CN109932880B - 盒和成像装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及盒和成像装置。盒包括构造成将具有比调色剂颗粒小的当量球直径的特定颗粒保留在接触区域中的清洁构件。所述特定颗粒含有具有由R‑SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基。当通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得所述特定颗粒中的硅、氧和碳的总原子浓度为100.0原子百分数时,所述特定颗粒中的硅的原子浓度dSi满足1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数。而且,当假设所述特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有三个长度L1、L2和L3(以单位体积中的平均值表示)且其中L1是三个长度中最长的一个时,所述特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
Description
技术领域
本公开涉及用于电子照相成像装置的盒和成像装置。
背景技术
通常,成像装置包括感光鼓、中间转印带(中间转印构件)和其他构件。成像装置还包括清洁刮刀,用于在转印后去除残留在感光鼓或中间转印构件上的调色剂(残余调色剂)。通过使清洁刮刀的自由端与感光鼓或中间转印带接触而将残余调色剂从感光鼓或中间转印构件上收集到调色剂收集容器中。
为了增大调色剂收集性能,清洁刮刀和感光鼓或中间转印构件彼此接触的区域(清洁夹持部)被保持处于预定压力(接触压力)或更高压力下。另一方面,考虑到感光鼓或中间转印带的寿命,期望的是在接触区域处具有低的扭矩。
从降低接触区域处的扭矩的观点来看,日本专利公开No.2015-22078公开了这样的构思,其使用包含调色剂和作为外部添加剂添加的二氧化硅颗粒的显影剂,并且其中在感光鼓的表面上施加润滑剂。
此外,日本专利公开No.2003-280255公开了这样的构思,其使用包含具有外部添加剂的调色剂的显影剂,其中至少1%的外部添加剂与调色剂颗粒分开并作为润滑剂输送至接触区域(夹持部分),由此减小接触区域处的扭矩。
在上述文献中公开的两种情况下,存在于接触区域(清洁夹持部)中的外部添加剂颗粒用作非常小的辊以减小扭矩。遗憾的是,外部添加剂随着时间的推移逐渐从清洁夹持部向感光鼓的旋转方向的下游移动并污染位于感光鼓下游的充电构件。这可能是所得图像中的缺陷(例如浓度不一致)的原因。
发明内容
因此,本公开提供了能够在减小清洁夹持部处的扭矩的同时形成几乎不包括缺陷的图像的盒和成像装置。
所述盒包括:图像承载构件,所述图像承载构件可操作以承载通过用包含调色剂颗粒和特定颗粒的显影剂显影静电潜像而形成的显影剂图像,所述特定颗粒具有比调色剂颗粒小的当量球直径;以及具有接触部分的清洁构件,所述接触部分可操作以在接触区域中与图像承载构件接触并且可操作以清洁图像承载构件的表面。清洁构件构造成能够将该特定颗粒保留在接触区域中。该特定颗粒包含具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基,并且在通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得该特定颗粒中的硅、氧和碳的总原子浓度为100.0原子百分数时,该特定颗粒中的硅的原子浓度dSi满足关系1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数。此外,当假设该特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有三个长度L1、L2和L3(以单位体积中的平均值表示)且其中L1是三个长度中最长的一个时,该特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
还提供了一种成像装置,所述成像装置包括定影设备和上述盒。
此外,根据本公开的另一实施例提供了一种成像装置。所述成像装置包括:图像承载构件,所述图像承载构件可操作以承载通过使用包含调色剂颗粒和特定颗粒的显影剂进行显影而形成的显影剂图像,所述特定颗粒具有比调色剂颗粒小的当量球直径;中间转印构件,所述中间转印构件可操作以承载从图像承载构件转印的显影剂图像;和具有接触部分的清洁构件,所述接触部分可操作以在接触区域中接触中间转印构件并且可操作以清洁中间转印构件的表面。清洁构件构造成能够将该特定颗粒保留在接触区域中。该特定颗粒包含具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基,并且在通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得该特定颗粒中的硅、氧和碳的总原子浓度为100.0原子百分数时,该特定颗粒中的硅的原子浓度dSi满足关系1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数。此外,当假设该特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有三个长度L1、L2和L3(以单位体积中的平均值表示)且其中L1是三个长度中最长的一个时,该特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
参考附图,根据对示例性实施例的以下描述,本发明的其他特征将变得显而易见。
附图说明
图1是根据本公开的第一实施例的成像装置的示意性截面图。
图2是根据第一实施例的成像装置的处理盒的示意性截面图。
图3A是第一实施例的成像装置中的鼓与清洁构件的接触部分之间的接触区域的示意性放大图;图3B是比较例1中的接触区域的示意性放大图;以及图3C是比较例2中的接触区域的示意性放大图。
图4A至4D是示出了根据第一实施例的成像装置的清洁构件的接触部分与特定颗粒的取向之间的关系的概念性表示。
图5是根据第一实施例的修改方案的成像装置的处理盒的示意性截面图。
图6是根据本公开的第二实施例的成像装置的主要部分的放大截面图。
具体实施方式
本公开的构思可以体现在盒或成像装置中。
现在将参考附图描述根据本公开的使用盒(例如,处理盒)的电子照相成像装置100。应当注意,以下实施例仅旨在描述本公开的构思的一些实施方式,并且成像装置和盒的部件的尺寸、材料、形状、相对位置和其他特征不限于下面描述的那些,除非另有说明。
这里提到的电子照相成像装置通过电子照相成像技术在记录介质上形成图像,并且可以实现为例如电子照相复印机、电子照相打印机(例如激光束打印机或LED打印机)、传真机、文字处理器等。成像装置可以包括例如定影设备的其他构件或部件。
此外,这里提到的盒是壳体中的包括感光鼓和可操作以清洁感光鼓的清洁构件的结构、并且可移除地安装在电子照相成像装置中。
盒还可以包括包含充电设备、显影设备和清洁设备的处理设备中的至少一者。包括处理设备的盒可以称为处理盒。
第一实施例
电子照相成像装置
现在将描述根据本公开的第一实施例的电子照相成像装置的整体结构。图1是根据第一实施例的电子照相成像装置(下文中简称为成像装置)100的示意性截面图。
成像装置100是使用中间转印系统的激光束全色级联式打印机。成像装置100使用处理盒(盒)7,所述处理盒包括感光构件单元13以及至少构成感光构件单元13的一部分的清洁设备(清洁刮刀8)(参见图2),稍后将对此进行描述。在本实施例中,清洁设备(清洁刮刀8)可以用于构造成形成具有多种颜色的图像的打印机中或者用于构造成形成单色(例如,黑色)图像的单色打印机中。
成像装置100可以根据图像信息在记录介质(例如,记录纸张、塑料片或布片)上形成全色图像。
图像信息从连接到装置主体10A的图像读取设备(未示出)或连接到装置主体10A以用于通信的主机设备(未示出)(例如个人计算机)输入到成像装置100的装置主体10A。
成像装置100包括用作形成图像的多个成像部分的处理盒7。处理盒7各个均包括构造成分别形成黄色(Y)图像、品红色(M)图像、青色(C)图像和黑色(K)图像的成像部分SY、SM、SC和SK中的一个。在本实施例中,成像部分SY、SM、SC和SK在与垂直方向交叉的方向上成行排列。
在本实施例中,每个成像部分具有用作可操作以承载静电图像(静电潜像)的图像承载构件的感光鼓1。感光鼓1由驱动设备或驱动源(未示出)驱动旋转。扫描仪单元(曝光设备)30布置在感光鼓1周围。扫描仪单元30是根据图像信息用激光束照射感光鼓1以在感光鼓1上形成静电图像(静电潜像)的曝光设备。
四个感光鼓1各个均与中间转印带31相对,所述中间转印带31用作可操作以将感光鼓1上的静电图像已由调色剂T(显影剂)显影成的调色剂图像(显影剂图像)转印到记录介质12上的中间转印构件。中间转印带31是环形带,并且沿着图1所示的方向B(逆时针)与所有感光鼓1接触地可旋转地移动。
在本公开的实施例中,调色剂可以用作显影剂,或者通过将调色剂与磁性载体混合而制备的显影剂可以用作显影剂。
调色剂可以包含调色剂颗粒和作为外部添加剂的其他颗粒。
在本实施例中,显影剂中使用的调色剂是磁性的单组分调色剂。
此外,四个初次转印辊32作为初次转印设备布置在中间转印带31的内表面处,每个初次转印辊与一个感光鼓1相对。具有与调色剂的正常电荷的极性相反的极性的电压从用作初次转印偏压施加设备的初次转印偏压电源(高压电源,未示出)施加至初次转印辊32。因此,感光鼓1上的调色剂图像被转印到中间转印带31上(初次转印)。
此外,中间转印带31在其外表面处设置用作二次转印设备的二次转印辊33。具有与调色剂的正常电荷的极性相反的极性的电压从用作二次转印偏压施加设备的二次转印偏压电源(高压电源,未示出)施加至二次转印辊33。因此,中间转印带31上的调色剂图像被转印到记录介质12上(二次转印)。
例如,为了在刚刚描述的处理中形成全色图像,成像部分SY、SM、SC和SK按此顺序形成各色图像,并且各色图像一个接一个叠置地初次转印到中间转印带31上。
然后,与中间转印带31的移动同步地将记录介质12传送到其中二次转印辊33和中间转印带31彼此相对的二次转印部分33A处。因此,在二次转印辊33抵靠在中间转印带31上(在二次转印辊33和中间转印带31之间具有记录介质12)的情况下中间转印带31上的四个叠加的彩色图像同时二次转印到记录介质12上。
残留在中间转印带31上而未通过二次转印辊33转印到记录介质12上的调色剂被传送至中间转印带清洁设备35并被移除。
具有转印的调色剂图像的记录介质12被传送至定影设备34。定影设备34对记录介质12施加热和压力以将调色剂图像定影在记录介质12上,如此完成了成像过程。
处理盒
接下来,现在将参考图2描述安装在本实施例的成像装置100中的处理盒7(盒)的整体结构。
图2是根据第一实施例的成像装置的处理盒的示意性截面图。更具体地,图2示出了沿着感光鼓1在其上旋转的轴线101的方向观察的处理盒7的横截面(主横截面)。
通过使用装置主体10A中的例如安装引导件(未示出)的安装构件或定位构件(未示出)将处理盒7可移除地安装在成像装置100中。
在本实施例中,每种颜色的处理盒7具有相同的形状,并且每个均包含黄色(Y)、品红色(M)、青色(C)和黑色(K)调色剂(显影剂)中的一种。
尽管本实施例使用这样的处理盒,但是本文后面描述的显影单元3可以位于单独可移除地安装在装置主体10A中的盒(显影盒)中。除了包含在其中的调色剂(显影剂)的颜色之外,本实施例中使用的处理盒7在结构和操作上基本相同。
在本实施例中,处理盒7包括包含显影辊4的显影单元3和包含感光鼓1的感光构件单元13。
显影单元3具有显影室18a和显影剂容器18b。显影剂容器18b位于显影室18a的下方。显影剂容器18b容纳作为显影剂的调色剂T。
显影剂容器18b设置有可操作以将调色剂T传送至显影室18a的调色剂传送构件22。调色剂传送构件22沿着如图2中所示的方向G旋转,由此将调色剂T从显影剂容器18b传送至显影室18a。
显影室18a还设置有用作显影剂承载构件的显影辊4,如图2中所示。显影辊4与感光鼓1接触地沿着方向D旋转。在本实施例中,显影辊4和感光鼓1以这样的方式旋转,使得显影辊4的表面和感光鼓1的表面在它们彼此相对的位置(接触区域)处沿相同的方向移动。
显影室18a在其中设置有作为显影剂供给构件的调色剂供给辊5(下文中简称为供给辊)。调色剂供给辊5将从显影剂容器18b传送的调色剂供给至显影辊4。显影室18a还设置有显影剂量控制构件6,所述显影剂量控制构件6可操作以控制由供给辊5施加至显影辊4上的调色剂的量、并且还可操作以使调色剂带电。
显影辊4、供给辊5和显影剂量控制构件6各个均从独立于装置主体10A的高压电源(未示出)接收电压。
由供给辊5供给至显影辊4上的调色剂通过显影辊4的旋转而被输送至显影辊4的与显影剂量控制构件6接触的接触部分,并通过显影辊4和显影剂量控制构件6之间的摩擦而摩擦带电。在充电时,也控制调色剂层的厚度。显影辊4上的由显影剂量控制构件6控制(和充电)的调色剂层(调色剂)通过显影辊4的旋转而被传送到与感光鼓1抵接的部分。传送至该部分的调色剂使感光鼓1上的静电图像显影为可见的调色剂图像。
对于感光构件单元13,感光鼓1可旋转地附接有轴承(未示出)。通过接收驱动马达的驱动力,感光鼓1沿着箭头A所指示的方向旋转。
感光构件单元13还包括充电辊2和作为弹性板的清洁刮刀8。充电辊2和清洁刮刀8设置成与感光鼓1的外周接触。充电辊2具有心轴,从装置主体的高压电源(未示出)向所述心轴施加电压,以将感光鼓1的表面充电到预定电位。
在本实施例中,清洁刮刀8(清洁构件)构造成使得清洁刮刀的一端(固定端)81固定到金属板801,而另一端82(自由端)与要清洁的感光鼓1接触,如图2所示。
更具体地,清洁刮刀8由弹性板制成、并且在自由端82处具有与感光鼓1的表面接触的接触部分820。感光鼓1的表面和清洁刮刀8的接触部分820在它们之间限定清洁夹持部N(接触区域)。
清洁刮刀8可以将调色剂T中的具有比调色剂颗粒更小的当量球直径的特定颗粒M保留在其中感光鼓1和接触部分820彼此接触的接触区域N中,如本文稍后将描述的。
清洁刮刀8摩擦感光鼓1的表面,以利用清洁刮刀8的自由端82处的接触部分820刮去转印之后残留在感光鼓上的调色剂颗粒和细小的特定颗粒M。由此,防止了在旋转方向A上位于接触部分820下游的充电构件2被调色剂T的调色剂颗粒和细小的特定颗粒M污染,并且防止了残留的调色剂在感光鼓的表面上散布并在所得的图像中引发缺陷。
清洁刮刀8还去除在充电期间附着至感光鼓1的表面的电晕产物(未示出),由此减轻感光鼓1的表面上的摩擦增大。由清洁刮刀8去除的调色剂收集在设置于清洁刮刀8下方的调色剂收集容器9中。
减小清洁夹持部处的扭矩
现在参考图3A至3C,详细地示出了在清洁构件和感光鼓之间的夹持部处产生扭矩的机制。
图3A是第一实施例的成像装置的清洁构件和感光鼓之间的接触区域(接触部分820)的局部放大图。图3B和3C分别是比较例1和2中的接触区域的局部放大图,用于与本实施例进行比较。
图3A示出了沿着感光鼓1的旋转轴线101的方向观察的清洁构件和感光鼓的截面(参见图2)。如根据图3A可理解的,感光鼓1的表面在沿方向A移动的同时与清洁刮刀8的自由端82处的接触部分820限定清洁夹持部N。当具有在本文后面描述的特殊形状的颗粒M(特定颗粒)被供给至清洁夹持部N时,颗粒M保留在清洁夹持部处并且表现出润滑性以降低摩擦,由此减小清洁夹持部处的扭矩。
由于具有特殊形状的颗粒M保留在清洁夹持部N处,因此在方向A上位于接触部分820下游的充电辊2和其他构件(参见图2)不太可能被颗粒M污染。
颗粒M在清洁夹持部N处的存在(保留)防止了在初次转印之后残留在感光鼓1上的调色剂T接近或进入清洁夹持部N,如图3A所示。因此,有效地防止了调色剂T通过清洁夹持部N。
颗粒的润滑性
接下来,将描述用于减小清洁夹持部N处的扭矩的特定颗粒M的润滑性(为降低摩擦)。
已经发现,颗粒M的材料应当具有低的表面自由能,以使清洁夹持部N中的颗粒M降低清洁刮刀8与感光鼓1之间的摩擦或在清洁刮刀8与感光鼓1之间显示出润滑性。
具有可以降低摩擦的这种润滑性的材料可以是具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物。在该式中,R表示具有1至6个碳原子的烷基。
其中两个Si原子共用一个氧原子的硅氧烷键Si-O-Si由“-SiO1/2”表示,并且其中Si原子形成三个硅氧烷键的单元由“-SiO3/2”表示。因此,在由上式表示的部分结构中,化合价为4的Si原子的四个键合键中的一个与R键合,而其它键合键形成三个硅氧烷键。
此外,已经发现,当通过X射线光电子能谱(化学分析用电子能谱,ESCA)测量时表面结构满足以下关系的颗粒M表现出可以有效地降低摩擦的那种润滑性。具体地,当测得硅的原子浓度dSi、氧的原子浓度dO和碳的原子浓度dC的总和为100.0原子百分数时,硅的原子浓度dSi满足1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数。
通过将硅原子浓度dSi控制到1.0原子百分数以上,该特定颗粒具有使得颗粒能够表现出可以降低摩擦的这种润滑性的富硅表面。而且,通过将硅原子浓度dSi控制到29.0原子百分数以下,该特定颗粒M的结构保持稳定。
颗粒M的生产
颗粒M可以通过作为制备有机硅聚合物的示例性工艺的溶胶-凝胶工艺制备。
在溶胶-凝胶工艺中,作为起始原料的金属醇盐M(OR)n(其中M代表金属,O代表氧,R代表烃,n代表金属的氧化数)在溶剂中进行水解和缩聚,从而形成溶胶,然后再形成凝胶。溶胶-凝胶工艺通常用于生产玻璃、陶瓷、有机-无机杂化物和纳米复合物。此外,溶胶-凝胶工艺可以用于在低温液相中制备块体状态的物质、纤维、细小颗粒或在表面处具有这些物料的功能材料。
颗粒M可以形成调色剂颗粒(调色剂T的基础颗粒)的表面层,因此颗粒M预先与调色剂颗粒(调色剂T的基础颗粒)结合。表面层中的颗粒M将由于显影中的摩擦等而与调色剂T的基础颗粒分离,于是被单独供给至清洁夹持部N。
在本公开的至少一些实施例中,形成预先存在于调色剂T的基础颗粒的表面之上的颗粒M的有机硅聚合物通过硅化合物(例如烷氧基硅烷)的水解和缩聚来制备。
颗粒M的形状(尺寸)
在本实施例中,待供给至清洁夹持部N的颗粒M具有比调色剂颗粒(调色剂T的基础颗粒)更小的当量球直径。例如,当调色剂T的基础颗粒基本是球形的并且具有约2μm至10μm的当量球直径时,颗粒M的当量球直径可以是10nm至2μm。
当清洁刮刀8或感光鼓1的表面粗糙时,具有小于10nm的当量球直径的颗粒M不太可能保留在清洁夹持部N中,也不具有令人满意的润滑性以降低摩擦。
此外,通过将颗粒M的当量球直径减小到小于调色剂T的当量球直径的尺寸,如图3A所示,具有降低摩擦的润滑性的颗粒M可以在调色剂T之前接近清洁夹持部N。因此,调色剂T不进入由颗粒M填充的清洁夹持部N中。
颗粒M具有特殊的形状。颗粒M不容易通过清洁夹持部N并且易于保留在清洁夹持部N中,因此长时间保持润滑性以降低摩擦。
在本实施例中,特殊形状如下限定。
当假设特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有三个长度L1、L2和L3(以单位体积中的平均值表示)且其中L1是三个长度中最长的一个时,该特定颗粒的特殊形状满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
如下所述地确定单位体积中的平均值。
通过L1×L2×L3粗略地计算颗粒M的体积V。
例如,10个颗粒M限定一个单位。在这种情况下,10个颗粒中的每一个具有对应于L2/L3的值或对应于V=L1×L2×L3的值。10个颗粒M的这些值可以如下表示:
V_1,(L2/L3)_1;
V_2,(L2/L3)_2;
V_3,(L2/L3)_3;
...;和
V_10,(L2/L3)_10。
此外,L2/L3在单位体积中的平均值、即(L2/L3)_ave可以如下表示:(L2/L3)_ave={V_1×(L2/L3)_1+···+V_10×(L2/L3)_10}/{V_1+...+V_10}。
颗粒的体积V越大,则颗粒对平均值的影响越大。
现在将参考图4A至4D描述用于将具有上述特殊形状的颗粒M保留在清洁夹持部N中的机制(原理)。
图4A至4D是示出了根据第一实施例的成像装置的清洁构件的接触部分820与特定颗粒M的取向之间的关系的概念性表示。
图4A示出了沿着感光鼓1的轴线101(参见图2)的方向观察的清洁夹持部N及其附近。图4B示出了在沿着图4A所示的方向G1(沿着感光鼓1的外周的法线的方向)观察时感光鼓的表面上的颗粒M与清洁夹持部N之间的位置关系。图4A和4B示出了颗粒M进入清洁夹持部N(到达接触部分820)之前的状态。
图4C是类似于图4A的、沿着感光鼓1的轴线101的方向观察的视图。图4D是类似于图4B的、沿着G1的方向观察的视图。图4C和4D示出了在颗粒M已经进入清洁夹持部N(已经到达接触部分820)时的状态。
如图4A至4D中所示,具有特殊形状的颗粒M随着感光鼓1的移动而沿着方向A移动并进入清洁夹持部N。此时,在与接触部分820接触时,颗粒M将其取向改变为更稳定的取向并停止在清洁夹持部N中。
更具体地,认为当颗粒M在清洁夹持部N的入口(前部)处从接触部分820接收压力(阻力)时,力施加到颗粒M上,使得颗粒M的最大长度L1的方向自然地与沿着纵向方向(感光鼓1的轴线101)的方向对齐。在图4C和4D中示出了这种状态。
为了形成在处于图4C和4D所示的状态时不容易在方向A上滚动的颗粒M,期望的是颗粒M的长度L2和L3不相同。
本发明人发现了能够提供不容易滚动的颗粒M的条件。具体地,当以单位体积中的平均值表示的颗粒的长度L1、L2和L3满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3时,颗粒不容易滚入或通过清洁夹持部N。
换言之,具有满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3的特殊形状的颗粒M易于进入稳定的取向,因此易于保留在清洁夹持部N中,长时间表现出润滑性以降低摩擦。
另一方面,如果颗粒具有的以单位体积中的平均值表示的长度使得L2/L3大于3/4且小于4/3,则颗粒由于长度L2和L3的值彼此接近而容易滚动并进入不稳定的取向。
因此,防止了颗粒M容易地通过清洁夹持部N,从而减少了颗粒对清洁构件下游的构件(例如充电辊2)的污染,并且有助于稳定的成像。
图4A至4D中所示的长度L1的方向可以是三维坐标系的X、Y和Z轴向三个方向中的任一个,并且图4A至4D中所示的长度L2或L3的方向可以用长度L1(具有最大长度)的方向代替。
颗粒M的形状的测定
可以通过扫描电子显微镜或动态光散射来测量颗粒M的直径。
颗粒的形状可以通过扫描探针显微镜(SPM)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(STM)或其组合来测定。
清洁刮刀
从帮助将颗粒M保留在清洁夹持部N中的观点来看,可以如下所述地控制清洁刮刀8的动态硬度H。
在本实施例中,清洁刮刀8由固定到金属支撑板(金属板801)的、聚氨酯橡胶或硅橡胶制成的橡胶构件802限定。清洁刮刀8在自由端82处的接触部分820可以具有满足0.1≤H≤1.2的动态硬度H。
在接触部分820处具有0.1以上的动态硬度的清洁刮刀可以在清洁夹持部N处产生高的接触力,从而防止颗粒M穿过清洁夹持部N。相反,清洁刮刀8的具有大于1.2的动态硬度H的接触部分820弯曲不多,并且这种弯曲程度过小。因此,颗粒M不太可能保留在清洁夹持部N中,也无法表现出降低摩擦的润滑性。
在一些实施例中,清洁刮刀8可以由具有硬化表面的聚氨酯橡胶制成,并且至少在接触部分820处可以具有0.1至1.2的动态硬度H。当这种清洁刮刀8接触感光鼓1时,接触部分820的弯曲程度小,因此清洁刮刀8与感光鼓1之间的夹持部宽度(N)未良好地扩展。因此,清洁刮刀的最大接触力增大,使得颗粒不通过清洁夹持部,并且清洁夹持部N处的扭矩不会增大很多。
对于清洁刮刀8的聚氨酯橡胶的硬化区域,待硬化的材料预先施加到聚氨酯橡胶的预定区域然后再硬化。
用于形成硬化区域的材料可以是异氰酸酯化合物。如果需要的话,可以在使用前用溶剂将用于形成硬化区域的材料稀释至预定的浓度。可以通过例如浸渍、喷涂或使用分配器、刷或辊等来施加材料。
在本实施例中,硬化区域是接触部分820处的在其间限定接触边缘8201的两个面(8202、8203)。更具体地,硬化区域是在感光鼓的表面移动所沿的方向A上位于接触边缘8201上游的整个面8202。对于方向A上游的面8202,硬化区域是从接触边缘8201起达2mm以上的区域。
清洁刮刀的硬度测量
清洁刮刀8的接触部分820的硬化区域的硬度可以如下所述地测量。
由Shimadzu制造的动态超微硬度测试仪DUH-W211S可以用于测量。另外,作为压头可以使用115°三棱锥形压头,动态硬度(DHs)根据下式计算:
动态硬度(DHs)=α×P/D2
其中α表示取决于压头形状的常数,P表示测试力(mN),并且D表示压痕的深度(μm)(压头在样品中的深度)。
测量条件如下:
α:3.8584;
P:1.0mN;
负载速度:0.03mN/s;
压痕时间:5秒;
测量环境:温度23℃,相对湿度55%;和
样品时效:使样品在温度为23℃且相对湿度为55%的环境中放置6小时。
试件的制备
下文将通过示例描述制备试件的过程。
通过如下来获得用于试件的清洁刮刀的样品(1)将清洁刮刀上的成像区域沿着纵向方向分成三个相同的样件、和(2)(i)在纵向方向上从样件的中心向两侧2mm(总共4mm)处和(ii)在宽度方向上距边缘2mm处切割每个样件的一部分。
将每个试件设定成使得压头可以垂直接触样品的硬化区域中的硬化表面。因此,利用试件在离纵向方向上的端部2mm处测量距清洁刮刀8的与感光鼓1接触的接触边缘(接触部分820)100μm处的硬度。
对三个试件进行这种测量,并将三次测量的平均值定义为清洁刮刀的表面处的动态硬度H。
颗粒M供应部分(颗粒M源)
为了将颗粒M供应到清洁夹持部N,可以在调色剂T的基础颗粒的表面上形成包含颗粒M的表面层,如上所述(方法1)。在将调色剂输送到显影辊、感光鼓和清洁夹持部N期间,调色剂的表面层(调色剂T的基础颗粒+颗粒M)中的颗粒M将与调色剂T的基础颗粒分离,由此被单独供应至清洁夹持部N。
因此,颗粒M与调色剂T的基础颗粒结合并成一体地从显影辊4输送到感光鼓1(和清洁夹持部N)。颗粒M在成像操作期间从调色剂T的表面分离之后被输送至接触区域(N)并保留在接触区域中。
在该方法中,由于颗粒M以上述状态输送,因此颗粒M供应部分(颗粒M源)由调色剂T和显影辊4(显影剂承载构件)限定。这种构思使得颗粒M能够长期可靠地供给至清洁夹持部N。
作为其中调色剂T中的调色剂颗粒被包含颗粒M的表面层覆盖的方法1的替代,颗粒M可以作为外部添加剂添加到调色剂T中(方法2)。更具体地,颗粒M可以是调色剂T中的与调色剂颗粒一起容纳的添加剂,并且可以作为调色剂T的成分从显影辊4输送至感光鼓1。
作为替代,可以预先将颗粒M添加到显影辊4的表面中,以便从显影辊4供给到感光鼓1。
在至少一些实施例中,显影辊4是能够与感光鼓1间歇地接触的弹性辊。
不需要将颗粒M从外部添加至调色剂T的处理步骤的前述方法1在节省成本方面是有益的。方法1可以与方法2组合以将具有特殊形状的颗粒从外部添加到具有由包含颗粒M的表面层覆盖的调色剂T基础颗粒的调色剂(方法3)。
实验例
现在将描述实验例中使用的颗粒M(含有颗粒M的调色剂)。
调色剂1
根据以下过程形成调色剂1的调色剂颗粒(由含有颗粒M的表面层覆盖)。
向装配有回流管、搅拌器、温度计和氮气入口的四颈容器中加入700质量份离子交换水、1000质量份0.1mol/L的Na3PO4水溶液、和24.0质量份1.0mol/L的HCl水溶液。将容器中的内容物保持处于60℃,同时用高速搅拌器TK-Homomixer以12,000rpm搅拌。向该容器中缓慢加入85质量份1.0mol/L的CaCl2水溶液,以制备含有水溶性差的分散稳定剂Ca3(PO4)2的极小颗粒的水性分散介质。
通过混合和搅拌以下组分来制备可聚合的单体组合物1:
苯乙烯:70.0质量份;
丙烯酸正丁酯:30.0质量份;
甲基三乙氧基硅烷:10.0质量份;
铜酞菁颜料(C.I.颜料蓝15:3):6.5质量份;
聚酯树脂(1):4.0质量份;
电荷控制剂1(3,5-二叔丁基水杨酸铝):0.5质量份;
电荷控制树脂1:0.4质量份;和
离型剂(山萮酸山萮酯,熔点72.1℃):10.0质量份。
将这些组分用研磨机混合3小时以便分散,并将所得的可聚合单体组合物1在60℃下保持20分钟。然后,将16.0质量份的叔丁基过氧新戊酸酯(50%甲苯溶液)作为聚合引发剂添加到可聚合单体组合物1中。将所得的混合物在水性介质中造粒10分钟,同时用高速搅拌器以12,000rpm的旋转速度搅拌。然后,在用具有推进器搅拌叶片的搅拌器代替高速搅拌器并将内部加热至70℃后,使反应体系在缓慢搅拌的同时进行反应5小时。此时水性介质的pH为5.1。
随后,添加10.0质量份1.0mol/L的氢氧化钠水溶液以将pH调节至8.0,并且将容器加热至90℃并在该温度下保持7.5小时。然后,添加4.0质量份的10%盐酸溶液和50质量份的离子交换水以将pH调节至5.1。
随后,添加300质量份离子交换水,并用蒸馏仪器替换回流管。将容器中的内容物在100℃的内部温度下蒸馏5小时,以产生聚合物浆料1。蒸馏馏分为300质量份。冷却至30℃后,向含有聚合物浆料1的容器中加入稀盐酸以除去分散稳定剂。
对反应产物进行过滤、洗涤和干燥,以产生加权平均粒径为5.6μm的调色剂颗粒(表面层含有颗粒M)。这些调色剂颗粒用作调色剂1。
调色剂1的表面层中的颗粒的形状(尺寸)和表面层中的材料和硅原子浓度示出于表1中。通过TEM观察调色剂1以进行硅测绘。结果,证实了表面层均匀地包含硅原子,并且表面层不是由彼此粘附的颗粒聚集体形成的覆层。
下面描述的调色剂2和3将经历相同的确认。
调色剂2
与上述调色剂1不同,通过从外部向调色剂1添加作为外部添加剂的无机颗粒来制备调色剂2。对于外部添加,0.2份带正电的无机颗粒DHT-4A(由Kyowa Chemical生产)从外部添加到100份调色剂T(调色剂1的颗粒)中。将含有外部添加剂的调色剂用混合器SMP-2(由Kawata制造)以3000rpm搅拌10分钟,以产生调色剂2。
调色剂1和2的颗粒包括基础颗粒和与基础颗粒成一体的有机硅聚合物(颗粒M的组分)的覆层(表面层)。
调色剂3
相比之下,通过将作为外部添加剂的无机颗粒添加到其颗粒未被含有颗粒M的表面层覆盖的调色剂T(仅为基础颗粒)中来制备调色剂3(比较例)。添加到调色剂3中的无机颗粒根据日本专利公开No.2016-38591的实施例5中描述的工艺制备。
如下所述地测量调色剂1至3中的调色剂颗粒的形状(尺寸)和硅原子浓度。
调色剂1至3的颗粒尺寸可以通过SPM在例如以下条件下测定:
扫描探针显微镜(SPM):由Hitachi High-Tech Science制造;
测量单元:E-扫描
测量模式:DFM(共振模式)形状图像
分辨率:X数据的数值=256,Y数据的数值=128;和
测量面积:正方形,边为1μm。
通过“3D梯度校正”从测量数据获取颗粒M的长度、宽度和高度,并且最大尺寸定义为L1,中等尺寸定义为L2,而最小尺寸定义为L3。
因此,计算每个颗粒M的L2/L3值和体积(V=L1×L2×L3)。
对于测量视野中的L2/L3值,使用每个颗粒M(i=1到10)的(L2/L3)_i和V_i计算单位体积中的平均L2/L3,即(L2/L3)={V_1×(L2/L3)_1+...+V_10×(L2/L3)_10}/{V_1+...+V_10},
其中,{V_1×(L2/L3)_1+...+V_10×(L2/L3)_10}=Sum(i=1-10){V_i×(L2/L3)_i},以及
{V_1+···+V_10}=Sum(i=1-10){V_i}。
颗粒的体积V越大,则颗粒对L2/L3值的影响越多。
接下来,将描述待测量的颗粒M的样品。根据以下过程来制备测量样品。
通过将160g蔗糖(由Kishida Chemical生产)溶解到在热水中加热的100mL离子交换水中来制备浓缩蔗糖溶液。通过将31g浓缩蔗糖溶液和6mL Contaminon N(用于清洁精密测量仪器的pH为7的中性洗涤剂的质量百分数为10的水溶液,含有非离子表面活性剂、阴离子表面活性剂、有机助洗剂,由Wako Pure Chemical Corporation生产)添加到离心管中来制备分散液。
向分散液中加入1.0g调色剂(调色剂1至3中的每一种),并用刮铲压碎调色剂颗粒的聚集体。
随后,用振荡器以350spm(每分钟行程数)摇动离心管中的分散液20分钟。摇动后,将液体移入摆动转子玻璃管(50mL)中,并在离心机中以3500rpm分离30分钟。
因此,调色剂被分离成调色剂颗粒(基础颗粒)和外部添加剂。在视觉上确保调色剂和液相充分分离后,用刮铲等收集上部相或调色剂。
将收集的调色剂进行真空过滤,然后干燥至少1小时,接着收集调色剂颗粒(调色剂1至3中的每一种)。
到此为止的过程重复若干次,直至收集到测量所需的调色剂量。
接下来,将描述调色剂颗粒(调色剂1至3)的表面层中的颗粒M中的硅浓度的测量。
调色剂颗粒(调色剂1至3)的表面被颗粒M覆盖。因此,固定至调色剂的颗粒M的成分可以通过由表面X射线光电子能谱(化学分析用电子能谱,ESCA)对调色剂颗粒表面进行成分分析来确定。因此,可以通过测量调色剂颗粒的表面层来确定颗粒M的表面层处的硅浓度[dSi,原子百分数]、碳浓度[dC,原子百分数]和氧浓度[dO,原子百分数]。
例如,ESCA在以下条件下执行:
装置:由ULVAC-PHI制造的Quantum 2000
ESCA X射线源:Al Kα
X射线辐射:100μm、25W、15kV
光栅:300μm×200μm
通能:58.70eV
步长:0.125eV
中和电子枪:20μA、1V Ar
离子枪:7mA、10V
扫描次数:Si为15、C为10、O为5
在本文公开的测量中,调色剂颗粒的表面层处的硅浓度[dSi]、碳浓度[dC]和氧浓度[dO]根据每种元素的峰值强度计算。
表1中示出了调色剂1至3的表面层中的颗粒M的ESCA测量结果。
表1
在处理盒7中装入调色剂1至3中的任一种调色剂,并且通过成像操作(供给调色剂的操作)将调色剂施加到显影辊4上。使感光鼓和显影辊彼此接触,以在感光鼓上形成调色剂图像。然后,从未初次转印的调色剂颗粒的表面层分离的颗粒M(其是调色剂的相反地带电或带电不足的部分)将被供给至清洁夹持部N。
通过将施加到初次转印部分的电压设定为低于用于正常成像的电压或者与用于正常成像的电压的极性相反,可以供给更大量的颗粒M。
接下来,将描述实验例中使用的清洁刮刀8。
在实验例中,制备了各个具有表2中所示的处于0.08至1.3范围内的动态硬度H的清洁刮刀1至6。
表2
处理盒7各个用调色剂1至3中的任一种装填,并且利用成像装置100在10000张片材上形成图像,其中任何处理盒7都在低温、低湿度环境下(15℃、10%RH)安装,打印率为1%。
随后,将处理盒7设置在扭矩测量装置上,并且在打印10000张片材之后测量感光鼓的驱动扭矩。
此外,目视观察在打印10000张片材后充电辊2上的污垢程度,以评估污垢对所得图像的影响。对于充电辊上的污垢程度,分别检查由附着在感光鼓或充电辊的条纹中的调色剂T引起的污垢和来自颗粒M的白色污垢以进行评估。评估结果如表3所示。在表3中,“良好”表示未观察到污垢,“合理”表示没有观察到明显的污垢;以及“差”表示观察到明显的污垢。
表3
如根据表3清楚的是,除了实验例10之外,在实验例1至9中,使用具有满足上述关系的特殊形状的调色剂颗粒M(调色剂1和2),扭矩低至0.3N·m以下。而且,在实验例1至9中,没有明显差或未观察到影响充电辊的污垢(白色污垢和由调色剂引起的污垢)。
特别是在使用具有上述特定范围内的动态硬度的清洁刮刀1至4的实验例1至6中,扭矩进一步降低至0.1N·m以下,此外充电辊未受影响。
更具体地,在使用调色剂1或2和具有满足0.1≤H≤1.2的动态硬度H的清洁刮刀的实验例1至6中,未出现充电辊上的白色污垢以及感光鼓和充电辊上的来自调色剂的污垢。这可能是因为能够降低摩擦的颗粒M被有效地保留在清洁夹持部N中,因此使充电辊被颗粒M本身的污染最小化,并且防止了转印后残留的调色剂通过夹持部。
在使用具有硬度相对低(0.08mN/μm2)的表面(接触部分820)的清洁刮刀的实验例7中,接触部分820容易弯曲,并且清洁夹持部N的宽度趋于增大,如图3B所示。这可能是为何与使用具有硬度相对高的清洁刮刀的实验例1至6相比扭矩略微增大的原因。
相比之下,在使用具有硬度相对高(1.3mN/μm2)的表面(接触部分820)的清洁刮刀的实验例8中,清洁夹持部N倾向于不能充分地保留颗粒M,如图3C所示。因此,与使用具有相对低硬度的清洁刮刀的实验例1至6相比,颗粒M的用于降低摩擦的润滑性可能不能有效地起作用,并且充电辊在一定程度上受影响。
在本实施例中,含有调色剂颗粒和具有比调色剂颗粒小的当量球直径的特定颗粒M的调色剂T(显影剂)用于将感光鼓上的静电潜像显影成显影剂图像。清洁构件包括与感光鼓接触的接触部分。该接触部分用于清洁感光鼓的表面。本实施例的清洁构件允许具有特殊形状的特定颗粒M保留在清洁夹持部N处并具有润滑性以降低清洁夹持部N中的摩擦,从而防止颗粒和调色剂通过清洁夹持部并污染位于下游的构件。
特别地,通过使颗粒M与调色剂颗粒的表面成一体,可以获得能够以减小的扭矩实现高质量成像的盒和成像装置,而无需添加用作辊的外部添加剂或附加的细小颗粒或添加用于降低摩擦的脂肪酸金属盐。
特别地,含有有机硅聚合物的颗粒M具有低的表面自由能,因此易于降低摩擦。而且,具有比无机硅低的硬度的有机硅聚合物即使保留在夹持部中也不会损坏感光鼓。
此外,颗粒M的特殊形状有利于颗粒保留在清洁夹持部N中,从而有助于颗粒表现出足以降低摩擦的润滑性。在至少一些实施例中,从容易根据需要弯曲接触部分820的观点来看,接触部分820的动态硬度处于上述特定范围内。
在这种情况下,盒和成像装置可以长时间以低扭矩实现高质量成像。
第一实施例的修改方案
在前述第一实施例中,与调色剂T的基础颗粒的表面成一体的颗粒M在显影期间被分离并且按预期供给传送。作为替代,构造成将颗粒M供应到感光鼓1的颗粒供给器11可以设置成与感光鼓1接触,如图5所示的修改方案中那样。
图5是根据第一实施例的修改方案的成像装置的处理盒的示意性截面图。
在该修改方案中,颗粒供给器11可以包括通过对颗粒M造粒而形成的颗粒源M0、以及构造成从颗粒源M0刮去颗粒并将颗粒施加至感光鼓1的颗粒供给刷11A,如图5中所示。
颗粒供给刷11A可以与感光鼓1接触,使得颗粒M可以通过颗粒供给刷11A而供给至感光鼓1。
作为替代,颗粒供给器11可以是包含颗粒M的多孔海绵辊(未示出),并且将通过使海绵辊与感光鼓1接触而将颗粒M供给至感光鼓1。在这些情况下,颗粒供给刷11A或海绵辊可以设置有供给偏压所施加至的心轴。
颗粒供给刷11A或海绵辊可以设置有直接从装置主体接收驱动力的从动构件(未示出)。颗粒供给刷11A或海绵辊可以与感光鼓1可移除地接触。
第二实施例
本公开的第二实施例基本上具有与第一实施例相同的构造。下面将参考图6描述不同之处。
在第二实施例中,中间转印带31(中间转印构件)由清洁设备清洁,而在第一实施例中感光鼓由清洁设备(清洁刮刀8)清洁。第二实施例的成像装置具有清洁设备35A,并且清洁设备35A可以具有与第一实施例中的清洁设备(清洁刮刀8)相同的构造。
图6是第二实施例的成像装置的主要部分的放大截面图。在本实施例中,适于清洁中间转印构件的清洁设备35A包括第二清洁刮刀14,如图6所示。第二清洁刮刀14可以用作本文公开的清洁构件,如第一实施例的清洁刮刀8一样。
更具体地,本实施例的成像装置包括可操作以承载要从图像承载构件转印的显影剂的中间转印构件31、以及具有能够与中间转印构件接触以清洁中间转印构件的表面的接触部分820的清洁构件35A。
清洁构件构造成使显影剂T的具有比调色剂颗粒小的当量球直径的该特定颗粒M保留在其中中间转印构件与接触部分820彼此接触的接触区域N处。
该特定颗粒M包含具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基。在该特定颗粒中,当通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得硅的原子浓度dSi、氧的原子浓度dO和碳的原子浓度dC的总和为100.0原子百分数时,硅的原子浓度dSi满足关系1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数。
此外,当假设该特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有三个长度L1、L2和L3(以单位体积中的平均值表示)且其中L1是三个长度中最长的一个时,该特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3(参见图4A至4D)。
在根据本实施例的至少一些实施方式中,与第一实施例中一样,接触部分可以具有满足0.1≤H≤1.2的动态硬度H。
本实施例的成像装置可以产生与第一实施例中相同的效果。
在本实施例中,盒和成像装置允许减小清洁夹持部处的扭矩并减少所得图像中的缺陷。
虽然已经参考示例性实施例描述了本发明,但是应该理解,本发明不限于所公开的示例性实施例。所附权利要求的范围应被赋予最宽泛的解释,以便涵盖所有这些修改和等同的结构及功能。
Claims (15)
1.一种盒,包括:
显影剂,其包含调色剂颗粒和特定颗粒,
图像承载构件,所述图像承载构件能够承载通过用所述显影剂显影静电潜像而形成的显影剂图像,所述特定颗粒具有比调色剂颗粒小的当量球直径,和
清洁构件,所述清洁构件具有接触部分,所述接触部分能够在接触部分与图像承载构件之间的接触区域中与图像承载构件接触、并且能够清洁图像承载构件的表面,清洁构件构造成能够将所述特定颗粒保留在接触区域中,
其中,所述特定颗粒含有具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基,并且当通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得所述特定颗粒中的硅、氧和碳的总原子浓度为100.0原子百分数时,所述特定颗粒中的硅的原子浓度dSi满足关系1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数,并且
其中,当假设在所述特定颗粒保留在接触区域中的状态下所述特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有以单位体积中的平均值表示的三个长度L1、L2和L3且其中L1是三个长度中最长的一个时,所述特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
2.根据权利要求1所述的盒,其中,接触部分具有满足0.1≤H≤1.2的动态硬度H。
3.根据权利要求1所述的盒,还包括能够将显影剂供给至图像承载构件的显影剂承载构件,
其中,所述特定颗粒结合至调色剂颗粒的表面以形成整体结构,由此与调色剂颗粒一起从显影剂承载构件供给至图像承载构件。
4.根据权利要求3所述的盒,其中,在成像期间所述特定颗粒与调色剂颗粒的表面分离,然后被保留在接触区域中。
5.根据权利要求1所述的盒,还包括能够将显影剂供给至图像承载构件的显影剂承载构件,
其中,所述特定颗粒是与调色剂颗粒混合的外部添加剂,由此与调色剂颗粒一起从显影剂承载构件供给至图像承载构件。
6.根据权利要求1所述的盒,还包括能够将显影剂供给至图像承载构件的显影剂承载构件,
其中,显影剂承载构件包括含有所述特定颗粒的表面层,所述特定颗粒从显影剂承载构件的表面层供给至图像承载构件。
7.根据权利要求3所述的盒,其中,显影剂承载构件是能够间歇地与图像承载构件接触的弹性辊。
8.根据权利要求1所述的盒,其中,清洁构件包括具有自由端的弹性板,并且接触部分位于弹性板的自由端处。
9.根据权利要求1所述的盒,还包括与图像承载构件接触的颗粒供给器,所述颗粒供给器能够将所述特定颗粒供给至图像承载构件。
10.根据权利要求9所述的盒,其中,颗粒供给器包括能够与图像承载构件接触的刷,并且所述特定颗粒利用刷供给至图像承载构件。
11.根据权利要求1所述的盒,其中,显影剂包含磁性的单组分调色剂。
12.根据权利要求1所述的盒,其中,盒构造成能够可拆卸地安装至能够形成图像的成像装置。
13.一种成像装置,包括:
定影设备;和
根据权利要求1所述的盒。
14.一种成像装置,包括:
显影剂,其包含调色剂颗粒和特定颗粒,
图像承载构件,所述图像承载构件能够承载通过使用所述显影剂进行显影而形成的显影剂图像,所述特定颗粒具有比调色剂颗粒小的当量球直径,
中间转印构件,所述中间转印构件能够承载从图像承载构件转印的显影剂图像;和
清洁构件,所述清洁构件具有接触部分,所述接触部分能够在接触部分与图像承载构件之间的接触区域中与中间转印构件接触、并且能够清洁中间转印构件的表面,清洁构件构造成能够将所述特定颗粒保留在接触区域中,
其中,所述特定颗粒含有具有由R-SiO3/2表示的部分结构的有机硅聚合物,其中R表示具有1至6个碳原子的烷基,并且当通过化学分析用电子能谱(ESCA)测得所述特定颗粒中的硅、氧和碳的总原子浓度为100.0原子百分数时,所述特定颗粒中的硅的原子浓度dSi满足关系1.0原子百分数≤dSi≤29.0原子百分数,并且
其中,当假设在所述特定颗粒保留在接触区域中的状态下所述特定颗粒在三维坐标系中的三个轴向上具有以单位体积中的平均值表示的三个长度L1、L2和L3且其中L1是三个长度中最长的一个时,所述特定颗粒满足L2/L3≤3/4或L2/L3≥4/3。
15.根据权利要求14所述的成像装置,其中,接触部分具有满足0.1≤H≤1.2的动态硬度H。
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