KR20020063371A - Lcd pannal tester - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 액정표시 패널 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피액정표시 패널의 불량 유무를 검사하는 검사장치에 있어서, 상기 액정표시 패널에 백라이트를 조사하는 음극선관의 이상 유무를 사전 검사함으로써, 상기 음극선관의 불량으로 인하여 야기되는 액정표시 패널의 불량 유무 오판을 방지하도록 한 액정표시 패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display panel inspection apparatus, and more particularly, in an inspection apparatus for inspecting whether a liquid crystal display panel is defective, by inspecting in advance whether there is an abnormality of a cathode ray tube irradiating a backlight to the liquid crystal display panel. The present invention relates to a liquid crystal display panel inspection apparatus for preventing a misjudge of a liquid crystal display panel caused by a failure of the cathode ray tube.
일반적으로 액정표시 패널 검사장치는 전기신호에 의하여 검사하는 장치가있는가 하면, 광신호를 이용하여 검사하는 장치가 있는바, 상기 전기신호를 이용하는 검사장치는 석영기판상에 서로 평행한 다수의 게이트선이 설치되고, 게이트선과 직교하여 다수의 데이터선이 평행하게 설치되며, 상기 게이트선과 데이터선과의 교차점에 박막트랜지스터가 접속되고, 박막트랜지스터의 드레인단자에는 보조콘덴서가 접속된 다수의 화소를 매트릭스형으로 배치한 액정표시 패널에 선 결함이나 화소 결함을 검사하는 장치인바, 상기 선 결함은 단선 유무를 검사하는 것이기 때문에 그 검사는 도통, 비도통으로 용이하게 검사할 수 있다.In general, a liquid crystal display panel inspection apparatus includes an apparatus for inspecting by an electric signal, and an apparatus for inspecting by using an optical signal. An apparatus for inspecting an electrical signal includes a plurality of gate lines parallel to each other on a quartz substrate. A plurality of data lines arranged in parallel with the gate lines, and a thin film transistor connected to the intersection of the gate line and the data line, and a plurality of pixels connected to the drain terminal of the thin film transistor in a matrix form. An apparatus for inspecting line defects or pixel defects in a liquid crystal display panel, the line defects are inspected for disconnection, and thus the inspection can be easily conducted by conduction or non-conduction.
그리고 화소 결함은 오픈불량이나 단락불량으로 검사하게 되는데, 상기 화소 결함은 주사 타이밍 발생부를 화상 표시모드를 순차적으로 선택하여 선택된 화소에서 나타나는 출력 레벨 상태로 단락 불량을 용이하게 검사하게 되지만, 오픈 불량의 경우에는 각 화소 라인의 부유용량에 의하여 신호대 잡음비가 나빠 판정의 정밀도가 저하되므로 상기 부유용량을 완전히 방전하면서 검사하게 된다.The pixel defect is inspected as an open defect or a short circuit defect. The pixel defect is easily inspected for a short circuit defect in an output level state of the selected pixel by sequentially selecting the image display mode of the scanning timing generator. In this case, since the signal-to-noise ratio is poor due to the stray capacitance of each pixel line, the accuracy of the determination decreases, so that the stray capacitance is completely inspected.
상기 광신호를 이용하는 검사장치는 액정표시 패널의 얼룩 상태로 검사하는 것으로, 액정표시 패널에 편광판, 백 라이트, 카메라를 이용하여 액정표시 패널의 결함을 카메라를 통해서 명암을 취득함으로써 표시 얼룩 결함을 검사하게 되는 것이다.The inspection apparatus using the optical signal inspects the uneven state of the liquid crystal display panel, and inspects the uneven display defect by acquiring the contrast of the liquid crystal display panel through the camera using a polarizer, a backlight, and a camera. Will be done.
이와 같이 상기 표시 얼룩 결함으로 액정표시 패널 불량 유무를 검사하는 장치의 경우, 액정표시 패널에 광을 조사하는 백라이트 즉 음극선관의 불량이나 점등 이상 혹은 부분적으로 휘도가 떨어지는 경우, 이 휘도차에 의하여 액정표시 패널은 얼룩진 현상으로 나타나게 된다. 이때 검사자는 액정표시 패널에 나타나는 얼룩 현상으로 불량 처리하게 되어 있다.As described above, in the case of a device for inspecting whether a liquid crystal display panel is defective due to the display unevenness, when the backlight irradiates light to the liquid crystal display panel, that is, when the cathode ray tube is defective or abnormally lit or partially lowered in luminance, The display panel appears as a stained phenomenon. At this time, the inspector is inferior to the spot phenomenon appearing on the liquid crystal display panel.
물론, 액정표시 패널에 얼룩진 형태로 나타나게 되는 것은 불량으로 처리되는 것이 당연하다 할 수 있으나, 가령 백라이트 즉 다수개의 음극선관 중 어느 하나가 불량이나 점등 이상, 휘도 저하로 인하여 액정표시 패널에 이상이 없음에도 불구하고 계속해서 얼룩 현상으로 나타나게 될때, 검사자는 액정표시 패널을 불량으로 처리하게 되어 액정표시 패널의 불량률을 상승시키게 되어 결국 경제적인 손실을 초래하게 되는 문제점을 가지게 되었다.Of course, the appearance of the liquid crystal display panel in the form of a stain may be natural to be treated as a defect, for example, one of the plurality of cathode ray tubes, such as a defect or lighting abnormality, the luminance is not abnormal due to the lowered brightness. Nevertheless, when the stain is continuously present, the inspector treats the liquid crystal panel as a defect, thereby increasing the defect rate of the liquid crystal panel, thereby causing economic losses.
따라서 본 발명의 목적은 액정표시 패널의 불량 유무를 검사하기 이전에 백라이트의 이상 유무를 사전에 검사한 후 액정표시 패널의 불량 유무를 검사하도록 함으로써, 상기 백 라이트의 이상으로 인하여 야기되는 액정표시 패널의 불량률 감소 및 경제적인 손실을 최소화 하고자 하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to check whether there is a problem with the backlight before checking whether there is a defect in the liquid crystal display panel, and then check whether there is a problem with the liquid crystal display panel, thereby causing a problem of the backlight. The aim is to reduce defect rates and minimize economic losses.
상기의 목적을 실현하기 위하여 본 발명은 전원공급장치와; 상기 전원공급장치로부터 공급되는 구동전압을 공급 및 차단 구동하는 릴레이부와; 상기 릴레이부로부터 공급되는 구동전압에 의하여 점등하면서 광신호를 출력하는 백 라이트 부 와; 상기 백 라이트부로부터 조사되는 광신호의 조도를 검출하는 조도검출부와; 상기 조도검출부로부터 검출되는 조도신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 디지털신호 처리부와; 상기 디지털신호 처리부로부터 입력되는 신호를 받아 표시 및 시험 동작을 제어하는 컴퓨터로 구성하여서 된 것을 특징으로 한다.The present invention provides a power supply device for realizing the above object; A relay unit which supplies and cuts off driving voltage supplied from the power supply device; A backlight unit which outputs an optical signal while being turned on by a driving voltage supplied from the relay unit; An illuminance detection unit detecting an illuminance of the optical signal emitted from the backlight unit; A digital signal processor for converting an illuminance signal detected by the illuminance detector into a digital signal and outputting the digital signal; It is characterized in that the computer is configured to control the display and test operation by receiving the signal input from the digital signal processor.
도 1 은 본 발명 액정표시 패널 검사장치의 전체 블럭도1 is an overall block diagram of the liquid crystal display panel inspection apparatus of the present invention
도 2 는 본 발명 액정표시 패널 검사장치의 상세 회로도2 is a detailed circuit diagram of a liquid crystal display panel inspection device of the present invention.
도 3 은 본 발명 액정표시 패널 검사장치의 이상유무 표시도3 is a display of abnormality of the liquid crystal display panel inspection device of the present invention
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Explanation of symbols for the main parts of the drawings *
100; 전원공급부 110; 릴레이부100; A power supply unit 110; Relay part
120; 백 라이트부 130; 조도 검출부120; Backlight 130; Illumination detector
140; 디지털신호변환부 150; 컴퓨터140; A digital signal converter 150; computer
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부되는 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention.
도 1 은 본 발명 액정표시 패널 검사장치의 전체 블록도 이고, 도 2 는 본 발명 액정표시 패널 검사장치의 상세 회로도 로서, 장치에 안정된 구동전압을 공급하는 전원공급장치(100)와; 상기 전원공급장치(100)로부터 공급되는 구동전압을 공급 및 차단 구동하는 릴레이부(110)와; 상기 릴레이부(110)로부터 공급되는 구동전압에 의하여 점등되면서 광신호를 출력하는 백 라이트부(120)와; 상기 백 라이트부(120)로부터 조사되는 광신호의 조도를 검출하는 조도 검출부(130)와; 상기 조도검출부(130)로부터 검출되는 조도신호를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 디지털신호 처리부(140)와; 상기 디지털신호 처리부(140)로부터 입력되는 신호를 받아 표시 및 시험 동작을 제어하는 컴퓨터(150)로 구성된다.1 is an overall block diagram of a liquid crystal display panel inspection device of the present invention, and FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the liquid crystal display panel inspection device of the present invention, comprising: a power supply device 100 for supplying a stable driving voltage to the device; A relay unit 110 for supplying and blocking driving the driving voltage supplied from the power supply device 100; A backlight unit 120 outputting an optical signal while being turned on by a driving voltage supplied from the relay unit 110; An illuminance detector (130) for detecting illuminance of an optical signal emitted from the backlight unit (120); A digital signal processor 140 for converting the illuminance signal detected by the illuminance detector 130 into a digital signal and outputting the digital signal; The computer 150 is configured to receive a signal input from the digital signal processor 140 and control display and test operations.
상기 백 라이트부(120)는 음극선관으로 구성하되, 이 음극선관은 피액정표시 패널의 크기에 따라 장착 갯수를 가변 조절 가능하게 설치하게 된다.The backlight unit 120 may be configured as a cathode ray tube, and the cathode ray tube may be variably installed according to the size of the liquid crystal display panel.
상기 조도 검출부(130)는 광도전셀(Cds)소자로 구성되며, 상기 광도전셀(Cds)은 백 라이트부(120)의 전체의 광신호를 용이하게 검출할 수 있는 위치에 다수개를 설치하게 된다.The illuminance detection unit 130 is composed of a photoconductive cell (Cds) element, a plurality of the photoconductive cell (Cds) is installed in a position that can easily detect the entire optical signal of the backlight unit 120 Done.
상기 디지털 신호처리부(140)는 입력되는 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 A/D 변환기로 구성한다.The digital signal processor 140 is configured as an A / D converter that converts an input analog signal into a digital signal and outputs the digital signal.
상기 컴퓨터(150)는 상기 백 라이트 전체를 일시 제어하거나 순차적으로 제어하는 마이크로 프로세서와 상기 백라이트부(120)의 음극선관 갯수를 표시하는 모니터로 구성하게 된다.The computer 150 includes a microprocessor for temporarily controlling or sequentially controlling the entire backlight and a monitor for displaying the number of cathode ray tubes of the backlight unit 120.
상기와 같이 구성되는 본 발명은 전원공급부(100)로 부터 검사장치에 구동전압을 공급하고, 이어서 검사자가 피 액정표시 패널의 불량 유무를 검사하기에 앞서, 컴퓨터(150)를 통해서 피 액정표시 패널이 재치되는 백 라이트부(120)의 음극선관 중 어느 하나가 불량 이나 점등 이상, 휘도 저하를 검사하기 위하여 도 3 에 도시한 바와 같이 검사를 실행하게 되면 컴퓨터(150)의 마이크로 프로세서에서는 기설정된 알고리즘에 의하여 릴레이부(110)에 임의로 설정된 소정시간 동안 구동신호를 출력하게 된다.According to the present invention configured as described above, the driving voltage is supplied from the power supply unit 100 to the inspection apparatus, and then the inspector checks whether the liquid crystal display panel is defective or not through the computer 150. When any one of the cathode ray tubes of the mounted backlight unit 120 is inspected as shown in FIG. 3 in order to check for defects, lighting abnormalities, and luminance deterioration, the microprocessor of the computer 150 sets a predetermined algorithm. By the relay unit 110 to output a drive signal for a predetermined time set arbitrarily.
이때 상기 컴퓨터(150)에서는 기설정된 알고리즘에 의하여 상기 릴레이부(110)의 릴레이(RY1 - RY59)모두에 구동신호를 인가하거나, 또는 순차적으로 구동시키게 된다.At this time, the computer 150 applies a driving signal to all of the relays RY1 to RY59 of the relay unit 110 by a predetermined algorithm, or sequentially drives them.
따라서 상기 릴레이부(110)의 릴레이(RY1 - RY59)는 모두 또는 순차적으로 상기 릴레이 접점을 온시켜 전원공급부(100)로 부터 인가되는 구동전압을 백 라이트부(120)의 음극선관에 인가하여 모두 혹은 순차적으로 점등시키게 된다.Accordingly, the relays RY1 to RY59 of the relay unit 110 all or sequentially turn on the relay contacts to apply the driving voltage applied from the power supply unit 100 to the cathode ray tube of the backlight unit 120. Or it turns on sequentially.
이와 같이 상기 백 라이트부(120)의 음극선관을 점등시키는 과정에서 상기 백 라이트부(120)의 양측면 적소에 장착된 조도 검출부(130)의 광도전셀로 상기 점등되는 음극선관의 광신호를 검출하게 된다.As described above, in the process of turning on the cathode ray tube of the backlight unit 120, the photoconductive cell of the illuminance detector 130 mounted at both sides of the backlight unit 120 detects the optical signal of the illuminated cathode ray tube. Done.
상기 조도 검출부(130)에서 검출된 조도신호는 디지털신호 변환부(140)를 통해서 아날로그 신호를 디지털 신호롤 변환하여 컴퓨터(150)에 입력하게 되며, 상기 컴퓨터(150)에서는 기설정된 알고리즘에 의하여 입력되는 디지털 신호(검출된 조도신호)를 제어하여 모니터를 통해서 도 3 에 도시한 바와 같이 표시되는 백 라이트부(120)의 음극선관에 대하여 검출된 조도를 표시하게 된다.The illuminance signal detected by the illuminance detector 130 is converted into a digital signal through a digital signal converter 140 and is input to the computer 150, and the computer 150 is input by a predetermined algorithm. The digital signal (detected illuminance signal) is controlled to display the detected illuminance of the cathode ray tube of the backlight unit 120 displayed as shown in FIG. 3 through the monitor.
그러므로 검사자는 상기 컴퓨터(150)의 모니터에 표시되는 백 라이트의 음극선관에 조도상태를 보고, 상기 백 라이트부(120)에서 어느 음극선관에 이상이 발생하였는가를 쉽게 확인하게 된다.Therefore, the inspector easily checks the illumination state of the cathode ray tube of the backlight displayed on the monitor of the computer 150, and easily confirms which cathode ray tube has occurred in the backlight unit 120.
이때 확인 결과 백 라이트부(120)의 음극선관에 이상이 검출되지 않게 되면 검사자는 백 라이트부(120)에 이상이 없는가를 판단하여 별도의 이송장치로 부터 이송되는 피 액정표시 패널에 백 라이트를 조사하면서 액정표시 패널의 불량 유무를 검사할 수 있게 되는 것이다.At this time, if no abnormality is detected in the cathode ray tube of the backlight unit 120, the inspector determines whether there is no abnormality in the backlight unit 120, and applies the backlight to the liquid crystal display panel transferred from a separate transfer device. It is possible to inspect whether or not the LCD panel is defective while inspecting.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 액정표시 패널의 불량 유무를 검사하기 이전에 광신호를 조사하는 백라이트의 이상 유무 상태를 사전에 검사한 후, 이백 라이트의 이상이 없는 경우 액정표시 패널의 불량 유무 검사를 시작하도록 함으로써, 상기 백 라이트의 이상으로 인하여 야기되는 액정표시 패널의 불량 발생을 줄여 불필요한 경제적인 손실을 최소화할 수 있는 효과를 제공하게 되는 것이다.As described above, according to the present invention, after checking whether there is an abnormality of the backlight for irradiating an optical signal before checking whether there is a defect of the liquid crystal display panel, if there is no abnormality of the backlight, the liquid crystal display panel is inspected for defects. By starting to reduce the bad occurrence of the liquid crystal display panel caused by the abnormality of the backlight to provide an effect that can minimize unnecessary economic losses.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010003987A KR20020063371A (en) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | Lcd pannal tester |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020010003987A KR20020063371A (en) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | Lcd pannal tester |
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KR20020063371A true KR20020063371A (en) | 2002-08-03 |
Family
ID=27692583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020010003987A KR20020063371A (en) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | Lcd pannal tester |
Country Status (1)
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KR (1) | KR20020063371A (en) |
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