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KR200169536Y1 - Lcd 모듈 검사용 지그 - Google Patents

Lcd 모듈 검사용 지그 Download PDF

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KR200169536Y1
KR200169536Y1 KR2019990014603U KR19990014603U KR200169536Y1 KR 200169536 Y1 KR200169536 Y1 KR 200169536Y1 KR 2019990014603 U KR2019990014603 U KR 2019990014603U KR 19990014603 U KR19990014603 U KR 19990014603U KR 200169536 Y1 KR200169536 Y1 KR 200169536Y1
Authority
KR
South Korea
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module
circuit board
base plate
lcd
inspecting
Prior art date
Application number
KR2019990014603U
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English (en)
Inventor
박형주
Original Assignee
세경반도체주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere

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Abstract

본 고안은 LCD 모듈 검사용 지그에 관한 것으로, 수평방향으로 전후이동가능하게 설치된 베이스 플레이트(1)의 상부에 회로기판(2)을 고정하도록 된 받침대(3)가 설치되고, 상기 베이스 플레이트(1)의 일측에는 베이스 플레이트(1)를 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 하부 고정레버(4)가 설치되며, 상기 베이스 플레이트(1)의 상부에 수직방향으로 구동수단(5)이 설치되어 그 측부에 회전가능하게 설치된 작동레버(6)에 의해 전기적으로 작동되는 한편, 상기 구동수단(5)의 상부에 수평방향으로 지지플레이트(7)가 설치되고, 상기 지지플레이트(7)의 하부면에 전후방향으로 슬라이딩가능하도록 된 모듈(8)이 LCD(9)를 부착한 상태로 설치되며, 상기 모듈(8)의 일측에 모듈(8)을 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 상부 고정레버(10)가 설치된 구조로 되어, 회로기판의 모델에 따라 장비 전체를 교체할 필요없이 간편하게 모듈만 교체하여 사용할 수 있게 됨으로써 회로기판 점검시의 작업성 및 생산성을 향상시키고, 또한 회로기판을 점검하는데 소요되는 시간 및 비용을 현저히 절감시킬 수 있는 것이다.

Description

LCD 모듈 검사용 지그{A zig for testing a LCD module}
본 고안은 회로기판을 검사하는 장치에 관한 것으로, 특히 다양한 종류의 회로기판을 장비의 교환없이 간편하게 검사함으로써 비용 및 노력을 절감할 수 있도록 한 LCD 모듈 검사용 지그에 관한 것이다.
일반적으로 각종 전기부품이나 전자부품의 경우에는 반드시 완제품의 전기적인 단락유무나 혹은 다른 결함이 있는 지를 반드시 확인하도록 되어 있는 바, 이를 위하여 다양한 종류의 검사용 지그가 사용되고 있다.
여기서, 각종 전자장비에 들어가는 회로기판의 경우에는 그 검사항목이 많을 뿐만아니라 복잡한 구조를 이루기 때문에 여러 가지의 검사용 지그를 이용하여 정밀하게 검사를 하여야 하는 것이다.
그런데, 회로기판의 불량 여부를 판별하는 종래의 검사용 지그는 통상 하나의 모델에 대해서만 검사가 가능하도록 제작되기 때문에 회로기판의 모델이 바뀌게 되면 그에 맞추어 검사용 지그를 다시 제작하여야 하는 어려움이 있었고, 이에 따라 많은 시간과 비용 및 노력이 투여됨으로써 결국 작업성과 생산성을 저하시키게 되는 등의 제반 문제점이 있었다.
이에 본 고안은 상기한 바의 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 회로기판의 다양한 모델에 적합한 교체형 모듈을 이용함으로써 장비 전체를 교환하지 않고도 보다 간편하게 회로기판을 검사할 수 있도록 한 LCD 모듈 검사용 지그를 제공함에 그 목적이 있는 것이다.
상기한 바의 목적을 달성하기 위한 본 고안은, 수평방향으로 전후이동가능하게 설치된 베이스 플레이트의 상부에 회로기판을 고정하도록 된 받침대가 설치되고, 상기 베이스 플레이트의 일측에는 베이스 플레이트를 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 하부 고정레버가 설치되며, 상기 베이스 플레이트의 상부에 수직방향으로 구동수단이 설치되어 그 측부에 회전가능하게 설치된 작동레버에 의해 전기적으로 작동되는 한편, 상기 구동수단의 상부에 수평방향으로 지지플레이트가 설치되고, 상기 지지플레이트의 하부면에 전후방향으로 슬라이딩가능하도록 된 모듈이 LCD를 부착한 상태로 설치되며, 상기 모듈의 일측에 모듈을 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 상부 고정레버가 설치된 구조이다.
즉, 상기의 구조로 이루어진 LCD 모듈 검사용 지그는 검사할 회로기판을 상기 받침대에 고정시킨 상태에서 상기 구동수단에 설치된 작동레버를 하부방향으로 회전시키고, 이에 따라 상기 모듈이 설치된 지지플레이트가 하강하면서 모듈과 회로기판이 접촉되며, 이와 동시에 모듈에 설치된 LCD가 점등되면서 회로기판의 불량 유무를 판별할 수 있도록 된 것이다.
그리고, 상기 LCD 모듈 검사용 지그는 회로기판의 모델이 변경된 경우에는 모듈을 고정하는 상부 고정레버를 회전시켜 회로기판에 적합한 모듈로 교체할 수 있도록 된 것이다.
따라서, 상기와 같이 회로기판의 모델에 따라 장비 전체를 교체할 필요없이 간편하게 모듈만 교체하여 사용할 수 있게 됨으로써 회로기판 점검시의 작업성 및 생산성을 향상시키고, 또한 회로기판을 점감하는데 소용되는 시간 및 비용을 현저히 절감시킬 수 있는 것이다.
도 1은 본 고안에 따른 LCD 모듈 검사용 지그를 나타낸 상태도,
도 2는 본 고안에 따른 LCD 모듈 검사용 지그의 작동구조를 나타낸 상태도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 베이스 플레이트 2 : 회로기판
3 : 받침대 4 : 하부 고정레버
5 : 구동수단 6 : 작동레버
7 : 지지플레이트 8 : 모듈
9 : LCD 10 : 상부 고정레버
11 : LCD 모듈 검사용 지그
이하 본 고안을 첨부된 예시도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 고안에 따른 LCD 모듈 검사용 지그를 도시한 상태도이고, 도 2는 본 고안에 따른 LCD 모듈 검사용 지그의 작동구조를 도시한 상태도로서, 수평방향으로 전후이동가능하게 설치된 베이스 플레이트(1)의 상부에 회로기판(2)을 고정하도록 된 받침대(3)가 설치되고, 상기 베이스 플레이트(1)의 일측에는 베이스 플레이트(1)를 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 하부 고정레버(4)가 설치되며, 상기 베이스 플레이트(1)의 상부에 수직방향으로 구동수단(5)이 설치되어 그 측부에 회전가능하게 설치된 작동레버(6)에 의해 전기적으로 작동되는 한편, 상기 구동수단(5)의 상부에 수평방향으로 지지플레이트(7)가 설치되고, 상기 지지플레이트(7)의 하부면에 전후방향으로 슬라이딩가능하도록 된 모듈(8)이 LCD(9)를 부착한 상태로 설치되며, 상기 모듈(8)의 일측에 모듈(8)을 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 상부 고정레버(10)가 설치된 구조이다.
여기서, 상기의 구조로 이루어진 LCD 모듈 검사용 지그(11)의 특징은 상부에 승하강가능하게 설치된 모듈(8)을 회로기판(2)의 접촉시킴으로써 회로기판(2)을 검사하되, 상기 모듈(8)은 상부 고정레버(10)에 의해 그 고정이 해제되면서 외측으로 슬라이딩되어 교체될 수 있도록 된 것이다.
즉, 상기 LCD 모듈 검사용 지그(11)의 작동구조는, 상기 베이스 플레이트(1)의 하부 고정레버(4)를 돌려 베이스 플레이트(1)를 외측으로 이동시킨 후, 상기 베이스 플레이트(1)의 받침대(3)에 검사할 회로기판(2)을 고정시켜 다시 베이스 플레이트(1)를 원래의 위치에 고정시키고, 이 상태에서 상기 지지플레이트(7)에 고정된 모듈(8)을 상부 고정레버(10)를 회전시켜 역시 외측으로 이동시키고, 상기 지지플레이트(7)에 적합한 모듈(8)을 고정시켜 원래의 위치로 이동시키며, 이렇게 셋팅한 후 상기 작동레버(6)를 하부방향으로 회전시킴으로써 상기 지지플레이트(7)를 하강시키는 것이다.
따라서, 상기 지지플레이트(7)의 하강에 따라 상기 모듈(8)과 회로기판(2)이 접촉되면서 모듈(8)의 LCD(9)가 점멸되어 회로기판(2)의 불량 유무를 판별할 수 있도록 된 것이다.
다시말하자면, 상기 LCD 모듈 검사용 지그(11)는 검사할 회로기판(2)을 상기 받침대(3)에 고정시킨 상태에서 상기 구동수단(5)에 설치된 작동레버(6)를 하부방향으로 회전시키고, 이에 따라 상기 모듈(8)이 설치된 지지플레이트(7)가 하강하면서 모듈(8)과 회로기판(2)이 접촉되며, 이와 동시에 모듈(8)에 설치된 LCD(9)가 점등되면서 회로기판(2)의 불량 유무를 판별할 수 있도록 된 것이다.
한편, 검사할 회로기판(2)의 모델이 변경된 경우에는 상기 상부 고정레버(10)를 회전시켜 회로기판(2)에 적합한 모듈(8)로 바꿔준 후, 다시 제위치에 고정시켜 작업을 수행할 수 있도록 된 것이다.
따라서, 상기와 같이 회로기판(2)의 모델에 따라 다순히 모듈(8)만 교체하여 제품을 검사할 수 있게 되어, 장비의 신뢰성을 향상시킴과 더불어 검사과정을 간편하게 수행할 수 있는 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 고안에 따른 LCD 모듈 검사용 지그에 의하면, 회로기판의 모델에 따라 장비 전체를 교체할 필요없이 간편하게 모듈만 교체하여 사용할 수 있게 됨으로써 회로기판 점검시의 작업성 및 생산성을 향상시키고, 또한 회로기판을 점검하는데 소요되는 시간 및 비용을 현저히 절감시킬 수 있는 효과가 있는 것이다.

Claims (1)

  1. 수평방향으로 전후이동가능하게 설치된 베이스 플레이트(1)의 상부에 회로기판(2)을 고정하도록 된 받침대(3)가 설치되고, 상기 베이스 플레이트(1)의 일측에는 베이스 플레이트(1)를 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 하부 고정레버(4)가 설치되며, 상기 베이스 플레이트(1)의 상부에 수직방향으로 구동수단(5)이 설치되어 그 측부에 회전가능하게 설치된 작동레버(6)에 의해 전기적으로 작동되는 한편, 상기 구동수단(5)의 상부에 수평방향으로 지지플레이트(7)가 설치되고, 상기 지지플레이트(7)의 하부면에 전후방향으로 슬라이딩가능하도록 된 모듈(8)이 LCD(9)를 부착한 상태로 설치되며, 상기 모듈(8)의 일측에 모듈(8)을 고정하거나 이동시킬 수 있도록 된 상부 고정레버(10)가 설치된 LCD 모듈 검사용 지그.
KR2019990014603U 1999-07-22 1999-07-22 Lcd 모듈 검사용 지그 KR200169536Y1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100460056B1 (ko) * 2000-12-30 2004-12-04 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 심플 패널 테스트 지그

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100460056B1 (ko) * 2000-12-30 2004-12-04 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 심플 패널 테스트 지그

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