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CN105700210A - Lcd显示面板及其制造方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种LCD显示面板及其制造方法，所述方法包括：S1、在LCD显示面板上进行SMT打件；S2、对LCD显示面板进行点屏测试，在点屏测试过程中将数据信息烧录进芯片中；S3、对LCD显示面板进行ATE电气性能测试。本发明通过在点屏测试阶段进行芯片的烧录，烧录步骤在打件步骤之后完成，可实现烧录技术的改进，以及烧录后确认状况的改进，并减少了烧录仪器及治具，实现时间与成本的双重减少。

Description

LCD显示面板及其制造方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种LCD显示面板及其制作方法。
背景技术
参图1所示，现在技术中LCD显示面板的制作方法基本流程如下，首先使用烧录治具对芯片(如PWMIC和P-GammaIC)内部的NVM(非易失性存储器)进行烧录，将芯片内部所需要的电压以及设定数据烧录入芯片内部，然后进行SMT打件、ATE电气性能测试以及点屏测试。
现有技术中在SMT打件之前需要采用烧录仪器及治具对P-GammaIC以及PWMIC做两次烧录，会带来人工与时间的浪费，导致成本增加，并且烧录后也无法及时检查是否已经烧录OK，同时也需要管控多个烧录数据的版本。
因此，针对上述技术问题，有必要提供一种LCD显示面板及其制作方法。
发明内容
为克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种LCD显示面板及其制造方法。
为了实现上述目的，本发明实施例提供的技术方案如下：
一种LCD显示面板的制造方法，所述方法包括：
S1、在LCD显示面板上进行SMT打件；
S2、对LCD显示面板进行点屏测试，在点屏测试过程中将数据信息烧录进芯片中；
S3、对LCD显示面板进行ATE电气性能测试。
作为本发明的进一步改进，所述步骤S2具体为：
对LCD显示面板进行上电；
芯片建立恒定电压，提供电源支持；
时序控制器读取若干数据信息，并将该数据信息烧录进对应芯片中；
烧录完成后，时序控制器控制芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
作为本发明的进一步改进，所述步骤S2中的数据信息存储于闪存中，时序控制器从闪存中读取数据信息。
作为本发明的进一步改进，所述芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片和用于灰度校正的第二芯片，所述数据信息包括脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息。
作为本发明的进一步改进，所述步骤S2还包括：
时序控制器关闭MOS管，读取脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息，并将脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息分别烧录进第一芯片和第二芯片中；
烧录完成后，时序控制器打开MOS管，通过MOS管控制第一芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
相应地，一种LCD显示面板，所述LCD显示面板包括LCD显示屏、与LCD显示屏电性连接的XB板、及与XB板电性连接的CB板，所述CB板电性连接有时序控制器及若干芯片，所述XB板上电性连接有用于存储烧录芯片数据信息的闪存。
作为本发明的进一步改进，所述LCD显示屏与XB板通过若干覆晶薄膜电性连接。
作为本发明的进一步改进，所述闪存通过柔性扁平电缆与CB板电性连接。
作为本发明的进一步改进，所述芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片和用于灰度校正的第二芯片。
作为本发明的进一步改进，所述时序控制器上电性连接有MOS管，时序控制器通过MOS管控制第一芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
本发明通过在点屏测试阶段进行芯片的烧录，烧录步骤在打件步骤之后完成，可实现烧录技术的改进，以及烧录后确认状况的改进，并减少了烧录仪器及治具，实现时间与成本的双重减少；LCD显示面板结构简单，易于实现，只需在XB板上增加闪存即可。
附图说明
图1为现有技术中LCD显示面板制造方法的流程示意图。
图2为本发明一优选实施方式中LCD显示面板制造方法的流程示意图。
图3为本发明一优选实施方式中点屏测试的具体流程示意图。
图4为本发明一优选实施方式中时序控制器(TCON)的控制原理电路图。
图5为本发明一优选实施方式中LCD显示面板的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
参图2所示，在本发明的一优选实施方式中，LCD显示面板的制造方法包括以下步骤：
S1、在LCD显示面板上进行SMT打件；
S2、对LCD显示面板进行点屏测试，在点屏测试过程中将数据信息烧录进芯片中；
S3、对LCD显示面板进行ATE电气性能测试。
其中，结合图3所示，步骤S2具体为：
对LCD显示面板进行上电；
芯片建立恒定电压，提供电源支持；
时序控制器(TCON)读取若干数据信息，并将该数据信息烧录进对应芯片中。优选地，数据信息存储于闪存(Flash)中，时序控制器从闪存中读取数据信息；
烧录完成后，时序控制器控制芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
本实施方式中的芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片(PWMIC)和用于灰度校正的第二芯片(P-GammaIC)，数据信息脉冲宽度调制数据信息(PWMCode)和灰度校正数据信息(P-GammaCode)。
具体地，以烧录PWMIC及P-GammaIC为例，本实施方式中LCD显示面板的制造方法具体如下：
删除烧录PWMCode以及P-gammaCode的步骤，在SMT打件完成后先进行点屏测试。
在点屏测试阶段对PWMIC以及P-GammaIC进行烧录。对于目前使用的PWMIC来讲，在刚上电后会先建立3.3V电压，此电压可以给TCON以及Flash供电，为读取数据提供电源支持；然后TCON读取Flash里面的数据信息，读取的数据信息包括PWMCode和P-gammaCode，将其中的PWMCode和P-gammaCode分别写入PWMIC和P-GammaIC，完成烧录。
进一步地，参图4所示，时序控制器(TCON)与MOS管相连，烧录过程中，时序控制器关闭MOS管，读取PWMCode和P-gammaCode，并将PWMCode和P-gammaCode分别烧录进PWMIC和P-GammaIC中；烧录完成后，时序控制器(TCON)打开MOS管，通过MOS管控制PWMIC工作，进行LCD显示面板的点屏测试，当LED显示屏上的画面显示正确后，结束检测。
点屏测试完成后，继续对LCD显示面板进行ATE电气性能测试，ATE电气性能测试的方法与现有技术中相同，此处不再进行赘述。
本实施方式中的烧录及检测步骤仅在开机瞬间进行，持续时间会更短，可有效控制时间，并减少初始阶段步骤及烧录仪器和治具，并可以根据后续的屏检显示状况来确认基本电压是否OK。
参图5所示，本发明一优选实施方式中的LCD显示面板100，包括LCD显示屏10、与LCD显示屏10电性连接的XB板(XBoard)20、及与XB板20电性连接的CB板(ControlBoard)30，CB板30电性连接有时序控制器(TCON)及若干芯片(未图示)，XB板20上电性连接有用于存储烧录芯片数据信息的闪存(未图示)。
优选地，本实施方式中的芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片(PWMIC)和用于灰度校正的第二芯片(P-GammaIC)，其分别与CB板30电性连接。闪存(Flash)电性连接于XB板20上，用于存储PWMCode和P-gammaCode等烧录数据信息。
进一步地，本实施方式中LCD显示屏10与XB板20通过若干覆晶薄膜(COF)40电性连接，闪存通过柔性扁平电缆(FFC)50与CB板30电性连接。时序控制器(TCON)上电性连接有MOS管(未图示)，时序控制器通过MOS管控制第一芯片(PWMIC)工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
本实施方式中需要将时序控制器(TCON)进行Code改进，加入读写步骤，在XB板上安装有用于存储烧录数据信息的闪存Flash，以用于点屏测试过程中烧录数据信息的读取。
应当理解的是，上述实施方式中的芯片以PWMIC和P-GammaIC为例进行说明，在其他实施方式中也可以为其他种类的芯片，如LevelShifterIC、DVR等，对应地，闪存中存储的数据信息也不限于PWMCode和P-gammaCode，也可以为LevelShifterCode、DVRCode等，存储的数据信息根据芯片的不同对应设置，其烧录步骤及显示面板的结构与上述实施方式完全相同，此处不再举例进行详细说明。
由以上实施方式可以看出，本发明通过在点屏测试阶段进行芯片的烧录，烧录步骤在打件步骤之后完成，可实现烧录技术的改进，以及烧录后确认状况的改进，并减少了烧录仪器及治具，实现时间与成本的双重减少；LCD显示面板结构简单，易于实现，只需在XB板上增加闪存即可。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (10)

1.一种LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述方法包括：
S1、在LCD显示面板上进行SMT打件；
S2、对LCD显示面板进行点屏测试，在点屏测试过程中将数据信息烧录进芯片中；
S3、对LCD显示面板进行ATE电气性能测试。
2.根据权利要求1所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述步骤S2具体为：
对LCD显示面板进行上电；
芯片建立恒定电压，提供电源支持；
时序控制器读取若干数据信息，并将该数据信息烧录进对应芯片中；
烧录完成后，时序控制器控制芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
3.根据权利要求2所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述步骤S2中的数据信息存储于闪存中，时序控制器从闪存中读取数据信息。
4.根据权利要求1所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片和用于灰度校正的第二芯片，所述数据信息包括脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息。
5.根据权利要求4所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述步骤S2还包括：
时序控制器关闭MOS管，读取脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息，并将脉冲宽度调制数据信息和灰度校正数据信息分别烧录进第一芯片和第二芯片中；
烧录完成后，时序控制器打开MOS管，通过MOS管控制第一芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
6.一种LCD显示面板，所述LCD显示面板包括LCD显示屏、与LCD显示屏电性连接的XB板、及与XB板电性连接的CB板，其特征在于，所述CB板电性连接有时序控制器及若干芯片，所述XB板上电性连接有用于存储烧录芯片数据信息的闪存。
7.根据权利要求6所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述LCD显示屏与XB板通过若干覆晶薄膜电性连接。
8.根据权利要求6所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述闪存通过柔性扁平电缆与CB板电性连接。
9.根据权利要求6所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述芯片包括用于脉冲宽度调制的第一芯片和用于灰度校正的第二芯片。
10.根据权利要求6所述的LCD显示面板的制造方法，其特征在于，所述时序控制器上电性连接有MOS管，时序控制器通过MOS管控制第一芯片工作，进行LCD显示面板的点屏测试。
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