CN109508819A - 一种轨道控制的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种轨道控制的方法和装置，属于检测技术领域，该方法包括，确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合；根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测。这样，提高了样本架的检测效率和适应性。

Description

一种轨道控制的方法和装置

技术领域

本申请涉及检测技术领域，尤其涉及一种轨道控制的方法和装置。

背景技术

目前，在进行样本分析以及检测时，为提高检测效率，通常通过轨道系统将样本架进行传输以及检测。现有技术下，轨道系统通常采用以下方式，控制样本架传输：

获取样本架中各样本的待测项目和各分析设备可进行检测的检测项目，并确定分析设备的检测项目数与待测项目数的差值，以及按照差值由小到大的顺序，将样本架依次传输至相应的分析设备。

但是，采用这种方式，根据差值依次确定的分析设备可能有的较远，有的较近，使得样本架需要轮转，样本架调度的效率较差，进一步地，仅考虑了项目数的差值因素，而没有考虑其它等待时间以及优先级等因素，样本架调度的自适应较差。

发明内容

本申请实施例提供一种轨道控制的方法和装置，用以在对轨道系统中的样本架进行检测时，提高样本架的效率和自适应性。

一方面，提供一种轨道控制的方法，应用于包含分析设备的轨道系统，包括：

确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；

根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；

根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；

根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测，其中，轨道路径的目的地包括匹配设备集合中的各分析设备。

较佳的，进一步包括：

确定接收到新的样本架的进入轨道请求，获取轨道系统的所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第一数目门限，若是，则向新的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向新的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，进一步包括：

确定接收到轨道系统的缓存设备区域中的样本架发送的重测请求时，获取所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则向缓存设备区域中的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向缓存设备区域中的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，包括：

根据匹配结果，若仅存在一个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获得仅包含该分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则预估样本架分别在每一完全匹配的分析设备中的排队时间，并筛选出最小排队时间对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并分别确定每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和，以及筛选出最大加和对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并筛选出调度系数最高的测试通道对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合。

较佳的，根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，包括：

根据匹配结果，若不存在与待测项目集合完全匹配的可测项目集合，则根据预估的排队时间由小到大的顺序或对应的调度系数由大到小的顺序，将可测项目集合不为空集的各分析设备进行排序；

按照排序，将获取的第一个分析设备的不可测项目集合，确定为不匹配项目集合，并生成仅包含第一个分析设备的匹配设备集合；不可测项目集合与该分析设备的可测项目集合的并集为待测项目集合；

按照排序，依次针对排序中除第一个分析设备之外的每一个分析设备，执行以下步骤，直到匹配设备集合对应的可测项目集合与待测项目集合完全匹配：根据不匹配项目集合与该分析设备的可测项目集合的交集部分，获得匹配项目集合，并根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合，以及确定匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到匹配设备集合中。

一方面，提供一种轨道控制的装置，包含分析设备，包括：

获取单元，用于确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；

匹配单元，用于根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；

筛选单元，用于根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；

控制单元，用于根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测，其中，轨道路径的目的地包括匹配设备集合中的各分析设备。

较佳的，获取单元还用于：

确定接收到新的样本架的进入轨道请求，获取轨道系统的所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第一数目门限，若是，则向新的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向新的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，控制单元还用于：

确定接收到轨道系统的缓存设备区域中的样本架发送的重测请求时，获取所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则向缓存设备区域中的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向缓存设备区域中的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，筛选单元具体用于：

根据匹配结果，若仅存在一个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获得仅包含该分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则预估样本架分别在每一完全匹配的分析设备中的排队时间，并筛选出最小排队时间对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并分别确定每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和，以及筛选出最大加和对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并筛选出调度系数最高的测试通道对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合。

较佳的，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，筛选单元具体用于：

根据匹配结果，若不存在与待测项目集合完全匹配的可测项目集合，则根据预估的排队时间由小到大的顺序或对应的调度系数由大到小的顺序，将可测项目集合不为空集的各分析设备进行排序；

按照排序，将获取的第一个分析设备的不可测项目集合，确定为不匹配项目集合，并生成仅包含第一个分析设备的匹配设备集合；不可测项目集合与该分析设备的可测项目集合的并集为待测项目集合；

按照排序，依次针对排序中除第一个分析设备之外的每一个分析设备，执行以下步骤，直到匹配设备集合对应的可测项目集合与待测项目集合完全匹配：根据不匹配项目集合与该分析设备的可测项目集合的交集部分，获得匹配项目集合，并根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合，以及确定匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到匹配设备集合中。

本申请实施例提供的一种轨道控制的方法和装置中，确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测，其中，轨道路径的目的地包括匹配设备集合中的各分析设备。这样，根据各测试通道的状态，将待测项目集合与可测项目集合进行匹配，并根据匹配结果，以及各分析设备的排队时间或调度系数，筛选出作为轨道路径目的地的分析设备，进而根据筛选出的分析设备制定最佳的轨道路径，从多个因素综合考虑样本架的调度，提高了样本架的检测效率和适应性。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请提供的一种轨道系统的架构示意图；

图2为本申请实施方式中一种轨道控制的方法的实施流程图；

图3为本申请实施方式中一种待测项目集合匹配的实施流程图；

图4为本申请实施方式中一种轨道路径的确定方法的实施流程图；

图5为本申请实施方式中一种轨道控制的装置的结构示意图。

具体实施方式

为了在对轨道中样本架的传输进行调度时，提高样本架传输的自适应性，避免轨道堵塞，本申请实施例提供了一种轨道控制的方法和装置。

参阅图1所示，为一种轨道系统的架构示意图。轨道系统包括输入输出设备区域，分析设备区域，缓存设备区域以及若干主轨道。

分析设备区域：包括内侧轨道和分析设备，负责实际的检测功能，如血球分析仪，免疫分析仪，生化分析仪等。其中，内侧轨道用于将样本架在主轨道与分析设备之间传输。分析设备包括多个测试通道，测试通道用于针对一个检测项目进行测试。

输入输出设备区域：通常兼有样本架的输入和输出功能。操作人员可以通过输入输出设备区域将样本架运送进主轨道，或者，通过输入输出设备区域将样本架从主轨道中取回。

缓存设备区域：用于在分析结果出来之前缓存样本架，以便在分析结果出来后决定将样本架退出还是将样本架重新传输至分析设备区域以再次进行检测。

实际应用中，轨道系统对样本架进行传输时，输入输出设备区域将通过输入口进入的样本架，推入至主轨道后，样本架通过各主轨道依次进行传输，并从主轨道传输至分析设备区域，以通过分析设备区域对样本架中的样本进行检测。分析设备区域在对样本架中的样本进行检测后，将样本架再次推入至主轨道，并通过主轨道，将样本架传输至缓存设备区域。缓存设备区域根据分析设备区域的分析结果，将样本架通过主轨道传输至输出口，或者，将样本架重新传输至分析设备区域以再次进行分析。轨道系统中的样本架容量是有限的，为避免轨道系统堵塞，对样本架进行合理调度，提高样本检测的效率，本申请实施例提供了一种轨道控制的技术方案。

参阅图2所示，为本申请提供的一种轨道控制的方法的实施流程图。在下文的介绍过程中，结合图1所示的轨道系统进行说明，该方法的具体实施流程如下：

步骤200：样本架向轨道系统发送进入轨道请求。

具体的，样本架初次进入轨道系统前，向轨道系统发送进入轨道请求，或者，若接收到轨道系统的拒绝进入响应消息，则延迟预设延迟时长后，向轨道系统发送进入轨道请求。一个样本架中包含一个或多个样本。

步骤201：轨道系统获取当前所有内侧轨道中的样本架总数。

步骤202：轨道系统确定样本架总数低于第一数目门限，向样本架发送允许进入响应消息。

具体的，执行步骤202时，第一数目门限用于控制新进的样本架的数量，以控制内侧轨道内的样本架总数。

进一步地，若样本架总数不低于第一数目门限，说明内侧轨道中样本架的数量比较多，有阻塞的可能，则向样本架发送拒绝进入响应消息。

步骤203：轨道系统确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，组成待测项目集合。

具体的，执行步骤203时，一个样本可能需要测试一个或多个待测项目，轨道系统分别获取样本架中每一样本的各待测项目，并根据获取的所有待测项目，组成该样本架对应的待测项目集合。

步骤204：轨道系统根据各分析设备的各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合和不可测项目集合。

具体的，首先，轨道系统获取各待测项目在各分析设备中对应的每一测试通道的状态信息，测试通道的状态信息包括通道状态和耗材余量状态。耗材余量状态是指测试通道对样本架中的样本进行测试时所耗费的耗材是否足够。通道状态是指测试通道是否可以正常运行以进行正常测试。

然后，轨道系统根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合和不可测项目集合。一个分析设备的可测项目集合为该分析设备的测试通道能够正常完成的待测项目的集合，并将待测项目集合中除可测项目集合之外的各项目的集合，确定为该分析设备的不可测项目集合，即可测项目集合与不可测项目集合的并集为待测项目集合。

其中，参阅图3所示，为一种待测项目集合匹配的实施流程图，轨道系统根据待测项目集合，获取分析设备的可测项目集合不可测项目集合时，针对每一分析设备，执行以下步骤：

步骤300：轨道系统判断该分析设备的内侧轨道的轨道状态是否正常，若是，则执行步骤301，否则，执行步骤303。

其中，轨道状态至少包括正常，异常以及满载三种状态。

步骤301：轨道系统判断该分析设备是否正常，若是，则执行步骤302，否则，执行步骤303。

步骤302：轨道系统根据各测试通道的通道状态和耗材余量状态，获得可测项目集合和不可测项目集合。

具体的，轨道系统分别针对该分析设备中每一待测项目对应的测试通道，确定该测试通道的通道状态和耗材余量状态均为正常时，将该测试通道对应的测试项目添加至可测项目集合，并将待测项目集合中除可测项目集合之外的集合确定为不可测项目集合。

步骤303：轨道系统发出异常通知。

这样，在分析设备区域中内侧轨道的轨道状态和分析单元的运行状态是正常的前提下，若测试通道的通道状态和耗材余量状态都是正常的，则将该测试通道可测试的测试项目添加到可测项目集合中，否则，添加到不可测项目集合中。

这样，可测项目集合即分析设备可以完成的待测项目的集合，不可测项目集合即分析设备不能完成的待测项目的集合。

步骤205：轨道系统将样本架的待测项目集合分别与每一非空的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果。

具体的，轨道单元筛选出非空的各可测项目集合以及对应的分析设备，并将待测项目集合分别与每一筛选出的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果。

步骤206：轨道系统判断是否存在完全匹配的分析设备，若是，则执行步骤207，否则，执行步骤208。

步骤207：轨道系统根据完全匹配的分析设备，确定轨道路径，执行步骤209。

具体的，执行步骤207时，可以采用以下几种方式：

第一种方式为：若仅存在一个完全匹配的分析设备，则直接将该分析设备确定为轨道路径的目的地，并将样本架至目的地之间的路径，确定为轨道路径。

第二种方式为：若存在多个完全匹配的分析设备，则按照预设的筛选条件，在多个分析设备中筛选出一个分析设备，并将该筛选出的分析设备确定为目的地，以及将样本架至目的地之间的路径，确定为轨道路径。

其中，筛选条件可以采用以下方式中的任意一种：

第一种方式为：根据待运送至分析设备进行检测的其它各样本架中每一样本的待测项目，统计其它样本架需要在每一完全匹配的分析设备的各测试通道中进行检测的总检测次数，并根据总检测次数，预估需要的排队时间，以及筛选出最小排队时间对应的分析设备。

第二种方式为：预先根据测试通道的测试效率或优先等级，设置相应的调度系数，并分别将每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和确定为该分析设备的调度系数，并筛选出最大调度系数对应的分析设备。

其中，排队时间为：根据其它样本架的需要的测试次数确定的样本架需要等待的时间。测试次数越多，需要等待的时间就越长。调度系数为根据测试通道的测试效率或优先等级设置的，调度系数越大，该测试通道的测试效率越高，或，该测试通道的优先等级越高。

例如，若一个测试通道中的试剂临近过期，则可以将该测试通道的调度系数增大，以尽快采用该测试通道进行测试。

这样，与待测项目集合完全匹配的可测项目集合对应的分析设备，说明该分析设备可以独自完成对样本架的所有待测项目的测试。

步骤208：轨道系统根据调度规则，确定样本架的轨道路径。

具体的，参阅图4所示，为一种轨道路径的确定方法的实施流程图，获取匹配设别集合时，可以采用以下步骤：

步骤400：轨道系统将对应的可测项目集合不为空的各分析设备按照预估排队时间或调度系数进行排序。

本申请实施例中，以将分析设备按照预估排队时间由小到大的顺序或调度系数由大到小的顺序进行排序。

步骤401：轨道系统按照排序获取第一个分析设备的不可测项目集合，并确定为不匹配项目集合。

步骤402：轨道系统生成仅包含第一个分析设备的匹配设备集合。

步骤403：轨道系统根据下一个分析设备的可测项目集合与获得的不匹配项目集合的交集部分获得匹配项目集合，并确定匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到匹配设备集合中。

步骤404：轨道系统根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合。

步骤405：轨道系统判断新的不匹配项目集合是否为空集，若是，则执行步骤406，否则，执行步骤403。

步骤406：轨道系统根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径。

具体的，轨道系统获取匹配设备集合中各分析设备与样本架之间的路径距离，并按照由小到大的顺序，将各分析设备再次进行排序，进而确定轨道路径。

步骤209：轨道系统将样本架按照确定出的轨道路径依次传输至各分析设备进行检测。

步骤210：轨道系统确定检测完成后，将样本架传输至缓存设备区域。

步骤211：轨道系统确定接收到缓存设备区域中的样本架的重测请求时，获取内侧轨道中当前的样本架总数。

步骤212：轨道系统判断样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则执行步骤213，否则，执行步骤211。

其中，第一数目门限<第二数目门限，第二数目门限不高于最大数目门限，最大数目门限为轨道系统的最大承载量。第一数目门限低于第二数目门限，以保证缓存设备区域中的样本架可以优于新的样本架进入轨道系统。

例如，轨道系统的最大数目门限为10，第一数目门限为9，第二数目门限为10，当前样本架总数为9，若此时新的样本架和缓存设备区域中的样本架同时请求进入轨道系统，则由于当前样本架数据低于第二数目门限，因此，允许缓存设备区域中的样本架进入轨道系统，由于当前样本架数量不低于第一数目门限，因此，不允许新的样本架进行轨道系统。

步骤213：轨道系统向样本架发送允许进入响应消息，并执行步骤203。

基于同一发明构思，本申请实施例中还提供了一种轨道控制的装置，由于上述装置及设备解决问题的原理与一种轨道控制的方法相似，因此，上述装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。

如图5所示，其为本申请实施例提供的一种轨道控制的装置的结构示意图，包括：

获取单元50，用于确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；

匹配单元51，用于根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；

筛选单元52，用于根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；

控制单元53，用于根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测，其中，轨道路径的目的地包括匹配设备集合中的各分析设备。

较佳的，获取单元50还用于：

确定接收到新的样本架的进入轨道请求，获取轨道系统的所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第一数目门限，若是，则向新的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向新的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，控制单元53还用于：

确定接收到轨道系统的缓存设备区域中的样本架发送的重测请求时，获取所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则向缓存设备区域中的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向缓存设备区域中的样本架发送拒绝进入响应消息。

较佳的，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，筛选单元52具体用于：

根据匹配结果，若仅存在一个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获得仅包含该分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则预估样本架分别在每一完全匹配的分析设备中的排队时间，并筛选出最小排队时间对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并分别确定每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和，以及筛选出最大加和对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并筛选出调度系数最高的测试通道对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合。

较佳的，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，筛选单元52具体用于：

根据匹配结果，若不存在与待测项目集合完全匹配的可测项目集合，则根据预估的排队时间由小到大的顺序或对应的调度系数由大到小的顺序，将可测项目集合不为空集的各分析设备进行排序；

按照排序，将获取的第一个分析设备的不可测项目集合，确定为不匹配项目集合，并生成仅包含第一个分析设备的匹配设备集合；不可测项目集合与该分析设备的可测项目集合的并集为待测项目集合；

按照排序，依次针对排序中除第一个分析设备之外的每一个分析设备，执行以下步骤，直到匹配设备集合对应的可测项目集合与待测项目集合完全匹配：根据不匹配项目集合与该分析设备的可测项目集合的交集部分，获得匹配项目集合，并根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合，以及确定匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到匹配设备集合中。

本申请实施例提供的一种轨道控制的方法和装置中，确定样本架进入轨道系统，获取样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；根据匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制样本架按照轨道路径进行传输以及检测，其中，轨道路径的目的地包括匹配设备集合中的各分析设备。这样，根据各测试通道的状态，将待测项目集合与可测项目集合进行匹配，并根据匹配结果，以及各分析设备的排队时间或调度系数，筛选出作为轨道路径目的地的分析设备，进而根据筛选出的分析设备制定最佳的轨道路径，从多个因素综合考虑样本架的调度，提高了样本架的检测效率和适应性。

为了描述的方便，以上各部分按照功能划分为各模块(或单元)分别描述。当然，在实施本申请时可以把各模块(或单元)的功能在同一个或多个软件或硬件中实现。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种轨道控制的方法，其特征在于，应用于包含分析设备的轨道系统，包括：

确定样本架进入轨道系统，获取所述样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；

根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将所述待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；

根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，所述预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；

根据所述匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制所述样本架按照所述轨道路径进行传输以及检测，其中，所述轨道路径的目的地包括所述匹配设备集合中的各分析设备。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

确定接收到新的样本架的进入轨道请求，获取轨道系统的所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断所述样本架总数是否低于第一数目门限，若是，则向所述新的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向所述新的样本架发送拒绝进入响应消息。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

确定接收到轨道系统的缓存设备区域中的样本架发送的重测请求时，获取所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断所述样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则向所述缓存设备区域中的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向所述缓存设备区域中的样本架发送拒绝进入响应消息。

4.如权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，包括：

根据所述匹配结果，若仅存在一个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获得仅包含该分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则预估所述样本架分别在每一完全匹配的分析设备中的排队时间，并筛选出最小排队时间对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并分别确定每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和，以及筛选出最大加和对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并筛选出调度系数最高的测试通道对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合。

5.如权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，包括：

根据所述匹配结果，若不存在与所述待测项目集合完全匹配的可测项目集合，则根据预估的排队时间由小到大的顺序或对应的调度系数由大到小的顺序，将可测项目集合不为空集的各分析设备进行排序；

按照所述排序，将获取的第一个分析设备的不可测项目集合，确定为不匹配项目集合，并生成仅包含所述第一个分析设备的匹配设备集合；所述不可测项目集合与该分析设备的可测项目集合的并集为待测项目集合；

按照所述排序，依次针对所述排序中除第一个分析设备之外的每一个分析设备，执行以下步骤，直到所述匹配设备集合对应的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配：根据不匹配项目集合与该分析设备的可测项目集合的交集部分，获得匹配项目集合，并根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合，以及确定所述匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到所述匹配设备集合中。

6.一种轨道控制的装置，其特征在于，包含分析设备，包括：

获取单元，用于确定样本架进入轨道系统，获取所述样本架中各样本的待测项目，获得待测项目集合，并获取各待测项目在各分析设备中对应的测试通道的状态信息；

匹配单元，用于根据各分析设备中各测试通道的状态信息，分别确定每一分析设备的可测项目集合，并将所述待测项目集合分别与每一分析设备的可测项目集合进行匹配，获得匹配结果；

筛选单元，用于根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合，其中，所述预设筛选条件是根据分析设备的排队时间或设置的调度系数设定的；

控制单元，用于根据所述匹配设备集合，确定样本架的轨道路径，控制所述样本架按照所述轨道路径进行传输以及检测，其中，所述轨道路径的目的地包括所述匹配设备集合中的各分析设备。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述获取单元还用于：

确定接收到新的样本架的进入轨道请求，获取轨道系统的所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断所述样本架总数是否低于第一数目门限，若是，则向所述新的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向所述新的样本架发送拒绝进入响应消息。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制单元还用于：

确定接收到轨道系统的缓存设备区域中的样本架发送的重测请求时，获取所有内侧轨道中当前的样本架总数；

判断所述样本架总数是否低于第二数目门限，若是，则向所述缓存设备区域中的样本架发送允许进入响应消息；

否则，向所述缓存设备区域中的样本架发送拒绝进入响应消息。

9.如权利要求6-8任一项所述的装置，其特征在于，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，所述筛选单元具体用于：

根据所述匹配结果，若仅存在一个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获得仅包含该分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则预估所述样本架分别在每一完全匹配的分析设备中的排队时间，并筛选出最小排队时间对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并分别确定每一完全匹配的分析设备中各测试通道的调度系数的加和，以及筛选出最大加和对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合；或者，

根据所述匹配结果，若存在多个分析设备的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配，则获取预先针对完全匹配的分析设备中每一测试通道设置的调度系数，并筛选出调度系数最高的测试通道对应的分析设备，获得仅包含筛选出的一个分析设备的匹配设备集合。

10.如权利要求6-8任一项所述的装置，其特征在于，在根据匹配结果，按照预设筛选条件，对分析设备进行筛选，获得匹配设备集合时，所述筛选单元具体用于：

根据所述匹配结果，若不存在与所述待测项目集合完全匹配的可测项目集合，则根据预估的排队时间由小到大的顺序或对应的调度系数由大到小的顺序，将可测项目集合不为空集的各分析设备进行排序；

按照所述排序，将获取的第一个分析设备的不可测项目集合，确定为不匹配项目集合，并生成仅包含所述第一个分析设备的匹配设备集合；所述不可测项目集合与该分析设备的可测项目集合的并集为待测项目集合；

按照所述排序，依次针对所述排序中除第一个分析设备之外的每一个分析设备，执行以下步骤，直到所述匹配设备集合对应的可测项目集合与所述待测项目集合完全匹配：根据不匹配项目集合与该分析设备的可测项目集合的交集部分，获得匹配项目集合，并根据不匹配项目集合中与该分析设备的可测项目集合的非交集部分，获得新的不匹配项目集合，以及确定所述匹配项目集合不为空集时，将该分析设备添加到所述匹配设备集合中。