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CN116203342B - 一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法 - Google Patents

一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法 Download PDF

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CN116203342B
CN116203342B CN202310470806.6A CN202310470806A CN116203342B CN 116203342 B CN116203342 B CN 116203342B CN 202310470806 A CN202310470806 A CN 202310470806A CN 116203342 B CN116203342 B CN 116203342B
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temperature
temperature value
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虞从军
李明聪
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Chengdu Cavt Technology Co ltd
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Chengdu Cavt Technology Co ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00—Control of temperature
    • G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)

Abstract

本发明提供了一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，涉及器件测试技术领域，本发明通过采集高低温实验箱的当前温度数据，确定当前温度值，在高温实验时，驱动加热设备进行加热，在低温实验时，驱动制冷设备进行制冷，在温度达到目标温度后，通过温度控制模型对制冷设备或加热设备进行稳定控制，实现高低温实验箱中温度的稳定。

Description

一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法
技术领域
本发明涉及器件测试技术领域，具体而言，涉及一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法。
背景技术
在器件生产完成后，需要进行高低温实验，以排除劣质器件。在高低温实验时，将器件放入高低温实验箱中，进行高温或者低温环境测试，不稳定的器件在高温或者低温环境测试中会损坏，从而淘汰损坏器件。但是由于器件本身材料的特殊性，在温度过高或者过低时，会损坏器件本身的材料，造成器件浪费。
发明内容
针对现有技术中的上述不足，本发明提供的一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法解决了高低温实验箱中温度不稳定的问题。
为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，包括：
将器件放入高低温实验箱中，采集高低温实验箱的当前温度数据，计算当前温度值；
设定高低温实验箱的目标温度值；
在高温实验时，基于当前温度值和目标温度值，驱动高低温实验箱中的加热设备进行加热；
在低温实验时，基于当前温度值和目标温度值，驱动高低温实验箱中的制冷设备进行制冷；
在当前温度值等于目标温度值时，基于温度控制模型，对制冷设备或加热设备进行稳定控制。
进一步地，所述计算当前温度值包括：
对当前温度数据进行去噪处理，得到去噪数据；
根据去噪数据，计算当前温度值。
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本发明实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果：本发明通过采集高低温实验箱的当前温度数据，确定当前温度值，在高温实验时，驱动加热设备进行加热，在低温实验时，驱动制冷设备进行制冷，在温度达到目标温度后，通过温度控制模型对制冷设备或加热设备进行稳定控制，实现高低温实验箱中温度的稳定。
附图说明
图1为一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
如图1所示，一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，包括以下步骤：
S1、将器件放入高低温实验箱中，采集高低温实验箱的当前温度数据，计算当前温度值；
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在温差越大时，电功率越高，加热和制冷功率大，加热和制冷速度快，但随着制冷时间或者加热时间的延长，温度也逐渐逼近目标温度，电功率逐渐减小，使得高低温实验箱中温度不会过低或过高，避免超过器件材料的承受范围，起到保护器件的作用。
当前温度值在达到目标温度值或者超过目标温度值时，采用S5的技术方案对制冷设备或加热设备进行稳定控制。
S5、在当前温度值等于目标温度值时，基于温度控制模型，对制冷设备或加热设备进行稳定控制。
在本实施例中，在高温实验时，S5中基于温度控制模型，对加热设备进行稳定控制。在低温实验时，S5中基于温度控制模型，对制冷设备进行稳定控制。
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的反馈，增强模型的稳定性。
本发明实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果：本发明通过采集高低温实验箱的当前温度数据，确定当前温度值，在高温实验时，驱动加热设备进行加热，在低温实验时，驱动制冷设备进行制冷，在温度达到目标温度后，通过温度控制模型对制冷设备或加热设备进行稳定控制，实现高低温实验箱中温度的稳定。
以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，其特征在于，包括：
将器件放入高低温实验箱中，采集高低温实验箱的当前温度数据，计算当前温度值；
设定高低温实验箱的目标温度值；
在高温实验时，基于当前温度值和目标温度值，驱动高低温实验箱中的加热设备进行加热；
在低温实验时，基于当前温度值和目标温度值，驱动高低温实验箱中的制冷设备进行制冷；
在当前温度值等于目标温度值时，基于温度控制模型，对制冷设备或加热设备进行稳定控制；
所述在高温实验时，基于当前温度值和目标温度值，驱动高低温实验箱中的加热设备进行加热包括：
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2.根据权利要求1所述的基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，其特征在于，所述计算当前温度值包括：
对当前温度数据进行去噪处理，得到去噪数据；
根据去噪数据，计算当前温度值。
3.根据权利要求2所述的基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，其特征在于，所述去噪公式为：
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4.根据权利要求2所述的基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法，其特征在于，所述计算当前温度值的公式为：
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CN202310470806.6A 2023-04-27 2023-04-27 一种基于高低温实验箱的器件测试过程的温度控制方法 Active CN116203342B (zh)

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Denomination of invention: A Temperature Control Method for Device Testing Process Based on High and Low Temperature Experimental Boxes

Granted publication date: 20230707

Pledgee: China Minsheng Banking Corp Chengdu branch

Pledgor: CHENGDU CAVT TECHNOLOGY CO.,LTD.

Registration number: Y2024980015593