CN109872667A - 信号检测系统及显示装置 - Google Patents
信号检测系统及显示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109872667A CN109872667A CN201910241133.0A CN201910241133A CN109872667A CN 109872667 A CN109872667 A CN 109872667A CN 201910241133 A CN201910241133 A CN 201910241133A CN 109872667 A CN109872667 A CN 109872667A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- detection system
- electrically connected
- testing weld
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 91
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 79
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
本发明提供了一种信号检测系统及显示装置。所述信号检测系统包括开关电路、检测信号线和检测电路。所述开关电路的第一端与电路板电连接，所述开关电路的第二端与检测信号线的第一端电连接，所述开关电路的第三端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号。所述检测信号线用于接收所述开关电路输出的源极驱动信号。所述检测电路包括多个测试焊盘，所述检测电路通过所述测试焊盘与所述检测信号线的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线上的源极驱动信号，其中，所述测试焊盘设置在所述电路板板的金手指区域。
Description
技术领域
本发明涉及显示领域，尤其涉及一种信号检测系统及显示装置。
背景技术
随着显示装置朝向大型化、高解析度、高分辨率发展，以及对显示品质要求的提高，高PPI(Pixels Per Inch，每英寸所拥有的像素数)使得信号线越来越细、线间距越来越小，使得信号线之间发生短路的概率大幅提高。
因此，显示装置的显示测试是显示屏制作过程中的一个非常重要的环节，在显示装置制作完成后，分别将显示面板中的数据线、栅线和公共电极线连接到对应的测试区域(Pad)上，通过对测试Pad加载相应的测试信号，以检测显示装置中的各晶体管是否正常，以及检测各栅线和各数据线的走线是否正常，防止不良产品你流入模组段，造成成本浪费。
目前设计中，印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)的金手指区域包括绑定区域(bonding Pad)和虚设区域(Dummy Pad)，虚设区域的焊盘只具有接地的功能，测试信号仅能通过绑定区域的焊盘输入/输出电信号。因此需要在PCB的其它区域单独设置测试Pad，导致PCB面积增大。此外，在非检测时间段，由于所述测试Pad与测试区域通过导线直接连接，显示面板扇出区域(Fan Out Area)的静电有可能通过导线传输至PCB，对PCB上的元器件造成损伤。
发明内容
基于此，有必要针对因单独增设测试Pad区域导致的电路板面积增大以及扇出区域中的静电损伤电路板中的元器件的问题，提供一种信号检测系统和显示装置。
本发明提供了一种信号检测系统，包括：
开关电路，所述开关电路的第一端与电路板电连接，所述开关电路的第二端与检测信号线的第一端电连接，所述开关电路的第三端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号；
所述检测信号线用于接收所述源极驱动信号；以及
检测电路，所述检测电路包括多个测试焊盘，所述检测电路通过所述测试焊盘与所述检测信号线的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线上的所述源极驱动信号，其中，所述测试焊盘设置在所述电路板的金手指区域。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘与所述金手指区域中其它的焊盘长度相同。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘的宽度为1.5-2.5mm。
在其中一个实施例中，相邻的两个测试焊盘之间的间距为0.8-1.2mm。
在其中一个实施例中，所述检测电路还包括：
示波器，所述示波器与所述测试焊盘电连接，用于显示所述源极驱动信号的波形图像；以及
测试单元，所述测试单元与所述示波器电连接，用于接收所述示波器输出的波形图像，并根据所述波形图像判断所述源极驱动电路是否正常工作。
在其中一个实施例中，所述开关电路包括：
开关管，所述开关管的栅极与所述电路板电连接，所述开关管的漏极与所述源极驱动电路的输出端电连接；以及
二极管，所述二极管的正极与所述开关管的源极电连接，所述二极管的负极与所述检测信号线电连接。
在其中一个实施例中，所述开关管为N型开关管。
在其中一个实施例中，所述开关管为场效应管或三极管。
基于同一发明构思，本发明还提供了一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和上述任一实施例所述的信号检测系统，其中，所述信号检测系统与所述显示面板电连接，接收所述显示面板提供的源极驱动信号，并对所述源极驱动信号进行检测。
综上，本发明提供了一种信号检测系统及显示装置。所述信号检测系统包括开关电路、检测信号线和检测电路。所述开关电路的第一端与电路板电路板电连接，所述开关电路的第二端与检测信号线的第一端电连接，所述开关电路的第三端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号。所述检测信号线用于接收所述源极驱动信号。所述检测电路包括多个测试焊盘，所述检测电路通过所述测试焊盘与所述检测信号线的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线上的源极驱动信号，其中，所述测试焊盘设置在所述电路板板的金手指区域。本发明中，通过将所述测试焊盘设置在的金手指区域，避免了需要单独设置测试Pad的弊端，节省了电路板面积。并且，在非检测时间段，通过所述开电路可断开扇出区域与电路板的连接，从而避免了扇出区域中的静电对电路板中的元器件造成损伤的问题，提高产品良率。
附图说明
图1为显示面板中PCB、S-COF以及显示区域的连接方式示意图；
图2为本发明实施例提供的一种信号检测系统的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的又一种信号检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
随着显示器朝向大型化、高解析度、高分辨率发展，以及对显示品质要求的提高，高PPI(Pixels Per Inch，每英寸所拥有的像素数)使得信号线越来越细、线间距越来越小。一般显示器中数据线、扫描线与像素连接，高PPI致使相邻信号线之间的间距越来越小，从而导致相邻信号线之间发生短路的概率大幅提高。
如图1所示，TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)是当前平板显示的主要品种之一，已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD主要驱动原理，系统主板将R/G/B像素信号、控制信号及电源通过信号线与PCB板上的连接器相连接，经过PCB板上的TCON(Timing Controller，时序控制器)IC(Integrated Circuit，集成电路)处理后，经PCB板，通过S-COF(Source-Chip on Film，源极驱动芯片)和G-COF(Gate-Chip on Film栅极驱动芯片)与显示区连接，从而使得LCD获得所需的电源和信号。
为了解决上述问题，本发明提供了一种信号检测系统。请参见图2，所述信号检测系统包括开关电路100、检测信号线200和检测电路300。
所述开关电路100的第一端与电路板电连接，所述开关电路100的第二端与检测信号线200的第一端电连接，所述开关电路100的第三端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号。
所述检测信号线200用于接收所述源极驱动信号。
所述检测电路300包括多个测试焊盘310，所述检测电路300通过所述测试焊盘310与所述检测信号线200的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线200上的所述源极驱动信号，其中，所述测试焊盘310设置在所述电路板的金手指区域。
可以理解，所述检测电路300通过所述测试焊盘310与所述检测信号线200连接，以通过所述测试焊盘310获取所述检测信号线200上的源极驱动信号，并对所述源极驱动信号的波形进行检测，以实现对显示面板的不良检测。本发明中通过将所述检测电路300中的测试焊盘310设置在所述电路板的金手指区域中，因此可避免因单独设置测试Pad所导致电路板面积增大的问题。并且，在非检测时间段，通过所述开电路可断开扇出区域与电路板的连接，从而避免了扇出区域中的静电对电路板中的元器件造成损伤的问题，提高产品良率。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘310为所述金手指区域中的虚设区域中的虚设焊盘。
可以理解，Dummy Pad中的虚设焊盘仅有接地功能，并不与源极驱动电路电连接，因此Dummy Pad中的虚设焊盘中没有信号传输。而本发明中，通过所述检测信号线200以及所述开关电路100将源极驱动信号提供给所述虚设焊盘，使得该虚设焊盘与所述源极驱动电路之间实现电连接，因此可利用该虚设焊盘作为测试焊盘310以获取源极驱动信号，根据从测试焊盘310上获取的源极驱动信号实现对S-COF的输出波形进行检测。并且，本实施例中，利用Dummy Pad中的虚设焊盘作为测试焊盘310使用，以实现对S-COF的输出波形进行检测，不需要另外单独设置测试区域，避免了因单独设置测试Pad所导致电路板面积以及生产成本增大的问题。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘与所述金手指区域中其它的焊盘长度相同。可以理解，所述测试焊盘与所述金手指区域中其它的焊盘长度相同时，可避免因拼插深度不同造成的接触不良问题，有利于提高产品质量。
所述绑定区域中设置有多个信号输入焊盘和多个信号输出焊盘，所述电路板通过所述信号输入焊盘与所述开关电路100的第一端电连接，所述检测信号线200通过所述信号输出焊盘与所述开关电路100的第二端电连接。
可以理解，为实现S-COF与电路板通过Bonding Pad连接，因此所述Bonding Pad中设置多个焊盘，通过Bonding Pad焊盘实现数据的相互传输。本实施例中，通过所述信号输入焊盘实现所述电路板与所述开关电路100的第一端的电连接，通过所述信号输出焊盘实现所述检测信号线200与所述开关电路100的第二端的电连接，以便电路板将所述检测控制信号提供给所述开关电路100，以及所述开关电路100根据所述检测控制信号将源极驱动信号提供给检测信号线200，以实现对源极驱动信号的波形进行检测。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘310、所述信号输入焊盘以及所述信号输出焊盘的形状和大小完全相同。可以理解，所述测试焊盘310、所述信号输入焊盘以及所述信号输出焊盘的形状和大小完全相同时，有利于简化制作工艺，缩短生成周期。
在其中一个实施例中，所述测试焊盘310的宽度为1.5-2.5mm。
可以理解，所述测试焊盘310的宽度过大时，则会导致电路板面积增大。所述测试焊盘310的宽度过小时，则会导致电路板与S-COF接触不良，从而导致不良显示。本实施例中将测试焊盘310的宽度设置在1.5-2.5mm范围内，即可避免因测试焊盘310的宽度过小导致的显示不良的问题，同时还不会因测试焊盘310的宽度过大导致电路板面积增大。需要指出的是，本实施例不对所述测试焊盘310的宽度做任何限定，所述测试焊盘310的宽度还可以为其它值，具体可根据实际工艺需要进行设定。
在其中一个实施例中，相邻的两个所述测试焊盘310之间的间距为0.8-1.2mm。
可以理解，相邻的两个所述测试焊盘310之间的间距过大时，则会导致电路板面积增大；反之，相邻的两个所述测试焊盘310之间的间距过小时，则有可能导致相邻的两个所述测试焊盘310之间短路，影响信号检测准确性。本实施例中将相邻的两个所述测试焊盘310之间的间距设置为0.8-1.2mm，可有效避免因相邻的两个测试焊盘310之间的间距过大或过小所导致的弊端，提高产品质量。需注意的是，本实施例不对相邻的两个所述测试焊盘310之间的间距做任何限定，相邻的两个所述测试焊盘310的之间的间距还可以为其它值，具体可根据实际工艺需要进行设定。
在其中一个实施例中，所述检测电路300还包括示波器320和测试单元330，请参见图3。
所述示波器320与所述测试焊盘310电连接，用于显示所述源极驱动信号的波形图像。
所述测试单元330与所述示波器320电连接，用于接收所述示波器320输出的波形图像，并根据所述波形图像判断所述源极驱动电路是否正常工作。
在其中一个实施例中，所述开关电路100包括开关管M和二极管D。
所述开关管M的栅极与所述电路板电连接，所述开关管M的漏极与所述源极驱动电路的输出端电连接。
所述二极管D的正极与所述开关管M的源极电连接，所述二极管D的负极与所述检测信号线200电连接。
可以理解，在非检测时间段，通过控制所述开关管M可断开显示面板的扇出区域与电路板的连接，从而避免了扇出区域中的静电对电路板中的元器件造成损伤的问题，提高产品良率。并且，通过设置所述二极管D，可防止检测电路300中信号倒灌到所述S-COF中，从而避免造成不良显示。
在其中一个实施例中，所述开关管M为N型开关管M。
可以理解，对于开关管M为N型开关管M来说，当其栅极为高电平时，所述开关管M导通；当其栅极为低电平时，所述开关管M断开。本实施例中，在信号检测时间段，电路板通过信号输入焊盘向所述开关管M提供高电平的检测控制信号，所述开关管M的栅极为高电平，所述开关管M导通，将源极驱动电路输出的源极驱动信号提供给所述检测信号线200。在非信号检测时段，所述电路板通过信号输入焊盘向所述开关管M提供低电平的检测控制信号，所述开关管M的栅极为低电平，所述开关管M关闭，所述检测信号上线无信号。此外，所述开关管M也可以为P型开关管M，具体应根据实际电路设计进行选择。
在其中一个实施例中，所述开关管M为三极管或场效应管。可以理解，通过三极管或场效应管，都可以实现控制电路的通断。此外，所述开关管M可以采用其它具有开关功能的元器件，如继电器等。
本实施例中，以开关为N型场效应管为例，具体描述所述信号检测系统的工作原理。在非检测时间段，电路板提供的所述检测控制信号为低电平，所述开关管M断开，检测信号线200上无线信号。在检测时间段，电路板提供的检测控制信号为高电平，所述开关管M导通，源极驱动信号通过开关管M以及信号输出焊盘提供给检测信号线200，所述示波器320显示所述源极驱动信号的波形图像，并将所述波形图像输出给测试单元330，所述测试单元330根据所述波形图像判断源极驱动电路是否故障。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和上述任一实施例所述信号检测系统，其中，所述信号检测系统与所述显示面板电连接，接收所述显示面板提供的源极驱动信号，并对所述源极驱动信号进行检测。
综上，本发明提供了一种信号检测系统及显示装置。所述信号检测系统包括开关电路100、检测信号线200和检测电路300。所述开关电路100的第一端与印刷电路板电路板电连接，所述开关电路100的第二端与所述检测信号线200的第一端电连接，所述开关电路100的第二端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号。所述检测信号线200用于接收所述开关电路100输出的源极驱动信号。所述检测电路300包括多个测试焊盘310，所述检测电路300通过所述测试焊盘310与所述检测信号线200的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线200上的源极驱动信号，其中，所述测试焊盘310设置在所述电路板板的金手指区域。本发明中，通过将所述测试焊盘310设置在的金手指区域，避免了需要单独设置测试Pad的弊端，节省了电路板面积。并且，在非检测时间段，通过所述开电路可断开扇出区域与电路板的连接，从而避免了扇出区域中的静电对电路板中的元器件造成损伤的问题，提高产品良率。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种信号检测系统，其特征在于，包括：
开关电路，所述开关电路的第一端与电路板电连接，所述开关电路的第二端与检测信号线的第一端电连接，所述开关电路的第三端与源极驱动电路的输出端电连接，用于接收所述电路板提供的检测控制信号和所述源极驱动电路提供的源极驱动信号，并根据所述检测控制信号控制输出源极驱动信号；
所述检测信号线，用于接收所述源极驱动信号；以及
检测电路，所述检测电路包括多个测试焊盘，所述检测电路通过所述测试焊盘与所述检测信号线的第二端电连接，用于接收并检测所述检测信号线上的所述源极驱动信号，其中，所述测试焊盘设置在所述电路板的金手指区域。
2.如权利要求1所述的信号检测系统，其特征在于，所述测试焊盘为所述金手指区域中的虚设区域中的虚设焊盘。
3.如权利要求1所述的信号检测系统，其特征在于，所述测试焊盘与所述金手指区域中其它的焊盘长度相同。
4.如权利要求1所述的信号检测系统，其特征在于，所述测试焊盘的宽度为1.5-2.5mm。
5.如权利要求4所述的信号检测系统，其特征在于，相邻的两个所述测试焊盘之间的间距为0.8-1.2mm。
6.如权利要求1所述的信号检测系统，其特征在于，所述检测电路还包括：
示波器，所述示波器与所述测试焊盘电连接，用于显示所述源极驱动信号的波形图像；以及
测试单元，所述测试单元与所述示波器电连接，用于接收所述示波器输出的波形图像，并根据所述波形图像判断所述源极驱动电路是否正常工作。
7.如权利要求1所述的信号检测系统，其特征在于，所述开关电路包括：
开关管，所述开关管的栅极与所述电路板电连接，所述开关管的漏极与所述源极驱动电路的输出端电连接；以及
二极管，所述二极管的正极与所述开关管的源极电连接，所述二极管的负极与所述检测信号线电连接。
8.如权利要求7所述的信号检测系统，其特征在于，所述开关管为N型开关管。
9.如权利要求7所述的信号检测系统，其特征在于，所述开关管为场效应管或三极管。
10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括显示面板和权利要求1-9任一权项所述信号检测系统，其中，所述信号检测系统与所述显示面板电连接，接收所述显示面板提供的源极驱动信号，并对所述源极驱动信号进行检测。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910241133.0A CN109872667B (zh) | 2019-03-28 | 2019-03-28 | 信号检测系统及显示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910241133.0A CN109872667B (zh) | 2019-03-28 | 2019-03-28 | 信号检测系统及显示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109872667A true CN109872667A (zh) | 2019-06-11 |
| CN109872667B CN109872667B (zh) | 2022-10-11 |
Family
ID=66921469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910241133.0A Active CN109872667B (zh) | 2019-03-28 | 2019-03-28 | 信号检测系统及显示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109872667B (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111679521A (zh) * | 2020-06-04 | 2020-09-18 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示模组以及电子设备 |
| CN111816124A (zh) * | 2020-08-07 | 2020-10-23 | 合肥奕斯伟集成电路有限公司 | 一种驱动电路、显示装置及利用时序控制器的检测方法 |
| CN112599086A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-04-02 | 深圳市思坦科技有限公司 | Led驱动测试电路 |
| CN114387901A (zh) * | 2020-10-22 | 2022-04-22 | 三星显示有限公司 | 用于测试显示ic的显示ic芯片、复制像素和方法 |
| WO2023092561A1 (zh) * | 2021-11-29 | 2023-06-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001202065A (ja) * | 2000-01-21 | 2001-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2002365660A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
| KR20070001583A (ko) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | 삼성에스디아이 주식회사 | 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법 |
| CN1924657A (zh) * | 2005-08-30 | 2007-03-07 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 液晶显示板和具有其的液晶显示装置 |
| KR20110075467A (ko) * | 2009-12-28 | 2011-07-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
| CN103325327A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-09-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种显示面板、显示面板的检测线路及其检测方法 |
| CN103578357A (zh) * | 2012-07-25 | 2014-02-12 | 乐金显示有限公司 | 塑料面板和使用该塑料面板的平板显示设备 |
| CN104464580A (zh) * | 2013-09-25 | 2015-03-25 | 三星显示有限公司 | 母衬底、其阵列测试方法及显示器衬底 |
| US20150255409A1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-09-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Thin film transistor substrate and method of manufacturing liquid crystal display device using the same |
| CN107683020A (zh) * | 2017-10-17 | 2018-02-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置 |
-
2019
- 2019-03-28 CN CN201910241133.0A patent/CN109872667B/zh active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001202065A (ja) * | 2000-01-21 | 2001-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2002365660A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
| KR20070001583A (ko) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | 삼성에스디아이 주식회사 | 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법 |
| CN1924657A (zh) * | 2005-08-30 | 2007-03-07 | Lg.菲利浦Lcd株式会社 | 液晶显示板和具有其的液晶显示装置 |
| KR20110075467A (ko) * | 2009-12-28 | 2011-07-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 |
| CN103578357A (zh) * | 2012-07-25 | 2014-02-12 | 乐金显示有限公司 | 塑料面板和使用该塑料面板的平板显示设备 |
| CN103325327A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-09-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种显示面板、显示面板的检测线路及其检测方法 |
| CN104464580A (zh) * | 2013-09-25 | 2015-03-25 | 三星显示有限公司 | 母衬底、其阵列测试方法及显示器衬底 |
| US20150255409A1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-09-10 | Samsung Display Co., Ltd. | Thin film transistor substrate and method of manufacturing liquid crystal display device using the same |
| CN107683020A (zh) * | 2017-10-17 | 2018-02-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111679521A (zh) * | 2020-06-04 | 2020-09-18 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示模组以及电子设备 |
| CN111816124A (zh) * | 2020-08-07 | 2020-10-23 | 合肥奕斯伟集成电路有限公司 | 一种驱动电路、显示装置及利用时序控制器的检测方法 |
| CN111816124B (zh) * | 2020-08-07 | 2021-06-04 | 合肥奕斯伟集成电路有限公司 | 一种驱动电路、显示装置及利用时序控制器的检测方法 |
| CN114387901A (zh) * | 2020-10-22 | 2022-04-22 | 三星显示有限公司 | 用于测试显示ic的显示ic芯片、复制像素和方法 |
| CN112599086A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-04-02 | 深圳市思坦科技有限公司 | Led驱动测试电路 |
| WO2023092561A1 (zh) * | 2021-11-29 | 2023-06-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
| GB2622336A (en) * | 2021-11-29 | 2024-03-13 | Boe Technology Group Co Ltd | Display panel and display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN109872667B (zh) | 2022-10-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109872667A (zh) | 信号检测系统及显示装置 | |
| CN103926767B (zh) | 液晶显示器及其检测方法 | |
| CN105096780B (zh) | 基板电路及显示面板的信号测试电路 | |
| US20190294290A1 (en) | Display substrate and short-circuit detecting method thereof, and display device | |
| TW437095B (en) | Substrate for photoelectric device, active matrix substrate and the inspection method of substrate for photoelectric device | |
| CN106057112A (zh) | 成盒测试电路以及液晶显示基板 | |
| CN109345988B (zh) | 测试电路、显示面板测试装置和显示装置 | |
| US9298055B2 (en) | Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device | |
| KR20020050037A (ko) | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 | |
| CN104866158B (zh) | 一种内嵌式触摸屏及显示装置 | |
| CN104280908A (zh) | 一种检测电路和液晶显示面板及其制造方法 | |
| CN101097673B (zh) | 具有单面板功能测试的静电放电防护整合电路 | |
| CN108681116B (zh) | 一种显示面板、检测治具及检测控制方法 | |
| CN203055406U (zh) | 一种基板的信号线检测装置及显示器件 | |
| CN110910800B (zh) | 源极驱动器 | |
| CN106128342B (zh) | 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法 | |
| CN105739768A (zh) | 一种触控显示面板和一种触控显示设备 | |
| CN102306479A (zh) | 一种适用于psva与阵列的测试电路 | |
| CN105652539B (zh) | 液晶显示装置及其液晶显示面板 | |
| CN111261089B (zh) | 显示装置及电子设备 | |
| CN110221491A (zh) | 阵列基板及其制作方法、液晶显示面板 | |
| CN106652859A (zh) | 显示面板及其制作方法、显示设备和显示测试方法 | |
| CN107004386B (zh) | 显示装置 | |
| CN104407456A (zh) | 阵列基板及显示装置 | |
| CN107230443B (zh) | 内嵌式触摸屏测试电路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |