CN100412625C - 液晶显示面板及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种液晶显示面板及检测其工艺参数的方法，该液晶显示面板包括一第一基板(substrate)，其一第一侧具有一反射性材料层；一第二基板，其一第一侧具有一黑色矩阵(black matrix)，该第二基板的该第一侧面向该第一基板的该第一侧；以及一液晶层，配置于该第一基板与该第二基板之间；其中该第二基板上设置有至少一观测区(inspection area)，可供光线照射至该第一基板的该第一侧。该检测方法包括：将光线透过该观测区照射至该第一基板的该第一侧；以及藉由自该第一基板的该第一侧所反射的光线来检测该液晶显示面板的工艺参数。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测液晶显示面板的方法，特别是涉及一种液晶显示面板的面板单元工艺(cell process)的检测方法。
背景技术
由于液晶显示(LCD)装置具有重量轻、功率消耗低、以及无辐射污染等优点，故被广泛地应用于多种可携式(portable)信息产品(如笔记型计算机、个人数字助理(PDA)等等)、家庭消费电子产品(如液晶电视)、航天仪器以及医疗仪器等领域。
液晶显示面板(LCD panel)是液晶显示装置最重要的模块之一，其通常包含一彩色滤光片(color filter，CF)基板、一薄膜晶体管(thin-film transistor，TFT)基板(又称为阵列基板，array substrate)、以及填充于该彩色滤光片基板与薄膜晶体管基板间的一液晶材料(liquid crystal material)层。
制造液晶显示装置的工序通常可概分为三个阶段，依序为阵列工艺(array process)、面板单元工艺(cell process)、以及模块组装工艺(moduleassembly process)。简单来说，阵列工艺会在一玻璃基板上形成薄膜晶体管阵列。面板单元工艺是将一彩色滤光片基板与阵列工艺所完成的薄膜晶体管基板贴合，并于其内灌入液晶材料。而模块组装工艺则是将面板单元工艺所完成的面板模块与其它如背光模块(backlight module)、驱动电路、外框等多种零元件进行组装。实作上，阵列工艺与模块组装工艺的成品率较高，使得面板单元工艺的成品率成为液晶显示装置生产过程的关键所在。
在面板单元工艺中，现有的检测方法会于薄膜晶体管基板侧打光，使光线穿透薄膜晶体管基板与液晶材料层而照射至彩色滤光片基板上。由于彩色滤光片基板上设置有以高反射系数的金属材料(如铬金属(chromium，Cr)等)所形成的一黑色矩阵(black matrix)，故会将入射光线反射回薄膜晶体管基板侧。如此一来，面板单元工艺的检测机构或检测人员便能藉由反射光线来观测液晶显示面板内部的状况，以监测面板单元工艺的相关参数，例如框胶的涂布宽度(seal width)、液晶注入口(slit)的紫外线环氧树脂(UV-epoxy)吸入量(inhaled volume)等等。
为符合诸如欧盟的“废电机电子设备指令”(WEEE)等环保法规的要求，彩色滤光片基板上的黑色矩阵将逐渐改用有机材料的树脂(resin)来取代原先的金属材料。然而，采用有机材料的树脂作为彩色滤光片基板的黑色矩阵(resin BM)时，前述的面板单元工艺检测方法将无法顺利实施。这是因为树脂黑色矩阵的反射系数很低，且可能会吸收自薄膜晶体管基板侧照射过来的光线，使得检测机构或人员无法藉由反射光来观测液晶显示面板内部的状况，而难以量测或监控面板单元工艺的相关参数。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的之一在于提供一种液晶显示面板及其检测方法，以解决上述问题。
依据本发明的实施例，揭露一种液晶显示面板，其包括：一第一基板(substrate)，其一第一侧具有一反射性材料层；一第二基板，其一第一侧具有一黑色矩阵(black matrix)，该第二基板的该第一侧面向该第一基板的该第一侧；以及一液晶层，配置于该第一基板与该第二基板之间；其中该第二基板上设置有至少一观测区(inspection area)，可供光线照射至该第一基板的该第一侧。
依据本发明的实施例，还揭露一种检测一液晶显示面板的工艺参数的方法，该液晶显示面板包括一第一基板(substrate)，其一第一侧具有一反射性材料层；一第二基板，其一第一侧具有一黑色矩阵(black matrix)，该第二基板的该第一侧面向该第一基板的该第一侧；以及一液晶层，配置于该第一基板与该第二基板之间，该方法包括：于该第二基板上提供至少一观测区(inspection area)；将光线透过该观测区照射至该第一基板的该第一侧；以及藉由自该第一基板的该第一侧所反射的光线来检测该液晶显示面板的工艺参数。
附图说明
图1为本发明的一液晶显示面板的示意图。
图2为图1沿切线2-2′方向的剖面图。
简单符号说明
20 开孔
100 液晶显示面板
110 显示区域
120 周边区域
210 薄膜晶体管基板
212 反射性材料层
220 彩色滤光片基板
222 黑色矩阵
230 液晶层
240 检测机构
具体实施方式
请参考图1及图2。图1所绘示为本发明一实施例的液晶显示面板100的示意图。图2为图1沿切线2-2′方向的剖面图。如图1所示，液晶显示面板100分为一显示区域(display region)110与一周边区域(peripheralregion)120。其中，显示区域110真正用来显示画面的区域，而周边区域120最终则包覆于一外壳之内。如图2所示，液晶显示面板(LCD panel)100包括一薄膜晶体管(thin-film transistor，TFT)基板210，其一第一侧具有一反射性材料层212；一彩色片滤光(color filter，CF)基板220，其一第一侧具有一黑色矩阵(black matrix)222；以及一液晶层230，配置于薄膜晶体管基板210与彩色滤光片基板220之间。其中，彩色滤光片基板220的黑色矩阵222面向薄膜晶体管基板210的反射性材料层212。在本发明中，黑色矩阵222符合环保法规要求的有机(organic)材料，例如树脂(resin)等低反射系数的材料。
实作上，反射性材料层212可以是薄膜晶体管基板210上具有高反射性金属层，例如铝(Al)或铬(Cr)金属层等，但本发明并不以此为限。例如，亦可在薄膜晶体管基板210的第一侧上对应液晶显示面板100的周边区域120的部位，涂布一层金属薄膜来作为反射性材料层212。
为了能顺利地检测面板单元工艺(cell process)的相关参数，本发明会于彩色滤光片基板220上提供至少一观测区(inspection area)，以使光线可穿透该观测区而入射至薄膜晶体管基板210。在一优选实施例中，该观测区设置于彩色滤光片基板220上对应液晶显示面板100的周边区域120的位置，以避免影响液晶显示面板100的显示区域110的功能。实作上，可于彩色滤光片基板220的黑色矩阵222上对应周边区域120的位置设置一开孔(opening)20，以作为前述的一观测区，如图2所示。因此，当利用一检测机构240检测液晶显示面板100的内部情形时，检测机构240所发出的光线便能透过彩色滤光片基板220上的开孔20及液晶层230而照射到薄膜晶体管基板210的第一侧。实作上，检测机构240可以是一显微镜或其它参数量测仪器，且彩色滤光片基板220上的开孔20数目并无特定限制。
如前所述，薄膜晶体管基板210第一侧上的反射性材料层212为高反射系数的材料，故当检测机构240所发出的光线经由开孔20照射到反射性材料层212时，大部分的光线会被反射性材料层212反射。如此一来，检测机构240或其操作人员便能藉由反射性材料层212所反射回来的光线，观测液晶显示面板100的内部状况，并量测液晶显示面板100的面板单元工艺的相关参数，例如：框胶的涂布宽度(seal width)、液晶注入口(slit)的紫外线环氧树脂(UV-epoxy)吸入量(inhaled volume)等等。本领域技术人员应可理解，前述的相关参数仅为举例说明，实际应用上所需检测的工艺参数随着面板单元工艺所采用的技术而有所不同。
由上述可知，不论在面板单元工艺中以何种灌液晶(liquid crystal filling)方式来填充液晶显示面板100的液晶层230，前述本发明的工艺参数检测方法均可适用。
以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
Claims (18)
1. 一种液晶显示面板，其包括：
一第一基板，其一第一侧具有一反射性材料层；
一第二基板，其一第一侧具有一黑色矩阵，该第二基板的该第一侧面向该第一基板的该第一侧；以及
一液晶层，配置于该第一基板与该第二基板之间；
其中该第二基板上设置有至少一观测区，可供光线照射至该第一基板的该第一侧，
其中该液晶显示面板分为一显示区域与一周边区域，而该观测区设于该第二基板上对应该周边区域的位置。
2. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该第一基板为一薄膜晶体管基板或一阵列基板。
3. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该第二基板为一彩色滤光片基板。
4. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该反射性材料层为一高反射性金属层。
5. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该黑色矩阵的材料为树脂。
6. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该观测区设于该第二基板的该第一侧。
7. 如权利要求6所述的液晶显示面板，其中该观测区设于该第二基板的黑色矩阵上。
8. 如权利要求7所述的液晶显示面板，其中该观测区为该黑色矩阵上的一开孔。
9. 如权利要求1所述的液晶显示面板，其中该黑色矩阵的反射率低于该反射性材料层的反射率。
10. 一种检测一液晶显示面板的工艺参数的方法，该液晶显示面板包括一第一基板，其一第一侧具有一反射性材料层；一第二基板，其一第一侧具有一黑色矩阵，该第二基板的该第一侧面向该第一基板的该第一侧；以及一液晶层，配置于该第一基板与该第二基板之间，该方法包括：
于该第二基板上提供至少一观测区；
将光线透过该观测区照射至该第一基板的该第一侧；以及
藉由自该第一基板的该第一侧所反射的光线来检测该液晶显示面板的工艺参数，
其中该液晶显示面板分为一显示区域与一周边区域，而于该第二基板上提供至少一观测区的步骤还包括：
设置该观测区于该第二基板上对应该周边区域的位置。
11. 如权利要求10所述的方法，其中该第一基板为一薄膜晶体管基板或一阵列基板。
12. 如权利要求10所述的方法，其中该第二基板为一彩色滤光片基板。
13. 如权利要求10所述的方法，其中该反射性材料层为一高反射性金属层。
14. 如权利要求10所述的方法，其中该黑色矩阵的材料为树脂。
15. 如权利要求10所述的方法，其中于该第二基板上提供至少一观测区的步骤还包括：
设置该观测区于该第二基板的该第一侧。
16. 如权利要求15所述的方法，其中于该第二基板上提供至少一观测区的步骤还包括：
设置该观测区于该第二基板的该黑色矩阵上。
17. 如权利要求16所述的方法，其中于该第二基板上提供至少一观测区的步骤还包括：
于该黑色矩阵上提供一开孔，以作为该观测区。
18. 如权利要求10所述的方法，其中该工艺参数为该液晶显示面板的面板单元工艺中的框胶涂布宽度、及/或液晶注入口的封口胶吸入量。
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