JPH1168477A - チューナブルcmos演算トランスコンダクタンス増幅器 - Google Patents
チューナブルcmos演算トランスコンダクタンス増幅器Info
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- JPH1168477A JPH1168477A JP9217665A JP21766597A JPH1168477A JP H1168477 A JPH1168477 A JP H1168477A JP 9217665 A JP9217665 A JP 9217665A JP 21766597 A JP21766597 A JP 21766597A JP H1168477 A JPH1168477 A JP H1168477A
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- H03G1/0017—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier
- H03G1/0029—Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier using FETs
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- H03F2203/45732—Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising a voltage generating circuit
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体集積回路上に形成される、線形なトラ
ンスコンダクタンスを持つチューナブルCMOS OT
Aを提供する。 【解決手段】 本発明のチューナブルCMOS OTA
は、それぞれが2つの定電流源I0で駆動される2つの
トランジスタM1,2が入力対を構成して差動入力信号
Viが印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗R
が挿入され、前記それぞれのソースにはカレントミラー
回路が接続され、またゲートが共通接続されそれぞれの
ドレイン−ソース間には第2、第3の抵抗Rgが接続さ
れた2つのトランジスタM3,4を駆動し、これら2つ
のトランジスタのそれぞれのドレイン電圧によりバイア
スされる2つの出力トランジスタM5,6と入力トラン
ジスタ対を駆動する定電流を供給する第4の可変抵抗R
2を含む自己バイアス型基準電流回路(図2)を備えて
いる。
ンスコンダクタンスを持つチューナブルCMOS OT
Aを提供する。 【解決手段】 本発明のチューナブルCMOS OTA
は、それぞれが2つの定電流源I0で駆動される2つの
トランジスタM1,2が入力対を構成して差動入力信号
Viが印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗R
が挿入され、前記それぞれのソースにはカレントミラー
回路が接続され、またゲートが共通接続されそれぞれの
ドレイン−ソース間には第2、第3の抵抗Rgが接続さ
れた2つのトランジスタM3,4を駆動し、これら2つ
のトランジスタのそれぞれのドレイン電圧によりバイア
スされる2つの出力トランジスタM5,6と入力トラン
ジスタ対を駆動する定電流を供給する第4の可変抵抗R
2を含む自己バイアス型基準電流回路(図2)を備えて
いる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、差動増幅回路に関
し、特に、半導体集積回路上に形成される、トランスコ
ンダクタンスをチューニングできるチューナブルCMO
S演算トランスコンダクタンス増幅器(OTA:Operat
ional Tarnsconductance Amplifier)に関する。
し、特に、半導体集積回路上に形成される、トランスコ
ンダクタンスをチューニングできるチューナブルCMO
S演算トランスコンダクタンス増幅器(OTA:Operat
ional Tarnsconductance Amplifier)に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術として、米国特許第5,451,
901号明細書(1995年)に記載のチューナブルO
TAについて説明する。
901号明細書(1995年)に記載のチューナブルO
TAについて説明する。
【0003】従来のこの種のチューナブルOTAは、図
4に示すように、MOSトランジスタを抵抗として用い
るやり方が知られている。すなわち、差動増幅回路の入
力対を構成するトランジスタM37、M38のソース電
極間にMOSトランジスタM43のソース電極およびド
レイン電極が接続されている。このMOSトランジスタ
M43のゲート電極は、制御端子75に接続されてい
る。MOSトランジスタM43は可変抵抗素子として用
いられるもので、そのソース・ドレイン電極間の抵抗値
は、制御端子75を介してゲート電極に印加される制御
電圧Vcon によって制御される。
4に示すように、MOSトランジスタを抵抗として用い
るやり方が知られている。すなわち、差動増幅回路の入
力対を構成するトランジスタM37、M38のソース電
極間にMOSトランジスタM43のソース電極およびド
レイン電極が接続されている。このMOSトランジスタ
M43のゲート電極は、制御端子75に接続されてい
る。MOSトランジスタM43は可変抵抗素子として用
いられるもので、そのソース・ドレイン電極間の抵抗値
は、制御端子75を介してゲート電極に印加される制御
電圧Vcon によって制御される。
【0004】このように構成された回路では、MOSト
ランジスタM43が差動増幅回路におけるソース・デジ
ェネレーション抵抗として働くため、そのゲート電極に
印加する制御電圧Vcon によりソース・ドレイン電極間
の抵抗値を変えることによって、差動増幅回路のトラン
スコンダクタンスを変化させることができる。
ランジスタM43が差動増幅回路におけるソース・デジ
ェネレーション抵抗として働くため、そのゲート電極に
印加する制御電圧Vcon によりソース・ドレイン電極間
の抵抗値を変えることによって、差動増幅回路のトラン
スコンダクタンスを変化させることができる。
【0005】図4において、CMOS OTAの入力対
を構成するMOSトランジスタM37、M38はそれぞ
れ、MOSトランジスタM33、M32に流れる定電流
値をI0とおくと、いずれも等しい値の定電流で駆動さ
れているから、 VGS37=VGS38 (1) したがって、差動入力電圧Vi はレベルシフトされてそ
のままMOSトランジスタM43のドレイン・ソース間
に印加される。
を構成するMOSトランジスタM37、M38はそれぞ
れ、MOSトランジスタM33、M32に流れる定電流
値をI0とおくと、いずれも等しい値の定電流で駆動さ
れているから、 VGS37=VGS38 (1) したがって、差動入力電圧Vi はレベルシフトされてそ
のままMOSトランジスタM43のドレイン・ソース間
に印加される。
【0006】 ID39=ID46=I0−ID43 (2) ID40=ID47=I0+ID43 (3) すなわち、差動増幅回路のトランスコンダクタンスは、
MOSトランジスタM43の等価抵抗値により決定され
ることになる。MOSトランジスタM43の等価抵抗値
は、チューニング電圧Vconによって制御される。
MOSトランジスタM43の等価抵抗値により決定され
ることになる。MOSトランジスタM43の等価抵抗値
は、チューニング電圧Vconによって制御される。
【0007】MOSトランジスタM43は線形領域(tri
ode region)で動作しているから、MOSトランジスタ
M43のドレイン電流は、チャネル長変調と基板効果を
無視すれば、 ID43=2β(VGS43−VTH−VDS43/2)VDS43 (4) ただし、β=μ(Cox/2)(W/L)はトランスコン
ダクタンス・パラメータであり、μはキャリアの実効モ
ビリティ、Coxは単位面積当たりのゲート酸化膜容量、
W、Lはそれぞれ、ゲート幅、ゲート長、VTHはスレッ
ショルド電圧である。
ode region)で動作しているから、MOSトランジスタ
M43のドレイン電流は、チャネル長変調と基板効果を
無視すれば、 ID43=2β(VGS43−VTH−VDS43/2)VDS43 (4) ただし、β=μ(Cox/2)(W/L)はトランスコン
ダクタンス・パラメータであり、μはキャリアの実効モ
ビリティ、Coxは単位面積当たりのゲート酸化膜容量、
W、Lはそれぞれ、ゲート幅、ゲート長、VTHはスレッ
ショルド電圧である。
【0008】ここで、VDS43 =|Vi|であり、差動入
力電圧Viは直流電圧VRを基準にそれぞれ±Vi/2の
電圧が差動入力されているとすると、VGS43=Vcon−
VR+VGS38+|Vi|/2と求まり、 ID43=2β(Vcon−VR+VGS38+|Vi|/2−VTH−|Vi|/2)|Vi| =2β(Vcon−VR+VGS38−VTH)|Vi|+2β|Vi|2 (5) ここで、2β(Vcon−VR+VGS38−VTH)|Vi|は
線形項であるが、2β|Vi|2は非線形項であり、差動
入力電圧Viが大きくなるとこの非線形項は無視できな
くなり、もはや線形なチューナブルCMOS OTAと
は呼べなくなる。
力電圧Viは直流電圧VRを基準にそれぞれ±Vi/2の
電圧が差動入力されているとすると、VGS43=Vcon−
VR+VGS38+|Vi|/2と求まり、 ID43=2β(Vcon−VR+VGS38+|Vi|/2−VTH−|Vi|/2)|Vi| =2β(Vcon−VR+VGS38−VTH)|Vi|+2β|Vi|2 (5) ここで、2β(Vcon−VR+VGS38−VTH)|Vi|は
線形項であるが、2β|Vi|2は非線形項であり、差動
入力電圧Viが大きくなるとこの非線形項は無視できな
くなり、もはや線形なチューナブルCMOS OTAと
は呼べなくなる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述した、従来のチュ
ーナブルCMOS OTAでは、もともと、MOSトラ
ンジスタが線形抵抗ではないために、チューニング可能
なソース・デジェネレーション抵抗として用いた場合に
は、差動増幅回路の線形性を損ない、線形性の良いトラ
ンスコンダクタンスを得ることはできなかった。
ーナブルCMOS OTAでは、もともと、MOSトラ
ンジスタが線形抵抗ではないために、チューニング可能
なソース・デジェネレーション抵抗として用いた場合に
は、差動増幅回路の線形性を損ない、線形性の良いトラ
ンスコンダクタンスを得ることはできなかった。
【0010】また、アナログ信号処理においては、OT
Aは欠くことのできない必須のファンクション・ブロッ
クである。特にトランスコンダクダンスが可変できる線
形なOTAの必要性が一層高まって来ている。
Aは欠くことのできない必須のファンクション・ブロッ
クである。特にトランスコンダクダンスが可変できる線
形なOTAの必要性が一層高まって来ている。
【0011】本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、線
形なトランスコンダクタンスを持つCMOS OTAに
おいて、トランスコンダクタンスが簡単に可変できる回
路を提供することにある。
形なトランスコンダクタンスを持つCMOS OTAに
おいて、トランスコンダクタンスが簡単に可変できる回
路を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のチューナブルC
MOS OTAは、それぞれが2つの定電流源で駆動さ
れる2つのトランジスタが入力対を構成して差動入力信
号が印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗が挿
入され、前記それぞれのソースにはカレントミラー回路
またはカレントソース回路が接続され、ゲートが共通接
続され、それぞれのドレィンーソース間には第2、第3
の抵抗が接続された2つのトランジスタを駆動し、これ
ら2つのトランジスタのそれぞれのドレイン電圧により
バイアスされる2つの出力トランジスタと入力トランジ
スタ対を駆動する定電流を供給する第4の可変抵抗を含
む自己バイアス型基準電流回路を備えている。
MOS OTAは、それぞれが2つの定電流源で駆動さ
れる2つのトランジスタが入力対を構成して差動入力信
号が印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗が挿
入され、前記それぞれのソースにはカレントミラー回路
またはカレントソース回路が接続され、ゲートが共通接
続され、それぞれのドレィンーソース間には第2、第3
の抵抗が接続された2つのトランジスタを駆動し、これ
ら2つのトランジスタのそれぞれのドレイン電圧により
バイアスされる2つの出力トランジスタと入力トランジ
スタ対を駆動する定電流を供給する第4の可変抵抗を含
む自己バイアス型基準電流回路を備えている。
【0013】このような構成により、入力トランジスタ
を定電流駆動としてゲート・ソース間電圧が一定となる
ようにしたので、もともとの差動対を線形動作させるこ
とができ、ソース抵抗の線形性と同程度の線形動作が確
保される。
を定電流駆動としてゲート・ソース間電圧が一定となる
ようにしたので、もともとの差動対を線形動作させるこ
とができ、ソース抵抗の線形性と同程度の線形動作が確
保される。
【0014】また、駆動電流を可変すると、もともとの
差動対のトランスコンダクタンスは変化しないのである
が、出力トランジスタをバイアスするゲートが共通接続
された2つのトランジスタの駆動電流が可変することで
出力トランジスタのバイアス電圧が可変となり、出力電
流が駆動電流を可変することで変化し、トランスコンダ
クタンスが等価的にチューニングでき、線形なトランス
コンダクタンスを持つチューナブルCMOS OTAが
実現できる。
差動対のトランスコンダクタンスは変化しないのである
が、出力トランジスタをバイアスするゲートが共通接続
された2つのトランジスタの駆動電流が可変することで
出力トランジスタのバイアス電圧が可変となり、出力電
流が駆動電流を可変することで変化し、トランスコンダ
クタンスが等価的にチューニングでき、線形なトランス
コンダクタンスを持つチューナブルCMOS OTAが
実現できる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【0016】図1は、本発明の実施の形態であるチュー
ナブルCMOS OTAの回路図である。
ナブルCMOS OTAの回路図である。
【0017】同図に示すように、チューナブルCMOS
OTAは、それぞれが定電流源I 0で駆動される2つ
のトランジスタM1、M2が入力対を構成して差動入力
信号Viが印加され、それぞれのソース間には第1の抵
抗Rが挿入され、前記それぞれのソースにはカレントミ
ラー回路が接続され、また、ゲートが共通接続されそれ
ぞれのドレイン−ソース間には第2、第3の抵抗Rg が
接続された2つのトランジスタM3、M4を駆動し、こ
れら2つのトランジスタのそれぞれのドレイン電圧によ
りバイアスされる2つの出力トランジスタM5、M6と
を具有するものである。また、トランジスタM9、M1
1、M13、定電流源Ig 、およびトランジスタM1
0、M12、M14、定電流源Ig は、それぞれソース
フォロワトランジスタ付きカレントミラー回路を構成す
るものである。
OTAは、それぞれが定電流源I 0で駆動される2つ
のトランジスタM1、M2が入力対を構成して差動入力
信号Viが印加され、それぞれのソース間には第1の抵
抗Rが挿入され、前記それぞれのソースにはカレントミ
ラー回路が接続され、また、ゲートが共通接続されそれ
ぞれのドレイン−ソース間には第2、第3の抵抗Rg が
接続された2つのトランジスタM3、M4を駆動し、こ
れら2つのトランジスタのそれぞれのドレイン電圧によ
りバイアスされる2つの出力トランジスタM5、M6と
を具有するものである。また、トランジスタM9、M1
1、M13、定電流源Ig 、およびトランジスタM1
0、M12、M14、定電流源Ig は、それぞれソース
フォロワトランジスタ付きカレントミラー回路を構成す
るものである。
【0018】次に、チューナブルCMOS OTAの作
用について説明する。
用について説明する。
【0019】飽和領域で動作しているMOSトランジス
タのドレイン電流は、チャネル長変調と基板効果を無視
すれば、 IDj=Kj(VGSj−VTH)2 (VGSj≧VTH) (6) と表される。ただし、Kjは単位トランジスタに対する
トランジスタサイズ比を表わす。
タのドレイン電流は、チャネル長変調と基板効果を無視
すれば、 IDj=Kj(VGSj−VTH)2 (VGSj≧VTH) (6) と表される。ただし、Kjは単位トランジスタに対する
トランジスタサイズ比を表わす。
【0020】差動入力電圧Viの入力対を構成するトラ
ンジスタM1、M2のソース電極間にソース・デジェネ
レーション抵抗Rが挿入され、トランジスタM1、M2
はいずれも定電流源IOで駆動されているから、 VGS1=VGS2 (7) すなわち、差動入力電圧Viはレベルシフトされてその
ままソース・デジェネレーション抵抗Rに印加される。
したがって、ソース・デジェネレーション抵抗Rに流れ
る電流iは i=Vi/R (8) 電流iは抵抗Rに反比例し、入力電圧Viに比例してい
る。一般に抵抗は線形素子とみなして良いから電流iは
線形電流となっている。トランジスタM9、M11、M
13、定電流源Ig、およびトランジスタM10、M1
2、M14、定電流源Igはそれぞれソースフォロワト
ランジスタ付きカレントミラー回路を構成しており、ソ
ース・デジェネレーシヨン抵抗Rに流れる電流iとそれ
ぞれの入力対を構成しているトランジスタM1、M2に
流れる電流の差、および和電流を出力している。
ンジスタM1、M2のソース電極間にソース・デジェネ
レーション抵抗Rが挿入され、トランジスタM1、M2
はいずれも定電流源IOで駆動されているから、 VGS1=VGS2 (7) すなわち、差動入力電圧Viはレベルシフトされてその
ままソース・デジェネレーション抵抗Rに印加される。
したがって、ソース・デジェネレーション抵抗Rに流れ
る電流iは i=Vi/R (8) 電流iは抵抗Rに反比例し、入力電圧Viに比例してい
る。一般に抵抗は線形素子とみなして良いから電流iは
線形電流となっている。トランジスタM9、M11、M
13、定電流源Ig、およびトランジスタM10、M1
2、M14、定電流源Igはそれぞれソースフォロワト
ランジスタ付きカレントミラー回路を構成しており、ソ
ース・デジェネレーシヨン抵抗Rに流れる電流iとそれ
ぞれの入力対を構成しているトランジスタM1、M2に
流れる電流の差、および和電流を出力している。
【0021】 ID9=ID13=I0−i (9) ID10=ID14=I0+i (10) すなわち、差動増幅回路のトランスコンダクタンスはソ
ース・デジェネレーション抵抗Rの値により決定される
ことになる。したがって、この回路だけでは駆動電流I
Oを可変させてもトランスコンダクタンスは可変せずに
一定である。
ース・デジェネレーション抵抗Rの値により決定される
ことになる。したがって、この回路だけでは駆動電流I
Oを可変させてもトランスコンダクタンスは可変せずに
一定である。
【0022】次に、トランスコンダクタンスを可変する
ための出力回路について考える。
ための出力回路について考える。
【0023】図1は、MOS電流利得段(M0S current g
ain stage)に差動能動負荷(DAL:Differential Act
ive Load)を用いた出力回路である。抵抗Rgには電流
iが流れ、VGS3=VGS4=Vcomとなる。ただし Vcom=1/2(V++V-) (11) である。したがって、 ID3=ID4=IOとなり、ID3=ID4=β(Vcom−
VTH)2=IO である。また、 ID5 =Kβ(V+−VTH)2 ID6 =Kβ(V-−VTH)2 V+=Vcom+Rg・i V-=Vcom−Rg・i であるから、したがって、DALの差動出力電流△Iは
ain stage)に差動能動負荷(DAL:Differential Act
ive Load)を用いた出力回路である。抵抗Rgには電流
iが流れ、VGS3=VGS4=Vcomとなる。ただし Vcom=1/2(V++V-) (11) である。したがって、 ID3=ID4=IOとなり、ID3=ID4=β(Vcom−
VTH)2=IO である。また、 ID5 =Kβ(V+−VTH)2 ID6 =Kβ(V-−VTH)2 V+=Vcom+Rg・i V-=Vcom−Rg・i であるから、したがって、DALの差動出力電流△Iは
【0024】
【数1】 (12) ただし、トランジスタM5、M6のトランジスタサイズ
はトランジスタM3、M4のK倍としている。(8)式
を代入すると
はトランジスタM3、M4のK倍としている。(8)式
を代入すると
【0025】
【数2】 (13) したがって、駆動電流を可変することで出力電流を線形
的に可変でき、また、抵抗比で表されているから抵抗の
温度特性が相殺されたチューニング可能な(tunable)M
OS OTAが実現できる。
的に可変でき、また、抵抗比で表されているから抵抗の
温度特性が相殺されたチューニング可能な(tunable)M
OS OTAが実現できる。
【0026】別の実施の形態について説明する。
【0027】図2は本発明の別の実施の形態であるチュ
ーナブルCMOS OTAの回路図である。図2におい
ては、図1では並列に接続されているMOS線形トラン
スコンダクタンス増幅器LTAと差動能動負荷DALを
直列に接続することで、カレントミラー回路をカレント
ソース回路に改変することができ、流れる電流を減らす
ことができる。
ーナブルCMOS OTAの回路図である。図2におい
ては、図1では並列に接続されているMOS線形トラン
スコンダクタンス増幅器LTAと差動能動負荷DALを
直列に接続することで、カレントミラー回路をカレント
ソース回路に改変することができ、流れる電流を減らす
ことができる。
【0028】次に、定電流源の具体例について説明す
る。
る。
【0029】図3は定電流源としてのCMOS自己バイ
アス永田基準電流回路( MOS self-biasing Nagata
current reference)の回路図である。この回路につい
て特開平5ー191166号公報の記載を参照して説明
する。
アス永田基準電流回路( MOS self-biasing Nagata
current reference)の回路図である。この回路につい
て特開平5ー191166号公報の記載を参照して説明
する。
【0030】図3に示すように、定電流回路は、2つの
nチャンネルMOSトランジスタM21、M22と2つ
のpチャンネルMOSトランジスタM23、M24とで
基本的に構成される。
nチャンネルMOSトランジスタM21、M22と2つ
のpチャンネルMOSトランジスタM23、M24とで
基本的に構成される。
【0031】2つのMOSトランジスタM21、M22
において、トランジスタM21はソースが接地され、ゲ
ートとドレインが抵抗R2 を介して接続される。また、
トランジスタM22はソースが接地され、ゲートがトラ
ンジスタM21のドレインに接続される。これにより、
両トランジスタM21、M22は非線形カレントミラー
回路を構成する。また、2つのMOSトランジスタM2
3、M24において、M23、24はドレインが共通に
電源VDDに接続され、ゲートが共通接続されている。そ
して、トランジスタM24のソースにはM21のドレイ
ンが抵抗R2 を介して、またゲートが直接接続され、ト
ランジスタM23のソースには自己のゲートが接続され
るとともに、トランジスタM22のドレインが接続され
る。これにより、両トランジスタM23、M24は線形
カレントミラー回路を構成する。
において、トランジスタM21はソースが接地され、ゲ
ートとドレインが抵抗R2 を介して接続される。また、
トランジスタM22はソースが接地され、ゲートがトラ
ンジスタM21のドレインに接続される。これにより、
両トランジスタM21、M22は非線形カレントミラー
回路を構成する。また、2つのMOSトランジスタM2
3、M24において、M23、24はドレインが共通に
電源VDDに接続され、ゲートが共通接続されている。そ
して、トランジスタM24のソースにはM21のドレイ
ンが抵抗R2 を介して、またゲートが直接接続され、ト
ランジスタM23のソースには自己のゲートが接続され
るとともに、トランジスタM22のドレインが接続され
る。これにより、両トランジスタM23、M24は線形
カレントミラー回路を構成する。
【0032】2つのトランジスタM21、M22と第4
の抵抗R2 から構成される非線形カレントミラー回路を
2つのトランジスタM23、M24から成る線形カレン
トミラー回路で駆動した自己バイアス型基準電流回路か
ら供給され、第4の抵抗R2を可変とするものである。
また、M25は出力トランジスタであり、トランジスタ
M26、M27から成る回路はスタートアップ回路であ
る。
の抵抗R2 から構成される非線形カレントミラー回路を
2つのトランジスタM23、M24から成る線形カレン
トミラー回路で駆動した自己バイアス型基準電流回路か
ら供給され、第4の抵抗R2を可変とするものである。
また、M25は出力トランジスタであり、トランジスタ
M26、M27から成る回路はスタートアップ回路であ
る。
【0033】いま、このMOS自己バイアス永田基準電
流回路を用いると、駆動電流IOは
流回路を用いると、駆動電流IOは
【0034】
【数3】 (14) と表され、線形なチューニング可能なMOS線形トラン
スコンダクタンス増幅器(LTA:Linear Tarnsconduc
tance Amplifier)の差動出力電流は
スコンダクタンス増幅器(LTA:Linear Tarnsconduc
tance Amplifier)の差動出力電流は
【0035】
【数4】 (15) この式中には、負温度特性を有する(温度の−1.5乗
に比例する)トランスコンダクタンス・パラメータβ
(実際にはキャリアの実効モビリティμ)が消去されて
存在しない。したがって、MOS LTAのトランスコ
ンダクタンスはバイアス回路の抵抗R2 を可変すること
で独立に設定できる。また、(15)式から差動出力電
流の温度特性は相殺されて、この抵抗R2 のみの温度特
性が現われる。しかも、抵抗R2 を外付けの可変抵抗と
すれば、温度特性の非常に小さな抵抗素子に選ぶことが
でき、差動出力電流の温度特性をほぼ零に設定すること
が可能となる。
に比例する)トランスコンダクタンス・パラメータβ
(実際にはキャリアの実効モビリティμ)が消去されて
存在しない。したがって、MOS LTAのトランスコ
ンダクタンスはバイアス回路の抵抗R2 を可変すること
で独立に設定できる。また、(15)式から差動出力電
流の温度特性は相殺されて、この抵抗R2 のみの温度特
性が現われる。しかも、抵抗R2 を外付けの可変抵抗と
すれば、温度特性の非常に小さな抵抗素子に選ぶことが
でき、差動出力電流の温度特性をほぼ零に設定すること
が可能となる。
【0036】また、MOS自己バイアス基準電流回路と
しては、上記のMOS自己バイアス永田基準電流回路以
外のCMOS自己バイアスワイドラー基準電流回路(
CMOS self-biasing Widlar current reference)で
も同様の効果が得られる。
しては、上記のMOS自己バイアス永田基準電流回路以
外のCMOS自己バイアスワイドラー基準電流回路(
CMOS self-biasing Widlar current reference)で
も同様の効果が得られる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のチューナ
ブルCMOS OTAによれば、以下のような効果を奏
する。
ブルCMOS OTAによれば、以下のような効果を奏
する。
【0038】第1の効果は、線形な回路動作を簡単な回
路構成で実現できるということである。これにより線形
なチューニング可能なCMOS OTAが実現できた。
路構成で実現できるということである。これにより線形
なチューニング可能なCMOS OTAが実現できた。
【0039】その理由は、入力トランジスタを定電流駆
動して、差動入力電圧がそのままソース抵抗に印加され
るようにしているからである。
動して、差動入力電圧がそのままソース抵抗に印加され
るようにしているからである。
【0040】第2の効果は、MOSトランジスタの温度
特性が現れない回路を実現できるということである。こ
れにより線形なチューニング可能なCMOS OTAが
実現でき、トランスコンダクタンスの温度特性は可変抵
抗温度特性のみに依存するようにできる。
特性が現れない回路を実現できるということである。こ
れにより線形なチューニング可能なCMOS OTAが
実現でき、トランスコンダクタンスの温度特性は可変抵
抗温度特性のみに依存するようにできる。
【0041】その理由は、MOS自己バイアス永田基準
電流回路で得られる電流で差動入力トランジスタを駆動
しているからである。
電流回路で得られる電流で差動入力トランジスタを駆動
しているからである。
【図1】本発明の実施の形態であるチューナブルCMO
S OTAの回路図
S OTAの回路図
【図2】本発明の別の実施の形態であるチューナブルC
MOS OTAの回路図
MOS OTAの回路図
【図3】定電流源としてのMOS自己バイアス永田基準
電流回路の回路図
電流回路の回路図
【図4】従来のチューナブルOTAの回路図
M1、2 入力トランジスタ M3、4 駆動トランジスタ M5、6 出力トランジスタ M9、M11、M13 カレントミラー回路 M10、M12、M14 カレントミラー回路 Ig 定電流源 I0 定電流源 R ソース・デジェネレーション抵抗 M21、22 非線形カレントミラー回路 M23、24 線形カレントミラー回路 R2 可変抵抗 M25 出力トランジスタ M37、38 入力トランジスタ M43 トランジスタ
Claims (6)
- 【請求項1】 それぞれが2つの定電流源で駆動される
2つのトランジスタが入力対を構成して差動入力信号が
印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗が挿入さ
れ、前記それぞれのソースにはカレントミラー回路が接
続され、ゲートが共通接続され、それぞれのドレイン−
ソース間には第2、第3の抵抗が接続された2つのトラ
ンジスタを駆動し、前記2つのトランジスタのそれぞれ
のドレイン電圧により2つの出力トランジスタがバイア
スされるCMOS OTAにおいて、前記2つの定電流
源の電流値を可変することを特徴とするチューナブルC
MOS演算トランスコンダクタンス増幅器。 - 【請求項2】 2つの出力トランジスタの差動電流を出
力電流とすることを特徴とする請求項1に記載のチュー
ナブルCMOS演算トランスコンダクタンス増幅器。 - 【請求項3】 入力差動対を構成する2つのトランジス
タを駆動する2つの定電流源が、2つのトランジスタと
第4の抵抗から構成される非線形カレントミラー回路を
線形カレントミラー回路で駆動した自己バイアス型基準
電流回路から供給され、前記第4の抵抗を可変すること
を特徴とする請求項1に記載のチューナブルCMOS演
算トランスコンダクタンス増幅器。 - 【請求項4】 それぞれが2つの定電流源で駆動される
2つのトランジスタが入力対を構成して差動入力信号が
印加され、それぞれのソース間には第1の抵抗が挿入さ
れ、前記それぞれのソースにはカレントソース回路が接
続され、ゲートが共通接続され、それぞれのドレイン−
ソース間には第2、第3の抵抗が接続された2つのトラ
ンジスタを駆動し、前記2つのトランジスタのそれぞれ
のドレイン電圧により2つの出力トランジスタがバイア
スされるCMOS OTAにおいて、前記2つの定電流
源の電流値を可変することを特徴とするチューナブルC
MOS演算トランスコンダクタンス増幅器。 - 【請求項5】 2つの出力トランジスタの差動電流を出
力電流とすることを特徴とする請求項4に記載のチュー
ナブルCMOS演算トランスコンダクタンス増幅器。 - 【請求項6】 入力差動対を構成する2つのトランジス
タを駆動する2つの定電流源が、2つのトランジスタと
第4の抵抗から構成される非線形カレントミラー回路を
線形カレントミラー回路で駆動した自己バイアス型基準
電流回路から供給され、前記第4の抵抗を可変すること
を特徴とする請求項4に記載のチューナブルCMOS演
算トランスコンダクタンス増幅器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9217665A JPH1168477A (ja) | 1997-08-12 | 1997-08-12 | チューナブルcmos演算トランスコンダクタンス増幅器 |
GB9817565A GB2328332A (en) | 1997-08-12 | 1998-08-12 | CMOS amplifier with variable transconductance |
US09/132,738 US5999055A (en) | 1997-08-12 | 1998-08-12 | Tunable CMOS Operational Transconductance Amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9217665A JPH1168477A (ja) | 1997-08-12 | 1997-08-12 | チューナブルcmos演算トランスコンダクタンス増幅器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1168477A true JPH1168477A (ja) | 1999-03-09 |
Family
ID=16707807
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9217665A Pending JPH1168477A (ja) | 1997-08-12 | 1997-08-12 | チューナブルcmos演算トランスコンダクタンス増幅器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5999055A (ja) |
JP (1) | JPH1168477A (ja) |
GB (1) | GB2328332A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002151984A (ja) * | 2000-11-13 | 2002-05-24 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 可変利得増幅器 |
US7088860B2 (en) | 2001-03-28 | 2006-08-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Dynamically reconfigurable signal processing circuit, pattern recognition apparatus, and image processing apparatus |
JP2009003660A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Seiko Instruments Inc | ボルテージレギュレータ |
US7486139B2 (en) | 2005-07-07 | 2009-02-03 | Panasonic Corporation | Variable transconductance circuit |
JP2014179886A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Tokyo Institute Of Technology | 差動増幅器 |
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---|---|---|---|---|
JP2000223967A (ja) * | 1999-01-27 | 2000-08-11 | Toshiba Corp | 信号増幅回路 |
US6570447B2 (en) * | 2001-05-25 | 2003-05-27 | Infineon Technologies Ag | Programmable logarithmic gain adjustment for open-loop amplifiers |
US7289149B1 (en) | 2002-03-29 | 2007-10-30 | Sensata Technologies, Inc. | Operational transconductance amplifier for high-speed, low-power imaging applications |
US6600373B1 (en) | 2002-07-31 | 2003-07-29 | Agere Systems, Inc. | Method and circuit for tuning a transconductance amplifier |
GB2393868B (en) * | 2002-10-01 | 2005-11-16 | Ericsson Telefon Ab L M | Integrated circuit |
US7145395B2 (en) * | 2004-09-16 | 2006-12-05 | Qualcomm Incorporated | Linear transconductance cell with wide tuning range |
KR101096221B1 (ko) * | 2009-06-05 | 2011-12-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
US10063253B1 (en) * | 2017-06-22 | 2018-08-28 | Intel Corporation | Summer circuit including linearized load |
US10152070B1 (en) | 2017-08-01 | 2018-12-11 | Himax Imaging Limited | Analog block implemented with band-gap reference scheme and related driving method |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62144412A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-27 | Nec Corp | Cmos形差動増巾器 |
US4749957A (en) * | 1986-02-27 | 1988-06-07 | Yannis Tsividis | Semiconductor transconductor circuits |
JP2800523B2 (ja) * | 1992-01-14 | 1998-09-21 | 日本電気株式会社 | 定電流回路 |
JP2750230B2 (ja) * | 1991-07-12 | 1998-05-13 | 株式会社日立製作所 | 電子ファイル装置 |
DE69118693T2 (de) * | 1991-09-25 | 1996-11-28 | Bell Telephone Mfg | Differenzverstärkeranordnung |
US5392003A (en) * | 1993-08-09 | 1995-02-21 | Motorola, Inc. | Wide tuning range operational transconductance amplifiers |
JP2526808B2 (ja) * | 1994-06-13 | 1996-08-21 | 日本電気株式会社 | チュ―ニング可能なmos ota |
JP2697690B2 (ja) * | 1994-07-15 | 1998-01-14 | 日本電気株式会社 | バイポーラotaおよびマルチプライヤ |
JP2874616B2 (ja) * | 1995-10-13 | 1999-03-24 | 日本電気株式会社 | Ota及びマルチプライヤ |
US5896063A (en) * | 1997-04-30 | 1999-04-20 | Maxim Integrated Products, Inc. | Variable gain amplifier with improved linearity and bandwidth |
-
1997
- 1997-08-12 JP JP9217665A patent/JPH1168477A/ja active Pending
-
1998
- 1998-08-12 US US09/132,738 patent/US5999055A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-12 GB GB9817565A patent/GB2328332A/en not_active Withdrawn
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US7088860B2 (en) | 2001-03-28 | 2006-08-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Dynamically reconfigurable signal processing circuit, pattern recognition apparatus, and image processing apparatus |
US7512271B2 (en) | 2001-03-28 | 2009-03-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Dynamically reconfigurable signal processing circuit, pattern recognition apparatus, and image processing apparatus |
US7486139B2 (en) | 2005-07-07 | 2009-02-03 | Panasonic Corporation | Variable transconductance circuit |
US7911274B2 (en) | 2005-07-07 | 2011-03-22 | Panasonic Corporation | Variable transconductance circuit |
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KR101248338B1 (ko) * | 2007-06-21 | 2013-04-01 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 전압 조정기 |
JP2014179886A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Tokyo Institute Of Technology | 差動増幅器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9817565D0 (en) | 1998-10-07 |
US5999055A (en) | 1999-12-07 |
GB2328332A (en) | 1999-02-17 |
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