理模块，用于获取存储芯片测试指令；
第二处理模块，用于对所述存储芯片测试指令进行解码处理得到存储芯片测试信息；
第三处理模块，用于根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号；
第四处理模块，用于从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号；
第五处理模块，用于在所述反馈信号不满足预设的芯片工作参数阈值的情况下，对所述待测试存储芯片停止测试处理，并且将对应的所述待测试存储芯片标记为不良品；
其中，所述芯片工作参数阈值表征存储芯片实现任意功能而需要达到的最低参数阈值要求；
其中，所述根据所述存储芯片测试信息在待测试存储芯片的第一测试输入引脚输入测试信号，包括：
对所述存储芯片测试信息进行分析处理得到芯片测试项目信息，其中，所述芯片测试项目信息包括测试端口信息和测试电平信息；
根据所述测试端口信息确定所述待测试存储芯片的所述第一测试输入引脚；
根据所述测试电平信息向所述第一测试输入引脚输入所述测试信号；
所述从所述待测试存储芯片的第一测试输出引脚读取反馈信号，包括：
根据所述测试端口信息确定所述第一测试输出引脚；
响应于所述测试信号，从所述待测试存储芯片的所述第一测试输出引脚读取反馈电平信息；
将所述反馈电平信息确定为所述反馈信号。
7.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任意一项所述的存储芯片测试方法。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，其特征在于，所述计算机可执行指令被控制处理器执行时实现如权利要求1至5任意一项所述的存储芯片测试方法。
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