CN107643134A - 一种ic卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及压力测试领域,尤其涉及一种IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机,其测试方法包括:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;根据多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;获取测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。本发明能够测试IC卡座内触点的弹力值,从而有效评估IC卡座是否符合EMV规范对IC卡座触点弹力的要求,且测试过程中不会对IC卡座造成损伤,只需一次建立应变片与压力之间模型,即可对一批量的IC卡座内金属触点的弹力测试,提高了测试效率,降低了使用成本。
Description
技术领域
本发明涉及压力测试领域,尤其涉及一种IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机。
背景技术
目前IC卡座内金属的触点弹力大小没有通用的测试方法,通常是由触点的金属弹片设计方式及材料决定触点的弹力大小。由于结构公差或金属疲劳等缘故,IC卡座触点可能出现弹力变小或压力受力不均匀等情况,需要一种通用的装置和测试方法来测试IC卡座触点压力的大小。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:本发明提供了一种IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机,解决了现在技术中无法测试IC卡座触点压力的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种IC卡座弹力测试方法,包括以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
本发明提供的一种IC卡座弹力测试终端,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
本发明提供了一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,所述测试卡与IC卡的大小和形状相同;
所述测试卡与IC卡座的触点相对位置上设有槽,所述槽上设有多个的应变片。
本发明还提供了一种测试用于IC卡座弹力测试的测试卡的测试机,包括压力装置、应变采集器和控制器;
所述压力装置包括机座、立柱、横梁、用于放置测试卡的支撑座和对测试卡施力的施力件;所述立柱设置于机座上,所述横梁可沿竖直方向滑动地设置在所述立柱上,所述施力件设置在所述横梁上,所述支撑座相对所述施力件设置在所述机座上;
所述应变采集器和施力件分别与控制器连接,所述应变采集器与测试卡上的应变片连接。
本发明的有益效果为:
本发明提供的IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机,能够得到测试卡上应变片与压力值之间的表达式,并根据IC卡座内测试卡上应变片上的应变值,即可得到IC卡座内触点的弹力值,能够有效评估IC卡座是否符合EMV规范对IC卡座触点弹力的要求,且测试过程中不会对IC卡座造成损伤,只需一次建立应变片与压力之间模型,即可对一批量的IC卡座内金属触点的弹力测试,提高了测试效率,降低了使用成本。
附图说明
图1为根据本发明实施例的一种IC卡座弹力测试方法的主要步骤示意图;
图2为根据本发明实施例的一种IC卡座弹力测试结构图;
图3为根据本发明实施例的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡的结构图;
图4为根据本发明实施例的测试机的结构示意图;
标号说明:
1、机座;2、立柱;3、上横梁;4、横梁;5、液压油缸;6、施力件;
7、压块;8、测试卡;9、支撑座;10、应变片;11、存储器;12、处理器。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。
本发明最关键的构思在于:建立测试卡上应变片上的压力与应变之间的数学模型后,获取测试卡在IC卡座内应变片的应变值,根据建立的数学模型,即可得到IC卡座内触点的弹力值。
请参照图1,本发明提供了一种IC卡座弹力测试方法,包括以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
从上述描述可知,本发明提供的IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机,能够得到测试卡上应变片与压力值之间的表达式,并根据IC卡座内测试卡上应变片上的应变值,即可得到IC卡座内触点的弹力值,能够有效评估IC卡座是否符合EMV规范对IC卡座触点弹力的要求,且测试过程中不会对IC卡座造成损伤,只需一次建立应变片与压力之间模型,即可对一批量的IC卡座内金属触点的弹力测试,提高了测试效率,降低了使用成本。
进一步的,所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
从上述描述可知,通过上述方法能够快速准确地得到压力值与应变值之间的表达式,提高了IC卡座内触点弹力测试的精确性。
进一步的,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
从上述描述可知,在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行压力测试,避免使应变片发生塑形变形,而造成测试结果不准确的问题,同时通过多次压力测试,能够避免偶然因素对测试结果的影响,提高了测试结果的可靠性。
进一步的,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
从上述描述可知,通过上述方法能够提高测试结果的稳定性。
进一步的,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
从上述描述可知,通过上述方法能够提高测试卡上应变片压力测试的准确性。
请参照图2,本发明提供的一种IC卡座弹力测试终端,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
进一步的,所述的一种IC卡座弹力测试终端,所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
进一步的,所述的一种IC卡座弹力测试终端,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
进一步的,所述的一种IC卡座弹力测试终端,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
进一步的,所述的一种IC卡座弹力测试终端,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
请参照图3,本发明提供的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,所述测试卡与IC卡的大小和形状相同;
所述测试卡与IC卡座的触点相对位置上设有槽,所述槽上设有多个的应变片。
从上述描述可知,通过用与IC卡形状和大小均相同的测试卡进行压力测试,能够避免IC卡的损坏,降低测试成本,同时通过测试卡上设置的应变片,能够获取不同压力值对应的不同应变值,并以此建立数学模型,从而对IC卡座内触点的弹力进行测试。
进一步的,所述槽与所述IC卡芯片大小和形状相同,所述槽在所述测试卡上的位置与所述IC卡芯片在IC卡上的位置相同。
从上述描述可知,通过上述结构,能够提高IC卡座内弹力测试的精确性。
进一步的,所述槽的长度为40mm,宽度为12mm。
从上述描述可知,槽的长度大于IC卡芯片的长度,方便应变片设置在测试卡上。
进一步的,所述多个的应变片平行设置于槽内,所述应变片的厚度与所述槽的深度相等。
从上述描述可知,通过上述结构,能够提高IC卡座内触点弹力测试的准确性与稳定性。
进一步的,所述测试卡为PCB板,所述PCB板未设印刷电路,PCB板槽上设置的应变片为电阻式应变片。
从上述描述可知,通过PCB板作为测试卡,使测试卡更加接近IC卡结构;同时通过电阻式应变片能够其应变的变化转换为电阻变化,通过电阻变化值从而准确地得到与其对应的应变值,提高了测试的精确性。
请参照图4,本发明提供的一种用于测试用于IC卡座弹力测试的测试卡的测试机,包括压力装置、应变采集器和控制器;
所述压力装置包括机座、立柱、横梁、用于放置测试卡的支撑座和对测试卡施力的施力件;所述立柱设置于机座上,所述横梁可沿竖直方向滑动地设置在所述立柱上,所述施力件设置在所述横梁上,所述支撑座相对所述施力件设置在所述机座上;
所述应变采集器与控制器连接,所述应变采集器与测试卡上的应变片连接。
从上述描述可知,通过可沿竖直方向滑动的横梁上的施力件,可对支撑座上的测试卡上的应变片进行压力测试,控制器记录并保存施力件施加不同压力时应变采集器上的对应的不同应变值,并对不同压力值和与之对应的应变值建立数学模型,得到压力与应变之间的数据表达式,从而能够根据IC卡座上测试卡中应变片的应变值计算得到IC卡座中触点的弹力。
进一步的,所述的一种测试机,还包括用于将测试卡固定在支撑座上的压块。
从上述描述可知,通过施力件对压块施力,从而对压块下的测试卡施力,使测试卡中的应变片发生弹性形变,并得到其应变值,通过增加的压块使测试卡中的应变片更加接近在IC卡座内的受力情况,提高IC卡座触点弹力测试的准确性。
进一步的,所述的一种测试机,还包括上横梁和用于驱动横梁沿竖直方向滑动的驱动装置;
两个立柱以固定距离垂直设置在机座上,所述上横梁固定设置在两个立柱之间,所述上横梁与两个立柱垂直连接;
所述驱动装置设置于上横梁上,所述驱动装置与控制器连接。
从上述描述可知,通过上述结构,能够提高测试卡压力测试时的横梁上施力件的稳定性。
进一步的,所述的一种测试机,所述驱动装置为液压油缸;
所述液压油缸与控制器连接,所述液压油缸包括输出杆,所述输出杆与横梁垂直连接;所述横梁上设置的施力件为压杆,所述压杆的底部的形状为锥形,所述压杆垂直设置于横梁上。
从上述描述可知,通过上述结构,保证了压杆工作时的稳定性。
进一步的,所述的一种测试机,所述横梁的两端分别套设在两个立柱上。
从上述描述可知,通过上述结构保证了横梁能够沿着立柱在竖直方向滑动,避免在压力测试时左右晃动,而影响测试结果的可靠性与稳定性。
请参照图1,本发明的实施例一为:
本发明提供了一种IC卡座弹力测试方法,包括以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
“对测试卡上的应变片进行压力测试”还可以为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
上述压力测试过程中,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
从上述描述可知,通过上述方法能够测试IC卡座内触点的弹力值,从而有效评估IC卡座是否符合EMV规范对IC卡座触点弹力的要求,且测试过程中不会对IC卡座造成损伤,只需一次建立应变片与压力之间模型,即可对一批量的IC卡座内金属触点的弹力测试,提高了测试效率,降低了使用成本。
请参照图2,本发明的实施例二为:
本发明提供了一种IC卡座弹力测试终端,包括存储器11、处理器12及存储在存储器11上并可在处理器12上运行的计算机程序,所述处理器12执行所述程序时实现以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
“对测试卡上的应变片进行压力测试”还可以为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
上述压力测试过程中,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
请参照图3,本发明的实施例三为:
本发明提供的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡8,所述测试卡8与IC卡的大小和形状相同;
所述测试卡8与IC卡座的触点相对位置上设有槽,所述槽上设有多个的应变片10,所述多个的应变片10平行设置于槽内,所述应变片10的厚度与所述槽的深度相等;所述槽的长度为40mm,宽度为12mm;所述测试卡8为PCB板,所述PCB为的宽度为85.52mm,高度53.92mm,厚度0.84mm,所述PCB板未设印刷电路,PCB板槽上设置的应变片10为电阻式应变片10。
本发明的实施例四为:
本发明提供的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡8,所述测试卡8与IC卡的大小和形状相同;
所述测试卡8与IC卡座的触点相对位置上设有槽,所述槽上设有多个的应变片10,所述多个的应变片10平行设置于槽内,所述应变片10的厚度与所述槽的深度相等;所述槽与所述IC卡芯片大小和形状相同,所述槽在所述测试卡8上的位置与所述IC卡芯片在IC卡上的位置相同;所述测试卡8为PCB板,所述PCB为的宽度为85.52mm,高度53.92mm,厚度0.84mm,所述PCB板未设印刷电路,PCB板槽上设置的应变片10为电阻式应变片10。
请参照图4,本发明的实施例五为:
本发明提供的一种用于测试用于IC卡座弹力测试的测试卡的测试机,其特征在于,包括压力装置、应变采集器、控制器、压块7、上横梁3、驱动装置;
所述压力装置包括机座1、立柱2、横梁4、用于放置测试卡8的支撑座9和对测试卡8施力的施力件6;所述立柱2设置于机座1上,所述横梁4可沿竖直方向滑动地设置在所述立柱2上,所述施力件6设置在所述横梁4上,所述支撑座9相对所述施力件6设置在所述机座1上;所述压块7用于将测试卡8固定在支撑座9上;
所述应变采集器与控制器连接,所述应变采集器与测试卡8上的应变片10连接;
两个立柱2以固定距离垂直设置在机座1上,所述上横梁3固定设置在两个立柱2之间,所述上横梁3与两个立柱2垂直连接;
所述驱动装置设置于上横梁3上,用于驱动横梁4沿竖直方向上下滑动;所述驱动装置为液压油缸5;所述液压油缸5与控制器连接,所述液压油缸5包括输出杆,所述输出杆与横梁4垂直连接;所述横梁4的两端分别套设在两个立柱2上。
综上所述,本发明提供的IC卡座弹力测试方法和终端及测试卡和测试机,能够得到测试卡上应变片与压力值之间的表达式,并根据IC卡座内测试卡上应变片上的应变值,即可得到IC卡座内触点的弹力值,能够有效评估IC卡座是否符合EMV规范对IC卡座触点弹力的要求,且测试过程中不会对IC卡座造成损伤,只需一次建立应变片与压力之间模型,即可对一批量的IC卡座内金属触点的弹力测试,提高了测试效率,降低了使用成本。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (20)
1.一种IC卡座弹力测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
2.根据权利要求1所述的一种IC卡座弹力测试方法,其特征在于,所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
3.根据权利要求1所述的一种IC卡座弹力测试方法,其特征在于,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
4.根据权利要求1所述的一种IC卡座弹力测试方法,其特征在于,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
5.根据权利要求3或4所述的一种IC卡座弹力测试方法,其特征在于,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
6.一种IC卡座弹力测试终端,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
S1:对测试卡上的应变片进行压力测试,记录并保存应变片上施加不同压力值对应的不同应变值,得到多个的坐标点;
S2:根据所述多个的坐标点,得到压力值与应变值之间的表达式;
S3:获取所述测试卡放置在IC卡座内所述应变片的应变值;
S4:根据所述表达式和所述应变值,得到IC卡座触点的弹力。
7.根据权利要求6所述的一种IC卡座弹力测试终端,其特征在于,所述S2具体为:
拟合所述多个的坐标点,得到拟合曲线;所述坐标点的横坐标为压力值,所述坐标点的纵坐标为应变值;
根据所述拟合曲线,得到压力值与应变值之间的表达式。
8.根据权利要求6所述的一种IC卡座弹力测试终端,其特征在于,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
通过预设的压力测试装置在预设的压力范围内对测试卡上的应变片进行多次的压力测试。
9.根据权利要求6所述的一种IC卡座弹力测试终端,其特征在于,“对测试卡上的应变片进行压力测试”具体为:
以20N递增的压力值对测试卡上的应变片进行压力测试,压力测试的压力初始值为180N。
10.根据权利要求8或9所述的一种IC卡座弹力测试终端,其特征在于,每隔预设时间间隔对所述测试卡上的应变片进行压力测试。
11.一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,其特征在于,所述测试卡与IC卡的大小和形状相同;
所述测试卡与IC卡座的触点相对位置上设有槽,所述槽上设有多个的应变片。
12.根据权利要求11所述的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,其特征在于,所述槽与所述IC卡芯片大小和形状相同,所述槽在所述测试卡上的位置与所述IC卡芯片在IC卡上的位置相同。
13.根据权利要求11所述的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,所述槽的长度为40mm,宽度为12mm。
14.根据权利要求11所述的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,其特征在于,所述多个的应变片平行设置于槽内,所述应变片的厚度与所述槽的深度相等。
15.根据权利要求11所述的一种用于IC卡座弹力测试的测试卡,所述测试卡为PCB板,所述PCB板未设印刷电路,PCB板槽上设置的应变片为电阻式应变片。
16.一种用于测试权利要求11至15任意一项所述的用于IC卡座弹力测试的测试卡的测试机,其特征在于,包括压力装置、应变采集器和控制器;
所述压力装置包括机座、立柱、横梁、用于放置测试卡的支撑座和对测试卡施力的施力件;所述立柱设置于机座上,所述横梁可沿竖直方向滑动地设置在所述立柱上,所述施力件设置在所述横梁上,所述支撑座相对所述施力件设置在所述机座上;
所述应变采集器与控制器连接,所述应变采集器与测试卡上的应变片连接。
17.根据权利要求16所述的一种测试机,其特征在于,还包括用于将测试卡固定在支撑座上的压块。
18.根据权利要求16所述的一种测试机,其特征在于,还包括上横梁和用于驱动横梁沿竖直方向滑动的驱动装置;
两个立柱以固定距离垂直设置在机座上,所述上横梁固定设置在两个立柱之间,所述上横梁与两个立柱垂直连接;
所述驱动装置设置于上横梁上,所述驱动装置与控制器连接。
19.根据权利要求18所述的一种测试机,其特征在于,所述驱动装置为液压油缸;
所述液压油缸与控制器连接,所述液压油缸包括输出杆,所述输出杆与横梁垂直连接。
20.根据权利要求18所述的一种测试机,其特征在于,所述横梁的两端分别套设在两个立柱上。
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