CN105588957B - 测试座 - Google Patents

Abstract

本发明关于一种测试座，包括座体、承载座、导电板体、测试探针以及绝缘层。该承载座设置于该座体上，用以承载该被测物。该导电板体设置于该座体上且位于该承载座的上方，用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座。该测试探针穿设于该导电板体上，且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面，用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触。该绝缘层设置于该测试探针上或该导电板体上，用以分隔该测试探针以及该导电板体。由此，本发明测试座不但可避免因静电放电而损坏被测物，且可改善测试准确度下降的问题。

Description

测试座

技术领域

本发明关于一种测试座，尤其是关于用以测试具有电性接点的物件的测试座。

背景技术

随着科技的发展，电子装置已普及化至个人使用者，常见的电子装置包括桌上型电脑、笔记型电脑、智能型手机以及平板电脑等，其中，该些电子装置中皆包含有至少一电路板，且电路板上可设置至少一电子元件，该些电子元件可执行特定的功能，且藉由该些电子元件共同运作，使电子装置得以被驱动且运作。其中，电路板上包含有多个导电接点，以电性连接于该些电子元件。

对于电子装置制造商而言，电子装置于制造过程中必须经过测试以确保可正常工作。而电子装置的测试包括对电子装置的电路板的测试以及对制造完成的电子装置进行完整性的测试，对电路板的测试是为了避免于电子装置组装完成之后发现电路板有缺陷存在，必须拆卸电子装置来除错所造成的工时浪费的缺失。

接下来说明测试电路板的测试座的结构。请参阅图1，其为现有测试座的结构示意图。现有测试座1包括座体11、承载座12、塑料板体13以及多个测试探针14，承载座12设置于座体11上，且其功能为承载被测试的电路板10。塑料板体13设置于座体11上且位于承载座12的上方，塑料板体13的功能为设置多个测试探针14于其上，其中塑料板体13可因应使用者的操作而相对于座体11移动，以接近或远离承载座12。多个测试探针14穿设于塑料板体13上且多个测试探针14与塑料板体14的下表面垂直，使得多个测试探针14可于塑料板体13接近承载座12时，与承载座12上的电路板10接触。

当电路板10被放置于承载座12上而欲被测试时，使用者操作而使塑料板体13往下移动，且多个测试探针14分别与电路板10上所对应的多个电性接点(未显示于图中)接触。之后供电予电路板10以侦测电路板10上的多个电性接点的电性功能(例如电阻值、电容值或电感值等)，最后，撷取该些电性功能的实际数值且与预设的电性数值比较，而判断该些电性接点正常或异常，以决定电路板10是否通过测试。于测试电路板10的过程中，由于多个测试探针14分别与多个电性接点接触而造成负电离子的移动而会产生静电放电效应，其造成电路板10损坏的机率很高。

因此，需要一种可避免因静电放电而损坏被测物的测试座。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种避免因静电放电而损坏被测物的测试座。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种测试座，用以测试一被测物，且该被测物上具有一电性接点，该测试座包括座体、承载座、导电板体、测试探针以及绝缘层。该承载座设置于该座体上，用以承载该被测物。该导电板体设置于该座体上且位于该承载座的上方，用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座。该测试探针穿设于该导电板体上且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面，用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触。该绝缘层设置于该测试探针上或该导电板体上，用以分隔该测试探针以及该导电板体。

较佳地，该绝缘层设置于该测试探针的一外表面上，且分隔该测试探针以及该导电板体而避免漏电现象。

较佳地，该绝缘层是由绝缘油墨形成，且以涂布方式或印刷方式设置于该测试探针的该外表面上。

较佳地，该测试探针包括外管、内管、弹性元件以及针轴，该绝缘层设置于该外管的一外表面上；该内管部分容置于该外管内；该弹性元件容置于该内管内，用以提供一弹性力；该针轴部分容置于该内管内且该针轴的一第一端与该弹性元件接触，而该针轴的一第二端与该电性接点接触；其中当该针轴的该第二端与该电性接点接触时，该针轴被该电性接点推抵而可相对于该内管移动。

较佳地，当该针轴的该第二端与该电性接点接触时，该被测物的一电流藉由该电性接点流至该针轴、该内管以及该外管，且该电流被设置于该外管上的该绝缘层阻隔以避免进入该导电板体，从而避免漏电现象。

较佳地，该导电板体具有一开孔，该开孔贯穿该导电板体，且该绝缘层设置于该开孔的侧壁上，以分隔该测试探针以及该导电板体。

较佳地，该绝缘层是绝缘油墨形成，且以涂布方式或印刷方式设置于该开孔的该侧壁上。

较佳地，当该测试探针与该电性接点接触时，该被测物的一电流藉由该电性接点流至该测试探针，且该电流被设置于该开孔上的该绝缘层阻隔以避免进入该导电板体，从而避免漏电现象。

较佳地，该承载座具有多个固定柱体，用以穿过该被测物中相对应的多个固定开孔，而固定该被测物于该承载座上。

较佳地，该导电板体是以金属材料所制成。

本发明测试座藉由以导电板体取代传统的塑料板体，而解决静电放电的问题，且于测试探针与导电板体之间设置绝缘层而分隔测试探针以及导电板体，以避免电流由测试探针被传导至导电板体发生漏电。因此，本发明测试座可同时解决静电放电以及漏电的问题，不但可确保被测物于测试过程中不受损坏，且可避免产生测试准确度下降的问题。

附图说明

图1是现有测试座的结构示意图。

图2是本发明测试座于第一较佳实施例中的结构示意图。

图3是本发明测试座的导电板体及测试探针于第一较佳实施例中的结构分解示意图。

图4是本发明测试座于第一较佳实施例中的局部结构示意图。

图5是本发明测试座的测试探针于第一较佳实施例中与被测物接触的局部结构示意图。

图6是本发明测试座的导电板体及测试探针于第二较佳实施例中的结构分解示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术的问题，本发明提供一种可解决现有技术问题的测试座。首先简单说明本发明测试座的结构。请同时参阅图2以及图3，图2为本发明测试座于一较佳实施例中的结构示意图，而图3为本发明测试座的导电板体及测试探针于第一较佳实施例中的结构分解示意图。本发明测试座2包括座体21、承载座22、导电板体23、多个测试探针24、对应于多个测试探针24的多个绝缘层25(请参照图4)以及传输线26。承载座22设置于座体21上，且其功能为承载被测物20，导电板体23设置于座体21上且位于承载座22的上方，导电板体23可因应使用者的操作而相对于座体21移动，以接近或远离承载座22。多个测试探针24穿设于导电板体23上且多个测试探针24伸出于导电板体23的下表面231，使得多个测试探针24于导电板体23接近承载座22时，与承载座22上的被测物20接触。绝缘层25的功能为分隔多个测试探针24与导电板体23。传输线26的功能为建立测试座2与电脑系统(未显示于图中)之间的连接，且传输被测物20的测试数据至电脑系统。于本较佳实施例中，导电板体23是以金属材料所制成，而被测物20为具有多个电性接点201的电路板。

接下来说明本发明测试座2的发明发想。由于现有测试座1会发生静电放电的问题，故于本发明测试座2中采用以金属材料所制成的导电板体23，导电板体23具有可导电的功效，其可引导负电离子移动而避免静电放电损坏被测物20。然而，导电板体23可导电的功效造成被测物20反而会发生漏电现象，以造成测试准确度下降的问题。为了解决测试准确度下降的问题，于本发明测试座2中设置多个绝缘层25，以阻止漏电现象发生。

请同时参阅图2～图4，图4为本发明测试座于一较佳实施例中的局部结构示意图。导电板体23具有对应于多个测试探针24的多个开孔232，图3仅显示一支测试探针24以及相对应的开孔232。测试探针24包括外管241、内管242、弹性元件243、针轴244以及连接线245，内管242部分容置于外管241内，弹性元件243容置于内管242内，其功能为提供一弹性力。针轴244部分容置内管242内且针轴244的第一端2441与弹性元件243接触，而针轴244的第二端2442于导电板体23接近承载座22时与被测物20上的电性接点201接触。多个绝缘层25分别设置于相对应的外管241的外表面2411上，连接线245设置于外管241上且电性连接于传输线26。于本较佳实施例中，绝缘层25是由绝缘油墨而形成，且以涂布方式或印刷方式设置于外管241的外表面2411上。藉此，外管241不与导电板体23的开孔232接触，但可穿过开孔232。而测试探针24穿设于导电板体23的开孔232，且绝缘层25分隔外管241以及开孔232的情形如图4所示。

接下来说明利用本发明测试座2进行被测物20的测试的运作情形。请同时参阅图2～图5，图5为本发明测试座的测试探针于第一较佳实施例中与被测物接触的局部结构示意图。当使用者欲测试被测物20时，先放置被测物20于承载座22上，使承载座22上的多个固定柱体221分别穿过被测物20的固定开孔202，以固定被测物20于承载座22上。接下来，操作而使导电板体23往下移动，且多个针轴244的第二端2442分别与被测物20上所对应的多个电性接点201接触。此时，由于被测物20被固定而无法移动，使得电性接点201施加一推抵力至针轴244上，亦即针轴244被电性接点201推抵而可相对于内管242移动，同时，针轴244的第一端2441推抵弹性元件243，使弹性元件243被压缩而累积弹性力。

于被测物20被固定于承载座20之后，使用者进行供电工作，使被测物20被导电，此时，多个测试探针24可分别侦测到相对应的电性接点201的电性数值(例如电阻值、电容值或电感值等)。之后，该些电性数值可藉由连接线245以及传输线26被传输至电脑系统。另一方面，电脑系统中安装有测试程序，其记录有预设电性数值，当电脑系统接收到电性数值时，可将其与预设电性数值比较而判断被测物20是否通过测试。其中，当电性数值等于或接近于预设电性数值时，测试程序可判断电性接点正常，且决定被测物20通过测试。反之，电性数值与预设电性数值差异过大时，测试程序则判断电性接点异常，且决定被测物20未通过测试。

于被测物20的测试完成之后，使用者操作而控制导电板体23远离承载座22，以便取出被测物20，同时，多个测试探针24不再被推抵，且因应弹性元件243释放弹性力而使测试探针24回复至未被推抵前的位置。之后，使用者可放置下一被测物于承载座22上，以进行下一被测物的测试。

需特别说明的有二，第一，于多个测试探针24分别与相对应的电性接点201接触时，被导电的被测物20所产生的电流藉由电性接点201流至针轴244、内管242以及外管241，最后该电流被外管241上的绝缘层25阻隔，以避免漏电现象发生。因此，本发明测试座2的测试过程中不但不会受静电放电影响，亦不会发生漏电现象。第二，本较佳实施例中，绝缘层25是设置于外管241的外表面2411上，但非以此为限。于另一较佳实施例中，绝缘层35设置于导电板体23的开孔232的侧壁2321上，如图6所示。当测试探针24穿过开孔232而穿设于导电板体23上时，绝缘层35亦可分隔测试探针24以及导电板体23而避免测试探针24与导电板体23接触，以避免漏电发生。

根据上述内容可知，本发明测试座藉由以导电板体取代传统的塑料板体，而解决静电放电的问题，且于测试探针与导电板体之间设置绝缘层而分隔测试探针以及导电板体，以避免电流由测试探针被传导至导电板体。因此，本发明测试座可同时解决静电放电以及漏电的问题，不但不会损坏被测物，且不会产生测试准确度下降的问题。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用以限定本发明的权利要求范围，因此凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含于本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种测试座，用以测试一被测物，且该被测物上具有一电性接点，其特征在于，该测试座包括：

座体；

承载座，设置于该座体上，用以承载该被测物；

导电板体，设置于该座体上且位于该承载座的上方，用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座；

测试探针，穿设于该导电板体上且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面，用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触；以及

绝缘层，设置于该测试探针上或该导电板体上，用以分隔该测试探针以及该导电板体，其中，该绝缘层设置于该测试探针的一外表面上，且分隔该测试探针以及该导电板体；或者，该导电板体具有一开孔，该开孔贯穿该导电板体，且该绝缘层设置于该开孔的侧壁上，以分隔该测试探针以及该导电板体。

2.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，该绝缘层是由绝缘油墨形成，且以涂布方式或印刷方式设置于该测试探针的该外表面上。

3.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，该测试探针包括：

外管，该绝缘层设置于该外管的一外表面上；

内管，部分容置于该外管内；

弹性元件，容置于该内管内，用以提供一弹性力；以及

针轴，部分容置于该内管内且该针轴的一第一端与该弹性元件接触，而该针轴的一第二端与该电性接点接触；其中当该针轴的该第二端与该电性接点接触时，该针轴被该电性接点推抵而可相对于该内管移动。

4.如权利要求3所述的测试座，其特征在于，当该针轴的该第二端与该电性接点接触时，该被测物的一电流藉由该电性接点流至该针轴、该内管以及该外管，且该电流被设置于该外管上的该绝缘层阻隔以避免进入该导电板体。

5.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，该绝缘层是绝缘油墨形成，且以涂布方式或印刷方式设置于该开孔的该侧壁上。

6.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，当该测试探针与该电性接点接触时，该被测物的一电流藉由该电性接点流至该测试探针，且该电流被设置于该开孔上的该绝缘层阻隔以避免进入该导电板体。

7.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，该承载座具有多个固定柱体，用以穿过该被测物中相对应的多个固定开孔，而固定该被测物于该承载座上。

8.如权利要求1所述的测试座，其特征在于，该导电板体是以金属材料所制成。