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WO2008072597A1 - 顕微鏡装置及び画像処理方法 - Google Patents

顕微鏡装置及び画像処理方法 Download PDF

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Publication number
WO2008072597A1
WO2008072597A1 PCT/JP2007/073781 JP2007073781W WO2008072597A1 WO 2008072597 A1 WO2008072597 A1 WO 2008072597A1 JP 2007073781 W JP2007073781 W JP 2007073781W WO 2008072597 A1 WO2008072597 A1 WO 2008072597A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
optical system
light
microscope apparatus
optical
modulation element
Prior art date
Application number
PCT/JP2007/073781
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiroaki Nakayama
Hisao Osawa
Yumiko Ouchi
Original Assignee
Nikon Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corporation filed Critical Nikon Corporation
Priority to EP07850349A priority Critical patent/EP2093601B1/en
Priority to JP2008549307A priority patent/JP5136422B2/ja
Publication of WO2008072597A1 publication Critical patent/WO2008072597A1/ja
Priority to US12/453,554 priority patent/US7969652B2/en

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only

Definitions

  • the present invention relates to a microscope apparatus and an image processing method.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 11 242189 (Patent Document 1), US Reissue Patent No. 3830 7 Good luck! 3 ⁇ 4 (Patent Document 2), W.Lukosz, Optical systems with resolving powers exceeding the exal limit.
  • Patent Document 2 "Journal of the Optical Society of America, Vol.37, PP.932, 1967 (Non-Patent Document 1), W ⁇ ukosz and M. Marchand, Opt. Acta. 10, 241, 1963 (Non-patent Document 2) and the like.
  • Patent Document 2 US Reissue Patent No. 38307 Specification
  • Patent 1 V.LUKOSZ, Optical systems with resolving powers exceeding the clasi cal limit. II ", Journal of the Optical Society of America, Vol.37, PP.932, 1967
  • Non-Patent Document 2 W ⁇ ukosz and M. Marchand, Opt. Acta. 10,241, 1963
  • optical demodulation uses a spatial modulation element such as a diffraction grating, so it does not take much time. It is difficult to obtain a good super-resolution image because it depends on the positioning accuracy.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and provides a microscope apparatus capable of generating super-resolution image information at high speed, and a super-resolution image using the microscope apparatus. It is an object of the present invention to provide an image processing method capable of obtaining the above.
  • a first means for solving the above-described problem is to receive irradiation light, which is 0th-order diffracted light, of a substantially parallel light beam obliquely incident, and symmetrically with the 0th-order diffracted light with respect to the optical axis
  • the spatial modulation element that forms the next-order diffracted light, the 0th-order diffracted light and the first-order diffracted light interfere with each other at the same position on the sample surface to form an interference fringe, and from the sample surface modulated by the interference fringe
  • An objective optical system that forms an image of light on the surface of the spatial modulation element; an imaging unit; and a relay optical system that forms an image of the light remodulated on the surface of the spatial modulation element on the imaging surface of the imaging unit.
  • a microscope apparatus characterized by having a microscope apparatus.
  • a second means for solving the problem is the first means, an optical axis of an optical system combining the objective optical system and the relay optical system, and a sample surface from a light source.
  • the optical axis of the illuminating optical system to be at least the same from the location closer to the light source than the spatial modulator to the sample surface, and the central axis of the illumination light from the light source is the same optical axis.
  • an irradiation optical system that converts the illumination light that has passed through the optical path movement optical system into irradiation light of a substantially parallel light beam that is obliquely incident on the spatial modulation element. Is.
  • a third means for solving the above problem is the second means, wherein the irradiation optical system is a part of the relay optical system.
  • a fourth means for solving the above-mentioned problem is the second means or the third means, which converts the illumination light diverging from the light source power into a substantially parallel light beam, and the co-operator.
  • a collimator lens that collects the illumination light that has passed through the reflector lens to form a secondary light source; and reflects the illumination light that has passed through the collimator lens so that its principal ray travels on the optical axis of the relay optical system.
  • An optical path deflecting unit configured to enter the optical path moving optical system as light traveling in the sample surface direction, and the principal ray of the illumination light includes a center of the collector lens, a center of the collimator lens, and the relay optical system
  • the optical path moving optical system passes through the optical axis and is incident on the optical path moving optical system.
  • the optical path deflecting member includes a mirror or prism that transmits and reflects light at a predetermined ratio, a dichroic mirror, and a dichroic prism.
  • the chief ray is the strongest ray emitted from the center of the light source.
  • a fifth means for solving the above-mentioned problems is the second means or the third means, the collector lens for converting the illumination light diverging from the light source power into a substantially parallel light beam, A collimator lens that collects the illumination light that has passed through the reflector lens to form a secondary light source; and reflects the illumination light that has passed through the collimator lens so that its principal ray is parallel to the optical axis of the relay optical system. And an optical path deflecting member that is incident on the irradiation optical system, and the illumination light from the light source is incident on the collector lens after passing through the optical path moving optical system. Then, after being reflected by the optical path deflecting member, it is made incident on the illumination optical system! /.
  • a sixth means for solving the above problem is any one of the second means to the fifth means, wherein the spatial modulation element is rotatable about an optical axis.
  • the optical path moving optical system is also rotatable around the optical axis, and the amount of rotation of the spatial modulation element is the same as the amount of rotation of the principal ray that rotates when the optical path moving optical system is rotated. It is possible to make it.
  • a seventh means for solving the above problem is any one of the second means to the fifth means, wherein the spatial modulation element is rotatable about an optical axis.
  • a plurality of optical elements that move the optical path are provided in the optical path moving optical system, and the plurality of optical elements move the optical paths in different directions perpendicular to the optical axis, respectively. It is characterized in that it can be switched and used according to the amount of rotation.
  • An eighth means for solving the above-mentioned problem is the first means, an optical axis of an optical system combining the objective optical system and the relay optical system, and a sample surface from a light source.
  • a light source provided at a position away from the optical axis of the illumination optical system so that the optical axis of the illumination optical system is the same from at least a location closer to the light source than the spatial modulation element to the sample surface
  • a collimator lens that converts the illumination light that diverges the light source power into a substantially parallel light beam
  • a collimator lens that collects the illumination light transmitted through the collector lens to form a secondary light source
  • the collimator lens An optical path deflecting member that reflects the transmitted illumination light and whose principal ray travels in the direction of the sample surface parallel to the optical axis of the relay optical system, and the illumination light reflected by the optical path deflecting member Is inserted obliquely with respect to the spatial modulation element.
  • an irradiation optical system that converts the irradiation light into a substantially parallel light beam.
  • a ninth means for solving the above-described problem is the eighth means, wherein the irradiation optical system is a part of the relay optical system.
  • a tenth means for solving the problem is the eighth means or the ninth means, wherein the spatial modulation element is rotatable about an optical axis, and the light source is also provided. It is characterized in that it can be rotated around the optical axis of the illumination optical system, and the amount of rotation of both can be made the same.
  • An eleventh means for solving the problem is the eighth means or the ninth means, wherein the spatial modulation element is rotatable about an optical axis, and the light source is A plurality of light sources are provided, each of which moves an optical path in a different direction perpendicular to the optical axis, and can be used by switching according to the amount of rotation of the spatial modulation element. It is characterized by.
  • a twelfth means for solving the problem is any one of the first means to the eleventh means, and is formed on the sample surface by the spatial modulation element and the objective optical system.
  • the phase of the formed interference fringes can be changed, and the imaging time of the imaging means is substantially equal to the time during which the phase changes by an integer period.
  • the thirteenth means for solving the above-mentioned problem is the above-mentioned space using a microscope apparatus which is any one of the sixth means, the seventh means, the tenth means, and the eleventh means.
  • the sample is imaged multiple times while changing the amount of rotation, and the obtained multiple pieces of image data are Fourier transformed to obtain Fourier transform data images, and these Fourier transform image data are obtained on a two-dimensional plane.
  • This is an image processing method characterized by obtaining image data by inverse Fourier transform after synthesizing by performing deconvolution processing considering MTF.
  • the present invention it is possible to provide a microscope apparatus capable of generating super-resolution image information at high speed, and to provide an image processing method capable of obtaining an accurate video using the microscope apparatus. I can do it.
  • FIG. 1 is a diagram showing an outline of an optical system of a microscope apparatus according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing a state when the diffraction grating is rotated around the optical axis.
  • FIG. 3 is a diagram showing an outline of an optical system of a microscope apparatus according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing an outline of an optical system of a microscope apparatus according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram showing an outline of an optical system of a microscope apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing an optical system up to a light source power diffraction grating in an optical system of a microscope apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram showing an optical system up to a light source power diffraction grating in an optical system of a microscope apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is an operation flowchart relating to control of the control / arithmetic apparatus.
  • FIG. 9 is an operation flowchart related to the calculation of the control / arithmetic apparatus.
  • FIG. 10 is a diagram showing image data of a demodulated image.
  • FIG. 11 is a diagram showing a state of synthesizing demodulated image data in three directions.
  • FIG. 1 is a diagram showing an outline of the optical system of the microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • This microscope apparatus includes a light source 1, a collector lens 2, a collimator lens 3, an excitation filter 4, a dichroic mirror 5, a fluorescent filter 6, a parallel plate glass 7 as an optical path moving optical system, a lens 8 as an irradiation optical system, a space Diffraction grating 9 as modulation element, second objective lens 10, first objective lens 11, lens 13, imaging device (CCD camera, etc.) 25, control / arithmetic device (circuit, computer, etc.) 42, image display device 43, actuator 40, a rotary stage 41, and the like, and an image of the sample 12 due to fluorescence generated from the sample (fluorescent sample) 12 is picked up by the image pickup device 25 and processed.
  • a light source 1 includes a collector lens 2, a collimator lens 3, an excitation filter 4, a dichroic mirror 5, a fluorescent filter 6, a parallel plate glass 7 as an optical path moving
  • light source 1, collector lens 2, collimator lens 3, excitation filter 4, dichroic mirror 5, parallel plate glass 7, lens 8, diffraction grating 9, second objective lens 10, first objective lens 11 Constitutes the illumination optics LSI.
  • the first objective lens 11, the second objective lens 10, the diffraction grating 9, the lens 8, the parallel plate glass 7, the fluorescent filter 6, the dichroic mirror 5, and the lens 13 constitute an observation optical system LS2.
  • the first objective lens 11 and the second objective lens 10 constitute an objective optical system LS21
  • the lens 8 and the lens 13 constitute a relay optical system LS22.
  • the illumination optics LSI and the observation optics LS2 share the optical path from the first objective lens 11 to the dichroic mirror 5!
  • the divergent light from the light source 1 is converted into parallel rays by the collector lens 2, and a light source image 31 is formed on the pupil conjugate plane by the collimator lens 3.
  • the light from the light source image 31 is wavelength-selected by the excitation filter 4, reflected by the dichroic mirror 5, and travels in the direction of the sample surface.
  • a half mirror may be used instead of the dichroic mirror. In some cases, it is possible to use a polarizing beam splitter.
  • this light passes through the parallel plate glass 7, it is emitted from the center of the light source and passes on the optical axis passing through the centers of the collector lens 2 and collimator lens 3 (hereinafter, this light is referred to as " The principal ray is shifted by a predetermined distance d from the optical axis due to refraction on both sides of the parallel flat glass 7. Thereafter, the light is converted into parallel rays inclined at a predetermined angle with respect to the optical axis by the lens 8, and the diffraction grating 9 disposed on the sample conjugate surface 22 is irradiated.
  • the diffraction grating 9 has a lattice constant set in advance so as to generate first-order diffracted light in a direction symmetric with respect to the optical axis and the zero-order diffracted light that goes straight as it is.
  • the respective light beams are converted into parallel rays parallel to the optical axis by the second objective lens 10 and interfere with each other on the sample surface by the first objective lens 11 to form a two-beam interference fringe.
  • the specimen 12 is illuminated (structured illumination) with spatially modulated illumination light.
  • the diffraction grating 9 is, for example, a phase type or amplitude type diffraction grating having a one-dimensional periodic structure.
  • a phase-type diffraction grating has an advantage that it has a high degree of freedom in setting the intensity ratio of diffraction orders.
  • the amplitude type diffraction grating has good wavelength characteristics, there is an advantage that a white light source can be used as the light source 1.
  • a light source having a single wavelength may be used instead of the white light source, or the light from the laser light source may be guided by an optical fiber and a secondary light source formed on the end face may be used as the light source 1. Les.
  • the first-order component generated in the diffraction grating 9 and the extra diffraction component of order 2 or more are removed. It is desirable. In that case, it may be removed at an appropriate position after the diffraction grating 9 (for example, the pupil plane 32 of the first objective lens 11).
  • the concentration distribution of the diffraction grating 9 is made into a sine wave shape in advance, the generation of second-order or higher diffraction components can be suppressed, and the loss of light intensity can be suppressed.
  • the 0th-order diffracted light DO and the first-order folded light D1 are relative to the optical axis of the objective optical system (second objective lens 10, first objective lens 11).
  • the illumination light is incident on the diffraction grating 9 at a predetermined angle so as to be symmetrical. This is realized by shifting the principal ray from the optical axis by the parallel flat glass 7 arranged in front of the lens 8.
  • the amount of deviation d required to tilt the illumination light by a predetermined angle can be calculated from the wavelength of the light source 1, the focal length of the lens 8, and the pitch of the diffraction grating 9.
  • the inclination angle ⁇ of the parallel flat glass 7 means an angle of rotation with the direction of the grating line of the diffraction grating 9 as the rotation axis.
  • the 0th-order diffracted light DO and the first-order diffracted light D1 are symmetrical with respect to the optical axis of the objective lens.
  • the 0th-order diffracted light DO and the 1st-order diffracted light D1 are collected on the pupil plane 32 of the first objective lens 11, respectively. It is desirable to set this condensing point at the extreme end (position away from the optical axis) where the pupil diameter of the first objective lens 11 becomes, since the effect of super-resolution is high. In this case, light other than the 0th-order diffracted light and the 1st-order diffracted light among the diffracted light of the diffracted light by the diffraction grating 9 cannot enter the effective diameter of the first objective lens 11 and does not affect the subsequent system.
  • the 0th-order diffracted light DO and the 1st-order diffracted light D1 collected on the pupil plane 3 2 of the first objective lens 11 are respectively parallel light beams. It exits the objective lens and interferes on the specimen 12 to form a two-beam interference fringe.
  • the structure of the specimen 12 viewed from the first objective lens 11 side is modulated by structured illumination.
  • Moire fringes are generated in the modulated structure.
  • This moire fringe is a moire fringe formed by the fine structure of the specimen 12 and the pattern of structured illumination.
  • the fine structure of the specimen 12 is converted into a lower spatial frequency band by the spatial frequency of the structured illumination. Yes. Therefore, even the light with a high spatial frequency structure exceeding the resolution limit is captured by the first objective lens 11.
  • the fluorescence captured by the first objective lens 11 forms a modulated image of the sample 12 on the sample conjugate plane 22 by the objective optical system LS21 including the first objective lens 11 and the second objective lens 10.
  • the modulated image is remodulated by the diffraction grating 9 arranged on the sample conjugate plane 22. In the remodulated image generated in this way, the structure of the sample 12 with the spatial frequency changed is returned to the original spatial frequency.
  • This re-modulated image contains the demodulated image of sample 12.
  • this re-modulated image contains diffraction components that are unnecessary for the demodulated image.
  • Unnecessary diffraction components are ⁇ first-order diffracted components generated at diffraction grating 9 with respect to 0th-order diffracted light emitted from sample 12 by structured illumination, and 0th-order to 1st-order diffracted light emitted from structured illumination emitted from sample 12 Fold component, 0th order diffracted component for + 1st order diffracted light from structured illumination emitted from specimen 12.
  • the diffraction grating 9 may be averaged with power for one period or N periods (N is a natural number).
  • Fluorescence from the remodulated image passes through the dichroic mirror 5 via the lens 8, enters the single optical path of the observation optical system LS2, passes through the fluorescent filter 6, and then remodulates via the lens 13.
  • a magnified image 24 of the image is formed. That is, the remodulated image remodulated by the diffraction grating 9 is relayed to the magnified image 24 by the relay optical system LS22 including the lens 8 and the lens 13.
  • the magnified image 24 is picked up by the image pickup device 25, and image data of a remodulated image is generated.
  • the demodulated image When imaging with the imaging device 25, if the diffraction grating 9 is moved by one period or N periods (N is a natural number) and averaged by accumulating the remodulated image, the demodulated image The ability to obtain image data.
  • This image data includes information for super-resolution observation of the specimen 12 with structured illumination.
  • the image data is taken in by the control / arithmetic unit 42, subjected to calculation, and then sent to the image display unit 43.
  • the present microscope apparatus makes the optical path from the conjugate plane (sample conjugate plane) 22 of the specimen 12 to the specimen 12 completely a common optical path between the illumination optical system LSI and the observation optical system LS2, and the standard path.
  • a diffraction grating 9 is arranged on the conjugate plane 22.
  • the diffraction grating 9 is used to modulate the fine structure of the specimen 12. Then, the microstructure of the modulated specimen 12 is automatically remodulated by the diffraction grating 9 arranged at this position.
  • the diffraction grating 9 can be moved by the actuator 40 in a direction Db perpendicular to the grating lines. This movement changes the phase of the structured illumination.
  • Control and arithmetic unit 42 controls the actuator 40 and the imaging device 25 and accumulates image data for one frame while changing the phase by one cycle or N cycles (N is a natural number) By doing so, the structured illumination pattern and unnecessary diffraction components generated during re-modulation are deleted from the image data.
  • a charge storage type image sensor such as a CCD is used as the image sensor of the image pickup device 25, and the time required for the phase of structured illumination to change by one period or N periods (N is a natural number).
  • N is a natural number.
  • a non-charge storage type image pickup device such as NMOS or CMOS is used as the image pickup device of the image pickup device 25, and a low pass filter or an integration circuit is connected to the output of each pixel.
  • the illumination pattern and unwanted diffraction components generated during re-modulation may be eliminated.
  • the time should be longer than the time required to change the phase force period or N period (N is a natural number) of the structured illumination as the time constant of the low-pass filter or integration circuit to be connected.
  • the diffraction grating 9 can be rotated around the optical axis together with the actuator 40 by the rotary stage 41. This rotation changes the direction of structured illumination.
  • Control 'arithmetic unit 42 controls rotary stage 41 and imaging device 25, and the direction of structured illumination is set to multiple directions. If image data is acquired each time it is changed, information for super-resolution observation in multiple directions can be obtained. As a result, two-dimensional super-resolution observation of the specimen 12 becomes possible.
  • the program necessary for the above operation is installed in the control / arithmetic unit 42 in advance via a recording medium such as a CD-ROM or the Internet.
  • FIG. 1 shows how the diffraction grating 9 is rotated around the optical axis.
  • the right direction on the paper in Fig. 1 is the positive direction of the X axis
  • the front perpendicular to the paper surface is the positive direction of the y axis
  • the optical axis is the z axis
  • the direction toward the objective lens is the positive direction. .
  • FIG. 1 shows how the diffraction grating 9 is rotated around the optical axis.
  • the parallel flat glass 7 may be similarly rotated around the z axis by ⁇ . This is realized by fixing the parallel flat glass 7 and the diffraction grating 9 on the same rotation stage and rotating it around the z axis. As described above, in the present embodiment, since the parallel flat glass 7 and the diffraction grating 9 are fixed and rotated on the same rotary stage, the force S for accurately reproducing the direction of oblique illumination can be obtained.
  • FIG. 3 is a diagram showing an outline of the optical system of the microscope apparatus according to the second embodiment of the present invention.
  • the parallel flat glass 7 arranged after the dichroic mirror 5 in FIG. 1 is arranged immediately after the light source 1. That is. Even in this case, of the diffracted light generated by the diffraction grating 9, the on-axis light beam is separated from the optical axis by the parallel plate glass 7 so that the 0th-order folded light DO and the first-order diffracted light D1 are symmetric with respect to the optical axis of the objective lens. It can be shifted.
  • the required deviation d can be calculated from the wavelength of the light source 1, the collector lens 2, the collimator lens 3, the combined focal length of the lens 8, and the pitch of the diffraction grating 9, and a parallel plate to achieve this. These parameters can also be calculated.
  • the wavelength of light source 1 is ⁇
  • the combined focal length of collector lens 2, collimator lens 3, and lens 8 is f.
  • the pitch of the diffraction grating 9 is P
  • the required shift amount d is the same as the above equation (1).
  • the refractive index of the parallel flat glass 7 is n
  • the thickness is t
  • the tilt angle is ⁇
  • the deviation d from the optical axis of the axial ray by the parallel flat glass 7 is the same as the above equation (2).
  • the 0th-order diffracted light DO and the first-order diffracted light D1 are made symmetric with respect to the optical axis of the objective lens. Is possible.
  • the parallel flat glass 7 may be rotated by the same angle as the rotation angle of the diffraction grating 9 with the optical axis as the rotation axis. This is realized by installing parallel flat glass on the rotary stage 51 and controlling it in synchronization with the drive of the rotary stage 41 of the diffraction grating 9 by the control / arithmetic unit 42. According to the present embodiment, since the rotation mechanism of the parallel flat glass 7 is arranged away from the objective optical system, the vibration force due to the rotation of the parallel flat glass 7 is difficult to be transmitted to the objective optical system.
  • FIG. 4 is a diagram showing an outline of the optical system of the microscope apparatus according to the third embodiment of the present invention.
  • the stop positions of the diffraction gratings are determined in advance, and for each stop angle, parallel flat glasses 71, 72, 73 are prepared that are rotated by an inclination angle ⁇ with the direction of the grating line as the rotation axis.
  • the direction of oblique illumination is switched by switching according to the rotation stop angle of the diffraction grating 9.
  • the electric stage 52 is slid so that the parallel flat glass plates 71, 72, and 73 enter the optical path, respectively.
  • the angles of the parallel flat glasses 71, 72, 73 are first adjusted with high accuracy, there is an advantage that the subsequent repeatability is good.
  • FIG. 5 is a diagram showing an outline of an optical system of a microscope apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the image rotator 14 is arranged in place of the parallel flat glass 7 in FIG. 3, and the light source 1 is arranged from the optical axis (the central axis of the collector lens and collimator lens 3). It is to shift. This makes it possible to shift the on-axis light beam from the optical axis so that the 0th-order diffracted light DO and the first-order diffracted light D1 out of the diffracted light generated by the diffraction grating 9 are symmetric with respect to the optical axis of the objective lens. .
  • the necessary amount of eccentricity d of the light source 1 is expressed by equation (1).
  • the image rotator 14 may be rotated by half the rotation angle of the diffraction grating 9 with the optical axis as the rotation axis. This is realized by installing the image rotator 14 on the rotary stage 53 and controlling it in synchronism with the drive of the rotary stage 41 of the diffraction grating 9 by the control / arithmetic unit 42. According to the present embodiment, since the rotation angle of the image rotator 14 is half of the rotation angle of the diffraction grating 9, there is an advantage that the rotation amount of the rotary stage can be suppressed. Further, without using the image rotator 14, the light source 1 may be rotated around the optical axis by the same rotation angle as that of the diffraction grating 9.
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing an optical system from the light source 1 to the diffraction grating 9 in the optical system of the microscope apparatus according to the fifth embodiment of the present invention. Ignore the actual placement of each component and show only the relationship between them. The positional relationship of each component is the same as that shown in Fig. 5 except for the light source. However, the excitation filter 4 and the dichroic mirror 5 are omitted.
  • the light from the light source 101 such as a laser beam is bent by one of the mirrors 102, 103, and 104 and enters the optical fibers 105, 106, and 107.
  • the light emitted from any one of the exit ends 105a, 106a, and 107a of the optical fibers 105, 106, and 107 is used as a secondary light source by using the exit surface as a secondary light source, the collector lens 2, the collimator lens 3, and the lens 8 to form a diffraction grating 9
  • the 0th order light and 1st order light are generated symmetrically about the optical axis.
  • the rotating diffuser 121 can be inserted into the optical path.
  • the rotary diffusion plate 121 rotates a disk-shaped diffusion plate at a high speed about a shaft 122 as a rotation axis.
  • the coupling lens 123 is used to rotate the rotating diffusion plate 121 on an appropriate magnification.
  • the beam diameter can be imaged on the optical fiber incident end face. In this way, it is possible to suppress the coherence noise by suppressing the light loss and giving the beam a spread.
  • the output light amount of the light source can be reduced to a light amount necessary for the optical system.
  • the exit end 106a should be reversed from the position of (b) to the position of ⁇ 2 + 180 ° and fixed in a balanced manner. Is also possible. In this case, any one of ⁇ 1, ⁇ 2, and ⁇ 3 may be inverted 180 degrees.
  • the mirrors 102 and 103 are switchable so that they can be excluded from the optical path. Then, when the angle of the diffraction grating 9 is ⁇ 1, the mirror 102 is inserted, and when the angle of the diffraction grating 9 is ⁇ 2, the mirror 103 is inserted after excluding the mirror 102, and the angle of the diffraction grating 9
  • ⁇ 3 is set, if both mirrors 102 and 103 are excluded, the end of the optical fiber can be arranged at a corresponding angle, and the direction of oblique illumination can be rotated in accordance with the rotation of the diffraction grating.
  • FIG. 7 is a conceptual diagram showing an optical system from the light source 1 to the diffraction grating 9 in the optical system of the microscope apparatus according to the sixth embodiment of the present invention. Ignore the actual placement of each component and show only the relationship between them. The positional relationship of each component, excluding the light source part, The same as shown in Fig. 5. However, the excitation filter 4 and the dichroic mirror 5 are omitted.
  • the difference of this embodiment from the fifth embodiment is that instead of the mirrors 102, 103, 104, partial transmission mirrors 112 and 113 are arranged to transmit light from the light source to the optical fiber 105, The light is divided into 1/3 of 106 and 107 respectively. Then, the shatters S 1, S 2, and S 3 are arranged in front of each optical fiber so that only the shatter of the corresponding optical path is opened as the direction of the diffraction grating 9 is changed.
  • FIGS. 6 and 7 the force of drawing the three optical fibers 105, 106, and 107 separately.
  • the present invention is not limited to this, and the three optical fibers are bundled in one bundle. It is also possible to use an optical fiber in which three cores are arranged in advance in one clad.
  • the microscope apparatus of each embodiment described above detects the relayed re-modulated image (magnified image 24) with the imaging device 25, the magnified image 24 can be observed with the naked eye via an eyepiece. It may be deformed.
  • the diffraction grating is used as the spatial modulation element, but another spatial modulation element that has the same effect on the incident light beam may be used.
  • a spatial modulation element such as a transmissive liquid crystal display element
  • the phase change and direction change of structured illumination can be performed electrically, and the actuator is configured without using a rotary stage.
  • the force applied to the fluorescence microscope is not particularly limited to this, and a reflection microscope can be configured similarly.
  • FIG. 8 is an operation flowchart regarding control of the control / arithmetic unit 42.
  • the control / arithmetic unit 42 when acquiring the image data of the remodulated image, the control / arithmetic unit 42 is structured during the period from the start of exposure (step S11) to the end of exposure (step S13) of the imaging device 25.
  • the image data obtained in this way is the time integration of the re-modulated image during the phase change of the structured illumination, and the luminance distribution of the structured illumination is sinusoidal.
  • the patterned illumination pattern is erased.
  • unnecessary diffraction components generated during re-modulation are also deleted from the image data. Therefore, this image data represents a demodulated image.
  • several methods other than this can be applied as described above.
  • control / arithmetic unit 42 changes the direction of the structured illumination (step S15), and then performs the processing of steps S11 to S13 again to generate another demodulation in which the structured illumination pattern is erased. Acquire image data of the image.
  • the image data acquisition process of the demodulated image in the above steps S11 to S13 is repeated until the direction of the structured illumination is set in all predetermined directions (until step S14 becomes YES).
  • the image data of the demodulated image from which the structured illumination pattern is erased is acquired in the number of the set directions.
  • control / arithmetic unit 42 repeats the processing of steps S11 to S13 until the direction of the structured illumination is set to three directions of 0 °, 120 °, and 240 °, and the structured illumination pattern Acquire image data I, I, I of the three demodulated images deleted.
  • the direction of super-resolution differs by 120 ° between image data I, I, and I.
  • FIG. 9 is an operation flowchart regarding the calculation of the control / arithmetic unit 42.
  • the image data I, I, and I of three demodulated images with different super-resolution directions by 120 ° are acquired.
  • control / arithmetic unit 42 applies Fourier transform to each of the three demodulated image data I, I, and I.
  • the demodulated image data I 1, 1, 1 are shown in FIGS. 10 (A), (B), (C).
  • symbols I and 1 are modulated ( ⁇ first-order diffracted light).
  • control / arithmetic unit 42 stores the three demodulated image data I 1, 1, 1 in FIG.
  • This calculation may be a simple addition, but is preferably a process of deconvolution considering MTF.
  • deconvolution processing for example, there is a technique using a Wiener filter.
  • I is calculated as a function of frequency f as follows:
  • MTF (f) is the effective MTF after demodulation in each direction of the diffraction grating
  • NTF (f ) Is used to express the following equation (5).
  • G and G are the zero-order and first-order diffraction efficiencies of the diffraction grating, respectively, and f is the rotating iron
  • I (f) is the signal strength of the j-th image at spatial frequency f
  • C is the noise power spectrum.
  • control / arithmetic unit 42 performs inverse Fourier transform on the composite image data I and displays it in the real space.
  • This image data I represents a super-resolution image of a sample 12 in three directions that differ by 120 ° (step S23).
  • Control and calculation unit 42 Data I is sent to the image display device 43 and the super-resolution image is displayed.
  • the light from the specimen 12 is re-modulated by the diffraction grating 9, and the diffraction grating 9 is powered and averaged to remove unnecessary diffraction components.
  • a demodulated image is obtained. Therefore, the image data of the demodulated image can be obtained at high speed as much as the demodulation operation is not performed.
  • the same region of the same diffraction grating 9 is used for modulation and re-modulation, even if the diffraction grating 9 has a shape error, an arrangement error, or an error in its rotation angle, the modulation is performed. And the remodulation pattern can be made the same. Therefore, the shape error, arrangement error, and rotation adjustment error of the diffraction grating 9 hardly give noise to the image data of the demodulated image. The same applies when the phase of structured illumination is changed or when the direction of structured illumination is changed. Therefore, this microscope apparatus can obtain a super-resolution image with high accuracy.
  • this microscope apparatus performs deconvolution when combining a plurality of image data (step S22 in FIG. 9), the ability to obtain a good super-resolution image with less attenuation of high-frequency components. Touch with S.

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Abstract

 回折格子9は、0次回折光と光軸に関して対称な方向に1次回折光を生じさせる。それぞれの光束は第2対物レンズ10、第1対物レンズ11によって標本面上に二光束干渉縞を形成し、標本12は、空間変調された照明光で照明される。標本12上では、構造化照明された光を励起光として蛍光が発生する。第1対物レンズ11によって捉えられた蛍光は、第1対物レンズ11及び第2対物レンズ10からなる対物光学系LS21により、標本共役面22上に標本12の変調像を形成する。その変調像は、その標本共役面22に配置された回折格子9によって再変調される。再変調像からの蛍光は、レンズ8を介してダイクロイックミラー5を透過した後、観察光学系LS2の単独光路へ入り、蛍光フィルタ6を透過したのち、レンズ13を介して再変調像の拡大像24を形成する。

Description

明 細 書
顕微鏡装置及び画像処理方法
技術分野
[0001] 本発明は、顕微鏡装置及び画像処理方法に関するものである。
背景技術
[0002] 生物標本などの被観察物を超解像観察するための手法に、照明光を空間変調す る手法があり、特開平 11 242189号公報 (特許文献 1)、米国再発行特許第 3830 7 公幸! ¾ (特許文献 2)、 W.Lukosz, Optical systems with resolving powers exceeding the clasical limit. II" Journal of the Optical Society of America, Vol.37,PP.932, 1967 ( 非特許文献 1)、 W丄 ukosz and M.Marchand,Opt. Acta. 10,241, 1963 (非特許文献 2) 等に記載されている。
[0003] これらの手法では、空間変調された照明光で被観察物の構造の空間周波数を変 調し、解像限界を超える高い空間周波数の情報を顕微鏡光学系の結像に寄与させ る。但し、超解像画像を観察するためには変調された被観察物の像 (変調像)を復調 する必要がある。復調の方法は大別して 2種類あり、光学的な復調(非特許文献 1、 2 参照)と、演算による復調(特許文献 1、 2参照)とがある。なお、光学的な復調は、回 折格子などの空間変調素子を用いて変調像を再変調することによって実現する。 特許文献 1 :特開平 11 242189号公報
特許文献 2 :米国再発行特許発明第 38307号明細書
^特許文 1: V.LUKOSZ, Optical systems with resolving powers exceeding the clasi cal limit. II", Journal of the Optical Society of America,Vol.37,PP.932, 1967
非特許文献 2 : W丄 ukosz and M.Marchand,Opt. Acta. 10,241, 1963
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] しかし、演算による復調は複雑な演算処理を要するので時間がかかり、被観察物を リアルタイム観察することが難しい。一方、光学的な復調は回折格子などの空間変調 素子を用いるので時間はかからないが、その復調精度は空間変調素子の形状精度 や配置精度などに依存するので、良好な超解像画像を得ることが難しレ、。
[0005] 因みに、非特許文献 2に記載の復調方法(光学的な復調)では、変調に関する光 路と復調に関する光路とを平行にし、変調と変調とに共通の回折格子の異なる部分 を用いることで配置精度の問題改善を図っているが、変調に関わる光学系の瞳と復 調に関わる光学系の瞳とを共役にすることができないため、観察視野が極端に狭い という欠点がある。
[0006] 本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、高速に超解像画像の情報を生 成することのできる顕微鏡装置を提供すること、及びそれを使用して超解像画像を得 ることができる画像処理方法を提供することを課題とする。
課題を解決するための手段
[0007] 前記課題を解決するための第 1の手段は、斜め入射する略平行光束の、 0次回折 光である照射光を受光して、光軸に対して前記 0次回折光と対称に 1次回折光を形 成する空間変調素子と、前記 0次回折光と前記 1次回折光とを試料面の同一位置で 干渉させて干渉縞を形成し、前記干渉縞によって変調を受けた前記試料面からの光 を前記空間変調素子面に結像させる対物光学系と、撮像手段と、前記空間変調素 子面で再変調された光の像を前記撮像手段の撮像面に結像させるリレー光学系とを 有することを特徴とする顕微鏡装置である。
[0008] 前記課題を解決するための第 2の手段は、前記第 1の手段であって、前記対物光 学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸と、光源から前記試料面に至る照 明光学系の光軸が、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側のある場所から前記 試料面まで同一とされており、前記光源からの照明光の中心軸を前記同一の光軸よ りずらす光路移動光学系と、前記光路移動光学系を通過した前記照明光を、前記空 間変調素子に対して斜め入射する略平行光束の照射光に変える照射光学系 を有することを特徴とするものである。
[0009] 前記課題を解決するための第 3の手段は、前記第 2の手段であって、前記照射光 学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とするものである。
[0010] 前記課題を解決するための第 4の手段は、前記第 2の手段又は第 3の手段であつ て、前記光源力 発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前記コ レクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメータレンズと 、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー 光学系の光軸上を前記試料面方向に進む光とし、前記光路移動光学系に入射させ る光路偏向手段とを有し、前記照明光の主光線は、前記コレクタレンズの中心、前記 コリメータレンズの中心、前記リレー光学系の光軸を通って、前記光路移動光学系に 入射するようにされてレ、ることを特徴とするものである。
[0011] ここで、光路偏向部材には、所定の比率で光を透過、及び反射させるミラー又はプ リズムや、ダイクロイツクミラー、ダイクロイツクプリズムが含まれる。又、主光線とは、光 源の中心から射出する最も強度の強い光線を示す。
[0012] 前記課題を解決するための第 5の手段は、前記第 2の手段又は第 3の手段であつ て、前記光源力 発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前記コ レクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメータレンズと 、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー 光学系の光軸と平行に前記試料面方向に進む光とし、前記照射光学系に入射させ る光路偏向部材とを有し、前記光源からの照明光は、前記光路移動光学系を透過し た後、前記コレクタレンズに入射し、前記光路偏向部材により反射された後、前記照 射光学系に入射するようにされて!/、ることを特徴とするものである。
[0013] 前記課題を解決するための第 6の手段は、前記第 2の手段から第 5の手段のいず れかであって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記 光路移動光学系も光軸を中心として回転可能とされ、前記空間変調素子の回転量と 前記光路移動光学系を回転させたときにそれに伴って回転する主光線の回転量とを 同一にすることが可能とされていることを特徴とするものである。
[0014] 前記課題を解決するための第 7の手段は、前記第 2の手段から第 5の手段のいず れかであって、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記 光路移動光学系に、光路を移動させる光学素子が複数設けられ、複数の当該光学 素子は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記 空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とす るものである。 [0015] 前記課題を解決するための第 8の手段は、前記第 1の手段であって、前記対物光 学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸と、光源から前記試料面に至る照 明光学系の光軸が、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側のある場所から前記 試料面まで同一とされており、前記照明光学系の光軸から離れた位置に設けられた 光源と、前記光源力 発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、前 記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメータレン ズと、前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレ 一光学系の光軸に平行に前記試料面方向に進む光とする光路偏向部材と、前記光 路偏向部材で反射された照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射する略平 行光束の照射光に変える照射光学系とを有することを特徴とするものである。
[0016] 前記課題を解決するための第 9の手段は、前記第 8の手段であって、前記照射光 学系が、前記リレー光学系の 1部であることを特徴とするものである。
[0017] 前記課題を解決するための第 10の手段は、前記第 8の手段又は第 9の手段であつ て、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源も前 記照明光学系の光軸を中心として回転可能とされ、両者の回転量を同一にすること が可能とされてレ、ることを特徴とするものである。
[0018] 前記課題を解決するための第 11の手段は、前記第 8の手段又は第 9の手段であつ て、前記空間変調素子が光軸を中心として回転可能とされると共に、前記光源が複 数設けられ、複数の当該光源は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を移 動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可能と されていることを特徴とする。
[0019] 前記課題を解決するための第 12の手段は、前記第 1の手段から第 11の手段のい ずれかであって、前記空間変調素子と前記対物光学系によって前記試料面上に形 成される干渉縞の位相を変化させることが可能とされており、前記撮像手段の撮像時 間は、前記位相が整数周期変化する時間とほぼ等しくされていることを特徴とするも のである。
[0020] 前記課題を解決するための第 13の手段は、前記第 6の手段、第 7の手段、第 10の 手段、第 11の手段のいずれかである顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の 回転量を変えて試料の撮像を複数回行い、得られた複数枚の画像データをフーリエ 変換して、フーリエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対 して 2次元平面上で、 MTFを考慮したデコンボリューシヨン処理を行って合成した後 、逆フーリエ変換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法である。 発明の効果
[0021] 本発明によれば、高速に超解像画像の情報を生成することのできる顕微鏡装置を 提供すること、及びそれを使用して精度の良い映像を得ることができる画像処理方法 を提供すること力できる。
図面の簡単な説明
[0022] [図 1]本発明の第 1の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である
[図 2]回折格子を光軸周りに回転させるときの様子を示す図である。
[図 3]本発明の第 2の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である
[図 4]本発明の第 3の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である
[図 5]本発明の第 4の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である
[図 6]本発明の第 5の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源力 回折 格子までの光学系を示す概念図である。
[図 7]本発明の第 6の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源力 回折 格子までの光学系を示す概念図である。
[図 8]制御 ·演算装置の制御に関する動作フローチャートである。
[図 9]制御 ·演算装置の演算に関する動作フローチャートである。
[図 10]復調像の画像データを示す図である。
[図 11]3方向の復調された画像データを合成する状態を示す図である。
符号の説明
[0023] 1 · · ·光原、 2· · ·コレクタレンズ、 3· · ·コリメータレンズ、 4· · ·励起フィノレタ、 5· · ·ダイクロイ ックミラー、 6…蛍光フィルタ、 7…平行平板ガラス、 8…レンズ、 9…回折格子、 10··· 第 2対物レンズ、 11···第 1対物レンズ、 12···標本(蛍光試料)、 13···レンズ、 14···ィ メージローテータ、 22···標本共役面、 23···像、 24···拡大像、 25···撮像装置、 31··· 光源像(瞳共役面)、 32···第 1対物レンズの瞳面、 40···ァクチユエータ、 41···回転ス テージ、 42···制御 ·演算装置、 43···画像表示装置、 51···回転ステージ、 52···電動 ステージ、 53…回転ステージ、皿…光源、 102…ミラー、 103…ミラー、 104…ミラ 一、 105…光ファイバ、 105a…射出端、 106…光ファイバ、 106a…射出端、 107··· 光ファイバ、 107a…射出端、 112···部分透過ミラー、 113···部分透過ミラー、 121··· 回転拡散板、 122…軸、 123…カップリングレンズ、 S1〜S3…シャツタ、 LSI…照明 光学系、 LS2〜観察光学系、 LS21〜対物光学系、 LS22〜リレー光学系、 D0---0 次回折光、 Dl_ 1次回折光
発明を実施するための最良の形態
[0024] 以下、本発明の実施の形態の例を、図を用いて説明する。図 1は、本発明の第 1の 実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図である。この顕微鏡装置は、 光源 1、コレクタレンズ 2、コリメータレンズ 3、励起フィルタ 4、ダイクロイツクミラー 5、蛍 光フィルタ 6、光路移動光学系である平行平板ガラス 7、照射光学系であるレンズ 8、 空間変調素子である回折格子 9、第 2対物レンズ 10、第 1対物レンズ 11、レンズ 13、 撮像装置(CCDカメラなど) 25、制御 ·演算装置(回路やコンピュータなど) 42、画像 表示装置 43、ァクチユエータ 40、回転ステージ 41等から構成され、標本 (蛍光試料) 12から発生する蛍光による標本 12の像を撮像装置 25で撮像して処理する。
[0025] このうち、光源 1、コレクタレンズ 2、コリメータレンズ 3、励起フィルタ 4、ダイクロイツク ミラー 5、平行平板ガラス 7、レンズ 8、回折格子 9、第 2対物レンズ 10、第 1対物レン ズ 11は照明光学系 LSIを構成する。また、第 1対物レンズ 11、第 2対物レンズ 10、 回折格子 9、レンズ 8、平行平板ガラス 7、蛍光フィルタ 6、ダイクロイツクミラー 5、レン ズ 13は観察光学系 LS2を構成する。また、第 1対物レンズ 11と第 2対物レンズ 10と が対物光学系 LS21を構成し、レンズ 8とレンズ 13とがリレー光学系 LS22を構成して いる。照明光学系 LSIと観察光学系 LS2とは、第 1対物レンズ 11からダイクロイツクミ ラー 5までの光路を共有して!/、る。 [0026] 光源 1からの発散光はコレクタレンズ 2によって平行光線に変換され、コリメータレン ズ 3によって瞳共役面に光源像 31を形成する。その光源像 31からの光は、励起フィ ルタ 4によって波長選択された後、ダイクロイツクミラー 5によって反射され、標本面の 方向へと進む。標本の反射像を観察する場合には、ダイクロイツクミラーの代わりにハ 一フミラーを使用してもよい。又、場合によっては、偏光ビームスプリッタを使用するこ と力 Sできる。
[0027] そして、この光が平行平板ガラス 7を通過する際、光源の中心から発せられ、コレク タレンズ 2、コリメータレンズ 3の中心を通る光軸上の光線(以下、この光線を便宜的 に「主光線」と称する)は、平行平板ガラス 7の両面での屈折により、光軸から所定距 離 dだけシフトする。その後、レンズ 8によって光軸に対して所定角度傾いた平行光線 に変換され、標本共役面 22に配置された回折格子 9を照射する。
[0028] 回折格子 9は、そのまま直進する 0次回折光と光軸に関して対称な方向に 1次回折 光を生じさせるように、予め格子常数を設定してある。それぞれの光束は第 2対物レ ンズ 10によって光軸に平行な平行光線に変換され、第 1対物レンズ 11によって標本 面上で干渉し、二光束干渉縞を形成する。これによつて標本 12は、空間変調された 照明光で照明(構造化照明)される。
[0029] ここで、回折格子 9は、例えば、 1次元の周期構造をもつ位相型又は振幅型の回折 格子である。位相型の回折格子は、回折次数の強度比を設定する自由度が高いと いう利点がある。又、振幅型の回折格子は波長特性が良いため、光源 1に白色光源 を使用できる利点がある。光源 1としては、白色光源の代わりに単一波長の光源を用 いてもよいし、レーザ光源からの光を光ファイバで導き、その端面に形成される二次 光源を光源 1として用いてもょレ、。
[0030] また、構造化照明の輝度分布(回折格子 9の像 23の輝度分布)を正弦波状にする ために、回折格子 9で生じる 1次成分及び次数 2以上の余分な回折成分を除去す ることが望ましい。その際には、回折格子 9よりも後段の適当な箇所 (例えば第 1対物 レンズ 11の瞳面 32)で除去するとよい。あるいは、回折格子 9の濃度分布を予め正 弦波状にしておけば、 2次以上の回折成分の発生を抑え、光量の損失を抑えること ができる。 [0031] 本実施の形態では、回折格子 9により生じる回折光のうち、 0次回折光 DOと 1次回 折光 D1が対物光学系(第 2対物レンズ 10、第 1対物レンズ 11)の光軸に対して対称 になるように、照明光を回折格子 9に対して所定の角度傾けて入射させている。それ は、レンズ 8の前に配置した平行平板ガラス 7によって主光線を光軸からずらすことで 実現させている。照明光を所定角度傾けるために必要なずれ量 dは、光源 1の波長、 レンズ 8の焦点距離、回折格子 9のピッチから計算で求めることができる。
[0032] 光源 1の波長を λ、レンズ 8の焦点距離を f 、回折格子 9のピッチを Pとすると、必
8 8
要なずれ量 dは、
d= f X λ / (2 Χ Ρ ) …ひ)
8 8
となる。
[0033] 一方、平行平板ガラス 7の屈折率を η、厚さを t、傾け角を αとしたとき、平行平板ガ ラスによる光線ののずれ量 dは、
Figure imgf000010_0001
Λ/ η2—siir a となる。
[0034] ここで、平行平板ガラス 7の傾け角 αとは、回折格子 9の格子線の方向を回転軸とし て回転する角度を意味する。
[0035] したがって、(1)、(2)式を満たす光学系を組むことで、回折格子 9により生じる回折 光のうち、 0次回折光 DOと 1次回折光 D1が対物レンズの光軸に対称になるようにす ること力 S可倉 となる。
[0036] さて、 0次回折光 DOと 1次回折光 D1は、第 1対物レンズ 11の瞳面 32にそれぞれ集 光する。この集光点は、第 1対物レンズ 11の瞳径のなるベく端(光軸から離れた位置 )に設定すると、超解像の効果が高いので望ましい。その場合、回折格子 9による照 明光の回折光のうち、 0次回折光と 1次回折光以外の光は、第 1対物レンズ 11の有 効径内には入射できないのでその後の系に影響しない。第 1対物レンズ 11の瞳面 3 2にそれぞれ集光した 0次回折光 DOと 1次回折光 D1は、それぞれ平行光束となって 対物レンズを出射し、標本 12上で干渉し、二光束干渉縞を形成する。
[0037] これにより、標本 12上では、構造化照明された光を励起光として蛍光が発生する。
このときに第 1対物レンズ 11側から見た標本 12の構造は、構造化照明により変調さ れている。変調された構造には、モアレ縞が生じている。このモアレ縞は、標本 12が 有する微細構造と構造化照明のパターンとが成すモアレ縞であり、標本 12の微細構 造が、構造化照明の空間周波数の分だけ低い空間周波数帯域に変換されている。 よって、解像限界を超える高い空間周波数の構造の光までもが、第 1対物レンズ 11 によって捉えられることになる。
[0038] 第 1対物レンズ 11によって捉えられた蛍光は、第 1対物レンズ 11及び第 2対物レン ズ 10からなる対物光学系 LS21により、標本共役面 22上に標本 12の変調像を形成 する。その変調像は、その標本共役面 22に配置された回折格子 9によって再変調さ れる。このようにして生じた再変調像では、空間周波数を変化させた標本 12の構造 、元の空間周波数に戻される。この再変調像に、標本 12の復調像が含まれている
[0039] 但し、この再変調像には、復調像にとって不要な回折成分が含まれてレ、る。不要な 回折成分とは、標本 12から射出された構造化照明による 0次回折光に対し回折格子 9で生じた ± 1次回折成分、標本 12から射出された構造化照明による 1次回折光 に対する 0次回折成分、標本 12から射出された構造化照明による + 1次回折光に対 する 0次回折成分である。これらの不要な回折成分を再変調像から除去するために は、回折格子 9を 1周期分若しくは N周期分 (Nは自然数)動力もて平均化すればよ い。
[0040] 再変調像からの蛍光は、レンズ 8を介してダイクロイツクミラー 5を透過した後、観察 光学系 LS2の単独光路へ入り、蛍光フィルタ 6を透過したのち、レンズ 13を介して再 変調像の拡大像 24を形成する。つまり、回折格子 9で再変調された再変調像は、レ ンズ 8及びレンズ 13からなるリレー光学系 LS22によって、拡大像 24へとリレーされる 。この拡大像 24は、撮像装置 25によって撮像され、再変調像の画像データが生成さ れる。なお、撮像装置 25で撮像する場合、回折格子 9を 1周期若しくは N周期(Nは 自然数)動かしている間、再変調像を蓄積することによって平均化すれば、復調像の 画像データを得ること力できる。
[0041] この画像データは、標本 12を構造化照明によって超解像観察するための情報を含 む。その画像データは、制御 ·演算装置 42によって取り込まれ、演算が施されてから 、画像表示装置 43 と送出される。
[0042] 以上、本顕微鏡装置は、標本 12の共役面 (標本共役面) 22から標本 12までの光 路を照明光学系 LSIと観察光学系 LS2とで完全に共通光路にすると共に、その標 本共役面 22に回折格子 9を配置している。本顕微鏡装置ではこの回折格子 9により 、標本 12の微細構造の変調を図る。そして、変調された標本 12の微細構造は、この 位置に配置された回折格子 9により、自動的に再変調される。
[0043] なお、回折格子 9は、ァクチユエータ 40によって格子線に直交する方向 Dbへ移動 可能である。この移動により、構造化照明の位相が変化する。制御 ·演算装置 42がァ クチユエータ 40及び撮像装置 25を制御し、 1フレーム分の画像データを蓄積して!/ヽ る間にその位相を 1周期分若しくは N周期分 (Nは自然数)だけ変化させることで、そ の画像データから、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要な回折成分と を消去する。
[0044] あるいは、撮像装置 25の撮像素子として CCDなど電荷蓄積型の撮像素子を用い 、構造化照明の位相が 1周期分若しくは N周期分 (Nは自然数)だけ変化するのに必 要な時間を蓄積時間とすることで、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要 な回折成分を消去してもよい。
[0045] あるいは、撮像装置 25の撮像素子として NMOS、 CMOSなど電荷蓄積型ではな い撮像素子を用い、更に各画素の出力にローパスフィルター、もしくは、積分回路を 接続しておくことで、構造化照明のパターンと、再変調時に生じた不要な回折成分を 消去してもよい。その際には、接続するローパスフィルター、もしくは、積分回路の時 定数として構造化照明の位相力 周期分若しくは N周期分 (Nは自然数)だけ変化す るのに必要な時間以上とする。
[0046] また、回折格子 9は、回転ステージ 41によってァクチユエータ 40と共に光軸の周り を回転可能である。この回転により、構造化照明の方向が変化する。制御'演算装置 42が回転ステージ 41及び撮像装置 25を制御し、構造化照明の方向を複数方向に 変化させる度に画像データを取得すれば、複数方向に亘り超解像観察するための 情報を得ることができる。これにより、標本 12の二次元の超解像観察が可能となる。 以上の動作に必要なプログラムは、例えば CD— ROMなどの記録媒体やインターネ ットを介して制御 ·演算装置 42に予めインストールされている。
[0047] ここで、構造化照明の方向を変化させるためには、回折格子 9の回転に伴って、照 明光の斜入射の方向も回転させなければならない。回折格子 9を回転させる際、平 行平板ガラス 7も光軸に対して回転させる必要がある。図 2に、回折格子 9を光軸周り に回転させるときの様子を示す。回折格子 9について、図 1の紙面右方向を X軸の正 の方向、紙面に垂直に手前を y軸の正の方向、光軸を z軸とし対物レンズに向かう方 向を正の方向とする。そして、回折格子 9を z軸周りに Θ回転させた状態が図 2に示さ れている。このとき、平行平板ガラス 7も同様に z軸周りに Θ回転させればよい。これは 、平行平板ガラス 7と回折格子 9を同一の回転ステージ上に固定し、それを z軸周りに 回転させることで実現される。以上、本実施形態では、平行平板ガラス 7と回折格子 9 を同一の回転ステージに固定して回転するので、斜光照明の向きを精度良く再現す ること力 Sでさる。
[0048] 図 3は、本発明の第 2の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図で ある。
[0049] 次に本発明の第 2実施形態について説明する。以下の図において、前出の図に示さ れた構成要素と同じ構成要素には、同じ符号を付してその説明を省略することがある 。この実施の形態と第 1の実施の形態の違いは、本実施の形態においては、図 1に おいてダイクロイツクミラー 5の後に配置されていた平行平板ガラス 7を、光源 1の直後 に配置することである。このようにしても、回折格子 9により生じる回折光のうち、 0次回 折光 DOと 1次回折光 D1が対物レンズの光軸に対称になるように、平行平板ガラス 7 によって軸上光線を光軸からずらすことが可能となる。必要なずれ量 dは、光源 1の波 長、コレクタレンズ 2、コリメータレンズ 3、レンズ 8の合成焦点距離、回折格子 9のピッ チから計算で求めることができ、それを達成するための平行平板のパラメータも計算 で求めることができる。
[0050] 光源 1の波長を λ、コレクタレンズ 2、コリメータレンズ 3、レンズ 8の合成焦点距離を f 、回折格子 9のピッチを Pとすると、必要なずれ量 dは、前記(1)式と同じとなる。また
8 8
、平行平板ガラス 7の屈折率を n、厚さを t、傾け角を αとしたとき、平行平板ガラス 7 による軸上光線の光軸からのずれ量 dは、前記(2)式と同じとなる。したがって、(1)、 (2)式を満たす光学系を組むことで、回折格子 9により生じる回折光のうち、 0次回折 光 DOと 1次回折光 D1が対物レンズの光軸に対称にすることが可能となる。
[0051] 回折格子 9を回転させて構造化照明の方向を変化させる際、光源像 31も同じ角度 だけ回転させて、斜光照明の方向を回転させる必要がある。そのためには、平行平 板ガラス 7を、光軸を回転軸として、回折格子 9の回転角と同じだけ回転させればよい 。これは、平行平板ガラスを回転ステージ 51上に設置し、これを制御.演算装置 42に よって、回折格子 9の回転ステージ 41の駆動と同期させて制御することで実現される 。本実施の形態によれば、平行平板ガラス 7の回転機構を対物光学系と離して配置 するので、平行平板ガラス 7の回転による振動力 対物光学系に伝わりにくいという利 点、かある。
[0052] 図 4は、本発明の第 3の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図で ある。第 2の実施の形態においては、図 3において、回折格子 9を回転させる際、平 行平板ガラス 7を回転ステージ 51によって光軸を回転軸として回転させる必要があつ た。本実施の形態においては、予め回折格子の停止位置を決めておき、各停止角 度について、格子線の方向を回転軸として傾け角 αだけ回転させた平行平板ガラス 71、 72、 73を用意し、回折格子 9の回転停止角度に合わせて切り替えることで、斜 光照明の方向を切り替える。
[0053] 回折格子 9の回転は、現実には 3方向で十分であり、一次元回折格子のため、 180 ° 回転しても機能は同じである。光源像 31の光軸周りの角度力 S、 (3)式を満たすよう な Θ 1、 Θ 2、 Θ 3となるように頃けた 3つの平 fi平板ガラス 71、 72、 73を電動ステー ジ 52上に設置する。
[0054] Θ 3— Θ 2 = Θ 2— Θ 1 = 60° … )
そして、回折格子の角度が Θ 1、 Θ 2、 Θ 3のとき、平行平板ガラス 71、 72、 73がそ れぞれ光路に入るように電動ステージ 52をスライドさせる。これによつて、回折格子の 回転停止角度に合わせて切り替えることで、斜光照明の方向を切り替えることが可能 となる。本実施の形態によれば、平行平板ガラス 71、 72、 73の角度を初めに精度良 く調整しておけば、その後の繰り返し再現性がよいという利点がある。
[0055] 図 5は、本発明の第 4の実施の形態である顕微鏡装置の光学系の概要を示す図で ある。この実施の形態と第 2の実施の形態の違いは、図 3において平行平板ガラス 7 の代わりにイメージローテータ 14を配置すること、光源 1を光軸(コレクタレンズ、コリメ ータレンズ 3の中心軸)からずらすことである。これによつて、回折格子 9により生じる 回折光のうち、 0次回折光 DOと 1次回折光 D1が対物レンズの光軸に対称になるよう に、軸上光線を光軸からずらすことが可能となる。このとき、必要な光源 1の偏芯量 d は、(1)式で表される。
[0056] そして、回折格子 9を回転させる際、光源像 31も同じ角度だけ回転させる必要があ る。そのためには、イメージローテータ 14を光軸を回転軸に、回折格子 9の回転角の 半分だけ回転させればよい。これは、イメージローテータ 14を回転ステージ 53上に 設置し、これを制御.演算装置 42によって、回折格子 9の回転ステージ 41の駆動と 同期させて制御することで実現される。本実施の形態によれば、イメージローテータ 1 4の回転角は回折格子 9の回転角の半分で済むので、回転ステージの回転量を抑え られるという利点がある。又、イメージローテータ 14を使用せず、光源 1を光軸の回り に、回折格子 9と同じ回転角だけ回転させてもよい。
[0057] 図 6は、本発明の第 5の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源 1から 回折格子 9までの光学系を示す概念図である。各構成要素の実際の配置を無視して 、互いの関係だけを示すものである。各構成要素の位置関係は、光源部を除いて、 図 5に示すものと同じである。ただし、励起フィルタ 4およびダイクロイツクミラー 5を省 略して描いてある。
[0058] 図 6 (a)に示すように、レーザなどの光源 101からの光はミラー 102、 103、 104のい ずれかで折り曲げられ、光ファイバ 105、 106、 107に入射する。光ファイバ 105、 10 6、 107の射出端 105a、 106a, 107aのいずれかから射出された光は、この射出面 を 2次光源として、コレクタレンズ 2、コリメータレンズ 3、レンズ 8によって、回折格子 9 を照明し、 0次光と 1次光を光軸に対称に生じさせる。
[0059] 光源 101がレーザの場合、ビームに拡がりがない、コヒーレンスノイズを除去する必 要があるなどのために、回転拡散板 121を光路に揷入することができる。回転拡散板 121は円盤状の拡散板を軸 122を回転軸に高速で回転させるものである。そして、 回転拡散板 121によって拡散され拡がりをもった光束を、光ファイバ 105、 106、 107 に効率よく導入するために、カップリングレンズ 123を使用して、適当な倍率で回転 拡散板 121上の光束径を光ファイバ入射端面に結像することができる。こうすれば、 光量損失を抑えた上で、ビームに拡がりを持たせ、コヒーレンスノイズを抑えることが できる。
[0060] また、光源 101と回転拡散板 121の間に、 NDフィルタや公知のアツテネータを揷 入することにより、光源の出力光量を光学系に必要な光量まで低減することが可能で ある。
[0061] さて、回折格子 9の回転は、現実には 3方向で十分である。 (図 6 (d) )。したがって、 図 6 (b)に示すように、光ファイバの射出端面 Aにおいて、 3本の光ファイバ端は、例 えば式(3)を満たすような Θ 1、 Θ 2、 Θ 3の角度で、光軸から dだけ偏心した位置に 固定しておく。
[0062] Θ 3— Θ 2 = Θ 2— Θ 1 = 60° … (3)
0次光と 1次光の左右を問わなければ図 3 (c)に示すように、射出端 106aを (b)の位 置から反転させ Θ 2+ 180° の位置にし、バランスよく固定することも可能である。こ の場合、 Θ 1、 Θ 2、 θ 3のいずれを 180度反転させてもよい。
[0063] そして、ミラー 102と 103は光路から除外できるように切替え可能としておく。そして 、回折格子 9の角度が θ 1であるとき、ミラー 102を揷入、回折格子 9の角度が Θ 2で あるとき、ミラー 102を除外の上、ミラー 103を揷入、回折格子 9の角度が Θ 3であると き、ミラー 102、 103とも除外すれば、対応した角度に光ファイバ端を配置することが でき、回折格子の回転に伴って斜光照明の方向を回転することができる。
[0064] この実施の形態では、可動部が光ファイバを介して顕微鏡本体から離れるので、振 動が伝わりにくいと!/、う利点がある。
[0065] 図 7は、本発明の第 6の実施の形態である顕微鏡装置の光学系のうち、光源 1から 回折格子 9までの光学系を示す概念図である。各構成要素の実際の配置を無視して 、互いの関係だけを示すものである。各構成要素の位置関係は、光源部を除いて、 図 5に示すものと同じである。ただし、励起フィルタ 4およびダイクロイツクミラー 5を省 略して描いてある。
[0066] 本実施の形態の、第 5の実施の形態との違いは、ミラー 102、 103、 104の代わりに 、部分透過ミラー 112と 113を配置して、光源からの光を光ファイバ 105、 106、 107 に各々 1/3ずつ光量分割している点である。そして各光ファイバの手前にシャツタ S 1、 S2、 S3を配置し、回折格子 9の方向変換に伴って、該当する光路のシャツタのみ 開く構成にする。すなわち、回折格子 9が角度 θ 1の時は、 S1のみ開けて、 S2、 S3 は閉じ、回折格子 9が角度 Θ 2の時は S2のみ開け、 Sl、 S3は閉じ、回折格子 9が角 度 Θ 3の時は S3のみ開け、 Sl、 S2は閉じるといった具合である。この実施の形態で は、可動部がシャツタのみのため切替が高速にできるとレ、う利点がある。
[0067] なお、図 6、図 7では、 3本の光ファイバ 105、 106、 107を別々に描いた力 本発明 はこれに限定されるものではなく 3本の光ファイバを一束にバンドルしたものでも良い し、予め一つのクラッドの中に 3本のコアを配置した光ファイバを利用することもできる
[0068] なお、上述した各実施形態の顕微鏡装置は、リレーされた再変調像 (拡大像 24)を 撮像装置 25で検出したが、拡大像 24を接眼レンズを介して肉眼で観察できるように 変形されてもよい。
[0069] また、上述した各実施形態の顕微鏡装置は、空間変調素子として回折格子を使用 したが、入射光束に対し同様の作用をする別の空間変調素子を使用してもよい。例 えば、回折格子 9の代わりに透過型液晶表示素子などの空間変調素子を用いれば、 構造化照明の位相変化及び方向変化を電気的に行うことができ、ァクチユエータゃ 回転ステージを用いずに構成し、さらなる高速化を図ること力 Sできる。さらに、上述の 各実施形態では蛍光顕微鏡への応用であった力 特にこれに限定されるものではな ぐ同様に反射顕微鏡を構成することもできる。
[0070] 以下、図 1〜図 5に示された、制御 ·演算装置 42の制御に関する動作を説明する。
図 8は、制御 ·演算装置 42の制御に関する動作フローチャートである。図 8に示すと おり、制御 ·演算装置 42は、再変調像の画像データを取得するに当たり、撮像装置 2 5の露光開始 (ステップ S11)から露光終了(ステップ S13)までの期間に、構造化照 明の位相を 1周期分だけ変化させる(ステップ SI 2)。
[0071] このようにして取得された画像データは、構造化照明の位相変化中における再変 調像の時間積分であり、構造化照明の輝度分布は正弦波状なので、この画像データ からは、構造化照明のパターンは消去される。また、この画像データからは、再変調 時に生じた不要な回折成分も消去される。よって、この画像データは、復調像を表す 。なお、これらの消去には、これ以外にも、上述したとおり何通りかの方法が適用可能 である。
[0072] さらに、制御 ·演算装置 42は、構造化照明の方向を変化させてから (ステップ S 15) 、再びステップ S11〜S13の処理を行い、構造化照明のパターンの消去された別の 復調像の画像データを取得する。
[0073] そして、以上のステップ S 11〜S13における復調像の画像データの取得処理は、 構造化照明の方向が予め決められた全方向に設定されるまで (ステップ S14が YES となるまで)繰り返され、構造化照明のパターンの消去された復調像の画像データが 、設定された方向の数だけ取得される。
[0074] 例えば、制御.演算装置 42は、ステップ S 11〜S13の処理を、構造化照明の方向 が 0° , 120° , 240° の 3方向に設定されるまで繰り返し、構造化照明のパターン の消去された 3つの復調像の画像データ I、 I、 Iを取得する。これらの復調像の画
1 2 3
像データ I、 I、 Iの間では、超解像の方向が 120° ずつ異なる。
1 2 3
[0075] 図 9は、制御.演算装置 42の演算に関する動作フローチャートである。ここでは、超 解像の方向が 120° ずつ異なる 3つの復調像の画像データ I、 I、 Iを取得した場合
1 2 3
の演算を説明する。
[0076] 先ず、制御 ·演算装置 42は、 3つの復調像の画像データ I、 I、 Iの各々をフーリエ
1 2 3
変換し、波数空間で表現された 3つの復調像の画像データ I 、1 、 1 を得る(ステツ
kl k2 k3
プ S21)。これら復調像の画像データ I 、1 、1 を図 10 (A) , (B) , (C)に示した。
kl k2 k3
[0077] 図 10 (A) , (B) , (C)において符号 I 、1 は、変調された状態で(± 1次回折光
k+ 1 k 1
として)対物光学系 LS21によって伝達された成分(± 1次変調成分)を示し、符号 I k0 は、変調されなレ、状態で(0次回折光として)対物光学系 LS21によって伝達された成 分(0次変調成分)を示す。各々の円内は、 MTF (Modulation Transfer Function)力 S 0でない領域を示す。また、符号 Dbは、超解像の方向(構造化照明の方向)を示し、 符号 Kは、構造化照明の空間周波数を示す。
[0078] 続いて、制御 ·演算装置 42は、 3つの復調像の画像データ I 、 1 、 1 を、図 11に
kl k2 k3
示すとおり波数空間上で合成し、 1つの合成画像データ Iを得る (ステップ S22)。こ
k
の演算は、単純な加算でもよいが、 MTFを考慮してデコンボリューシヨンを施す処理 であることが望ましい。デコンボリューシヨン処理としては、例えばウィナーフィルタを 利用した手法がある力 このとき、 Iは、周波数 fの関数として以下のように計算される
k
[数 2] kjW τ Γ) ノ
[0079] ただし、 jは回折格子 9の方向(0。 、 120° 、 240。 )、MTF (f)は、回折格子の各 方向における復調後の実効 MTFであり、対物光学系の NTF (f)を用いて以下の(5 )式で表される。ただし、 G 、 Gはそれぞれ回折格子の 0次、 1次回折効率、 fは回鉄
0 1 j 格子による変調周波数である。また、 MTF* (f)の *は、この MTFが複素数であるこ j
とを示す。
[数 3]
MTFjif)
Figure imgf000019_0001
- j、 ■ ' '(5)
[0080] I (f)は空間周波数 fにおける j番目の画像の信号強度、 Cは、ノイズのパワースぺタト
kj
ルから決まる定数を示す。
[0081] この処理によって、合成画像データ Iの低周波数成分の寄与が大きくなりすぎるの k
を抑えることで、高周波数成分の相対的な寄与が小さくなるのを防ぐことができる。
[0082] 続いて、制御 ·演算装置 42は、合成画像データ Iを逆フーリエ変換し、実空間で表
k
現された画像データ Iを得る。この画像データ Iは、 120° ずつ異なる 3方向に亘る標 本 12の超解像画像を表現する (ステップ S23)。制御.演算装置 42は、この画像デー タ Iを画像表示装置 43 送出し、超解像画像を表示する。
[0083] 以上、本実施の形態における顕微鏡装置では、標本 12からの光が回折格子 9で再 変調され、さらに回折格子 9を動力、して平均化して不要な回折成分を除去することに よって復調像を得ている。従って、復調演算をしない分だけ復調像の画像データは 高速に得られる。
[0084] しかも、変調と再変調とに同一の回折格子 9の同一の領域が用いられるので、仮に その回折格子 9に形状誤差や配置誤差、あるいはその回転角に誤差があつたとして も、変調のパターンと再変調のパターンとを同一にすることができる。従って、回折格 子 9の形状誤差や配置誤差、回転調整誤差は、復調像の画像データに対しノイズを 殆ど与えない。このことは、構造化照明の位相を変化させたときや、構造化照明の方 向を変化させたときにも同様に当てはまる。したがって、本顕微鏡装置では超解像画 像が高精度に得られる。
[0085] また、本顕微鏡装置では、複数の画像データを合成する際に(図 9ステップ S22)、 デコンボリューシヨンを行うので、高周波数成分の減衰の少ない良好な超解像画像を 得ること力 Sでさる。

Claims

請求の範囲
[1] 斜め入射する略平行光束の、 0次回折光である照射光を受光して、光軸に対して 前記 0次回折光と対称に 1次回折光を形成する空間変調素子と、
前記 0次回折光と前記 1次回折光とを試料面の同一位置で干渉させて干渉縞を形成 し、前記干渉縞によって変調を受けた前記試料面からの光を前記空間変調素子面 に結像させる対物光学系と、
撮像手段と、
前記空間変調素子面で再変調された光の像を前記撮像手段の撮像面に結像させる リレー光学系と、
を有することを特徴とする顕微鏡装置。
[2] 請求項 1に記載の顕微鏡装置であって、
前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸と、光源力 前記試料 面に至る照明光学系の光軸が、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側のある場 所から前記試料面まで同一とされており、
前記光源からの照明光の中心軸を前記同一の光軸よりずらす光路移動光学系と、 前記光路移動光学系を通過した前記照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入 射する略平行光束の照射光に変える照射光学系
を有することを特徴とする顕微鏡装置。
[3] 前記照射光学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とする請求項 2に記 載の顕微鏡装置。
[4] 請求項 2に記載の顕微鏡装置であって、
前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、 前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメ一タレ ンズと、
前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光 学系の光軸上を前記試料面方向に進む光とし、前記光路移動光学系に入射させる 光路偏向部材
とを有し、 前記照明光の主光線は、前記コレクタレンズの中心、前記コリメータレンズの中心、 前記リレー光学系の光軸を通って、前記光路移動光学系に入射するようにされてい ることを特徴とする顕微鏡装置。
[5] 請求項 2に記載の顕微鏡装置であって、
前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、 前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメ一タレ ンズと、
前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光 学系の光軸と平行に前記試料面方向に進む光とし、前記照射光学系に入射させる 光路偏向部材
とを有し、
前記光源からの照明光は、前記光路移動光学系を透過した後、前記コレクタレンズ に入射し、前記光路偏向部材により反射された後、前記照射光学系に入射するよう にされて!/、ることを特徴とする顕微鏡装置。
[6] 請求項 2に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回 転可能とされると共に、前記光路移動光学系も光軸を中心として回転可能とされ、前 記空間変調素子の回転量と前記光路移動光学系を回転させたときにそれに伴って 回転する主光線の回転量とを同一にすることが可能とされていることを特徴とする顕 微鏡装置。
[7] 請求項 2に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回 転可能とされると共に、前記光路移動光学系に、光路を移動させる光学素子が複数 設けられ、複数の当該光学素子は、それぞれ光軸に垂直な異なった方向に光路を 移動させるものであり、前記空間変調素子の回転量に合わせて、切り替えて使用可 能とされて V、ることを特徴とする顕微鏡装置。
[8] 請求項 1に記載の顕微鏡装置であって、
前記対物光学系と前記リレー光学系を合わせた光学系の光軸と、光源力 前記試料 面に至る照明光学系の光軸が、少なくとも前記空間変調素子よりも光源側のある場 所から前記試料面まで同一とされており、 前記照明光学系の光軸から離れた位置に設けられた光源と、 前記光源から発散する照明光を略平行光束に変換するコレクタレンズと、 前記コレクタレンズを透過した前記照明光を集光して 2次光源を形成するコリメ一タレ ンズと、
前記コリメータレンズを透過した前記照明光を反射して、その主光線が前記リレー光 学系の光軸に平行に前記試料面方向に進む光とする光路偏向部材と、
前記光路偏向部材で反射された照明光を、前記空間変調素子に対して斜め入射す る略平行光束の照射光に変える照射光学系
とを有することを特徴とする顕微鏡装置。
前記照射光学系が、前記リレー光学系の一部であることを特徴とする請求項 8に記 載の顕微鏡装置。
請求項 8に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回 転可能とされると共に、前記光源も前記照明光学系の光軸を中心として回転可能とさ れ、両者の回転量を同一にすることが可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置
請求項 8に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子が光軸を中心として回 転可能とされると共に、前記光源が複数設けられ、複数の当該光源は、それぞれ光 軸に垂直な異なった方向に光路を移動させるものであり、前記空間変調素子の回転 量に合わせて、切り替えて使用可能とされていることを特徴とする顕微鏡装置。
請求項 1に記載の顕微鏡装置であって、前記空間変調素子と前記対物光学系によ つて前記試料面上に形成される干渉縞の位相を変化させることが可能とされており、 前記撮像手段の撮像時間は、前記位相が整数周期変化する時間とほぼ等しくされ て!/、ることを特徴とする顕微鏡装置。
請求項 6に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて 試料の撮像を複数回行レ、、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリ ェ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して 2次元平面上 で、 MTFを考慮したデコンボリューシヨン処理を行って合成した後、逆フーリエ変換 により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。 [14] 請求項 7項に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変え て試料の撮像を複数回行レ、、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフー リエ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して 2次元平面 上で、 MTFを考慮したデコンボリューシヨン処理を行って合成した後、逆フーリエ変 換により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
[15] 請求項 10に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて 試料の撮像を複数回行レ、、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリ ェ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して 2次元平面上 で、 MTFを考慮したデコンボリューシヨン処理を行って合成した後、逆フーリエ変換 により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
[16] 請求項 11に記載の顕微鏡装置を使用して、前記空間変調素子の回転量を変えて 試料の撮像を複数回行レ、、得られた複数枚の画像データをフーリエ変換してフーリ ェ変換データ画像を取得し、これらのフーリエ変換画像データに対して 2次元平面上 で、 MTFを考慮したデコンボリューシヨン処理を行って合成した後、逆フーリエ変換 により、画像データを得ることを特徴とする画像処理方法。
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