Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

KR20200039227A - Stocker - Google Patents

Stocker Download PDF

Info

Publication number
KR20200039227A
KR20200039227A KR1020180118884A KR20180118884A KR20200039227A KR 20200039227 A KR20200039227 A KR 20200039227A KR 1020180118884 A KR1020180118884 A KR 1020180118884A KR 20180118884 A KR20180118884 A KR 20180118884A KR 20200039227 A KR20200039227 A KR 20200039227A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
reticle pod
sensors
reticle
shelves
pod
Prior art date
Application number
KR1020180118884A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102166345B1 (en
Inventor
이슬
이정훈
강휘재
박준철
박노재
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020180118884A priority Critical patent/KR102166345B1/en
Publication of KR20200039227A publication Critical patent/KR20200039227A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102166345B1 publication Critical patent/KR102166345B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67346Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders characterized by being specially adapted for supporting a single substrate or by comprising a stack of such individual supports
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67766Mechanical parts of transfer devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

According to the present invention, a stocker includes: a plurality of shelves for loading a reticle pod; a transfer robot having a robot arm for loading the reticle pod on the shelves or unloading the reticle pod from the shelves; and a pair of sensors provided on the transfer robot at the same height, irradiating light to an upper portion of the reticle pod loaded on the shelves, and sensing a loaded state of the reticle pod loaded on the shelves by using whether reflected light reflected from the reticle pod is received.

Description

스토커{Stocker}Stocker

본 발명은 스토커에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 레티클 포드를 선반에 적재하는 스토커에 관한 것이다. The present invention relates to a stocker. More specifically, it relates to a stocker for loading a reticle pod on a shelf.

반도체 장치 제조 공정에서 레티클이 수납된 레티클 포드들은 스토커(Stocker)에 보관될 수 있다. 상기 스토커는 상기 레티클 포드들을 적재하기 위한 복수의 선반들을 구비할 수 있다. 상기 스토커의 내부에는 상기 레티클 포드들을 이송하기 위한 이송 로봇이 배치될 수 있다. 상기 이송 로봇은 수평 및 Z축 방향으로 이동될 수 있으며 상기 레티클 포드를 이송하기 위한 로봇암을 구비할 수 있다.In the semiconductor device manufacturing process, reticle pods in which the reticle is stored may be stored in a stocker. The stocker may include a plurality of shelves for loading the reticle pods. A transport robot for transporting the reticle pods may be disposed inside the stocker. The transfer robot may be moved in the horizontal and Z-axis directions, and may have a robot arm for transferring the reticle pod.

상기 선반에 적재된 레티클 포드의 적재 상태는 대부분 정상이나 일부 불량일 수 있다. 상기 적재 상태가 불량인 경우, 상기 레티클 포드가 상기 선반에 기울어진 상태로 적재될 수 있다. 상기 레티클 포드의 적재 상태가 불량인 경우, 상기 로봇암이 상기 레티클 포드와 충돌하여 상기 로봇암이나 상기 레티클 포드가 손상될 수 있다. 또한, 상기 로봇암이 상기 레티클 포드를 정확하게 파지하지 못하므로, 상기 레티클 포드가 상기 로봇암으로부터 낙하할 수 있다. The loading state of the reticle pods loaded on the shelf may be mostly normal, but some may be defective. When the loading state is poor, the reticle pod may be loaded in an inclined state on the shelf. When the loading state of the reticle pod is poor, the robot arm may collide with the reticle pod, thereby damaging the robot arm or the reticle pod. In addition, since the robot arm does not accurately grip the reticle pod, the reticle pod may fall from the robot arm.

본 발명은 선반에 적재된 레티클 포드의 적재 상태를 확인할 수 있는 스토커를 제공한다. The present invention provides a stocker that can check the loading state of a reticle pod loaded on a shelf.

본 발명에 따른 스토커는, 레티클 포드를 적재하기 위한 다수의 선반들과, 상기 선반들에 상기 레티클 포드를 적재하거나 상기 선반으로부터 상기 레티클 포드를 이재하기 위한 로봇암을 구비하는 이송 로봇 및 상기 이송 로봇에 동일한 높이에 한 쌍이 구비되며, 상기 선반에 적재된 레티클 포드의 상부로 광을 조사하고 상기 레티클 포드로부터 반사되는 반사광의 수신 여부를 이용하여 상기 선반에 적재된 레티클 포드의 적재 상태를 감지하는 센서들을 포함할 수 있다. The stocker according to the present invention includes a plurality of shelves for loading a reticle pod, and a transportation robot and a transportation robot having a robot arm for loading the reticle pod on the shelves or moving the reticle pod from the shelf. A pair is provided at the same height, and the sensor senses the loading state of the reticle pod loaded on the shelf by irradiating light to the upper part of the reticle pod loaded on the shelf and receiving reflected light reflected from the reticle pod. It may include.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 로봇암은 상기 레티클 포드의 상면에 구비되는 플랜지를 파지하며, 상기 센서들은 상기 플랜지의 상부를 향해 수평 방향으로 광을 조사할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the robot arm grips a flange provided on an upper surface of the reticle pod, and the sensors may irradiate light in a horizontal direction toward an upper portion of the flange.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 센서들이 상기 반사광을 수신하지 못하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드의 적재 상태를 정상으로 감지하고, 상기 센서들이 상기 반사광을 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드의 적재 상태를 불량으로 감지할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, when the sensors do not receive the reflected light, the sensors detect the loading state of the reticle pod as normal, and when the sensors receive the reflected light, the sensors The reticle pod's loading status can be detected as bad.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 센서들이 상기 반사광을 하나만 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드가 좌우 방향으로 기울어진 것으로 감지하고, 상기 센서들이 상기 반사광을 모두 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드가 상기 좌우 방향과 수직하는 전후 방향으로 기울어진 것으로 감지할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, when the sensors receive only the reflected light, the sensors detect that the reticle pod is tilted in the left-right direction, and when the sensors receive all the reflected light, the sensor They can sense that the reticle pod is tilted in the front-rear direction perpendicular to the left-right direction.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 스토커는, 상기 센서들의 감지 결과, 상기 레티클 포드의 적재 상태가 불량인 경우 상기 로봇암의 동작을 중지시키는 제어부를 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the stalker may include a control unit that stops the operation of the robot arm when the loading state of the reticle pod is bad as a result of detection of the sensors.

본 발명에 따른 스토커는 한 쌍의 센서를 이용하여 선반에 적재된 레티클 포드의 적재 상태를 확인할 수 있다. 특히, 상기 스토커는 상기 레티클 포드의 기울어짐을 감지하여 상기 적재 상태의 불량을 확인할 수 있다. 상기 스토커는 상기 레티클 포드의 상기 적재 상태가 불량인 경우, 로봇암의 동작을 중단시킬 수 있다. 따라서, 상기 로봇암이 상기 레티클 포드와 충돌하는 것을 방지할 수 있으며, 상기 로봇암이 상기 레티클 포드를 정확하게 파지하지 못해 발생하는 상기 레티클 포드의 낙하를 방지할 수 있다. The stocker according to the present invention can check the loading state of the reticle pod loaded on the shelf using a pair of sensors. In particular, the stalker can detect the inclination of the reticle pod and check the defect of the loading state. The stalker may stop the operation of the robot arm when the loading state of the reticle pod is defective. Accordingly, the robot arm can be prevented from colliding with the reticle pod, and the fall of the reticle pod caused by the robot arm not accurately gripping the reticle pod can be prevented.

상기 스토커는 상기 레티클 포드의 상기 적재 상태가 정상인 경우에만 상기 로봇암으로 상기 선반에 적재된 상기 레티클 포드를 이재하므로, 상기 스토커의 작업 안전성을 향상시킬 수 있다. The stalker moves the reticle pod loaded on the shelf with the robot arm only when the loading state of the reticle pod is normal, thereby improving work safety of the stalker.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스토커를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 센서들의 동작을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 센서들의 동작을 설명하기 위한 측면도이다.
1 is a schematic plan view for explaining a stocker according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view for explaining the operation of the sensors illustrated in FIG. 1.
FIG. 3 is a side view for explaining the operation of the sensors illustrated in FIG. 1.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention can be applied to various changes and may have various forms, and specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to a specific disclosure form, and it should be understood that all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention are included. In describing each drawing, similar reference numerals are used for similar components. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown to be enlarged than the actual for clarity of the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from other components. For example, the first component may be referred to as a second component without departing from the scope of the present invention, and similarly, the second component may be referred to as a first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "include" or "have" are intended to indicate the presence of features, numbers, steps, actions, elements, parts or combinations thereof described in the specification, one or more other features. It should be understood that the existence or addition possibilities of fields or numbers, steps, actions, components, parts or combinations thereof are not excluded in advance.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by a person skilled in the art to which the present invention pertains. Terms such as those defined in a commonly used dictionary should be interpreted as having meanings consistent with meanings in the context of related technologies, and should not be interpreted as ideal or excessively formal meanings unless explicitly defined in the present application. Does not.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스토커를 설명하기 위한 개략적인 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 센서들의 동작을 설명하기 위한 평면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 센서들의 동작을 설명하기 위한 측면도이다. 1 is a schematic plan view for explaining a stocker according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view for explaining the operation of the sensors shown in FIG. 1, and FIG. 3 is an operation of the sensors shown in FIG. 1 It is a side view for explaining.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 상기 스토커(100)는 선반들(110), 이송 로봇(120), 센서들(130) 및 제어부(140)를 포함한다.1 to 3, the stocker 100 includes shelves 110, a transfer robot 120, sensors 130, and a control unit 140.

상기 선반들(110)은 레티클 포드들(10)을 적재한다. 상기 선반들(110)은 X축 방향(좌우 방향) 및 Z축 방향(상하 방향)으로 배열될 수 있다. 도 1에서는 상기 선반들(110)이 1열로 배열되어 있으나, 상기 선반들(110)은 2열로 서로 평행하게 배치될 수도 있다. The shelves 110 load reticle pods 10. The shelves 110 may be arranged in the X-axis direction (left and right direction) and the Z-axis direction (up and down direction). In FIG. 1, the shelves 110 are arranged in one row, but the shelves 110 may be arranged in parallel to each other in two rows.

상기 레티클 포드들(10)은 내부에 노광 공정에 사용되는 레티클을 수용한다. 상기 레티클 포드들(10)은 상부면에 플랜지(12)가 구비된다. The reticle pods 10 accommodate reticles used for an exposure process therein. The reticle pods 10 are provided with a flange 12 on the upper surface.

각 선반들(110)의 바닥면에는 정렬 핀들(미도시)이 구비될 수 있다. 상기 레티클 포드들(10)의 하부면에는 정렬 홈(미도시)이 구비될 수 있다. 상기 레티클 포드(10)들이 상기 선반들(110)에 적재될 때, 상기 정렬 핀들은 상기 정렬 홈에 삽입되므로, 상기 레티클 포드들(10)을 각 선반들(110)에 정확한 위치에 적재할 수 있다. Alignment pins (not shown) may be provided on the bottom surface of each shelf 110. Alignment grooves (not shown) may be provided on the lower surface of the reticle pods 10. When the reticle pods 10 are loaded on the shelves 110, the alignment pins are inserted into the alignment grooves, so that the reticle pods 10 can be loaded at the correct positions on the respective shelves 110. have.

상기 이송 로봇(120)은 상기 선반들(110)의 전방에 배치되며, 상기 레티클 포드들(110)을 이송한다. 상기 선반들(110)이 2열로 평행하고 배치되는 경우, 상기 이송 로봇(120)은 상기 2열의 선반들 사이에 배치될 수 있다.The transfer robot 120 is disposed in front of the shelves 110 and transfers the reticle pods 110. When the shelves 110 are arranged in parallel in two rows, the transfer robot 120 may be disposed between the two rows of shelves.

상기 이송 로봇(120)은 상기 레티클 포드들(10)의 이송을 위해 상기 X축 방향, 상기 Z축 방향으로 이동 및 회전 이동이 가능하도록 구비될 수 있다. 상세히 도시되지는 않았지만, 상기 이송 로봇(120)은 상기 이송 로봇(120)을 상기 X축 방향으로 이동시키기 위한 X축 구동부, 상기 이송 로봇(120)을 상기 Z축 방향으로 이동시키기 위한 Z축 구동부 및 상기 이송 로봇(120)을 회전시키기 위한 회전 구동부를 구비할 수 있다. The transfer robot 120 may be provided to move and rotate in the X-axis direction and the Z-axis direction for the transfer of the reticle pods 10. Although not shown in detail, the transfer robot 120 includes an X-axis drive unit for moving the transfer robot 120 in the X-axis direction, and a Z-axis drive unit for moving the transfer robot 120 in the Z-axis direction. And a rotation driving unit for rotating the transfer robot 120.

또한, 상기 이송 로봇(120)은 상기 레티클 포드들(10)의 이송을 위한 로봇암(122)을 구비할 수 있으며, 상기 로봇암(122)은 상기 선반들(110)을 향해 이동 가능하게 구성될 수 있다. 상기 로봇암(122)은 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)를 파지하여 상기 레티클 포드들(10)을 이송한다.In addition, the transfer robot 120 may be provided with a robot arm 122 for the transfer of the reticle pods 10, the robot arm 122 is configured to be movable toward the shelves (110) Can be. The robot arm 122 grips the flange 12 of the reticle pods 10 to transport the reticle pods 10.

일 예로서, 상기 로봇암(122)은 상기 X축 방향에 대하여 수직하는 Y축 방향(전후 방향)으로 이동 가능하게 구성될 수 있으며, 상기 이송 로봇(120)은 상기 로봇암(122)을 구동하기 위한 Y축 구동부를 구비할 수 있다. 상기 로봇암(122)은 신장과 수축이 가능한 다관절 로봇암일 수 있다. As an example, the robot arm 122 may be configured to be movable in a Y-axis direction (front-to-back direction) perpendicular to the X-axis direction, and the transfer robot 120 drives the robot arm 122 It may be provided with a Y-axis driving unit. The robot arm 122 may be a multi-joint robot arm capable of stretching and contracting.

일 예로서, 상기 X축, Y축 및 Z축 구동부들 및 회전 구동부는 모터 및 타이밍 벨트와 풀리들을 포함하는 동력 전달 장치를 이용하여 각각 구성될 수 있다.As an example, the X-axis, Y-axis and Z-axis driving units and rotation driving units may be configured using a power transmission device including a motor and a timing belt and pulleys, respectively.

따라서 상기 이송 로봇(120)은 상기 레티클 포드들(10)을 상기 선반들(110)에 적재하거나 상기 선반들(110)로부터 상기 레티클 포드들(10)을 이재할 수 있다.Accordingly, the transfer robot 120 may load the reticle pods 10 on the shelves 110 or transfer the reticle pods 10 from the shelves 110.

한편, 상기 이송 로봇(120)은 상기 레티클 포드들(10)을 신속하게 이송하기 위해 복수로 구비될 수도 있다. Meanwhile, the transfer robot 120 may be provided in plural to rapidly transfer the reticle pods 10.

상기 센서들(130)은 상기 로봇(120)의 상부면에 한 쌍이 구비될 수 있다. 상기 센서들(130)은 동일한 높이에 배치되며, 상기 X축 방향을 따라 배열될 수 있다. 상기 센서들(130)은 상기 레티클 포드들(10)의 플랜지(12)를 감지한다. A pair of the sensors 130 may be provided on the upper surface of the robot 120. The sensors 130 are disposed at the same height and may be arranged along the X-axis direction. The sensors 130 sense the flange 12 of the reticle pods 10.

상기 센서들(130)의 예로는 한정 반사형 센서를 들 수 있다. 따라서, 상기 센서들(130)이 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)만을 감지할 수 있다. 또한, 상기 센서들(130)은 상기 별도의 반사판이 불필요하므로, 상기 센서들(130)의 설치가 용이하다. An example of the sensors 130 is a limited reflective sensor. Accordingly, the sensors 130 can detect only the flange 12 of the reticle pods 10. In addition, since the sensors 130 do not need the separate reflector, it is easy to install the sensors 130.

상기 각 센서들(130)은 상기 선반(110)에 적재된 상기 레티클 포드들(10)로 광을 조사하고 상기 레티클 포드들(10)로부터 반사되는 광을 수신한다. 구체적으로, 상기 센서들(130)은 상기 플랜지(12)의 상부를 향해 상기 Y축 방향을 따라 광을 조사한다.Each sensor 130 irradiates light to the reticle pods 10 loaded on the shelf 110 and receives light reflected from the reticle pods 10. Specifically, the sensors 130 irradiate light along the Y-axis direction toward the upper portion of the flange 12.

도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 상기 센서들(130)이 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)의 상부면보다 약간 높도록 위치한 상태에서 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)의 상부면보다 약간 높은 위치를 감지한다. 상기 센서들(130)의 감지 높이는 상기 로봇암(122)과 상기 플랜지(12) 사이의 여유 간격에 따라 달라진다. 2 and 3, the flanges of the reticle pods 10 are positioned with the sensors 130 positioned slightly higher than the upper surface of the flange 12 of the reticle pods 10. It detects the position slightly higher than the upper surface of 12). The sensing height of the sensors 130 depends on the clearance between the robot arm 122 and the flange 12.

예를 들면, 상기 여유 간격이 큰 경우, 상기 레티클 포드(10)가 약간 기울어지더라도 상기 로봇암(122)이 상기 레티클 포드(10)와 충돌하지 않고 상기 레티클 포드(10)를 파지할 수 있다. 따라서, 상기 센서들(130)의 감지 높이가 높아질 수 있다.For example, when the clearance is large, even if the reticle pod 10 is slightly inclined, the robot arm 122 may grip the reticle pod 10 without colliding with the reticle pod 10. . Therefore, the sensing height of the sensors 130 may be increased.

다른 예로, 상기 여유 간격이 작은 경우, 상기 레티클 포드(10)가 약간 기울어지더라도 상기 로봇암(122)이 상기 레티클 포드(10)와 충돌할 수 있다. 따라서, 상기 센서들(130)의 감지 높이가 낮아질 수 있다.As another example, when the clearance is small, the robot arm 122 may collide with the reticle pod 10 even if the reticle pod 10 is slightly inclined. Therefore, the sensing height of the sensors 130 may be lowered.

한편, 도시되지는 않았지만, 상기 센서들(130)은 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)와 동일한 높이에 위치할 수도 있다.Meanwhile, although not shown, the sensors 130 may be positioned at the same height as the flange 12 of the reticle pods 10.

상기 센서들(130)은 상기 광을 조사하고 상기 반사광의 수신 여부에 따라 상기 레티클 포드(10)의 적재 상태를 감지한다. The sensors 130 irradiate the light and sense the loading state of the reticle pod 10 according to whether the reflected light is received.

구체적으로, 상기 센서들(130)이 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)의 상부면보다 약간 높게 위치하는 경우에 대해 설명한다. Specifically, the case where the sensors 130 are slightly higher than the upper surface of the flange 12 of the reticle pods 10 will be described.

상기 각 센서들(130)에서 상기 광을 조사하고, 상기 반사광을 수신하지 못하는 경우, 상기 광이 상기 플랜지(12)에 반사되지 않은 것이므로 상기 레티클 포드(10)의 적재 상태가 정상인 것으로 판단한다. 구체적으로, 상기 레티클 포드(10)가 기울어지지 않고 수평 상태를 유지하는 것으로 판단한다.When each of the sensors 130 irradiates the light and fails to receive the reflected light, it is determined that the loading state of the reticle pod 10 is normal because the light is not reflected by the flange 12. Specifically, it is determined that the reticle pod 10 does not tilt and maintains a horizontal state.

상기 각 센서들(130)에서 상기 광을 조사하고, 상기 반사광을 하나만 수신하는 경우, 상기 각 센서들(130)에서 조사된 광이 상기 플랜지(12)로부터 하나만 반사된 것이므로 상기 레티클 포드(10)의 적재 상태가 불량인 것으로 판단한다. 구체적으로, 상기 레티클 포드(10)가 상기 X축 방향(좌우 방향)을 향해 기울어진 것으로 판단한다.When the light is irradiated from the respective sensors 130 and only one of the reflected light is received, the reticle pod 10 because the light irradiated from each of the sensors 130 is reflected from the flange 12 only It is judged that the loading condition of is defective. Specifically, it is determined that the reticle pod 10 is inclined toward the X-axis direction (left-right direction).

상기 각 센서들(130)에서 상기 광을 조사하고, 상기 반사광을 모두 수신하는 경우, 상기 각 센서들(130)에서 조사된 광이 상기 플랜지(12)로부터 각각 반사된 것이므로 상기 레티클 포드(10)의 적재 상태가 불량인 것으로 판단한다. 구체적으로, 상기 레티클 포드(10)가 상기 Y축 방향(전후 방향)을 향해 기울어진 것으로 판단한다.When the light is irradiated from the respective sensors 130 and all the reflected light is received, the reticle pod 10 because the light irradiated from the respective sensors 130 is reflected from the flange 12, respectively. It is judged that the loading condition of is defective. Specifically, it is determined that the reticle pod 10 is inclined toward the Y-axis direction (front-rear direction).

따라서, 상기 센서들(130)을 이용하여 상기 선반들(110)에 적재된 상기 레티클 포드들(10)의 적재 상태를 정확하게 확인할 수 있다. 특히, 상기 센서들(130)이 상기 레티클 포드들(10)의 상기 플랜지(12)의 상부면보다 약간 높게 위치하므로, 상기 선반들(110)에서 상기 레티클 포드들(10)의 위치가 상기 X축 방향 또는 상기 Y축 방향으로 이동하더라도 상기 레티클 포드들(10)의 적재 상태를 정확하게 확인할 수 있다.Therefore, it is possible to accurately check the loading state of the reticle pods 10 loaded on the shelves 110 using the sensors 130. In particular, since the sensors 130 are slightly higher than the upper surface of the flange 12 of the reticle pods 10, the position of the reticle pods 10 on the shelves 110 is the X axis. Even if it moves in the direction or the Y-axis direction, it is possible to accurately check the loading state of the reticle pods 10.

상기 제어부(140)는 상기 센서들(130)의 감지 결과에 따라 상기 로봇암(122)의 동작을 제어한다. The control unit 140 controls the operation of the robot arm 122 according to the detection result of the sensors 130.

상기 센서들(130)의 감지 결과 상기 레티클 포드들(10)의 적재 상태가 불량인 경우, 상기 제어부(140)는 적재 상태 불량인 상기 레티클 포드들(10)을 이재하기 위한 상기 로봇암(122)의 동작을 중지시킨다. 따라서, 상기 로봇암(122)이 상기 레티클 포드들(10)과 충돌하는 것을 방지할 수 있으며, 상기 로봇암(122)이 상기 레티클 포드(10)를 정확하게 파지하지 못해 발생하는 상기 레티클 포드(10)의 낙하를 방지할 수 있다. When the loading state of the reticle pods 10 is defective as a result of the detection of the sensors 130, the control unit 140 may move the robot arm 122 to move the reticle pods 10 having a bad loading state. ) Is stopped. Therefore, it is possible to prevent the robot arm 122 from colliding with the reticle pods 10, and the reticle pod 10 generated due to the robot arm 122 not accurately gripping the reticle pod 10 ) Can be prevented from falling.

또한, 상기 제어부(140)는 상기 레티클 포드들(10)의 상기 적재 상태가 정상인 경우에만 상기 로봇암(122)이 상기 선반들(110)에 적재된 상기 레티클 포드들(10)을 이재하도록 제어한다. 따라서, 상기 스토커(100)의 작업 안전성을 향상시킬 수 있다. In addition, the control unit 140 controls the robot arm 122 to move the reticle pods 10 loaded on the shelves 110 only when the loading state of the reticle pods 10 is normal. do. Therefore, it is possible to improve the work safety of the stocker 100.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to the preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art may variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the claims below. You will understand that you can.

100 : 스토커 110 : 선반
120 : 이송 로봇 122 : 로봇암
130 : 센서 140 : 제어부
10 : 레티클 포드 12 : 플랜지
100: Stocker 110: Shelf
120: transfer robot 122: robot arm
130: sensor 140: control unit
10: reticle pod 12: flange

Claims (5)

레티클 포드를 적재하기 위한 다수의 선반들;
상기 선반들에 상기 레티클 포드를 적재하거나 상기 선반으로부터 상기 레티클 포드를 이재하기 위한 로봇암을 구비하는 이송 로봇; 및
상기 이송 로봇에 동일한 높이에 한 쌍이 구비되며, 상기 선반에 적재된 레티클 포드의 상부로 광을 조사하고 상기 레티클 포드로부터 반사되는 반사광의 수신 여부를 이용하여 상기 선반에 적재된 레티클 포드의 적재 상태를 감지하는 센서들을 포함하는 것을 특징으로 하는 스토커.
Multiple shelves for loading the reticle pod;
A transfer robot having a robot arm for loading the reticle pod on the shelves or for displacing the reticle pod from the shelf; And
The transfer robot is provided with a pair at the same height, and irradiates light to the upper part of the reticle pod loaded on the shelf and uses the reception of reflected light reflected from the reticle pod to determine the loading state of the reticle pod loaded on the shelf. Stalker characterized in that it comprises a sensor for sensing.
제1항에 있어서, 상기 로봇암은 상기 레티클 포드의 상면에 구비되는 플랜지를 파지하며,
상기 센서들은 상기 플랜지의 상부를 향해 수평 방향으로 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 스토커.
According to claim 1, The robot arm grips a flange provided on the upper surface of the reticle pod,
The sensor is a stocker, characterized in that for irradiating light in the horizontal direction toward the top of the flange.
제1항에 있어서, 상기 센서들이 상기 반사광을 수신하지 못하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드의 적재 상태를 정상으로 감지하고,
상기 센서들이 상기 반사광을 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드의 적재 상태를 불량으로 감지하는 것을 특징으로 하는 스토커.
According to claim 1, When the sensor does not receive the reflected light, the sensors normally detect the loading state of the reticle pod,
When the sensors receive the reflected light, the sensors are a stalker, characterized in that for detecting the loading state of the reticle pod as a defect.
제3항에 있어서, 상기 센서들이 상기 반사광을 하나만 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드가 좌우 방향으로 기울어진 것으로 감지하고,
상기 센서들이 상기 반사광을 모두 수신하는 경우, 상기 센서들은 상기 레티클 포드가 상기 좌우 방향과 수직하는 전후 방향으로 기울어진 것으로 감지하는 것을 특징으로 하는 스토커.
According to claim 3, When the sensor receives only one of the reflected light, the sensors detect that the reticle pod is tilted in the left and right directions,
When the sensors receive all of the reflected light, the sensors are stalker characterized in that the reticle pod is sensed as inclined in the front-rear direction perpendicular to the left-right direction.
제1항에 있어서, 상기 센서들의 감지 결과, 상기 레티클 포드의 적재 상태가 불량인 경우 상기 로봇암의 동작을 중지시키는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스토커.The stalker according to claim 1, further comprising a control unit for stopping the operation of the robot arm when the loading state of the reticle pod is defective as a result of detection of the sensors.
KR1020180118884A 2018-10-05 2018-10-05 Stocker KR102166345B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180118884A KR102166345B1 (en) 2018-10-05 2018-10-05 Stocker

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180118884A KR102166345B1 (en) 2018-10-05 2018-10-05 Stocker

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200129943A Division KR102246792B1 (en) 2020-10-08 2020-10-08 Stocker

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200039227A true KR20200039227A (en) 2020-04-16
KR102166345B1 KR102166345B1 (en) 2020-10-15

Family

ID=70454520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180118884A KR102166345B1 (en) 2018-10-05 2018-10-05 Stocker

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102166345B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022053283A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-17 Asml Holding N.V. Pod handling systems and methods for a lithographic device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503926A (en) * 2000-06-13 2004-02-05 バークレー・プロセス・コントロール・インコーポレーテッド Self-learning robot carrier handling system
KR20050003521A (en) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Device of right angle auto sense for cassette
JP2005064130A (en) * 2003-08-08 2005-03-10 Asyst Shinko Inc Carrier device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503926A (en) * 2000-06-13 2004-02-05 バークレー・プロセス・コントロール・インコーポレーテッド Self-learning robot carrier handling system
KR20050003521A (en) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Device of right angle auto sense for cassette
JP2005064130A (en) * 2003-08-08 2005-03-10 Asyst Shinko Inc Carrier device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022053283A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-17 Asml Holding N.V. Pod handling systems and methods for a lithographic device

Also Published As

Publication number Publication date
KR102166345B1 (en) 2020-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102166343B1 (en) Stoker
KR20180021046A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
WO2007136066A1 (en) Basal plate deformation detecting system and deformation detecting method
JP7349240B2 (en) Board warehouse and board inspection method
KR102150670B1 (en) Stocker
TWI785248B (en) Storage and transport vehicle system
JP2015156437A (en) Substrate processing device, position error correcting method and memory medium
US20180090357A1 (en) Robot system and incline detection method
KR20110061805A (en) Apparatus for mapping wafers
KR20200039227A (en) Stocker
KR102246792B1 (en) Stocker
KR20210157054A (en) Stocker
KR102234767B1 (en) Stoker
KR101337563B1 (en) Transferring Apparatus for Adjusting Position of Manipulator Using Sensor Unit
KR102316946B1 (en) Stocker and method of processing reticles of the same
KR20210158241A (en) Guiding structure of hoist unit and apparatus for transferring carriers having the same
KR102264856B1 (en) Apparatus for transferring container
KR102728132B1 (en) Test Handler for Electronic Component
KR102246806B1 (en) Apparatus for transferring a carrier
JP2587512Y2 (en) Board storage state detection device
KR102359534B1 (en) Stocker apparatus and apparatus for treating substrate comprising the same
KR101300757B1 (en) Transferring apparatus with tilting function and transfer method using the same
JPH04215454A (en) Attitude controller for wafer cassette
CN113928808A (en) Article transport vehicle
KR20210158225A (en) Stocker and method of storing carriers using the same

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right