JPS63128727A

JPS63128727A - チツプ部品の実装方式

Info

Publication number: JPS63128727A
Application number: JP61275543A
Authority: JP
Inventors: Takao Kashiwabara; 柏原　孝穂
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1986-11-19
Filing date: 1986-11-19
Publication date: 1988-06-01

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コ本発明は１．ダイオードチップなどチップ部品の実装方
式に係わる。

［背景技術と問題点コダイオードチップをワーク上にマウントする場合、ピッ
ク・プレイスユニットを用い、ダイオードチップをピッ
クアップし、所定位置におかれたワークの所定位置にマ
ウントする。この場合、マウントされるダイオードチッ
プは電気的特性を検査して選択されたものが、ピックア
ップの回定められた面を向けて用意され、これを順次ピ
ックアップして所定位置まで運びマウントできればよい
が、予め電気的特性を検査せず、これをビック・ブレイ
スユニットに表裏不揃いのまま供給して、これより電気
的特性の良好なもの、且つ所定の面を向いたもののみを
ビック・ブレイスユニットのライン中において選択して
これを所定のワーク上にマウントすれば、すくなくとも
前記予めオフラインで行う電気特性検査、供給に際して
必要とされる所定面への揃えの工程はなくなる。

しかし、パーツフィーダやトレイでダイオードチップを
供給し、ピック・プレイスユニットを用いて基板上にマ
ウントを行う場合、電気特性の検査、ダイオード表裏の
検査からマウントまで短い工程内で不良品、表裏逆とな
り不適格姿勢のものを回収することは極めて困難である
。何故ならば、ピック・プレイスユニットのアームの軌
跡は一定であり、しかも高ピツチで動作するからである
。

によってはたき落すことも考えられるが、ダイオードチ
ップへの衝撃の問題もあり好ましくない。

なお目はダイオードチップ、＋２はコレットである。

［発明の構成コ本発明は、パーツフィーダやトレイでダイオードチップ
を供給し、基板上に実装する間の極めて短時間内にダイ
オードの特性検査、ダイオードの表裏検査を行い、これ
ら検査に合格しないものは、順次排除し、所定位置に配
置されたワーク上の所定位置に検査の終了したダイオー
ドチップを実装できるように構成したダイオードチップ
等のチップの実装方式にある。

を示す。アームＡとアームＢは互に９０″をなし、回転
軸Ｚに対し、直角方向に設けられている。３゜４はそれ
ぞれアームＡ１アームＢの先端部に設けられたコレット
Ａ１コレットＢであり、図示していないが、エアーバル
ブの切換等によってその先端において、チップを吸着し
、吸着しているチップを開放することができる。このよ
うにアームＡとＢを回転軸Ｚに取付けたピック・プレイ
スユニットは後述の動作指令により、図示していない駆
動用モータによって９０°回転してアームＢは点線で示
す位置に、アームＡは現アームＢの位置に回転し、また
回転軸Ｚは動作指令により、現位置で下方に下降される
ことができる。図示のコレットＡの位置の下方がダイオ
ードチップ６の供給位置Ｓとなり、コレットＢの位置の
下方が中間ステージ８となり、ここでダイオードチップ
５の電気特性検査、チップ表裏検査等が行なわれる。ま
た点線で示すアームＢのコレットＢの下方がダイオード
チップ５のワークに対するマウント位置Ｎである。

又、図のアームＢのコレットＢと中間ステージ８の間に
、動作指令によって側方より腕を延ばすことのできる、
６で示す不良ポットＡが配置され、点線で示すアームＢ
のコレットＢとその下方のマウント位置との間に、動作
指令によって側方より腕を延ばすことのできる、７で示
す不良ボッ）Ｂが配置される。

このピック・プレイスユニットを中心とした動作につい
てその概略を第２図により説明する。

■、■コレットＡはパーツフィーダやトレイで供給され
たダイオードチップ５を下降して吸着して上昇し、■９
０°回転し、■下降して、中間ステージ８上にダイオー
ドチップ５を置き、■上昇して、■３０″３０″て元位
置にもどり、再び前記■より繰返し動作を行う。

前期■の動作と同時に、アームＢは中間ステージ８上に
下降し、検査の終ったダイオードチップ５を吸着して上
昇し、９０″′回転して点線の位置に至り、下降してダ
イオードチップ５をマウントとする。

以上は不良品、表裏姿勢の不適等のない場合の動作を述
べたものであるが、中間ステージ８における検査により
、電気特性に不良のあるものが発見されたときは、アー
ムＢが下降する直前、不良ボットＡを、側方よりコレッ
トＢの直下に延ばして不良ダイオードチップを回収する
。後述のように、電気特性の検査によりダイオードチッ
プの表裏、接触不良も判別されるが、マウントするのに
不適当な姿勢をなすものの回収は、この中間ステージ８
の直上では行わず、コレラ）Ｂが９０″回転した点線の
位置にきたとき、動作指令によって側方よりコレラ）Ｂ
の下方に延びた不良ポ、トＢによって回収する。すでに
比べたように、ダイオードチップは検査は中間ステージ
８上において行われるが、通常のダイオードでは第５図
（イ）、（ロ）で示すように順方向特性ＶＦと逆方向特
性ＩＲが定められ、許容範囲を決めて特性の合否を判別
する。

例えば２關角のダイオード規格は、ｍｊｉ方向特’ｔｋ　ＶＦ　０．８〜０．９Ｖ（ＩＦ：
１．５Ａ）逆方向特性　ＩＲ１ｕＡ以下（ＶＲ：４００
Ｖ　）テアＸＩ。

この検査、は専用検査装置（標準品）により行われ、′
　図示して・い・′ないが、その検査探触部が中間ステ
ージ上に取付けられる。

次に、表裏逆の検査は、順方向Ａ−Ｈには電流は流れる
が、逆方向Ｂ−Ａには電流が流れないという特性を利用
すればできる。

又ワークの仔無や検査時接触不良、あるいはシリート状
態も前記の検査時にＡ点電位Ｅ、Ａ点電位零によって検
出することができる。それ放下適格の種類を区分した信
号を発することができる。

次にビック・ブレイスユニットの動作タイミングと各部
の対応動作を第３図及び第４図によって説明する。第３
図、第４図のピック・プレイスユニット動作タイミング
は第２図について説明した■〜■と対応するものである
。

第３図は検査の結果、検査時接触不良又は表裏逆の場合
の動作タイミングを示すが、仮に検査の結果接触不良が
あれば、この時点で出力信号が保持され、この接触不良
のダイオードチップを吸収駆動用モータは瞬時に停止す
る。同時に不良ポットＢがコレットＢの下に延びて前進
し、その後、コレットＢがダイオ−トチ、プを不良ポッ
トＢに落す。不良ボッ）ＢはＴ秒後後退を始め、後退の
完了後Ｐ点で駆動用モータを再起動する。以後は通常の
動作を行うが、コレットＢはこのときダイオードチップ
を持っていないので、マウントは行われず、従ってマウ
ントされるワークも前記出力信号によってピッチ送りせ
ず、次のチップがマウントされるまで待機する。

第４図は、電気特性検査の結果、特性不良のときの動作
タイミングを示す。中間ステージ８（第１図）において
特性検査を行って特性不良があれば、検査の時点に出力
信号が保持され、コレットＡがダイオードチップ供給位
置上方にもどった時点Ｐ′で、前記出力信号によってビ
ック・ブレイスユニット駆動用モータは瞬時に停止し、
不良ポットＡが前進し、コレットＢが不良ポットＡ内に
ダイオードチー、ツブをおとす。設定されたＴ″秒後不
良ポットＡ”は後退をはじめ、後退完了後、Ｐ′の時点
で前記モータは再起動する。コレットＡはこのときすで
に中間ステージ８にダイオードチップを置いているため
、次のサイクルから動作を継続する。また、コレットＢ
は本来■で下降してダイオードチップをワーク上にマウ
ントするはずであるが、チップはマウントされないため
、ワークは次のダイオードチップがくるまで待機させる
。

上記実施例では、不良ボッ）Ａ、Ｂを２ケ所に分けて設
置したが、第６図に示すような複数の不良ポットＡ、Ｂ
を備える構成のものを、前記選別の検査に基づいて２段
ストロークで前進、後退するものに設計するか、回転円
弧上に複数のポットを備え、不適格の種類に従ってコレ
ット直下に介°在させるようにすることもできる。

［発明の効果］以上説明したように、本発明は、ダイオードチップ供給
位置よりマウント位置にダイオードチップを移す間に、
電気特性、チップ表裏の正逆等を検査するため、２本の
アームを備えるピック・プレイスユニットを用い、全体
的に、前記供給位置よりマウント位置に至る間のピック
・ブレイスユニ、トの先端コレクトの拭動及び昇降する
軌跡上において、検査の結果、電気特性不良と判別され
たダイオードチップ及び検査時接触不良、表裏逆と判別
されたダイオードチップを排除するため、それぞれに対
応した不良ポットが前記軌跡上に前進して、それを受取
るように構成されており、前記不良品等の排除にはビッ
ク・ブレイスユニットの駆動用モータを短時間一旦停止
させる必要があるが、コレットを支持するアームを定め
られた軌跡外に移動させて不良品等を排除する必要はな
（、電気特性不良、表裏正逆及び接触不良など、いわゆ
る実装機において不良モードとなるダイオードチップを
区別し、廃却するものと再利用可能のものを区別するこ
とができる。

従って、本発明によれば、ダイオードチップのマウント
に際してその供給の中間において検査を行っても、従来
のようにダイオードチップについての電気特性の検査、
表裏正方向への配列等行わなくてもよく、これらの検査
を含めて、十分生産性の高い実装作業が、可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例の主要部を概略的に示す。第２図はピック・プレイスユニットの１サイクルの動作
順序を示す。第３図は、電気特性検査の結果、接触不良
、あるいはチップの極性が逆の場合のピック・プレイス
ユニット、不良ポットＢ１フレットＡ、Ｂ１駆動用モー
タの動作タイミングを示す。第４図は、電気特性検査の
結果、電気特性不良の場合のピーク・ブレイス、不良ポ
ットＡ１コレットＡ、Ｂ１駆動川モータの動作タイミン
グを示す。第５図（イ）、（→電気特性検査説明図であ
る。第６図は不良ポア）の他の実施例を示す。第７図は従来
の不良チップ排除、手段の一例を示す。！・・・アームＡ１２・・・アームＢ、３・・・コレッ
トＡ。４・・・コレットＢ１５・・・ダイオードチップ、６・
・・不良ボットＡ、７・・・不良ボットＢ、８・・・中
間ステージ、Ｓ・・供給位置、Ｍ・・・マウント位置。第１　図ｖ＃５　図（イ）　　　　　　　　　　　　　　　　　（ロ）２Ｊ
６　図寡　７　図手　　続　　補　　正　　書昭和８２年１４２１日１、事件の表示昭和６１年特許願第２７５５４３号２、発明の名称チップ部品の実装方式３、補正をする者事件との関係　　特許出願人住　所　　　　　大阪市東区北浜５丁目！５番地名称（
２１３）　　住友電気工業株式会社代表者川上哲部４、代理人住　所　　　　　大阪市淀用区西中島１丁目９番２０号
５、補正命令の日付６、補正の対象明細書　特許請求の範囲の欄同　　発明の詳細な説明の欄図面フ、補正の内容（１）特許請求の範囲を別紙に示す。（２）明細書第７頁第９〜ｌ１行目、「この検査は、・
・・・・取付けられる。」を削除し、次の一文に訂正す
る。「この検査は、専用の電気特性検査装置（標準品）によ
り行われ、図示していないが、一方の検査探触部をコレ
ットＢに設け、他方の検査探触部が中間ステージ８上に
取付けられる。」（３）同第６頁第７行目、「マウントと」を「マウント
」と訂正する。（４）訂正第６図を提出する。特許請求の範囲（１）先端にチップを吸若し、解放することができるコ
レットを設けた２本のアームを回転し、昇降できる軸に
取付けたピック・プレイスユニットをチップ供給位置、
中間ステージ、チップマウント位置と対応して配置し、
前記中間ステージに電気特性検査装置の探触部を取付け
、前記中間ステージとその直上となるアームの間及び／
又はチップマウント位置とその直上となるアームの間に
、指令される出力信号によって前進、後退することので
きる単独又は複数の不良ポットを配置し、前記中間ステ
ージにおける電気特性検査によって生じる電気特性不良
、＝＋ツブの表裏逆又は接触不良の判別結果による区分
出力によって、駆動用モータを一旦停止し、前記区分出
力信号に対応する不良ポットを前進させて、不良モード
にあるチップを排除することを特徴とするチップ部品の
実装方式。夷６図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）先端にチップを吸着し、解放することができるコ
レットを設けた２本のアームを回転し、昇降できる軸に
取付け、駆動用モータで揺動、昇降を行うことのできる
ピック・プレイスユニットをダイオードチップ供給位置
、中間ステージ、ダイオードチップマウント位置と対応
できるように配置し、前記中間ステージに電気特性検査
装置の探触部を取付け、前記中間ステージとその直上と
なるアームの間及び／又はダイオードマウント位置とそ
の直上となるアームの間に、指令される出力信号によっ
て前進、後退することのできる単独又は複数の不良ポッ
トを配置し、前記中間ステージにおける電気特性検査に
よって生じる電気特性不良とダイオードチップの表裏逆
又は接触不良の判別結果による区分出力信号によって、
前記駆動用モータを一旦停止し、前記区分出力信号に対
応する不良ポットを前進させて、不良モードにあるダイ
オードチップを排除することを特徴とするチップ部品の
実装方式。