Säritus
Ilme
Säritus (inglise keeles radiant exposure), tähis , on radiomeetrias vastuvõetud kiirgusenergia pindtihedus:
kus on pinnale langev kiirgusenergia.
Särituse mõõtühik on džaul ruutmeetri kohta (J/m2).
Kui säritus on pinna punktides erisugune, kirjeldab seda suurust valgushulga ja pinnaelemendi tuletiste jagatis:
kus on antud punkti sisaldavale lõpmata väikesele pinnaelemendile langev kiirgusenergia.
Säritust võib vaadelda ka kui kiiritustiheduse integraali üle antud ajavahemiku :
Seega muutumatu kiiritustiheduse korral .[1]
Märkus. Kui vaatluse all on ainult radiometrilised suurused, siis särituse tähises indeksit e (ingl energetic) ei kasutata.
Säritusele kui radiomeetrilisele suurusele vastab fotomeetrias valgussäritus.
Vaata ka
[muuda | muuda lähteteksti]Viited
[muuda | muuda lähteteksti]- ↑ Endel Risthein. Valgustehnika sõnastik. Tallinn, Valgus, 1982