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CN106646273A - 一种开关电源性能测试方法、系统及装置 - Google Patents

一种开关电源性能测试方法、系统及装置 Download PDF

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CN106646273A
CN106646273A CN201710097132.4A CN201710097132A CN106646273A CN 106646273 A CN106646273 A CN 106646273A CN 201710097132 A CN201710097132 A CN 201710097132A CN 106646273 A CN106646273 A CN 106646273A
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CN
China
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test
power supply
switching power
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gpib
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CN201710097132.4A
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Inventor
苟昌华
王武军
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Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明提供了一种开关电源性能测试方法、系统及装置。所述的开关电源性能测试方法包括步骤:A、预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;B、实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;C、调用与步骤B中所采集的各GPIB地址相对应的相应测试指令;步骤D、基于步骤C中调用的相应的测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。所述的开关电源性能测试系统包括GPIB地址采集单元、存储单元和控制单元。所述的开关电源性能测试装置包括上述开关电源性能测试系统。本发明能够兼容多种测试仪器,进而提高开关电源性能测试效率。

Description

一种开关电源性能测试方法、系统及装置
技术领域
本发明涉及开关电源测试领域,具体是一种开关电源性能测试方法、系统及装置,其将多个不同类型、但均用于测试开关电源性能的测试仪器的测试指令集合在一起,利用测试仪器GPIB地址的唯一性,实现对测试指令的自动选择,从而增加对不同类型甚至不同品牌的用于测试开关电源性能的测试仪器的适用性。
背景技术
开关电源是一种高频开关式的能量变换电子电路,常作为设备的电源供应器。在电子设计领域,开关电源以其体积小、重量轻、功耗小、效率高、转换速度快、稳压范围宽、滤波效率好、所需滤波电容的数量少等诸多优点,成为电子产品设计领域最重要的供电设计方式。
随着服务器和PC行业的迅速发展,对开关电源的性能提出了更高的要求。而在现有技术中,在同一个开关电源测试系统中,经常出现需要更换一台或多台测试仪器的情况,而现有技术中尚未出现好的开关电源测试技术,不仅更换不便,有时还存在开关电源测试软件与所更换测试仪器的兼容问题,在很大程度上影响测试效率。此为现有技术的不足之处。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,针对现有技术的不足,提供一种开关电源性能测试方法、系统及装置,用于增加对不同类型甚至不同品牌的用于测试开关电源性能的测试仪器的适用性,以提高测试效率。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种开关电源性能测试方法,包括:
步骤A、预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;
步骤B、实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;
步骤C、基于步骤A中建立的各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系,分别调用与步骤B中所采集的各GPIB地址相对应的相应测试指令;
步骤D、基于步骤C中调用的相应的测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
其中,步骤A中所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
在步骤A中,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:
以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;
将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
本发明还提供了一种开关电源性能测试系统,包括:
GPIB地址采集单元,用于实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;
存储单元,用于本系统的数据存储,包括用于存储预先采集的用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令、以及用于存储预先建立的上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;
控制单元,连接所述的GPIB地址采集单元和存储单元,其基于存储单元存储的相应测试指令与相应GPIB地址的一一对应关系,调用与所述GPIB地址采集单元当前所采集到的各GPIB地址相对应的相应测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
在该开关电源性能测试系统中,所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
在该开关电源性能测试系统中,预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:
以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
本发明还提供了一种开关电源性能测试装置,包括开关电源性能测试装置本体,该所述的开关电源性能测试装置本体包括如上所述的开关电源性能测试系统。
在该开关电源性能测试装置中,所述开关电源性能测试系统中预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
本发明预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,并建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系,之后基于实时采集的当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址,调用相应测试指令,分别控制对开关电源的性能测试,这使得本发明能够兼容多种测试仪器的使用,使得在测试过程中:如需更换测试仪器时,不需要对程序进行修改;或将测试程序移植到其他开关电源测试设备上时,便于实现程序软件与硬件系统的兼容,大大提升程序的使用范围,并且容易扩展。
由此可见,本发明与现有技术相比,具有突出的实质性特点和显著的进步,其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本发明所述开关电源性能测试方法的方法流程示意图;
图2为本发明所述开关电源性能测试系统的功能结构框图示意图。
具体实施方式
为使本发明的技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图,对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。
具体实施方式1:
如图1所示,本发明的一种开关电源性能测试方法,包括以下步骤A、B、C和D:
步骤A、预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系。其中,该预先获取的测试指令的功能不同。
在本实施方式中,上述步骤A中所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
在本实施方式中,在上述步骤A中,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
步骤B、实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址。
步骤C、基于步骤A中建立的各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系,分别调用与步骤B中所采集的各GPIB地址相对应的相应测试指令。
步骤D、基于步骤C中调用的相应的测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
本发明还提供了一种开关电源性能测试系统,如图2所示,该测试系统包括:
GPIB地址采集单元,用于实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;
存储单元,用于本系统的数据存储,包括用于存储预先采集的用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令、以及用于存储预先建立的上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;
控制单元,连接所述的GPIB地址采集单元和存储单元,其基于存储单元存储的相应测试指令与相应GPIB地址的一一对应关系,调用与所述GPIB地址采集单元当前所采集到的各GPIB地址相对应的相应测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
在上述开关电源性能测试系统中,所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
在上述开关电源性能测试系统中,预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
在上述开关电源性能测试系统中,所述的GPIB地址采集单元采用一组GPIB接口,所述的GPIB接口与所述存储单元中存储的测试指令一一对应。
本发明还提供了一种开关电源性能测试装置。该开关电源性能测试装置包括开关电源性能测试装置本体,该所述的开关电源性能测试装置本体包括如上所述的开关电源性能测试系统。
为简化本发明的结构,所述开关电源性能测试装置的结构未在说明书附图中画出,基于本申请的文字描述以及现有技术,本领域技术人员很容易能够实现,在此不再赘述。
此外,在该开关电源性能测试装置中,所述开关电源性能测试系统中预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
每个用于测试开关电源性能的测试仪器都有一个不同的GPIB地址,且均对应一种不同的测试指令。
基于此,本发明预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,并建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系,之后基于实时采集的当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址,调用相应测试指令,分别控制对开关电源的性能测试,这使得本发明能够兼容多种测试仪器的使用,使得在测试过程中:如需更换测试仪器时,不需要对程序进行修改;或将测试程序移植到其他开关电源测试设备上时,便于实现程序软件与硬件系统的兼容,大大提升程序的使用范围,并且容易扩展。进而提高开关电源性能测试人员的测试效率,较为实用。
以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施方式对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施方式所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施方式技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种开关电源性能测试方法,其特征在于,包括:
步骤A、预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;
步骤B、实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;
步骤C、基于步骤A中建立的各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系,分别调用与步骤B中所采集的各GPIB地址相对应的相应测试指令;
步骤D、基于步骤C中调用的相应的测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
2.根据权利要求1所述的开关电源性能测试方法,其特征在于,步骤A中所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
3.根据权利要求1或2所述的开关电源性能测试方法,其特征在于,在步骤A中,建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:
以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;
将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
4.一种开关电源性能测试系统,其特征在于,包括:
GPIB地址采集单元,用于实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址;
存储单元,用于本系统的数据存储,包括用于存储预先采集的用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令、以及用于存储预先建立的上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系;
控制单元,连接所述的GPIB地址采集单元和存储单元,其基于存储单元存储的相应测试指令与相应GPIB地址的一一对应关系,调用与所述GPIB地址采集单元当前所采集到的各GPIB地址相对应的相应测试指令,分别控制对开关电源的性能测试。
5.根据权利要求4所述的开关电源性能测试系统,其特征在于,所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表,信号发生器。
6.根据权利要求4或5所述的开关电源性能测试系统,其特征在于,预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:
以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;
将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
7.一种开关电源性能测试装置,其特征在于,包括开关电源性能测试装置本体,该所述的开关电源性能测试装置本体包括如权利要求4或5所述的开关电源性能测试系统。
8.根据权利要求4或5所述的开关电源性能测试装置,其特征在于,所述开关电源性能测试系统中预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为:
以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签,建立一个分支选择结构;
将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。
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