Joint Test Action Group

Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados.^[1] Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes.

Módulo de depuração do Atmel AVR JTAG ICE MKII

JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração.

A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.^[2]

Ligações externas

(em inglês) IEEE Std. 1149.1 - Standard Test Access Port
(em inglês) JTAG - Compact JTAG Working Group
(em inglês) Padrão JTAG aberto
(em inglês) Padrão da Texas

Referências

↑ «Cópia arquivada». Consultado em 22 de abril de 2015. Arquivado do original em 23 de fevereiro de 2014
↑ http://www.ocmodshop.com/glossary/joint-test-action-group/

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[1] «Cópia arquivada». Consultado em 22 de abril de 2015. Arquivado do original em 23 de fevereiro de 2014

[2] ttp://www.ocmodshop.com/glossary/joint-test-action-group/

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