CN116381447B - 一种芯片自动测试机 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片自动测试机，包括：测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件；上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件；芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片。本发明提高了整体稳定性，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。

Description

一种芯片自动测试机

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，尤其涉及了一种芯片自动测试机。

背景技术

功能测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生性能的情况进行相应条件加强实验的过程。

一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行测试。测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。

传统的芯片测试主要由人工将单一芯片放到测试设备进行测试，并由人眼观察测试芯片并对应记录测试结果，测试完成后再人工将测试芯片分类、摆盘等，生产效率低下，无法满足大规模高效生产的需求。

现有技术中的测试设备存在如下缺陷：(1)机械手上的吸嘴通过机械手上的吸嘴气缸控制吸嘴做升降运动，吸附稳定性差；(2)需要人工进行逐个对料盘内的芯片进行扫码，并将读取到的信息作为分料的依据，过程消耗时间，降低测试效率，现有将芯片转移至扫码工位处，不同规格的芯片具有不同大小以及位置的二维码或条形码，而且料盘上芯片的方向也可能与测试方向、扫码方向不同，扫码工位上的扫码机容易造成读取失效；(3)机械手的移动模组采用丝杠、同步带和齿轮齿条驱动，结构复杂，定位精度低；(4)测试模组在对芯片进行下压测试时，左右两边的升降气缸的同步性差，测试时下压头与芯片硬性触碰，容易造成芯片移位或者损坏。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的就在于提供了一种芯片自动测试机，提高了整体稳定性，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是这样的：一种芯片自动测试机，包括：

测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件，所述测试工装用于装载测试芯片，所述测试加热组件设置于测试工装的上方位置，所述测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试工装上的测试芯片；

上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；

扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件，所述扫码组件用于对测试芯片扫码，所述旋转组件用于调整测试芯片的方向；

芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片；

所述芯片移载机构从上下料机构处取料放入至旋转组件内，所述扫码组件对测试芯片扫码，扫码结束所述芯片移载机构从旋转组件内取出测试芯片放入至测试机构内进行测试，测试结束所述芯片移载机构从测试工装内取出测试芯片放入至上下料机构处进行下料分料。

作为一种优选方案，所述测试工装包括测试底板、测试板，所述测试板设置于测试底板上，所述测试板上开设有若干个放置测试芯片的测试槽，所述测试槽的底部内设置有测试探针。

作为一种优选方案，所述测试加热组件包括由上至下依次设置的加热安装板、隔热板、加热板体，加热板体内设置有加热棒，所述加热板体的底部通过浮动弹簧连接有浮动压块，所述浮动压块位于测试槽的上方位置。

作为一种优选方案，所述测试移动组件包括测试安装架、测试升降气缸、测试水平气缸，所述测试水平气缸设置于测试安装架上，所述测试水平气缸的推杆连接有水平移动板，所述测试安装架上设置有测试水平滑轨，所述水平移动板通过测试水平滑块设置于测试水平滑轨上，所述测试升降气缸设置于水平移动板上，所述测试升降气缸的推杆连接有升降传动臂，所述升降传动臂上开设有升降轨迹孔，所述升降传动臂连接有升降移动板，所述升降移动板上设置有升降导位柱，所述升降导位柱设置于升降轨迹孔内，所述水平移动板上设置有测试升降滑轨，所述升降移动板通过测试升降滑块设置于测试升降滑轨上，所述加热安装板设置于升降移动板上。

作为一种优选方案，所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述上下料组件包括上下料料框、上下料丝杆、上下料螺母、上下料电机，所述上下料电机设置于上下料料框的下方位置，所述上下料电机通过上下料皮带与上下料螺母传动连接，所述上下料丝杆套设于上下料螺母内，且上下料丝杆的上部从上下料料框的底部贯穿设置于上下料料框内。

作为一种优选方案，所述上下料组件处设置有移料盘组件，所述移料盘组件包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个上下料组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在上下料组件上做升降运动，所述移料夹爪用于上下料组件处夹取料盘。

作为一种优选方案，所述扫码组件包括扫码水平滑台、扫码安装座、扫码器，所述扫码安装座设置于扫码水平滑台上，所述扫码器通过扫码调节轴设置于扫码安装座上。

作为一种优选方案，所述旋转组件包括旋转驱动组件、旋转夹爪，所述旋转驱动组件驱动旋转夹爪做旋转运动，所述旋转夹爪处设置有旋转传感器，所述扫码器对旋转夹爪上的测试芯片进行扫码。

作为一种优选方案，所述芯片移载机构包括至少两组上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件、上下料运动组件，上下料吸嘴组件设置于吸嘴间距调节组件上，吸嘴间距调节组件设置于上下料运动组件上，所述上下料运动组件在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件运动；所述上下料吸嘴组件包括吸嘴安装件、吸嘴升降滑台、吸嘴，所述吸嘴安装件设置于吸嘴间距调节组件上，所述吸嘴升降滑台设置于吸嘴安装件上，所述吸嘴升降滑台上设置有吸嘴套筒，所述吸嘴套筒内通过限位轴设置有吸嘴套杆，所述吸嘴套杆外套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧位于吸嘴套杆与吸嘴套筒之间，所述吸嘴套杆沿吸嘴套筒外延伸与吸嘴相连接。

作为一种优选方案，所述上下料运动组件包括X向直线电机模组、第一Y向直线电机模组、第二Y向直线电机模组、Z向直线电机模组，所述X向直线电机模组的一端设置于第一Y向直线电机模组上，所述X向直线电机模组的另一端设置于第二Y向直线电机模组上，所述Z向直线电机模组设置于X向直线电机模组上，所述吸嘴间距调节组件设置于Z向直线电机模组上。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

(1)通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点；

(2)上下料吸嘴组件在水平方向实现间距的增大或缩小调整，适应性强，实现若干芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率，上下料吸嘴组件又设置单独的吸嘴升降滑台，可以单独对测试芯片进行上料或下料，吸附稳定性好，并设置有缓冲弹簧，减轻对测试芯片的损坏；

(3)通过扫码组件对若干测试芯片进行同时扫码，通过旋转模组调整测试芯片的测试方向、扫码方向，耗时短，效率高；

(4)芯片移载机构在X向、Y向、Z向上形成一龙门结构，X向、Y向、Z向均采用直线电机驱动方式，其中Y轴采用双驱动方式，重复定位精度高；

(5)测试机构在对测试芯片进行下压测试时，同步性好，测试时浮动压头在浮动弹簧的作用下与测试芯片软性触碰，防止测试芯片移位或者损坏。

附图说明

图1是本发明的立体图；

图2是本发明的俯视图；

图3是本发明中测试机构的结构示意图；

图4是本发明中测试机构的内部结构示意图；

图5是本发明中测试加热组件的结构示意图；

图6是本发明中上下料组件的结构示意图；

图7是本发明中扫码旋转机构的结构示意图；

图8是本发明中芯片移载机构的结构示意图；

图9是本发明中图8的A处放大图；

图10是本发明中上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件的结构示意图一；

图11是本发明中上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件的结构示意图二；

图12是本发明中移料盘组件的结构示意图；

其中附图标识列表：测试机台1、测试机构2、测试工装3、测试加热组件4、测试移动组件5、上下料机构6、料盘7、扫码旋转机构8、扫码组件9、旋转组件10、芯片移载机构11、测试底板12、测试板13、测试槽14、加热传感器15、加热安装板16、隔热板17、加热板体18、加热棒19、浮动弹簧20、浮动压块21、感温器22、过载保护器23、测试安装架24、测试升降气缸25、测试水平气缸26、水平移动板27、测试水平滑轨28、测试水平滑块29、升降传动臂30、升降轨迹孔31、升降移动板32、升降导位柱33、测试升降滑轨34、测试升降滑块35、竖直传动件36、传动臂37、升降臂38、升降水平滑轨39、升降水平滑块40、升降固定件41、上下料组件42、上下料料框43、上下料丝杆44、上下料螺母45、上下料电机46、上下料皮带47、待料上下料组件48、空料上下料组件49、分并上下料组件50、移料盘组件51、同步带直线模组52、移料升降气缸53、移料夹爪54、移料板55、移料气缸56、移料爪子57、扫码水平滑台58、扫码安装座59、扫码器60、扫码调节轴61、旋转驱动组件62、旋转夹爪63、旋转传感器64、旋转驱动电机65、旋转驱动主轮66、旋转驱动导向轮67、旋转驱动从轮68、旋转传动皮带69、上下料吸嘴组件70、吸嘴间距调节组件71、上下料运动组件72、吸嘴安装件73、吸嘴升降滑台74、吸嘴75、吸嘴套筒76、限位轴77、吸嘴套杆78、调节固定板79、调节导向板80、调节驱动组件81、传动连接件82、水平直线导轨83、竖直直线导轨84、调节导向槽85、X向直线电机模组86、第一Y向直线电机模组87、第二Y向直线电机模组88、Z向直线电机模组89。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

实施例：

如图1～12所示，一种芯片自动测试机，包括：

测试机台1，所述测试机台1上阵列设置有若干测试机构2，所述测试机构2包括测试工装3、测试加热组件4、测试移动组件5，所述测试工装3用于装载测试芯片，所述测试加热组件4设置于测试工装3的上方位置，所述测试移动组件5驱动测试加热组件4下压加热测试工装3上的测试芯片；

上下料机构6，所述上下料机构6设置于测试机台1的侧边，用于放置测试芯片的料盘7；

扫码旋转机构8，所述扫码旋转机构8包括扫码组件9、旋转组件10，所述扫码组件9用于对测试芯片扫码，所述旋转组件10用于调整测试芯片的方向；

芯片移载机构11，所述芯片移载机构11设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片；

所述芯片移载机构11从上下料机构6处取料放入至旋转组件10内，所述扫码组件9对测试芯片扫码，扫码结束所述芯片移载机构11从旋转组件10内取出测试芯片放入至测试机构2内进行测试，测试结束所述芯片移载机构11从测试工装3内取出测试芯片放入至上下料机构6处进行下料分料。

如图3～5所示，优选的，所述测试工装3包括测试底板12、测试板13，所述测试板13设置于测试底板12上，所述测试板13上开设有若干个放置测试芯片的测试槽14，所述测试槽14的底部内设置有测试探针(由于安装于构件内，图中并未示出)。

具体的，所述测试工装3上还设置有加热传感器15，用于感应测试槽14内测试芯片的位置。

更为优选的，所述测试加热组件4包括由上至下依次设置的加热安装板16、隔热板17、加热板体18，加热板体18内设置有加热棒19，所述加热板体18的底部通过浮动弹簧20连接有浮动压块21，所述浮动压块21位于测试槽14的上方位置。

具体的，所述加热板体18内还设置有感温器22，所述加热板体18外设置有过载保护器23，所述感温器22、过载保护器23与加热棒19电性连接。

更为具体的，本实施例中加热棒19最高可加热到150℃，当温度达到感温器22设置的温度时，过载保护器23自动停止加热棒19加热。

更为优选的，所述测试移动组件5包括测试安装架24、测试升降气缸25、测试水平气缸26，所述测试水平气缸26设置于测试安装架24上，所述测试水平气缸26的推杆连接有水平移动板27，所述测试安装架24上设置有测试水平滑轨28，所述水平移动板27通过测试水平滑块29设置于测试水平滑轨28上，所述测试升降气缸25设置于水平移动板27上，所述测试升降气缸25的推杆连接有升降传动臂30，所述升降传动臂30上开设有升降轨迹孔31，所述升降传动臂30连接有升降移动板32，所述升降移动板32上设置有升降导位柱33，所述升降导位柱33设置于升降轨迹孔31内，所述水平移动板27上设置有测试升降滑轨34，所述升降移动板32通过测试升降滑块35设置于测试升降滑轨34上，所述加热安装板16设置于升降移动板32上。

具体的，所述测试水平气缸26位于测试安装架24的中心位置，所述水平移动板27与测试安装架24平行设置，所述测试水平气缸26的推杆在水平方向上做往复运动，且所述测试水平气缸26的推杆通过竖直传动件36连接于水平移动板27的中心位置上。

更为具体的，所述测试升降气缸25位于水平移动板27的中心位置，所述测试升降气缸25的推杆在水平方向上做往复运动，且所述测试升降气缸25的推杆设置于升降传动臂30的中心位置上。

更为优选的，所述升降传动臂30包括一个传动臂37与两个升降臂38，两个升降臂38分别设置于传动臂37的两端，所述测试升降气缸25的推杆设置于传动臂37的中心位置，所述升降轨迹孔31开设于升降臂38上。

进一步的，所述测试水平滑块29在测试水平滑轨28的运动方向与水平移动板27的运动方向相同，所述测试升降滑块35在测试升降滑轨34的运动方向与升降移动板32的运动方向相同。

更进一步的，所述升降臂38的顶部设置有升降水平滑轨39，所述升降水平滑轨39上滑动设置有升降水平滑块40，所述升降水平滑块40上连接有升降固定件41，所述升降固定件41设置于水平移动板27上。

在实施时，将测试芯片放置于测试槽14内，加热传感器15感应到测试槽14内有测试芯片时，测试移动组件5驱动浮动压块21运动至测试芯片上方位置，测试移动组件5驱动浮动压块21向下运动下压测试芯片与测试探针紧密接触，进而对测试芯片进行测试。

如图6所示，优选的，所述上下料机构6包括至少一个上下料组件42，所述上下料组件42包括上下料料框43、上下料丝杆44、上下料螺母45、上下料电机46，所述上下料电机46设置于上下料料框43的下方位置，所述上下料电机46通过上下料皮带47与上下料螺母45传动连接，所述上下料丝杆44套设于上下料螺母45内，且上下料丝杆44的上部从上下料料框43的底部贯穿设置于上下料料框43内。

具体的，所述上下料电机46通过上下料皮带47驱动上下料螺母45，进而传动上下料丝杆44旋转，从而带动上下料料框43内的料盘7做升降运动。

更为具体的，在本实施例中，上下料组件42有若干组，分为待料上下料组件48、空料上下料组件49、分并上下料组件50，分并上下料组件50的料盘7用于分选测试完成的芯片，待料上下料组件48的料盘7用于放置待测试芯片，空料上下料组件49用于回收空的料盘7。

如图12所示，优选的，所述上下料组件42处设置有移料盘组件51，所述移料盘组件51包括同步带直线模组52、移料升降气缸53、移料夹爪54，所述同步带直线模组52驱动移料夹爪54在至少两个上下料组件42间运动，所述移料升降气缸53驱动移料夹爪54在上下料组件42上做升降运动，所述移料夹爪54用于上下料组件42处夹取料盘7。

具体的，所述移料夹爪54包括移料板55、移料气缸56、移料爪子57，所述移料气缸56固定设置于移料板55上，所述移料爪子57设置于移料气缸56的推杆上。

进一步的，所述移料气缸56有四个，每两个移料气缸56的移料爪子57形成一组夹爪结构。

如图7所示，优选的，所述扫码组件9包括扫码水平滑台58、扫码安装座59、扫码器60，所述扫码安装座59设置于扫码水平滑台58上，所述扫码器60通过扫码调节轴61设置于扫码安装座59上。

具体的，在本实施例中，所述扫码调节轴61为手动转轴调节。

优选的，所述旋转组件10包括旋转驱动组件62、旋转夹爪63，所述旋转驱动组件62驱动旋转夹爪63做旋转运动，所述旋转夹爪63处设置有旋转传感器64，所述扫码器60对旋转夹爪63上的测试芯片进行扫码。

具体的，所述旋转驱动组件62包括旋转驱动电机65、旋转驱动主轮66、旋转驱动导向轮67、旋转驱动从轮68，所述旋转驱动电机65与旋转驱动主轮66相连接，旋转驱动主轮66、旋转驱动导向轮67、旋转驱动从轮68通过旋转传动皮带69相连接，所述旋转夹爪63设置于旋转驱动从轮68上。

更为具体的，设置有旋转组件10时，当料盘7上的测试芯片的方向与测试工装3上的放置方向不一致时，可以通过旋转组件10进行方向调整，或者当扫码组件9上的扫码器60无法扫描到测试芯片上的条形码或二维码时，可以通过旋转组件10进行方向调整。

如图8～11所示，优选的，所述芯片移载机构11包括至少两组上下料吸嘴组件70、吸嘴间距调节组件71、上下料运动组件72，上下料吸嘴组件70设置于吸嘴间距调节组件71上，吸嘴间距调节组件71设置于上下料运动组件72上，所述上下料运动组件72在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件70运动；所述上下料吸嘴组件70包括吸嘴安装件73、吸嘴升降滑台74、吸嘴75，所述吸嘴安装件73设置于吸嘴间距调节组件71上，所述吸嘴升降滑台74设置于吸嘴安装件73上，所述吸嘴升降滑台74上设置有吸嘴套筒76，所述吸嘴套筒76内通过限位轴77设置有吸嘴套杆78，所述吸嘴套杆78外套设有缓冲弹簧(图中并未示出)，所述缓冲弹簧位于吸嘴套杆78与吸嘴套筒76之间，所述吸嘴套杆78沿吸嘴套筒76外延伸与吸嘴75相连接。

具体的，所述上下料吸嘴组件70有若干组，若干组上下料吸嘴组件70可以在水平方向上等间距运动，从而根据测试芯片之间的间距调整，由于每组上下料吸嘴组件70上单独设置有吸嘴升降滑台74，进而带动每组上下料吸嘴组件70上的吸嘴75单独升降运动，本发明采用吸嘴升降滑台74，吸附测试芯片更加的稳定，当吸嘴75触碰到测试芯片进行吸附时，缓冲弹簧起到缓冲作用，减轻对测试芯片的损坏。

更为具体的，所述吸嘴间距调节组件71包括调节固定板79、调节导向板80、调节驱动组件81、传动连接件82，所述调节固定板79上贯穿开设有水平通孔(图中并未示出)，且调节固定板79的一侧固定设置有水平直线导轨83、调节固定板79的另一侧设置有竖直直线导轨84；所述吸嘴安装件73滑动设置于水平直线导轨83上；所述调节导向板80滑动设置于竖直直线导轨84上；所述调节导向板80上开设有若干呈扇形状分散的调节导向槽85，所述传动连接件82的一端与吸嘴安装件73固定连接、传动连接件82的另一端延伸穿过水平通孔设置于调节导向槽85内；所述调节驱动组件81驱动调节导向板80在竖直直线导轨84上运动，进而通过传动连接件82带动上下料吸嘴组件70在水平直线导轨83上运动。

进一步的，所述调节驱动组件81为伺服电机加丝杆结构，此处不再一一赘述。

优选的，所述上下料运动组件72包括X向直线电机模组86、第一Y向直线电机模组87、第二Y向直线电机模组88、Z向直线电机模组89，所述X向直线电机模组86的一端设置于第一Y向直线电机模组87上，所述X向直线电机模组86的另一端设置于第二Y向直线电机模组88上，所述Z向直线电机模组89设置于X向直线电机模组86上，所述吸嘴间距调节组件71设置于Z向直线电机模组89上。

具体的，X向直线电机模组86、第一Y向直线电机模组87、第二Y向直线电机模组88、Z向直线电机模组89在X向、Y向、Z向上形成一龙门结构，X向、Y向、Z向均采用直线电机驱动方式，其中Y轴采用双驱动方式，重复定位精度高。

具体实施时，先芯片移载机构11从待料上下料组件48的料盘7上进行取料，放置旋转组件10上准备扫码，扫码组件9对旋转组件10上的测试芯片进行扫码，芯片移载机构11从旋转组件10上取测试芯片放置测试机构2中进行测试，测试结束后芯片移载机构11将测试机构2中的测试芯片取回放置上下料机构6处，根据测试机构2测试结果将测试完成的测试芯片分选放入分并上下料组件50的料盘7内，重复以上动作，当待料上下料组件48的料盘7上的测试芯片被取完后，移料盘组件51夹取空料盘7回收至空料上下料组件49上。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种芯片自动测试机，其特征在于，包括：

测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件，所述测试工装用于装载测试芯片，所述测试加热组件设置于测试工装的上方位置，所述测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试工装上的测试芯片；

上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；

扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件，所述扫码组件用于对测试芯片扫码，所述旋转组件用于调整测试芯片的方向；

芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片；

所述芯片移载机构从上下料机构处取料放入至旋转组件内，所述扫码组件对测试芯片扫码，扫码结束所述芯片移载机构从旋转组件内取出测试芯片放入至测试机构内进行测试，测试结束所述芯片移载机构从测试工装内取出测试芯片放入至上下料机构处进行下料分料；

所述测试工装包括测试底板、测试板，所述测试板设置于测试底板上，所述测试板上开设有若干个放置测试芯片的测试槽，所述测试槽的底部内设置有测试探针；

所述测试加热组件包括由上至下依次设置的加热安装板、隔热板、加热板体，加热板体内设置有加热棒，所述加热板体的底部通过浮动弹簧连接有浮动压块，所述浮动压块位于测试槽的上方位置；

所述测试移动组件包括测试安装架、测试升降气缸、测试水平气缸，所述测试水平气缸设置于测试安装架上，所述测试水平气缸的推杆连接有水平移动板，所述测试安装架上设置有测试水平滑轨，所述水平移动板通过测试水平滑块设置于测试水平滑轨上，所述测试升降气缸设置于水平移动板上，所述测试升降气缸的推杆连接有升降传动臂，所述升降传动臂上开设有升降轨迹孔，所述升降传动臂连接有升降移动板，所述升降移动板上设置有升降导位柱，所述升降导位柱设置于升降轨迹孔内，所述水平移动板上设置有测试升降滑轨，所述升降移动板通过测试升降滑块设置于测试升降滑轨上，所述加热安装板设置于升降移动板上；

所述扫码组件包括扫码水平滑台、扫码安装座、扫码器，所述扫码安装座设置于扫码水平滑台上，所述扫码器通过扫码调节轴设置于扫码安装座上；

所述旋转组件包括旋转驱动组件、旋转夹爪，所述旋转驱动组件驱动旋转夹爪做旋转运动，所述旋转夹爪处设置有旋转传感器，所述扫码器对旋转夹爪上的测试芯片进行扫码；

所述芯片移载机构包括至少两组上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件、上下料运动组件，上下料吸嘴组件设置于吸嘴间距调节组件上，吸嘴间距调节组件设置于上下料运动组件上，所述上下料运动组件在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件运动；所述上下料吸嘴组件包括吸嘴安装件、吸嘴升降滑台、吸嘴，所述吸嘴安装件设置于吸嘴间距调节组件上，所述吸嘴升降滑台设置于吸嘴安装件上，所述吸嘴升降滑台上设置有吸嘴套筒，所述吸嘴套筒内通过限位轴设置有吸嘴套杆，所述吸嘴套杆外套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧位于吸嘴套杆与吸嘴套筒之间，所述吸嘴套杆沿吸嘴套筒外延伸与吸嘴相连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述上下料组件包括上下料料框、上下料丝杆、上下料螺母、上下料电机，所述上下料电机设置于上下料料框的下方位置，所述上下料电机通过上下料皮带与上下料螺母传动连接，所述上下料丝杆套设于上下料螺母内，且上下料丝杆的上部从上下料料框的底部贯穿设置于上下料料框内。

3.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述上下料组件处设置有移料盘组件，所述移料盘组件包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个上下料组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在上下料组件上做升降运动，所述移料夹爪用于上下料组件处夹取料盘。

4.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述上下料运动组件包括X向直线电机模组、第一Y向直线电机模组、第二Y向直线电机模组、Z向直线电机模组，所述X向直线电机模组的一端设置于第一Y向直线电机模组上，所述X向直线电机模组的另一端设置于第二Y向直线电机模组上，所述Z向直线电机模组设置于X向直线电机模组上，所述吸嘴间距调节组件设置于Z向直线电机模组上。