TW201243692A - Touch panel control circuit and touch panel input device using same, as well as electronic instrument - Google Patents

Description

201243692 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種電阻臈方式觸控面板，尤其是關於一 種檢測複數點同時接觸（多點觸控）之技術。 【先前技術】 近年來之電腦或行動電話終端、PDA(pers〇nai Digital Assistant:個人數位助理）等之電子機器，以具備用以藉由 用手指接觸操作電子機器之輸入裝置者為主流。作為如此 之輸入裝置，已知有電阻膜式之觸控面板（觸控感測器）等 (專利文獻1)。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1 ]日本特開2009-48233號公報 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 近年來，雖要求支援多點觸控之觸控面板，但其僅在靜 電感測器型之觸控面板中實現，電阻膜方式之觸控面板中 尚未實現。其原因在於電阻膜方式之觸控面板中，根據自 面板輸出之電壓決定使用者觸碰之位置（座標）時，無法區 分觸碰2點之情形（多點㈣）之自板之輸出電壓與觸碰以 之情形（單點觸控）之面板之輸出電壓。 專利文獻1中，雖揭示可進行多點觸控之檢測之觸㈣ 板輸入裝置，但其乃將多點觸控作為誤輸入處理，而非積 極地將多點觸控作為有效輸入進行處理，因此未揭示確定 162254.doc 201243692 多點觸控下之複數點之座標之技術。 本發明係鑒於上述相關問題而完成者，其某種形態之示 例之目的之一在於提供一種可支援多點觸控之觸控面板之 控制技術 [解決問題之技術手段] 本發明之一形態係關於觸控面板之控制電路。觸控面板 包含：第1、第2、第3端子；一邊與第丨端子連接、與該一 邊對向之邊與第2端子連接之第丨電阻膜；及與第〖電阻膜 隔開間隙配置、其一邊與第3端子連接之第2電阻膜。控制 電路具備：電麼生成部’其係將特定之第！、第2偏壓電壓 分別施加於第i、第2端子；電壓檢測部，其係檢測第3端 中產生之面板電壓，電流檢測部，其係檢測於包含第1 端T、第1電阻膜、第2料之路徑中流動之面板電流；及 座‘躬疋。卩，其係根據面板電壓及面板電流之值，判定使 用者所接觸之座標。電壓生成部包含設置於包含第㈣ 子、第1電阻膜、第2端子之路徑之第丨端子側之延伸上之 ，出電晶體，且包含將第i偏壓電壓施加於第i端子之穩壓 盗°電流檢測部包含：檢測電晶體，其係以形成輸出電晶 及電机鏡電路之方式而連接；檢測電阻，其係設置於該 測電晶體之路徑上；及放大電路’其係放大檢測電阻之 ?下降與特定之電壓之差分’並作為表示面板電流之值 加以輸出。 子若制者觸碰觸控面板之複數點，則自第！端子至第2端 之路控之合成電阻值減小，與其相對應之面板電流變 162254.doc 201243692 化。根據該形態，藉由監控面板電流，可適宜地檢測多點 觸控，進而可決定複數點之座標。又，由於用以檢測面板 電机之檢測電阻並非設置於包含第1端子、第1電阻膜、第 而子之路控，而是設置於與其不同之路徑，故不會對面 板電壓產生影響，而可檢測面板電流。又，藉由使特定之 電壓最佳化，放大電路之輸出電壓成為和與觸控面板之接 觸相對應之面板電流之變化量成正比之值。而在觸控面板 之第1電阻膜與第2電阻膜之接觸電阻較大之情形下，仍可 檢測多點觸控。 f發月之其他之形態亦為控制電路^該控制電路具備： 電壓生成部，其係在第1狀態下將特定之第1、第2偏壓電 壓分別施加於第卜第2端子，而將第3、第4端子設為高阻 抗狀態，在第2狀態下將特定之第1、第2㈣分別施 加於第3、第4端子’而將第i、第2端子設為高阻抗狀態； 電壓檢測部，其係在第！狀態下檢測第3、第4端子之一方 中產生之面板電塵’在第2狀態下檢測第】、第2端子之一 方中產生之面板電塵；電流檢測部，其係在第以態下檢 測在包含第1端子、第1電阻膜、第2端子之路徑中流動之 面板電流，在第2狀態下檢測在包含第3端子、第2電阻 膜、第4端子之路徑中流動之面板電流；及座標判定部’ 其係根據面板㈣及面板電流之值，心❹者所㈣之 =電屡生成部包含··制器’其包含輪出電晶體，且 第1偏壓電廢；及選擇器，其係於其輪入端子接受第i 偏壓電塵’且於該第1輸出端子連接^端子，於該第2輸 162254.doc 201243692 出端子連接第3端？，且在^狀態下於第！輸出端子側導 ^在第2狀態下於第2輸出端子側導通。電流檢測部包 含：檢;則電晶冑，其係以形成輸出電晶體及電流鏡電路之 方式而連接，檢測電阻，其係設置於該檢測電晶體之路徑 上，及放大電路，其係放大檢測電阻之電壓下降與特定之 電壓之差刀，並作為表示面板電流之值加以輸出。 根據該形態，可針對X方向與¥方向之兩方決定多點觸 控及複數點之座標。又，由㈣以檢測面板電流之檢測電 阻未直接連接於觸控面板，故不會對面板電歸來影響， 而可檢測面板電流。又’藉由使料之電麼最佳化，放大 電路之輸出電壓成為和與觸控面板之接觸相對應之面板電 /”L之變化1成正比之值。而在觸控面板之第1電阻膜與第2 電阻膜之接觸電阻較大之情形下，仍可檢測多點觸控。 進而本發明t其他之形態亦為控制電該控制電路具 備：電壓生成部，其係在第丨狀態下將特定之第丨、第2偏 壓電壓分別施加於^、第2端子，而將第3、第4端子設為 兩阻抗狀態m狀態下將特定之第i、第2偏壓電壓分 別施加於第3、第4端子，而將第！、帛2端子設為高阻抗狀 態；電壓檢測部’其係在糾狀態下個別檢測第3、第4端 子各者中產生之面板電壓，在第2狀態下個別檢測約、第 2端子各者中產生之面板電壓；電流檢測部，其係在第淡 態下檢測在包含第1端子、第〖電阻膜、第2端子之路徑中 流動之面板電流’在第2狀態下檢測在包含第3端子、第2 電阻膜、第4端子之路徑中流動之面板電流；及座標判定 162254.doc 201243692 部，其係根據面板電壓及面板電流之值，判定使用者所接 觸之座標》電壓生成部包含：穩壓器，其包含輪出電晶 體，且生成第1偏壓電壓；及選擇器，其係於其輸入端子 接跫第1偏壓電壓，於該第丨輸出端子連接第丨端子，於該 第2輸出端子連接第3端子，且在第】狀態下於第〖輸出端子 侧導通，在帛2狀態下於第2輸出端子側導通。冑流檢測部 包含=檢測電晶體’其係以形成輸出電晶體及電流鏡電路 之方式而連接：檢測電阻，其係設置於該檢測電晶體之路 位上，及放大電路，其係放大檢測電阻之電壓下降與特定 之電壓之差分’並作為表示面板電流之值加以輸出。 放大電路可包含：接受檢測電阻之電壓下降之緩衝器； 運算放大器’第1電阻，其係設置於緩衝器之輸出與運算 放大器之第1輸人端子之間；第2電阻，其係設置料算放 大器之第1輸入端子與固定電壓端子之間；第3電阻，其係 其端接受特定之番两· jj. _ 之電壓，其另一端與運算放大器之第2 輸入端子連接；及第4 φ 弟電阻，其係設置於運算放大器之第2 輸入端子與運算放大器之輸出端子之間。

電壓檢測部可包含杻A G 3接又面板電壓之緩衝器，及取樣保持 緩衝器之輸出雷廢#收， 姿並將經取樣保持之值轉換為數位值之 A/D轉換器。 未設置緩衝5| $ g , °月形’ A/D轉換器之輸入段之電容器 經由面板之接觸電阻充 兄電’且右面板之接觸電阻較大則 樣保持所需要之時間變 — k長對此，錯由設置輸出阻抗較 之緩衝器，則無論面板 败之接觸電阻如何，皆可縮短取樣 162254.doc 201243692 持時間= 電流檢測部構成為在第1狀態與第2狀態下，可切換輸出 電晶體與檢測電晶體之電流鏡比。 電流檢測部構成為在第1狀態與第2狀態下，可切換檢測 電阻之電阻值。 假定觸控面板之縱向長度與橫向長度（即縱橫比）大不相 同之情形，縱向之合成電阻與橫向之合成電阻不同，面板 電流之範圍在X方向與γ方向上不同之情形。該情形下， 藉由切換電流鏡比或檢測電阻之值，可使檢測電阻之電壓 下降之範圍一致。 座標判定部在面板電流之值大於特定之值時，可判定使 用者接觸複數之點。 使用者接觸於2點時，亦可根據面板電流之值決定2點之 座標間隔。亦可判定面板電流越大、2點之座標間隔越 大。 當使用者接觸2點時’由於其2點之間並聯連接有第1電 阻膜與第2電阻膜，故自第1至第2端子之路徑之合成電阻 降低’因此面板電流增大。由於2點之距離離得越遠，則 第1電阻膜與第2電阻膜並聯連接之距離變得越長，故合成 電阻變小，面板電流變大》因此’可根據面板電流決定2 點之座標間隔。 可根據使用者未接觸面板時所測定之面板電流與接觸時 之面板電流之差分，決定2點之座標間隔。 座標判定部可藉由根據面板電壓而決定2點之中心座 162254.doc 201243692 標，並對該中心座標加上與2點之座標間隔相對應之值， 而決定2點之一方之座標，且藉由自中心座標減去與2點之 座標間隔相對應之值，而決定2點之另一方之座標。 進而本發明之其他之形態為觸控面板輸入裝置。該輸入 裝置具備觸控面板、及控制觸控面板之上述任一之控制電 路。 進而本發明之其他之形態為電子機器。該電子機器具備 上述之觸控面板輸入裝置。 另，任意組合以上之構成要素者、或在方法裝置等之 間變換本發明之表現者，亦作為本發明之形態而有效。 根據本發明之—形態，即使對於接觸電阻較大之觸控面 板，仍可正確檢測多點觸控輸入。 【實施方式】 土於適且之實施形態一邊參照圖面一邊說明本 明。對各圖面中所示之同—或同等之構成要素、構件、 理附加同一之符號，適當省略重複之說明。又，實施形 並非限定發明而為示例’實施形態中記述之全部之特徵 其組合未必為發明之本質。 本說明書中，所謂「構件A與構件B連接之狀態」， 了構件A與構件b物理地直接連接之情形之外，亦包含 ’、構件B在不會對該等電性連接狀態帶來實質之 :二損害由該等之結合所發揮之功能 構件間接連接之情形。 同樣地，所謂「構件c設置於構件A與構件B之間之 162254.doc 201243692 態」’除了構件A與構件C或構件B與構件C直接連接之情 形之外，亦包含在不會對該等電性連接狀態帶來實質之影 響、或損害由該等之結合所發揮之功能或效果下經由其他 構件間接連接之情形。 圖1係顯示具備實施形態之觸控面板輸入裝置（簡稱為輸 入裝置）2之電子機器1之構成之方塊圖。輸入裝置2配置於 例如LCD(Liquid Crystal Display:液晶顯示器）8之表層， 作為觸控面板發揮功能。輸入裝置2判定使用者用手指或 筆等（以下稱作手指6)觸碰之點（p〇int)之X座標及Y座標。 輸入裝置2具備觸控面板4、控制電路1〇〇。觸控面板4為 4線性（4端子）之電阻膜方式觸控面板。由於觸控面板4之構 成為一般者，故在此簡單進行說明。 觸控面板4具備第1端子Plx〜第4端子P2y、第1電阻膜 RF1、第2電阻膜rF2。 第1電阻膜RF1及第2電阻膜rF2在相對於X軸及γ轴垂直

之2轴方向上隔開間隙而重疊配置。與第1電阻膜RF1之X 軸垂直之一邊E1與第1端子Plx連接，與邊E1對向之邊E2 與第2端子P2X連接。第3端子Ply和與第2電阻膜RF2之X轴 平订之一邊E3連接，第4端子p2y和與第2電阻膜RF2之邊 E3對向之一邊E4連接。 以上為觸控面板4之構成。 控制電路100一面分時切換接檢測X方向之座標之第1狀 態Φχ與檢測Y方向之座標之第2狀態衫’ —φ判定使用者所 接觸之點之位置。 162254.doc 201243692 控制電路100具備第1端子Pclx〜第4端子Pc2y、電壓生成 部1 0、電壓檢測部20、電流檢測部30、運算部40。 第1端子Pclx〜第4端子Pc2y分別與觸控面板4側之對應之 第1端子Plx〜第4端子P2y相連接。 首先，說明用以檢測X方向之座標（X座標）之構成。 電壓生成部10在第1狀態φχ下，分別將特定之第1偏壓電 壓Vbl、第2偏壓電壓Vb2施加於第1端子Ρίχ、第2端子 P2x ^在此Vbl>Vb2 »較好為第2偏壓電壓Vb2為接地電壓 (0 V) 〇又，在第1狀態下，電壓生成部10將第3端子Ply、 第4端子P2y設為高阻抗狀態。 電壓檢測部20在第1狀態φχ下檢測第3端子Ply中產生之 面板電壓VPx。電壓檢測部20包含A/D轉換器24，將經檢 測之面板電壓轉換為數位信號VPx·。 電流檢測部30在第1狀態φχ下檢測包含第1端子plx、第1 電阻膜RF1、第2端子P2x之路徑中流動之面板電流ιρχ。電 流檢測部3 0包含將面板電流IPx轉換為電壓信號之ι/ν轉換 部32，及將該電壓信號轉換為數位信號VPx·之A/D轉換器 34。 運算部（座標判定部）40根據面板電壓VPx，及面板電流 IPx’之值，判定使用者所接觸之點PU之X座標。 接下來說明用以檢測Y方向之座標（Y座標）之構成。 電壓生成部10在第2狀態<|>y下，分別將特定之第1偏壓電 壓Vbl、第2偏壓電壓Vb2施加於第3端子Ply、第4端子 P2y。又’在第2狀態(J>y下，電壓生成部1〇將第i端子ρΐχ、 162254.doc -12· 201243692 第2端子P2x設為高阻抗狀態。分別在第1狀態及第2狀態下 之第1偏壓電壓Vbl可為相同之值，亦可為不同。以下，說 明相同值之情形。第2偏壓電壓Vb2亦同。 電壓檢測部20在第2狀態φγ下檢測第1端子Ρίχ中產生之 面板電壓VPy。A/D轉換器24將檢測出之面板電壓VPy轉換 為數位信號VPy1。於電壓檢測部20中設置有2輸入之選擇 器22，第1輸入（〇)與第3端子Ply連接，第2輸入（1)與第1端 子Plx連接。選擇器22在第1狀態φχ下於第1輸入（〇)側導 通，在第2狀態φχ下於第2輸入（1)側導通。 另’電壓檢測部20亦可在第1狀態φχ下，替代第3端子 Ply或加諸於其’將第4端子P2y中產生之電壓作為面板電 壓VPx進行測定。同樣的，電壓檢測部2〇亦可在第2狀態ψγ 下’替代第1端子Plx或加諸於其，將第2端子Ρ2χ中產生之 電壓作為面板電壓VPy進行測定。 電流檢測部3 0在第2狀態(J>y下檢測於包含第3端子p 1 y、 第2電阻膜RF2、第4端子P2y之路徑中流動之面板電流 IPy。I/V轉換部32將面板電流IPy轉換為電壓信號，由a/D 轉換器34轉換為數位值IPy’。 運真部（座標判定部）40根據面板電壓VPy'及面板電流 IP〆之值’判定使用者所接觸之點PU之Y座標。 即’第3端子Ply在第1狀態φχ下，作為用以檢測面板電 壓VPX之端子發揮功能’且在第2狀態(jjy下，作為用以將偏 壓電壓Vb2施加於第2電阻膜RF2之端子發揮功能。同樣 的’第1端子P 1 X在第2狀態(f)y下’作為用以檢測面板電壓 162254.doc •13- 201243692 VPy之端子發揮功能，且在第1狀態帖下，作為用以將偏壓 電壓Vbl施加於第1電阻膜RF1之端子發揮功能。另，亦可 代替第3端子Ply而將第4端子P2y作為用以檢測面板電壓 VPx之端子’或亦可代替第1端子ρΐχ而將第2端子ρ2χ作為 用以檢測面板電壓VPy之端子。 以上為控制電路1 〇〇之整體構成。接著，說明控制電路 1 〇〇之座標檢測之原理。在此，就第！狀態φχ下檢測X座標 時之原理進行說明，關於γ座標亦同。 圖2(a)、（b)分別顯示單點觸控狀態及多點觸控狀態之等 價電路圖》另，等價電路中所示之各電阻，實際上係作為 分佈常數而產生者，此處為使說明簡潔而作為個別之電阻 元件進行顯示。 (單點觸控狀態） 參照圖2(a) »若使用者在丨點pu上接觸，則第丨電阻膜 RF 1被分割成第i端子p丨χ與點pu間之電阻R1 i、及點卩。與 第2端子P2x間之電阻尺丨2。第！電阻膜RF1與第2電阻膜rf2 在點PU上接觸，其接觸電阻為Rc。自第2電阻膜RF2之點 PU至第3端子Ply之路徑之電阻為R2。 由於點PU之電位係以電阻rl、R12將偏壓電壓Vbi與

Vb2分壓者，故顯示點pUiX座標。pu之電位大致與第3 端子Piy之電壓相等。即，第3端子piy中產生之面板電壓 VPx表示點pu之X座標。 自面板電壓VPX導出X座標之演算法，只要利用眾所周 知之技術即可，在本發明中並未特別限制。 I62254.doc •14· 201243692 由於自第3端子Ply觀察控制電路100側之阻抗非常高， 故面板電流IPx流經第1端子Plx、電阻Rh、Rl2、第2端子 P2x之路徑。即第1端子Ρίχ與第2端子Ρ2χ之間之阻抗&以 下式給出： , Zs=Rl j+R12 * . 認定無論接觸點PU之位置為何皆為固定值，且與使用者未 接觸時之阻抗Zo亦為大致相同之值：

Zs = Zo。 以下，不特別區分非接觸狀態與單點觸控狀態之阻抗， 皆稱為基準阻抗Z 〇。 在單點觸控或非接觸狀態下，自第1端子Plx流向第2端 子P2x之面板電流ιρχ以下式給出： IPxo=(Vbl-Vb2)/Zo。 將該面板電流IPX0稱為基準面板電流。 (多點觸控狀態） 參照圖2(b)。若使用者在2點PU1、PU2接觸，則第1電阻 膜RF1被分割成第i端子Plx與點PU1間之電阻Rli、點pm 與點PU2間之電阻Ri2、及點PU2與第2端子P2x間之電阻 ' R13。第1電阻膜RF1與第2電阻膜RF2在點PU1、PU2上接 - 觸，各自之接觸電阻為RCl、Rc2。 於第2電阻膜RF2上，點PU1與點PU2間之電阻為R2】，自 點PU1至第3端子Ply之路徑之電阻為R22，自點PU2至第3 端子Ply之路徑之電阻為R23。 多點觸控狀態下之面板電流IPX係由第！端子Ρ1χ與第2端 162254.doc 201243692 子P2x間之合成阻抗Zm而決定。該合成阻抗Zm與非接觸狀 態或單點觸控狀態之阻抗Zo成立下式：

Zm<Zo 〇 因此’多點觸控狀態之面板電流IPxm與基準面板電流 ΙΡχο之間成立如下之關係： IPxm>IPxo。 即，藉由監控面板電流IPx並與基準面板電流IPxo相 比，可區分多點觸控狀態與單點觸控狀態（非接觸狀態）。 點PU1、PU2之電位由於係以電阻R1丨、Rl2、及其他 之電阻成份將偏壓電壓Vbl與Vb2分壓者，故與點pui、 PU2各自之X座標有相互關係β且，由於第3端子Ply中產 生之面板電壓VPx亦與2點PU1、PU2有相互關係，故若已 知為多點觸控狀態，則可根據面板電壓Vpx，推定點 PU1、PU2之座標。 進一步而言，根據面板電壓VPx，藉由與單點觸控狀態 同樣之演算法決定之1個X座標χ3，表示使用者所接觸之 點pui、PU2之間之任一點之座標。即將點PU1、pU2之本 徵X座標寫作XI、X2時，下式成立： X1<X2<X3 〇 亦即，只要使用根據面板電壓VPx而導出之座標χ3，即 可推定點PUI、PU2之座標。有關推定演算法將於後述。 如此’根據實施形態之控制電路100，除了面板電壓 VPx外並監控面板電流ΙΡχ，且將其進行組合並處理則不 僅是單點觸控亦可決定多點觸控狀態之使用者之接觸點之 162254.doc -16· 201243692 座標》 接著，就運算部40之具體之構成例及處理進行說明。 運算部40具備多點觸控判定部42、距離運算部料、表格 46、座標生成部48。 圖3係圖丨之控制電路丨00之處理之流程圖。圖3之流程顯 不判& X座標之第1狀態φχ。另’各步驟在不對處理造成阻 礙之範圍内可調換，或可同時並行處理若干步驟。 首先，利用電壓生成部10將偏壓電壓Vbl ' Vb2施加於 第1端子Plx、第2端子P2x(Sl00)。在該狀態下電壓檢測部 2〇測定面板電壓VPx(S102)，電流檢測部3〇測定面板電流 IPx(S104)。 運算部40接受與如此得到之面板電壓VPx、面板電流ΙΡχ 相對應之數位值VPx’、ΙΡχ'。 接著，判定使用者之觸碰之有無（S1〇6)。使用者若接觸 X座標較小之點（邊E1附近）則面板電壓VPx變高，若接觸χ 座標較大之點（邊Ε2附近）則面板電壓vpx變低。在非接觸 狀態下，由於第3端子Ply未被施加電壓，故面板電壓νρχ 為0 V左右。 對此座標生成部48藉由將面板電壓νΡχ與特定之臨界值 電壓Vth相比而判定觸碰之有無。臨界值電壓Vth設定為〇 V左右之值。 VPx>Vth時（S106之Y)，判定為接觸狀態。接著藉由多 點觸控判定部42判定多點觸控之有無（S11〇) ^如上所述藉 由將面板電流ΙΡχ與特定之基準電流IPx〇相比而判定多點 162254.doc •17- 201243692 觸控之有無。 多點觸控判定部42在ΙΡχ<ΙΡχο時（S110之N)，判定為單 點觸控，且將其判定結果向座標生成部48通知。座標生成 部48根據面板電壓νΡχ而決定X座標（S118) » 多點觸控判定部42在IPx>IPx〇時（S110之Y)，判定為多 點觸控，且將其判定結果向距離運算部44及座標生成部48 通知。 若判定為多點觸控，則距離運算部44決定2點PU1、PU2 之距離ΔΧ(8112) » 本發明者認知到2點PU1與PU2之距離ΔΧ與面板電流ΙΡχ 間存在相互關係。即，2點間之距離ΔΧ為零時，由於與單 點觸控相同，故面板電流IPx與基準電流ΙΡχο大致相同。 圖4(a)、（b)係顯示多點觸控狀態之面板電流與點之關係 之圖。 由於隨著2點間之距離Δχ變大，電阻r丨2與r2丨並聯連接 之距離變長，故第1端子Plx與第2端子Ρ2χ間之合成阻抗

Zm降低’且隨之面板電流ΙΡχ變大。2點間之距離Αχ達到 面板之Χ軸向之長度Lx時’面板電流ΙΡχ成為最小值 IPxmin 〇 即’面板電流ΙΡχ與2點之距離^又為丨對1對應。換言之， 面板電流ΙΡχ與基準電流IPxo之差分（ΙΡχ_ΙΡχ〇)與距離Δχ為 1對1對應。圖4(a)係顯示差分電流（ΙΡχ_ΙΡχ〇)與距離Δχ之 關係之圖。 圖4(a)中所示之特性，可針對每個觸控面板4預先測定， 162254.doc 10 201243692 或亦可根據模擬導出。表格、 衣裕46儲存差分電流（IPx-IPxo)與 距離ΔΧ之關係。 ' 距離運算部44藉由根據面板電流Ιρχ並參照表格46，決 定對應之距離ΔΧ，且向座標生成部48輸出。另，可代替 ， 表格46 ’預先儲存圖4⑷之特性之近似式，而根據運算算 出距離ΑΧ。 座軚生成部48接受表示距離Δχ之資料與面板電壓νρχ。 座標生成部48以與單點觸控同樣之演算法或與其不同之演 算法，算出與面板電壓VPx相對應之Χ座標χ3。且，將該 X座標Χ3作為2點之中心座標（s 114)。 座標生成部48藉由對中心座標χ3加上與2點之座標間隔 △X相對應之值（此處為一半）Δχ/2，決定2點之一方之座標 PU2 ’且藉由自中心座標χ3減去與2點之座標間隔Αχ相對 應之值ΔΧ/2，決定2點之另一方之座標pui(Sl 16)。圖4(b) 顯示該處理。其後，回到步驟S 1 〇〇。 右再次參照步驟S106，當VPx<Vth時（S106之N)，座標 生成部48判定為非接觸狀態。接著在步驟S104中，多點觸 控判定部42使用經測定之面板電流ΙΡχ更新基準電流IPX0 • (S108)。其後，回到步驟S100。 以上為控制電路1 〇〇之具體之處理流程。 根據輸入裝置2，可適宜判別單點觸控、多點觸控，且 可生成各自之狀態之點之座標。再者實施狀態之輸入裝置 2具有以下之優點。 於步驟S108中，藉由更新基準面板電流IPx〇 ’可減小觸 162254.doc •19· 201243692 控面板4之老化劣化或溫度變動之影響。即，若第1電阻膜 RF1、第2電阻膜RF2及該等之接觸電阻之值相應於劣化或 溫度變動而變化’則基準電流IPxo將與其相應而變化。因 此若固定使用基準電流ΙΡχο ’將成為多點觸控之誤檢測之 原因，或於2點間之距離ΔΧ產生誤差。相對於此，在處理 之中途，藉由更新基準電流ΙΡχο ’可適宜解決如此之問 題。 又，在多點觸控狀態下’決定2點間之距離Αχ時，使用 分電流（ΙΡχ-ΙΡχο)有以下之優點。如上所述，由於面板之 阻抗會隨著時間或隨著溫度變動而變化，故觸碰相同座標 時之面板電流ΙΡχ之值亦發生變化。因此，若算出差分電 々IL ’可減小老化劣化或溫度變動之影響，從而可進行正確 之座標檢測。 圖5係顯示圖1之電流檢測部3 〇之構成例之電路圖。電流 檢測部30包含檢測電阻RSX、Rsy、旁路開關swix、sWly 及選擇器3 6、A/D轉換益3 4。檢測電阻rsx、RSy與圖1之 I/V轉換部32相對應》 檢測電阻Rsx、旁路開關SWlx用於X軸向之座標檢測， 檢測電阻Rsxy '旁路開關SWly用於Y軸向之座標檢測。χ 軸與Y軸由於為同樣之構成’故此處就X軸向進行說明。 檢測電阻Rsx設置於包含第1端子Plx '第1電阻膜RF1、 第2端子Ρ2χ之路徑之延伸上。具體而言，檢測電阻Rsx之 一端接地且電位固定，另一端連接於第2端子pc2x。 旁路開關SWlx與對應之檢測電阻Rsx並聯設置。具體而 I62254.doc -20· 201243692 5，旁路開關SWlx之一端接地，其另一端與第2端子pc2x 相連接。 利用電壓檢測部20檢測面板電壓VPx時，導通旁路開關 SWx〇此時，由於檢測電阻仏不會對觸控面板4之合成阻 抗造成影響，故可測定正確之面板電壓Vpx。 利用電流檢測部30檢測面板電流ιρχ時，斷開旁路開關 SWx^如此，檢測電阻Rsx中，產生與面板電流ιρχ成正比 之電壓下降（RsxxIPx)。選擇器36在檢測X轴向之座標時， 於端子（0)側導通，在檢測γ轴向之座標時，於端子（1)側導 通。利用A/D轉換器34將檢測電阻Rsx之電壓下降轉換為數 位值。該數位值為與面板電流IPx相對應之值。 另’第2偏壓電壓Vb2為接地電壓時，可使旁路開關 SWlx作為電壓生成部10發揮功能。即，將第2偏壓電麼 Vb2施加於第2端子P2x時，只要導通旁路開關swu即可。 旁路開關SWly亦同。 圖6係顯示圖1之控制電路之一部分之另一構成例之電路 圖。 控制電路l〇〇a之電壓生成部i〇a具備穩壓器丨丨、第1選擇 器SEL1、第2選擇器SEL2。 穩壓器11及第1選擇器SEL1生成第1偏壓電壓vbl，且在 第1狀態φχ下施加於第1端子P1X，在第2狀態下施加於第 3端子Ply。 穩壓器11生成與基準電壓Vref相對應之第i偏壓電壓 Vbl。由於穩壓器11為包含運算放大器12、輸出電晶體 162254.doc .21- 201243692 14、第1電阻Rl、第2電阻R2之一般之線性穩壓器，故省 略其構成及動作之說明。第1偏壓電壓Vbl以下式給出：

Vbl=Vrefx(Rl+R2)/R2。 在第1狀態φχ與第2狀態下，可切換基準電壓Vref之 值。 第1選擇器SEL1在其輸入端子中接受第“扁壓電壓Vbl ^ 於第1選擇器SEL1之第1輸入端子（0)連接第！端子Pclx，於 其第2輸入端子（1)連接第3端子Pcly。第1選擇器SEL1在第 1狀態φχ下於第1輸入端子（0)側導通，在第2狀態下於第 2輸入端子（1)側導通。例如第1選擇器SEL1包含互補地導 通、斷開之開關SWal、SWa2。 第2選擇器SEL2係用以將第2偏壓電壓Vb2賦予觸控面板 4而設置。第2偏壓電壓Vb2為接地電壓，第2選擇器SEL2 包含互補地導通 '斷開之開關SWbl、SWb2。在第1狀態 φχ下導通開關SWbl，在第2狀態下導通開關Swb2。 電流檢測部3 0a包含檢測電晶體3 8、檢測電阻Rs、A/D轉 換器34。檢測電晶體38係以形成穩壓器1丨之輸出電晶體14 與電流鏡電路之方式而連接。於檢測電晶體3 8中，流動有 流經輸出電晶體14之電流、即與面板電流成正比之檢測電 流Is。將電流鏡電路之電流鏡比寫作K1時，下式成立： Is=Kl xlp。 檢測電阻Rs設置於檢測電晶體Rs之路徑上。檢測電晶體 RS中產生與檢測電流Is成正比之電壓下降Vs，其與面板電 流IP成正比。 162254.doc -22· 201243692

Vs=RsxIs= RsxKlxIP A/D轉換器34將檢測電阻Rs _產生之電壓下降Vs轉換為數 位值，並作為表示面板電流IP之信號IPX'、IPy，輸出。 圖6之控制電路100a與利用圖5之電流檢測部30之控制電 路相比具有以下之優點。 圖6之控制電路100a中’由於用以將面板電流IP轉換為 電壓之檢測電阻Rs未直接連接於觸控面板4，故不會對面 板電壓VP帶來影響，而可檢測面板電流ip。 另一方面’利用圖5之電流檢測部3 0之情形，有必要切 換導通旁路開關SWlx(或SWly)測定面板電壓vpx(或vPy) 之狀態與導通旁路開關SWlx(或SWly)測定面板電流 IPx(或IPy)之狀態’且存在座標檢測需要大量時間之情 开》。又’由於在對應之面板電壓VPx與面板電流ιρχ(或vpy 與IPy)互不相同之時序進行測定’故座標之測定精度惡 化。 相對於此’圖6之控制電路i〇〇a由於可同時並行測定面 板電壓與面板電流，故可使處理高速化，適用於要求高速 化之應用。又由於可同時取得為確定座標所必要之2個參 數即電壓與電流，故可高精度地確定座標。 又’在1點接觸時之面板電流與在2點接觸時之面板電流 之差分ΔΙ存在因面板而非常小之情形。該情形，圖5之控 制電路100中在檢測電阻Rs中產生之電壓下降之變化Δν , 例如當電流差為ΔΙ=2〇〇 μΑ、檢測電阻Rs為200 Ω時，僅為 △V=40 mV。這意味著作為A/D轉換器34需要高解析度，且 162254.doc -23· 201243692 成為没計困難或成本提高之主要原因。 相對於此，圖6之控制電路10〇3中，藉由使電流鏡比K1 最佳化’可充分確保檢測電阻Rs之電壓下降Vs之變化量 △ V ’且可降低A/D轉換器34所被要求之精度。 電流檢測部30a在第1狀態φχ與第2狀態〇下，亦可切換 輸出電晶體14與檢測電晶體38之電流鏡比K1。亦可將檢測 電阻Rs作為可變電阻，替代電流鏡比之切換或除此之外， 由電流檢測部30a在第1狀態φχ與第2狀態柃下切換檢測電 阻Rs之電阻值。 假疋觸控面板4之縱向長度與橫向長度（即縱橫比）大不 相同之情形’縱向之合成電阻與橫向之合成電阻不同，X 方向之面板電流IPX之範圍與γ方向之面板電流IPy之範圍 不同之情形。在該情形下’藉由在第i狀態φχ與第2狀態岵 下切換電流鏡比Κ1或檢測電阻RS之值，可使檢測電阻Rs 之電壓下降Vs之電壓範圍一致，且可利用共同之a/d轉換 器3 4高精度地進行處理。 圖6之輸出電晶體14及檢測電晶體38形成電流鏡電路， 但亦可將此作為疊接式之電流鏡電路。該情形，可提高複 製電流之精度，即電流鏡比之精度》 圖7係顯示圖1之控制電路之變形例之電路圖。圖7之控 制電路100b對面板電壓VP之處理與圖1之控制電路不同。 即圖1之電壓檢測部20在第1狀態φχ下檢測第3端子Ply中產 生之面板電壓VPx，在第2狀態<|)y下檢測第1端子ριχ中產 生之面板電壓VPy。相對於此圖7之電壓檢測部20b在第1狀 162254.doc _24· 201243692 態下’個別檢測分別於第3端子Ply、第4端子P2y中產生 之面板電壓VPX_J、VPx_2，在第2狀態纺下，個別檢測分 別於第1端子Plx、第2端子Ρ2χ中產生之面板電壓Vpy_i、 VPy_2 。 ， 電壓檢測部2〇b包含開關SW4〜SW7及A/D轉換器20開 ， 關SW4〜SW7與圖1之選擇器22相對應》 在第1狀態φχ下，首先導通開關SW4，其餘斷開。在該 狀態下測定第3端子Ply之面板電壓vpxj，接著，導通開 關S W5，其餘斷開。在該狀態下測定第4端子P2y之面板電 壓VPx_2。後段之運算部4〇(未圖示）根據2個面板電壓 VPx_l、VPx_2及面板電流ιρχ之值，判定使用者所接觸之 點PU之X座標。 同樣地在第2狀態下’首先導通開關SW6，其餘斷 開。在該狀態下測定第1端子ρ1χ之面板電壓VPyJ。接 著，導通開關SW7 ’其餘斷開。在該狀態下測定第2端子 P2x之面板電壓VPy一2。後段之運算部40(未圖示）根據2個 面板電壓VPy_l、VPy一2及面板電流IPy之值，判定使用者 所接觸之點PU之Y座標。 • 根據該變形例’可分別在第1狀態φχ、第2狀態(|)y下，測 • 定2端子之面板電壓並反映在X座標、Y座標之決定，且可 提高座標之檢測精度。 又’圖7之變形例之特徵亦可與圖6之控制電路組合。 作為控制電路100之控制對象之觸控面板4之特性各種各 樣。觸控面板4之第1電阻膜RF1與第2電阻膜RF2之接觸電 162254.doc -25- 201243692 阻與觸控面板4之種類相應而大幅變動。尤其廉價之觸控 面板4有接觸電阻變大之傾向，接觸電阻較小者為數百卩以 下’而相對的接觸電阻較大者則高達數1 〇 kQ。 圖8係顯示多點觸控狀態之2點間之距離Δχ與觸控面板4 中流動之檢測電流Ip之關係之圖。（I)顯示接觸電阻較小之 情形’（II)顯示接觸電阻較大之情形。如自圖（2)所明瞭 之’接觸電阻Rc!、RC2越小，在多點觸控下第2電阻膜尺以 之電阻成份有助於端子Plx與P2X之間之合成電阻之程度越 尚。因此’在接觸電阻較大之面板中，進行多點觸控時流 動之面板電流Ip變小。即，由於面板電流1?之變化相對於2 點間之距離ΔΧ之變化變小’故2點間之距離Δχ之檢測變得 困難。 以下’針對即使對於接觸電阻較大之觸控面板4亦可檢 測2點間之距離ΔΧ之控制電路進行說明。 圖9係貫現圖6之控制電路之變形例之電路圖。圖9之控 制電路100c除了圖6之構成以外，並具備放大電路5〇、開 關SW8及緩衝器60。 放大電路5 0設置於電流檢測部3 〇 c中。放大電路5 〇以增 益A放大檢測電阻Rs中產生之電壓下降（檢測電壓）vs與特 疋之偏移電壓V〇ps之差分’且作為表示面板電流Ip之電壓 值V_Ip加以輸出。 V_Ip=Ax(Vs-V〇FS) …⑴ 具體而言’放大電路50包含緩衝器52、運算放大器54、 第1電阻R11〜第4電阻R14、電壓源（D/A轉換器）56 ^電壓源 162254.doc • 26- 201243692 56形成與輸入之數位值相應之特定之電壓Va。缓衝器52為 接受檢測電阻Rs中產生之檢測電壓VS之電壓隨耦器。第1 電阻R11設置於緩衝器52之輸出與運算放大器54之第1輸入 端子之間。第2電阻R12設置於運算放大器54之第1輸入端 子與固定電壓端子（接地端子）之間。第3電阻R13在其一端 接受特定之電壓Va，其另一端與運算放大器54之第2輸入 端子相連接。第4電阻R14設置於運算放大器54之第2輸入 端子與運算放大器54之輸出端子之間。 於該放大電路50中，增益A及偏移電壓v0FS分別以下式 (2)、（3)給出： A=R12.(R13+R14)/(R13.(R11+R12)) …（2) V0FS= R14.(R1 l+R12)/(R12.(R13+R14))xVa …（3) 此處 R11=R13=R1、R12=R14=R2 時，下式（2a)、（3a)、 (4)成立： A=R2/R 1 ."(2a) V〇fs= Va ..· (3a) V_Ip=R2/Rlx(Vs-Va)…(4) 電流檢測部3 0 c具備設置於a / D轉換器2 4之前端之緩衝器 60。緩衝器60為經由選擇器22接受面板電壓vp之電壓隨耦 益。A/D轉換器24對緩衝器60之輸出電壓νχ進行取樣保 持，且將取樣保持之值轉換為數位值。於a/d轉換器Μ之 輸入段中，一般設置開關與電容器。 開關SW8設置於放大電路5〇之輸入與輸出之間。在開關 SW8之導通狀態下，繞過放大電路5〇。 162254.doc •27· 201243692 以上為控制電路100c之構成。接著就其校正動作之一例 進行說明。首先’根據觸控面板4之電阻值，換言之根據 面板電流IP ’使檢測電阻RS之電阻值最佳化。藉此，使檢 測電壓Vs之範圍最佳化。 又’使電壓Va即偏移電壓V0FS最佳化。在未接觸觸控面 板之狀態下觸控面板4中初始電流Iinit流動時，於檢測電阻 Rs中產生下式（5)之初始電壓Vinh :

Vinit=RsxKl xlinit …（5) 此時開關SW8導通，V一Ip=Vinit，利用A/D轉換器34測定 與初始電壓Vinit相對應之數位值，以成為va=Vinit2方式將 數位值賦予至電壓源56。 亦可代替導通開關S W8而設定Va==0。該情形，利用a/d 轉換器34測定式（6)之電壓值v_Ip。 V_Ip_R2/R 1 xVinit …（6) 自測定之電壓值V一Ip可算出初始電壓vinit，且以成為 Va=Vinit之方式將數位值賦予至電壓源56。 在貫際動作狀態下’使用者接觸觸控面板4時之檢測電 壓Vs為

Vs=(Iinit+AI)-Rs=Vinit+AV …⑺， 得出式（8): V_Ip=Ax(Vs-Va)=Ax(Vinit+AV-Vinit)=AxAV …（8) 即’ V_Ip成為與因使用者接觸觸控面板4而產生之電流 之變化量ΔΙ成正比之電壓。 接觸電阻越大，因使用者接觸而產生之電流變化量…越 I62254.doc -28- 201243692 小。該實施形態中’藉由利用放大電路5〇放大與電流變化 量ΔΙ相對應之電壓變化量Δν，則即使為接觸電阻較大之 觸控面板4，仍可更正確地檢測2點間之距離Αχ。 又在觸控面板4之接觸電阻較大之狀況下，未設置有緩 衝器60之情形’ A/D轉換器24之輸入段之電容器會經由觸 控面板4之電阻成份而充電。因此接觸電阻較大之情形， 充電速度變慢，取樣保持所需時間變長。若取樣保持時間 變長，則座標檢測之應答速度變慢。 相對於此，圖9之控制電路i〇〇c中，藉由設置輸出阻抗 較小之緩衝器60 ’可加快充電速度。藉此可縮短取樣保持 時間，進而可加快座標檢測之應答速度。 以上，已就本發明基於實施形態進行說明。該實施形態 為示例，本領域技術人員當理解該等之各構成要素或各處 理程序之組合可有各種各樣之變形例，且如此之變形例亦 在本發明之範圍中。以下，就如此之變形例進行說明。 在多點觸控狀態下，座標生成部48推定與面板電壓νρχ 相對應之座標Χ3為2點PU1、PU2之中點，而決定原本之座 標XI、Χ2，但本發明並不限定於此，亦可使用更複雜之 演算法。 在實施形態中’在第1狀態φχ與第2狀態下，雖採用共 有圖1之控制電路100之一部份之構成，但亦可完全個別設 置°再者’亦可將本發明應用於僅X方向、γ方向中僅任 一方。 在實施形態中’雖說明了控制4端子之觸控面板4之情 162254.doc •29· 201243692 形，但本發明並不限定於此，亦可應用於其他之觸控面板 4 〇 又在貫把形態中，作為多點觸控以2點為例進行說 月但本領域技術人員得將其擴展至3點以上，且其亦包 含於本發明中。 雖根據實施形態，使用具體之用語說明本發明，但實施 形態僅在於顯示本發明之原理、應用，於實施形態中，在 不偏離申請專利範圍中規定之本發明之思想之範圍内，得 進行大量之變形例或配置之變更。 [產業上之可利用性] 本發明可利用於電子器件之輸入裝置。 【圖式簡單說明】 圖1係顯不具備實施形態之觸控面板輸入裝置之電子機 器之構成之方塊圖。 圖2(a)、（b)係分別顯示單點觸控狀態與多點觸控狀態之 等價電路圖之圖。 圖3係圖1之控制電路之處理之流程圖。 圖4(a)、（b)係顯示多點觸控狀態之面板電流與點之關係 之圖。 圖5係顯不圖1之電流檢測部之構成例之電路圖。 圖6係顯示圖1之控制電路之其他之構成例之電路圖。 圖7係進一步顯示圖1之控制電路之其他之構成例之電路 圖。 圖8係顯不多點觸控狀態之2點間之距離與觸控面板中流 162254.doc 201243692 動之檢測電流之關係之圖。 圖9係實現圖6之控制電路之變形例之電路圖。 【主要元件符號說明】 1 電子機器 2 輸入裝置 4 觸控面板 6 手指 8 LCD 10 電壓生成部 11 穩壓器 12 運算放大器 14 輸出電晶體 20 電壓檢測部 22 選擇器 24 A/D轉換器 30 電流檢測部 32 I/V轉換部 34 A/D轉換器 38 檢測電晶體 40 運算部 42 多點觸控判定部 44 距離運算部 46 表格 48 座標生成部 162254.doc -31 - 201243692 50 放大電路 52 緩衝器 54 運算放大器 60 緩衝器 100 控制電路 El 邊1 E2 邊2 E3 邊3 E4 邊4 IPx 面板電流 IPx' 面板電流 IPy 面板電流 IPy' 面板電流 Plx 第1端子 Ply 第3端子 P2x 第2端子 P2y 第4端子 Pci 第1端子 Pc 1 x 第1端子 Pcly 第1端子 Pc2 第2端子 Pc2x 第2端子 Pc2y 第2端子 PU 點 162254.doc -32 201243692

12 1 R R R 阻阻阻 電電電 12 1 第第第 R12 第2電阻 R13 第3電阻 R14 第4電阻 RF1 第1電阻膜 RF2 第2電阻膜 Rs 檢測電阻 SEL1 第1選擇器 SEL2 第2選擇器 SW1 旁路開關 Vbl 偏壓電壓 Vb2 偏壓電壓 VPx 面板電壓 VPx' 面板電壓 VPy 面板電壓 VPy' 面板電壓 ΔΧ 距離 162254.doc -33

Claims (1)

1. 201243692 七、申請專利範圍： 1. -種控制電路，其特徵為，其係觸控面板之控制電路， 上述觸控面板包含··第卜第2、第3端子；一邊與約端 子連接、與該一邊對向之邊與上述第2端子連接之第 • 阻膜，及與上述第1電阻膜隔開間隙配置、其一邊與上 述第3端子連接之第2電阻膜；且該控制電路具備： 電壓生成部’其係將特定之第1、第2偏壓電壓分別施 加於上述第1、第2端子； 電壓檢測部，其係檢測上述第3端子中產生之面板電 壓； 電流檢測部，其係檢測於包含上述第i端子、上述第五 電阻膜、第上述2端子之路徑中流動之面板電流；及 座‘判定部，其係根據上述面板電屋及上述面板電流 之值，判定使用者所接觸之座標；且 上述電壓生成部包含設置於包含上述第工端子、上述 第1電阻膜、上述第2端子之路徑之上述第】端子側之延 伸上之輸出電晶體，且包含將上述第】偏壓電麼施加於 上述第1端子之穩壓器； 上述電流檢測部包含： 仏測電晶體’其係以形成上述輸出電晶體及電流鏡電 路之方式而連接； 檢測電阻，其係設置於該檢測電晶體之路徑上；及 放大電路，其係放大上述檢測電阻之電壓下降與特定 之電壓之差分’並作為表示上述面板電流之值加以輸 162254.doc 201243692 2.-種控制電路，其特徵為，其係觸控面板之控制電路， 上述觸控面板包含：第卜第2、第3、第4端子；其一邊 與上述第1端子連接、與該一邊對向之邊與上述第2端子 連接之第1電阻膜；及與上述第i電阻膜隔開間隙配置、 其一邊與上述第3端子連接、與該一邊對向之邊與上述 第4端子連接之第2電阻膜；且該控制電路具備： 電壓生成部，其係在第1狀態下將特定之第1、第2偏 壓電壓分別施加於上述第1、帛2端子，而將上述第3、 第4端子5又為咼阻抗狀態，在第2狀態下將特定之第1、 第2偏壓電壓分別施加於上述第3、第4端子，而將上述 第1、第2端子作為高阻抗狀態； 電壓檢測部，其係在上述第1狀態下檢測上述第3、第 4端子之一方中產生之面板電壓，在上述第2狀態下檢測 上述第1、第2端子之一方中產生之面板電壓； 電流檢測部，其係在上述第1狀態下檢測在包含上述 第1端子、上述第1電阻膜、上述第2端子之路徑中流動 之面板電流，在上述第2狀態下檢測在包含上述第3端 子、上述第2電阻膜、上述第4端子之路徑中流動之面板 電流；及 座標判定部，其係根據上述面板電壓及上述面板電流 之值，判定使用者所接觸之座標；且 上述電壓生成部包含： 穩壓器’其包含輸出電晶體’且生成上述第1偏壓電 162254.doc 201243692 壓；及 選擇器’其係於其輸入端子接受上述第1偏壓電堡， 於該第1輸出端子連接上述第丨端子，於該第2輸出端子 連接上述第3端子，且在上述第丨狀態下於上述第丨輸出 端子側導通，在上述第2狀態下於上述第2輸出端子側導 通； 上述電流檢測部包含： 檢測電晶體，其係以形成上述輸出電晶體及電流鏡電 路之方式而連接； 檢測電阻，其係設置於該檢測電晶體之路徑上；及 放大電路其係放大上述檢測電阻之電塵下降與特定 之電壓之差分’並作為表示上述面板電流之值加以 出。 - 3· -種控制電路，其特徵為，其係觸控面板之控制電路， 上述觸控面板包含H、第2、第3、第4端子；其一邊 與第1端子連接、與該一邊對向之邊與上述第2端子連接 之第1電阻膜；及與上述第1電阻膜隔開間隙配置，其— 邊與上述第3端子連接、與該一邊對向之邊與上述第*端 子連接之弟2電阻膜；且該控制電路真備： 電壓生成部’其係在第!狀態下將特定之第卜第2偏 遂電麼分別施加於上述第！、第2端子，而將上述第3、 第4端子設為高阻抗狀態’在第2狀態下將特定之第卜 第2偏壓電壓分別施加於上述第3、第4端子，而將上述 第1、第2端子作為高阻抗狀態； I62254.doc 201243692 電壓檢測部，其係在上述第1狀態下個別檢 第編子各者中產生之面板電壓，在上述第2狀離下 個別檢測上述第卜第2端子各者中產生之面板電壓Γ 電流檢測部’其係在上述第1狀態下檢測在包含上述 第1端子、上述第丨電阻膜、上述第2端子之路徑中流動 之面板電流，在上述第2狀態下檢測在包含上述第3端 子、上述第2電阻膜、上述第4端子之路徑中流動之面板 電流；及 座私判疋部，其係根據上述面板電壓及上述面板電流 之值’判定使用者所接觸之座標；且 上述電壓生成部包含： 穩壓器’其包含輸出電晶體，且生成上述^偏壓電 壓；及 選擇器，其係於其輸入端子接受上述第1偏壓電壓， 於該第1輸出端子連接上述第丨端子，於該第2輸出端子 連接上述第3端子，且在上述第丨狀態下於上述第丨輸出 端子側導通，在上述第2狀態下於上述第2輸出端子側導 通； 上述電流檢測部包含： 檢測電晶體，其係以形成上述輸出電晶體及電流鏡電 路之方式而連接； 檢測電阻，其係設置於該檢測電晶體之路徑上丨及 放大電路’其係放大上述檢測電阻之電壓下降與特定 之電壓之差分’並作為表示上述面板電流之值加以輸 162254.doc 201243692 出。 4.如請求項1至3中任一項之控制電路，其中 上述放大電路包含： 接受上述檢測電阻之電壓下降之緩衝器； 運算放大器； 广電阻’其係設置於上述緩衝器之輸出與上述運 算放大器之第1輸入端子之間； 第2電阻’其係設置於上述運算放大器之第1輸入端 子與固定電壓端子之間； 第3電阻’其係於其—端接受上述特定之電麼，其 另一端與上述運算放大器之第2輸入端子連接；及' 第4電阻，其係設置於上述運算放大器之第2輸入端 子與上述運算放大器之輸出端子之間。 5.如請求項1至3申任一項之控制電路，其中 上述電壓檢測部包含： 接受上述面板電壓之緩衝器；及 取樣保持上述緩衝器之輸出電壓，並將經取樣保持 之值轉換為數位值之A/D轉換器。 6. 如請求項2或3中記載之控制電路，其中上述電流檢測部 構成為在上述第1狀態與上述第2狀態下，可切換上述輸 出電晶體與上述檢測電晶體之電流鏡比。 7. 如請求項2或3之控制電路，其中上述f流檢測部構成為 在上述第1狀態與上述第2狀態下，可切換上述檢測電阻 之電阻值。 162254.doc 201243692 8. 9. 10. 11. 12. 13. =請求項！至3中任-項之控制電路，其中上述座標判定 P在上述面板電流之值大於特定之值時，判定使用者接 觸複數之點。 如請求項!至3中任一項之控制電路，其中使用者接觸於 2點時，根據上述面板電流之值決定上述2點之座標間 隔。 如請^項9之控制電路’其中根據使用者未接觸面板時 ㈣定之上述面板電流與接觸時之上述面板電流之差 分’決定上述2點之座標間隔。 如請求項9之控制電路，其中上述座標判定部藉由根據 述面板電廢決疋上述2點之中心座標，並對該中心座 標加上與上述2點之座標間隔相對應之值，而決定上述2 點之-方之座標，且藉由自上述中心座標減去與上述2 點之座標間隔相對應之值，而決定上述2點之另一方之 座標。 種觸控面板輸入裝置，其具備： 觸控面板，其包含：第1、第2、第3端子；一邊與上 述第1端子連接、與該一邊對向之邊與上述第2端子連接 之第1電阻膜，及與上述第丨電阻膜隔開間隙配置、其一 邊與上述第3端子連接之第2電阻膜；及 控制上述觸控面板之如請求項丨至3中任一項之控制電 路。 種電子機斋，其特徵在於具備如請求項12之觸控面板 輪入裝置。 162254.doc