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KR100907430B1 - Method of analyzing circuit model by reduction - Google Patents

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KR100907430B1
KR100907430B1 KR1020090024564A KR20090024564A KR100907430B1 KR 100907430 B1 KR100907430 B1 KR 100907430B1 KR 1020090024564 A KR1020090024564 A KR 1020090024564A KR 20090024564 A KR20090024564 A KR 20090024564A KR 100907430 B1 KR100907430 B1 KR 100907430B1
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node
circuit
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independent current
reduction
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차홍파
김영환
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포항공과대학교 산학협력단
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Abstract

회로 모델 축소 해석 방법이 기술된다. 회로 모델은 적어도 독립 전류원 모델, 저항 모델 및 커패시턴스 모델을 구비하며, 또한 회로 모델은 독립 전류원들을 포함한 하나의 저항ㆍ커패시턴스(RC) 트리 네트워크를 구성한다. 회로 모델 축소 해석 방법은 저항 연결 정보를 사용하여 제거할 노드를 선택하는 단계; 및 주어진 시간 스텝에 대한 커패시턴스의 컨덕턴스를 노드의 총 컨덕턴스와 비교하는 단계를 포함한다. 더욱이, 회로 모델 축소 해석 방법은 선택된 노드를 제거하고, 대응하는 회로방정식의 요소 방식의 섭동 (entrywise perturbation)에 사용된 정확도 차수로 축소된 회로의 노드 전압의 정확도를 유지하고 있는 인접 노드로 RC 요소 및 독립 전류원을 생성한다. 게다가, 축소 동안 독립 전류원을 처리하기 위한 효율적인 방법이 제공된다.A circuit model reduction analysis method is described. The circuit model comprises at least an independent current source model, a resistance model and a capacitance model, and the circuit model also constitutes a single resistance / capacitance (RC) tree network including independent current sources. The circuit model reduction analysis method includes selecting a node to be removed using resistance connection information; And comparing the conductance of the capacitance for a given time step with the total conductance of the node. Moreover, the circuit model reduction analysis method removes selected nodes and maintains the RC element as an adjacent node that maintains the accuracy of the node voltage of the circuit reduced to the accuracy order used for the elementary perturbation of the corresponding circuit equation. And an independent current source. In addition, an efficient method for handling independent current sources during reduction is provided.

회로 축소, 회로 해석, 회로 모델, 독립 전류원 모델, 저항 모델, 커패시턴스 모델, 트리 네트워크 Circuit Reduction, Circuit Analysis, Circuit Models, Independent Current Source Models, Resistance Models, Capacitance Models, Tree Networks

Description

회로 모델 축소 해석 방법 {Method of analyzing circuit model by reduction}{Method of analyzing circuit model by reduction}

본 발명은 회로 모델 축소 해석 방법에 관한 것으로, 상세하게는 대량의 선형 부동 저항, 접지된 커패시턴스로 구성된 RC 트리 네트워크와 대량의 독립 전류원을 포함하는 회로 모델을 효율적으로 축소 해석하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit model reduction analysis method, and more particularly, to a method for efficiently miniaturizing a circuit model including a large number of linear floating resistors, grounded capacitance, and a large number of independent current sources.

보다 상세하게는 본 발명은 축소한 회로의 노드 전압을 축소 전 기존 회로의 대응하는 노드 전압과 비교하여 같은 정도의 상대적인 정확도를 만족시키고 RC 트리 네트워크와 전류원을 포함한 회로의 축소 및 축소 회로 생성 등의 과정에서 효율적인 방법을 사용함으로써 대량의 노드를 가진 초대규모의 회로를 효과적으로 축소할 수 있으며, 현재 갈수록 심각해 지고 있는 칩의 전원 노이즈 해석에 필요한 시간을 많이 줄이고 반도체 칩 설계 시간을 많이 단축시킬 수 있는 효율적인 회로 모델 축소 해석 방법에 관한 것이다. More specifically, the present invention compares the node voltage of the reduced circuit with the corresponding node voltage of the existing circuit before shrinking, satisfies the same relative accuracy, and reduces and reduces the circuit of the circuit including the RC tree network and the current source. By using an efficient method in the process, it is possible to effectively reduce the large-scale circuit with a large number of nodes, and to reduce the time required for analyzing the power noise of the chip, which is becoming increasingly serious, and to reduce the design time of the semiconductor chip. A circuit model reduction analysis method.

최근 몇 년 내에 높은 성능 및 저 소비 전력 초 대규모 집적 회로(VLSI)의 설계를 위한 요구가 증가되고 있다. 높은 성능은 기술 스케일링, 증가된 기능성 및 경쟁적 설계에 의해 달성된다. 반면에, 저전력 설계를 획득하기 위해 사용되는 공통 기법은 공급 전압을 축소하는 것이다. 이것은 칩 전력 P가 공급 전압 Vdd의 제곱에 비례하므로 이치에 맞는다. 그래서, 높은 성능 및 저 소비 전력을 위한 요구는 현재의 VLSI 설계가 축소된 형상 크기, 증가된 기능성 및 더 낮은 공급 전압에 특징을 갖도록 하였다. In recent years, there is an increasing demand for the design of high performance and low power consumption ultra large scale integrated circuits (VLSIs). High performance is achieved by technology scaling, increased functionality and competitive design. On the other hand, a common technique used to achieve low power designs is to reduce the supply voltage. This makes sense because the chip power P is proportional to the square of the supply voltage Vdd. Thus, the demand for high performance and low power consumption has made current VLSI designs to be characterized by reduced shape size, increased functionality and lower supply voltage.

칩 기능성이 증가하면 거대한 배전 네트워크가 필요하게 된다. 반면에 더 낮은 공급 전압은 칩 장애를 초래할 수 있으므로 배전 네트워크에 걸리는 전압 변화를 매우 중요하게 만든다. 이상적인 공급 전압을 칩안의 각 기능 블록에 제공하기 위해, 어떤 손실도 전력망 그 자체에 없어야 한다. 그러나, 실제 전력망은 많은 작은 기생적인 RC 요소로 구성되어, 기능 블록에 이상적인 전압 값을 전달하는 것을 방해한다. 전압강하(IR-드롭)는 이 기생적인 RC 요소에 의해 발생되는 전압 변동이다. IR-드롭 해석은 VLSI 설계시 설계의 검증을 위한 필수불가결한 단계가 되었다. Increasing chip functionality requires a large distribution network. On the other hand, lower supply voltages can cause chip failure, making the voltage changes across the distribution network very important. In order to provide the ideal supply voltage to each functional block in the chip, there must be no loss in the grid itself. However, the actual power grid is made up of many small parasitic RC elements that prevent the transfer of the ideal voltage value to the functional block. Voltage drop (IR-drop) is the voltage variation caused by this parasitic RC element. IR-drop analysis has become an indispensable step in the design verification of VLSI designs.

IR-드롭의 해석은 기생적인 RC 요소 및 기능 블록을 포함한다. 그러나, 트랜지스터-레벨 시뮬레이터를 사용하여 회로를 시뮬레이트하는 것은 불가능하다. 그래서, 그 기능 블록을 독립 전류원으로서 더 모델화한다. 그러나, 회로의 크기가 대형이기 때문에 트랜지스터-레벨 시뮬레이터와 함께 모델화한 회로를 분석하는 것은 어렵다. 그러므로, 회로 해석을 하기 전에 회로를 축소하는 것은 중요하다.The interpretation of the IR-drop includes parasitic RC elements and functional blocks. However, it is not possible to simulate the circuit using a transistor-level simulator. Thus, the functional block is further modeled as an independent current source. However, because of the large size of the circuit, it is difficult to analyze the circuit modeled with the transistor-level simulator. Therefore, it is important to reduce the circuit before the circuit analysis.

회로 모델 축소 해석 방법은 대형 회로를 분석하는 복잡성을 낮추기 위해 회로의 크기를 축소하는 것이다. 좋은 방법은 가능한 주어진 정확도를 유지하면서, 가능한 한 작은 회로로 축소하는 것이다. 실현 가능한 축소 해석 방법은 독립 전 류원을 구비한 RC 요소로 이루어진 축소 회로를 도출하는 축소 해석 방법이다.Circuit model reduction analysis is to reduce the size of the circuit to reduce the complexity of analyzing large circuits. A good way is to reduce it to as small a circuit as possible while maintaining the given accuracy as possible. A feasible reduction analysis method is a reduction analysis method that derives a reduction circuit composed of RC elements with independent current sources.

배전 네트워크는 기능 블록으로 모델화한 다수의 독립 전류원을 구비한 RC 트리 네트워크로 구성된다. 이전에는 RC 요소만이 있는 회로에서의 회로 모델 축소 해석 방법을 설명하였다. 더욱이, 회로의 축소 동안 오차 제어를 위한 어떤 노드 선택 방법도 없었다. 따라서, 지속된 정확도 및 높은 축소비를 요구하고 있는 다수의 독립 전류원을 구비한 RC 트리 네트워크로 이루어진 회로를 처리할 수 있는 새로운 축소 해석 방법을 제안하는 것은 중요하다.The distribution network consists of an RC tree network with a number of independent current sources modeled as functional blocks. Previously, we have described circuit model reduction analysis for circuits with only RC elements. Moreover, there was no node selection method for error control during the shrinking of the circuit. Therefore, it is important to propose a new reduction analysis method that can handle circuits consisting of RC tree networks with multiple independent current sources that require sustained accuracy and high reduction ratios.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 대량의 선형 부동 저항, 접지된 커페시턴스로 구성된 RC 트리 네트워크와 대량의 독립 전류원을 포함하는 회로 모델을 효율적으로 축소 해석하는 방법을 제공함에 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to provide a method for efficiently reducing and analyzing a circuit model including a large RC float network composed of a large linear floating resistance, a grounded capacitance, and a large independent current source.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 축소한 회로의 노드 전압을 축소 전 기존 회로의 대응하는 노드 전압과 비교하여 같은 정도의 상대적인 정확도를 만족시키고 RC 트리 네트워크와 전류원을 포함한 회로의 축소 및 축소 회로 생성 등의 과정에서 효율적인 방법을 사용함으로써 대량의 노드를 가진 초대규모의 회로를 효과적으로 축소할 수 있으며, 현재 갈수록 심각해 지고 있는 칩의 전원 노이즈 해석에 필요한 시간을 많이 줄이고 반도체 칩설계 시간을 많이 단축시킬수 있는 효율적인 회로 모델 축소 해석 방법을 제공함에 그 다른 목적이 있다. Another technical problem to be solved by the present invention is to compare the node voltage of the reduced circuit with the corresponding node voltage of the existing circuit before shrinking, satisfying the same relative accuracy, and generating the reduced and reduced circuit of the circuit including the RC tree network and the current source. By using an efficient method in this process, it is possible to effectively reduce the large-scale circuit with a large number of nodes, and to reduce the time required for analyzing the power noise of the chip, which is becoming increasingly serious, and to reduce the design time of the semiconductor chip. Another purpose is to provide an efficient circuit model reduction analysis method.

본 발명의 한가지 형태에 의하면, 상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계; 제거될 노드를 선택하는 단계; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 독립 전류원 및 노드 정보를 가지는 RC 네트 리스트의 입력 처리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법을 제공한다. According to one aspect of the present invention, there is provided a circuit model reduction analysis method for achieving the above technical problem, comprising: inputting information on an original circuit configuration including a circuit net list having an independent current source and a node state; Selecting a node to be removed; Removing the selected node and creating a reduction circuit; Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list having the independent current source and node status and the node to be removed. Preprocessing the circuit netlist with an independent current source between the selecting steps, wherein the preprocessing step further comprises preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio. A circuit model reduction analysis method further comprises input processing of an RC net list having current source and node information.

본 발명의 다른 한가지 형태에 의하면, 상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계;제거될 노드를 선택하는 단계; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 주어진 시간 스텝에 대한 커패시턴스의 유효한 컨덕턴스의 계산을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법을 제공한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a circuit model reduction analysis method for achieving the above-described technical problem, the method comprising: inputting information about an original circuit configuration including a circuit net list having independent current sources and node states; Selecting a node to be; Removing the selected node and creating a reduction circuit; Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list having the independent current source and node status and the node to be removed. Preprocessing the circuit netlist with an independent current source between the selecting steps, wherein the preprocessing step further comprises preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio. The circuit model reduction analysis method further comprises the calculation of the effective conductance of the capacitance with respect to the time step.

본 발명의 또다른 한가지 형태에 의하면, 상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계; 제거될 노 드를 선택하는 단계; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 회로내 노드의 저항의 계산을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법을 제공한다. According to still another aspect of the present invention, there is provided a circuit model reduction analysis method for achieving the above-described technical problem, the method comprising: inputting information on an original circuit configuration including a circuit net list having independent current sources and node states; Selecting a node to be removed; Removing the selected node and creating a reduction circuit; Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list having the independent current source and node status and the node to be removed. Preprocessing the circuit netlist with an independent current source between the selecting steps, wherein the preprocessing step further comprises preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio. The circuit model reduction analysis method further comprises the calculation of the resistance of the node.

바람직하게는 상기 노드 선택 단계는 저항 순서에 의해 노드를 소트하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Preferably, the node selection step further comprises sorting the nodes in order of resistance.

바람직하게는 상기 노드 선택 단계는 커패시턴스의 인덕턴스 값과 노드의 인덕턴스의 합을 비교하는 것에 의해 노드의 제거를 결정하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Preferably, the node selection step further comprises determining removal of the node by comparing the inductance value of the capacitance with the sum of the inductances of the nodes.

바람직하게는 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드들 사이에 저항을 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Preferably, the node removing step further comprises generating a resistance between each node adjacent to the removed node.

바람직하게는 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드로의 접지된 커패시턴스를 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Advantageously, removing said node further comprises generating grounded capacitance to each node adjacent to said removed node.

바람직하게는 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드로의 독립 전류원을 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Preferably, the node removing step further comprises generating an independent current source to each node adjacent to the removed node.

상술한 바와 같이, 본 발명은 대량의 선형 부동 저항, 접지된 커페시턴스로 구성된 RC 트리 네트워크와 대량의 독립 전류원을 포함하는 회로 모델을 효율적으로 축소 해석하는 방법을 제공한다. 또한, 본 발명은 축소한 회로의 노드 전압을 축소 전 기존 회로의 대응하는 노드 전압과 비교하여 같은 정도의 상대적인 정확도를 만족시키고 RC 트리 네트워크와 전류원을 포함한 회로의 축소 및 축소 회로 생성 등의 과정에서 효율적인 방법을 사용함으로써 대량의 노드를 가진 초대규모의 회로를 효과적으로 축소할 수 있으며, 현재 갈수록 심각해 지고 있는 칩의 전원 노이즈 해석에 필요한 시간을 많이 줄이고 반도체 칩설계 시간을 많이 단축시킬 수 있다.As described above, the present invention provides a method for efficiently miniaturizing a circuit model comprising a large linear floating resistor, a grounded capacitance RC tree network, and a large number of independent current sources. In addition, the present invention compares the node voltage of the reduced circuit with the corresponding node voltage of the existing circuit before the reduction, satisfies the same relative accuracy, and in the process of reducing and reducing the circuit including the RC tree network and the current source. By using an efficient method, we can effectively reduce the large-scale circuit with a large number of nodes, and reduce the time required for analyzing the power noise of the chip, which is becoming more and more serious, and the semiconductor chip design time.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시예에 의한 회로 모델을 축소해석 하기 위한 방법, 및 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체에 대하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, it will be described in detail a method for reducing the circuit model according to an embodiment of the present invention, and a computer-readable medium.

VLSI 회로 내의 배전은 전체 배전 네트워크(100)의 톱레벨의 금속 레이어로부터 수행된다. 도 1에 도시된 것처럼, 톱레벨의 금속 레이어는 층간 바이아(vias)(101)를 통하여 아래로 패키지에, 그리고 최종적으로 능동 소자(102)에 접속하게 된다. 금속 와이어 (103) 및 바이아(101)는 저항성, 커패시턴스성, 및 비유도성 (rarely-inductive) 요소로 이루어진 선형, 시간 불변 및 수동 회로망으로서 모델화된다. 마이크로 프로세서와 같은 현대 VLSI 회로에 대한 네트워크는 통상 수백만 개의 노드 및 수천만 개의 전기적 소자를 포함할 수 있다. 전원 및 드레인에 관해서, 그들의 모델은 상당히 복잡할 수 있다. 그러나, 거대한 크기의 파워 그리드는 전원 및 드레인을 위해 가장 단순한 모델 이외에 무엇이든지 포함하는 것을 부적합하게 한다. 그러므로, 전원은 단순한 정전압원으로 모델화하게 되고, 전력 드레인은 독립적인 시간에 따라 변하는 전류원으로서 모델화된다. 그래서, 도 2에 도시된 것처럼, 주어진 VLSI 시스템은 RC 트리 네트워크(200)로서 보통 모델화되며, 부동 선형 저항기(211), 접지된 선형 커패시터(210) 및 논리 게이트를 표시하는 독립적으로 접지된 전류원(213)으로 구성된다. 일정한 DC 정전압원(212)은 일정한 DC 정전류원과 등가 접지 저항으로 바뀔 수 있다. 실시예에서, PWL(PieceWise Linear; 부분 선형) 전류원을 독립 전류원으로 사용한다. 모델화된 시스템의 동작은 상미분 수학식의 시스템으로서 다음의 수학식 1과 같이 나타내어진다.Distribution in the VLSI circuit is performed from the top level metal layer of the entire distribution network 100. As shown in FIG. 1, the top level metal layer is brought down into the package through the interlayer vias 101 and finally to the active device 102. The metal wires 103 and vias 101 are modeled as linear, time invariant, and passive circuitry consisting of resistive, capacitive, and non-inductive elements. Networks for modern VLSI circuits, such as microprocessors, can typically include millions of nodes and tens of millions of electrical components. As for power and drain, their models can be quite complex. However, large size power grids make it inadequate to include anything other than the simplest model for power and drain. Therefore, the power supply is modeled as a simple constant voltage source, and the power drain is modeled as an independent time varying current source. Thus, as shown in FIG. 2, a given VLSI system is usually modeled as an RC tree network 200, and has an independently grounded current source (floating linear resistor 211, grounded linear capacitor 210, and logic gates). 213). The constant DC constant voltage source 212 can be converted into a constant ground resistance equivalent to a constant DC constant current source. In an embodiment, a PWL (PieceWise Linear) current source is used as an independent current source. The operation of the modeled system is represented by Equation 1 as a system of ordinary differential equations.

Figure 112009017451450-pat00001
Figure 112009017451450-pat00001

여기서, G는 컨덕턴스 행렬, C는 대각선 커패시턴스 행렬, x(t)는 노드 전압, 그리고 u(t)는 독립 전류원이다. 그 다음 미분 시스템은 최대 주파수 성분에 의하여 결정되는 시간 스텝 "h"와 함께 백워드 오일러(Backward Euler) 방법을 사용하여, 각 시점에서 다음 수학식 2와 같이 선형 대수계로 변환하게 된다.Where G is the conductance matrix, C is the diagonal capacitance matrix, x (t) is the node voltage, and u (t) is the independent current source. The differential system then converts to a linear algebra at each point in time using the backward Euler method with a time step "h" determined by the maximum frequency component.

Figure 112009017451450-pat00002
Figure 112009017451450-pat00002

여기서,

Figure 112009017451450-pat00003
이고
Figure 112009017451450-pat00004
이다. x(t)에 대해서 수학식 2의 해를 구하는 경우 복잡도는 시스템의 차원과 함께 초선형적으로(super-linearly) 증가한다. 그래서, 해석을 실시하기 전에, RC 트리 네트워크의 크기를 축소하는 것이 중요하다. 수학식 2에서의 행렬 A를 다음의 수학식 3과 같이 확장시킬 수 있다.here,
Figure 112009017451450-pat00003
ego
Figure 112009017451450-pat00004
to be. When solving Equation 2 for x (t), the complexity increases super-linearly with the dimensions of the system. Therefore, before performing the analysis, it is important to reduce the size of the RC tree network. The matrix A in Equation 2 may be extended as in Equation 3 below.

Figure 112009017451450-pat00005
Figure 112009017451450-pat00005

*여기서, 행렬 A는 대칭적이고, 대각적으로 지배적인 M-행렬이다. 노드 N이 회로 축소를 위해 제거될 노드를 보여주는 것이라 하면, 상기 회로 수학식 3을 다음 수학식 4와 같이 다시 쓸 수 있다.Where matrix A is a symmetrical, diagonally dominant M-matrix. If node N is to show a node to be removed to reduce the circuit, the circuit equation (3) can be rewritten as shown in the following equation (4).

Figure 112009017451450-pat00006
Figure 112009017451450-pat00006

여기서,

Figure 112009017451450-pat00007
이다. 그 다음, 수학식의 축소된 시 스템은 다음 수학식 5와 같이 주어진다.here,
Figure 112009017451450-pat00007
to be. Then, the reduced system of Equation is given by Equation 5 below.

Figure 112009017451450-pat00008
Figure 112009017451450-pat00008

여기서,

Figure 112009017451450-pat00009
이고
Figure 112009017451450-pat00010
이다.here,
Figure 112009017451450-pat00009
ego
Figure 112009017451450-pat00010
to be.

이라 하고,

Figure 112009017451450-pat00012
Figure 112009017451450-pat00013
는 노드 N이 제거될 때 발생하는
Figure 112009017451450-pat00014
Figure 112009017451450-pat00015
로부터
Figure 112009017451450-pat00016
Figure 112009017451450-pat00017
로의 변화를 각각 나타낸다고 하면, 상기 수학식 5로부터 This is called,
Figure 112009017451450-pat00012
Wow
Figure 112009017451450-pat00013
Occurs when node N is removed
Figure 112009017451450-pat00014
Wow
Figure 112009017451450-pat00015
from
Figure 112009017451450-pat00016
Wow
Figure 112009017451450-pat00017
Suppose that changes in are respectively represented by

Figure 112009017451450-pat00018
Figure 112009017451450-pat00019
는 다음 수학식 6과 수학식 7처럼 주어진다.
Figure 112009017451450-pat00018
Wow
Figure 112009017451450-pat00019
Is given by the following equations (6) and (7).

Figure 112009017451450-pat00020
Figure 112009017451450-pat00020

Figure 112009017451450-pat00021
Figure 112009017451450-pat00021

여기서,

Figure 112009017451450-pat00022
이다. 상기 수학식 6과 7은 CN≠0이라면, 상응하는 축소된 수학식 시스템, 즉 수학식 5가 RC 트리 네트워크로서 실현될 수 없다는 것을 나타낸다. 그러나, 실제 회로의 대부분의 노드는 접지된 커패시턴스를 구비하고, 다수 응용예에서 감소되는 RC 트리 네트워크를 획득하는 것은 중요하 다. 그래서, CN≠0 인 경우, 노드 N이 아래 수학식 8의 부등식을 만족시킨다면, 제안된 방법은
Figure 112009017451450-pat00023
을 섭동시킴으로써 수학식 시스템을 실현 가능하게 한다. here,
Figure 112009017451450-pat00022
to be. Equations 6 and 7 indicate that if C N ≠ 0, the corresponding reduced equation system, i.e., equation 5, cannot be realized as an RC tree network. However, most nodes in an actual circuit have grounded capacitance, and in many applications it is important to obtain a reduced RC tree network. So, if C N ≠ 0, if node N satisfies the inequality of Equation 8 below, the proposed method
Figure 112009017451450-pat00023
By perturbing the equation system can be realized.

수학식 8에서, ε은 노드 제거를 위하여 사용자에 의해 주어진 상대적인 오차 범위이다. 만일 수학식 8이 만족되지 않는다면, 제안된 방법은 노드 N을 제거하지 않는다. 더욱이,

Figure 112009017451450-pat00025
과 비교하여 만일
Figure 112009017451450-pat00026
의 영향이 주어진 h에 대한 ε보다 크면, 수학식 8의 부등식이 만족되지 않는다. 수학식 8의 조건은 제안된 방법의 오차 해석을 위해 사용된다.In Equation 8, ε is the relative error range given by the user for node removal. If Equation 8 is not satisfied, the proposed method does not remove node N. Furthermore,
Figure 112009017451450-pat00025
In comparison with
Figure 112009017451450-pat00026
If the influence of is greater than ε for a given h, the inequality of Equation 8 is not satisfied. The condition of Equation 8 is used for the error analysis of the proposed method.

Figure 112009017451450-pat00027
이 노드 N이 제거될 때 섭동된
Figure 112009017451450-pat00028
을 나타낸다고 하면, 제안된 방법은
Figure 112009017451450-pat00029
에 대하여 수학식 9를 사용한다. 이는 축소된 시스템이 차후 설명되는 바와 같이 실현되도록 한다.
Figure 112009017451450-pat00027
Perturbed when this node N was removed
Figure 112009017451450-pat00028
The proposed method
Figure 112009017451450-pat00029
Equation 9 is used. This allows the reduced system to be realized as described later.

Figure 112009017451450-pat00030
Figure 112009017451450-pat00030

수학식 6에서

Figure 112009017451450-pat00031
Figure 112009017451450-pat00032
으로 치환하면 수학식 10을 얻게 된다.In equation (6)
Figure 112009017451450-pat00031
of
Figure 112009017451450-pat00032
Substituting by gives Equation 10.

Figure 112009017451450-pat00033
Figure 112009017451450-pat00033

Figure 112009017451450-pat00034
라 할 때, 수학식 10의 시스템을 실현시키기 위하여, 수학식 10의 두번째 항을 제거함으로써 양의 커패시티브 성분을 제거할 필요가 있다. 섭동된
Figure 112009017451450-pat00035
Figure 112009017451450-pat00036
에 대하여 수학식 11을 얻을 수 있다.
Figure 112009017451450-pat00034
In order to realize the system of Equation 10, it is necessary to remove the positive capacitive component by removing the second term of Equation 10. Perturbed
Figure 112009017451450-pat00035
of
Figure 112009017451450-pat00036
Equation 11 can be obtained for.

Figure 112009017451450-pat00037
Figure 112009017451450-pat00037

다음 수학식 7에서

Figure 112009017451450-pat00038
Figure 112009017451450-pat00039
으로 치환하면
Figure 112009017451450-pat00040
을 얻는다. 이 과정을 통하여 수학식 10으로부터 제거된 커패시티브 성분을
Figure 112009017451450-pat00041
에 가산하여, 대각선 방향의 지배적인 부분을 가능한 많게 유지시킨다. 따라서,
Figure 112009017451450-pat00042
는 다음 수학식 12와 같이 주어진다.In equation (7)
Figure 112009017451450-pat00038
of
Figure 112009017451450-pat00039
Substitute with
Figure 112009017451450-pat00040
Get Through this process, the capacitive component removed from Equation 10
Figure 112009017451450-pat00041
In addition, keep the dominant part in the diagonal direction as much as possible. therefore,
Figure 112009017451450-pat00042
Is given by Equation 12 below.

Figure 112009017451450-pat00043
Figure 112009017451450-pat00043

RC 트리 네트워크에 대하여

Figure 112009017451450-pat00044
이기 때문에, 상기 수학식 12는 수학식 13으로 재작성된다.About the RC Tree Network
Figure 112009017451450-pat00044
Because of this, Equation 12 is rewritten as Equation 13.

Figure 112009017451450-pat00045
Figure 112009017451450-pat00045

Figure 112009017451450-pat00046
이 부성 컨덕턴스 항인
Figure 112009017451450-pat00047
을 포함할 때,
Figure 112009017451450-pat00048
Figure 112009017451450-pat00049
을 포함한다. 그래서
Figure 112009017451450-pat00050
Figure 112009017451450-pat00051
Figure 112009017451450-pat00052
을 계산할 때 상쇄되어,
Figure 112009017451450-pat00053
을 실현가능하게 한다. 마찬가지로, 노드 i에 다음 수학식 14와 같이 링크된 등가 전류원인 새로운
Figure 112009017451450-pat00054
을 얻을 수 있다.
Figure 112009017451450-pat00046
This paternal conductance
Figure 112009017451450-pat00047
When including
Figure 112009017451450-pat00048
silver
Figure 112009017451450-pat00049
It includes. so
Figure 112009017451450-pat00050
of
Figure 112009017451450-pat00051
silver
Figure 112009017451450-pat00052
Offset when calculating
Figure 112009017451450-pat00053
Make it possible. Similarly, a new equivalent current source linked to node i as
Figure 112009017451450-pat00054
Can be obtained.

Figure 112009017451450-pat00055
Figure 112009017451450-pat00055

수학식 8을 만족시키는 모든 노드는 한 개의 선형 저항에 직접 접속되지 않는 한 함께 제거될 수 있다. 최종적으로, 수학식 11, 13, 및 14의 각 항을 관찰하여 회로 요소를 추론할 수 있다. 더욱이, 축소 회로의 행렬

Figure 112009017451450-pat00056
은 또한 대각적으로 지배적인 M-행렬임을 관찰할 수 있으며, 따라서, 주어진 RC 트리 네트워크를 한 번 이상 반복하여 축소하는 것은 가능하다. 축소되는 회로의 노드 i의 전압은 수학식 15a에 의해 결정된다. 노드 전압의 상대 오차를 수학식 15b로 정의 한다.All nodes that satisfy Equation 8 can be removed together unless they are directly connected to one linear resistor. Finally, the circuit elements can be deduced by observing each term in equations (11), (13), and (14). Moreover, the matrix of reduction circuits
Figure 112009017451450-pat00056
Can also be observed to be the diagonally dominant M-matrix, so it is possible to iteratively reduce a given RC tree network one or more times. The voltage at node i of the circuit to be reduced is determined by equation (15a). The relative error of the node voltage is defined by Equation 15b.

Figure 112009017451450-pat00057
Figure 112009017451450-pat00057

Figure 112009017451450-pat00058
Figure 112009017451450-pat00058

Figure 112009017451450-pat00059
의 조사는
Figure 112009017451450-pat00060
Figure 112009017451450-pat00061
의 정확도의 심사를 요하게 된다. 대각선 지배 M행렬의 입력 방식의 섭동 이론은
Figure 112009017451450-pat00062
에 대한
Figure 112009017451450-pat00063
의 정확도가
Figure 112009017451450-pat00064
에 대한
Figure 112009017451450-pat00065
의 정확도와 동일한 차수로 주어짐을 알 수 있다.
Figure 112009017451450-pat00066
의 정확도를 조사하기 위하여, 오프-대각선 항과 및 대각선 지배 부분을 조사할 필요가 있다.
Figure 112009017451450-pat00067
에 대한
Figure 112009017451450-pat00068
의 오프-대각선 항의 상대 오차는 다음 수학식 16으로 표시된다.
Figure 112009017451450-pat00059
Investigation of
Figure 112009017451450-pat00060
and
Figure 112009017451450-pat00061
This will require a review of the accuracy. Perturbation theory of diagonally governing M matrix input method
Figure 112009017451450-pat00062
For
Figure 112009017451450-pat00063
The accuracy of
Figure 112009017451450-pat00064
For
Figure 112009017451450-pat00065
It can be seen that the order of magnitude equal to the accuracy of.
Figure 112009017451450-pat00066
In order to investigate the accuracy of, it is necessary to examine the off-diagonal terms and the diagonal governing portion.
Figure 112009017451450-pat00067
For
Figure 112009017451450-pat00068
The relative error of the off-diagonal term of is expressed by the following equation.

Figure 112009017451450-pat00069
Figure 112009017451450-pat00069

이하 대각선 지배 부분의 상대 오차를 다음 수학식 17a와 17b 같이 도출한다. Hereinafter, the relative error of the diagonal dominant portion is derived as in Equations 17a and 17b.

Figure 112009017451450-pat00070
Figure 112009017451450-pat00070

Figure 112009017451450-pat00071
Figure 112009017451450-pat00071

대각선 지배 부분의 상대 오차는 수학식 18로 표시된다.The relative error of the diagonal dominant portion is represented by equation (18).

Figure 112009017451450-pat00072
Figure 112009017451450-pat00072

대각적으로 지배적인 M-행렬을 위한 입력 방식의 섭동 이론으로부터, 수학식 16과 18에서,

Figure 112009017451450-pat00073
에 대한
Figure 112009017451450-pat00074
의 상대 오차는 ε에 의해 범위가 제한된다. 유사한 방법으로,
Figure 112009017451450-pat00075
의 상대 오차는 ε보다 더 크지 않다고 쉽게 결론 지을 수 있다. 두 항의 곱의 상대 오차는 각 항의 상대 오차의 합이므로, 노드 전압의 상대 오차는 다음 수학식 19로 나타내어 진다.From the perturbation theory of the input method for the diagonally dominant M-matrix, in equations (16) and (18),
Figure 112009017451450-pat00073
For
Figure 112009017451450-pat00074
The relative error of is bounded by ε. In a similar way,
Figure 112009017451450-pat00075
It can be easily concluded that the relative error of is not greater than ε. Since the relative error of the product of the two terms is the sum of the relative errors of each term, the relative error of the node voltage is represented by the following equation (19).

Figure 112009017451450-pat00076
Figure 112009017451450-pat00076

수학식 19는 축소 회로의 노드 전압의 정확도가 ε에 의해 결정됨을 나타낸다. 수학식 15b와 19로부터, 주어진 회로가 한 번 이상 축소된 경우를 위하여 아래의 수 학식 20을 유도할 수 있으며, 여기서 n은 반복되는 축소 횟수이다.Equation 19 shows that the accuracy of the node voltage of the reduction circuit is determined by ε. From Equations 15b and 19, the following Equation 20 can be derived for the case where a given circuit is reduced more than once, where n is the number of repeated reductions.

Figure 112009017451450-pat00077
Figure 112009017451450-pat00077

작은 ε에 대하여, 노드 전압의 상대적인 오차 범위는 수학식 21로 주어지며, 이는 반복되는 축소 횟수를 갖는 상대 오차 범위의 선형 증가를 보인다.For a small ε, the relative error range of the node voltage is given by Equation 21, which shows a linear increase in the relative error range with the number of repeated reductions.

Figure 112009017451450-pat00078
Figure 112009017451450-pat00078

컴퓨터 프로그램은 전형적으로 네트 리스트 형태로 된 회로 모델을 판독한다. 이 실시예에서, 독립 전류원 및 PWL 전류원을 위하여 가장 널리 사용되는 표현식이 사용된다. 전형적인 PWL 전류원은 초기 지연, 반복 횟수, 다수의 시점 값 및 상응하는 전류값과 같은 그 동작을 기술하기 위해 몇 개의 매개변수를 포함한다. 그러나, 제안된 발명은 회로 축소 동안 기호 정보 및 하나의 상대 전류 스케일링 인자 값을 PWL 전류원에 사용한다. 이는 한 회로가 수백만의 전류원을 포함하는 경우 문제를 야기할 수도 있는 전류원 조작에 대한 메모리 요구를 현저하게 감소시킬 것이다. Computer programs typically read out circuit models in the form of net lists. In this embodiment, the most widely used expressions are used for independent current sources and PWL current sources. A typical PWL current source includes several parameters to describe its behavior, such as initial delay, number of iterations, multiple time points and corresponding current values. However, the proposed invention uses symbol information and one relative current scaling factor value for the PWL current source during circuit reduction. This will significantly reduce the memory requirements for current source operation, which may cause problems if one circuit contains millions of current sources.

도 2는 본 발명에 적용되는 전력망 회로 모델의 개략도이다. 노드가 사용자에 의해 남겨지는 지를 나타내기 위하여, 회로의 노드 상태가 필요하다. 특정 실시예에, 유지된 노드로서 일부 회로 요소의 양쪽 노드를 설정할 수 있다. 이 회로 요소는 요소(210, 211, 212, 213)의 어느 종류에도 속하지 않고, 비록 속한다고 하 여도 전체 회로의 매우 작은 부분을 차지하고 있다. 2 is a schematic diagram of a power grid model applied to the present invention. To indicate whether a node is left by the user, the node state of the circuit is needed. In certain embodiments, both nodes of some circuit elements may be configured as retained nodes. This circuit element does not belong to any kind of elements 210, 211, 212, and 213, and even if it belongs, occupies a very small part of the entire circuit.

도 4는 본 발명에 적용되는 노드 선택 방법(400)의 흐름도이다. 즉, 도 4는 발명에서 제안하는 축소방법을 적용하기 전에 어떤 노드들은 제거 가능하며 어떤 노드들은 제거 불가능한 노드이기에 남겨 놓고 그리고 축소 가능한 노드들을 많이 선택하면서 축소된 회로의 상대적 오차를 일정 범위를 벗어나지 않도록 하는 흐름도이다. 도 4에서, 처음 입력으로 들어오는 정보는 회로의 각 소자들의 정보 및 연결 정보들 그리고 노드들의 상태 정보 즉 사용자가 미리 정해놓은 꼭 남겨 놓아야 하는 노드들은 "K"로 표기된다. 그리고 최종적으로 우리가 얻게 되는 것은 제거 가능한 노드들은 "R"로 표기 되고 그리고 남겨놓아야 할 노드는 "K"로 표기된 정보들이다. 회로의 모든 노드들에 한하여 이러한 판단 과정을 빠짐없이 진행하여야 한다. 4 is a flowchart of a node selection method 400 applied to the present invention. That is, FIG. 4 shows that some nodes can be removed and some nodes are non-removable nodes before applying the reduction method proposed in the present invention, and so that the relative error of the reduced circuit can be kept within a certain range while selecting a large number of nodes that can be removed. This is a flow chart. In FIG. 4, the first incoming information is the information and connection information of each element of the circuit and the state information of the nodes, that is, the nodes that must be predetermined by the user. And finally what we get is the removable nodes labeled "R" and the nodes to leave are the information labeled "K". All nodes in the circuit should proceed with this determination.

도 4에 제시된 것 중에서 도 2에서 언급한 경우에 속하지 않는 노드들은 노드 선택 절차를 실시하기 전에 미정의 노드로서 설정된다. 도 4의 단계 402의 제거 범위를 나타내는 수학식 8을 만족시키는 모든 노드는 그들이 하나의 선형 저항을 통하여 직접 접속되지 않는 한 함께 제거될 수 있다. The nodes not belonging to the case mentioned in FIG. 2 among those shown in FIG. 4 are set as undefined nodes before performing the node selection procedure. All nodes that satisfy Equation 8 representing the removal range of step 402 of FIG. 4 may be removed together unless they are directly connected through one linear resistor.

우선, 도 4의 단계 401에 도시된 바와 같이 노드는 각 축소에 대해 가능한 한 많은 노드를 선택하기 위해 저항성 정도의 순서로 소트될 것이다. 그 다음, 소트된 노드는 수학식 8을 만족시키는지가 더 확인된다. 만일 수학식 8을 만족시키면, 그 노드는 제거된 노드 "R"로서 표시되고, 인접 노드들은 도 4의 단계 402에 도시된 바와 같이 유지된 노드 "K"로서 표시된다.First, as shown in step 401 of FIG. 4, the nodes will be sorted in order of resistivity to select as many nodes as possible for each reduction. Then, it is further confirmed whether the sorted node satisfies Equation (8). If it satisfies Equation 8, the node is marked as removed node " R ", and adjacent nodes are marked as retained node " K " as shown in step 402 of FIG.

단계 402는 각 노드들을 판단하여 최종적으로 제거 노드와 남겨두는 노드들로 나누는 작업과정을 표시한 것이다. Step 402 displays the process of determining each node and finally dividing it into a removal node and remaining nodes.

첫 번째 판단 단계(402A)는 사용자에 의하여 처음부터 남겨두는 노드로서, "F"로 표기되어 있으면 당연히 남겨두는 노드로 단계 402D에서 "K"로 표기한다. The first judging step 402A is a node left from the beginning by the user. If it is designated as "F", it is a node that is left as a matter of course.

두 번째 판단 단계(402B)는 만약 단계 402A에서 "F"로 표기되지 않았으면 주변 노드들이 먼저 선택되었을 경우를 고려하여 주변 노드들이 "R"로서 표기되었는지를 판단한다. 단계 402B에서 만약 이미 노드 선택과정에 의하여 제거할 노드로 선정되었으면 즉, 주변 노드들이 "R"로서 표기되었으면, 연속적으로 인접한 노드들은 한꺼번에 제거하지 않기로 룰을 정했기 때문에 단계 402D에서 남겨두는 노드로서 "K"로 표기한다. The second judging step 402B determines if the neighboring nodes are marked as "R" in consideration of the case where the neighboring nodes are selected first if it is not marked as "F" in step 402A. In step 402B, if the node has already been selected as the node to be removed by the node selection process, that is, if the neighboring nodes are marked as "R", the node is left as the node to be left in step 402D because the rule is determined not to be removed at once. K ".

세 번째 판단 단계(402C)는 만약 위에 두 조건을 다 만족하지 않으면 최종적으로 해당 노드를 제거할 경우 축소 회로의 오차 범위를 벗어나는지를 판단한다. 이 판단 기준이 그림에서 표시하는 판단단계 "제거 범위가 만족되는가?"에 의하여 판단된다. 단계 402C에서 제거범위가 만족되는 경우 단계 402E에서 "R"로서 표기하고, 만족되지 않는 경우 단계 402D에서 "K"로 표기한다. 단계 402C는 수학식 8과 연관된다.The third decision step 402C determines if the node is out of the error range when the node is finally removed if both conditions are not satisfied. This criterion is judged by the judgment step "Are the removal range satisfied?" Shown in the figure. If the removal range is satisfied in step 402C, it is marked as "R" in step 402E, and if not satisfied, it is marked with "K" in step 402D. Step 402C is associated with equation (8).

즉, 단계 402에서는 단지 위의 노드 선택과정을 거쳐서 남겨두는 노드이면 단계 402D에서 "K"로 표기하고 제거하는 노드이면 "R"로 표기하는 간단한 과정을 나타내고 있다.That is, in step 402, a simple process of marking a node "K" in step 402D and a node "R" is shown in step 402D.

단계 403은 회로 전체 노드들에 대하여 상기 과정을 다 거쳤는가를 판단하는 것으로 미리 소팅(sorting)을 하여 순서를 정한 노드의 끝 번호이면 전체 노드에 대하여 모두 진행했음을 쉽게 판단할 수 있다. 전체 노드에 대하여 진행하지 않은 경우 상기 단계 401과 402단계를 수행한다.In step 403, it is determined whether the process has been completed for all the nodes of the circuit. If it is the end number of the sorted nodes in advance, it can be easily determined that all the nodes have been performed. If the entire node has not proceeded, steps 401 and 402 are performed.

도 3은 본 발명에 의한 회로 모델 축소 해석 방법(300)의 흐름도이다. 도 3에서, 단계 301은 입력회로를 표시하는 데이터를 프로그램에 의하여 읽어드리는 과정을 설명하는 부분으로 네트리스트와 노드 상태 정보를 입력하는 단계이다. 예를 들면 축소전 회로의 정보가 일반적으로 많이 표시하는 형식인 SPICE 포맷(format)으로 되었으면 축소 알고리즘을 적용하기 위하여 이런 회로의 데이터를 내부 알고리즘에서 정한 데이터로 변환이 필요하다. 회로의 자체 특성을 반영하는 데이터 외에 축소를 위한 목적으로 사용될 때 사용자가 특정한 노드들은 남기고 싶은 경우를 대비하여 노드 상태(node state) 정보도 별도로 입력한다. 예를 들면 남기고 싶은 노드에 한하여 "K"로 표시하고 그 외에 제거 가능한 노드에 한하여 “U"로 표시할 수 있습니다. 따라서 이런 정보들도 초기 회로 정보를 입력하는 단계에서 읽어 드리게 된다.3 is a flowchart of a circuit model reduction analysis method 300 according to the present invention. In FIG. 3, step 301 is a part for explaining a process of reading data indicating an input circuit by a program and inputting a netlist and node state information. For example, if the information of the circuit before reduction is in the SPICE format, which is a general format for displaying a lot of information, it is necessary to convert the data of the circuit into data determined by the internal algorithm in order to apply the reduction algorithm. In addition to data reflecting the circuit's own characteristics, node state information is separately input in case the user wants to leave specific nodes when used for reduction purposes. For example, you can mark "K" for the node you want to leave and "U" for other removable nodes, so this information will be read in the initial circuit information input step.

도 3의 단계 302는 제거될 노드들을 선택하는 단계로서, 단계 302에 대응되는 수학식은 노드 선택과정에서 제거 가능한 노드인지 판단하는 기준으로 사용되는 수학식 8과 연관된다. 모든 노드가 도 3의 노드 선택 절차(302)에 의해 검색되고 난 후에, 제거될 노드의 수는 알려져 있다. 특정 실시예에서, 축소의 전후에 노드의 갯수 사이의 비율로서 정의된 축소비는 종결 (터미네이션) 조건 중의 하나로서 선택될 것이다. 즉, 축소 절차는 축소비가 너무 높으면 정지되는 것으로, 이는 더 이상 축소될 수 없음을 의미한다(단계 305). 그렇지 않으면, 제거 단계(303)는 선택된 노드를 제거하고 축소 회로를 생성하는 단계이다. Step 302 of FIG. 3 is a step of selecting nodes to be removed, and the equation corresponding to step 302 is associated with Equation 8 used as a criterion for determining whether the node is removable in the node selection process. After all nodes have been retrieved by the node selection procedure 302 of FIG. 3, the number of nodes to be removed is known. In a particular embodiment, the reduction ratio defined as the ratio between the number of nodes before and after the reduction will be selected as one of the termination (termination) conditions. That is, the reduction procedure is stopped if the reduction ratio is too high, which means that it can no longer be reduced (step 305). Otherwise, the removing step 303 removes the selected node and generates a reduction circuit.

도 3의 제거 단계(303)에서의 동작 단계들을 이하 상세히 설명할 것이다. Operation steps in the removal step 303 of FIG. 3 will be described in detail below.

단계 303에 대응되는 수학식은 단계 302에서 제거 노드로 선택한 노드들을 제거하고 제거 노드의 주변에 등가적인 회로 소자들을 생성할 때 소자의 값들을 결정하는 수학식 13과 수학식 14와 연관된다. 각 제거된 노드에 대해서, 우선 제거된 노드 및 인접 노드 사이의 저항을 제거한다. 그리고 제거된 노드에서의 접지된 커패시터를 또한 제거한다. 그 다음, 저항들은 그 저항 값이 수학식 10으로 주어지는 인접 노드 중에 생성될 것이다. 그 다음, 새로운 접지된 커패시터가 수학식 10으로서 주어지는 인접 노드에 추가된다. 만일 제거된 노드에 부착된 전류원이 있으면, 전류원의 계산된 전류 스케일링 인자 값 및 기호명은 각 인접 노드에 저장된다. 계산된 전류 스케일링 인자 값은 수학식 14에 의해 결정된다. 같은 기호명이 있는 전류원이 인접 노드 중의 하나에 이미 존재하는 경우에, 계산치는 같은 기호명을 갖는 항에 추가된다. 제거된 노드로서 표시된 모든 노드에 대해 축소를 완료하고 난 후에, 그 축소된 회로는 다시 축소될 수 있다. 동일한 절차는 터미네이션 조건을 만족할 때까지 되풀이하여 축소 회로에 적용될 것이다.Equation corresponding to step 303 is associated with equations (13) and (14) that determine the values of the device when removing the nodes selected as removal nodes in step 302 and generating equivalent circuit elements around the removal node. For each removed node, first remove the resistance between the removed node and the adjacent node. And also remove the grounded capacitor at the removed node. The resistors will then be created among the adjacent nodes whose resistance value is given by Eq. Then, a new grounded capacitor is added to the adjacent node given by Eq. If there is a current source attached to the removed node, the calculated current scaling factor value and symbol name of the current source are stored in each adjacent node. The calculated current scaling factor value is determined by equation (14). If a current source with the same symbol name already exists at one of the adjacent nodes, the calculation is added to the term with the same symbol name. After completing the reduction for all nodes marked as removed nodes, the reduced circuit can be reduced again. The same procedure will be applied to the reduction circuit over and over until the termination condition is met.

도 3의 단계 304는 노드 정보를 갱신하는 단계로서 본 발명에 의한 회로 모델 축소 해석 방법을 반복적으로 적용하기 위하여 필요하다. 전단계 축소과정을 거치게 되면 제거되어 사라진 노드 그리고 계속 남아 있는 노드 및 각 노드를 연결하는 소자들의 값들이 변하게 된다. 따라서 새로 얻어진 축소 회로를 다시 축소하 기 위하여 필요한 정보들을 업데이트 하게 된다. Step 304 of FIG. 3 is a step of updating node information, which is necessary to repeatedly apply the circuit model reduction analysis method according to the present invention. As a result of the previous step, the values of the removed and lost nodes, the remaining nodes, and the devices connecting each node change. Therefore, necessary information is updated to reduce the newly obtained reduction circuit.

도 3의 단계 305에 도시된 바와 같이, 만일 더 이상 축소가 가능하지 않고, 또는 반복 횟수가 사용자에 의해 주어진 값을 초과하는 경우 축소 절차는 정지한다. RC 네트 리스트는 단계 306의 축소의 최종 결과로부터 직접 생성될 것이다. SPICE 같은 네트 화일이 전류원 조작의 완료 후에 생성될 것이다. 최종적으로 얻어지는 전류원은 축소 과정을 거쳐 얻어진 최종 전류원에 포함한 전류원 이름 정보와 상대적 스케일링 인자 값을 이용하여 계산된다. 이는 여러 개의 다른 전류원을 비교하고, 전류원의 정보로부터 새로운 전류원을 위한 값을 계산하는 것에 의해 축소 회로의 각 노드에 연결된 PWL 독립 전류원이 얻어질 수 있다.As shown in step 305 of FIG. 3, if the reduction is no longer possible, or if the number of repetitions exceeds the value given by the user, the reduction procedure stops. The RC net list will be generated directly from the final result of the reduction in step 306. A network file such as SPICE will be created after the completion of the current source operation. The final obtained current source is calculated using the current source name information and relative scaling factor values included in the final current source obtained through the reduction process. This can be achieved by comparing several different current sources and calculating the value for the new current source from the information of the current source to obtain a PWL independent current source connected to each node of the reduction circuit.

도 5는 본 발명에 적용되는 축소 회로의 부분 선형(PWL; piecewise linear) 전류원의 생성 과정을 설명하기 위한 파형도로서, 축소 회로의 후처리 단계에서 새로 얻어지는 전류를 얻는 과정을 표시한다. 여러 단계의 반복적인 축소 단계에서 맨 처음 축소 전에 전류원들의 번호 혹은 전류원이 붙어있는 노드들의 번호들과 축소 단계에서 전류원에 대한 스케일링 인자(scaling factor)들을 가지고 최종적으로 이런 정보들을 바탕으로 축소 회로의 각 전류원들을 구성해야 한다.FIG. 5 is a waveform diagram illustrating a process of generating a piecewise linear (PWL) current source of a reduction circuit according to the present invention. Based on this information, the number of current sources, or the number of nodes to which the current source is attached, and the scaling factors for the current source in the reduction phase before the first reduction in several iterative reduction phases. Current sources must be configured.

도 5의 전류원 파형은 도 2의 전류원의 파형도(500)로 본 발명에 의한 축소 회로의 전류원의 생성 과정을 상세하게 도시한 예시도이다. 파형 501은 최종적으로 얻어지는 전류원의 파형도이다. 그리고 파형 502, 503, 504는 축소 전 회로의 전류원의 파형을 표시하고 그 왼쪽에 표기된 전류식의 계수 2, 0.4, 0.6은 최종 축소 회로의 파형 501과 연관되는 전류원들에 대한 스케일링 인자(scaling factor)이 다. PWL 형식의 전류원을 선택하였기 때문에 구성된 각 전류원들의 시작점, 끝점, 봉우리 점들의 값들을 합하여 새로운 전류원을 구성하는 시작점, 끝점, 봉우리 점들을 구성하게 된다.The current source waveform of FIG. 5 is a waveform diagram 500 of the current source of FIG. 2, which is an exemplary diagram illustrating a process of generating a current source of a reduction circuit according to the present invention in detail. Waveform 501 is a waveform diagram of a current source finally obtained. And waveforms 502, 503, and 504 represent the waveforms of the current source of the circuit before reduction, and the coefficients 2, 0.4, and 0.6 of the current equation shown on the left are scaling factors for the current sources associated with waveform 501 of the final reduction circuit. )to be. Since the PWL type current source is selected, the starting point, the end point, and the peak points of each configured current source are added together to form the starting point, the end point, and the peak points forming a new current source.

즉, 축소 과정 이후, 축소 후 회로의 노드는 기호명 및 전류 스케일링 인자 값을 나타내는 전류원(502, 503, 504)으로 구성된다. 본 발명에서, 각 시점에 대한 새로운 전류 값은 각 전류원으로부터 기여를 더하는 것에 의해 획득된다. 만일 시점이 새로운 전류원의 시점과 같으면, 각 전류원으로부터의 기여는 직접 획득된다. 그렇지 않다면, 새로운 전류원의 시점에서 그 시점이 속한 기간 내에서 기여가 선형 보간에 의해 얻어진다. 위의 과정을 거쳐 최종적으로 새로운 PWL 전류원(501)은 생성된다. 도 5에서 축소과정에서 연관된 전류원의 스케일링 인자 값을 결정하는 수학식 14와 연관된다. That is, after the reduction process, the nodes of the circuit after reduction are composed of current sources 502, 503, 504 representing symbol names and current scaling factor values. In the present invention, a new current value for each time point is obtained by adding the contribution from each current source. If the time point is the same as the time point of the new current source, the contribution from each current source is obtained directly. Otherwise, the contribution is obtained by linear interpolation within the period to which the time point belongs at the time point of the new current source. Through the above process, a new PWL current source 501 is finally generated. In FIG. 5, Equation 14 is used to determine a scaling factor value of an associated current source in a reduction process.

컴퓨터프로그램 생성물은 어떤 기계 판독 가능 미디어, 이를테면 EPROM, ROM, RAM, DRAM, 디스크 기억 장치 또는 테이프로, 그 위에 컴퓨터 가독 코드를 기록하여, 컴퓨터가 그를 읽고 실행할 때 그 컴퓨터가 특정 기능 또는 연속된 특정 기능들을 수행하도록 명령한다. 컴퓨터는 프로그램 코드를 로드하고 있는 컴퓨터프로그램 생성물을 포함하며, 이는 컴퓨터가 코드를 기록하고 있는 DRAM 및/또는 디스크 메모리를 통합하고 있기 때문이다. 본 발명의 회로 모델 축소 해석 방법을 실행하는 컴퓨터는 일반적으로 또한 프로그램 생성물을 통합할 것이다. 이는 회로 모델 축소 해석 방법이 수행된 동안, 회로 모델 축소 해석 방법을 위한 코드가 컴퓨터의 메모리에 전형적으로 존재하기 때문이다.A computer program product is any machine readable medium, such as EPROM, ROM, RAM, DRAM, disk storage, or tape, that writes computer readable code thereon so that when the computer reads and executes it, Command to perform the functions. The computer includes a computer program product that is loading program code, because the computer incorporates DRAM and / or disk memory that is recording the code. Computers implementing the circuit model reduction analysis method of the present invention will generally also incorporate a program product. This is because while the circuit model reduction analysis method is being performed, the code for the circuit model reduction analysis method is typically present in the computer's memory.

본 발명에 따르는 회로 모델 축소 해석 방법을 수행하기 위한 장치는 메모리 시스템을 구비한다. 이 메모리 시스템은 메인 메모리, 캐시 및 디스크 기억 장치 서브시스템의 하나 이상의 레벨을 통합한다. 메모리 시스템은 하나의 회로 모델 및, 처리기에게 지금까지 기술된 것과 같이 상기 회로 모델에 도 3의 방법의 단계를 수행하도록 명령을 주기 위한 연속된 계 판독 가능 명령을 기록하고 있다. 특정 실시예에서 메모리 시스템은 디지털 컴퓨터의 메모리이고, 처리기는 디지털 컴퓨터의 프로세서이다.An apparatus for performing the circuit model reduction analysis method according to the present invention includes a memory system. This memory system incorporates one or more levels of main memory, cache, and disk storage subsystems. The memory system records one circuit model and a series of system readable instructions for instructing the processor to perform the steps of the method of FIG. 3 on the circuit model as described so far. In a particular embodiment the memory system is the memory of the digital computer and the processor is the processor of the digital computer.

도 1은 본 발명에 적용되는 집적회로의 배전 네트워크의 부분을 도시하고 있는 개략도이다.1 is a schematic diagram showing a portion of a distribution network of an integrated circuit applied to the present invention.

도 2는 본 발명에 적용되는 전력망 회로 모델의 개략도이다.2 is a schematic diagram of a power grid model applied to the present invention.

도 3은 본 발명에 의한 회로 모델 축소 해석 방법의 흐름도이다.3 is a flowchart of a circuit model reduction analysis method according to the present invention.

도 4는 본 발명에 적용되는 노드 선택 방법의 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a node selection method applied to the present invention.

도 5는 본 발명에 적용되는 축소 회로의 부분선형(PWL; piecewise linear) 전류원의 생성 과정을 설명하기 위한 파형도이다.5 is a waveform diagram illustrating a generation process of a piecewise linear (PWL) current source of a reduction circuit according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100...배전 네트워크 101...층간 바이어100 ... Distribution Network 101 ... Interlayer Buyer

102...능동소자 103...금속 와이어102.Active element 103 ... Metal wire

200...RC 트리 네트워크 210...접지선형 커패시터200 ... RC Tree Network 210 ... Ground Linear Capacitors

211...부동 선형 저항 212...DC 정전압원211 ... Floating linear resistor 212 ... DC constant voltage source

213...독립 접지 전류원213 ... Independent ground current source

Claims (8)

회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, In the circuit model reduction analysis method, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계;Inputting information about the original circuit configuration, including a circuit net list having independent current sources and node states; 제거될 노드를 선택하는 단계;Selecting a node to be removed; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계;Removing the selected node and creating a reduction circuit; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, Preprocessing the circuit net list with the independent current source between inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list with the independent current source and node status and selecting the node to be removed. Include, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 독립 전류원 및 노드 정보를 가지는 RC 네트 리스트의 입력 처리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.The preprocessing step further includes preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio, wherein the preprocessing step further comprises input processing of an RC netlist with independent current source and node information. How to interpret. 회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, In the circuit model reduction analysis method, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계;Inputting information about the original circuit configuration, including a circuit net list having independent current sources and node states; 제거될 노드를 선택하는 단계;Selecting a node to be removed; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계;Removing the selected node and creating a reduction circuit; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, Preprocessing the circuit net list with the independent current source between inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list with the independent current source and node status and selecting the node to be removed. Include, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 주어진 시간 스텝에 대한 커패시턴스의 유효한 컨덕턴스의 계산을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.The preprocessing step further comprises preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio, wherein the preprocessing step further comprises the calculation of the effective conductance of the capacitance for a given time step. . 회로 모델 축소 해석 방법에 있어서, In the circuit model reduction analysis method, 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계;Inputting information about the original circuit configuration, including a circuit net list having independent current sources and node states; 제거될 노드를 선택하는 단계;Selecting a node to be removed; 선택된 노드를 제거하고, 축소 회로를 생성하는 단계;Removing the selected node and creating a reduction circuit; 축소 회로의 중간 데이터로부터 축소된 회로 네트 리스트를 후처리하는 단계를 포함하며, Post-processing the reduced circuit net list from the intermediate data of the reduced circuit, 상기 독립 전류원 및 노드 상태를 가지는 회로 네트 리스트를 포함하여 원래 회로 구성에 관한 정보를 입력하는 단계와 상기 제거될 노드를 선택하는 단계의 사이에 독립 전류원을 구비한 회로 네트 리스트를 전처리하는 단계를 더 포함하며, Preprocessing the circuit net list with the independent current source between inputting information about the original circuit configuration including the circuit net list with the independent current source and node status and selecting the node to be removed. Include, 상기 전처리 단계는 오차 제어 및 높은 축소비를 위해 회로 네트리스트를 전처리하는 것을 더 포함하며, 상기 전처리 단계는 회로내 노드의 저항의 계산을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.And the preprocessing step further comprises preprocessing the circuit netlist for error control and a high reduction ratio, wherein the preprocessing step further comprises calculating a resistance of the node in the circuit. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노드 선택 단계는 저항 순서에 의해 노드를 소트하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.4. A method as claimed in any preceding claim wherein the node selection step further comprises sorting the nodes in order of resistance. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노드 선택 단계는 커패시턴스의 인덕턴스 값과 노드의 인덕턴스의 합을 비교하는 것에 의해 노드의 제거를 결정하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.4. The circuit model of claim 1, wherein the node selection step further comprises determining removal of the node by comparing the inductance value of the capacitance with the sum of the inductances of the nodes. Collapse interpretation method. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드들 사이에 저항을 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.4. The method of any one of claims 1 to 3, wherein said node removing step further comprises generating a resistance between each node adjacent to the removed node. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드로의 접지된 커패시턴스를 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법. 4. The method of any one of the preceding claims, wherein removing the node further comprises generating grounded capacitance to each node adjacent to the removed node. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노드 제거 단계는 제거된 노드에 인접한 각 노드로의 독립 전류원을 생성하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 모델 축소 해석 방법.4. The method of any one of the preceding claims, wherein removing the node further comprises generating an independent current source to each node adjacent to the removed node.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20030081475A (en) * 2001-02-28 2003-10-17 닛본 덴끼 가부시끼가이샤 Method and system for designing circuit layout
KR20040068507A (en) * 2004-03-13 2004-07-31 삼성전자주식회사 Power distribution network simulation method using variable reduction method
KR100486274B1 (en) 2002-10-24 2005-04-29 삼성전자주식회사 Method for generating net-list for integrated circuit device design

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030081475A (en) * 2001-02-28 2003-10-17 닛본 덴끼 가부시끼가이샤 Method and system for designing circuit layout
KR100486274B1 (en) 2002-10-24 2005-04-29 삼성전자주식회사 Method for generating net-list for integrated circuit device design
KR20040068507A (en) * 2004-03-13 2004-07-31 삼성전자주식회사 Power distribution network simulation method using variable reduction method

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