JPS63205570A - 電流センサ - Google Patents
電流センサInfo
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- JPS63205570A JPS63205570A JP62038829A JP3882987A JPS63205570A JP S63205570 A JPS63205570 A JP S63205570A JP 62038829 A JP62038829 A JP 62038829A JP 3882987 A JP3882987 A JP 3882987A JP S63205570 A JPS63205570 A JP S63205570A
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- Japan
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- magnetic field
- circuit
- coil
- conductive wire
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 5
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 abstract description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
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- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、導電線に流れる電流を非接触状態で検出可能
な電流センサに関する。
な電流センサに関する。
(従来の技術)
従来、導電線に流れる電流の検出方法として、DCCH
に代表される磁気式電流センサを用いる方式、被測定路
中に挿入された抵抗の電圧降下を検出する方式などがあ
る。
に代表される磁気式電流センサを用いる方式、被測定路
中に挿入された抵抗の電圧降下を検出する方式などがあ
る。
磁気式電流センサは信頼性が割合に高いが、応答性が悪
いという欠点がある。
いという欠点がある。
また、抵抗の電圧降下を検出する方式は応答性に優れる
が、温度による抵抗値変動、抵抗挿入による回路状態変
動により検出精度が低いという欠点がある。
が、温度による抵抗値変動、抵抗挿入による回路状態変
動により検出精度が低いという欠点がある。
(発明が解決しようとする問題点)
上記のように、従来の磁気式電流センサは応答性が悪い
という欠点があり、抵抗の電圧降下検出形は検出精度が
低いという欠点がある。
という欠点があり、抵抗の電圧降下検出形は検出精度が
低いという欠点がある。
そこで本発明は上記欠点を除去するもので、その目的と
するところは、応答性に優れ、検出精度が高い電流セン
サを提供することにある。
するところは、応答性に優れ、検出精度が高い電流セン
サを提供することにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、磁心にコイルを巻回して成るインダクタを、
該導電線を中心とし且つ該導電線と直交する面における
円の円周方向に所定間隔を有して複数個配置すると共に
該コイルを電気的に接続して成り該導電線電流によって
形成される磁界を検出可能なセンサ部と、このセンサ部
の検出出力を処理する処理回路とを有するものである。
該導電線を中心とし且つ該導電線と直交する面における
円の円周方向に所定間隔を有して複数個配置すると共に
該コイルを電気的に接続して成り該導電線電流によって
形成される磁界を検出可能なセンサ部と、このセンサ部
の検出出力を処理する処理回路とを有するものである。
(作 用)
前記導電線に流れる電流によって形成された磁界を、前
記センサ部における複数のインダクタによって検出し、
この検出出力を前記処理回路で処理することで電流検出
における応答性の向上を図っている。また、導電線電流
の非接触検出が可能であり、被測定路中に抵抗挿入等を
行う必要がないから、電流の検出精度が高い。
記センサ部における複数のインダクタによって検出し、
この検出出力を前記処理回路で処理することで電流検出
における応答性の向上を図っている。また、導電線電流
の非接触検出が可能であり、被測定路中に抵抗挿入等を
行う必要がないから、電流の検出精度が高い。
(実施例)
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
第1図(a)は本発明の一実施例を示す回路図であり、
同図(b)は本実施例におけるセンサ部の平面図である
。
同図(b)は本実施例におけるセンサ部の平面図である
。
第1図(a)に示すように本実施例では、センサ部1と
処理回路17とを有する。
処理回路17とを有する。
センサ部1は、磁心にコイルを巻回して成る複数のイン
ダクタ2A、28.3A、3B、4A。
ダクタ2A、28.3A、3B、4A。
4Bを有し、後述するように導電線電流によって形成さ
れる磁界を検出するものである。インダクタ2A乃至4
Bはそれぞれ磁界検出用の第1のコイル13と、負帰還
電流供給用の第2のコイル14とを有する。磁心として
は第2図に示すように4s長の零磁歪アモルファスワイ
ヤ16を3本束ね、これに第1.第2のコイル13.1
4をそれぞれ120タ一ン巻回している。尚、コイル長
は3履であり、零磁歪アモルファスワイヤ15の両端が
それぞれ0.58ずつ露出されている。各インダクタに
おける第1.第2のコイル13゜14はそれぞれ直列接
続されており、インダクタ2A及び4Bにあける第1.
第2のコイル端を前記処理回路3に接続するようにして
いる。
れる磁界を検出するものである。インダクタ2A乃至4
Bはそれぞれ磁界検出用の第1のコイル13と、負帰還
電流供給用の第2のコイル14とを有する。磁心として
は第2図に示すように4s長の零磁歪アモルファスワイ
ヤ16を3本束ね、これに第1.第2のコイル13.1
4をそれぞれ120タ一ン巻回している。尚、コイル長
は3履であり、零磁歪アモルファスワイヤ15の両端が
それぞれ0.58ずつ露出されている。各インダクタに
おける第1.第2のコイル13゜14はそれぞれ直列接
続されており、インダクタ2A及び4Bにあける第1.
第2のコイル端を前記処理回路3に接続するようにして
いる。
ここで、センサ部1のインダクタ配置関係について第1
図(b)を基に説明する。
図(b)を基に説明する。
同図において、7は50sX50mの板状に形成された
絶縁部材であり、−辺中央から中心部に向って切欠され
た切欠部8を有する。インダクタ2A、3A、4A、2
B、38.48はこの絶縁部材7の表面における半径r
の円15の円周方向に所定間隔を有して配列されている
。切欠部8は、紙面に対して垂直方向に延在する導電線
9を円15の中心部まで案内するもので、案内された導
電線9と各インダクタの配列面とは直交関係にある。こ
こで、導電線9に流れる電流をIとし、半径rの点の磁
界をHとし、半径rの円周に沿ってアンペアの周回定理
を適用すると、2πrH=Iとなるから、次の式が得ら
れ、 ■ この式に、I、Hの値を代入すれば円15の半径rを算
出できる。例えばI=200 [A]とし、磁界検出の
直線範囲を20 [Oelと仮定すると、1 [0el
= 79 EA/ml テaルカラ、H=20[0el
=790X2 [A/m]となり、 となる。
絶縁部材であり、−辺中央から中心部に向って切欠され
た切欠部8を有する。インダクタ2A、3A、4A、2
B、38.48はこの絶縁部材7の表面における半径r
の円15の円周方向に所定間隔を有して配列されている
。切欠部8は、紙面に対して垂直方向に延在する導電線
9を円15の中心部まで案内するもので、案内された導
電線9と各インダクタの配列面とは直交関係にある。こ
こで、導電線9に流れる電流をIとし、半径rの点の磁
界をHとし、半径rの円周に沿ってアンペアの周回定理
を適用すると、2πrH=Iとなるから、次の式が得ら
れ、 ■ この式に、I、Hの値を代入すれば円15の半径rを算
出できる。例えばI=200 [A]とし、磁界検出の
直線範囲を20 [Oelと仮定すると、1 [0el
= 79 EA/ml テaルカラ、H=20[0el
=790X2 [A/m]となり、 となる。
次に、前記処理回路3の詳細な構成について第1図(a
)を基に説明する。
)を基に説明する。
インダクタ2A、4Bそれぞれにおける第1のコイル1
3より引き出されたリード線J2x、I2’はそれぞれ
トランジスタTr1.Tr2及び信号線J13.Jla
を介してフィルタ回路11の入力端に接続されている。
3より引き出されたリード線J2x、I2’はそれぞれ
トランジスタTr1.Tr2及び信号線J13.Jla
を介してフィルタ回路11の入力端に接続されている。
各トランジスタTrt。
Te3のベースには、各信号線A1.J12に接続され
た転流回路(コンデンサCs、、抵抗RBからなる)の
出力がクロスされて印加されるようになっている。また
信号線A3.ia間には負荷抵抗RL、RLが直列接続
され、これと並列に可変抵抗VRが接続され、この可変
抵抗VRの摺動子と前記抵抗RL、RLの直列接続点と
は共通接地されている。又、インダクタ4A、2Bそれ
ぞれにおける第1のコイル13の直列接続点には電源電
圧E(直流正極側)が印加され、フィルタ回路11から
出力E。1丁1が取り出せることとなる。
た転流回路(コンデンサCs、、抵抗RBからなる)の
出力がクロスされて印加されるようになっている。また
信号線A3.ia間には負荷抵抗RL、RLが直列接続
され、これと並列に可変抵抗VRが接続され、この可変
抵抗VRの摺動子と前記抵抗RL、RLの直列接続点と
は共通接地されている。又、インダクタ4A、2Bそれ
ぞれにおける第1のコイル13の直列接続点には電源電
圧E(直流正極側)が印加され、フィルタ回路11から
出力E。1丁1が取り出せることとなる。
即ち、この回路の初段は、インダクタ2Aと28゜3A
と38.4Aと4Bをそれぞれ1組とする計3組のイン
ダクタ群と、抵抗RL、RLとを用いたマルチバイブレ
ータブリッジとして構成されている。尚、フィルタ回路
11は、抵抗R1,R4及びコンデンサC1,02より
成る簡易なものを適用している(fc=10乃至50k
Hz)。
と38.4Aと4Bをそれぞれ1組とする計3組のイン
ダクタ群と、抵抗RL、RLとを用いたマルチバイブレ
ータブリッジとして構成されている。尚、フィルタ回路
11は、抵抗R1,R4及びコンデンサC1,02より
成る簡易なものを適用している(fc=10乃至50k
Hz)。
そして、フィルタ回路11の出力は、後段に配置された
差動増幅回路12に取り込まれるようになっている。こ
の差動増幅回路12は、演算増幅器10の反転入力端(
−)に抵抗R2、R3を接続し、非反転入力端(+)に
抵抗R5、Raを接続し、抵抗R3の他端を演算増幅器
10の出力端に接続し、抵抗R6の他端を接地して成り
、抵抗R2、Rs又はR3、Rsの値を変えることによ
り利得調整を行うことができるようになっている。
差動増幅回路12に取り込まれるようになっている。こ
の差動増幅回路12は、演算増幅器10の反転入力端(
−)に抵抗R2、R3を接続し、非反転入力端(+)に
抵抗R5、Raを接続し、抵抗R3の他端を演算増幅器
10の出力端に接続し、抵抗R6の他端を接地して成り
、抵抗R2、Rs又はR3、Rsの値を変えることによ
り利得調整を行うことができるようになっている。
この差動増幅回路10の出力E。t1丁2は電流増幅回
路5に取り込まれるようになっており、この電流増幅出
力が負帰還電流として各インダクタ2A。
路5に取り込まれるようになっており、この電流増幅出
力が負帰還電流として各インダクタ2A。
2B、3A、38.4A、4Bにおける第2のコイル1
4に供給されるようになっている。電流増幅回路5とし
ては、演算増幅器6の反転入力端と接地ラインとの間に
抵抗R7を接続して成るものを適用している。尚、負帰
還電流rLは、となる。
4に供給されるようになっている。電流増幅回路5とし
ては、演算増幅器6の反転入力端と接地ラインとの間に
抵抗R7を接続して成るものを適用している。尚、負帰
還電流rLは、となる。
次に、上記構成の作用について説明する。
センサ部1における絶縁部材7の切欠部8に挿入された
導電線9に電流■が流れていれば、この電流Iによって
、 なる磁界が形成される。
導電線9に電流■が流れていれば、この電流Iによって
、 なる磁界が形成される。
一方、処理回路17で設定された駆動周波数(例えば1
00乃至500kH2)によりセンサ部1が駆動され、
このとき導電線電流Iによる磁界Hによって各インダク
タのBH曲線上の動作点が移動し、インダクタ2A、3
A、4Aと、28゜3B、4Bとの間で平均的なインダ
クタンス(線形化インダクタンス)に差を生じ、この差
分に応じてEOIJTl及びEOtlT2が出力される
。
00乃至500kH2)によりセンサ部1が駆動され、
このとき導電線電流Iによる磁界Hによって各インダク
タのBH曲線上の動作点が移動し、インダクタ2A、3
A、4Aと、28゜3B、4Bとの間で平均的なインダ
クタンス(線形化インダクタンス)に差を生じ、この差
分に応じてEOIJTl及びEOtlT2が出力される
。
そして出力6017丁2が電流増幅回路5に入力される
と、この電流増幅回路5より、各インダクタにおける第
2のコイル14に負帰還電流ILが供給される。
と、この電流増幅回路5より、各インダクタにおける第
2のコイル14に負帰還電流ILが供給される。
ここで、第2のコイル14への負帰還電流を電流増幅回
路5を介して供給するようにしたのは次の理由による。
路5を介して供給するようにしたのは次の理由による。
電流増幅回路5の代わりに負帰還抵抗を接続し、この抵
抗を介して負帰還をかけることもできるが、その場合、
負帰還抵抗が各インダクタにおける第2の巻線抵抗とな
るため、抵抗値をあまり小さくすると、各インダクタの
動特性変動によりマルチバイブレータブリッジの発振動
作が不安定となる虞れがある。このため負帰還抵抗の値
をあまり小ざくできず、強力な負帰還をかけることがで
きない。
抗を介して負帰還をかけることもできるが、その場合、
負帰還抵抗が各インダクタにおける第2の巻線抵抗とな
るため、抵抗値をあまり小さくすると、各インダクタの
動特性変動によりマルチバイブレータブリッジの発振動
作が不安定となる虞れがある。このため負帰還抵抗の値
をあまり小ざくできず、強力な負帰還をかけることがで
きない。
そこで本実施例においては、負帰還抵抗の代わりに、電
流増幅回路5を設けている。これによれば、第2の巻線
14側から見たインピーダンスが十分大きい状態で強力
な電流角@運をかけること 〜ができ、負帰還抵抗に
よる場合に比して電流検出 〜゛(特性の直線性を大幅
に改善することができる。
流増幅回路5を設けている。これによれば、第2の巻線
14側から見たインピーダンスが十分大きい状態で強力
な電流角@運をかけること 〜ができ、負帰還抵抗に
よる場合に比して電流検出 〜゛(特性の直線性を大幅
に改善することができる。
第3図(a>、(b)乃至第5図(a)、(b)は本実
施例の試験結果を示すもので第3図(a)。
施例の試験結果を示すもので第3図(a)。
(b)はマルチバイブレータブリッジの電流Icを10
0mAとした場合、第4図(a>、(b)はIc=20
0mAとした場合、第5図(a)、(b)はIc250
mAとした場合であり、各図(a)は負帰還をかけない
場合、各図(b)は負帰還をかけた場合の特性をそれぞ
れ示している。
0mAとした場合、第4図(a>、(b)はIc=20
0mAとした場合、第5図(a)、(b)はIc250
mAとした場合であり、各図(a)は負帰還をかけない
場合、各図(b)は負帰還をかけた場合の特性をそれぞ
れ示している。
尚、電流増幅回路5の電源は±15Vとし、R7゛=1
00とした。印加磁界Hexは交流60Hzである。
00とした。印加磁界Hexは交流60Hzである。
第3図(a)、(b)の特性図より負帰還をかけること
で直線性が改善されるのがよく解る。例えばIc=20
0mAの場合では±50 [Oel近くまで、Ic=2
50mAの場合では±60 [Oel近くまで直線とな
り、負帰還をかけない場合に比べて直線範囲は約2.5
倍に拡大されている。
で直線性が改善されるのがよく解る。例えばIc=20
0mAの場合では±50 [Oel近くまで、Ic=2
50mAの場合では±60 [Oel近くまで直線とな
り、負帰還をかけない場合に比べて直線範囲は約2.5
倍に拡大されている。
第1図(b)の半径rを2cm程度とすると、負帰還を
かけない場合には±200乃至±300Aまでの電流測
定しか行えないが、負帰還をかけた場合には直線範囲の
拡大により±500乃至±60OAまでの電流測定が可
能となる。
かけない場合には±200乃至±300Aまでの電流測
定しか行えないが、負帰還をかけた場合には直線範囲の
拡大により±500乃至±60OAまでの電流測定が可
能となる。
また、負帰還をかけることにより温度特性も改善される
。
。
このように本実施例においては、センサ部1の切欠部8
により導電線9に対して着脱自在であり、導電線電流の
非接触検出が可能であり、センサ部1自体を薄型且つ小
型、軽量に構成できるため携帯性に優れており、零磁歪
アモルファスを磁心としているため撮動や衝撃応力など
の外乱応力に対して不感でロバストネスを備えている。
により導電線9に対して着脱自在であり、導電線電流の
非接触検出が可能であり、センサ部1自体を薄型且つ小
型、軽量に構成できるため携帯性に優れており、零磁歪
アモルファスを磁心としているため撮動や衝撃応力など
の外乱応力に対して不感でロバストネスを備えている。
また、マルチバイブレータ回路の発振周波数及びフィル
タ回路のカットオフ周波数を上げることで応答性を高め
ることができ(DC乃至50kHz>、各インダクタの
第2のコイル14を介して負帰還をかけることで直線性
及び温度特性の向上を図ることができる。特に本実施例
では負帰還抵抗によらず、電流増幅回路5を介して第2
のコイル14に負帰還電流を供給するようにしているた
め、処理回路3の安定動作を保ちつつ強力な電流帰還を
かけることができ、諸特性を大幅に改善することができ
る。更にインダクタ2Aと2B、3Aと3B。
タ回路のカットオフ周波数を上げることで応答性を高め
ることができ(DC乃至50kHz>、各インダクタの
第2のコイル14を介して負帰還をかけることで直線性
及び温度特性の向上を図ることができる。特に本実施例
では負帰還抵抗によらず、電流増幅回路5を介して第2
のコイル14に負帰還電流を供給するようにしているた
め、処理回路3の安定動作を保ちつつ強力な電流帰還を
かけることができ、諸特性を大幅に改善することができ
る。更にインダクタ2Aと2B、3Aと3B。
4Aと4Bとをそれぞれ対向配置しているため、外乱磁
界による影響を相殺することができ、電流検出精度を高
めることができる。勿論、相対向する1対のインダクタ
(例えば2A、2B)だけでも電流検出ができるし、外
乱相殺効果を発揮できるが、相対向するインダクタンス
対の数が多いはど外乱相殺効果が大きくなる。
界による影響を相殺することができ、電流検出精度を高
めることができる。勿論、相対向する1対のインダクタ
(例えば2A、2B)だけでも電流検出ができるし、外
乱相殺効果を発揮できるが、相対向するインダクタンス
対の数が多いはど外乱相殺効果が大きくなる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形実施が可能である。
々の変形実施が可能である。
、[発明の効果]
以上詳述したように本発明によれば、導電線電流の非接
触検出が可能であり、応答性に優れ、検出精度が高い電
流センサを提供することができる。
触検出が可能であり、応答性に優れ、検出精度が高い電
流センサを提供することができる。
第1図(a)は本発明の一実施例を示す回路図、第1図
(b)は本実施例におけるセンサ部の平面図、第2図は
本実施例におけるインダクタの斜視図、第3図(a)、
(b)、第4図(a)。 (b)、第5図(a)、(b)は本実施例の試験結果を
示す特性図である。 1・・・センサ部、 2A、2B、3A、3B、4A、4B ・・・インダクタ、 9・・・導電線、13・・・第1のコイル、14・・・
第2のコイル、17・・・処理回路。 (b) 第 1 図 2A、2 B、3A、3 B、4A、4B第2図 (a) Hex(Oe) 第4図 (Q ) HeX (Oe ) (b、 Hex(Oe) 第5図
(b)は本実施例におけるセンサ部の平面図、第2図は
本実施例におけるインダクタの斜視図、第3図(a)、
(b)、第4図(a)。 (b)、第5図(a)、(b)は本実施例の試験結果を
示す特性図である。 1・・・センサ部、 2A、2B、3A、3B、4A、4B ・・・インダクタ、 9・・・導電線、13・・・第1のコイル、14・・・
第2のコイル、17・・・処理回路。 (b) 第 1 図 2A、2 B、3A、3 B、4A、4B第2図 (a) Hex(Oe) 第4図 (Q ) HeX (Oe ) (b、 Hex(Oe) 第5図
Claims (2)
- (1)導電線に流れる電流の測定を可能とする電流セン
サにおいて、磁心にコイルを巻回して成るインダクタを
、該導電線を中心とし且つ該導電線と直交する面におけ
る円の円周方向に所定間隔を有して複数個配置すると共
に該コイルを電気的に接続して成り該導電線電流によつ
て形成される磁界を検出可能なセンサ部と、このセンサ
部の検出出力を処理する処理回路とを有することを特徴
とする電流センサ。 - (2)前記各インダクタは、磁界検出用の第1のコイル
と、前記処理回路出力に基づく負帰還電流を供給可能な
第2のコイルとを有する特許請求の範囲第1項に記載の
電流センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62038829A JPS63205570A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 電流センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62038829A JPS63205570A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 電流センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63205570A true JPS63205570A (ja) | 1988-08-25 |
Family
ID=12536119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62038829A Pending JPS63205570A (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 電流センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63205570A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4963818A (en) * | 1988-09-22 | 1990-10-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Current sensor having an element made of amorphous magnetic metal |
CN106291057A (zh) * | 2016-08-14 | 2017-01-04 | 卢庆港 | 基于多ct下重构bh曲线特征的暂态饱和电流识别方法 |
CN106371044A (zh) * | 2016-08-22 | 2017-02-01 | 卢庆港 | 一种基于漏磁的箱体内部铁心工作状态监测方法 |
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1987
- 1987-02-20 JP JP62038829A patent/JPS63205570A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4963818A (en) * | 1988-09-22 | 1990-10-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Current sensor having an element made of amorphous magnetic metal |
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