Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

KR101358256B1 - Array substrate for liquid crystal display device - Google Patents

Array substrate for liquid crystal display device Download PDF

Info

Publication number
KR101358256B1
KR101358256B1 KR1020070053179A KR20070053179A KR101358256B1 KR 101358256 B1 KR101358256 B1 KR 101358256B1 KR 1020070053179 A KR1020070053179 A KR 1020070053179A KR 20070053179 A KR20070053179 A KR 20070053179A KR 101358256 B1 KR101358256 B1 KR 101358256B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
lightning rod
rod pattern
crystal display
wiring
Prior art date
Application number
KR1020070053179A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20080105501A (en
Inventor
강성구
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020070053179A priority Critical patent/KR101358256B1/en
Publication of KR20080105501A publication Critical patent/KR20080105501A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101358256B1 publication Critical patent/KR101358256B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426Layout of electrodes and connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)

Abstract

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 어레이기판 검사 공정시 발생되는 정전기 등의 불필요한 전하를 용이하게 제거할 수 있는 액정표시장치용 어레이기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a liquid crystal display device capable of easily removing unnecessary charges such as static electricity generated during an array substrate inspection process.

본 발명의 특징은 외관부 피뢰침패턴이 형성된 프로브 테스트배선과 상기 외관부 피뢰침패턴과 대응되는 내관부 피뢰침패턴을 테스트패드에 형성하는 것이다. A feature of the present invention is to form a probe test wiring in which an external lightning rod pattern is formed and an inner tube lightning rod pattern corresponding to the external lightning rod pattern on the test pad.

이로 인하여, 오토 프로브(auto probe) 검사 공정 중 니들프레임의 접촉핀을 상기 테스트패드에서 분리시키는 과정에서 발생되는 정전기를 상기 외관부 및 내관부 피뢰침패턴을 통해 방전 제거할 수 있어, 박막트랜지스터의 파괴나 게이트 및 데이터배선의 단선 및 단락 불량으로 액정표시장치 화면에 크로스토크(cross talk)나 잔상 발생을 미연에 방지하게 된다. Accordingly, the static electricity generated in the process of separating the contact pin of the needle frame from the test pad during the auto probe inspection process can be discharged and discharged through the outer and inner tube lightning arrester patterns, thereby destroying the thin film transistor. In addition, the disconnection and short-circuit of the gate and data wiring may prevent cross talk or afterimage on the LCD screen.

오토 프로브, 니들프레임, 테스트패드, 액정표시장치 Auto probe, needle frame, test pad, liquid crystal display

Description

액정표시장치용 어레이기판{Array substrate for liquid crystal display device} Array substrate for liquid crystal display device

도 1은 액정표시장치용 액정셀 공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도.1 is a process flowchart showing a liquid crystal cell process for a liquid crystal display step by step.

도 2는 일반적인 소형 액정표시장치용 액정셀의 오토 프로브(auto probe)공정의 일예를 개략적으로 도시한 도면.FIG. 2 is a view schematically showing an example of an auto probe process of a liquid crystal cell for a general small liquid crystal display device; FIG.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 소형 액정셀을 개략적으로 도시한 평면도.3 is a plan view schematically showing a small liquid crystal cell according to an embodiment of the present invention.

도 4a ~ 4b는 테스트패드의 내관부 피뢰침패턴의 다양한 구조에 대해 개략적으로 도시한 도면.4a to 4b schematically illustrate various structures of an inner tube lightning rod pattern of a test pad;

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art

107 : 테스트패드 109 : 내관부 피뢰침패턴107: test pad 109: internal lightning rod pattern

130 : 프로브 테스트배선 131 : 외관부 피뢰침패턴130: probe test wiring 131: external lightning rod pattern

GP, DP : 게이트 및 데이터패드GP, DP: Gates and Data Pads

GL, DL : 게이트 및 데이터배선GL, DL: Gate and Data Wiring

AD : 액티브영역 PD : 패드부AD: Active area PD: Pad part

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 어레이기판 검사 공정시 발생되는 정전기 등의 불필요한 전하를 용이하게 제거할 수 있는 액정표시장치용 어레이기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a liquid crystal display device capable of easily removing unnecessary charges such as static electricity generated during an array substrate inspection process.

일반적으로 널리 사용되고 있는 표시장치들 중의 하나인 CRT(cathode ray tube)는 TV를 비롯해서 계측기기, 정보단말기기 등의 모니터에 주로 이용되어 오고 있으나, CRT 자체의 큰 무게나 부피로 인하여 전자 제품의 소형화, 경량화의 요구에 적극 대응할 수 없었다. Cathode ray tube (CRT), which is one of the widely used display devices, has been mainly used for monitors such as TVs, measuring devices, and information terminal devices. However, due to the large weight or volume of CRT itself, the miniaturization of electronic products It could not respond actively to the demand for weight reduction.

이러한 CRT를 대체하기 위해 소형, 경량화의 장점을 갖고 있는 액정표시장치(liquid crystal display device : LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel device : PDP) 등의 평판표시장치(flat panel display)가 활발하게 개발되어 왔다. In order to replace the CRT, flat panel displays such as liquid crystal display devices (LCDs) and plasma display panel devices (PDPs), which have advantages of small size and light weight, are actively used. Has been developed.

이중, 액정표시장치는 액정을 사이에 두고 한쌍의 투명기판을 대면 합착시킨 액정패널을 필수적인 구성요소로 갖추고 있다.Among them, the liquid crystal display device has a liquid crystal panel in which a pair of transparent substrates are bonded together with liquid crystals interposed therebetween as an essential component.

도 1은 액정표시장치용 액정패널의 제조공정을 공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도이다. 1 is a process flowchart showing a process step by step of a manufacturing process of a liquid crystal panel for a liquid crystal display device.

도시한 바와 같이, 제 1 단계(St 1)는, 컬러필터기판인 상부기판과 어레이기판인 하부기판을 각각 형성한 후, 배향막을 도포하기 전에 기판 상에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 과정으로 초기세정하는 단계이다.As illustrated, the first step St 1 is a process for removing foreign substances that may exist on the substrate after forming the upper substrate as the color filter substrate and the lower substrate as the array substrate, before applying the alignment layer. Initial cleaning

제 2 단계(St 2)는, 상기 컬러필터기판과 어레이기판 상에 배향막을 형성하는 단계이며, 제 3 단계(St 3)는, 상기 컬러필터기판과 어레이기판 사이에 개재될 액정이 새지 않도록 실패턴을 인쇄하고, 상기 컬러필터기판과 어레이기판 사이의 갭을 정밀하고 균일하게 유지하기 위해 일정한 크기의 스페이서를 산포하는 공정이다. The second step St 2 is a step of forming an alignment layer on the color filter substrate and the array substrate, and the third step St 3 prevents the liquid crystal to be interposed between the color filter substrate and the array substrate. A process of printing a pattern and dispersing a spacer having a constant size to precisely and uniformly maintain a gap between the color filter substrate and the array substrate.

제 4 단계(St 4)는, 상기 양 기판 중 선택된 한 기판 상에 액정을 적하하는 단계이며, 제 5 단계(St 5)는, 상기 컬러필터기판과 어레이기판의 합착공정 단계이며 이후, 상기 합착된 기판 상태로 보조 검사 공정을 실시하는 제 6 단계(St 6)를 진행한다. The fourth step St 4 is a step of dropping the liquid crystal onto one of the selected substrates, and the fifth step St 5 is a step of bonding the color filter substrate and the array substrate. The sixth step (St 6) for performing the auxiliary inspection process in the state of the substrate.

상기 보조 검사 공정은 액정셀에 구성된 게이트 및 데이터배선에 셀 외곽부에 형성된 검사패드를 통해 전압을 인가하면서 육안관측 또는 현미경 관측을 통해 진행된다. The auxiliary inspection process is performed through visual observation or microscopic observation while applying a voltage to a gate and a data wiring formed in the liquid crystal cell through an inspection pad formed at an outer portion of the cell.

상기 보조 검사 공정은 화면상에 나타나는 얼룩 등을 관찰하는 목시검사로 대형이물질이나, 러빙불량에 의한 화면상에 발생될 수 있는 얼룩을 검사할 수 있다. The auxiliary inspection process is an visual inspection for observing stains, etc. appearing on the screen, and may inspect stains that may occur on the screen due to large foreign matter or rubbing defects.

그러나, 상기와 같은 보조 검사 공정을 통해 검출될 수 있는 불량요인은 한계가 있다. 예를 들면 단락 및 단선과 같은 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect) 등은 검출이 불가능하다. However, there is a limit to the defects that can be detected through the secondary inspection process as described above. For example, line defects and point defects such as short circuits and disconnections cannot be detected.

제 7 단계(St 7)는, 상기 기판을 셀 단위로 절단하는 단계이며, 마지막으로 액정패널의 주 검사 공정으로, 상기 제 6 단계(St 6)에서의 보조 검사 공정보다 좀 더 정밀한 검사 공정으로 전기신호를 인가하는 방식의 오토 프로브(auto probe)검사가 이루어진다. The seventh step St 7 is a step of cutting the substrate in cell units, and finally, a main inspection process of the liquid crystal panel, and a more precise inspection process than the auxiliary inspection process in the sixth step St 6. The auto probe inspection of the electric signal application method is performed.

상기 오토 프로브 검사는 상기 보조 검사 공정에서 검출되지 못한 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect)등을 검출하기 위한 공정으로 외부로 노출된 검사용 단자에 전압을 공급하여 실질적으로 액정패널을 모의로 구동시킴으로써 각각의 불량을 검출하게 된다. The auto probe inspection is a process for detecting line defects and point defects that are not detected in the auxiliary inspection process, and substantially simulates the liquid crystal panel by supplying voltage to the inspection terminals exposed to the outside. Each defect is detected by driving with.

상기 오토 프로브 검사 공정을 거쳐 양질의 액정셀을 선별하게 된다.The liquid crystal cell of good quality is selected through the auto probe inspection process.

도 2는 일반적인 소형 액정표시장치용 액정셀의 오토 프로브(auto probe)공정의 일예를 개략적으로 도시한 도면이다. 2 is a view schematically showing an example of an auto probe process of a liquid crystal cell for a general small liquid crystal display device.

도시한 바와 같이, 액정셀(10)은 게이트 및 데이터배선(미도시)을 통해 복수의 화소가 매트릭스 형태로 배열되는 하부의 어레이기판(1)과 상부의 컬러필터기판(3)이 액정층(미도시)을 사이에 두고 서로 대면 합착되어 있으며 이때, 어레이기판(1)은 컬러필터기판(3) 보다 면적이 커서 합착 시, 어레이기판(1)의 일측 가장자리가 외부로 노출된다. As illustrated, the liquid crystal cell 10 includes a lower array substrate 1 and an upper color filter substrate 3 in which a plurality of pixels are arranged in a matrix through gates and data wirings (not shown). (Not shown) are bonded to each other with the array substrate 1 interposed therebetween. At this time, the array substrate 1 has a larger area than the color filter substrate 3 so that one edge of the array substrate 1 is exposed to the outside.

이렇듯, 외부로 노출된 어레이기판(1)의 일측 가장자리에는 상기 게이트 및 데이터배선(미도시)과 접속되는 복수개의 게이트 및 데이터패드(GP, DP)가 존재한다.As such, there are a plurality of gates and data pads GP and DP connected to the gate and the data line (not shown) at one edge of the array substrate 1 exposed to the outside.

상기 액정셀(10)은 구동부(미도시)가 결합되기 전에 상기 게이트 및 데이터패드(GP, DP)를 통해 상기 게이트 및 데이터배선(미도시)에 테스트신호를 인가함으로써, 액정셀(10)의 이상여부를 검사하게 된다. The liquid crystal cell 10 applies a test signal to the gate and the data wiring (not shown) through the gate and the data pads GP and DP before the driving unit (not shown) is coupled to the liquid crystal cell 10. Check for abnormalities.

상기 테스트신호의 인가는 게이트 및 데이터패드(GP, DP)에 연결된 테스트패드(7)를 통해 이루어지는데, 이러한 오토 프로브(auto probe)검사 공정을 진행하기 위해서 상기 테스트패드(7)에 니들프레임(20)의 접촉핀(21)을 접촉시켜 각각의 게이트 및 데이터배선(미도시)에 테스트신호를 인가하여 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정셀(10)의 불량여부를 확인하게 된다.The test signal is applied through a test pad 7 connected to gates and data pads GP and DP. In order to proceed with the auto probe inspection process, a needle frame (or a needle frame) is applied to the test pad 7. By contacting the contact pins 21 of 20), test signals are applied to the respective gates and data wirings (not shown) to check the lighting state of each pixel to check whether the liquid crystal cell 10 is defective.

그러나, 상기와 같은 구조의 액정셀(10)에서는 다음과 같은 문제가 발생된다. However, the following problem occurs in the liquid crystal cell 10 having the above structure.

즉, 상기 오토 프로브 검사를 통해 액정셀(10)의 불량여부를 확인 한 후, 상기 테스트패드(7)로부터 상기 니들프레임(20)의 접촉핀(21)을 분리시키는 순간에 정전기가 발생되는 것이다. That is, after checking whether the liquid crystal cell 10 is defective through the auto probe inspection, static electricity is generated when the contact pin 21 of the needle frame 20 is separated from the test pad 7. .

이러한 정전기는 박막트랜지스터의 파괴나 게이트 및 데이터배선(미도시)의 단선 및 단락 불량으로 액정표시장치 화면에 크로스토크(cross talk)나 잔상을 발생시켜 액정표시장치의 화질을 저하시키는 중요한 원인이 된다. Such static electricity is an important cause of deterioration of the image quality of the liquid crystal display due to cross talk or afterimage on the screen of the liquid crystal display due to the destruction of the thin film transistor or the disconnection and short circuit of the gate and data wiring (not shown). .

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 어레이기판 검사 공정 시 발생되는 정전기를 방전 제거하여, 박막트랜지스터의 파괴나 게이트 및 데이터배선의 단선 및 단락 불량으로 액정표시장치 화면에 크로스토크(cross talk)나 잔상 발생을 미연에 방지하고자 하는 것을 목적으로 한다. The present invention is to solve the above problems, by eliminating the static electricity generated during the array substrate inspection process, the cross-talk (crosstalk) on the screen of the liquid crystal display due to the destruction of the thin film transistor or the disconnection and short circuit of the gate and data wiring It aims to prevent the occurrence of talk or afterimage in advance.

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 각각 액티브영역과 비액티브영역을 포함하는 기판과; 상기 액티브영역 상에 서로 교차하게 구성된 복수개의 제 1 및 제 2 배선과; 상기 제 1 및 제 2 배선이 교차하는 영역에 구성된 구동소자와; 상기 제 1 배선과 연결되며, 상기 제 1 배선의 끝단에 각각 구성된 제 1 패드와; 상기 제 1 패드와 각각 연결되어 제 1 방향으로 형성되며, 제 1 피뢰침패턴이 형성된 테스트패드와; 상기 제 1 방향에 수직한 제 2 방향으로 구성되며, 제 2 피뢰침패턴이 형성된 프로브 테스트배선을 포함하는 액정표시장치용 어레이기판을 제공한다. In order to achieve the object as described above, the present invention comprises: a substrate comprising an active region and an inactive region, respectively; A plurality of first and second wirings arranged on the active area to cross each other; A driving element configured in an area where the first and second wirings cross each other; A first pad connected to the first wiring and configured at each end of the first wiring; A test pad connected to the first pad and formed in a first direction and having a first lightning rod pattern; The present invention provides an array substrate for a liquid crystal display device comprising a probe test wiring formed in a second direction perpendicular to the first direction and having a second lightning rod pattern formed thereon.

이때, 상기 제 2 배선과 연결되는 제 2 패드는 상기 제 1 패드와 평행하게 형성되는 것을 특징으로 하며, 상기 프로브 테스트배선은 상기 각 테스트패드의 일측에 인접하여 구성되는 것을 특징으로 한다. In this case, the second pad connected to the second wiring may be formed in parallel with the first pad, and the probe test wiring may be configured to be adjacent to one side of each test pad.

또한, 상기 제 1 및 제 2 피뢰침패턴은 서로 대향되며, 일정간격 이격하여 구성하는 것을 특징으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 피뢰침패턴은 다수개가 구성되는 것을 특징으로 한다. In addition, the first and second lightning rod patterns are opposed to each other, characterized in that configured to be spaced apart by a predetermined interval, characterized in that the plurality of first and second lightning rod patterns are configured.

이때, 상기 테스트패드는 도전층과, 상기 도전층 상부에 형성된 투명전극층으로 구성되는 것을 특징으로 하며, 상기 제 2 피뢰침패턴은 상기 도전층을 연장하여 형성하거나, 상기 제 2 피뢰침패턴은 상기 투명전극층을 연장하여 형성하는 것을 특징으로 한다. In this case, the test pad may include a conductive layer and a transparent electrode layer formed on the conductive layer, wherein the second lightning rod pattern is formed by extending the conductive layer, or the second lightning rod pattern is the transparent electrode layer. It is characterized by extending to form.

이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정셀을 개략적으로 도시한 평면도이다. 3 is a plan view schematically illustrating a liquid crystal cell according to an exemplary embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 어레이기판(110) 상에는 게이트배선(GL)및 데이터배선(DL)이 구비된 액티브영역(AD)과 게이트 및 데이터패드(GP, DP) 그리고 각 게이트 및 데이터패드(GP, DP)에 연결된 테스트패드(107)가 구성된 패드부 영역(PD)으로 구분된다. As shown in the drawing, an active area AD including gate lines GL and data lines DL, gates and data pads GP and DP, and respective gates and data pads GP and DP are provided on the array substrate 110. The test pad 107 connected to) is divided into a configured pad part area PD.

상기 액티브영역(AD)의 게이트 및 데이터배선(GL, DL)은 서로 수직하게 교차하며, 상기 두 배선(GL, DL)의 교차지점에는 박막트랜지스터가 구성되며, 상기 게이트 및 데이터패드(GP, DP)는 상기 게이트 및 데이터배선(GL, DL)과 연결되어, 상기 게이트 및 데이터배선(GL, DL)에 각각의 신호를 인가하게 된다.The gate and the data lines GL and DL of the active area AD vertically cross each other, and a thin film transistor is formed at the intersection of the two lines GL and DL, and the gate and the data pads GP and DP. ) Is connected to the gate and data lines GL and DL to apply respective signals to the gate and data lines GL and DL.

이때, 상기 게이트 및 데이터패드(GP, DP)에서 연결된 테스트패드(107)는 상기 데이터배선(DL)과 평행하게 구성되며, 상기 테스트패드(107)와 수직하게 상기 패드부 영역(PD)의 길이방향을 따라서는 프로브 테스트배선(130)을 구성한다. In this case, the test pad 107 connected to the gate and the data pads GP and DP is configured to be parallel to the data line DL, and the length of the pad portion region PD is perpendicular to the test pad 107. Probe test wiring 130 is configured along the direction.

이때, 상기 프로브 테스트배선(130)에는 외관부 피뢰침패턴(131)을 형성하며, 상기 각 테스트패드(107)에는 내관부 피뢰침패턴(109)을 형성하는데, 상기 외관부 및 내관부 피뢰침패턴(131, 109)은 서로 대향되도록 일정간격 이격하여 형성한다.In this case, an external lightning rod pattern 131 is formed on the probe test wiring 130, and an inner tube lightning rod pattern 109 is formed on each test pad 107. , 109 are formed spaced apart from each other to face each other.

이때, 자세히 도시하지는 않았지만 상기 박막트랜지스터는 게이트전극, 소스 및 드레인전극, 액티브층, 오믹콘택층 등으로 구성된다. In this case, although not shown in detail, the thin film transistor includes a gate electrode, a source and drain electrode, an active layer, an ohmic contact layer, and the like.

이때, 박막트랜지스터는 상기 게이트배선(GL)을 통해 게이트전극에 게이트 신호가 인가되면 상기 데이터배선(DL)에 인가된 데이터신호가 액티브층을 통해 소 스전극에서 드레인전극으로 전달되도록 동작한다. In this case, when the gate signal is applied to the gate electrode through the gate line GL, the thin film transistor is operated such that the data signal applied to the data line DL is transferred from the source electrode to the drain electrode through the active layer.

이를 통해서 액정(미도시)의 분자배열을 변화시키게 되고, 각 화소별로 인가된 신호에 따라 액정표시장치의 화상을 컨트롤함으로써 화상을 구현하게 된다. Through this, the molecular arrangement of the liquid crystal (not shown) is changed, and the image is realized by controlling the image of the liquid crystal display device according to the signal applied to each pixel.

따라서, 상기 각 게이트 및 데이터배선(GL, DL)과 박막트랜지스터가 제대로 동작하는지 여부를 판단할 수 있도록 다양한 테스트 공정을 수행하게 되는데, 이중 상기 게이트 및 데이터패드(GP, DP)에 연결된 테스트패드(107)에 니들프레임(미도시)의 접촉핀(미도시)을 접촉시켜 각각의 게이트 및 데이터배선(GL, DL)에 테스트신호를 인가하여 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정셀의 불량여부를 검사하게 된다.Accordingly, various test processes are performed to determine whether each of the gates, the data lines GL and DL, and the thin film transistors operate properly. The test pads connected to the gates and the data pads GP and DP may be used. 107) by contacting the contact pin (not shown) of the needle frame (not shown) to apply a test signal to each gate and data wiring (GL, DL) to determine the lighting state of each pixel to determine whether the liquid crystal cell Will be examined.

이때, 상기 검사 공정이 완료된 후, 상기 니들프레임(미도시)의 접촉핀(미도시)을 상기 테스트패드(107)에서 분리시키는 과정에서 정전기가 발생되는데, 상기 정전기는 상기 테스트패드(107)에 구성된 내관부 피뢰침패턴(109)을 통해 상기 프로브 테스트배선(130)의 외관부 피뢰침패턴(131)으로 옮겨져 방전되거나 중성화 되게 된다. At this time, after the inspection process is completed, the static electricity is generated in the process of separating the contact pin (not shown) of the needle frame (not shown) from the test pad 107, the static electricity to the test pad 107 The inner lightning rod pattern 109 is configured to be transferred to the external lightning rod pattern 131 of the probe test wiring 130 to be discharged or neutralized.

이를 좀더 자세히 설명하면, 상기 니들프레임(미도시)의 접촉핀(미도시)을 상기 테스트패드(107)로부터 분리시키는 과정에서 발생되는 정전기는 상기 테스트패드(107)의 내관부 피뢰침패턴(109) 부분으로 집중되는데, 이는 도체(導體)의 표면에 뾰족한 곳이 있을 때 그 부분에 전기가 집중되는 첨단방전(point discharge) 현상으로, 지붕위의 피뢰침도 이 현상을 이용하여 만든다. In more detail, the static electricity generated in the process of separating the contact pin (not shown) of the needle frame (not shown) from the test pad 107 is the inner lightning rod pattern 109 of the test pad 107. It is concentrated in a part, which is a point discharge phenomenon in which electricity is concentrated at a point on the surface of a conductor, and a lightning rod on the roof is also used.

이렇듯, 테스트패드(107)의 내관부 피뢰침패턴(109)에 집중된 정전기는 도체 표면으로 전류가 집중되며, 모서리 부분으로 전류가 집중되어 흐르는 표피효과(skin effect)에 의해 인접한 상기 프로브 테스트배선(130)의 외관부 피뢰침패턴(131)으로 흐르게 되고, 상기 외관부 피뢰침패턴(131)으로 전가된 정전기는 상기 프로브 테스트배선(130)을 통해 방전되는 것이다. As such, the static electricity concentrated on the inner lightning rod pattern 109 of the test pad 107 is concentrated on the conductor surface, and the current is concentrated on the corner portion. ) Flows to the external lightning rod pattern 131, and the static electricity transferred to the external lightning rod pattern 131 is discharged through the probe test wiring 130.

한편, 상기 내관부 피뢰침패턴(109)은 상기 테스트패드(107)의 일측 가장자리에서 평면도 상으로 1개가 돌출되도록 도시하였으나, 이는 정전기의 빠른 방전을 위해 다수개가 구성되어도 된다. On the other hand, the inner tube lightning rod pattern 109 is shown so that one is projected on the plan view from one edge of the test pad 107, which may be configured for a rapid discharge of static electricity.

도 4a ~ 4b는 테스트패드의 내관부 피뢰침패턴의 다양한 구조에 대해 개략적으로 도시한 도면이다. 4A to 4B schematically illustrate various structures of an inner tube lightning rod pattern of a test pad.

도 4a에 도시한 바와 같이, 테스트패드(107)는 상기 게이트 및 데이터배선(도 3의 GL, DL)을 구성하는 도전층(101)과, 상기 도전층(101) 상부에 형성된 절연층 (미도시)및 상기 절연층(미도시) 상부에 형성된 투명전극층(103)으로 구성된다. As shown in FIG. 4A, the test pad 107 includes a conductive layer 101 constituting the gate and data wirings (GL and DL in FIG. 3) and an insulating layer formed on the conductive layer 101. And a transparent electrode layer 103 formed on the insulating layer (not shown).

상기 절연층(미도시)에는 콘택홀(105)이 형성되어 있어 상기 도전층(101)과 투명전극층(103)이 전기적으로 접속되게 한다. A contact hole 105 is formed in the insulating layer (not shown) so that the conductive layer 101 and the transparent electrode layer 103 are electrically connected.

이때, 상기 도전층(101)의 일측에는 상기 도전층(101)을 연장한 내관용 피뢰침패턴(109)이 형성되며, 상기 투명전극층(103)은 상기 도전층(101)을 덮도록 넓은 폭을 갖도록 구성되나, 상기 내관용 피뢰침패턴(109)이 일부 노출되도록 형성하여, 상기 내관용 피뢰침패턴(109)으로 모여진 정전기가 상기 투명전극층(103)으로 전가되지 않도록 하는 것이 바람직하다. At this time, one side of the conductive layer 101 is formed with an inner lightning rod pattern 109 extending the conductive layer 101, the transparent electrode layer 103 has a wide width to cover the conductive layer 101 Although configured to have, the inner tube lightning rod pattern 109 is formed to partially expose, so that the static electricity collected in the inner tube lightning rod pattern 109 is not transferred to the transparent electrode layer 103.

또한, 도 4b에 도시한 바와 같이 상기 투명전극층(103)으로 내관부 피뢰침패 턴(109)을 구성할 수도 있다. In addition, as illustrated in FIG. 4B, an inner tube lightning arrester pattern 109 may be formed of the transparent electrode layer 103.

앞서 전술한 바와 같이, 외관부 피뢰침패턴(도 3의 131)이 형성된 프로브 테스트배선(도 3의 130)과 테스트패드(107)에 내관부 피뢰침패턴(109)을 형성하여, 오토 프로브 검사 공정 중 니들프레임(미도시)의 접촉핀(미도시)을 상기 테스트패드(107)에서 분리시키는 과정에서 발생되는 정전기를 방전 제거함으로써, 박막트랜지스터의 파괴나 게이트 및 데이터배선(도 3의 GL, DL)의 단선 및 단락 불량으로 액정표시장치 화면에 크로스토크(cross talk)나 잔상 발생을 미연에 방지하게 된다. As described above, an inner tube lightning rod pattern 109 is formed on the probe test wiring (130 in FIG. 3) and the test pad 107 on which the outer portion lightning rod pattern (131 of FIG. 3) is formed, and during the auto probe inspection process. By discharging the static electricity generated in the process of separating the contact pin (not shown) of the needle frame (not shown) from the test pad 107, destruction of the thin film transistor or gate and data wiring (GL, DL of FIG. 3). Cross talk or afterimage on the screen of the liquid crystal display is prevented due to disconnection and short circuit.

본 발명은 상기 실시예로 한정되지 않고, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한도내에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다. The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention.

위에 상술한 바와 같이, 본 발명에 따라 외관부 피뢰침패턴이 형성된 프로브 테스트배선과 상기 외관부 피뢰침패턴과 대응되는 내관부 피뢰침패턴을 테스트패드에 형성하여, 오토 프로브 검사 공정 중 니들프레임의 접촉핀을 상기 테스트패드에서 분리시키는 과정에서 발생되는 정전기를 방전 제거함으로써, 박막트랜지스터의 파괴나 게이트 및 데이터배선의 단선 및 단락 불량으로 액정표시장치 화면에 크로스토크(cross talk)나 잔상 발생을 미연에 방지하게 되는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, the probe test wiring having the external lightning rod pattern formed therein and an inner tube lightning rod pattern corresponding to the external lightning rod pattern are formed on the test pad to form contact pins of the needle frame during the auto probe inspection process. By eliminating the static electricity generated in the process of separating from the test pad, it is possible to prevent cross talk or afterimage on the screen of the liquid crystal display due to destruction of the thin film transistor or disconnection and short circuit of the gate and data wiring. It is effective.

Claims (8)

각각 액티브영역과 비액티브영역을 포함하는 기판과;A substrate comprising an active region and an inactive region, respectively; 상기 액티브영역 상에 서로 교차하게 구성된 복수개의 제 1 및 제 2 배선과;A plurality of first and second wirings arranged on the active area to cross each other; 상기 제 1 및 제 2 배선이 교차하는 영역에 구성된 구동소자와;A driving element configured in an area where the first and second wirings cross each other; 상기 제 1 배선과 연결되며, 상기 제 1 배선의 끝단에 각각 구성된 제 1 패드와;A first pad connected to the first wiring and configured at each end of the first wiring; 상기 제 1 패드와 각각 연결되어 제 1 방향으로 형성되며, 각각 제 1 피뢰침패턴이 형성된 테스트패드와;A test pad connected to the first pad and formed in a first direction, respectively, and having a first lightning rod pattern formed thereon; 상기 제 1 방향에 수직한 제 2 방향으로 구성되며, 상기 제 1 피뢰침패턴과 각각 대응되는 제 2 피뢰침패턴이 형성된 프로브 테스트배선A probe test wiring formed in a second direction perpendicular to the first direction and having a second lightning rod pattern corresponding to the first lightning rod pattern; 을 포함하며, 상기 테스트패드는 도전층과, 상기 도전층 상부에 형성된 투명전극층으로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판.The test pad includes a conductive layer and a transparent electrode layer formed on the conductive layer. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 2 배선과 연결되는 제 2 패드는 상기 제 1 패드와 평행하게 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And a second pad connected to the second wiring is formed parallel to the first pad. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 프로브 테스트배선은 상기 각 테스트패드의 일측에 인접하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And the probe test wiring is configured to be adjacent to one side of each of the test pads. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 피뢰침패턴은 서로 대향되며, 일정간격 이격하여 구성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And the first and second lightning arrester patterns are opposed to each other and spaced apart from each other by a predetermined interval. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 피뢰침패턴은 다수개가 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And a plurality of first and second lightning arrester patterns. 삭제delete 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 피뢰침패턴은 상기 도전층을 연장하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And the first lightning rod pattern is formed by extending the conductive layer. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 피뢰침패턴은 상기 투명전극층을 연장하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이기판. And the first lightning rod pattern is formed by extending the transparent electrode layer.
KR1020070053179A 2007-05-31 2007-05-31 Array substrate for liquid crystal display device KR101358256B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070053179A KR101358256B1 (en) 2007-05-31 2007-05-31 Array substrate for liquid crystal display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070053179A KR101358256B1 (en) 2007-05-31 2007-05-31 Array substrate for liquid crystal display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080105501A KR20080105501A (en) 2008-12-04
KR101358256B1 true KR101358256B1 (en) 2014-02-04

Family

ID=40366784

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070053179A KR101358256B1 (en) 2007-05-31 2007-05-31 Array substrate for liquid crystal display device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101358256B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109031723B (en) * 2018-08-22 2021-06-04 惠科股份有限公司 Array substrate, liquid crystal module and liquid crystal display equipment

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020056620A (en) * 2000-12-29 2002-07-10 구본준, 론 위라하디락사 Photo Mask for patterning a lightning rod
KR20070002147A (en) * 2005-06-30 2007-01-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Test process for liquid crystal display device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020056620A (en) * 2000-12-29 2002-07-10 구본준, 론 위라하디락사 Photo Mask for patterning a lightning rod
KR20070002147A (en) * 2005-06-30 2007-01-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Test process for liquid crystal display device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080105501A (en) 2008-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7847577B2 (en) Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method
US7999901B2 (en) Thin film transistor array substrate with improved test terminals
US20090213288A1 (en) Acitve device array substrate and liquid crystal display panel
KR20080003226A (en) Liquid crystal display device
KR20060015201A (en) Array substrate and mother board and liquid crystal display having the same
KR101281980B1 (en) Auto probe device and using the inspecting method forLCD panel using the same
KR102010492B1 (en) Liquid crystal display device and Method for manufacturing the same
KR101140575B1 (en) Test process for liquid crystal display device
KR101358256B1 (en) Array substrate for liquid crystal display device
JP3586049B2 (en) LCD panel
KR101354317B1 (en) Display device having electrostatic protection structure
KR101174156B1 (en) Flat panel display
KR101427282B1 (en) Liquid crystal display device having pad structure and method of fabricating thereof
KR101152491B1 (en) Liquid crystal display device
KR20160043205A (en) Liquid crystal display device
US20240087492A1 (en) Display substrate, test method for the same and display device
JP3446729B2 (en) Liquid crystal image display device, its inspection method and its manufacturing method
KR100603833B1 (en) Array substrate with dual gate pad structure for Liquid crystal display device and method of fabricating the same
KR101192102B1 (en) auto probe appratus and using the inspecting method for LCD panel using the same
KR20040060044A (en) Lcd and method for manufacturing lcd
KR100931185B1 (en) LCD for signal line inspection
KR100870662B1 (en) Method of probing tft-lcd
KR20030053186A (en) Liquid Crystal Display Device
KR101232158B1 (en) The test process for Liquid Crystal Display Device
KR101768483B1 (en) Liquid crystal display device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161214

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171218

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181226

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191212

Year of fee payment: 7