CN114577455B - 一种光模块解锁功能检测装置及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及通信技术领域,提供了一种光模块解锁功能检测装置及其使用方法,包括限位组件和抵压组件,所述限位组件用于将光模块固定并允许光模块主体从光模块的安装笼中拔出;所述抵压组件用于对光模块的解锁弹片向内施压,使解锁弹片在未被光模块的拉环联动装置挤压解锁前与光模块卡口扣紧,且在光模块的拉环联动装置挤压解锁过程中,抵压组件持续对解锁弹片施加压力,从而使解锁弹片不因金属疲劳而影响光模块解锁功能的检测。本发明通过对解锁弹片施压,使解锁弹片与光模块卡口扣紧,从而使在光模块的解锁功能检测过程中,能够排除解锁弹片金属疲劳的影响,保证光模块的解锁功能检测的有效性。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域,特别是涉及一种光模块解锁功能检测装置及其使用方法。
背景技术
近年来,随着通信技术中光网络的蓬勃发展,作为光网络中的重要组成器件,光模块的使用数量也成几何倍数增加,光模块外侧通常设置有安装笼对光模块的主体进行保护,安装笼上安装有解锁弹片,解锁弹片通过与光模块主体上的卡口的限位进行锁定,当需要将光模块主体从安装笼中拔出时,则通过光模块上的拉环联动装置挤压解锁弹片,使其脱离光模块主体上的卡口,从而使得光模块主体不再受到限位控制,能够自由拔出。
在当前技术中,光模块的拉环联动装置通常由钣金件加工而来,钣金件的加工通常存在一定的公差,但批量生产时无法对这一公差进行批量测试,故在出厂的光模块中,可能存在拉环联动装置对解锁弹片的按压程度不充足,以至于解锁弹片无法脱离光模块主体上的卡口,从而导致光模块无法解锁。为此,在出厂前,通常需要对光模块进行解锁的检测,即使用拉环联动装置对解锁弹片进行挤压,测试能否拔出光模块。但由于安装笼上的解锁弹片通常为金属材料制成,存在一定的金属疲劳,若生产使用经过一定次数后,可能导致解锁弹片出现疲劳而失去弹力,造成解锁弹片无法对光模块本体上的卡口进行卡位,或在未达到预设的按压力度时,解锁弹片已脱离卡口,导致在对光模块进行解锁的检测时,无法达到有效的检测效果。
鉴于此,克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例要解决的技术问题是解锁弹片的金属疲劳对光模块的解锁功能检测产生影响,导致光模块的解锁功能检测失效。
本发明提供了一种光模块解锁功能检测装置,包括限位组件1和抵压组件2,具体的:所述限位组件1用于将光模块固定并允许光模块主体从光模块的安装笼中拔出;所述抵压组件2用于对光模块的解锁弹片3向内施压,使解锁弹片3在未被光模块的拉环联动装置挤压解锁前与光模块卡口扣紧,且在光模块的拉环联动装置挤压解锁过程中,抵压组件2持续对解锁弹片3施加压力,从而使解锁弹片3不因金属疲劳而影响光模块解锁功能的检测。
优选的,所述限位组件1包括底座11和固定在底座11上的限位壳体12,具体的:所述限位壳体12内部结构与光模块的安装笼结构适配,用于在光模块插入时固定光模块,同时允许光模块主体从安装笼中拔出;所述限位壳体12上留有通孔120,所述通孔120与解锁弹片3相对设置,供抵压组件2接触解锁弹片3并进行施压。
优选的,所述抵压组件2包括转杆21、抵压臂22和施压组件23,具体的:所述转杆21通过转轴连接在限位组件1上方,所述抵压臂22设置在转杆21下方,所述施压组件23用于对转杆21施加向下的力,使抵压臂22的一端与解锁弹片3接触并进行施压。
优选的,所述施压组件23包括:安装在转杆21上方和/或下方的负重块230,通过负重块230的重力对转杆21施加向下的力,使抵压臂22对解锁弹片3向内施压。
优选的,所述施压组件23还包括安装在底座11上的电磁体231和调控组件232,具体的:所述电磁体231与负重块230相对设置,所述调控组件232用于改变电磁体231对负重块230的磁吸力的大小,以控制对解锁弹片3施加的压力的大小。
优选的,所述调控组件232包括压力传感器2320和处理模块2321,具体的:所述压力传感器2320安装在所述抵压臂22的一端,与解锁弹片3接触,从而感知对解锁弹片3所施加的压力的大小;所述处理模块2321根据压力传感器2320所测压力的大小,改变电磁体231对负重块230的磁吸力的大小,从而将对解锁弹片3施加的压力的大小控制在预设范围内。
优选的,所述负重块230由磁性材料制成。
优选的,所述抵压组件2的数量为两个,分别为第一抵压组件和第二抵压组件,所述第一抵压组件和第二抵压组件分别设置于光模块的两侧,以对光模块两侧的解锁弹片3分别施加压力。
优选的,所述装置还包括校对模块4,具体的:所述校对模块4结构与光模块主体结构相同,并在对应的光模块卡口位置,使用压力传感器41替代,所述压力传感器41用于检测解锁弹片3是否与校对模块4扣紧,根据解锁弹片3与校对模块4扣紧时解锁弹片3所受到的压力大小对抵压组件2进行校正,使校正后的抵压组件2能够使解锁弹片3与光模块卡口扣紧。
本发明还提供了一种光模块解锁功能检测装置的使用方法,所述方法包括:
在一批光模块中,选择一个或多个光模块,由本领域技术人员进行测试或分析得出该批光模块中所需施加给解锁弹片3的压力的大小,并对抵压组件2施加给解锁弹片3的压力的大小进行设定。
将光模块插入到限位壳体12中进行固定,再通过抵压组件2对解锁弹片3进行施压,使解锁弹片3与光模块卡口扣紧。
通过光模块的拉环联动装置挤压解锁弹片3,尝试能否将光模块主体从安装笼上拔出;若能够拔出,则说明光模块的解锁功能正常;否则,说明光模块的解锁功能不正常。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:本发明通过对解锁弹片施压,使解锁弹片与光模块卡口扣紧,从而使在光模块的解锁功能检测过程中,能够排除解锁弹片金属疲劳的影响,保证光模块的解锁功能检测的有效性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置的爆炸图;
图2是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置的正视图;
图3是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置的左视图;
图4是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置中抵压组件的正视图;
图5是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置的正视图;
图6是本发明实施例提供的一种光模块解锁功能检测装置中校正模块的右视图;
图7是本发明实施例提供的一种远程服务器对光模块解锁功能检测装置的抵压组件与校对模块进行统一管理时的示意图。
在所有附图中,附图标记如下,其中:
1、限位组件;11、底座;12、限位壳体;120、通孔;2、抵压组件;21、转杆;22、抵压臂;23、施压组件;230、负重块;231、电磁体;232、调控组件;2320、压力传感器;2321、处理模块;2322、收发模块;3、解锁弹片;4、校对模块;41、传感器;42、处理模块;43、收发模块。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
在本发明的描述中,术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明而不是要求本发明必须以特定的方位构造和操作,因此不应当理解为对本发明的限制。
在本发明中类似“A和/或B”的表述,其实际含义是实现方式中可以是以A作为对象方式实现,也可以是B作为对象方式实现,还可以是A和B组合的对象方式实现,而其中的A和B也可以根据具体描述场景的需求被替换为具体的主体名称对象。
此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
实施例1:
本发明实施例1提供了一种光模块解锁功能检测装置,包括:限位组件1和抵压组件2,如图1与图2所示,具体的:所述限位组件1用于将光模块固定并允许光模块主体从光模块的安装笼中拔出;所述抵压组件2用于对光模块的解锁弹片3向内施压,使解锁弹片3在未被光模块的拉环联动装置挤压解锁前与光模块卡口扣紧,且在光模块的拉环联动装置挤压解锁过程中,抵压组件2持续对解锁弹片3施加压力,从而使解锁弹片3不因金属疲劳而影响光模块解锁功能的检测。
其中,所述抵压组件2用于对光模块的解锁弹片3向内施压时,所施加的压力是在光模块正常工作时,光模块的拉环联动装置拉动解锁弹片3以使光模块解锁时,对解锁弹片3所施加的力的大小。当解锁弹片3出现金属疲劳时,其内壁可能无法与光模块卡口进行接触或仅通过极小的拉动便能够使解锁弹片3与卡口脱离,故通过对解锁弹片3施压,实现解锁弹片3与卡口的固定,使在进行光模块解锁功能测试时,若光模块的拉环联动装置无法克服抵压组件2对解锁弹片3施加的压力,则无法解锁,从而有效检测光模块的解锁功能。
本实施例通过对解锁弹片3进行抵压,从而排除解锁弹片3金属疲劳的影响,使光模块的解锁功能能够得到有效的检测。
在上述实施例中,所述限位组件1的一种常见的实现方式是使用能够与光模块的安装笼适配的上壳体以及用于固定上壳体的底座,上壳体与底座之间通过螺丝连接,从而实现光模块的固定限位。此实现方式限位效果好,适用于实际组件生产,但在本实施例的检测装置中,由于一个装置可能需要用于多个光模块的解锁功能的检测,故还需要考虑光模块安装时的便利性,而在上述实现方法中,在安装光模块和卸下光模块时,均需拧松或拧紧螺丝,增加了测试时间,耗费了额外的人力,故针对限位组件1,存在一种优选的实现方式,如图2与图3所示,所述限位组件1包括底座11和固定在底座11上的限位壳体12,具体的:所述限位壳体12内部结构与光模块的安装笼结构适配,用于在光模块插入时固定光模块,同时允许光模块主体从安装笼中拔出;所述限位壳体12上留有通孔120,所述通孔120与解锁弹片3相对设置,供抵压组件2接触解锁弹片3并进行施压。
本实施例通过带有通孔120的限位壳体12对光模块进行插入固定的方式,使在进行多个光模块的解锁测试时,能够方便更换光模块,而无需对限位组件1进行拆卸。
在上述实施例中,所述抵压组件2通常由弹簧实现,通过在解锁弹片3外侧设置一压缩后的弹簧,弹簧的另一端连接到一固定面,通过弹簧对解锁弹片3的弹力,实现对解锁弹片3向内施压,同时保障解锁弹片3可通过拉环联动装置实现与卡口脱离解锁。但为了使解锁弹片3在受到向内的力后能够与卡口扣紧,需选择适当的弹簧以使施加的力适当,但由于解锁弹片3通常为金属制且具有一定的厚度,故需要对其施加的弹力较大,即弹簧压缩的程度较大,从而极易弹开而造成安装不便,故对抵压组件2,存在一种优选的实施例,如图2与图4所示,即所述抵压组件2包括转杆21、抵压臂22和施压组件23,具体的:所述转杆21通过转轴连接在限位组件1上方,所述抵压臂22设置在转杆21下方,所述施压组件23用于对转杆21施加向下的力,使抵压臂22的一端与解锁弹片3接触并进行施压。
其中,所述施压组件23可以是绳索、拉环等拉扯装置,通过向下拉扯转杆21,使抵压臂22对解锁弹片3施加压力。由于抵压臂22与解锁弹片3进行接触,为了防止抵压臂22对解锁弹片3施力而损伤解锁弹片3,一种优选的实现方式是将抵压臂22的一端设置为光滑半球面,以使抵压臂22不存在能够造成解锁弹片3损伤的尖锐施力点。
所述抵压臂22可以是圆弧状,也可以是折形,凡是能够使抵压臂22的一端与解锁弹片3接触从而施加压力的结构均应包含在本发明的保护范围内。
为了保证抵压臂22对解锁弹片3施加的力能够尽可能地与解锁弹片3表面垂直,可将转杆21设置为与光模块的底面平行的同时与光模块的中轴线垂直。
在所述转杆21与限位组件1所连接的转轴周围,应留有空隙以供转杆21上下转动,通过与上述实施例的结合,作为一种优选的实现方式,可在限位壳体12上方设置用于安装转轴的转轴座,用于安装转轴。
结合上述优选的实施例,由于所述抵压臂22需通过限位壳体上的通孔120实现与解锁弹片3的接触,为使抵压臂22能够伸入通孔120内并且能够容许抵压臂22施压时发生的移位,需使通孔120尺寸稍大于抵压臂22的粗细尺寸,但为了使通孔120正对解锁弹片3,通孔120的尺寸通常小于解锁弹片3的尺寸,由此导致通孔120过小,为了确保抵压臂22能够插入通孔120,需同样缩小抵压臂22的施力端的粗细尺寸,但由于抵压臂22一方面受到来自转杆21的力,一方面还对解锁弹片3施加压力,若抵压臂22过细,可能导致抵压臂22变形或无法承受对应的力而损坏,故存在一种优选的实现方式是仅将抵压臂22中用于与解锁弹片3接触的一端的端部变细,从而使抵压臂22能够承力的同时能够插入通孔120对解锁弹片3施压。
本实施例通过转杆21和抵压臂22实现与解锁弹片3的接触,再通过施压组件23进行施压,通过将转杆21向上转,可使抵压臂22不与解锁弹片3接触,从而能够方便地更换光模块,在光模块固定后,将转杆21向下转,可使抵压臂22与解锁弹片3相接触并能够通过施压组件23进行施压,通过此优选实施例在对多个光模块进行检测时,无需对抵压组件2重复安装,简化了检测流程。
在实际情况中,一个装置可能需要用于多个规格或多个批次的光模块的解锁功能的检测,对于不同的光模块,所需施加给转杆21的力可能不同,而在上述实施例中,所述施压组件23通过对转杆21施力以实现抵压臂22对解锁弹片3的施压,如上所述其最常见的实现方式是通过绳索或拉环等对转杆21的拉扯实现,但绳索或拉环均需通过人为拉扯,或通过将其一端固定在第三固定面上并调整绳索的长度才能够实现对转杆21施力,通过人为拉扯的方式需耗费人力,且无法保证施加给转杆21的力的大小稳定,而通过一端固定的方式需第三固定面的参与,其安装调节均不够灵活便捷,且施加于转杆21的力的大小同样难以量化控制,故针对施压组件23,如图5所示,存在一种优选的实现方式,即所述施压组件23包括:安装在转杆21上方和/或下方的负重块230,通过负重块230的重力对转杆21施加向下的力,使抵压臂22对解锁弹片3向内施压。
本实施例通过负重块230自身的重力对转杆21施压的方式,使对转杆21施力的过程无需经由第三固定面的参与即可实现,且通过改变负重块230的重量,可直接改变施加给转杆21的力,所施加的力的大小易于控制,调节也更灵活便捷。
作为一种更优选的方式,可在转杆21下方安装挂钩或负重盘,将负重块230挂在挂钩上或放置在负重盘中,通过选择不同的负重块230以改变施加于转杆21的力的大小,也可通过将负重块230设置为多个磁性小负重块230,将其中一个以螺钉等方式固定在转杆21上方或下方,通过增减小负重块230的数量,改变施加于转杆21的力的大小。
本优选的实现方式通过使用负重块230的自重对转杆21施力的方式,使施加于转杆21的力可被实体量化,即转杆21所受到的力即为负重块230的重力,从而在需对多规格或多批次的光模块的解锁弹片3施加不同压力时,可直接通过更换不同重量的负重块230实现。
在上述实施例中,虽能够通过更换负重块230改变施加的力的大小,但其所需施加的力与所需采用的负重块230之间的重量仍需人为转换计算,且可选的负重块230的数量必然有限,无法实现高精度的施力大小调节,故在上述优选的实现方式的基础上,本发明还提出了一种高精度自动调节施力大小的优选实施例,如图5所示,即所述施压组件23还包括安装在底座11上的电磁体231和调控组件232,具体的:所述电磁体231与负重块230相对设置,所述调控组件232用于改变电磁体231对负重块230的磁吸力的大小,以控制对解锁弹片3施加的压力的大小。
其中,所述负重块230由铁、钴、镍等磁性材料制成,或所述负重块230可以是由一种或多种磁性材料制成,也可通过在非磁性材料中加入磁性材料制成。所述电磁体231可以是直流电磁铁或交流电磁铁。所述调控组件232可以是简单的控制装置,仅用于控制电磁体231的磁吸力的大小,还可以是设定对解锁弹片3所需施加的压力的大小,根据解锁弹片3所需施加的压力的大小计算得到所应控制的磁吸力的大小。结合负重块230的选择,还存在一种更优的实现方式为控制电磁体231对负重块230的磁力的方向,即通过对负重块230的电磁吸力对解锁弹片3施加压力,改变磁力的方向,通过对负重块230的电磁斥力使转杆21向上转动,使光模块易于被拔出更换。
通过与上述优选的实施例的结合,为了使磁吸力更充分地作用于转杆,可选择将负重块230设置在转杆21的下方,以使电磁体231与负重块230之间距离最近且无阻隔,从而使磁吸力充分被利用。同时,可将限位壳体12设计为磁隔离罩,以避免电磁体231对光模块内部的器件产生影响。
本优选的实现方式通过使用电磁体231对负重块230的磁吸力,控制施加于转杆21的力的大小,从而进一步控制施加于解锁弹片3的力的大小,通过电磁体231无需更换负重块230,即可实现更精细的压力控制,从而适用于任何规格或批次的光模块。
在上述优选实施例中,电磁体231的电磁力的精确控制主要是施加于负重块230和转杆21,并非直接施加于解锁弹片3,而是经由抵压臂22的接触转换从而产生对解锁弹片3的压力,故在上述优选实施例的基础上,为了实现对解锁弹片3所施加压力的精准控制,对所述调控组件232,存在一种优选的实施例,即如图5所示,所述调控组件232包括压力传感器2320和处理模块2321,具体的:所述压力传感器2320安装在所述抵压臂22的一端,与解锁弹片3接触,从而感知对解锁弹片3所施加的压力的大小;所述处理模块2321根据压力传感器2320所测压力的大小,改变电磁体231对负重块230的磁吸力的大小,从而将对解锁弹片3施加的压力的大小控制在预设范围内。
其中,所述压力传感器2320可以是陶瓷压力传感器。所述预设范围是由本领域技术人员根据待检测的光模块的解锁弹片3与光模块卡口脱离时所需力的大小分析得出的。所述改变电磁体231对负重块230的磁吸力的大小,具体为改变流经电磁体231线圈的电流大小。
其中,由于在通过拉环联动装置对光模块进行解锁的过程中,解锁弹片3会被出现向外侧的形变,以脱离光模块的卡口,相应的转杆21会被抵压臂22带动向上转动,由于磁吸力方向始终向下,当转杆21转动时,施加于解锁弹片3的力的大小会因力臂的变化产生变化。而在本优选实施例中,通过压力传感器2320直接测量对解锁弹片3施加的压力的大小,将所测量的大小反馈给处理模块2321,处理模块2321据此改变磁吸力的大小,由此过程所形成的反馈回环能够实时感知对解锁弹片3的压力而将其维持在恒定大小,而不随解锁过程中解锁弹片3的形变而改变。从而能够检验拉环联动装置是否能够克服此恒定力将光模块解锁,优化光模块解锁的检测效果。
在实际情况中,解锁弹片3在解锁过程中对拉环联动装置所施加的压力可能随解锁弹片3的形变而产生变化,故更存在一种优化的压力控制的实现方式为,通过测量标准光模块的解锁弹片3在解锁过程中对拉环联动装置所施加的压力,得到该过程中所施加压力的变化趋势,通过处理模块2321与压力传感器2320所形成的反馈回环控制磁吸力的大小,从而模拟标准光模块解锁过程中的压力,使解锁功能检测过程更接近实际解锁过程,从而优化光模块解锁的检测效果。
本优选的实施例通过传感器检测形成调节反馈回环的方式可直接使施加于解锁弹片3的力受到控制,从而对多批次或多规格的光模块,可直接通过设置所需施加给解锁弹片3的压力的大小,即设置预设范围对磁吸力进行控制,而无需人为对磁吸力与施加给解锁弹片3的压力进行转换,且能够更优地保持施加给解锁弹片3的压力的稳定性,优化光模块解锁的检测效果。
在实际情况中,由于光模块分别在两侧均有一个卡口,对应的解锁弹片3数量同样为两个,在上述实施例中,需通过两个检测装置分别检测两侧的解锁弹片3,其加大了检测的复杂度的同时,也增加了物料成本,对此,存在以下优选的实现方式:
所述抵压组件2的数量为两个,分别为第一抵压组件和第二抵压组件,所述第一抵压组件和第二抵压组件分别设置于光模块的两侧,以对光模块两侧的解锁弹片3分别施加压力。
所述分别设置于光模块的两侧具体为第一抵压组件中的抵压臂22与光模块左侧的解锁弹片3抵接,第二组件中的抵压臂22与光模块右侧的解锁弹片3抵接。第一抵压组件与第二抵压组件可通过同一个转轴与限位组件1连接。当使用同一个转轴进行连接时,为了保证第一抵压组件与第二抵压组件均可绕转轴转动而不相互制约,所述第一抵压组件与所述第二抵压组件应在转轴上交互错位安装。
在实际情况中,可能存在光模块两侧的解锁弹片3并非对称设置的情况,当第一抵压组件和第二抵压组件通过一个转轴进行连接时,可通过对抵压臂的结构的调整,使第一抵压组件和第二抵压组件的抵压臂均能够对相应的解锁弹片3进行施压。
本优选的实现方式通过在左右两侧各设置一个抵压组件的方式,使光模块两侧的解锁弹片3可同时进行解锁功能检测,简化检测流程,节省人力物力。且两个抵压组件互不影响,可对两侧的解锁弹片3分别施加不同大小的压力进行解锁功能检测,可适应两侧解锁弹片3不同的光模块的解锁功能检测。
在上述实施例中,应施加给解锁弹片3的力的大小是本领域技术人员分析得出的,对于不同批次的光模块,施加给解锁弹片3的力的大小可能不同,其大量的分析过程可能耗费技术人员的时间与精力,且若施加给解锁弹片3的压力过小,可能出现解锁弹片3与光模块卡口未扣紧的情况,从而导致光模块解锁功能检测无效,若施加给解锁弹片3的压力过大,则可能导致解锁弹片3或光模块卡口损坏,甚至对光模块主体产生影响。
故还存在以下优选的实施例,即所述装置还包括校对模块4,如图6所示为校对模块4的左视图,具体的:所述校对模块4结构与光模块主体结构相同,并在对应的光模块卡口位置,使用压力传感器41替代,所述压力传感器41用于检测解锁弹片3是否与校对模块4扣紧,根据解锁弹片3与校对模块4扣紧时解锁弹片3所受到的压力大小对抵压组件2进行校正,使校正后的抵压组件2能够使解锁弹片3与光模块卡口扣紧。
其中,所述测量解锁弹片3所受到的压力的大小可以是直接通过抵压组件2进行测量得到的,也可通过其他方式测量得到。
本优选实施例通过与光模块主体结构相同的校对模块4对光模块卡口所施加的压力大小进行测定,从而使抵压组件2能够对解锁弹片3施加合适的力,从而避免抵压组件2所施加压力过小而无法使解锁弹片3与光模块扣紧,或抵压组件2施加压力过大而导致解锁弹片3或光模块卡口损坏。
在上述实施例中,由校对模块4测定后,还需要对抵压组件2进行设置,才能够控制对解锁弹片3所施加的压力的大小,而在实际生产测试过程中,通常需要对大量的光模块进行解锁功能检测,而在上述实施例中,每使用校对模块4进行测定,均需人为对抵压组件2进行设置,此过程耗费人力,且在大量流水线的作业过程中,极有可能出现失误,导致光模块解锁功能检测无效,对此,通过与上述优选的实施例结合,还存在一种优选的实现方式,如图7所示,具体为:
将校对模块4与抵压组件2通过远程服务器进行统一管理,并提供终端对检测人员进行提示操作。
如图5所示,所述调控组件232还包括收发模块2322,远程服务器通过所述收发模块2322控制所述抵压组件2对解锁弹片3递增施压,直至抵压组件2的压力传感器41所得的压力值高于预设压力值,则认为解锁弹片3已与校对模块4扣紧。如图6所示,所述校对模块4还包括处理模块42和收发模块43,处理模块42用于接收压力传感器41所测压力值,并通过收发模块43将所测压力值发送给远程服务器。远程服务器判断解锁弹片3与校对模块4扣紧后,远程服务器控制抵压组件2停止施压,并将抵压组件2的压力传感器2320所测得的压力值作为需对解锁弹片3所施加压力的大小,据此对用于同批次的光模块检测时的抵压组件2进行校正。
其中,所述预设压力值是由本领域技术人员根据经验得出的,所述预设压力值应小于等于可能导致解锁弹片3金属疲劳的最小压力,并能够使校对模块4被扣紧而不能被人为拔出。远程服务器感知光模块批次的方法为:
所述终端连接有扫描设备,所述扫描设备用于在使用校对模块4和抵压组件2前,对光模块的管理编号进行扫描录入。同时,所述终端与校对模块4及抵压组件2进行联合绑定,且用于同一批光模块的检测。如图7所示,一个终端可与多个校对模块4和多个抵压组件2进行联合绑定,一个远程服务器用于管理多个终端、校对模块4以及抵压组件2。
所述远程服务器从终端获取光模块的管理编号,并通过管理编号得到光模块所属的批次,远程服务器判断所得批次是否属于待检的新批次,若属于新批次,则通过终端提示检测人员使用校对模块4对解锁弹片3所需压力进行校正,将解锁弹片3扣紧时抵压组件2的压力传感器2321的压力值作为需对解锁弹片3所施加压力的大小,对与终端联合绑定的抵压组件2进行设置校正。
在抵压组件2对光模块进行解锁功能检测结束后,检测人员在终端输入检测结果,终端将检测结果反馈至远程服务器并记录,便于后期光模块出厂前的复核,以防止解锁功能不正常的光模块流出。
同时,远程服务器统计该批次下自上次使用校对模块4进行校对后所检测的光模块的数量,每达到预设数量,便通过终端提示检测人员使用校对模块4进行压力值的校对,从而对该批次所应施加给解锁弹片3的压力的大小进行校对。
还可以为每位检测人员配置唯一的用户名与密码,通过在终端用户登录,使远程服务器将每一块光模块的管理编号、所使用的校对模块4、所使用的抵压组件2以及检测结果与检测人员相匹配记录,并通过出厂前的复核或出厂后的售后反馈计算相应的检测人员检测光模块解锁功能的正确率,从而为改进检测流程或人员调整提供依据。
本优选实施例通过远程服务器对校对模块4与抵压组件2进行统一管理,避免了人为操作所可能产生的失误,使在进行大规模的光模块的解锁功能检测时,持续保证解锁功能检测的有效性。
根据上述优选的实施例,还存在一种优选的实现方式,可实现对解锁弹片3是否已出现金属疲劳的检测,即为所述调控组件232设置双模式,在解锁功能检测模式下,处理模块2321根据压力传感器2320的测量值进行磁吸力的控制,在解锁弹片3检测模式下,所述处理模块2321不根据所述压力传感器2320的测量值进行磁吸力的控制,而是依次递增至预设最大磁吸力值后再依次减少至无磁吸力,在依次递增与依次减少磁吸力的过程中,通过压力传感器2320检测解锁弹片3对抵压臂22的压力,由处理模块2321将过程中的压力传感器2320的值与光模块标准件的压力值进行对比,从而判断解锁弹片3是否出现了金属疲劳。
本实施例中的“第一”、“第二”和“第三”没有特殊的限定的含义,之所以用其做描述仅仅是为了方便在一类对象中差异出不同的个体进行表述,不应当将其作为顺序或者其他方面带有特殊限定含义解释。
实施例2:
基于同一个发明构思,在实施例1的基础上,本发明还提供了一种光模块解锁功能检测装置的使用方法,具体包括:
在步骤201中,在一批光模块中,选择一个或多个光模块,由本领域技术人员进行测试或分析得出该批光模块中所需施加给解锁弹片3的压力的大小,并对抵压组件2施加给解锁弹片3的压力的大小进行设定。
在步骤202中,将光模块插入到限位壳体12中进行固定,再通过抵压组件2对解锁弹片3进行施压,使解锁弹片3与光模块卡口扣紧。
在步骤203中,通过光模块的拉环联动装置挤压解锁弹片3,尝试能否将光模块主体从安装笼上拔出;若能够拔出,则说明光模块的解锁功能正常;否则,说明光模块的解锁功能不正常。
其中,对一个光模块,所述步骤202与所述步骤203可进行多次,以确保解锁功能检测的有效性。
本实施例提供了一种光模块解锁功能检测装置的使用方法,通过此方法可使在对光模块进行解锁功能检测时,通过抵压组件2对解锁弹片进行施压,以保证解锁功能检测不受解锁弹片的金属疲劳等因素影响,保障功能解锁功能检测的有效性。
实施例3:
基于同一个发明构思,在实施例1与实施例2的基础上,本发明还提供了一种光模块解锁功能检测装置的使用方法,具体包括:
使用扫描设备对光模块的管理编号进行扫描录入,根据终端的提示进行操作。
若终端提示检测人员使用校对模块4进行校正,则将校对模块4插入光模块的安装笼中,并通过抵压组件2对解锁弹片3施压,直至校对模块4的压力传感器41所测压力值高于预设压力值,则认为校对模块4被解锁弹片3扣紧,远程服务器记录抵压组件2此时的压力值,并根据此压力值对与终端联合绑定的所有抵压组件2进行校正。
若终端提示检测人员使用抵压组件2进行解锁功能检测,则将光模块插入到限位壳体12中进行固定并通过抵压组件2对解锁弹片3施压,通过光模块的拉环联动装置尝试能否拔出光模块,若不能拔出,则通过终端录入检测成功,若能够拔出,则通过终端录入检测失败。
其中,经扫描设备扫描录入后,若远程服务器检测到该光模块属于新批次,或在该批次下,当使用校对模块4进行压力值的校正后,再通过抵压组件2进行解锁功能检测的光模块的数量达到预设数量,则通过终端提示检测人员使用校对模块4进行校正,否则,提示检测人员使用抵压组件2进行解锁功能检测。
所述预设数量是由本领域技术人员根据待检测的光模块的数量及经验设置的。
本实施例提供了一种光模块解锁功能检测装置的使用方法,通过本方法可有效避免因对解锁弹片3所施加的力过大而造成光模块损坏,或对解锁弹片3所施加的力过小而导致解锁功能检测无效的情况,且本方法通过使用远程服务器和终端进行统一管理,简化了检测人员的解锁功能检测流程,节省了人力。更进一步的,本实施例通过每检测预设数量的光模块,便使用校对模块4进行压力的校正,使在对大量的光模块进行解锁功能检测过程中,能够持续调整解锁弹片3所受到的压力,确保解锁弹片3与光模块卡口扣紧,使不至于因生产过程中导致的同批次下光模块的误差,而影响光模块解锁功能检测的有效性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种光模块解锁功能检测装置,其特征在于,包括限位组件(1)和抵压组件(2),具体的:
所述限位组件(1)用于将光模块固定并允许光模块主体从光模块的安装笼中拔出;
所述抵压组件(2)用于对光模块的解锁弹片(3)向内施压,使解锁弹片(3)在未被光模块的拉环联动装置挤压解锁前与光模块卡口扣紧,且在光模块的拉环联动装置挤压解锁过程中,抵压组件(2)持续对解锁弹片(3)施加压力,从而使解锁弹片(3)不因金属疲劳而影响光模块解锁功能的检测;
所述限位组件(1)包括底座(11)和固定在底座(11)上的限位壳体(12),具体的:所述限位壳体(12)内部结构与光模块的安装笼结构适配,用于在光模块插入时固定光模块,同时允许光模块主体从安装笼中拔出;所述限位壳体(12)上留有通孔(120),所述通孔(120)与解锁弹片(3)相对设置,供抵压组件(2)接触解锁弹片(3)并进行施压;
所述抵压组件(2)包括转杆(21)、抵压臂(22)和施压组件(23),具体的:所述转杆(21)通过转轴连接在限位组件(1)上方,所述抵压臂(22)设置在转杆(21)下方,所述施压组件(23)用于对转杆(21)施加向下的力,使抵压臂(22)的一端与解锁弹片(3)接触并进行施压。
2.根据权利要求1所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述施压组件(23)包括:
安装在转杆(21)上方和/或下方的负重块(230),通过负重块(230)的重力对转杆(21)施加向下的力,使抵压臂(22)对解锁弹片(3)向内施压。
3.根据权利要求2所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述施压组件(23)还包括安装在底座(11)上的电磁体(231)和调控组件(232),具体的:
所述电磁体(231)与负重块(230)相对设置,所述调控组件(232)用于改变电磁体(231)对负重块(230)的磁吸力的大小,以控制对解锁弹片(3)施加的压力的大小。
4.根据权利要求3所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述调控组件(232)包括压力传感器(2320)和处理模块(2321),具体的:
所述压力传感器(2320)安装在所述抵压臂(22)的一端,与解锁弹片(3)接触,从而感知对解锁弹片(3)所施加的压力的大小;
所述处理模块(2321)根据压力传感器(2320)所测压力的大小,改变电磁体(231)对负重块(230)的磁吸力的大小,从而将对解锁弹片(3)施加的压力的大小控制在预设范围内。
5.根据权利要求4所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述负重块(230)由磁性材料制成。
6.根据权利要求1-5任一所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述抵压组件(2)的数量为两个,分别为第一抵压组件和第二抵压组件,所述第一抵压组件和第二抵压组件分别设置于光模块的两侧,以对光模块两侧的解锁弹片(3)分别施加压力。
7.根据权利要求1-5任一所述的光模块解锁功能检测装置,其特征在于,所述装置还包括校对模块(4),具体的:
所述校对模块(4)结构与光模块主体结构相同,并在对应的光模块卡口位置,使用压力传感器(41)替代,所述压力传感器(41)用于检测解锁弹片(3)是否与校对模块(4)扣紧,根据解锁弹片(3)与校对模块(4)扣紧时解锁弹片(3)所受到的压力大小对抵压组件(2)进行校正,使校正后的抵压组件(2)能够使解锁弹片(3)与光模块卡口扣紧。
8.一种权利要求1-7任一所述的光模块解锁功能检测装置的使用方法,其特征在于,所述方法包括:
在一批光模块中,选择一个或多个光模块,由本领域技术人员进行测试或分析得出该批光模块中所需施加给解锁弹片(3)的压力的大小,并对抵压组件(2)施加给解锁弹片(3)的压力的大小进行设定;
将光模块插入到限位壳体(12)中进行固定,再通过抵压组件(2)对解锁弹片(3)进行施压,使解锁弹片(3)与光模块卡口扣紧;
通过光模块的拉环联动装置挤压解锁弹片(3),尝试能否将光模块主体从安装笼上拔出;若能够拔出,则说明光模块的解锁功能正常;否则,说明光模块的解锁功能不正常。
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